JP2017211365A - ゼロクロス検出回路およびセンサ装置 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 102
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 23
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 18
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 244000145845 chattering Species 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000009987 spinning Methods 0.000 description 2
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
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- H03K5/1536—Zero-crossing detectors
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02P—CONTROL OR REGULATION OF ELECTRIC MOTORS, ELECTRIC GENERATORS OR DYNAMO-ELECTRIC CONVERTERS; CONTROLLING TRANSFORMERS, REACTORS OR CHOKE COILS
- H02P6/00—Arrangements for controlling synchronous motors or other dynamo-electric motors using electronic commutation dependent on the rotor position; Electronic commutators therefor
- H02P6/14—Electronic commutators
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- H02P6/18—Circuit arrangements for detecting position without separate position detecting elements
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Abstract
Description
図1は、第1の実施形態のゼロクロス検出回路の回路図である。第1の実施形態のゼロクロス検出回路は、比較回路10と比較回路11と論理回路20で構成されている。
まず、比較回路10の動作を説明する。比較回路10は、非反転入力端子に供給される電圧が反転入力端子に供給される電圧よりも高いときは出力端子out0からハイレベルを出力し、これとは逆に、非反転入力端子に供給される電圧が反転入力端子に供給される電圧よりも低いときは、出力端子out0からローレベルを出力するように動作する。この動作の詳細を図2(a)に示す。ここで横軸は入力電圧Vn1とVn2の入力電圧差を示し、縦軸は各々の出力電圧を示す。図2(a)に示すように、出力電圧Vout0は、入力電圧Vn2が入力電圧Vn1よりも高いとき、すなわち、Vn2−Vn1>0であるときはハイレベルを出力する。これとは逆に、入力電圧Vn2が入力電圧Vn1よりも低いとき、すなわち、Vn2−Vn1<0であるときはローレベルを出力する。出力電圧Vout0のハイレベルからローレベルへの遷移は、Vn2−Vn1=0で行われる。また、出力電圧Vout0のローレベルからハイレベルへの遷移は、同様にVn2−Vn1=0で行われる。
図6は、第2の実施形態のゼロクロス検出回路の回路図である。図1に示した第1の実施形態との違いは、比較回路10と比較回路11を削除して比較回路14を追加し、比較回路14と論理回路20の間にラッチ回路30を追加した点である。追加した要素は次のように構成され、接続される。また削除した要素により次の接続が第1の実施形態と異なる。
比較回路14は、第1の実施形態の比較回路10と比較回路11の動作をヒステリシス制御端子HCへ入力する制御信号よって時分割で行うように動作する。すなわち、電圧Vth1と電圧Vth2がゼロになるように比較回路14を制御すると、比較回路14は比較回路10と同様に動作し、電圧Vth1と電圧Vth2がゼロにならないように制御すると、比較回路14は比較回路12または比較回路13と同様に動作する。このような動作をする比較回路については周知の技術であるため説明を省略する。比較回路14が比較回路10と同様に制御された状態で、クロック信号CK1により比較回路14の出力電圧Vout4をラッチLT1でラッチすると、出力電圧Vout0は、図5(a)および図3(b)で示したVout0と同様の出力電圧となる。比較回路14が比較回路12、比較回路13と同様に制御された状態で、クロック信号CK2、CK3により比較回路14の出力電圧Vout4をラッチLT2、LT3でラッチすると、出力電圧Vout1は、図5(b)、(c)および図3(c)で示したVout1と同様の出力電圧となる。論理回路20の動作は第1の実施形態と同様であり、出力電圧Voutは、ゼロクロス検出を行うと共に、ノイズによるゼロクロスの影響を除去することが可能である。
図7は、第3の実施形態のゼロクロス検出回路の回路図である。図6に示した第2の実施形態との違いは、比較回路14を削除して比較回路15を追加し、入力端子N2と比較回路15の非反転入力端子の間にヒステリシス発生回路40を追加した点である。追加した要素は次のように構成され、接続される。また削除した要素により次の接続が第2の実施形態と異なる。
比較回路15は、第1の実施形態の比較回路10と同様に動作する。すなわち、比較回路15は、非反転入力端子に供給される電圧が反転入力端子に供給される電圧よりも高いときは出力端子out5からハイレベルを出力し、これとは逆に、非反転入力端子に供給される電圧が反転入力端子に供給される電圧よりも低いときは、出力端子out5からローレベルを出力するように動作する。ヒステリシス発生回路40は、ヒステリシス制御端子HCの制御状態によって、入力電圧をそのまま出力するか、正の値である電圧Vth1を加算して出力するか、負の値である電圧Vth2を加算して出力するかを切替えるように動作する。すなわち、ヒステリシス発生回路40の出力電圧は、Vn2’=Vn2またはVn2’=Vn2+Vth1またはVn2’=Vn2+Vth2のいずれかになるように制御される。このような動作をするヒステリシス発生回路については周知の技術であり、例えば、抵抗および定電流源およびスイッチ素子によって実現可能である。
図8は、本発明の第1の実施形態のゼロクロス検出回路を磁気センサ装置に応用した第1の応用例の回路図である。磁電変換素子であるホール素子1aの信号は、端子Baと端子Daから差動増幅器2aに入力され、差動増幅器2aはこれを増幅し、差動増幅器2aの出力は本発明のゼロクロス検出回路の入力端子N1、入力端子N2に接続される。ここで、端子Baと端子Daの電圧をそれぞれVBa、VDaとし、ホール素子1aの信号電圧をVDa−VBaとし、差動増幅器2aの増幅率をGとする。
Vn2−Vn1=G×(VDa−VBa)・・・(1)
となる。従って、Vn2−Vn1はホール素子1aに印加される磁界に応じて、正または負またはゼロの値をとる。すなわち、本発明の第1の実施形態のゼロクロス検出回路の動作により、ホール素子1aに印加される磁界のゼロクロス点を、ノイズによって誤動作することなく、高精度に検出することが可能になる。別の表現をすると、本発明の第1の実施形態のゼロクロス検出回路を搭載したセンサ装置と磁石との相対的な位置関係を検出する用途において、相対位置の変化によってセンサ装置に印加される磁界がS極からN極に切り替わる点、またはN極からS極に切り替わる点を高精度に検出することが可能になる。従って本発明の応用例は、ローターの回転位置を高精度に検出する必要があるブラシレスモーターでの使用やエンコーダでの使用に好適である。高速回転への要求に対応が可能となり、従来高速化に対応すると課題であったノイズによる誤出力も発生せず正確な回転制御ができるようになる。
Vn2=G×(VDc−VBc)・・・(3)
式(2)と式(3)から次式を得る。
従って、Vn2−Vn1はホール素子1bとホール素子1cに印加される磁界に応じて、正または負またはゼロの値をとる。すなわち、本発明の第1の実施形態のゼロクロス検出回路の動作により、ホール素子1bとホール素子1cに印加される磁界の差のゼロクロス点を、ノイズによって誤動作することなく、高精度に検出することが可能になる。すなわち、2つのセンサ素子の信号が等しい場合にはゼロクロス検出を出力し、2つのセンサ素子のどちらの信号が大きいかを弁別して出力することが可能になる。本応用例は、例えば、バイアス磁界を発生する磁石と、鉄などの金属や磁性体で構成された歯車の間に磁気センサ装置を配置し、歯車の回転を磁気センサ装置で検出する用途で好適である。
20 論理回路
30 ラッチ回路
40 ヒステリシス発生回路
1a、1b、1c ホール素子
2a、2b、2c 差動増幅回路
Claims (10)
- 第一入力信号と第二入力信号が入力される第一比較回路と、
前記第一入力信号と前記第二入力信号が入力され、ヒステリシス機能を有する第二比較回路と、
論理回路と、を備え、
前記第一比較回路は、前記第一入力信号と前記第二入力信号の第一比較結果を出力し、
前記第二比較回路は、前記第一入力信号と前記第二入力信号の第二比較結果を出力し、
前記論理回路は、前記第二比較結果にもとづいて前記第一比較結果を出力に反映するかを決定する手段を備えたことを特徴とするゼロクロス検出回路。 - 前記第二比較結果が第一レベルで前記論理回路の出力が第一出力レベルのとき、前記第一比較結果の第一レベルから第二レベルへの遷移によって前記論理回路の出力が第二出力レベルへ遷移し、
前記第二比較結果が第二レベルで前記論理回路の出力が第二出力レベルのとき、前記第一比較結果の第二レベルから第一レベルへの遷移によって前記論理回路の出力が第一出力レベルへ遷移し、
前記2つの条件以外では前記論理回路の出力が変化しないことを特徴とする請求項1に記載のゼロクロス検出回路。 - 前記第一比較回路が有するヒステリシス幅は、前記第二比較回路が備える前記ヒステリシス機能の有するヒステリシス幅よりも小さいことを特徴とする請求項1に記載のゼロクロス検出回路。
- 前記第一比較回路と前記第二比較回路は、同一の比較回路で構成され、
前記第一比較回路と前記第二比較回路の動作状態を切り替える手段を備えたことを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載のゼロクロス検出回路。 - 前記第一比較回路と前記第二比較回路は、同一の比較回路で構成され、
前記第一入力信号と前記第二入力信号の一方もしくは両方の信号に、加算する電圧を切り替えられる電圧加算手段を備えたことを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載のゼロクロス検出回路。 - 第一入力信号と第二入力信号との大小を示す第一比較結果信号と、
前記第一入力信号と前記第二入力信号との差分が所定値よりも大きいか小さいかを示す第二比較結果信号と、を備え、
前記第二比較結果信号にもとづいて前記第一比較結果信号にもとづく信号を出力信号に出力することを特徴とするゼロクロス検出回路。 - 前記第一入力信号および前記第二入力信号は電圧であることを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載のゼロクロス検出回路。
- 前記第一入力信号および前記第二入力信号は電流であることを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載のゼロクロス検出回路。
- 印加される物理量の強度に応じて信号を出力するセンサ素子と、
前記センサ素子の出力する信号のゼロクロス検出を行う請求項1から8のいずれかに記載のゼロクロス検出回路と、
を備えたことを特徴とするセンサ装置。 - 前記第一入力信号が第一センサ素子の出力信号であり、
前記第二入力信号が第二センサ素子の出力信号であることを特徴とする、
請求項9に記載のセンサ装置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW106116060A TWI670472B (zh) | 2016-05-20 | 2017-05-16 | 零交越檢測電路以及感測裝置 |
KR1020170061433A KR102104776B1 (ko) | 2016-05-20 | 2017-05-18 | 제로크로스 검출 회로 및 센서 장치 |
US15/598,755 US20170336445A1 (en) | 2016-05-20 | 2017-05-18 | Zero-crossing detection circuit and sensor device |
CN201710356730.9A CN107402322B (zh) | 2016-05-20 | 2017-05-19 | 零交检测电路及传感器装置 |
JP2019157825A JP6899877B2 (ja) | 2016-05-20 | 2019-08-30 | ゼロクロス検出回路およびセンサ装置 |
US16/717,820 US10852328B2 (en) | 2016-05-20 | 2019-12-17 | Zero-crossing detection circuit and sensor device |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016101236 | 2016-05-20 | ||
JP2016101236 | 2016-05-20 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019157825A Division JP6899877B2 (ja) | 2016-05-20 | 2019-08-30 | ゼロクロス検出回路およびセンサ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017211365A true JP2017211365A (ja) | 2017-11-30 |
JP6581615B2 JP6581615B2 (ja) | 2019-09-25 |
Family
ID=60476735
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017059973A Active JP6581615B2 (ja) | 2016-05-20 | 2017-03-24 | ゼロクロス検出回路およびセンサ装置 |
JP2019157825A Active JP6899877B2 (ja) | 2016-05-20 | 2019-08-30 | ゼロクロス検出回路およびセンサ装置 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019157825A Active JP6899877B2 (ja) | 2016-05-20 | 2019-08-30 | ゼロクロス検出回路およびセンサ装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JP6581615B2 (ja) |
KR (1) | KR102104776B1 (ja) |
TW (1) | TWI670472B (ja) |
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EP3561526A1 (en) | 2018-04-24 | 2019-10-30 | ABLIC Inc. | Zero cross detection circuit and sensor device |
KR102695095B1 (ko) | 2018-04-24 | 2024-08-13 | 에이블릭 가부시키가이샤 | 제로크로스 검출 회로 및 센서 장치 |
CN116973816B (zh) * | 2023-09-21 | 2023-12-08 | 昂赛微电子(上海)有限公司 | 磁场过零检测控制电路及方法以及霍尔磁敏触发器芯片 |
CN116973816A (zh) * | 2023-09-21 | 2023-10-31 | 昂赛微电子(上海)有限公司 | 磁场过零检测控制电路及方法以及霍尔磁敏触发器芯片 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201805600A (zh) | 2018-02-16 |
TWI670472B (zh) | 2019-09-01 |
JP6899877B2 (ja) | 2021-07-07 |
KR20170131254A (ko) | 2017-11-29 |
JP2019200217A (ja) | 2019-11-21 |
JP6581615B2 (ja) | 2019-09-25 |
KR102104776B1 (ko) | 2020-04-27 |
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