JP2017537227A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017537227A5 JP2017537227A5 JP2017527875A JP2017527875A JP2017537227A5 JP 2017537227 A5 JP2017537227 A5 JP 2017537227A5 JP 2017527875 A JP2017527875 A JP 2017527875A JP 2017527875 A JP2017527875 A JP 2017527875A JP 2017537227 A5 JP2017537227 A5 JP 2017537227A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- apertures
- collimator
- openings
- aspect ratio
- region
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000002093 peripheral Effects 0.000 claims description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 7
- 238000005477 sputtering target Methods 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Description
一部の実施形態では、基板処理チャンバで使用するためのコリメータは、中心領域、周辺領域、および中心領域と周辺領域との間に配置された遷移領域を有する本体と、第1のアスペクト比を有する中心領域の第1の複数の開孔と、第1のアスペクト比よりも小さい第2のアスペクト比を有する周辺領域の第2の複数の開孔と、遷移領域の第3の複数の開孔であって、遷移領域が中心領域を取り囲む円錐形を形成するように切削されている、第3の複数の開孔と、を含み、第1の複数の開孔、第2の複数の開孔、および第3の複数の開孔がテクスチャ加工され、第1の複数の開孔、第2の複数の開孔、および第3の複数の開孔の上方部分がチャンファーを含む。
一部の実施形態では、プロセスチャンバは、内部容積を画成するチャンバ本体と、内部容積の上方部分に配置されたスパッタリングターゲットと、スパッタリングターゲットの下に配置された基板支持体と、スパッタリングターゲットと基板支持体との間の内部容積に配置されたコリメータとを含み、コリメータが、中心領域、周辺領域、および中心領域と周辺領域との間に配置された遷移領域を有する本体、第1のアスペクト比を有する中心領域の第1の複数の開孔、第1のアスペクト比よりも小さい第2のアスペクト比を有する周辺領域の第2の複数の開孔、ならびに遷移領域の第3の複数の開孔であって、遷移領域が中心領域を取り囲む円錐形を形成するように切削されている、第3の複数の開孔を含む。
一部の実施形態では、プロセスチャンバは、内部容積を画成するチャンバ本体と、内部容積の上方部分に配置されたスパッタリングターゲットと、スパッタリングターゲットの下に配置された基板支持体と、スパッタリングターゲットと基板支持体との間の内部容積に配置されたコリメータとを含み、コリメータが、中心領域、周辺領域、および中心領域と周辺領域との間に配置された遷移領域を有する本体、第1のアスペクト比を有する中心領域の第1の複数の開孔、第1のアスペクト比よりも小さい第2のアスペクト比を有する周辺領域の第2の複数の開孔、ならびに遷移領域の第3の複数の開孔であって、遷移領域が中心領域を取り囲む円錐形を形成するように切削されている、第3の複数の開孔を含む。
Claims (15)
- 中心領域、周辺領域、および前記中心領域と前記周辺領域との間に配置された遷移領域を有する本体と、
第1のアスペクト比を有する前記中心領域の第1の複数の開孔と、
前記第1のアスペクト比よりも小さい第2のアスペクト比を有する前記周辺領域の第2の複数の開孔と、
前記遷移領域の第3の複数の開孔であって、前記遷移領域が前記中心領域を取り囲む円錐形を形成するように切削されている、第3の複数の開孔と、
を備える、基板処理チャンバで使用するためのコリメータ。 - 前記第1の複数の開孔、前記第2の複数の開孔、および前記第3の複数の開孔がテクスチャ加工されている、請求項1に記載のコリメータ。
- 前記第3の複数の開孔が所定の角度で切削されている、請求項1に記載のコリメータ。
- 前記所定の角度が15°〜45°の間である、請求項3に記載のコリメータ。
- 前記第1の複数の開孔が約61個の開孔を含む、請求項1に記載のコリメータ。
- 前記第1の複数の開孔、前記第2の複数の開孔、および前記第3の複数の開孔の上方部分がチャンファーを含む、請求項1から5までのいずれか1項に記載のコリメータ。
- 前記チャンファーが約2.5°〜約15°である、請求項6に記載のコリメータ。
- 前記チャンファーが約0.15インチ〜約1インチの長さを有する、請求項6に記載のコリメータ。
- 前記第1の複数の開孔のアスペクト比が約2.5:1〜約3.3:1である、請求項1から5までのいずれか1項に記載のコリメータ。
- 前記第1の複数の開孔、前記第2の複数の開孔、および前記第3の複数の開孔のそれぞれが六角形である、請求項1から5までのいずれか1項に記載のコリメータ。
- 前記第1の複数の開孔のそれぞれに外接する円が約1.5インチの直径を有する、請求項1から5までのいずれか1項に記載のコリメータ。
- 前記第1の複数の開孔、前記第2の複数の開孔、および前記第3の複数の開孔がテクスチャ加工され、前記第3の複数の開孔が所定の角度で面取りされている、請求項1に記載のコリメータ。
- 前記チャンファーが、約2.5°〜約15°の間であり、約0.15インチ〜約1インチの長さを有する、請求項12に記載のコリメータ。
- 前記第1の複数の開孔のアスペクト比が約2.5:1〜約3.3:1である、請求項12または13に記載のコリメータ。
- 内部容積を画成するチャンバ本体と、
前記内部容積の上方部分に配置されたスパッタリングターゲットと、
前記スパッタリングターゲットの下に配置された基板支持体と、
前記スパッタリングターゲットと前記基板支持体との間の前記内部容積に配置されたコリメータであって、請求項1から14までのいずれか1項に記載されるような、コリメータと、
を備える、基板処理チャンバ。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201462085009P | 2014-11-26 | 2014-11-26 | |
US62/085,009 | 2014-11-26 | ||
US14/607,273 US9543126B2 (en) | 2014-11-26 | 2015-01-28 | Collimator for use in substrate processing chambers |
US14/607,273 | 2015-01-28 | ||
PCT/US2015/061826 WO2016085805A1 (en) | 2014-11-26 | 2015-11-20 | Collimator for use in substrate processing chambers |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017537227A JP2017537227A (ja) | 2017-12-14 |
JP2017537227A5 true JP2017537227A5 (ja) | 2019-01-10 |
JP6959863B2 JP6959863B2 (ja) | 2021-11-05 |
Family
ID=56009603
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017527875A Active JP6959863B2 (ja) | 2014-11-26 | 2015-11-20 | 基板処理チャンバで使用するためのコリメータ |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9543126B2 (ja) |
EP (2) | EP3723113A1 (ja) |
JP (1) | JP6959863B2 (ja) |
KR (1) | KR101824517B1 (ja) |
CN (2) | CN107002220B (ja) |
IL (1) | IL251944B (ja) |
SG (2) | SG11201703543RA (ja) |
TW (1) | TWI618172B (ja) |
WO (1) | WO2016085805A1 (ja) |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7034912B2 (ja) * | 2015-10-27 | 2022-03-14 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | Pvdスパッタチャンバ向けのバイアス可能なフラックスオプティマイザ/コリメータ |
WO2017155812A1 (en) | 2016-03-05 | 2017-09-14 | Applied Materials, Inc. | Methods and apparatus for controlling ion fraction in physical vapor deposition processes |
US10697057B2 (en) | 2016-11-18 | 2020-06-30 | Applied Materials, Inc. | Collimator for use in a physical vapor deposition chamber |
JP2018154880A (ja) * | 2017-03-17 | 2018-10-04 | 株式会社東芝 | コリメータおよび処理装置 |
CN109390222B (zh) * | 2017-08-08 | 2021-01-05 | 宁波江丰电子材料股份有限公司 | 准直器检具及其使用方法 |
USD859333S1 (en) | 2018-03-16 | 2019-09-10 | Applied Materials, Inc. | Collimator for a physical vapor deposition chamber |
US11017989B2 (en) | 2018-03-16 | 2021-05-25 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Collimator, fabrication apparatus including the same, and method of fabricating a semiconductor device using the same |
USD858468S1 (en) | 2018-03-16 | 2019-09-03 | Applied Materials, Inc. | Collimator for a physical vapor deposition chamber |
WO2020088415A1 (zh) * | 2018-10-31 | 2020-05-07 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 反应腔室及半导体加工设备 |
CN109457231B (zh) * | 2018-11-26 | 2020-04-03 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 蒸镀载板及利用该蒸镀载板对基板进行蒸镀的方法 |
CN111826607A (zh) * | 2019-04-18 | 2020-10-27 | 天通(嘉兴)新材料有限公司 | 一种激光管帽镀膜遮挡治具 |
CN110643958A (zh) * | 2019-10-21 | 2020-01-03 | 吴浪生 | 一种利用溅镀实现晶圆的物理镀膜设备 |
USD937329S1 (en) | 2020-03-23 | 2021-11-30 | Applied Materials, Inc. | Sputter target for a physical vapor deposition chamber |
USD998575S1 (en) | 2020-04-07 | 2023-09-12 | Applied Materials, Inc. | Collimator for use in a physical vapor deposition (PVD) chamber |
US11635338B2 (en) * | 2020-10-23 | 2023-04-25 | Applied Materials, Inc. | Rapid chamber vacuum leak check hardware and maintenance routine |
USD1009816S1 (en) | 2021-08-29 | 2024-01-02 | Applied Materials, Inc. | Collimator for a physical vapor deposition chamber |
USD997111S1 (en) | 2021-12-15 | 2023-08-29 | Applied Materials, Inc. | Collimator for use in a physical vapor deposition (PVD) chamber |
FI20225334A1 (en) * | 2022-04-21 | 2023-10-22 | Biomensio Ltd | Collimator to produce piezoelectric layers having tilted c-axis orientation |
USD1026054S1 (en) * | 2022-04-22 | 2024-05-07 | Applied Materials, Inc. | Collimator for a physical vapor deposition (PVD) chamber |
USD1025935S1 (en) * | 2022-11-03 | 2024-05-07 | Applied Materials, Inc. | Collimator for a physical vapor deposition (PVD) chamber |
USD1025936S1 (en) * | 2022-12-16 | 2024-05-07 | Applied Materials, Inc. | Collimator for a physical vapor deposition (PVD) chamber |
USD1024149S1 (en) * | 2022-12-16 | 2024-04-23 | Applied Materials, Inc. | Collimator for a physical vapor deposition (PVD) chamber |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5223108A (en) * | 1991-12-30 | 1993-06-29 | Materials Research Corporation | Extended lifetime collimator |
JPH06295903A (ja) * | 1993-02-09 | 1994-10-21 | Matsushita Electron Corp | スパッタリング装置 |
KR970009828B1 (en) * | 1994-02-23 | 1997-06-18 | Sansung Electronics Co Ltd | Fabrication method of collimator |
JPH08260139A (ja) * | 1995-03-23 | 1996-10-08 | Sony Corp | 成膜用コリメータ、成膜装置及び電子装置の製造方法 |
US5650052A (en) * | 1995-10-04 | 1997-07-22 | Edelstein; Sergio | Variable cell size collimator |
US6362097B1 (en) | 1998-07-14 | 2002-03-26 | Applied Komatsu Technlology, Inc. | Collimated sputtering of semiconductor and other films |
JP2005504885A (ja) | 2001-07-25 | 2005-02-17 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 新規なスパッタ堆積方法を使用したバリア形成 |
US20030029715A1 (en) | 2001-07-25 | 2003-02-13 | Applied Materials, Inc. | An Apparatus For Annealing Substrates In Physical Vapor Deposition Systems |
AU2003272739A1 (en) * | 2003-09-29 | 2005-05-11 | Seagate Technology Llc | System, method and collimator for oblique deposition |
JP2007273490A (ja) * | 2004-03-30 | 2007-10-18 | Renesas Technology Corp | 半導体集積回路装置の製造方法 |
EP1710324B1 (en) | 2005-04-08 | 2008-12-03 | STMicroelectronics S.r.l. | PVD process and chamber for the pulsed deposition of a chalcogenide material layer of a phase change memory device |
US9316413B2 (en) | 2008-06-11 | 2016-04-19 | Honeywell International Inc. | Selectable efficiency versus comfort for modulating furnace |
US20090308739A1 (en) | 2008-06-17 | 2009-12-17 | Applied Materials, Inc. | Wafer processing deposition shielding components |
KR20160134873A (ko) * | 2008-06-17 | 2016-11-23 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 균일한 증착을 위한 장치 및 방법 |
KR101929971B1 (ko) * | 2009-04-24 | 2018-12-18 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 웨이퍼 프로세싱 증착 차폐 부품 |
CN103343317A (zh) * | 2013-07-11 | 2013-10-09 | 南京大学 | 基于纳米团簇束流沉积系统制备TiO2纳米颗粒减反膜的方法 |
-
2015
- 2015-01-28 US US14/607,273 patent/US9543126B2/en active Active
- 2015-11-20 SG SG11201703543RA patent/SG11201703543RA/en unknown
- 2015-11-20 TW TW104138508A patent/TWI618172B/zh active
- 2015-11-20 WO PCT/US2015/061826 patent/WO2016085805A1/en active Application Filing
- 2015-11-20 EP EP20172767.4A patent/EP3723113A1/en not_active Withdrawn
- 2015-11-20 KR KR1020167031655A patent/KR101824517B1/ko active IP Right Grant
- 2015-11-20 CN CN201580061359.2A patent/CN107002220B/zh active Active
- 2015-11-20 EP EP15862359.5A patent/EP3140851B1/en active Active
- 2015-11-20 JP JP2017527875A patent/JP6959863B2/ja active Active
- 2015-11-20 SG SG10202009604WA patent/SG10202009604WA/en unknown
- 2015-11-20 CN CN201811129929.9A patent/CN109338293B/zh active Active
-
2017
- 2017-04-26 IL IL251944A patent/IL251944B/en active IP Right Grant
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2017537227A5 (ja) | ||
USD778394S1 (en) | Projectile aperture wicking pattern | |
USD779024S1 (en) | Projectile aperture wicking pattern | |
USD797472S1 (en) | Mat base | |
USD813974S1 (en) | Cartridge with an enhanced ball round | |
USD780268S1 (en) | Pen | |
JP2018533673A5 (ja) | ||
USD729645S1 (en) | Torpedo level | |
JP2018064407A5 (ja) | ||
JP2015135545A5 (ja) | ||
USD723956S1 (en) | Torpedo level | |
USD792047S1 (en) | Cart with an adjustable top | |
USD775474S1 (en) | Sheet material | |
US9078526B1 (en) | Universal bucket seat | |
USD795976S1 (en) | Game ball | |
WO2016054362A8 (en) | Variable hole size nozzle and spray angle fuel injector and mhbib | |
JP2018003122A5 (ja) | ||
USD737902S1 (en) | Blackjack game | |
JP2018502425A5 (ja) | ||
USD772989S1 (en) | Holder for irregularly shaped dice | |
USD795366S1 (en) | Game ball design | |
JP2014228474A5 (ja) | ||
USD788288S1 (en) | Condom having specific textures | |
USD785707S1 (en) | Pen | |
JP2015044878A5 (ja) |