JPH1164246A - Ｘ線撮像装置 - Google Patents
Ｘ線撮像装置Info
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- JPH1164246A JPH1164246A JP9225083A JP22508397A JPH1164246A JP H1164246 A JPH1164246 A JP H1164246A JP 9225083 A JP9225083 A JP 9225083A JP 22508397 A JP22508397 A JP 22508397A JP H1164246 A JPH1164246 A JP H1164246A
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- ray
- dimensional
- detector array
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 11
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 9
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000004547 X-ray dosimetry Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000004980 dosimetry Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】
【課題】 簡単な構成のもとに位置精度の高い２次元画
像を得ることのできるＸ線撮像装置の提供を目的とす
る。 【解決手段】 走査時における１次元Ｘ線検出器アレイ
２の移動距離の測定に、小型で簡単な構造のエンコーダ
５を用い、そのエンコーダ５の出力時刻間隔に対し補正
を施し、この補正後のエンコーダ出力時刻間隔と、被写
体Ｔを透過しないＸ線量の検出値とを用いて１次元Ｘ線
検出器アレイ２の各チャンネル出力を補正することで、
高精度の距離測定装置を用いることなく、位置精度の高
い２次元画像が得られるようにする。
像を得ることのできるＸ線撮像装置の提供を目的とす
る。 【解決手段】 走査時における１次元Ｘ線検出器アレイ
２の移動距離の測定に、小型で簡単な構造のエンコーダ
５を用い、そのエンコーダ５の出力時刻間隔に対し補正
を施し、この補正後のエンコーダ出力時刻間隔と、被写
体Ｔを透過しないＸ線量の検出値とを用いて１次元Ｘ線
検出器アレイ２の各チャンネル出力を補正することで、
高精度の距離測定装置を用いることなく、位置精度の高
い２次元画像が得られるようにする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、１次元のＸ線検出
器アレイを用い、これを空間的に走査させることにより
２次元画像を得るＸ線撮像装置に関する。
器アレイを用い、これを空間的に走査させることにより
２次元画像を得るＸ線撮像装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】１次元Ｘ線検出器アレイを用いたＸ線撮
像装置においては、Ｘ線発生装置からのＸ線を被写体に
照射したときに得られる透過Ｘ線を、１次元Ｘ線検出器
アレイで受けながらそのＸ線検出器アレイを空間的に走
査することにより、一定時間ごとまたは一定移動距離ご
とにＸ線検出器アレイの各チャンネル出力を得て、画素
情報としてＸ線像を構築する。
像装置においては、Ｘ線発生装置からのＸ線を被写体に
照射したときに得られる透過Ｘ線を、１次元Ｘ線検出器
アレイで受けながらそのＸ線検出器アレイを空間的に走
査することにより、一定時間ごとまたは一定移動距離ご
とにＸ線検出器アレイの各チャンネル出力を得て、画素
情報としてＸ線像を構築する。
【０００３】１次元Ｘ線検出器アレイの走査により２次
元画像を得る場合、１画像の情報を採取するには、少な
くとも１次元Ｘ線検出器アレイを目的の領域を走査させ
るだけの時間を要する。その目的領域の走査時間中は、
被写体を静止させておく必要があるため、走査に要する
時間は短時間である方が望ましく、これを達成するには
１次元Ｘ線検出器アレイの走査速度を速くする必要があ
る。
元画像を得る場合、１画像の情報を採取するには、少な
くとも１次元Ｘ線検出器アレイを目的の領域を走査させ
るだけの時間を要する。その目的領域の走査時間中は、
被写体を静止させておく必要があるため、走査に要する
時間は短時間である方が望ましく、これを達成するには
１次元Ｘ線検出器アレイの走査速度を速くする必要があ
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、走査する１
次元検出器アレイの各チャンネル出力を一定時間ごとに
得てＸ線像を構築する方式において、２次元の画像を正
確に得るためには、１次元Ｘ線検出器アレイの走査速度
を正確に保つことが必要となる。
次元検出器アレイの各チャンネル出力を一定時間ごとに
得てＸ線像を構築する方式において、２次元の画像を正
確に得るためには、１次元Ｘ線検出器アレイの走査速度
を正確に保つことが必要となる。
【０００５】しかし、１次元Ｘ線検出器アレイの出力
は、一般に、前回の出力値読み出し時からその回の出力
値読み出し時までの検出Ｘ線量の積算値であることか
ら、１次元Ｘ線検出器アレイの走査速度を、上記した理
由により速くするには、検出器アレイの走査に急激な加
速・減速が必要になる。そのような急激な走査を行う
と、１次元Ｘ線検出器アレイ自体の振動が大となり、得
られるＸ線像の各画素位置の変動画質にも影響が及ぶた
め、１次元Ｘ線検出器アレイの走査機構に高い強度が要
求される。
は、一般に、前回の出力値読み出し時からその回の出力
値読み出し時までの検出Ｘ線量の積算値であることか
ら、１次元Ｘ線検出器アレイの走査速度を、上記した理
由により速くするには、検出器アレイの走査に急激な加
速・減速が必要になる。そのような急激な走査を行う
と、１次元Ｘ線検出器アレイ自体の振動が大となり、得
られるＸ線像の各画素位置の変動画質にも影響が及ぶた
め、１次元Ｘ線検出器アレイの走査機構に高い強度が要
求される。
【０００６】一方、１次元検出器アレイの各チャンネル
出力を一定移動距離ごとに得てＸ線像を構築する方式の
場合、２次元画像を正確に得るためには、正確な移動距
離測定が必要となるが、この種の移動距離測定には、機
械的な誤差が含まれるため正確な精度を得ることは難し
く、また目的とする精度を得ようとすると距離測定装置
が非常に大掛かりなる。
出力を一定移動距離ごとに得てＸ線像を構築する方式の
場合、２次元画像を正確に得るためには、正確な移動距
離測定が必要となるが、この種の移動距離測定には、機
械的な誤差が含まれるため正確な精度を得ることは難し
く、また目的とする精度を得ようとすると距離測定装置
が非常に大掛かりなる。
【０００７】本発明はそのような実情に鑑みてなされた
もので、１次元Ｘ線検出器アレイの各チャンネル出力を
一定移動距離ごとに得る方式の撮像装置で、その検出器
アレイの移動距離の測定に高精度の距離測定装置を用い
ることなく、簡単な構成のもとに位置精度の高い２次元
画像を得ることのできるＸ線撮像装置の提供を目的とす
る。
もので、１次元Ｘ線検出器アレイの各チャンネル出力を
一定移動距離ごとに得る方式の撮像装置で、その検出器
アレイの移動距離の測定に高精度の距離測定装置を用い
ることなく、簡単な構成のもとに位置精度の高い２次元
画像を得ることのできるＸ線撮像装置の提供を目的とす
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明のＸ線撮像装置は、図１，図２に例示するよ
うに、Ｘ線発生装置１と、そのＸ線発生装置１に対向配
置されて被写体Ｔを透過したＸ線を検出する１次元Ｘ線
検出器アレイ２と、その１次元Ｘ線検出器アレイ２を空
間的に走査するための走査機構３と、走査時において１
次元Ｘ線検出器アレイ２が一定の距離移動するごとに信
号を出力するエンコーダ５と、Ｘ線発生装置１から発生
しているＸ線のうち被写体Ｔを透過しないＸ線量を測定
するためのＸ線量測定用検出器４と、このＸ線量測定用
検出器４の検出値とエンコーダ５の出力信号を用いて、
１次元Ｘ線検出器アレイ２の出力信号を補正する手段
（補正処理部９）を備えていることによって特徴づけら
れる。
め、本発明のＸ線撮像装置は、図１，図２に例示するよ
うに、Ｘ線発生装置１と、そのＸ線発生装置１に対向配
置されて被写体Ｔを透過したＸ線を検出する１次元Ｘ線
検出器アレイ２と、その１次元Ｘ線検出器アレイ２を空
間的に走査するための走査機構３と、走査時において１
次元Ｘ線検出器アレイ２が一定の距離移動するごとに信
号を出力するエンコーダ５と、Ｘ線発生装置１から発生
しているＸ線のうち被写体Ｔを透過しないＸ線量を測定
するためのＸ線量測定用検出器４と、このＸ線量測定用
検出器４の検出値とエンコーダ５の出力信号を用いて、
１次元Ｘ線検出器アレイ２の出力信号を補正する手段
（補正処理部９）を備えていることによって特徴づけら
れる。
【０００９】このように、エンコーダ５の出力信号に加
えてＸ線量測定用検出器４の検出値を用いて、１次元Ｘ
線検出器アレイ２の出力信号の補正を行うことで、位置
精度の高い２次元画像を得ることができる。
えてＸ線量測定用検出器４の検出値を用いて、１次元Ｘ
線検出器アレイ２の出力信号の補正を行うことで、位置
精度の高い２次元画像を得ることができる。
【００１０】その具体的な補正処理を以下に説明する。
まず、１次元Ｘ線検出器アレイ２の各チャンネルごとの
時刻ｔでの出力をＩｘ（ｔ）、Ｘ線量測定用検出器４の
時刻ｔでの出力をＩ（ｔ）とする。また、エンコーダ５
の信号出力時刻をｔ（ｎ）として、図３に示すように、
エンコーダ５の信号出力時刻間隔Δｔ（ｎ）＝ｔ（ｎ）
−ｔ（ｎ−１）を、ｎに対してプロットし、それらプロ
ット点群を、ｔ（ｎ）は急激には変化しないという前提
のもとに適当な曲線でフィッティングして曲線δｔ
（ｙ）を得る。
まず、１次元Ｘ線検出器アレイ２の各チャンネルごとの
時刻ｔでの出力をＩｘ（ｔ）、Ｘ線量測定用検出器４の
時刻ｔでの出力をＩ（ｔ）とする。また、エンコーダ５
の信号出力時刻をｔ（ｎ）として、図３に示すように、
エンコーダ５の信号出力時刻間隔Δｔ（ｎ）＝ｔ（ｎ）
−ｔ（ｎ−１）を、ｎに対してプロットし、それらプロ
ット点群を、ｔ（ｎ）は急激には変化しないという前提
のもとに適当な曲線でフィッティングして曲線δｔ
（ｙ）を得る。
【００１１】これをｙ＝０からｙ＝ｙまで積分すること
により、時刻ｔと走査開始時から移動距離ｙの関係ｔ
（ｙ）を得る。
により、時刻ｔと走査開始時から移動距離ｙの関係ｔ
（ｙ）を得る。
【００１２】
【数１】
【００１３】これにより必要な移動距離ｙから、ｙ＋Δ
ｔ（Δｔ＝一定距離を走査するのに要した時間）まで
の、間隔Δｙごとの１次元Ｘ線検出器アレイ２の出力値
Ｉ（ｘ，ｙ）及びＸ線量測定用検出器４の出力値Ｉ
（ｙ）
ｔ（Δｔ＝一定距離を走査するのに要した時間）まで
の、間隔Δｙごとの１次元Ｘ線検出器アレイ２の出力値
Ｉ（ｘ，ｙ）及びＸ線量測定用検出器４の出力値Ｉ
（ｙ）
【００１４】
【数２】
【００１５】が得られる。そして、１次元Ｘ線検出器ア
レイ２の出力値Ｉ（ｘ，ｙ）をＩ（ｙ）によって規格化
することによって、Ｘ線像の各画素値Ｎ（ｘ，ｙ）＝Ｉ
（ｘ，ｙ）／Ｉ（ｙ）を得る。
レイ２の出力値Ｉ（ｘ，ｙ）をＩ（ｙ）によって規格化
することによって、Ｘ線像の各画素値Ｎ（ｘ，ｙ）＝Ｉ
（ｘ，ｙ）／Ｉ（ｙ）を得る。
【００１６】以上のように、１次元Ｘ線検出器アレイ２
の走査速度は急激に変化しない、という前提のもとにエ
ンコーダ５の出力時刻間隔に対し補正を施し、補正後の
エンコーダ出力時刻間隔ごとの、個々のチャンネル出力
値の合計（（ａ）式）と、Ｘ線量測定用検出器４の出力
値の合計（（ｂ）式）とを得て、さらに個々のチャンネ
ル出力値をＸ線量測定用検出器の出力値で規格化するこ
とにより、画素値精度・位置精度の高いＸ線像を得るこ
とが可能になる。
の走査速度は急激に変化しない、という前提のもとにエ
ンコーダ５の出力時刻間隔に対し補正を施し、補正後の
エンコーダ出力時刻間隔ごとの、個々のチャンネル出力
値の合計（（ａ）式）と、Ｘ線量測定用検出器４の出力
値の合計（（ｂ）式）とを得て、さらに個々のチャンネ
ル出力値をＸ線量測定用検出器の出力値で規格化するこ
とにより、画素値精度・位置精度の高いＸ線像を得るこ
とが可能になる。
【００１７】ここで、以上の補正処理において、Ｉ
（ｘ，ｙ）及びＩ（ｙ）を求める際の、Δｙはｔ（ｎ）
−ｔ（ｎ−１）の間に移動した距離である必要はなく、
必要に応じて任意に選択することが可能である。従っ
て、本発明のＸ線撮像装置においては、１次元Ｘ線検出
器アレイ２の走査方向に対し、エンコーダ５の信号出力
間隔とは独立した任意の大きさ画素による画像を得るこ
とも可能である。
（ｘ，ｙ）及びＩ（ｙ）を求める際の、Δｙはｔ（ｎ）
−ｔ（ｎ−１）の間に移動した距離である必要はなく、
必要に応じて任意に選択することが可能である。従っ
て、本発明のＸ線撮像装置においては、１次元Ｘ線検出
器アレイ２の走査方向に対し、エンコーダ５の信号出力
間隔とは独立した任意の大きさ画素による画像を得るこ
とも可能である。
【００１８】
【発明の実施の形態】図１は本発明の実施の形態の全体
構成を示す模式図である。
構成を示す模式図である。
【００１９】Ｘ線発生装置１に対向して１次元Ｘ線検出
器アレイ２が配置されており、この１次元Ｘ線検出器ア
レイ２は走査可能な走査機構３によって保持されてい
る。
器アレイ２が配置されており、この１次元Ｘ線検出器ア
レイ２は走査可能な走査機構３によって保持されてい
る。
【００２０】走査機構３には、１次元Ｘ線検出器アレイ
２の一定走査距離間隔ごとに信号を出力するエンコーダ
５が設けられている。なお、そのエンコーダ５は、機械
式の簡単な構造もので出力信号の精度がさほど高くない
ものが用いられる。
２の一定走査距離間隔ごとに信号を出力するエンコーダ
５が設けられている。なお、そのエンコーダ５は、機械
式の簡単な構造もので出力信号の精度がさほど高くない
ものが用いられる。
【００２１】また、Ｘ線発生装置１に対向する位置に、
被写体Ｔを透過しないＸ線の量を測定するためのＸ線量
測定用検出器４が配置されている。
被写体Ｔを透過しないＸ線の量を測定するためのＸ線量
測定用検出器４が配置されている。
【００２２】そして、以上の構成においてＸ線発生装置
１と１次元Ｘ線検出器アレイ２との間に被写体Ｔを置
き、その１次元Ｘ線検出器アレイ２を走査することによ
り、被写体Ｔを透過したＸ線が１次元Ｘ線検出器アレイ
２によって検出される。また、そのアレイ走査時におい
てＸ線量測定用検出器４により、各時刻によるＸ線発生
装置１によるＸ線発生量が測定され、さらにエンコーダ
５から一定走査距離間隔ごとに信号を出力される。
１と１次元Ｘ線検出器アレイ２との間に被写体Ｔを置
き、その１次元Ｘ線検出器アレイ２を走査することによ
り、被写体Ｔを透過したＸ線が１次元Ｘ線検出器アレイ
２によって検出される。また、そのアレイ走査時におい
てＸ線量測定用検出器４により、各時刻によるＸ線発生
装置１によるＸ線発生量が測定され、さらにエンコーダ
５から一定走査距離間隔ごとに信号を出力される。
【００２３】さて、本実施の形態においては、図２に示
すように、１次元Ｘ線検出器アレイ２の各チャンネルｘ
ごとの時刻ｔでの出力Ｉｘ（ｔ）と、Ｘ線量測定用検出
器４の時刻ｔでの出力Ｉ（ｔ）をそれぞれメモリ６とメ
モリ７に記憶し、またエンコーダ５の信号出力時刻ｔ
（ｎ）をメモリ８に記憶する。
すように、１次元Ｘ線検出器アレイ２の各チャンネルｘ
ごとの時刻ｔでの出力Ｉｘ（ｔ）と、Ｘ線量測定用検出
器４の時刻ｔでの出力Ｉ（ｔ）をそれぞれメモリ６とメ
モリ７に記憶し、またエンコーダ５の信号出力時刻ｔ
（ｎ）をメモリ８に記憶する。
【００２４】これらメモリ６，７及び８への信号データ
の記憶は、１次元Ｘ線検出器アレイ２の目的を領域での
走査の開始から終わりまで実行し、その各メモリ６，７
及び８に記憶された信号データは補正処理部９に送られ
る。
の記憶は、１次元Ｘ線検出器アレイ２の目的を領域での
走査の開始から終わりまで実行し、その各メモリ６，７
及び８に記憶された信号データは補正処理部９に送られ
る。
【００２５】補正処理部９は、以下に述べる処理を行っ
て１次元Ｘ線検出器アレイ２の各チャンネルの出力信号
を補正するように構成されている。
て１次元Ｘ線検出器アレイ２の各チャンネルの出力信号
を補正するように構成されている。
【００２６】まず、図３に示すように、エンコーダ５の
信号出力時刻間隔Δｔ（ｎ）＝ｔ（ｎ）−ｔ（ｎ−１）
をｎに対してプロットし、それらプロット点群を、ｔ
（ｎ）は急激には変化しないという前提のもとに適当な
曲線でフィッティングして曲線δｔ（ｙ）を得る。
信号出力時刻間隔Δｔ（ｎ）＝ｔ（ｎ）−ｔ（ｎ−１）
をｎに対してプロットし、それらプロット点群を、ｔ
（ｎ）は急激には変化しないという前提のもとに適当な
曲線でフィッティングして曲線δｔ（ｙ）を得る。
【００２７】これをｙ＝０からｙ＝ｙまで積分すること
により、時刻ｔと走査開始時から移動距離ｙの関係ｔ
（ｙ）を得る。
により、時刻ｔと走査開始時から移動距離ｙの関係ｔ
（ｙ）を得る。
【００２８】
【数３】
【００２９】これにより必要な移動距離ｙから、ｙ＋Δ
ｔ（Δｔ＝一定距離を走査するのに要した時間）まで
の、間隔Δｙごとの１次元Ｘ線検出器アレイ２の出力値
Ｉ（ｘ，ｙ）及びＸ線量測定用検出器４の出力値Ｉ
（ｙ）
ｔ（Δｔ＝一定距離を走査するのに要した時間）まで
の、間隔Δｙごとの１次元Ｘ線検出器アレイ２の出力値
Ｉ（ｘ，ｙ）及びＸ線量測定用検出器４の出力値Ｉ
（ｙ）
【００３０】
【数４】
【００３１】が得られ、その１次元Ｘ線検出器アレイ２
の出力値Ｉ（ｘ，ｙ）を、Ｉ（ｙ）によって規格化する
ことにより、Ｘ線像の各画素値Ｎ（ｘ，ｙ）＝Ｉ（ｘ，
ｙ）／Ｉ（ｙ）を得る。
の出力値Ｉ（ｘ，ｙ）を、Ｉ（ｙ）によって規格化する
ことにより、Ｘ線像の各画素値Ｎ（ｘ，ｙ）＝Ｉ（ｘ，
ｙ）／Ｉ（ｙ）を得る。
【００３２】そして、以上のような補正処理すなわち１
次元Ｘ線検出器アレイ２の走査速度は急激に変化しな
い、という前提のもとにエンコーダ５の出力時刻間隔に
対し補正を施し、補正後のエンコーダ出力時刻間隔ごと
の、個々のチャンネル出力値の合計と（（ａ）式）、Ｘ
線量測定用検出器の出力値の合計（（ｂ）式）とを得た
後、個々のチャンネル出力値をＸ線量測定用検出器の出
力値で規格化する、という補正処理を行うことによっ
て、画素値精度・位置精度の高いＸ線像を得ることが可
能になる。
次元Ｘ線検出器アレイ２の走査速度は急激に変化しな
い、という前提のもとにエンコーダ５の出力時刻間隔に
対し補正を施し、補正後のエンコーダ出力時刻間隔ごと
の、個々のチャンネル出力値の合計と（（ａ）式）、Ｘ
線量測定用検出器の出力値の合計（（ｂ）式）とを得た
後、個々のチャンネル出力値をＸ線量測定用検出器の出
力値で規格化する、という補正処理を行うことによっ
て、画素値精度・位置精度の高いＸ線像を得ることが可
能になる。
【００３３】ここで、以上の機能をもつ補正処理部９
は、それ自体を単体の装置として構成してもよいし、あ
るいはＸ線画像を構築・表示する演算処理装置（例えば
コンピュータ）内に組み込んでおいてもよい。
は、それ自体を単体の装置として構成してもよいし、あ
るいはＸ線画像を構築・表示する演算処理装置（例えば
コンピュータ）内に組み込んでおいてもよい。
【００３４】また、本発明のＸ線撮像装置に用いる１次
元Ｘ線検出器アレイは、シンチレータと１次元フォトダ
イオードアレイを組み合わせた間接変換方式、あるいは
化合物半導体等を用いた直接変換方式のいずれの方式の
ものであってもよい。
元Ｘ線検出器アレイは、シンチレータと１次元フォトダ
イオードアレイを組み合わせた間接変換方式、あるいは
化合物半導体等を用いた直接変換方式のいずれの方式の
ものであってもよい。
【００３５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のＸ線撮像
装置によれば、１次元Ｘ線検出器アレイの一定移動距離
ごとに各チャンネル出力を得る方式を採用し、その移動
距離の測定に、小型で簡単な構造のエンコーダを用い、
このエンコーダの出力時刻間隔に対し補正を施している
ので、検出器アレイの移動距離の測定に高精度の装置を
用いることなく、画素値精度・位置精度の高いＸ線像を
得ることができる。
装置によれば、１次元Ｘ線検出器アレイの一定移動距離
ごとに各チャンネル出力を得る方式を採用し、その移動
距離の測定に、小型で簡単な構造のエンコーダを用い、
このエンコーダの出力時刻間隔に対し補正を施している
ので、検出器アレイの移動距離の測定に高精度の装置を
用いることなく、画素値精度・位置精度の高いＸ線像を
得ることができる。
【００３６】また、本発明のＸ線撮像装置では、エンコ
ーダの出力時刻間隔を補正し、この補正後のデータを用
いて１次元Ｘ線検出器アレイの出力値を補正しているの
で、走査方向に対し、エンコーダ信号出力間隔とは独立
した任意の大きさ画素による画像を得ることができると
いう利点もある。
ーダの出力時刻間隔を補正し、この補正後のデータを用
いて１次元Ｘ線検出器アレイの出力値を補正しているの
で、走査方向に対し、エンコーダ信号出力間隔とは独立
した任意の大きさ画素による画像を得ることができると
いう利点もある。
【図１】本発明の実施の形態の全体構成を示す模式図
【図２】本発明の実施の形態の信号処理系の構成を示す
ブロック図
ブロック図
【図３】本発明のＸ線撮像装置に用いる補正処理の説明
図
図
１ Ｘ線発生装置 ２ １次元Ｘ線検出器アレイ ３ 走査機構 ４ Ｘ線用測定用検出器 ５ エンコーダ ６，７，８ メモリ ９ 補正処理部
Claims (1)
- 【請求項１】 Ｘ線発生装置と、そのＸ線発生装置に対
向配置されて被写体を透過したＸ線を検出する１次元Ｘ
線検出器アレイと、その１次元Ｘ線検出器アレイを空間
的に走査するための走査機構と、走査時において１次元
Ｘ線検出器アレイが一定の距離移動するごとに信号を出
力するエンコーダと、上記Ｘ線発生装置から発生してい
るＸ線のうち被写体を透過しないＸ線量を測定するため
のＸ線量測定用検出器と、このＸ線量測定用検出器の検
出値と上記エンコーダの出力信号を用いて、上記１次元
Ｘ線検出器アレイの出力信号を補正する手段を備えてな
るＸ線撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9225083A JPH1164246A (ja) | 1997-08-21 | 1997-08-21 | Ｘ線撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9225083A JPH1164246A (ja) | 1997-08-21 | 1997-08-21 | Ｘ線撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1164246A true JPH1164246A (ja) | 1999-03-05 |
Family
ID=16823753
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9225083A Pending JPH1164246A (ja) | 1997-08-21 | 1997-08-21 | Ｘ線撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1164246A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012181028A (ja) * | 2011-02-28 | 2012-09-20 | Yokogawa Electric Corp | 放射線検査装置 |
| JP2017223468A (ja) * | 2016-06-13 | 2017-12-21 | オムロン株式会社 | Ｘ線検査装置およびｘ線検査方法 |
-
1997
- 1997-08-21 JP JP9225083A patent/JPH1164246A/ja active Pending
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|---|---|---|---|---|
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