JPH01305345A - Ct装置 - Google Patents

Ct装置

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JPH01305345A
JPH01305345A JP63135582A JP13558288A JPH01305345A JP H01305345 A JPH01305345 A JP H01305345A JP 63135582 A JP63135582 A JP 63135582A JP 13558288 A JP13558288 A JP 13558288A JP H01305345 A JPH01305345 A JP H01305345A
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JP
Japan
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subject
projection data
ray source
ray
dimensional projection
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Pending
Application number
JP63135582A
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English (en)
Inventor
Masaji Fujii
正司 藤井
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH01305345A publication Critical patent/JPH01305345A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40Imaging
    • G01N2223/419Imaging computed tomograph

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、軸方向に移動する被検体の断層像を(するこ
とのできるCT装置に関する。
(従来の技術) 従来のCT装置のうら、いわゆる第3世代といわれるC
T装置を第4図、第5図に示す。
第4図は、被検体下を内包するファンビーム状のX線を
放射するX線源110と、このX線源110から等距離
の位置に多数の放射線検出子13Qa、130a、・・
・、を円弧状に並設してなるX線検出器130を用い、
この被検体Tを中心としてX線源110とX線検出器1
30とを対向配置させたまま、回転移動させて、所定の
断層面に係る投影データの収集を行うR/R方式を示す
第5図は、第4図に示されるR/R方式に対して、X線
源110とX線検出器130とを固定して、試料である
被検体Tを回転させて投影データの収集を行う試料回転
方式を示り−8 (発明が解決しようとする課題) このような従来のC16置においては、所望とする断層
面に対して、無限方向からの投影データを収集し、この
収集された多数の投影データから断層像を得るために、
被検体下を固定して断層面を含む平面内でX線源110
とX線検出器130を回転さゼ、あるいはX線源110
と′X線検出器130を含む平面内で被検体Tの1gi
層面を回転させなければならなかった。
そのため、被検体TがX線源110等に対して、上記回
転以外の移動あるいは変位を行うと、再構成された断層
像の精度や分解能が低下するという不都合を眉来した。
=方、例えば高圧送電ケーブル等のように、ケーブルの
長手方向(以下軸方向という〉に変化の少ない被検体を
軸方向に搬送しながら、当該被検体の断層像を(qて効
率的な検査を行うことも少なからず要求されていた。
本発明は、上記に鑑みてなされたもので、イの目的とし
ては、軸方向に移動するケーブル等の被検体を、移動状
態を保持させつつ断層像を得ることのでさるC T 8
置を提供することを目的とする。
[発明の構成] (課題を解決するだめの手段) 上記目的を達成するため、本発明はX線を敢)1状に放
射づるX線源と、このX線源と対向して配置され、この
X線源から放射されるX線と略直角に交わる平面で当該
放射線を検出するX線検出手段と、前記X線源とX線検
出手段との間を軸方向に移動する被検体の移動量を検出
する移動量検出手段と、前記X線源とX線検出手段とを
前記被検体の周囲を回動駆動する回動駆動手段と、前記
被検体の周囲を回動して得られる複数の2次元投影デー
タから、被検体の特定断層面に係る1次元投影データを
、前記検出された移動量に対応して抽出するデータ抽出
手段と、 このデータ抽出手段から得られる複数の1次元投影デー
タをもとに前記特定断層面に係る断層像を再構成する画
像再構成手段とを有して構成した。
(作用) 本発明におけるCT装置においては、軸方向1こ移動ヴ
る被検体を中心にしてX線源とX線検出手段が対向して
配置されている。モしてX線源から敢躬状にlIi射さ
れ、被検体を透過した透過X’fiは、放0=1される
X線と略直角に交わる平面状のX線検出手段に入射して
、当該被検体に係る2次元投影データを与える。
次に回転駆動手段は、前記X線源とX線検出手段の対向
配置状態を保持させたまま、微小角度だけ回転する。
更に、この微小角度だIノ回転した位同で1)η述と同
様にして、2次元投影データを収集する。
このようにして、微小角度毎の2次元投影データを収集
しながら、被検体の周囲を1回転する。
次に、順次収集される各2次元投影データから被検体の
特定断層面に係る1次元投影データを、データ抽出手段
は移動φ検出手段で検出される被検体の移動[1)に対
応させて、順次抽出する。
従って、被検体の移動と共に移動する前記特定断層面に
係る1次元投影データを、前記2次元投影データから順
次抽出することができ、移動しない被検体に照射したフ
ァン状X線によって特定断層面に係る投影データを19
だ場合と同一の投影データをi5Iることができる。
次に、画像再構成手段は+)iJ記データ抽出手段によ
って抽出された特定断層面に係る多数の1次元投影デー
タから、この特定断層面に係る断層像を再構成する。こ
のとぎ特定される断層面は、所望に応じて任意の数に設
定される。
〈実施例〉 以下、本発明の一実施例を第1図乃〒第3図を参照して
説明する。
第1図は、本実施例の概略の構成を示すブロック図であ
る。
本実施例における検査苅蒙物は被検体10である銅線を
絶縁体10Δの架橋ポリエチ(ノンで被覆絶縁した高圧
送電ケーブルであり、第1図に示11ように軸方向△に
一定の速、度で連続して移動づる。
X線源11Gよ、高エネルギX線管を用い−CX線を発
生し、このX線源11の先端の照射口に設けた図示しな
い照)10コリメータによって軸方向、すなわち垂直方
向と、軸り向と垂直な方向、すなわち水平方向に拡がり
を持つ四角錐状X線Bを被検体10に向けて照銅する。
X線検出器13は、前記X線源に対向して配置され、こ
のX線源11から放射されるX線Bを当該四角錐状放射
線Bと略直角に交わる2″次元平面で検出するためのエ
リアセンサを有している。このエリアセンサには、螢光
物質を根状に形成したシンチレータと、このシンチレー
タに入射したX線がエネルギを付与して発光した光を引
1゛る、高感度TVカメラが用いられる。
また、この高感度TVカメラの代わりにホトダイオード
からなる密着型エリアイメージセンサを用いたり、シン
チレータの代わりに半導体検出器を用いても良い。
尚、上記1リアセンサの被検体10の軸方向と垂直な方
向の長さ(幅)は被検体10を透過した透過X ?2を
検出するに十分な長さに設定され、また軸方向の長さは
当該X線検出器13が被検体10の周囲を投影データを
収集しつつ1回転する間に、当該被検体10が軸方向に
移動するMまり長く設定される。
データ収集部15は、マルチブレクリ−およびΔ/D変
換器等によって構成され、前記X線検田器13で2次元
的に検出された透過X線によるア犬ログ投影データに順
次デジタル変換等のデータ処理を施した後にインタフェ
ース17を介して後述する中央制御2II装貿3のデー
タメモリ31へ順次出力する。
移動量検出手段であるエンコーダ21は、前記移動する
被検体10の移#Jfを、ローラ等の移動量検出子21
Aで検出し、この移動fに係る情報をコントロールコン
ソール23へ出力する。
コントロールコンソール23は、前記データ収集部15
におけるデータ収集のタイミングを、エンコーダ21か
ら出力される移動量に係る情報に同期させて設定すると
共に、この移動Wに係る情報と後述する機構制御部25
から得られる「X線源11−X線検出器13」の回転位
置に係る情報をインタフェース27を介して中央制御装
置3のf−タバス30Aに出力する。また、キーボード
等の入力手段を備えて、当該CT装置の始動や停止、あ
るいは規定角度の設定等のシリ御を行う。
機構制御部25は、「X線源11とX線検出器13」を
被検体10の中心軸を中心にして対向させた状態を保持
させて、この中心軸を中°心にこの中心軸と垂直な平面
内で回動りるための図示しない回動駆動源を有して、こ
の回動駆動源を制御しrrX線源11−X線検出器13
Jを一定の回転角度、すなわら現定角度毎に回動駆動プ
る。また本実施例においては当該現定角度を0.6度あ
るいは1度に設定して、[X線源11−X線検出器13
Jが被検体を1回転づる聞に600b向若しくは360
方向から投影データの収集を高速に行う。
CPU30は、データバス30Aを介して転送される投
影f−タ等の各種データの流れや、]14記機構制陣部
25の動作等を制御するための中央処理部であって、上
記制師等を行うためのプ[1グラム等を記憶す゛るメモ
リ51と、後述りる画像書(j4構成(FRU)35で
形成されるiWi層画像画像データ記憶、蓄積する磁気
ディスク538:を外部メモリとして接続する。
データメモリ31は、インタフェース17を介して入力
する2次元投影データを、順次記憶蓄積fる人容徴のメ
モリである。
データセレクタ33は、データメモリ31に記憶された
2次元投影データから、指定される1次元投影f−夕の
抽出を行い、この抽出された1次元投影データセレクタ
33に付属するメモリ33Aに記憶される。
1JiJ記データメモリ31とデータセレクタ33はデ
ータ抽出手段を構成する。
画像再構成部(FRU)35は、被検体10の特定断面
の断層像を再構成する処理部であっで、抽出され11な
記メモリ33△に記憶された一次冗投影データにフィル
タ処理を行うコンポリ]−−シ]ン処理部、画像の構築
を行うパックブロジ■クション処理部等によって構成さ
れる。
画像メモリ37は、画像再構成部35で再構成される断
層像を記憶リ−るメモリであって、移動する被検体10
から順次前られる多数の断層像を時間軸に従って記憶す
る。
画像処理部(I P>39は、前記データメモリ31に
記憶された2次元投影データおよび前記画像メモリ37
に記憶された断層像の画像処理を行い、被検体10の異
物、気泡の混入、割れ等の欠陥の発生を検出する。
デイスプレィ43は、インタフェース41を介しC画像
処理部39から得られる透視画像、断層像を表示する。
またこれら画像データは画像バス30 B /a−介し
て転送される。
次に、本実施例における一次元投影データの抽出および
編纂について第2図を参照して説明する。
第2図(A>は、時間軸に従って記憶される2次元投影
データを模式的に示す。
時刻t1で得られる2次元投影データ1001に対して
、時刻t1から微小時間△[だけ経過した時刻t2にお
いて得られる2次元投影データ1002、fi′1様に
同一の微小時間Δ℃だけ経過した時刻【3において得ら
れる2次元投影データ1003、・・・をそれぞれ示す
。ずなわちこれら投影データは前記微小時間△」が経過
づ°る間に、軸方向に所定長に移動した被検体10を、
X線源11とX線検出器13が規定角度だけ移動した位
置から、順次搬像して得られる。
従って第2図(B)に示すように被検体10に異物の混
入等の欠陥りが存在するときには、時間の経過と共に欠
陥りの位置が変化する。そして、この系像によって得ら
れる多数の2次元投影データは順次データメモリ31に
記憶される。
次にこの欠陥りの存在する断層面に着目してみると、こ
の断層面は、被検体10の移動によって順次移動してい
くのであるから、エンコーダ21から得られる被検体1
0の移動猪に対応させて、2次元投影データから、−列
の水平ラインLを特定することによって、同一の断層面
にかかる一次元投影データを順次抽出することができる
。従ってこの抽出された一次元投影データをX線源11
とX線検出器13の1回転分の一次元投影データを一デ
ータとして編纂、記憶することによって被検体10が静
止している場合と同様な投影データを11することかで
きる。
次に第3図のフローチャートを参照して、本実施例にお
ける、断層像の作成について説明する。
まず被検体10を、X線源11とX線検゛出器13の略
中間の所定位置を軸方向Aに移動可能であるように設定
する。
コントロールコンソール23を操作して、被検体10の
スキャニングを開始すると共に(ステップS1)、被検
体10の軸方向Aへの定速度移動をOn始する。
磯構制郊部25を作動して、[X線源11−X線検出器
13」を機構部25aによって所定位置まで回転移動す
る(ステップS2>。
このステップS2で設定された位置で、2次元投影デー
タの収集を行い(ステップS3)、f−タメモリ31に
記憶する。
次に[X線源11−X線検出器13」をあらかじめ設定
される規定角度だけ、例えば0.6反回転移動して、再
び投影データの収集を行い(ステップ82.83>、順
次データメモリ31に格納づる。このようにして、1回
転分の2次元投影データの収集が終了したならば(ステ
ップ84>、画像の再構成を行う。尚、このとき引き続
き規定角度毎の回転および2次元投影データの収集が、
画像の再構成と並行して行われる。
画像再構成は、まず断層像を所望する断層面を指定する
(ステップ85)。この断層面の指定は、rxrAai
 i−xm検出器13Jが被検体10を一回転づ“る間
に、得られる多数の二次元投影データの全てに含まれる
断層面を選択する。
次に、データセレクタ33において、データメモリ31
に格納される多数の二次元投影データから、ステップS
5で指定された1I7i層面に係る一次元投影データの
抽出、メモリ33Aへの記憶等の一次元投影データの編
纂を行う(ステップ86)。
続いて、この編纂された一次元投影データから画像再構
成部35でI!’i府像の再構成を行い、(ステップS
7)、この断層像のデイスプレィ表示を行う(ステップ
S8)。このデイスプレィ表示は、[X線源11−X線
検出器″13」が一回転する毎に更新される。
上述したように本実施例にa3いては、軸方向に移動す
る高圧送電ケーブル等被検体の投影データを一端、二次
元投影データとして収集しで、この二次元投影データか
ら必要とする特定断層面に係る一次元投影データを抽出
して、この−次元投影データから断層像を再構成するよ
うにしたので被検体の断層像を連続して得ることができ
る。さらに被検体のCT装置による検査を容易にかつ高
精度で行うことができる。
[発明の効果〕 以上、説明してぎたように本発明によれば、被検体の移
動に対応して投影データの収集を行うようにしたので、
移動する被検体の断層像を容易に得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るCT装置の構成を示すブロック図
、第2図は投影データの編纂を説明するための図、第3
図は動作を説明するためのフローチャート、第4図、第
5図は従来装置の構成の概略を示す図である。 11・・・X線源 13・・・X線検出器21・・・エ
ンコーダ 25・・・構成制御部31・・・データメモ
jノ 33・・・データセレクタ35・・・画像再構成

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 X線を放射状に放射するX線源と、 このX線源と対向して配置され、このX線源から放射さ
    れるX線と略直角に交わる平面で当該放射線を検出する
    X線検出手段と、 前記X線源とX線検出手段との間を軸方向に移動する被
    検体の移動量を検出する移動量検出手段と、 前記X線源とX線検出手段とを前記被検体の周囲を回動
    駆動する回動駆動手段と、 前記被検体の周囲を回動して得られる複数の2次元投影
    データから、被検体の特定断層面に係る1次元投影デー
    タを、前記検出される移動量に対応して抽出するデータ
    抽出手段と、 このデータ抽出手段から得られる複数の1次元投影デー
    タをもとに前記特定断層面に係る断層像を再構成する画
    像再構成手段と を有することを特徴とするCT装置。
JP63135582A 1988-06-03 1988-06-03 Ct装置 Pending JPH01305345A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008145175A (ja) * 2006-12-07 2008-06-26 Sumitomo Electric Ind Ltd ケーブルの素線の配列周期把握方法、及びケーブルの形状状態測定方法、これに用いるケーブルの形状状態測定システム、ケーブルの形状状態測定プログラム
JP2017223468A (ja) * 2016-06-13 2017-12-21 オムロン株式会社 X線検査装置およびx線検査方法
CN109946327A (zh) * 2019-03-25 2019-06-28 天津三英精密仪器股份有限公司 一种用于ct扫描的位置触发控制方法及实施该方法的系统

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