JP3533774B2 - Ｘ線撮像装置 - Google Patents
Ｘ線撮像装置Info
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- JP3533774B2 JP3533774B2 JP21994095A JP21994095A JP3533774B2 JP 3533774 B2 JP3533774 B2 JP 3533774B2 JP 21994095 A JP21994095 A JP 21994095A JP 21994095 A JP21994095 A JP 21994095A JP 3533774 B2 JP3533774 B2 JP 3533774B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、医用のＸ線ＣＴや
産業用非破壊検査装置などに適用することのできるＸ線
撮像装置に関する。
産業用非破壊検査装置などに適用することのできるＸ線
撮像装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線を利用して対象物の像を得る装置と
して、複数のＸ線センサを１列または数列に配置したセ
ンサアレイを、撮像領域上でステップ状に走査して線源
から被写体の情報を含んだＸ線束を入射させ、その強度
情報を例えばＣＲＴやレーザイメージャーの画面上に表
現するＸ線撮像装置がある。
して、複数のＸ線センサを１列または数列に配置したセ
ンサアレイを、撮像領域上でステップ状に走査して線源
から被写体の情報を含んだＸ線束を入射させ、その強度
情報を例えばＣＲＴやレーザイメージャーの画面上に表
現するＸ線撮像装置がある。
【０００３】また、この種のＸ線撮像装置では、従来、
Ｘ線光子の入射によりセンサが発生するパルス信号を計
数し、その計数値を画像情報とする、いわゆるフォトン
カウンティング方式が採用されている。
Ｘ線光子の入射によりセンサが発生するパルス信号を計
数し、その計数値を画像情報とする、いわゆるフォトン
カウンティング方式が採用されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、フォトンカ
ウンティング方式においては、入射Ｘ線線量が低い場合
には、Ｘ線を正確に測定できるものの、線量が多いと光
子一つ一つを分離することができなくなり、いわゆる数
え落とし効果（ピークパイルアップ）により、測定可能
なＸ線線量が制限されるという欠点がある。
ウンティング方式においては、入射Ｘ線線量が低い場合
には、Ｘ線を正確に測定できるものの、線量が多いと光
子一つ一つを分離することができなくなり、いわゆる数
え落とし効果（ピークパイルアップ）により、測定可能
なＸ線線量が制限されるという欠点がある。
【０００５】このため、フォトンカウンティング方式を
採用したＸ線撮像装置では、例えば胸部画像の撮像な
ど、Ｘ線透過量の変化が激しい被写体を撮像する場合、
透過率の高い部分（肩など）では測定範囲を越えてしま
い、測定不可能となることがある。
採用したＸ線撮像装置では、例えば胸部画像の撮像な
ど、Ｘ線透過量の変化が激しい被写体を撮像する場合、
透過率の高い部分（肩など）では測定範囲を越えてしま
い、測定不可能となることがある。
【０００６】本発明はそのような事情に鑑みてなされた
もので、低線量から高線量にわたる広範囲のＸ線を測定
することのできるダイナミックレンジの広いＸ線撮像装
置の提供を目的としている。
もので、低線量から高線量にわたる広範囲のＸ線を測定
することのできるダイナミックレンジの広いＸ線撮像装
置の提供を目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、Ｘ線の入射により電荷信号を出力するＸ
線センサが配列されてなるセンサアレイと、その各セン
サ出力を電圧信号に変換し、この変換後の信号を所定の
電圧と比較してその電圧以上となる信号を計数する測定
系を有し、センサアレイをステップ状に移動させつつ測
定系の出力を収集し、その収集データに基づいてＸ線画
像を得る装置において、上記測定系の出力を検出し、そ
の検出結果に応じて上記測定系の比較電圧の設定値を、
前記センサアレイの走査過程で変更する手段を設けたこ
とによって特徴づけられる。本発明のＸ線撮像装置にお
いて、前記測定系の比較電圧として低線量用の値と、高
線量用の値の二つの値を設定できるように構成するとと
もに、前記比較電圧を設定する手段に、前記低線量用の
値で計数特性曲線上に現れる測定限界のカウント数より
も、所定量だけ小さいカウント数Ｔｈ１と、前記高線量
用の値の計数特性曲線上で、前記カウント値Ｔｈ１に対
応するカウント数Ｔｈ２とを設定し、前記測定系による
計数値ｎがｎ≧Ｔｈ１となったときに前記比較電圧を低
線量用の値から高線量用の値に切り替え、ｎ＜Ｔｈ２と
なったときに前記比較電圧を高線量用の値から低線量用
の値に切り替えるように構成してもよい。
に、本発明は、Ｘ線の入射により電荷信号を出力するＸ
線センサが配列されてなるセンサアレイと、その各セン
サ出力を電圧信号に変換し、この変換後の信号を所定の
電圧と比較してその電圧以上となる信号を計数する測定
系を有し、センサアレイをステップ状に移動させつつ測
定系の出力を収集し、その収集データに基づいてＸ線画
像を得る装置において、上記測定系の出力を検出し、そ
の検出結果に応じて上記測定系の比較電圧の設定値を、
前記センサアレイの走査過程で変更する手段を設けたこ
とによって特徴づけられる。本発明のＸ線撮像装置にお
いて、前記測定系の比較電圧として低線量用の値と、高
線量用の値の二つの値を設定できるように構成するとと
もに、前記比較電圧を設定する手段に、前記低線量用の
値で計数特性曲線上に現れる測定限界のカウント数より
も、所定量だけ小さいカウント数Ｔｈ１と、前記高線量
用の値の計数特性曲線上で、前記カウント値Ｔｈ１に対
応するカウント数Ｔｈ２とを設定し、前記測定系による
計数値ｎがｎ≧Ｔｈ１となったときに前記比較電圧を低
線量用の値から高線量用の値に切り替え、ｎ＜Ｔｈ２と
なったときに前記比較電圧を高線量用の値から低線量用
の値に切り替えるように構成してもよい。
【０００８】
【作用】まず、フォトンカウンティング方式において
は、測定系で採用する比較電圧の設定値を変更すると、
これに応じて計数特性が変化する。例えば図４に示すよ
うに、比較回路の比較電圧Ｖref を低い値Ｒef1 に設定
した場合に、測定限界を越えるような線量（Ｘ線強度）
であっても、比較電圧Ｖref を高い値Ｒef2 にすると、
計数率は低くなるものの高線量での測定が可能となる。
は、測定系で採用する比較電圧の設定値を変更すると、
これに応じて計数特性が変化する。例えば図４に示すよ
うに、比較回路の比較電圧Ｖref を低い値Ｒef1 に設定
した場合に、測定限界を越えるような線量（Ｘ線強度）
であっても、比較電圧Ｖref を高い値Ｒef2 にすると、
計数率は低くなるものの高線量での測定が可能となる。
【０００９】本発明はこのような点を利用し、走査過程
においてセンサアレイが、Ｘ線透過量の少ない部位に位
置した時つまり計数値が低い時には比較電圧を低い値Ｒ
ef1とし、Ｘ線透過量の多い部位に位置して計数値が高
くなった時点で、比較電圧を高い値Ｒef2 に切り替える
ことで、フォトンカウンティング方式の欠点である高線
量領域での測定限界を拡張する。
においてセンサアレイが、Ｘ線透過量の少ない部位に位
置した時つまり計数値が低い時には比較電圧を低い値Ｒ
ef1とし、Ｘ線透過量の多い部位に位置して計数値が高
くなった時点で、比較電圧を高い値Ｒef2 に切り替える
ことで、フォトンカウンティング方式の欠点である高線
量領域での測定限界を拡張する。
【００１０】
【発明の実施の形態】この実施の形態のＸ線撮像装置
は、図２の概念図に示すように、被写体ＴにＸ線を照射
するＸ線源８と、Ｘ線センサ１・・１を６×１０２４の面
状（２次元状）に配列したセンサアレイＡを有し、この
センサアレイＡを被写体Ｔの後方でステップ状に移動さ
せることにより画像を得る構造の装置である。
は、図２の概念図に示すように、被写体ＴにＸ線を照射
するＸ線源８と、Ｘ線センサ１・・１を６×１０２４の面
状（２次元状）に配列したセンサアレイＡを有し、この
センサアレイＡを被写体Ｔの後方でステップ状に移動さ
せることにより画像を得る構造の装置である。
【００１１】また、この実施の形態では、図１に示すよ
うに、Ｘ線センサ１・・１のそれぞれに対し、各センサで
発生した電荷を電圧に変換するアンプ２と、その変換後
の電圧パルスを比較電圧（リファレンス電圧）Ｖref と
比較して、電圧パルスが比較電圧Ｖref を越えている間
においてＨレベルとなるようなデジタルパルスを出力す
る比較回路３と、この比較回路３の出力パルス数を計数
するカウンタ４が接続されており、これらの回路構成に
より、フォトンカウンティング方式に基づいてデータ収
集することができる。
うに、Ｘ線センサ１・・１のそれぞれに対し、各センサで
発生した電荷を電圧に変換するアンプ２と、その変換後
の電圧パルスを比較電圧（リファレンス電圧）Ｖref と
比較して、電圧パルスが比較電圧Ｖref を越えている間
においてＨレベルとなるようなデジタルパルスを出力す
る比較回路３と、この比較回路３の出力パルス数を計数
するカウンタ４が接続されており、これらの回路構成に
より、フォトンカウンティング方式に基づいてデータ収
集することができる。
【００１２】さて、この実施の形態で注目すべきところ
は、比較回路３の比較電圧Ｖref を一定の値とするので
なく、比較電圧発生回路５を駆動制御する制御回路６を
設けて、カウンタ４による計数値に応じて低線量用と高
線量用の大小二つの値に設定するといった構成を採用し
た点にある。
は、比較回路３の比較電圧Ｖref を一定の値とするので
なく、比較電圧発生回路５を駆動制御する制御回路６を
設けて、カウンタ４による計数値に応じて低線量用と高
線量用の大小二つの値に設定するといった構成を採用し
た点にある。
【００１３】その具体的な構成及び動作を以下に説明す
る。まず、フォトンカウンティング方式においては、図
３に示すように、被写体を透過したＸ線線量が低い場合
(1) 、比較回路３の比較電圧Ｖref を低い値Ｒef1に設
定しても測定不可能となることはなく、また比較電圧Ｖ
ref は低い値Ｒef1とした方が計数率は高くなる。一
方、被写体を透過したＸ線線量が高くてアンプ２の出力
にパイルアップが生じる場合(2) 、比較回路３の比較電
圧Ｖref が低い値Ｒef1 であると測定不可能となるが、
比較電圧Ｖref を高い値Ｒef2 とすれば計数率は低くな
るものの測定可能な状態となるといった特徴がある。
る。まず、フォトンカウンティング方式においては、図
３に示すように、被写体を透過したＸ線線量が低い場合
(1) 、比較回路３の比較電圧Ｖref を低い値Ｒef1に設
定しても測定不可能となることはなく、また比較電圧Ｖ
ref は低い値Ｒef1とした方が計数率は高くなる。一
方、被写体を透過したＸ線線量が高くてアンプ２の出力
にパイルアップが生じる場合(2) 、比較回路３の比較電
圧Ｖref が低い値Ｒef1 であると測定不可能となるが、
比較電圧Ｖref を高い値Ｒef2 とすれば計数率は低くな
るものの測定可能な状態となるといった特徴がある。
【００１４】これを計数特性で示すと図４のようにな
り、比較回路３の比較電圧Ｖref を低い値Ｒef1 に設定
した場合、計数率は高くなるが測定限界の線量（Ｘ線強
度）が低くなり、これに対し、比較電圧Ｖref を高い値
Ｒef2 に設定すると、低線量での計数率は低くなるもの
の高線量までの測定が可能となる。
り、比較回路３の比較電圧Ｖref を低い値Ｒef1 に設定
した場合、計数率は高くなるが測定限界の線量（Ｘ線強
度）が低くなり、これに対し、比較電圧Ｖref を高い値
Ｒef2 に設定すると、低線量での計数率は低くなるもの
の高線量までの測定が可能となる。
【００１５】以上のことから、Ｘ線線量が低い場合は比
較電圧Ｖref を低い値Ｒef1 とし、Ｘ線線量が高い場合
には比較電圧Ｖref を高い値Ｒef2 とすれば、低線量か
ら高線量まで広い範囲で測定が可能となる。
較電圧Ｖref を低い値Ｒef1 とし、Ｘ線線量が高い場合
には比較電圧Ｖref を高い値Ｒef2 とすれば、低線量か
ら高線量まで広い範囲で測定が可能となる。
【００１６】そこで、この実施の形態では、制御回路６
により比較電圧発生回路５を駆動制御して、比較回路３
の比較電圧Ｖref として低線量用の値Ｒef1 と、高線量
用の値Ｒef2 の二つの値を設定できるようにしており、
さらに、その低線量用の値Ｒef1 で計数特性曲線上に現
れる測定限界のカウント数よりも、所定量だけ小さいカ
ウント数Ｔh1（図４参照）と、高線量用の値Ｒef2 の計
数特性曲線上で、先の値Ｔh1に対応するカウント数Ｔh2
を制御回路６に設定し、カウンタ４の出力計数値ｎが
〔ｎ≧Ｔh1〕となったときに、比較回路３の比較電圧Ｖ
ref を、低線量用の値Ｒef1 から高線量用の値Ｒef2 に
切り替え、また、カウンタ４の出力計数値ｎが〔ｎ＜Ｔ
h2〕となったときに、比較回路３の比較電圧Ｖref を、
高線量用の値Ｒef2 から低線量用の値Ｒef1 へと切り替
えるように構成している。
により比較電圧発生回路５を駆動制御して、比較回路３
の比較電圧Ｖref として低線量用の値Ｒef1 と、高線量
用の値Ｒef2 の二つの値を設定できるようにしており、
さらに、その低線量用の値Ｒef1 で計数特性曲線上に現
れる測定限界のカウント数よりも、所定量だけ小さいカ
ウント数Ｔh1（図４参照）と、高線量用の値Ｒef2 の計
数特性曲線上で、先の値Ｔh1に対応するカウント数Ｔh2
を制御回路６に設定し、カウンタ４の出力計数値ｎが
〔ｎ≧Ｔh1〕となったときに、比較回路３の比較電圧Ｖ
ref を、低線量用の値Ｒef1 から高線量用の値Ｒef2 に
切り替え、また、カウンタ４の出力計数値ｎが〔ｎ＜Ｔ
h2〕となったときに、比較回路３の比較電圧Ｖref を、
高線量用の値Ｒef2 から低線量用の値Ｒef1 へと切り替
えるように構成している。
【００１７】次に、具体的な動作を先の図２を参照して
説明する。まず、被写体ＴはセンサアレイＡの走査方向
においてＸ線透過量が変化するものとし、また、被写体
Ｔには、比較電圧Ｖref の設定値が低線量用の値Ｒef1
である場合には測定不可能となる部分(b) が存在するも
のとする。
説明する。まず、被写体ＴはセンサアレイＡの走査方向
においてＸ線透過量が変化するものとし、また、被写体
Ｔには、比較電圧Ｖref の設定値が低線量用の値Ｒef1
である場合には測定不可能となる部分(b) が存在するも
のとする。
【００１８】さて、センサアレイＡの走査を開始する
と、その走査ごとに一定時間のサンプリングが順次に実
行され、カウンタ４による計数値ｎがデータ処理装置７
に出力される。このとき、カウンタ４の出力計数値ｎ
は、制御回路６において図４に示したカウント数Ｔh1及
びＴh2と比較される。
と、その走査ごとに一定時間のサンプリングが順次に実
行され、カウンタ４による計数値ｎがデータ処理装置７
に出力される。このとき、カウンタ４の出力計数値ｎ
は、制御回路６において図４に示したカウント数Ｔh1及
びＴh2と比較される。
【００１９】いま、センサアレイＡが被写体Ｔの厚いの
部分(a) を透過したＸ線を検出する位置にあるとする
と、透過Ｘ線線量が少なくてカウンタ４の出力計数値ｎ
が〔ｎ＜Ｔh1〕となるので、比較回路３の比較電圧Ｖre
f は低線量用の値Ｒef1 が設定される。
部分(a) を透過したＸ線を検出する位置にあるとする
と、透過Ｘ線線量が少なくてカウンタ４の出力計数値ｎ
が〔ｎ＜Ｔh1〕となるので、比較回路３の比較電圧Ｖre
f は低線量用の値Ｒef1 が設定される。
【００２０】この後、センサアレイＡの走査が進行し
て、センサアレイＡが被写体Ｔの薄い部分（ｂ）に位置
したときには、透過Ｘ線線量が多くなってカウンタ４の
出力計数値ｎがＴｈ１を越えるので、比較回路３の比較
電圧Ｖｒｅｆが低線量用の値Ｒｅｆ１から高線量用の値
Ｒｅｆ２１へと切り替わる。
て、センサアレイＡが被写体Ｔの薄い部分（ｂ）に位置
したときには、透過Ｘ線線量が多くなってカウンタ４の
出力計数値ｎがＴｈ１を越えるので、比較回路３の比較
電圧Ｖｒｅｆが低線量用の値Ｒｅｆ１から高線量用の値
Ｒｅｆ２１へと切り替わる。
【００２１】そして、センサアレイＡが被写体Ｔの比較
的厚い部分(c) に達して、カウンタ４の出力計数値ｎが
低くなって〔ｎ≧Ｔh2〕となったときには、比較電圧Ｖ
refの設定値が高線量用の値Ｒef2 から低線量用の値Ｒe
f1 へと戻る。
的厚い部分(c) に達して、カウンタ４の出力計数値ｎが
低くなって〔ｎ≧Ｔh2〕となったときには、比較電圧Ｖ
refの設定値が高線量用の値Ｒef2 から低線量用の値Ｒe
f1 へと戻る。
【００２２】このように、センサアレイＡの走査過程で
比較回路３の比較電圧Ｖref の設定値を変更すること
で、Ｘ線透過量の変化が激しい被写体であっても、測定
不可能となることがなく、広い濃度範囲をもつ画像デー
タを得ることができる。しかも低線量領域での高感度の
撮像が可能となる。
比較回路３の比較電圧Ｖref の設定値を変更すること
で、Ｘ線透過量の変化が激しい被写体であっても、測定
不可能となることがなく、広い濃度範囲をもつ画像デー
タを得ることができる。しかも低線量領域での高感度の
撮像が可能となる。
【００２３】ここで、本発明の実施の形態で使用する制
御回路６には、比較電圧Ｖref を切り替えた情報を保存
し、その情報をデータ処理装置７に転送する機能が付加
されており、また、データ処理装置７では、切り替え情
報を基にカウンタ４の出力計数値を、適正な値に補正し
て画像データを作成するといった処理が実行される。そ
の補正処理としては、例えば、図４に示した計数特性を
予め作成しておき、この低・高の二つ計数特性曲線と、
比較電圧の切り替え情報とを用いて計数値ｎをＸ線強度
に変換するといった処理法が挙げられる。
御回路６には、比較電圧Ｖref を切り替えた情報を保存
し、その情報をデータ処理装置７に転送する機能が付加
されており、また、データ処理装置７では、切り替え情
報を基にカウンタ４の出力計数値を、適正な値に補正し
て画像データを作成するといった処理が実行される。そ
の補正処理としては、例えば、図４に示した計数特性を
予め作成しておき、この低・高の二つ計数特性曲線と、
比較電圧の切り替え情報とを用いて計数値ｎをＸ線強度
に変換するといった処理法が挙げられる。
【００２４】なお、以上の実施の形態では、比較回路３
の比較電圧Ｖref の設定値を、低線量用と高線量用の二
つの値で２段階で変更できるようにしているが、その比
較電圧Ｖref の設定は３段階以上の制御であってもよ
い。
の比較電圧Ｖref の設定値を、低線量用と高線量用の二
つの値で２段階で変更できるようにしているが、その比
較電圧Ｖref の設定は３段階以上の制御であってもよ
い。
【００２５】また、以上の実施の形態では、Ｘ線センサ
を複数列（６列）に配置したマルチラインセンサを使用
しているが、そのセンサ配列が１列の１次元センサアレ
イを用いたＸ線撮像装置にも本発明を適用できることは
言うまでもない。
を複数列（６列）に配置したマルチラインセンサを使用
しているが、そのセンサ配列が１列の１次元センサアレ
イを用いたＸ線撮像装置にも本発明を適用できることは
言うまでもない。
【００２６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
フォトンカウンティング方式を採用した測定系の出力計
数値を検出し、その検出結果に応じて測定系の比較電圧
（リファレンス電圧）を変更するように構成したので、
従来のフォトンカウンティング方式の欠点であった数え
落とし効果等による高線量領域での制限を解消すること
ができ、これにより、低線量から高線量まできわめてダ
イナミックレンジの広いＸ線像の撮像が可能となる。
フォトンカウンティング方式を採用した測定系の出力計
数値を検出し、その検出結果に応じて測定系の比較電圧
（リファレンス電圧）を変更するように構成したので、
従来のフォトンカウンティング方式の欠点であった数え
落とし効果等による高線量領域での制限を解消すること
ができ、これにより、低線量から高線量まできわめてダ
イナミックレンジの広いＸ線像の撮像が可能となる。
【図１】本発明の実施の形態を示すブロック図
【図２】その実施の形態の全体構成を示す概念図
【図３】アンプ２の出力波形図
【図４】フォトンカウンティング方式の計数特性を示す
図で、カウント数とＸ線強度の関係を示すグラフ
図で、カウント数とＸ線強度の関係を示すグラフ
１ Ｘ線センサ
２ アンプ
３ 比較回路
４ カウンタ
５ 比較電圧発生回路
６ 制御回路
７ データ処理装置
８ Ｘ線源
Ａ センサアレイ
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01T 1/00 - 7/12
Claims (2)
- 【請求項１】 Ｘ線の入射により電荷信号を出力するＸ
線センサが配列されてなるセンサアレイと、その各セン
サ出力を電圧信号に変換し、この変換後の信号を所定の
比較電圧と比較してその比較電圧以上となる信号を計数
する測定系を有し、センサアレイをステップ状に移動さ
せつつ測定系の出力を収集し、その収集データに基づい
てＸ線画像を得る装置において、上記測定系の出力を検
出し、その検出結果に応じて上記測定系の比較電圧の設
定値を、前記センサアレイの走査過程で変更する手段を
設けたことを特徴とするＸ線撮像装置。 - 【請求項２】 前記測定系の比較電圧として低線量用の
値と、高線量用の値の二つの値を設定できるように構成
されているとともに、前記比較電圧を設定する手段に、
前記低線量用の値で計数特性曲線上に現れる測定限界の
カウント数よりも、所定量だけ小さいカウント数Ｔｈ１
と、前記高線量用の値の計数特性曲線上で、前記カウン
ト値Ｔｈ１に対応するカウント数Ｔｈ２とが設定されて
おり、前記測定系による計数値ｎがｎ≧Ｔｈ１となった
ときに前記比較電圧を低線量用の値から高線量用の値に
切り替え、ｎ＜Ｔｈ２となったときに前記比較電圧を高
線量用の値から低線量用の値に切り替えるように構成さ
れていることを特徴とする請求項１記載のＸ線撮像装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21994095A JP3533774B2 (ja) | 1995-08-29 | 1995-08-29 | Ｘ線撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21994095A JP3533774B2 (ja) | 1995-08-29 | 1995-08-29 | Ｘ線撮像装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0961532A JPH0961532A (ja) | 1997-03-07 |
| JP3533774B2 true JP3533774B2 (ja) | 2004-05-31 |
Family
ID=16743416
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21994095A Expired - Fee Related JP3533774B2 (ja) | 1995-08-29 | 1995-08-29 | Ｘ線撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3533774B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104812305B (zh) | 2012-12-27 | 2018-03-30 | 东芝医疗系统株式会社 | X射线ct装置以及控制方法 |
-
1995
- 1995-08-29 JP JP21994095A patent/JP3533774B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0961532A (ja) | 1997-03-07 |
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