JP2018043257A - レーザ加工装置 - Google Patents

レーザ加工装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2018043257A
JP2018043257A JP2016178351A JP2016178351A JP2018043257A JP 2018043257 A JP2018043257 A JP 2018043257A JP 2016178351 A JP2016178351 A JP 2016178351A JP 2016178351 A JP2016178351 A JP 2016178351A JP 2018043257 A JP2018043257 A JP 2018043257A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser beam
laser
optical path
process fiber
path switching
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2016178351A
Other languages
English (en)
Inventor
林川 洋之
Hiroyuki Hayashikawa
洋之 林川
恵太 井上
Keita Inoue
恵太 井上
太志 堤
Taishi Tsutsumi
太志 堤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Original Assignee
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd filed Critical Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority to JP2016178351A priority Critical patent/JP2018043257A/ja
Publication of JP2018043257A publication Critical patent/JP2018043257A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【課題】プロセスファイバに入射する際のレーザビームのエネルギーロスが低減されたレーザ加工装置を提供する。【解決手段】レーザ発振器と、前記レーザ発振器から出射される前記レーザビームを、複数の光路から選択される1つに導光するビーム光路切替部と、複数の前記光路にそれぞれ配置される複数のプロセスファイバと、前記プロセスファイバに対応するように前記光路に配置されており、前記レーザビームを集光して、対応する前記プロセスファイバに導光する複数の集光レンズと、を備え、前記レーザ発振器から複数の前記プロセスファイバまでの光路長が全て同一となるように、前記集光レンズおよびと前記プロセスファイバがそれぞれ配置されている、レーザ加工装置。【選択図】図2

Description

本発明は、レーザ加工装置に関し、特にレーザビームをプロセスファイバにより導光するレーザ加工装置に関する。
レーザ発振器により発振されるレーザ光は、単色性および指向性に優れており、かつ、コヒーレントな光であるため、切断、穴あけ、溶接、表面処理、マーキング等の様々な工業的な加工に用いられている。
従来のレーザ加工装置について、図5を参照しながら説明する。図5は、レーザ加工装置の構成を模式的に示す斜視図である。図中、同様の構成および機能を備える部材には、同じ符号を付している。
レーザ加工装置2000は、レーザ発振器2100と、レーザ発振器2100から出射されるレーザビームLBの光路を切り替えるビーム光路切替部2200と、レーザビームLBが入射する複数のプロセスファイバ2300(2300a〜2300c)と、を備える。ビーム光路切替部2200の内部は例えば大気雰囲気であり、ビーム光路切替部2200内では、レーザビームLBは大気を媒体にして伝搬される。ビーム光路切替部2200にはプロセスファイバ2300の一方の端部が接続しており、レーザビームLBは、ビーム光路切替部2200を経て、プロセスファイバ2300に入射する。プロセスファイバ2300は、レーザビームLBを、ビーム光路切替部2200から加工対象物(ワークW)近傍にまで伝搬するための媒体である。
通常、1台のレーザ発振器2100には、複数の加工ヘッド2400(図示例では、3台)が接続している。ビーム光路切替部2200は、レーザビームLBの光路を切り替えて、レーザビームLBを複数のプロセスファイバ2300(2300a〜2300c)のうちのいずれかに導光する。特許文献1は、プリズムのような偏光手段によってレーザビームの光路を変化させる方法を教示している。
プロセスファイバ2300の内部に導光されたレーザビームLBは、やがて、プロセスファイバ2300の他方の端部に接続された加工ヘッド2400に到達する。このように、レーザビームLBが導光される加工ヘッド2400をビーム光路切替部2200により切り替えて、タイムシェアリングを行いながら、複数のワークWに対してレーザ加工が施される。通常、各プロセスファイバ2300のコア径、および、ビーム光路切替部2200から各加工ヘッド2400の先端までの光学的な条件(例えば、屈折率)はそれぞれ等しいため、複数のワークWに対して、同じ条件でレーザ加工が施される。
加工ヘッド2400は、コリメータレンズ2410および第1集光レンズ2420を備える。加工ヘッド2400に到達したレーザビームLBは、第1集光レンズ2420によって密度が高められて、ワークWに照射される。ワークWは、加工テーブル2500上に固定されている。一方、加工ヘッド2400は、X軸モータ2710およびY軸モータ2720によって移動可能であり、加工ヘッド2400をワークWに対して相対的に移動させながら、所定の加工が施される。レーザ発振器2100、X軸モータ2710およびY軸モータ2720は、加工制御部2600により制御されており、その状態は、加工制御部2600に同期されている。
特表2014−509263号公報
ビーム光路切替部2200の内部構成を図6に模式的に示す。
ビーム光路切替部2200は、複数の反射ミラー2210(2210a〜2210c)と、各反射ミラー2210によって反射されたレーザビームLB10をそれぞれ集光する第2集光レンズ2220(2220a〜2220c)と、を備える。レーザビームLB10は、レーザ発振器2100から出射された後、導光路2250を通って、ビーム光路切替部2200に入射する。
反射ミラー2210は、それぞれステッピングモータ2230(2230a〜2230c)を備えており、ステッピングモータ2230の駆動により回転する。反射ミラー2210の初期状態、すなわち、ステッピングモータ2230に通電していない場合、反射ミラー2210は、レーザビームLB10を反射する反射位置にある。ステッピングモータ2230が通電されると、反射ミラー2210は回転して、レーザビームLB10をそのまま通過させる通過位置になる。ビーム光路切替部2200は、複数のステッピングモータ2230の少なくとも1つに通電して、あるいは、いずれにも通電せず、レーザビームLB10の反射位置を切り替える。すべてのステッピングモータ2230に通電された場合、レーザビームLB10はプロセスファイバ2300に導光されず、ビームアブソーバ2240に入射する。
第2集光レンズ2220により集光されたレーザビームLB20は、プロセスファイバ2300(2300a〜2300c)に入射する。このとき、反射ミラー2210と第2集光レンズ2220とプロセスファイバ2300とは、一対一で対応するようにそれぞれ配置されている。そのため、反射ミラー2210aで反射されたレーザビームLB10は、第2集光レンズ2220aで集光されて、プロセスファイバ2300aに入射する。同様に、反射ミラー2210bで反射されたレーザビームLB10は、第2集光レンズ2220bで集光されて、プロセスファイバ2300bに入射し、反射ミラー2210cで反射されたレーザビームLB10は、第2集光レンズ2220cで集光されて、プロセスファイバ2300cに入射する。
各反射ミラー2210a〜2210cは、位置をずらして配置されている。そのため、レーザビームLB10がビーム光路切替部2200に入射してから、反射ミラー2210aに反射されるまでに伝搬される距離と、反射ミラー2210bに反射されるまでに伝搬される距離と、反射ミラー2210cに反射されるまでに伝搬される距離とは、それぞれ異なる。
レーザ発振器から出射されたレーザビームLBは、一定の発散角を有しており、通常、空間を伝搬するに伴い、拡がっていく。そのため、伝搬される距離が長くなるほど、レーザビームLBのビーム径は大きくなる。つまり、上記の場合、各反射ミラー2210で反射されるレーザビームLBのビーム径は、それぞれ異なる。
また、第2集光レンズ2220の焦点距離および焦点位置でのレーザビームLBのビーム径は、第2集光レンズ2220に入射するレーザビームLB(すなわち、反射ミラー2210で反射されるレーザビームLB10)のビーム径に依存する。そのため、図6のように、ビーム径の異なるレーザビームLB10を、光学的に同じ第2集光レンズ2220で集光させたレーザビームLB20のビーム径は、それぞれ異なってしまう。言い換えれば、図6に示される光路OP10、OP20およびOP30を伝搬して、プロセスファイバ2300に入射するレーザビームLBのビーム径は、光路ごとにそれぞれ異なる。
一方、複数のプロセスファイバ2300のコア径は、いずれも同じである。そのため、光路によっては、レーザビームLBの一部はプロセスファイバ2300のコアに入射できない、あるいは、レーザビームLBの一部がプロセスファイバ2300のコアから出射してしまう場合がある。例えば、光路OP30を伝搬してプロセスファイバ2300cに導光されるレーザビームLBの一部は、プロセスファイバ2300のコアに入射できず、光路OP10を伝搬してプロセスファイバ2300aに導光されるレーザビームLBの一部は、プロセスファイバ2300のコアから出射する。この場合、エネルギーロスが生じるため、加工速度が低下するなどして生産性が低下する。プロセスファイバ2300のコア径を大きくすると、加工ヘッド2400から出射するレーザビームLBのBPP(Beam Parameter Product)も大きくなる。BPPは、レーザビームLBの品質を表現するのに一般的に用いられるパラメータであり、BPPが小さいほど、レーザビームLBの品質は高いとされる。
本発明の一局面は、レーザ発振器と、前記レーザ発振器から出射される前記レーザビームを、複数の光路から選択される1つに導光するビーム光路切替部と、複数の前記光路にそれぞれ配置される複数のプロセスファイバと、前記プロセスファイバに対応するように前記光路に配置されており、前記レーザビームを集光して、対応する前記プロセスファイバに導光する複数の集光レンズと、を備え、前記レーザ発振器から複数の前記プロセスファイバまでの光路長が全て同一となるように、前記集光レンズおよび前記プロセスファイバがそれぞれ配置されている、レーザ加工装置である。
本発明のレーザ加工装置によれば、レーザビームLBのプロセスファイバに入射する際のエネルギーロスが低減されるため、生産性に優れるレーザ加工が可能となる。
本発明に係るレーザ加工装置の構成を模式的に示す斜視図である。 ビーム光路切替部の内部構成を模式的に示す平面図である。 図2のビーム光路切替部をA−A面側から見た側面図である。 図2のビーム光路切替部をB−B面側から見た側面図である。 図2のビーム光路切替部をC−C面側から見た側面図である。 図2のビーム光路切替部をD−D面側から見た側面図である。 本発明に係るレーザ加工装置に配置されるプロセスファイバへの入射効率を示すグラフである。 従来のレーザ加工装置の構成を模式的に示す斜視図である。 従来のビーム光路切替部の内部構成を模式的に示す平面図である。 従来のレーザ加工装置に配置されるプロセスファイバへの入射効率を示すグラフである。
以下、本実施形態を、図1〜図3Dを参照しながら説明する。図1は、本実施形態のレーザ加工装置の構成を模式的に示す斜視図である。図2は、ビーム光路切替部の内部構成を模式的に示す平面図である。図3Aは、図2のビーム光路切替部をA−A面側から見た側面図である。図3B〜3Dは、図2のビーム光路切替部をそれぞれB−B面、C−C面およびD−D面側から見た側面図である。図中、同様の構成および機能を備える部材には、同じ符号を付している。
本実施形態に係るレーザ加工装置1000は、図1および図2に示されるように、レーザ発振器100と、レーザ発振器100から出射されるレーザビームLBが通る複数の光路と、複数のプロセスファイバ300(300a〜300c)と、レーザビームLBの光路を切り替えるビーム光路切替部200と、を備える。各光路には、プロセスファイバ300と、これに対応する第2集光レンズ220とが、それぞれ配置されている。第2集光レンズ220(220a〜220c)は、レーザビームLBを集光して、対応するプロセスファイバ300に導光する。
レーザ発振器100のレーザ発振機構は特に限定されず、レーザ発振の媒体として半導体を用いる半導体レーザの他、媒体として炭酸ガス(CO)等の気体を用いる気体レーザ、YAG等を用いる固体レーザ等が挙げられる。なかでも、光品質および発振効率に優れる点で、半導体レーザが好ましい。
ビーム光路切替部200の内部は例えば大気雰囲気であり、レーザビームLBは、ビーム光路切替部200内を大気を媒体にして伝搬される。ビーム光路切替部200にはプロセスファイバ300の一方の端部が接続しており、レーザビームLBは、ビーム光路切替部200内で反射および集光された後、プロセスファイバ300に入射する。プロセスファイバ300は、レーザビームLBをワークW近傍にまで伝搬するための媒体である。以下、第2集光レンズ220で集光された後、プロセスファイバ300に入射するレーザビームLBをレーザビームLBと称し、プロセスファイバ300から出射するレーザビームLBをレーザビームLBと称し、加工ヘッド400から出射するレーザビームLBをレーザビームLBと称す(図1、図2参照)。
通常、1台のレーザ発振器100には、複数の加工ヘッド400(図示例では、3台)が接続している。ビーム光路切替部200は、レーザビームLBの反射位置を切り替えて集光した後、集光されたレーザビームLBを複数のプロセスファイバ300(300a〜300c)のうちのいずれかに導光する。プロセスファイバ300の内部を伝搬したレーザビームLBは、やがて、プロセスファイバ300の他方の端部に接続された加工ヘッド400に到達する。このように、ビーム光路切替部200により光路が切り替えられて、レーザビームLBが複数の加工ヘッド400に振り分けられることにより、タイムシェアリングを行いながら、複数のワークWに対してレーザ加工が施される。
加工ヘッド400は、コリメータレンズ410および第1集光レンズ420を備える。加工ヘッド400に到達したレーザビームLBは、第1集光レンズ420によって密度が高められて、ワークWに照射される。ワークWは、加工テーブル500上に固定されている。一方、加工ヘッド400は、X軸モータ710およびY軸モータ720によって移動可能であり、加工ヘッド400をワークWに対して相対的に移動させながら、所定の加工が行われる。レーザ発振器100、ビーム光路切替部200、X軸モータ710およびY軸モータ720は、加工制御部600により制御されており、その状態は、加工制御部600に同期されている。なお、ビーム光路切替部200は、加工制御部600により制御される他の制御部(図示せず)により制御されてもよい。例えば、加工制御部600が、レーザビームLBを導光するプロセスファイバ300を選択し、この信号を他の制御部に伝達する。そして、この信号を受けた他の制御部が、ビーム光路切替部200を制御してもよい。
レーザ加工装置1000によりワークWを切断あるいは穴あけする場合(以下、まとめてレーザ切断と称す)、加工ヘッド400には、ワークWにレーザビームLBと同軸上で高圧ガス(高圧の酸素、窒素、大気等)を吹き付けるためのガス孔と、当該ガス孔に高圧ガスを供給するガス経路が配置される(いずれも図示せず)。レーザ切断では、レーザビームLBにより溶融されたワークWの一部を高圧ガスにより除去しながら、ワークWが切断あるいは穴あけされる。
レーザ加工装置1000により2以上のワークWを溶接する場合(レーザ溶接)、加工ヘッド400には、ワークWに不活性ガス(アルゴン、ヘリウム等)を低圧で吹き付けるためのガス孔と、当該ガス孔に不活性ガスを供給するガス経路が配置される(いずれも図示せず)。レーザビームLBにより溶融されたワークWの酸化を不活性ガスにより抑制しながら、ワークW同士が溶接される。レーザ加工装置1000によりワークWを表面処理する場合も、上記と同様に、ワークWに、例えば不活性ガスを吹き付けながらレーザビームLBを照射する。レーザ加工装置1000によりワークWにマーキングする場合、ワークWに、所望の色に応じたガスを吹き付けながらレーザビームLBを照射する。
次に、ビーム光路切替部200の切替機構について、図2および図3A〜図3Dを参照しながら説明する。
ビーム光路切替部200は、複数の反射ミラー210(210a〜210c)と、各反射ミラー210によって反射されたレーザビームLBをそれぞれ集光する第2集光レンズ220(220a〜220c)と、を備える。レーザ発振器100から出射されたレーザビームLBは、導光路250を通って、ビーム光路切替部200に入射する。
レーザ発振器100から各プロセスファイバ300までの光路長が全て同一である限り、各第2集光レンズ220の光学的な物性は互いに同じであってもよいし、異なっていてもよい。同様に、各プロセスファイバ300の光学的な物性も互いに同じであってもよいし、異なっていてもよい。以下、複数の第2集光レンズ220がいずれも同じ光学的物性を有するとともに、複数のプロセスファイバ300がいずれも同じ光学的物性(コア径を含む)を有する場合を例に挙げて説明する。例えば、第2集光レンズ220に入射するレーザビームLBのビーム径が20mmの場合、第2集光レンズ220の焦点距離はいずれも100mmであり、焦点位置でのレーザビームLBの集光ビーム径はいずれも約80μmである。各プロセスファイバ300のコア径は、例えば、いずれも100μmである。
反射ミラー210は、それぞれステッピングモータ230(230a〜230c)を備えており、ステッピングモータ230の駆動により回転する。反射ミラー210の初期状態、すなわち、ステッピングモータ230に通電していない場合、反射ミラー210は、レーザビームLBを反射する反射位置にある。ステッピングモータ230が通電されると、反射ミラー210は回転して、レーザビームLBをそのまま通過させる通過位置になる(図3A〜3D参照)。ビーム光路切替部200は、複数のステッピングモータ230の少なくとも1つに通電して、あるいは、いずれにも通電せず、レーザビームLBの反射位置を切り替える。すべてのステッピングモータ230に通電された場合、レーザビームLBはプロセスファイバ300に導光されず、ビームアブソーバ240に入射する。
第2集光レンズ220により集光されたレーザビームLBは、プロセスファイバ300(300a〜300c)に入射する。このとき、反射ミラー210と第2集光レンズ220とプロセスファイバ300とは、一対一で対応するようにそれぞれ配置されている。例えば、図3B〜3Dに示すように、反射ミラー210aで反射されたレーザビームLB1aは、第2集光レンズ220aで集光されて、プロセスファイバ300aに入射する。その後、プロセスファイバ300aからレーザビームLB3aが出射される。同様に、反射ミラー210bで反射されたレーザビームLB1bは、第2集光レンズ220bで集光されて、プロセスファイバ300bに入射する。その後、プロセスファイバ300bからレーザビームLB3bが出射される。反射ミラー210cで反射されたレーザビームLB1cは、第2集光レンズ220cで集光されて、プロセスファイバ300cに入射する。その後、プロセスファイバ300cからレーザビームLB3cが出射される。各プロセスファイバ300は、第2集光レンズ220によって集光されるレーザビームLBが、その焦点位置で入射するように配置されている。
上記のとおり、ビーム光路切替部200の内部は例えば大気雰囲気であり、レーザビームLBは、ビーム光路切替部200内を大気を媒体にして伝搬される。そのため、ビーム光路切替部200内において、レーザビームLBは発散し、伝搬するにつれてビーム径が大きくなる。各反射ミラー210a〜210cは、位置をずらして配置されているため、レーザビームLBがビーム光路切替部200に入射してから、反射ミラー210aに反射されるまでに伝搬される距離と、反射ミラー210bに反射されるまでに伝搬される距離と、反射ミラー210cに反射されるまでに伝搬される距離とは、それぞれ異なる。よって、各反射ミラー210で反射されるレーザビームLBのビーム径は、それぞれ異なっている。
そこで、複数の反射ミラー210から、これに対応する複数のプロセスファイバ300の入射端300tまでの距離をそれぞれ変えて、レーザ発振器100から各プロセスファイバ300の入射端300tまでの光路OP〜OP(図2参照)における光路長を全て同一にする。これにより、ビーム光路切替部200内部を伝搬し、各プロセスファイバ300に入射するレーザビームLBの光路長は、光路によらず同じになる。そのため、プロセスファイバ300に入射する際のビーム径(この場合、焦点ビーム径)もまた、光路によらず一定になる。よって、プロセスファイバ300a〜300cとして、同じコア径を備えるプロセスファイバを用いる場合であっても、レーザビームLBを効率よくプロセスファイバ300に導光することができる。
このように、同じ光学的物性を有する第2集光レンズ220およびプロセスファイバ300を用いる場合であっても、光路中に特別な機構(例えば、その他の集光レンズ)を設けたり、追加の操作(例えば、レーザビームLBの屈折率を変化させる等)を行うことなく、反射ミラー210に対する第2集光レンズ220およびプロセスファイバ300の配置を適宜変更することにより、エネルギーロスを低減することができる。本実施形態では、レーザビームLBの屈折率は一定であるとともに、各光路OP〜OPにおけるレーザビームLBの屈折率はそれぞれ同じである。そのため、上記光路長は、レーザ発振器100から各プロセスファイバ300の入射端300tまでの、レーザビームLBが伝搬される物理的な距離である。なお、光路中に、反射ミラー210および第2集光レンズ220以外の要素を配置することを除外する意図ではない。例えば、光路OP〜OPの少なくとも1つに他の集光レンズ等を配置して、レーザビームLBの屈折率を変える場合、この屈折率を加味した光路長を、各光路において同じにすればよい。
プロセスファイバ300のコア径は、レーザビームLBの焦点ビーム径に応じて設定することが好ましい。レーザビームLBの焦点ビーム径に応じたプロセスファイバ300のコア径とは、例えば、上記焦点ビーム径の115〜140%である。これにより、レーザビームLBがプロセスファイバ300に入射する際のエネルギーロスがさらに少なくなって、生産性がより向上する。例えば、レーザビームLBの焦点ビーム径が約80μmである場合、プロセスファイバ300のコア径は、約100μmであることが好ましい。
プロセスファイバ300のコアとは、プロセスファイバ300において、レーザビームLBの屈折率が最も高い領域であり、コアでは、レーザビームLBが全反射されて、プロセスファイバ300に閉じ込められる。コア径は、当該コアのプロセスファイバ300の長手方向に垂直な断面における径である。通常、コアは、プロセスファイバ300の長手方向の中心線に沿って形成されており、その周囲には、より屈折率の低い領域(クラッド)が形成されている。そのため、コアに導入されたレーザビームLBは、入射角が臨界角より大きい限り、クラッドに入射しない一方、クラッドに導入されたレーザビームLBの一部は、コアに入射し得る。クラッドは、屈折率の異なる複数の領域により形成されていてもよい。この場合、屈折率は、プロセスファイバ300の外側に向かうに従って小さくなる。
図4に、図2に示すビーム光路切替部200を用いた場合における、レーザビームLBのプロセスファイバ300a〜300cへの入射効率を示す。第2集光レンズ220a〜220cに入射するレーザビームLBのビーム径は、いずれも20mmであり、第2集光レンズ220a〜220cの焦点距離はいずれも100mmであった。プロセスファイバ300a〜300cのコア径はいずれも100μmとした。レーザビームLBおよびレーザビームLBは、ビーム光路切替部200内において大気を媒体として伝搬された。第2集光レンズ220a〜220cで集光された後のレーザビームLB2a〜LB2cの焦点ビーム径は、いずれも約80μmであり、レーザビームLB2a〜LB2cは、100μmのコア径を有するプロセスファイバ300a〜300cに、約100%の入射効率で入射された。
図7に、図5および図6に示す従来のビーム光路切替部2200を用いた場合における、レーザビームLB20のプロセスファイバ2300a〜2300cへの入射効率を示す。上記と同様に、プロセスファイバ2300a〜2300cのコア径はいずれも100μmとした。レーザビームLB10およびレーザビームLB20は、ビーム光路切替部2200内において大気を媒体として伝搬された。図6では、レーザビームLB20がプロセスファイバ2300bに焦点位置で入射するように、第2集光レンズ2220bおよびプロセスファイバ2300bを配置した。第2集光レンズ2220a、2220cおよびプロセスファイバ2300a、2300cは、反射ミラー2210からの距離が、それぞれ第2集光レンズ2220bおよびプロセスファイバ2300bと同じになるように配置した。
第2集光レンズ2220bに入射するレーザビームLB10のビーム径は、20mmであり、第2集光レンズ2220bで集光されたレーザビームLB20の焦点ビーム径は、80μmであった。そのため、レーザビームLB20は、100μmのコア径を有するプロセスファイバ2300bに、約100%の入射効率で入射された。
ビーム光路切替部2200において、反射ミラー2210aを経由する光路OP10は最も短く、第2集光レンズ2220aに入射するレーザビームLB10のビーム径は、最も小さくなった。このとき、第2集光レンズ2220aの焦点距離は80mmであり、焦点ビーム径は約80μmであった。さらに、レーザビームLB20はデフォーカスされた状態でプロセスファイバ2300aに入射されたため、プロセスファイバ2300aに入射するレーザビームLB20のビーム径は、120μmであった。よって、レーザビームLB20の一部はプロセスファイバ2300aのコアに入射できず、入射効率は約70%になった。
一方、ビーム光路切替部2200において、反射ミラー2210cを経由する光路OP30は最も長く、第2集光レンズ2220cに入射するレーザビームLB10のビーム径は、最も大きくなった。このとき、第2集光レンズ2220cの焦点距離は140mmであり、焦点ビーム径は約140μmであった。さらに、レーザビームLB20はデフォーカスされた状態でプロセスファイバ2300cに入射されたため、プロセスファイバ2300cに入射するレーザビームLB20のビーム径は、160μmであった。よって、レーザビームLB20の一部もまたプロセスファイバ2300cのコアに入射できず、入射効率は約60%になった。
本実施形態では、複数の加工ヘッド400をそれぞれ異なる可動軸で可動させるように配置したが、これに限定されない。例えば、複数の加工ヘッド400を同じ可動軸に設置してもよい。あるいは、一台の加工ヘッド400にプロセスファイバ300の切り替え機能を設けて、その加工ヘッド400を1つの可動軸に設置してもよい。この場合、プロセスファイバ300の切り替えは、例えば、上記のように反射ミラー210およびステッピングモータ230を用いる方法、複数のプロセスファイバ300の他方の端部が固定された固定部材をスライドあるいは回転させる方法等により行うことができる。
本発明のレーザ加工装置によれば、レーザ発振器から出射されたレーザビームを、効率よくプロセスファイバに導光することができるため、生産性が向上する。
1000:レーザ加工装置
100:レーザ発振器
200:ビーム光路切替部
210、210a〜210c:反射ミラー
220、220a〜220c:第2集光レンズ
230、230a〜230c:ステッピングモータ
240:ビームアブソーバ
250:導光路
300、300a〜300c:プロセスファイバ
300t:入射端
400:加工ヘッド
410:コリメータレンズ
420:第1集光レンズ
500:加工テーブル
600:加工制御部
710:X軸モータ
720:Y軸モータ
2000:レーザ加工装置
2100:レーザ発振器
2200:ビーム光路切替部
2210、2210a〜2210c:反射ミラー
2220、2220a〜2220c:第2集光レンズ
2230、2230a〜2230c:ステッピングモータ
2240:ビームアブソーバ
2250:導光路
2300、2300a〜2300c:プロセスファイバ
2400:加工ヘッド
2410:コリメータレンズ
2420:第1集光レンズ
2500:加工テーブル
2600:加工制御部
2710:X軸モータ
2720:Y軸モータ

Claims (1)

  1. レーザ発振器と、
    前記レーザ発振器から出射される前記レーザビームを、複数の光路から選択される1つに導光するビーム光路切替部と、
    複数の前記光路にそれぞれ配置される複数のプロセスファイバと、
    前記プロセスファイバに対応するように前記光路に配置されており、前記レーザビームを集光して、対応する前記プロセスファイバに導光する複数の集光レンズと、を備え、
    前記レーザ発振器から複数の前記プロセスファイバまでの光路長が全て同一となるように、前記集光レンズおよび前記プロセスファイバがそれぞれ配置されている、レーザ加工装置。
JP2016178351A 2016-09-13 2016-09-13 レーザ加工装置 Pending JP2018043257A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016178351A JP2018043257A (ja) 2016-09-13 2016-09-13 レーザ加工装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016178351A JP2018043257A (ja) 2016-09-13 2016-09-13 レーザ加工装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2018043257A true JP2018043257A (ja) 2018-03-22

Family

ID=61694005

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016178351A Pending JP2018043257A (ja) 2016-09-13 2016-09-13 レーザ加工装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2018043257A (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1190665A (ja) * 1997-09-25 1999-04-06 Mitsubishi Electric Corp レーザ加工装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1190665A (ja) * 1997-09-25 1999-04-06 Mitsubishi Electric Corp レーザ加工装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102636850B1 (ko) 레이저 처리 장치 및 방법
JP7119094B2 (ja) レーザ処理装置及び方法
US11351633B2 (en) Laser processing apparatus and method
KR102364889B1 (ko) 레이저 처리 장치 및 방법과 그를 위한 광부품
JP5639046B2 (ja) レーザ加工装置及びレーザ加工方法
KR20180114913A (ko) 빔 정렬 및/또는 요동 이동을 제공하는 이중 이동가능한 거울을 갖춘 레이저 절삭 헤드
JP2013180295A (ja) 加工装置及び加工方法
US20220168841A1 (en) Method for flame cutting by means of a laser beam
JP2018034184A (ja) レーザ発振器およびレーザ加工装置
WO2012050098A1 (ja) レーザ加工装置及びレーザ加工方法
CN109982808B (zh) 激光加工装置以及激光加工方法
JP2009178720A (ja) レーザ加工装置
JPH10314973A (ja) 複合レーザビームによるレーザ加工装置および加工法
JP6895621B2 (ja) レーザ加工ヘッドおよびレーザ加工装置
CN115551668A (zh) 激光切割方法和激光切割设备
JP6043773B2 (ja) ダイレクトダイオードレーザ光による板金の加工方法及びこれを実行するダイレクトダイオードレーザ加工装置
JP2018043256A (ja) レーザ加工装置
GB2582331A (en) Apparatus for laser processing a material
JP2018043257A (ja) レーザ加工装置
JP2013176800A (ja) 加工装置及び加工方法
JP2016078051A (ja) ダイレクトダイオードレーザ加工装置及びこれを用いた板金の加工方法
CN116323075A (zh) 激光焊接处理中的束整形系统
JP2020009851A (ja) レーザ発振装置およびその制御方法
JP2016153143A (ja) ダイレクトダイオードレーザ光による板金の加工方法及びこれを実行するダイレクトダイオードレーザ加工装置

Legal Events

Date Code Title Description
RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20180709

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190626

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200722

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200811

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20210302