JP2017223468A - X線検査装置およびx線検査方法 - Google Patents
X線検査装置およびx線検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017223468A JP2017223468A JP2016117187A JP2016117187A JP2017223468A JP 2017223468 A JP2017223468 A JP 2017223468A JP 2016117187 A JP2016117187 A JP 2016117187A JP 2016117187 A JP2016117187 A JP 2016117187A JP 2017223468 A JP2017223468 A JP 2017223468A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- camera
- imaging
- motor
- position detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/33—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
- G01N2223/3303—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts object fixed; source and detector move
Abstract
Description
テーブル回転式ではなく、XYステージやXYZステージのように複数軸で構成されているステージを用いる装置には対応できない。複数軸で構成されるステージでは、ステージ全体のがたつきではなく、各軸の位置決め誤差に起因する位置ズレが発生するためである。
検査対象物、X線源、およびX線カメラの相対的な位置を変化させて取得した複数の撮影データから前記検査対象物の3次元データを再構成するX線検査装置であって、
検査対象物、X線源、およびX線カメラの少なくともいずれかを、モータの駆動によって移動させるステージと、
前記モータの位置検出値を定期的に取得し、当該位置検出値を時刻と関連付けて記憶する位置検出手段と、
前記X線カメラによる撮影タイミングを時刻と関連付けて記憶する撮影タイミング取得手段と、
撮影タイミングにおける前記モータの位置検出値から、撮影タイミングにおける前記検査対象物、前記X線源、および前記X線カメラの位置関係を求める撮影位置算出手段と、
前記X線カメラによって撮影された撮影データと、当該撮影データの撮影タイミングにおける前記位置関係と、を用いて再構成処理を行う再構成手段と、
を備えることを特徴とする。
じない限り互いに組み合わせて本発明を構成することができる。
[概要]
本発明の第1の実施形態に係るX線検査装置の外観を図1に示す。X線検査装置は、搬送ローラによって搬送される検査対象物Sを、複数の撮影位置から撮影して3次元データを取得する。具体的には、X線源10から検査対象物SにX線を照射し、透過したX線をX線カメラ20によって撮影する。X線源10はXステージ11およびYステージ12によって移動可能であり、X線カメラ20はXステージ21およびYステージ22によって移動可能である。X線源10およびX線カメラ20はこれらのステージによってそれぞれ円軌道101,102を移動し、軌道上の複数の位置で撮影が行われる。
図2は、X線検査装置の構成を示す図である。X線検査装置は、X線源10、X線カメラ20(以下、単にカメラという)、X線源X軸モータ31、X線源Y軸モータ32、カメラX軸モータ33、カメラY軸モータ34、撮影条件記憶部C、X線源制御部15、カメラ制御部25、ステージ制御部35、リスト生成部40、撮影実座標算出部50、再構成部60、検査部70を備える。これらの各機能部についての説明は、図3を用いた処理内容の説明と共に行う。
む。撮影条件は、1回の検査における撮影枚数・カメラ露光時間・各撮影におけるX線源10およびカメラ20の位置を含む。
撮影枚数:32枚、
カメラ露光時間:50ミリ秒、
1枚目撮影時:X線源位置(200,300)・カメラ位置(50,50)、
2枚目撮影時:X線源位置(300,300)・カメラ位置(30,30)、
・・・。
線照射するよう制御し、カメラ制御部25はカメラ20が露光および撮影データの取得を行うように制御する。撮影データはメモリに記憶される。
値を撮影実座標とするとよい。図5(c)は撮影中に継続して撮影フラグがオンとなる場合のリストの例を示す。この場合は、撮影フラグがオンである期間の座標の平均値を撮影実座標とするとよい。
ステージ制御部35を介して指定の位置(命令位置)にステージを移動させるようにしても、位置決め誤差によって指定された位置とズレが生じる。本実施形態によれば、X線源10やカメラ20を移動させるステージ(モータ)の位置検出値を定期的に取得し、撮影タイミングにおけるステージの位置検出値から、撮影時のX線源10およびカメラ20の位置を求めている。モータからの位置検出値は高精度であり、たとえば0.1マイクロメートル単位で取得可能である。このように高精度な情報に基づくので、X線源10やカメラ20の実際の位置も高精度に求めることができる。再構成処理の際に、命令位置を用いるのではなくステージのモータから得られる実際の位置を用いることで、ステージの位置ズレ(繰り返し誤差)が生じた場合であっても、高品質な3次元データを得ることができる。
上記の説明では、検査対象物Sを固定して、X線源10およびカメラ20を移動させる構成を採用しているが、X線源10およびカメラ20を固定して検査対象物Sを移動させる構成を採用してもよい。より一般的には、検査対象物S、X線源10およびカメラ20を相対的に移動させる任意の構成を採用できる。移動手段(ステージ)の位置検出値を定期的に取得することで、撮影タイミングにおける検査対象物S、X線源10およびカメラ20の相対的な位置関係を決定することができる。したがって、上記の説明と同様に、指示した撮影位置と実際の撮影位置のあいだに位置ズレが生じても高品質な3次元データを再構成することができる。
図6は、本発明の第2の実施形態に係るX線検査装置の構成を示す図である。図7は、本実施形態における検査処理の流れを示すフローチャートである。本実施形態に係るX線検査装置は、撮影実座標補正部80および座標系情報記憶部81を備え、再構成処理S118の前に撮影実座標の補正処理S120が加えられている点が第1の実施形態と異なる。以下では、第1の実施形態と異なる点について主に説明する。
10 X線源
20 X線カメラ
40 リスト生成部
50 撮影実座標算出部
60 再構成部
70 検査部
Claims (6)
- 検査対象物、X線源、およびX線カメラの相対的な位置を変化させて取得した複数の撮影データから前記検査対象物の3次元データを再構成するX線検査装置であって、
検査対象物、X線源、およびX線カメラの少なくともいずれかを、モータの駆動によって移動させるステージと、
前記モータの位置検出値を定期的に取得し、当該位置検出値を時刻と関連付けて記憶する位置検出手段と、
前記X線カメラによる撮影タイミングを時刻と関連付けて記憶する撮影タイミング取得手段と、
撮影タイミングにおける前記モータの位置検出値から、撮影タイミングにおける前記検査対象物、前記X線源、および前記X線カメラの位置関係を求める撮影位置算出手段と、
前記X線カメラによって撮影された撮影データと、当該撮影データの撮影タイミングにおける前記位置関係と、を用いて再構成処理を行う再構成手段と、
を備えるX線検査装置。 - 前記撮影位置算出手段は、設計情報と前記位置検出手段によって取得された前記モータの位置検出値とに基づいて、前記位置関係を求める、
請求項1に記載のX線検査装置。 - 前記撮影位置算出手段は、前記設計情報と前記モータの位置検出値とに基づいて求められた前記位置関係を、あらかじめ取得されたキャリブレーション情報に基づいて補正する、
請求項2に記載のX線検査装置。 - 前記検査対象物は固定されており、
前記ステージは、前記X線源および前記X線カメラを移動させる、
請求項1から3のいずれか1項に記載のX線検査装置。 - 検査対象物、X線源、およびX線カメラの相対的な位置を変化させて取得した複数の撮影データから前記検査対象物の3次元データを再構成するX線検査装置におけるX線検査方法であって、
検査対象物、X線源、およびX線カメラの少なくともいずれかをモータの駆動によって移動させるステージから、前記モータの位置検出値を定期的に取得し、当該位置検出値を時刻と関連付けて記憶する位置取得ステップと、
前記ステージを駆動して検査対象物、X線源、およびX線カメラの相対位置を変えつつ、前記X線カメラによって複数の画像を撮影する撮影ステップと、
前記X線カメラによる撮影タイミングを時刻と関連付けて記憶する撮影タイミング取得ステップと、
撮影タイミングにおける前記モータの位置検出値から、撮影タイミングにおける前記検査対象物、前記X線源、および前記X線カメラの位置関係を求める撮影位置算出ステップと、
前記X線カメラによって撮影された撮影データと、当該撮影データの撮影タイミングにおける前記位置関係と、を用いて再構成処理を行う再構成ステップと、
を含む、X線検査方法。 - 請求項5に記載の方法の各ステップをコンピュータに実行させるためのプログラム。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016117187A JP6485410B2 (ja) | 2016-06-13 | 2016-06-13 | X線検査装置およびx線検査方法 |
CN201710351695.1A CN107490586B (zh) | 2016-06-13 | 2017-05-18 | X射线检查装置及x射线检查方法 |
US15/603,573 US10605748B2 (en) | 2016-06-13 | 2017-05-24 | X-ray inspection apparatus and X-ray inspection method |
EP17172637.5A EP3258252B1 (en) | 2016-06-13 | 2017-05-24 | X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016117187A JP6485410B2 (ja) | 2016-06-13 | 2016-06-13 | X線検査装置およびx線検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017223468A true JP2017223468A (ja) | 2017-12-21 |
JP6485410B2 JP6485410B2 (ja) | 2019-03-20 |
Family
ID=58772734
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016117187A Active JP6485410B2 (ja) | 2016-06-13 | 2016-06-13 | X線検査装置およびx線検査方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10605748B2 (ja) |
EP (1) | EP3258252B1 (ja) |
JP (1) | JP6485410B2 (ja) |
CN (1) | CN107490586B (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019224888A1 (ja) * | 2018-05-21 | 2019-11-28 | 株式会社島津製作所 | X線検査装置 |
JP2021042998A (ja) * | 2019-09-06 | 2021-03-18 | 株式会社ミツトヨ | 計測用x線ct装置 |
WO2022107476A1 (ja) * | 2020-11-18 | 2022-05-27 | 日本装置開発株式会社 | X線検査装置 |
DE112020006804T5 (de) | 2020-02-27 | 2022-12-29 | Omron Corporation | Röntgenprüfsystem, röntgenprüfverfahren und programm |
DE102022211382A1 (de) | 2021-10-29 | 2023-05-04 | Omron Corporation | Röntgenprüfgerät, röntgenprüfsystem, bildverwaltungsverfahren und aufzeichnungsmedium |
DE112021006847T5 (de) | 2021-01-20 | 2023-11-02 | Omron Corporation | Messsystem, prüfsystem, messvorrichtung, messverfahren, prüfverfahren und programm |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019187166A1 (ja) * | 2018-03-31 | 2019-10-03 | つくばテクノロジー株式会社 | ドローン用x線検査装置、ドローンを用いたx線検査装置、ドローン用x線発生装置 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5447494A (en) * | 1977-08-26 | 1979-04-14 | Philips Nv | Method of processing measured data by computer tomograph and computer tomograph |
JPH01305345A (ja) * | 1988-06-03 | 1989-12-08 | Toshiba Corp | Ct装置 |
JPH1164246A (ja) * | 1997-08-21 | 1999-03-05 | Shimadzu Corp | X線撮像装置 |
JP2002131246A (ja) * | 2000-10-25 | 2002-05-09 | Shimadzu Corp | X線撮像装置における撮像倍率の較正方法 |
JP2014115216A (ja) * | 2012-12-11 | 2014-06-26 | Shimadzu Corp | 放射線検査装置 |
JP2015075336A (ja) * | 2013-10-04 | 2015-04-20 | 株式会社ニコン | 再構成画像生成装置、形状測定装置、構造物製造システム、再構成画像生成方法及び再構成画像生成プログラム |
CN104599299A (zh) * | 2014-12-24 | 2015-05-06 | 沈阳东软医疗系统有限公司 | 一种ct图像的重建方法和装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4803639A (en) | 1986-02-25 | 1989-02-07 | General Electric Company | X-ray inspection system |
CN100512759C (zh) * | 2006-04-13 | 2009-07-15 | Ge医疗系统环球技术有限公司 | 台装备识别方法和医疗成像装备 |
JP2008224606A (ja) * | 2007-03-15 | 2008-09-25 | Omron Corp | X線検査装置およびx線検査装置を用いたx線検査方法 |
JP5444718B2 (ja) * | 2009-01-08 | 2014-03-19 | オムロン株式会社 | 検査方法、検査装置および検査用プログラム |
JP2012070836A (ja) * | 2010-09-28 | 2012-04-12 | Fujifilm Corp | 画像処理装置、画像処理方法、および画像処理プログラム、並びに放射線画像撮影システム |
WO2015059933A1 (ja) * | 2013-10-24 | 2015-04-30 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法、制御装置、制御システム、制御方法、トモシンセシス撮影装置、x線撮影装置、画像処理装置、画像処理システム、画像処理方法、及び、コンピュータプログラム |
US9898840B2 (en) * | 2014-05-15 | 2018-02-20 | General Electric Company | Systems and methods for continuous motion breast tomosynthesis |
-
2016
- 2016-06-13 JP JP2016117187A patent/JP6485410B2/ja active Active
-
2017
- 2017-05-18 CN CN201710351695.1A patent/CN107490586B/zh active Active
- 2017-05-24 EP EP17172637.5A patent/EP3258252B1/en active Active
- 2017-05-24 US US15/603,573 patent/US10605748B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5447494A (en) * | 1977-08-26 | 1979-04-14 | Philips Nv | Method of processing measured data by computer tomograph and computer tomograph |
JPH01305345A (ja) * | 1988-06-03 | 1989-12-08 | Toshiba Corp | Ct装置 |
JPH1164246A (ja) * | 1997-08-21 | 1999-03-05 | Shimadzu Corp | X線撮像装置 |
JP2002131246A (ja) * | 2000-10-25 | 2002-05-09 | Shimadzu Corp | X線撮像装置における撮像倍率の較正方法 |
JP2014115216A (ja) * | 2012-12-11 | 2014-06-26 | Shimadzu Corp | 放射線検査装置 |
JP2015075336A (ja) * | 2013-10-04 | 2015-04-20 | 株式会社ニコン | 再構成画像生成装置、形状測定装置、構造物製造システム、再構成画像生成方法及び再構成画像生成プログラム |
CN104599299A (zh) * | 2014-12-24 | 2015-05-06 | 沈阳东软医疗系统有限公司 | 一种ct图像的重建方法和装置 |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019224888A1 (ja) * | 2018-05-21 | 2019-11-28 | 株式会社島津製作所 | X線検査装置 |
CN112074727A (zh) * | 2018-05-21 | 2020-12-11 | 株式会社岛津制作所 | X射线检查装置 |
JPWO2019224888A1 (ja) * | 2018-05-21 | 2021-03-11 | 株式会社島津製作所 | X線検査装置 |
JP2021042998A (ja) * | 2019-09-06 | 2021-03-18 | 株式会社ミツトヨ | 計測用x線ct装置 |
JP7286485B2 (ja) | 2019-09-06 | 2023-06-05 | 株式会社ミツトヨ | 計測用x線ct装置 |
DE112020006804T5 (de) | 2020-02-27 | 2022-12-29 | Omron Corporation | Röntgenprüfsystem, röntgenprüfverfahren und programm |
WO2022107476A1 (ja) * | 2020-11-18 | 2022-05-27 | 日本装置開発株式会社 | X線検査装置 |
JP7100936B1 (ja) * | 2020-11-18 | 2022-07-14 | 日本装置開発株式会社 | X線検査装置 |
DE112021006847T5 (de) | 2021-01-20 | 2023-11-02 | Omron Corporation | Messsystem, prüfsystem, messvorrichtung, messverfahren, prüfverfahren und programm |
DE102022211382A1 (de) | 2021-10-29 | 2023-05-04 | Omron Corporation | Röntgenprüfgerät, röntgenprüfsystem, bildverwaltungsverfahren und aufzeichnungsmedium |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3258252B1 (en) | 2019-09-04 |
CN107490586A (zh) | 2017-12-19 |
EP3258252A1 (en) | 2017-12-20 |
US20170356859A1 (en) | 2017-12-14 |
JP6485410B2 (ja) | 2019-03-20 |
CN107490586B (zh) | 2021-02-09 |
US10605748B2 (en) | 2020-03-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6485410B2 (ja) | X線検査装置およびx線検査方法 | |
JP4551919B2 (ja) | 断層撮影の検査システムおよびその方法 | |
JP6836571B2 (ja) | ロボット装置 | |
US9702688B2 (en) | Shape measuring apparatus | |
EP3011266B1 (en) | Method and apparatus of measuring objects using selective imaging | |
JP2014139533A (ja) | 放射線撮影装置およびそれにおける画像処理方法 | |
JP2010160070A (ja) | 検査方法、検査装置および検査用プログラム | |
US20200129785A1 (en) | Calibration method, device and storage medium of radiotherapy equipment | |
JP2012112790A (ja) | X線ct装置 | |
JP4818695B2 (ja) | 放射線画像撮像条件の補正装置 | |
JP2008045983A (ja) | ステレオカメラの調整装置 | |
JP4829066B2 (ja) | タイヤの3次元形状測定方法 | |
CN112461871A (zh) | 测量用x射线ct装置 | |
JP2003098216A (ja) | 回路基板検査装置 | |
US20100303208A1 (en) | Method for recording an x-ray image, x-ray detector and x-ray system | |
JP4733484B2 (ja) | コンピュータ断層撮影装置 | |
JP2022150461A (ja) | 公差誤差推定装置、方法、プログラム、再構成装置および制御装置 | |
JP4420186B2 (ja) | X線ct装置 | |
JP2006292462A (ja) | コンピュータ断層撮影装置 | |
JP2006181252A (ja) | 断層撮影装置 | |
JP2016095243A (ja) | 計測装置、計測方法、および物品の製造方法 | |
JP2022191670A (ja) | X線ct装置及び画像生成方法 | |
JP7021980B2 (ja) | 計測用x線ct装置 | |
JP3095411B2 (ja) | Ccdカメラの校正方法 | |
KR101464180B1 (ko) | 엑스레이 검사기의 구별 시편을 이용한 x선 3차원 복원 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180830 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20180830 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20181002 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20181009 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181206 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190122 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190204 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6485410 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |