JP2018020272A - 超純水製造装置および超純水製造方法 - Google Patents

超純水製造装置および超純水製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2018020272A
JP2018020272A JP2016151847A JP2016151847A JP2018020272A JP 2018020272 A JP2018020272 A JP 2018020272A JP 2016151847 A JP2016151847 A JP 2016151847A JP 2016151847 A JP2016151847 A JP 2016151847A JP 2018020272 A JP2018020272 A JP 2018020272A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ultrapure water
water
microwave
treated
water production
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2016151847A
Other languages
English (en)
Inventor
一重 高橋
Kazushige Takahashi
一重 高橋
友明 宮ノ下
Tomoaki Miyanoshita
友明 宮ノ下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Organo Corp
Original Assignee
Organo Corp
Japan Organo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Organo Corp, Japan Organo Co Ltd filed Critical Organo Corp
Priority to JP2016151847A priority Critical patent/JP2018020272A/ja
Publication of JP2018020272A publication Critical patent/JP2018020272A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

【課題】ランニングコストを抑え、不純物の少ない超純水を供給できる超純水製造装置および超純水製造方法を提供する。【解決手段】マイクロウェーブにより紫外線発光する発光体50を備える反応槽40と、マイクロウェーブ発生装置42と、を有し、マイクロウェーブ発生装置42により発生させたマイクロウェーブを発光体50に照射しながら、有機物を含む被処理水を反応槽40に通水させて、有機物の酸化分解処理を行う紫外線照射処理装置16を備える超純水製造装置1である。【選択図】図2

Description

本発明は、超純水製造装置および超純水製造方法に関する。
従来より、半導体装置の製造工程や液晶表示装置の製造工程等における洗浄水等の用途で、有機物、イオン成分、微粒子、細菌等が高度に除去された超純水等の純水が使用されている。特に、半導体装置を含む電子部品を製造する際には、その洗浄工程において多量の純水が使用されており、その水質に対する要求も年々高まっている。電子部品製造の洗浄工程等において使用される純水では、純水中に含まれる有機物がその後の熱処理工程において炭化して絶縁不良等を引き起こすことを防止するため、水質管理項目の一つである全有機炭素(TOC:Total Organic Carbon)濃度を極めて低いレベルとすることが求められるようになってきている。
このような純水の水質への高度な要求が顕在化するに伴って、近年、純水中に含まれる微量の有機物を分解して除去する様々な方法の検討がなされている。そのような方法の代表的なものとして、紫外線酸化処理による有機物の分解除去工程が導入されている。
図5に、従来の一般的な超純水製造装置の一例の概略構成を示す。超純水製造装置5において、イオン交換装置や逆浸透膜装置等を含む一次純水製造装置100で製造された一次純水が、一次純水槽102に貯留される。一次純水は、ポンプ114により熱交換器104に通されて温度調整された後、紫外線酸化装置106に送液され、紫外線酸化装置106において有機物等が分解除去される。紫外線酸化処理された紫外線酸化処理水は、イオン交換装置108に送液され、イオン交換装置108においてイオン化された有機物等が除去され、最後に限外ろ過膜等を有する膜ろ過装置110に送液され、微粒子等が除去されて超純水が得られる。得られた超純水は、電子部品製造の洗浄工程等のユースポイント112において使用される。ユースポイント112において使用されずに通過した超純水は、一次純水槽102に循環される。
一般的には、紫外線酸化処理によって有機物の分解除去を行う場合には、例えばステンレス製の反応槽とその反応槽内に設置された管状の紫外線ランプとを備える紫外線酸化装置を用い、反応槽内に被処理水を導入して被処理水に紫外線を照射する。紫外線ランプとしては、例えば、254nmと185nmの各波長を有する紫外線を発生する低圧紫外線ランプ、あるいは、254nmと194nmと185nmの各波長を有する紫外線を発生する低圧紫外線ランプ等が使用される。
一般的な紫外線酸化装置による有機物の分解方法では、185nmといった短波長の紫外線を発生する紫外線ランプを必要とするが、このような紫外線ランプは非常に高価であるにもかかわらず、使用期間の経過とともに紫外線強度が低下するために、例えば1年に1回程度の交換が必要である。また、紫外線酸化装置における有機物の分解効率は、被処理水中の有機物濃度が低いほど低下するため、純水や超純水の製造のように、TOC濃度がもともと低い被処理水を対象としてその被処理水中の有機物をさらに酸化分解するためには、被処理水におけるTOC濃度あたりの必要電力量が非常に大きくなる。したがって、一般的な紫外線酸化装置による有機物の酸化分解は、装置のランニングコストが極めて大きくなるという問題点を有する。
一方、半導体の集積度の向上に伴って、超純水にはより高い洗浄効果が要求され、この要求を満足するために70℃程度に加熱された超純水(温超純水)が使用されており、温超純水を製造するための超純水製造装置が知られている(例えば、特許文献1,2参照)。
図6に、温超純水を製造するための従来の一般的な超純水製造装置の一例の概略構成を示す。超純水製造装置7において、イオン交換装置や逆浸透膜装置等を含む一次純水製造装置100で製造された一次純水が、一次純水槽102に貯留される。一次純水は、ポンプ114により紫外線酸化装置106に送液され、紫外線酸化装置106において有機物等が分解除去される。紫外線酸化処理された紫外線酸化処理水は、イオン交換装置108に送液され、イオン交換装置108においてイオン化された有機物等が除去される。イオン交換処理されたイオン交換処理水は、熱交換器104に通されて加熱された後、最後に限外ろ過膜等を有する膜ろ過装置110に送液され、微粒子等が除去されて超純水が得られる。得られた超純水は、ユースポイント112において使用される。ユースポイント112において使用されずに通過した超純水は、熱交換器116に通されて冷却された後、一次純水槽102に循環される。
不純物が高度に除去された超純水を例えば70℃程度まで加熱する場合には、一般的にステンレス鋼、チタン等の金属を材質とする熱交換器が用いられているが、熱交換器の材質由来の不純物が溶出することで、超純水の純度が低下する問題がある。これに対して、フッ素樹脂等の不純物溶出の少ない材質の熱交換器を用いることや、樹脂コーティング層を有する金属を材質とする熱交換器(例えば、特許文献3参照)を用いることが提案されている。しかし、フッ素樹脂等の不純物溶出の少ない材質の熱交換器を用いた場合は熱伝導性が低く、樹脂コーティング層を有する金属を材質とする熱交換器を用いた場合はTOC成分が溶出するという問題がある。
また、図6に示す超純水製造装置7のように、一般的に紫外線酸化装置106、イオン交換装置108、熱交換器104、膜ろ過装置110、ユースポイント112の順序の装置構成とされていることから、熱交換器104から溶出したイオン性不純物等は、そのままユースポイント112へ供給されてしまうという問題がある。
特開2010−123897号公報 特開2013−202610号公報 特開平6−257987号公報
本発明の目的は、ランニングコストを抑え、不純物の少ない超純水を供給できる超純水製造装置および超純水製造方法を提供することにある。
本発明は、マイクロウェーブにより紫外線発光する発光体を備える反応槽と、マイクロウェーブ発生手段と、を有し、前記マイクロウェーブ発生手段により発生させたマイクロウェーブを前記発光体に照射しながら、有機物を含む被処理水を前記反応槽に通水させて、前記有機物の酸化分解処理を行う紫外線照射処理装置を備える超純水製造装置である。
前記超純水製造装置において、前記紫外線照射処理装置の後段側に、マイクロウェーブによる加熱装置を備えることが好ましい。
前記超純水製造装置において、前記加熱装置により加熱された加熱水のTOC濃度および温度のうちの少なくとも1つの値に応じて、前記マイクロウェーブ発生手段および前記加熱装置のうちの少なくとも1つで用いられるマイクロウェーブの出力を制御することが好ましい。
前記超純水製造装置において、前記被処理水の電気抵抗率が1MΩ・cm以上であり、かつ前記被処理水のTOC濃度が100ppb未満であることが好ましい。
前記超純水製造装置において、一次純水製造装置により製造された一次純水を前記被処理水として用いることが好ましい。
また、本発明は、マイクロウェーブ発生手段により発生させたマイクロウェーブを、マイクロウェーブにより紫外線発光する発光体を備える反応槽における前記発光体に照射しながら、有機物を含む被処理水を前記反応槽に通水させて、前記有機物の酸化分解処理を行う紫外線照射処理工程を含む超純水製造方法である。
前記超純水製造方法における前記紫外線照射処理工程の後段側に、マイクロウェーブによる加熱工程を含むことが好ましい。
前記超純水製造方法において、前記加熱工程により加熱された加熱水のTOC濃度および温度のうちの少なくとも1つの値に応じて、前記マイクロウェーブ発生手段および前記加熱工程のうちの少なくとも1つで用いられるマイクロウェーブの出力を制御することが好ましい。
前記超純水製造方法において、前記被処理水の電気抵抗率が1MΩ・cm以上であり、かつ前記被処理水のTOC濃度が100ppb未満であることが好ましい。
前記超純水製造方法において、一次純水製造工程により製造された一次純水を前記被処理水として用いることが好ましい。
本発明により、ランニングコストを抑え、不純物の少ない超純水を供給できる超純水製造装置および超純水製造方法を提供することが可能となる。
本発明の実施形態に係る超純水製造装置の一例を示す概略構成図である。 本発明の実施形態に係る紫外線照射装置の一例を示す概略構成図である。 本発明の実施形態に係る超純水製造装置の他の例を示す概略構成図である。 図3の超純水製造装置における紫外線照射装置、イオン交換装置および熱交換装置の一例を示す概略構成図である。 従来の一般的な超純水製造装置の一例を示す概略構成図である。 温超純水を製造するための従来の一般的な超純水製造装置の一例を示す概略構成図である。
本発明の実施の形態について以下説明する。本実施形態は本発明を実施する一例であって、本発明は本実施形態に限定されるものではない。
本発明の実施形態に係る超純水製造装置の一例の概略を図1に示し、その構成について説明する。超純水製造装置1は、紫外線照射処理を行う紫外線照射処理手段として紫外線照射処理装置16と、イオン除去処理を行うイオン除去手段としてイオン交換装置18と、膜ろ過処理を行う膜ろ過手段として膜ろ過装置20とを備える。超純水製造装置1は、一次純水を貯留するための一次純水槽12と、一次純水の温度調整を行う温度調整手段として温度調整装置14とを備えてもよい。
図1の超純水製造装置1において、一次純水槽12の出口と温度調整装置14の入口とは、ポンプ24を介して配管28により接続されている。温度調整装置14の出口と紫外線照射処理装置16の入口とは、配管30により接続されている。紫外線照射処理装置16の出口とイオン交換装置18の入口とは、配管32により接続されている。イオン交換装置18の出口と膜ろ過装置20の入口とは、配管34により接続されている。膜ろ過装置20の出口と一次純水槽12の循環水入口とは、超純水が使用されるユースポイント22を通って、配管36および配管38により接続されている。
本実施形態に係る超純水製造方法および超純水製造装置1の動作について説明する。
一次純水製造装置10において製造された、有機物を含む一次純水が、配管26を通して必要に応じて一次純水槽12に貯留された後、ポンプ24により配管28を通して、温度調整装置14に送液される。温度調整装置14において一次純水の温度調整が行われる(温度調整工程)。温度調整が行われた一次純水は、配管30を通して、被処理水として紫外線照射処理装置16に送液される。
紫外線照射処理装置16の一例の概略構成を図2に示す。
図2に示す紫外線照射処理装置16は、マイクロウェーブにより紫外線発光する粒状の発光体50が充填された紫外線発光層44を有する反応槽40と、マイクロウェーブ発生手段として、マイクロウェーブ発生装置42とを備える。
図2の紫外線照射処理装置16において、反応槽40の入口46には、配管30が接続され、反応槽40の出口48には、配管32が接続されている。反応槽40には、マイクロウェーブ発生装置42が、紫外線発光層44の発光体50にマイクロウェーブを照射できるように設置されている。
マイクロウェーブ発生装置42を起動させて、発生させたマイクロウェーブを紫外線発光層44の発光体50に照射しながら、有機物を含む被処理水(一次純水)が配管30を通して、反応槽40の下部の入口46から供給され、反応槽40を上向流で通水される。これにより、紫外線発光層44において、有機物の酸化分解処理が行われる(紫外線照射処理工程)。通水後の紫外線照射処理水は、反応槽40上部の出口48から配管32を通して排出され、図1のイオン交換装置18に送液される。
紫外線照射処理では、マイクロウェーブの照射により紫外線発光層44の発光体50から発光された紫外線によって、主に、紫外線の光酸化による有機物等の酸化分解処理が行われる。有機物の酸化分解処理により、例えば、有機酸、炭酸イオン等のイオンが生成する。マイクロウェーブは水に吸収されやすく熱に変換されやすいため、発光体の発光エネルギーとして利用されないマイクロウェーブは、被処理水の加熱に利用することによって、加熱された超純水(温超純水)を得ることができる。
次に図1のイオン交換装置18において、紫外線照射処理水についてイオン交換処理等のイオン除去処理が行われる(イオン除去処理工程)。イオン除去処理では、主に、紫外線照射処理により有機物が分解されて生成した有機酸、炭酸イオン等が除去される。イオン除去処理されたイオン除去処理水は、配管34を通して膜ろ過装置20に送液される。膜ろ過装置20において、イオン除去処理水の膜ろ過処理が行われる(膜ろ過処理工程)。膜ろ過処理では、主に、微粒子等の固形分が除去されて超純水が得られる。
得られた超純水は、配管36を通して電子部品製造の洗浄工程等のユースポイント22に供給され、ユースポイント22において洗浄水等として使用される。ユースポイント22において使用されずに通過した超純水は、配管38を通して一次純水槽12に循環される。
本実施形態に係る超純水製造方法および超純水製造装置によれば、ランニングコストを抑え、不純物の少ない超純水を供給することができる。後述するように、紫外線照射処理で用いられる発光体50は、水銀ランプのように発光管内にフィラメント電極がないため、電極の消耗等による寿命への影響を受けず、発光体自体は半永久的に点灯し続けることが可能である。そのため、ランプの交換、施工に伴う手間、ランニングコスト等を大幅に低減することができる。また、紫外線酸化処理と加熱処理が同時にでき、従来の紫外線酸化装置と熱交換器の組み合わせに比べて金属等の材質が用いられていない(少ない)ため、金属等の材質由来の不純物の溶出を低減することができる。したがって、不純物の少ない超純水を供給することができる。
超純水製造装置1において処理対象となる被処理水は、一次純水製造装置10において製造された、有機物を含む一次純水である。一次純水製造装置10は、例えば、原水を活性炭等によりろ過処理するろ過処理装置(ろ過処理工程)と、ろ過処理されたろ過処理水を(一次)イオン除去処理するイオン交換塔等の(一次)イオン交換装置((一次)イオン除去処理工程)と、(一次)イオン除去処理された(一次)イオン除去処理水を逆浸透膜処理する逆浸透膜処理装置(逆浸透膜処理工程)等を含むものである。
被処理水に含まれる有機物としては、例えば、メタノール、エタノール、イソプロピルアルコール、アセトン等が挙げられる。
処理対象となる被処理水(一次純水)の電気抵抗率は、例えば1MΩ・cm以上であり、かつ被処理水のTOC濃度(全有機炭素濃度)は、例えば100ppb未満であり、好ましくは、電気抵抗率は、10MΩ・cm以上であり、かつ被処理水のTOC濃度は、50ppb未満である。さらに好ましくは被処理水の電気抵抗率は、15MΩ・cm以上であり、かつ被処理水のTOC濃度は、20ppb未満である。
温度調整装置14としては、一次純水の温度を調整することができるものであればよく、特に制限はないが、例えば、熱交換器等が挙げられる。
紫外線照射処理装置16の反応槽40における被処理水の通水方向は、通常は図2に示すような上向流であるが、下向流であってもよいし、横向流であってもよい。
紫外線照射処理装置16の反応槽40において、被処理水の流路内に発光体50を充填(配置)し、発光体50に対して被処理液が外側を通る内照式、被処理水の流路外部に発光体50を充填(配置)し、発光体50に対して被処理液が内側を通る外照式のどちらを用いてもよい。有機物の酸化分解処理を効率的に行う場合は外照式が好ましく、被処理水の加熱を主目的とする場合には内照式が好ましい。
反応槽40におけるマイクロウェーブを照射する面を構成する材質としては、マイクロウェーブを透過する材質であればよく特に制限はないが、例えば、石英ガラス、ポリテトラフルオロエチレン(テフロン(登録商標))、ポリスチレン、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、セラミックス等が挙げられる。
マイクロウェーブ発生装置42は、マイクロウェーブ(周波数:例えば、2.450GHz±0.05GHz、5.800GHz±0.075GHz、24.125GHz±0.125GHz)を発生することができるものであればよく、その構成は特に制限はない。例えば、真空管を用いるマグネトロン方式の他に、半導体を用いるソリッドステート方式等が挙げられる。マグネトロン方式の発振器は、家庭用から業務用の電子レンジに幅広く用いられており比較的安価に入手できる利点があり、ソリッドステート方式の発振器は、寿命が比較的長く、波長の安定性が良好である等の利点がある。
マイクロウェーブ発生装置42の構成例として、例えば、図2に示すように、電源装置52と、マイクロウェーブ発振器54と、導波管56と、スリースタブチューナ58と、短絡器60とを備える構成が挙げられる。
例えば、電源装置52から供給された電源により、マイクロウェーブ発振器54が発生したマイクロウェーブが、導波管56を通り、紫外線発光層44の発光体50に照射される。スリースタブチューナ58により、導波管56におけるインピーダンス整合を調整することができる。
マイクロウェーブの照射は、紫外線発光層44のある1方向から行ってもよいし、2方向以上の複数方向から行ってもよい。反応槽40の径が大きくなると(例えば、30cm以上)、マイクロウェーブが中心部まで到達しない場合があるので、紫外線発光層44に対して2方向以上の複数方向から照射を行うことが好ましい。
発光体50は、マイクロウェーブにより紫外線(例えば、波長100nm〜400nmの光)発光するものであればよく、紫外線以外に可視光線(例えば、波長400nm〜780nmの光)や赤外線(例えば、波長780nm〜1mmの光)の発生有無による制限は特にない。発光体50としては、例えば、紫外線の吸収が小さい石英製やテフロン(登録商標)樹脂等のフッ素樹脂製であって、球形状や、円筒の両端を球状にしたカプセル形状等の容器に、水銀ガス、水素ガス、キセノンガス、窒素ガス、アルゴンガス、ヘリウムガス、塩素ガス、フッ素ガス、重水素ガス等の、マイクロウェーブにより紫外線発光する放電ガスを所定の封入圧で封入した無電極紫外線発光カプセル等が挙げられる。放電ガスを封入した無電極紫外線発光カプセルに、マイクロウェーブを照射することにより、ガスが励起され、紫外線を発光する。放電ガスや封入圧を適宜選択することにより、発光波長を調整することができる。この無電極紫外線発光カプセルは、水銀ランプのように発光管内にフィラメント電極がないため、電極の消耗等による寿命への影響を受けず、カプセル自体は半永久的に点灯し続けることが可能である。そのため、ランプの交換、施工に伴う手間、ランニングコスト等を大幅に低減することができる。
発光体50が球形状の場合、最大径は、例えば、1.0mm〜10mmの範囲であり、2.0mm〜4.0mmの範囲であることが好ましい。発光体50が円筒の両端を球状にしたカプセル形状の場合、径は、例えば、1.0mm〜10mmの範囲であり、2.0mm〜4.0mmの範囲であることが好ましく、高さは、例えば、2.0mm〜20mmの範囲であり、4.0mm〜8.0mmの範囲であることが好ましい。
発光体50の比重を調整するために、発光体50の両端または一端に、発光体50と同様の材料で形成した中空または中実の突起状の比重調整部を設けてもよい。
比重調整部の径は、例えば、1.0mm〜10mmの範囲であり、2.0mm〜4.0mmの範囲であることが好ましく、高さは、例えば、2.0mm〜20mmの範囲であり、4.0mm〜10mmの範囲であることが好ましい。
なお、図2の例では粒状の発光体50を反応槽40に充填しているが、反応槽自体の少なくとも一部が、マイクロウェーブにより紫外線発光する発光体で形成された中空管状等の反応槽を用いて、紫外線発光体で形成された反応槽にマイクロウェーブを照射しながら、被処理水を反応槽に通水してもよい(外照式)。また、反応槽の少なくとも一部が、マイクロウェーブにより紫外線発光する面状発光体である中空管状発光体等により被覆されている反応槽を用いて、反応槽を被覆した中空管状発光体等の面状発光体にマイクロウェーブを照射しながら、被処理水を反応槽に通水してもよい(外照式)。これらの場合、発光体としては、例えば、紫外線の吸収が小さい石英製やテフロン(登録商標)樹脂等のフッ素樹脂製であって、面状や、円筒形状、四角筒等の多角筒形状等の中空管状の容器に、水銀ガス、水素ガス、キセノンガス、窒素ガス、アルゴンガス、ヘリウムガス、塩素ガス、フッ素ガス、重水素ガス等の、マイクロウェーブにより紫外線発光する放電ガスを所定の封入圧で封入した無電極紫外線発光中空管状発光体等が挙げられる。
発光体50の発光波長は、処理対象となる有機物の種類等に応じて適宜選択すればよく、特に制限はない。有機物の酸化分解処理を主に行う場合には、通常、波長185±0.1nmや220±0.1nmの紫外線を発生する発光体が用いられる。
発光体50として、発光波長の異なる2種類以上の発光体を用いてもよい。発光波長の異なる2種類以上の発光体の充填比率、被覆比率、構成比率等は、特に制限はなく、被処理水の液質等に応じて、適宜変更すればよい。マイクロウェーブは水に吸収されやすいため、発光体に過剰に出力を与える場合があり、エネルギー的に損失が大きい。
イオン除去手段としては、イオン交換樹脂等のイオン交換体を用いるイオン交換装置等が挙げられる。効率的にイオン交換反応を行うことができる等の点から非再生型混床式イオン交換装置が好ましい。
膜ろ過装置20としては、微粒子等の固形分の分離処理を行うことができるものであればよく、特に制限はない。膜ろ過装置20が備えるろ過膜としては、例えば、精密ろ過膜(MF膜)、限外ろ過膜(UF膜)等が挙げられる。ろ過膜の形態としては、中空糸膜等が挙げられる。
ユースポイント22は、超純水を使用する設備、工程等であればよく、特に制限はない。ユースポイント22としては、例えば、半導体装置の製造工程、液晶表示装置の製造工程等の電子部品の製造工程等が挙げられる。ユースポイント22における超純水の使用用途としては、特に制限はないが、例えば、電子部品の洗浄用途等が挙げられる。
本発明の実施形態に係る超純水製造装置の他の例の概略構成を図3に示す。図3に示す超純水製造装置は、主に温超純水を製造するための装置である。
超純水製造装置3は、紫外線照射処理を行う紫外線照射処理手段として紫外線照射処理装置16と、イオン除去処理を行うイオン除去手段としてイオン交換装置18と、マイクロウェーブによる加熱を行う加熱手段として加熱装置62と、膜ろ過処理を行う膜ろ過手段として膜ろ過装置20とを備える。超純水製造装置1は、一次純水を貯留するための一次純水槽12と、循環された純水の熱交換手段として熱交換装置64とを備えてもよい。
図3の超純水製造装置3において、一次純水槽12の出口と紫外線照射処理装置16の入口とは、ポンプ24を介して配管68により接続されている。紫外線照射処理装置16の出口とイオン交換装置18の入口とは、配管70により接続されている。イオン交換装置18の出口と加熱装置62の入口とは、配管72により接続されている。加熱装置62の出口と膜ろ過装置20の入口とは、配管74により接続されている。膜ろ過装置20の出口と熱交換装置64の入口とは、超純水が使用されるユースポイント22を通って、配管76および配管78により接続されている。熱交換装置64の出口と一次純水槽12の循環水入口とは、配管80により接続されている。このように、超純水製造装置3では、紫外線照射処理装置16の後段側に、マイクロウェーブによる加熱装置62を備える。
超純水製造装置3の動作について説明する。
一次純水製造装置10において製造された、有機物を含む一次純水が、配管66を通して必要に応じて一次純水槽12に貯留された後、ポンプ24により配管68を通して、被処理水として紫外線照射処理装置16に送液される。
超純水製造装置3における紫外線照射処理装置16、イオン交換装置18、加熱装置62の一例の概略構成を図4に示す。
図4に示す紫外線照射処理装置16は、マイクロウェーブにより紫外線発光する発光体50が充填された紫外線発光層44を有する反応槽40と、マイクロウェーブ発生手段として、マイクロウェーブ発生装置42とを備える。マイクロウェーブ発生装置42は、例えば、電源装置52と、マイクロウェーブ発振器(図示せず)と、導波管(図示せず)と、スリースタブチューナ(図示せず)と、短絡器60とを備える構成である。発光体については、前述した通りである。
加熱装置62は、イオン除去処理水を加熱するための加熱槽86と、マイクロウェーブ発生手段として、マイクロウェーブ発生装置92とを備える。マイクロウェーブ発生装置92は、例えば、電源装置52と、マイクロウェーブ発振器(図示せず)と、導波管(図示せず)と、スリースタブチューナ(図示せず)と、短絡器94とを備える構成である。
図4の紫外線照射処理装置16において、反応槽40の入口46には、配管68が接続され、反応槽40の出口48とイオン交換装置18の入口とは、配管70により接続されている。反応槽40には、マイクロウェーブ発生装置42が、紫外線発光層44の発光体50にマイクロウェーブを照射できるように設置されている。イオン交換装置18の出口と加熱装置62の加熱槽86の入口88とは、配管72により接続されている。加熱槽86の出口90には、配管74が接続されている。配管74には、TOC測定手段としてTOC測定計82と、温度測定手段として温度測定計84が設置されていてもよい。
マイクロウェーブ発生装置42を起動させて、発生させたマイクロウェーブを紫外線発光層44の発光体50に照射しながら、有機物を含む被処理水(一次純水)が配管68を通して、反応槽40の下部の入口46から供給され、反応槽40を上向流で通水される。これにより、紫外線発光層44において、有機物の酸化分解処理が行われる(紫外線照射処理工程)。通水後の紫外線照射処理水は、反応槽40上部の出口48から配管70を通して排出され、イオン交換装置18に送液される。
紫外線照射処理では、マイクロウェーブの照射により紫外線発光層44の発光体50から発光された紫外線によって、主に、紫外線の光酸化による有機物等の酸化分解処理が行われる。マイクロウェーブは水に吸収されやすく熱に変換されやすいため、発光体の発光エネルギーとして利用されないマイクロウェーブは、被処理水の加熱に利用することによって、加熱された超純水(温超純水)を得ることができる。
次にイオン交換装置18において、紫外線照射処理水についてイオン交換処理等のイオン除去処理が行われる(イオン除去処理工程)。マイクロウェーブ発生装置92を起動させて、発生させたマイクロウェーブを加熱槽86に照射しながら、イオン除去処理されたイオン除去処理水が、配管72を通して、加熱装置62の加熱槽86の下部の入口88から供給され、加熱槽86を上向流で通水される。これにより、加熱槽86において、イオン除去処理水の加熱が行われる(加熱工程)。通水後の加熱水は、加熱槽86上部の出口90から配管74を通して排出され、図3の膜ろ過装置20に送液される。
膜ろ過装置20において、加熱水の膜ろ過処理が行われる(膜ろ過処理工程)。膜ろ過処理では、主に、微粒子等の固形分が除去されて加熱された超純水(温超純水)が得られる。温超純水の温度は、例えば、65℃〜85℃の範囲である。
得られた温超純水は、配管76を通して電子部品製造の洗浄工程等のユースポイント22に供給され、ユースポイント22において洗浄水等として使用される。ユースポイント22において使用されずに通過した温超純水は、配管78を通して必要に応じて熱交換装置64に送液される。温超純水は、必要に応じて熱交換装置64において熱交換された(熱交換工程)後、配管80を通して一次純水槽12に循環される。
イオン除去処理水等の加熱手段として一般的な熱交換器を用いる場合は、効率的に加熱するために加熱対象水と構成部材との接触面積を上げる必要があり、必然的に部材由来の溶出リスクが上がる。しかしながら、加熱手段としてマイクロウェーブによる加熱装置を用いることにより、マイクロウェーブは水を直接加熱することが可能であることから、部材由来の溶出リスクを低減することができる。
加熱装置62は、紫外線照射処理装置16における加熱によって目的到達温度に達しなかった場合の補助用として利用すればよい。
熱交換装置64は、循環された超純水(温超純水)を熱交換して冷却することができるものであればよく、特に制限はない。
図4の例では、紫外線照射処理装置16のマイクロウェーブ発生装置42と加熱装置62のマイクロウェーブ発生装置92とには、共通の電源装置52が用いられている。これにより、装置構成が簡略化される。なお、紫外線照射処理装置16のマイクロウェーブ発生装置42と加熱装置62のマイクロウェーブ発生装置92とのそれぞれ個別に電源装置を設置してもよい。
本実施形態に係る超純水製造方法および超純水製造装置3において、加熱装置62(加熱工程)により加熱された加熱水の、TOC測定計82で測定されたTOC濃度、および温度測定計84で測定された温度のうちの少なくとも1つの値に応じて、マイクロウェーブ発生装置42および加熱装置62(加熱工程)のうちの少なくとも1つで用いられるマイクロウェーブの出力を制御することが好ましい。これにより、より効率的に紫外線照射および加熱を行うことができる。また、この場合、マイクロウェーブ発生装置42および加熱装置62として、半導体を用いるソリッドステート方式を用いることが好ましい。ソリッドステート方式を採用することで、マイクロウェーブを照射する位置(面積)を特定し、マイクロウェーブの出力を調整することができる。
本実施形態に係る超純水製造方法および超純水製造装置により、例えば、電気抵抗率が1MΩ・cm以上であり、かつTOC濃度が100ppb未満である一次純水から、電気抵抗率が18MΩ・cm以上であり、かつTOC濃度が1ppb未満である超純水を得ることができる。
1,3,5,7 純水製造装置、10,100 一次純水製造装置、12,102 一次純水槽、14 温度調整装置、16 紫外線照射処理装置、18,108 イオン交換装置、20,110 膜ろ過装置、22,112 ユースポイント、24,114 ポンプ、26,28,30,32,34,36,38,66,68,70,72,74,76,78,80 配管、40 反応槽、42,92 マイクロウェーブ発生装置、44 紫外線発光層、46,88 入口、48,90 出口、50 発光体、52 電源装置、54 マイクロウェーブ発振器、56 導波管、58 スリースタブチューナ、60,94 短絡器、62 加熱装置、64 熱交換装置、82 TOC測定計、84 温度測定計、86 加熱槽、104,116 熱交換器、106 紫外線酸化装置。

Claims (10)

  1. マイクロウェーブにより紫外線発光する発光体を備える反応槽と、マイクロウェーブ発生手段と、を有し、前記マイクロウェーブ発生手段により発生させたマイクロウェーブを前記発光体に照射しながら、有機物を含む被処理水を前記反応槽に通水させて、前記有機物の酸化分解処理を行う紫外線照射処理装置を備えることを特徴とする超純水製造装置。
  2. 請求項1に記載の超純水製造装置であって、
    前記紫外線照射処理装置の後段側に、マイクロウェーブによる加熱装置を備えることを特徴とする超純水製造装置。
  3. 請求項2に記載の超純水製造装置であって、
    前記加熱装置により加熱された加熱水のTOC濃度および温度のうちの少なくとも1つの値に応じて、前記マイクロウェーブ発生手段および前記加熱装置のうちの少なくとも1つで用いられるマイクロウェーブの出力を制御することを特徴とする超純水製造装置。
  4. 請求項1〜3のいずれか1項に記載の超純水製造装置であって、
    前記被処理水の電気抵抗率が1MΩ・cm以上であり、かつ前記被処理水のTOC濃度が100ppb未満であることを特徴とする超純水製造装置。
  5. 請求項1〜4のいずれか1項に記載の超純水製造装置であって、
    一次純水製造装置により製造された一次純水を前記被処理水として用いることを特徴とする超純水製造装置。
  6. マイクロウェーブ発生手段により発生させたマイクロウェーブを、マイクロウェーブにより紫外線発光する発光体を備える反応槽における前記発光体に照射しながら、有機物を含む被処理水を前記反応槽に通水させて、前記有機物の酸化分解処理を行う紫外線照射処理工程を含むことを特徴とする超純水製造方法。
  7. 請求項6に記載の超純水製造方法であって、
    前記紫外線照射処理工程の後段側に、マイクロウェーブによる加熱工程を含むことを特徴とする超純水製造方法。
  8. 請求項7に記載の超純水製造方法であって、
    前記加熱工程により加熱された加熱水のTOC濃度および温度のうちの少なくとも1つの値に応じて、前記マイクロウェーブ発生手段および前記加熱工程のうちの少なくとも1つで用いられるマイクロウェーブの出力を制御することを特徴とする超純水製造方法。
  9. 請求項6〜8のいずれか1項に記載の超純水製造方法であって、
    前記被処理水の電気抵抗率が1MΩ・cm以上であり、かつ前記被処理水のTOC濃度が100ppb未満であることを特徴とする超純水製造方法。
  10. 請求項6〜9のいずれか1項に記載の超純水製造方法であって、
    一次純水製造工程により製造された一次純水を前記被処理水として用いることを特徴とする超純水製造方法。
JP2016151847A 2016-08-02 2016-08-02 超純水製造装置および超純水製造方法 Pending JP2018020272A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016151847A JP2018020272A (ja) 2016-08-02 2016-08-02 超純水製造装置および超純水製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016151847A JP2018020272A (ja) 2016-08-02 2016-08-02 超純水製造装置および超純水製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2018020272A true JP2018020272A (ja) 2018-02-08

Family

ID=61164998

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016151847A Pending JP2018020272A (ja) 2016-08-02 2016-08-02 超純水製造装置および超純水製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2018020272A (ja)

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01307487A (ja) * 1988-06-02 1989-12-12 Kurita Water Ind Ltd 超純水供給端末殺菌装置
JPH06147390A (ja) * 1992-11-11 1994-05-27 Shinko Pantec Co Ltd 純水加熱装置
JPH09253638A (ja) * 1996-03-26 1997-09-30 Nomura Micro Sci Co Ltd 超純水製造装置
JPH1119637A (ja) * 1997-07-03 1999-01-26 Daido Hoxan Inc 浴槽湯水の循環恒温浄化装置
JP2000283939A (ja) * 1999-03-29 2000-10-13 Japan Organo Co Ltd 水質監視装置及び水質監視方法並びに脱塩装置
JP2002263643A (ja) * 2001-03-12 2002-09-17 Kurita Water Ind Ltd 超純水製造装置
US20040232358A1 (en) * 2001-08-30 2004-11-25 Moruzzi James Lodovico Pulsed uv light source
JP2008159387A (ja) * 2006-12-22 2008-07-10 Satoshi Horikoshi 紫外線光源及び化学反応促進装置
JP2010123897A (ja) * 2008-11-21 2010-06-03 Kurita Water Ind Ltd 温超純水供給ユースポイント配管の立ち上げ洗浄方法
JP2010274173A (ja) * 2009-05-27 2010-12-09 Harison Toshiba Lighting Corp 紫外線照射装置
JP2013202610A (ja) * 2012-03-30 2013-10-07 Kurita Water Ind Ltd 超純水製造装置
JP2014079722A (ja) * 2012-10-18 2014-05-08 Japan Organo Co Ltd オゾン水製造方法

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01307487A (ja) * 1988-06-02 1989-12-12 Kurita Water Ind Ltd 超純水供給端末殺菌装置
JPH06147390A (ja) * 1992-11-11 1994-05-27 Shinko Pantec Co Ltd 純水加熱装置
JPH09253638A (ja) * 1996-03-26 1997-09-30 Nomura Micro Sci Co Ltd 超純水製造装置
JPH1119637A (ja) * 1997-07-03 1999-01-26 Daido Hoxan Inc 浴槽湯水の循環恒温浄化装置
JP2000283939A (ja) * 1999-03-29 2000-10-13 Japan Organo Co Ltd 水質監視装置及び水質監視方法並びに脱塩装置
JP2002263643A (ja) * 2001-03-12 2002-09-17 Kurita Water Ind Ltd 超純水製造装置
US20040232358A1 (en) * 2001-08-30 2004-11-25 Moruzzi James Lodovico Pulsed uv light source
JP2008159387A (ja) * 2006-12-22 2008-07-10 Satoshi Horikoshi 紫外線光源及び化学反応促進装置
JP2010123897A (ja) * 2008-11-21 2010-06-03 Kurita Water Ind Ltd 温超純水供給ユースポイント配管の立ち上げ洗浄方法
JP2010274173A (ja) * 2009-05-27 2010-12-09 Harison Toshiba Lighting Corp 紫外線照射装置
JP2013202610A (ja) * 2012-03-30 2013-10-07 Kurita Water Ind Ltd 超純水製造装置
JP2014079722A (ja) * 2012-10-18 2014-05-08 Japan Organo Co Ltd オゾン水製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105493235B (zh) 光照射装置
WO2010047385A1 (ja) オゾン氷製造方法及びオゾン氷製造装置
CN106252194A (zh) 准分子灯
JP2002373625A (ja) 放電灯および紫外線照射装置並びにその運用方法
JP5994821B2 (ja) デスミア処理装置およびデスミア処理方法
JP2018020272A (ja) 超純水製造装置および超純水製造方法
EP2016028A1 (de) Vorrichtung zur fluidbehandlung, insbesondere wasserentkeimung, mit elektrodenloser gasentladungslampe
JPS61208743A (ja) 紫外線処理装置
JP4516251B2 (ja) 紫外線照射装置及びその運用方法
JP2015085267A (ja) デスミア処理装置
JP5280796B2 (ja) オゾン氷製造方法及びオゾン氷製造装置
JP2001052653A (ja) 紫外線発生装置
JP6102842B2 (ja) デスミア処理方法およびデスミア処理装置
JP2012245511A (ja) 高付価物質変換方法および高付価物質変換装置
Steier et al. A new UV oxidation setup for small radiocarbon samples in solution
TWI712480B (zh) 光洗淨處理裝置
WO2013191003A1 (ja) 流体処理装置
JP3815503B2 (ja) 誘電体バリヤ放電ランプを使用した処理方法
JP2016189394A (ja) デスミア用エキシマ光照射装置およびデスミア処理方法
JP3702852B2 (ja) 誘電体バリヤ放電ランプを使用した処理方法
WO2014208505A1 (ja) 液体処理装置および方法
JP2006004701A (ja) エキシマランプ
JP6630624B2 (ja) 液体処理装置および液体処理方法
JP4959072B2 (ja) 光化学反応処理装置および光化学反応処理方法
JP2017225545A (ja) 流体処理装置および流体処理方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190516

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200226

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200303

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200424

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20200901