JP2017211365A - ゼロクロス検出回路およびセンサ装置 - Google Patents

ゼロクロス検出回路およびセンサ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2017211365A
JP2017211365A JP2017059973A JP2017059973A JP2017211365A JP 2017211365 A JP2017211365 A JP 2017211365A JP 2017059973 A JP2017059973 A JP 2017059973A JP 2017059973 A JP2017059973 A JP 2017059973A JP 2017211365 A JP2017211365 A JP 2017211365A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
zero
circuit
output
comparison
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017059973A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6581615B2 (ja
Inventor
稔 有山
Minoru Ariyama
稔 有山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ablic Inc
Original Assignee
Ablic Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ablic Inc filed Critical Ablic Inc
Priority to TW106116060A priority Critical patent/TWI670472B/zh
Priority to KR1020170061433A priority patent/KR102104776B1/ko
Priority to US15/598,755 priority patent/US20170336445A1/en
Priority to CN201710356730.9A priority patent/CN107402322B/zh
Publication of JP2017211365A publication Critical patent/JP2017211365A/ja
Priority to JP2019157825A priority patent/JP6899877B2/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6581615B2 publication Critical patent/JP6581615B2/ja
Priority to US16/717,820 priority patent/US10852328B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/153Arrangements in which a pulse is delivered at the instant when a predetermined characteristic of an input signal is present or at a fixed time interval after this instant
    • H03K5/1536Zero-crossing detectors
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02PCONTROL OR REGULATION OF ELECTRIC MOTORS, ELECTRIC GENERATORS OR DYNAMO-ELECTRIC CONVERTERS; CONTROLLING TRANSFORMERS, REACTORS OR CHOKE COILS
    • H02P6/00Arrangements for controlling synchronous motors or other dynamo-electric motors using electronic commutation dependent on the rotor position; Electronic commutators therefor
    • H02P6/14Electronic commutators
    • H02P6/16Circuit arrangements for detecting position
    • H02P6/18Circuit arrangements for detecting position without separate position detecting elements
    • H02P6/182Circuit arrangements for detecting position without separate position detecting elements using back-emf in windings

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

【課題】ノイズの影響を受けず高精度にゼロクロスを検出することが出来るゼロクロス検出回路を提供する。【解決手段】第一比較回路とヒステリシス機能を有する第二比較回路と論理回路を備え、第一比較回路は第一入力信号と第二入力信号のゼロクロス検出結果を出力し、第二比較回路は第一入力信号と第二入力信号の比較結果を出力し、論理回路はゼロクロス検出結果と比較結果にもとづいてゼロクロス検出結果を出力に反映するかを決定する手段を備えた構成とした。【選択図】図1

Description

本発明は、ゼロクロス検出回路およびセンサ装置に関し、特にセンサ素子からの信号に基づいて正確にゼロクロス点を検出することができるゼロクロス検出回路に関する。
従来から様々なセンサ装置が電子機器に搭載され活用されている。一例としては、ブラシレスモーターの可動子の位置を検出するために、磁気センサ装置を使用している例が挙げられる。ブラシレスモーターは、円筒状のステータと、このステータの内周または外周に対向して設けられた円筒状のローターとで構成される。ローターは回転軸を中心としてステータに対して自在に回転する。ローターには界磁用の磁石が周方向に沿って配置されており、ステータのステータコアには巻線が巻回され、巻線に電流を流すことによって発生する磁界と、界磁用の磁石による磁界の相互作用によりローターが回転する。
ローターの回転を制御するためには、ローターの回転位置の検出が必要であり、位置検出の手段としては一般的には磁気センサ素子が使用される。磁気センサ素子によって、磁石のS極とN極の切り替わり、すなわちゼロクロスの位置を検出することにより、ローターの回転位置を検出している。ゼロクロス検出においては、ゼロクロス近傍でのチャタリングを防止するためにヒステリシス特性を持たせた方法が各種検討されている。しかし、このヒステリシスの影響により、本来のゼロクロス位置とセンサ信号により検出したゼロクロス検出位置にずれが生じてしまい、モーターの効率の低下、回転ムラや振動の発生といった問題が発生する。従って、ゼロクロス近傍でチャタリングが発生しなく、かつ出力がヒステリシス特性を持たないゼロクロス検出回路が求められている。
従来のゼロクロス検出回路の一例の回路図を図12に示す。従来のゼロクロス検出回路は、被検出信号Sを反転入力端子に入力して、ゼロクロス検出信号faとして出力する演算増幅器50と、ゼロクロス検出信号faにより被検出信号Sに対してゼロクロス検出直後に正負逆レベルとするとともに順次レベル変化して所定時間後にゼロレベルとする比較信号hを作成して演算増幅器50の反転入力端子に加える比較信号作成回路51とから構成されている。比較信号作成回路51は、抵抗R10、R11および容量Caからなり、時定数T=(R10+R11)・Caが設定されている。
このように構成された従来のゼロクロス検出回路の動作を図13に示す。被検出信号Sが演算増幅器50の反転入力端子に加わると、演算増幅器50は被検出信号Sと比較信号hとの各レベルを比較して、この比較結果であるゼロクロス検出信号faを出力する。時刻t1においては、被検出信号Sは正側レベル、比較信号hは負側レベルであり、演算増幅器50はローレベルのゼロクロス検出信号faを出力する。この状態から時刻が経過し、比較信号hが時定数Tに従ってレベル変化してゼロレベルとなり、時刻t2において被検出信号Sがゼロクロスすると、演算増幅器50の非反転入力端子の電圧は正側のレベルからゼロレベルとなり、さらに負側レベルと変化する。これにより演算増幅器50から出力されるゼロクロス検出信号faは時刻t2においてハイレベルに反転する。このとき、コンデンサCaにはハイレベルのゼロクロス検出信号fa、つまり+Vddが加わるので、このコンデンサCaの他端には+2Vddなる電圧Cが現われる。この電圧Cが抵抗R10とR11により分圧されて比較信号hとして演算増幅器50の非反転入力端子に供給される。従って、時刻t2の直後は、負側レベルに変化した被検出信号Sと正側レベルとなった比較信号hが演算増幅器50で比較される。これにより、ゼロクロス付近で被検出信号Sにノイズnsが乗って強制的にゼロクロスしたとしても、比較信号作成回路51の作用により、被検出信号Sに対して比較信号hのレベルが正負逆レベルとなるように動作するため、演算増幅器50から出力されるゼロクロス検出信号faはノイズnsによって反転せず、ゼロクロスの誤検出は発生しない。この後、比較信号hは時定数Tに従ってそのレベルが緩慢に低下して、次のゼロクロス時刻t3になる以前にゼロレベルに達する。時刻t3になって再び被検出信号Sがゼロクロスすると、演算増幅器50から出力されるゼロクロス検出信号faは反転してローレベルとなる。このとき、時刻コンデンサCaにはローレベルのゼロクロス検出信号fa、つまり電圧−Vddが加わるので、コンデンサCaの他端には−2Vddなる電圧Cが現われる。この電圧Cが抵抗R10とR11により分圧され比較信号hとして演算増幅器50の非反転入力端子に供給される。以上の動作が被検出信号の正負レベルの変化毎に行なわれてゼロクロス検出信号faが出力される。従って、ノイズによるゼロクロスが発生したとしても、誤検出すなわちチャタリングが発生することのない、ゼロクロス検出信号が実現されていた。
特開昭63−75670号公報
しかしながら、従来のゼロクロス検出回路においては、上述のとおり、抵抗と容量による時定数Tで決まる時間の間のみ、ノイズによるゼロクロスの影響を除去するように構成されており、時定数Tによって決まる時間よりも短い時間で被検出信号Sがゼロクロスを繰り返す場合には、被検出信号Sのゼロクロス点を検出できないという課題があった。これにより、例えばブラシレスモーターでの使用においては、高速回転への要求に対応できず、ゼロクロス検出回路によってブラシレスモーターの回転速度が律速されてしまうという課題があった。また、時定数Tが短くなるように抵抗と容量の値を選択すると、ノイズを除去できなくなるという課題があった。これにより、例えばブラシレスモーターにおいては、ノイズによってゼロクロス検出回路が誤出力し、正確な回転制御ができなくなるという課題があった。
従来のこのような問題点を解決するために、本発明のゼロクロス検出回路は以下のような構成とした。
第一入力信号と第二入力信号が入力される第一比較回路と、第一入力信号と第二入力信号が入力されヒステリシス機能を有する第二比較回路と、論理回路を備え、第一比較回路は第一入力信号と第二入力信号のゼロクロス検出結果を出力し、第二比較回路は第一入力信号と第二入力信号の比較結果を出力し、論理回路はゼロクロス検出結果と比較結果にもとづいて出力を決定する手段を備えた構成とした。
本発明のゼロクスロス検出回路によれば、入力された信号が正から負へ、また負から正へ切り替わるゼロクロス点を高精度に検出することが可能であり、かつノイズによるゼロクロスの影響の除去が可能であり、かつゼロクロス検出回路を比較的小さな回路規模で簡便な構成で実現することが可能になる。例に挙げたブラシレスモーターのみならず、センサ出力など一般的な信号のゼロクロス点検出に広く応用できる。
第1の実施形態のゼロクロス検出回路の回路図である。 第1の実施形態のゼロクロス検出回路の各要素の動作を示す図である。 第1の実施形態のゼロクロス検出回路の動作を示す図である。 第1の実施形態のゼロクロス検出回路の他の一例である。 第1の実施形態のゼロクロス検出回路の他の一例の各要素の動作を示す図である。 第2の実施形態のゼロクロス検出回路の回路図である。 第3の実施形態のゼロクロス検出回路の回路図である。 第1の実施形態のゼロクロス検出回路を磁気センサ装置に応用した第1の応用例の回路図である。 第1の実施形態のゼロクロス検出回路を磁気センサ装置に応用した第2の応用例の回路図である。 第2の実施形態のゼロクロス検出回路を磁気センサ装置に応用した第3の応用例の回路図である。 第3の実施形態のゼロクロス検出回路を磁気センサ装置に応用した第4の応用例の回路図である。 従来のゼロクロス検出回路の回路図である。 従来のゼロクロス検出回路の動作を示す図である。
本発明のゼロクロス検出回路は、半導体回路におけるゼロクロス検出回路として幅広く利用されうる。以下、本発明のゼロクロス検出回路について図面を参照して説明する。
<第1の実施形態>
図1は、第1の実施形態のゼロクロス検出回路の回路図である。第1の実施形態のゼロクロス検出回路は、比較回路10と比較回路11と論理回路20で構成されている。
比較回路10は、2つの入力端子と1つの出力端子とを有し、詳しくは、反転入力端子と非反転入力端子と出力端子out0を有する。また、比較回路11は、2つの入力端子と1つの出力端子とを有し、詳しくは、反転入力端子と非反転入力端子と出力端子out1を有する。比較回路10の反転入力端子と比較回路11の反転入力端子は入力端子N1で共通に接続される。比較回路10の非反転入力端子と比較回路11の非反転入力端子は入力端子N2で共通に接続される。入力端子N1と入力端子N2には、それぞれ第一入力信号と第二入力信号が供給される。比較回路10の出力端子out0と比較回路11の出力端子out1は論理回路20に接続される。論理回路20は出力端子out0の信号と出力端子out1の信号を入力とし、出力端子outから論理演算結果を出力する。以降の説明では、入力端子N1、入力端子N2、出力端子out0、出力端子out1、出力端子outの各電圧をそれぞれ入力電圧Vn1、入力電圧Vn2、出力電圧Vout0、出力電圧Vout1、出力電圧Voutとする。
次に、第1の実施形態のゼロクロス検出回路の動作を図2および図3を用いて説明する。
まず、比較回路10の動作を説明する。比較回路10は、非反転入力端子に供給される電圧が反転入力端子に供給される電圧よりも高いときは出力端子out0からハイレベルを出力し、これとは逆に、非反転入力端子に供給される電圧が反転入力端子に供給される電圧よりも低いときは、出力端子out0からローレベルを出力するように動作する。この動作の詳細を図2(a)に示す。ここで横軸は入力電圧Vn1とVn2の入力電圧差を示し、縦軸は各々の出力電圧を示す。図2(a)に示すように、出力電圧Vout0は、入力電圧Vn2が入力電圧Vn1よりも高いとき、すなわち、Vn2−Vn1>0であるときはハイレベルを出力する。これとは逆に、入力電圧Vn2が入力電圧Vn1よりも低いとき、すなわち、Vn2−Vn1<0であるときはローレベルを出力する。出力電圧Vout0のハイレベルからローレベルへの遷移は、Vn2−Vn1=0で行われる。また、出力電圧Vout0のローレベルからハイレベルへの遷移は、同様にVn2−Vn1=0で行われる。
また、入力電圧差Vn2−Vn1が時間変化した場合の比較回路10の動作を図3(a)および図3(b)に示す。ここで横軸は時間経過を示し、縦軸は入力電圧差または出力電圧を示す。図3(a)は入力電圧差Vn2−Vn1が時間によって変化する様子を示す。入力電圧差Vn2−Vn1は時間変化に伴って様々な値を取りうる。特に、Vn2−Vn1=0となるときをゼロクロスと表現している。図3(b)は入力電圧差Vn2−Vn1の時間変化に伴って出力電圧Vout0が変化する様子を示している。図3(b)に示すように、出力電圧Vout0は、Vn2−Vn1>0のときはハイレベルを出力し、Vn2−Vn1<0のときはローレベルを出力する。Vn2−Vn1=0のとき、すなわち、Vn1=Vn2のときに出力電圧Vout0はゼロクロス検出する。
次に、比較回路11の動作を説明する。比較回路11は、非反転入力端子に供給される電圧が反転入力端子に供給される電圧と電圧Vth1の和よりも高いときは出力端子out1からハイレベルを出力し、これとは逆に、非反転入力端子に供給される電圧が反転入力端子に供給される電圧と電圧Vth2の和よりも低いときは、出力端子out1からローレベルを出力するように動作する。この動作の詳細を図2(b)に示す。図2(b)に示すように、出力電圧Vout1は、入力電圧Vn2が入力電圧Vn1と電圧Vth1の和よりも高いとき、すなわち、Vn2−Vn1>Vth1であるときはハイレベルを出力し、入力電圧Vn2が入力電圧Vn1と電圧Vth2の和よりも低いとき、すなわち、Vn2−Vn1<Vth2であるときはローレベルを出力する。ここで、電圧Vth1は正の値でプラス側のヒステリシス値を表し、電圧Vth2は負の値でマイナス側のヒステリシス値を表す。出力電圧Vout1のハイレベルからローレベルへの遷移は、Vn2−Vn1=Vth2で行われる。また、出力電圧Vout1のローレベルからハイレベルへの遷移は、Vn2−Vn1=Vth1で行われる。Vn2−Vn1がVth1とVth2の間であるときには、直前の状態に応じてハイレベルまたはローレベルを出力する。すなわち、比較回路11は、ヒステリシス幅|Vth1|+|Vth2|を有する比較回路として動作する。
また、入力電圧差Vn2−Vn1が時間変化した場合の比較回路11の動作を図3(a)および図3(c)に示す。図3(c)は、図3(a)に示す入力電圧差Vn2−Vn1の時間変化に伴って出力電圧Vout1が変化する様子を示している。時刻t1のとき、すなわちVn2−Vn1>Vth1のときに出力電圧Vout1はハイレベルを出力し、その後の時間経過後もハイレベルを維持し、Vn2−Vn1の減少に伴い、Vn2−Vn1<Vth2となったときにハイレベルからローレベルの出力に遷移し、その後の時間経過後もローレベルを維持し、Vn2−Vn1の増加に伴い、Vn2−Vn1>Vth1となったときにローレベルからハイレベルに遷移する。
次に、論理回路20の動作を説明する。論理回路20は、出力電圧Vout0と出力電圧Vout1の論理状態に応じて出力電圧Voutの論理を決定するように動作する。より詳しくは、論理回路20は、Vout1がハイレベルであるときには、Vout0のハイレベルからローレベルの遷移によってVoutをハイレベルからローレベルに遷移させる。Voutが元々ローレベルであればVoutは変化しない。Vout0のローレベルからハイレベルの遷移によってVoutは変化しない。また、Vout1がローレベルであるときには、Vout0のローレベルからハイレベルの遷移によってVoutをローレベルからはハイレベルに遷移させる。Voutが元々ハイレベルであればVoutは変化しない。Vout0のハイレベルからローレベルの遷移によってVoutは変化しない。以上の動作を、図3を用いて説明する。
前述のとおり、図3(a)、(b)、(c)は、それぞれ入力電圧差Vn2−Vn1、出力電圧Vout0、出力電圧Vout1の時間変化を表している。図3(d)は出力電圧Voutの時間変化を表している。
図3(a)〜(d)において、時刻t1のとき、出力電圧Vout0と出力電圧Vout1はハイレベルである。その後、時間が経過してVn2−Vn1が減少し、ゼロクロスしたときにVout0はハイレベルからローレベルに遷移する。このとき、Vout1はハイレベルであるから、論理回路20は、Vout0のハイレベルからローレベルのゼロクロスの検出をVoutに出力する。その後、時間が経過し、Vn2−Vn1<Vth2となると、Vout1はハイレベルからローレベルに遷移する。その後、時間が経過してVn2−Vn1が増加し、ゼロクロスしたときにVout0はローレベルからハイレベルに遷移する。このとき、Vout1はローレベルであるから、論理回路20は、Vout0のローレベルからハイレベルのゼロクロスの検出をVoutに出力する。その後、時間が経過し、Vn2−Vn1>Vth1となると、Vout1はローレベルからハイレベルに遷移する。さらにその後、時間が経過し時刻t2のときには、時刻t1と同じ状態になる。
時刻t2のとき、出力電圧Vout0と出力電圧Vout1はハイレベルである。その後、時間が経過してVn2−Vn1が減少し、ゼロクロスしたときにVout0はハイレベルからローレベルに遷移する。このとき、Vout1はハイレベルであるから、論理回路20は、Vout0のハイレベルからローレベルのゼロクロスの検出をVoutに出力する。その後、時間が経過し、ノイズnsによってVn2−Vn1は2回ゼロクロスし、出力電圧Vout0は、ローレベルからハイレベルに遷移した後、さらにローレベルに遷移する。このとき、Vout1はハイレベルであるから、論理回路20はVout0のローレベルからハイレベルの遷移をVoutに出力しないように動作する。従って、ノイズによるゼロクロス検出は出力端子outには現れない。さらに時間が経過し、Vn2−Vn1<Vth2となると、Vout1はハイレベルからローレベルに遷移する。その後、時間が経過してVn2−Vn1が増加し、ゼロクロスしたときにVout0はローレベルからハイレベルに遷移する。このとき、Vout1はローレベルであるから、論理回路20は、Vout0のローレベルからハイレベルのゼロクロスの検出をVoutに出力する。その後、時間が経過し、ノイズnsによってVn2−Vn1は2回ゼロクロスし、出力電圧Vout0は、ハイレベルからローレベルに遷移した後、さらにハイレベルに遷移する。このとき、Vout1はローレベルであるから、Vout0のハイレベルからローレベルの遷移をVoutに出力しないように動作する。従って、ノイズによるゼロクロス検出は出力端子outには現れない。その後、時間が経過し、Vn2−Vn1>Vth1となると、Vout1はローレベルからハイレベルに遷移する。さらにその後、時間が経過し時刻t3のときには、時刻t1および時刻2と同じ状態になる。
以上により、第1の実施形態のゼロクロス検出回路の動作を説明し、ゼロクロス検出を行うと共に、ノイズによるゼロクロスの影響を除去することができ、高精度なゼロクロス検出結果を簡便な回路構成にて得ることが可能であることを示した。本実施形態のゼロクロス検出回路をブラシレスモーターで使用すれば、高速回転への要求に対応が可能となる。従来、高速化に対応すると課題であったノイズによる誤出力も発生せず正確な回転制御ができるようになる。
本説明においては、電圧Vth1と電圧Vth2を比較回路11のヒステリシス電圧として説明したが、比較回路11を図4の回路図および図5の動作図に示すように、比較回路12と比較回路13に分割し、比較回路12でVn2−Vn1が電圧Vth1より大きいか小さいかを判別し、比較回路13でVn2−Vn1が電圧Vth2より大きいか小さいかを判別するようにしてもよい。ここで、図5(a)は比較回路10の動作を表し、図5(b)は比較回路12の動作を表し、図5(c)は比較回路13の動作を表し、図5(d)は論理回路20の動作を表している。
<第2の実施形態>
図6は、第2の実施形態のゼロクロス検出回路の回路図である。図1に示した第1の実施形態との違いは、比較回路10と比較回路11を削除して比較回路14を追加し、比較回路14と論理回路20の間にラッチ回路30を追加した点である。追加した要素は次のように構成され、接続される。また削除した要素により次の接続が第1の実施形態と異なる。
比較回路14は、2つの入力端子と1つの出力端子と1つの制御端子HCとを有する。詳しくは、反転入力端子と非反転入力端子と出力端子out4とヒステリシス制御端子HCとを有する。比較回路14の反転入力端子は入力端子N1に接続され、比較回路14の非反転入力端子は入力端子N2に接続される。比較回路14のヒステリシス制御端子HCは、ヒステリシス制御端子へ入力する制御信号により比較回路14のヒステリシス電圧を調整する。ヒステリシス制御端子HCの制御回路は図示しない。比較回路14の出力端子out4はラッチ回路30に接続される。ラッチ回路30は、ラッチLT1、LT2、LT3で構成され、出力端子out4はラッチLT1、LT2、LT3のデータ入力端子Dに接続される。ラッチLT1、LT2、LT3のデータ出力端子Qはそれぞれ出力端子out0、出力端子out2、出力端子out3であり、図4に示した第1の実施形態と同様に論理回路20に接続される。ラッチLT1、LT2、LT3はクロック端子Cを備え、それぞれクロック信号CK1、CK2、CK3によりデータ入力端子Dに入力されるデータをラッチしてデータ出力端子Qに出力する。クロック信号CK1、CK2、CK3の制御回路は図示しない。この他の接続および構成については、第1の実施形態と同じである。以降の説明では、出力端子out4の電圧を出力電圧Vout4とする。
次に、第2の実施形態のゼロクロス検出回路の動作を説明する。
比較回路14は、第1の実施形態の比較回路10と比較回路11の動作をヒステリシス制御端子HCへ入力する制御信号よって時分割で行うように動作する。すなわち、電圧Vth1と電圧Vth2がゼロになるように比較回路14を制御すると、比較回路14は比較回路10と同様に動作し、電圧Vth1と電圧Vth2がゼロにならないように制御すると、比較回路14は比較回路12または比較回路13と同様に動作する。このような動作をする比較回路については周知の技術であるため説明を省略する。比較回路14が比較回路10と同様に制御された状態で、クロック信号CK1により比較回路14の出力電圧Vout4をラッチLT1でラッチすると、出力電圧Vout0は、図5(a)および図3(b)で示したVout0と同様の出力電圧となる。比較回路14が比較回路12、比較回路13と同様に制御された状態で、クロック信号CK2、CK3により比較回路14の出力電圧Vout4をラッチLT2、LT3でラッチすると、出力電圧Vout1は、図5(b)、(c)および図3(c)で示したVout1と同様の出力電圧となる。論理回路20の動作は第1の実施形態と同様であり、出力電圧Voutは、ゼロクロス検出を行うと共に、ノイズによるゼロクロスの影響を除去することが可能である。
第2の実施形態では、比較回路14を時分割動作させるため、第1の実施形態に対して動作速度が遅くなるが、比較回路の数が減ることで回路規模が小さくなるという利点を有する。
以上により、第2の実施形態のゼロクロス検出回路の動作を説明し、第1の実施形態と同様に、ゼロクロス検出を行うと共に、ノイズによるゼロクロスの影響を除去することができ、高精度なゼロクロス検出結果を簡便な回路構成にて得ることが可能であることを示した。
<第3の実施形態>
図7は、第3の実施形態のゼロクロス検出回路の回路図である。図6に示した第2の実施形態との違いは、比較回路14を削除して比較回路15を追加し、入力端子N2と比較回路15の非反転入力端子の間にヒステリシス発生回路40を追加した点である。追加した要素は次のように構成され、接続される。また削除した要素により次の接続が第2の実施形態と異なる。
比較回路15は、2つの入力端子と1つの出力端子とを有し、詳しくは、反転入力端子と非反転入力端子と出力端子out5を有する。比較回路15の反転入力端子は入力端子N1に接続され、比較回路15の非反転入力端子はヒステリシス発生回路40の出力端子に接続される。ヒステリシス発生回路40の入力端子には入力端子N2が接続される。比較回路15の出力端子out5はラッチ回路30に接続される。ヒステリシス発生回路40はヒステリシス制御端子HCを備え、制御信号によりヒステリシス電圧を調整する。ヒステリシス制御端子HCの制御回路は図示しない。この他の接続および構成については、第2の実施形態と同じである。以降の説明では、比較回路15の非反転入力端子とヒステリシス発生回路40の出力端子との接続点をN2’とし、接続点N2’の電圧をVn2’、出力端子out5の電圧を出力電圧Vout5とする。
次に、第3の実施形態のゼロクロス検出回路の動作を説明する。
比較回路15は、第1の実施形態の比較回路10と同様に動作する。すなわち、比較回路15は、非反転入力端子に供給される電圧が反転入力端子に供給される電圧よりも高いときは出力端子out5からハイレベルを出力し、これとは逆に、非反転入力端子に供給される電圧が反転入力端子に供給される電圧よりも低いときは、出力端子out5からローレベルを出力するように動作する。ヒステリシス発生回路40は、ヒステリシス制御端子HCの制御状態によって、入力電圧をそのまま出力するか、正の値である電圧Vth1を加算して出力するか、負の値である電圧Vth2を加算して出力するかを切替えるように動作する。すなわち、ヒステリシス発生回路40の出力電圧は、Vn2’=Vn2またはVn2’=Vn2+Vth1またはVn2’=Vn2+Vth2のいずれかになるように制御される。このような動作をするヒステリシス発生回路については周知の技術であり、例えば、抵抗および定電流源およびスイッチ素子によって実現可能である。
ヒステリシス発生回路40の出力電圧がVn2’=Vn2となるように制御された状態では、比較回路15は非反転入力端子に入力される電圧Vn2’=Vn2と反転入力端子に入力される電圧Vn1とを比較することになる。従って、第1の実施形態の比較回路10と同様の動作をすることになる。この制御状態でクロック信号CK1により比較回路15の出力電圧Vout5をラッチLT1でラッチすると、出力電圧Vout0は図5(a)および図3(b)で示したVout0と同様の出力電圧となる。
また、ヒステリシス発生回路40の出力電圧がVn2’=Vn2+Vth1となるように制御された状態では、比較回路15は非反転入力端子に入力される電圧Vn2’=Vn2+Vth1と反転入力端子に入力される電圧Vn1とを比較し、ヒステリシス発生回路40の出力電圧がVn2’=Vn2+Vth2となるように制御された状態では、比較回路15は非反転入力端子に入力される電圧Vn2’=Vn2+Vth2と反転入力端子に入力される電圧Vn1とを比較することになる。従って、第1の実施形態の比較回路12と13と同様の動作をすることになる。この制御状態でクロック信号CK2、CK3により比較回路15の出力電圧Vout5をラッチLT2、LT3でラッチすると、出力電圧Vout1は、図5(b)、(c)および図3(c)で示したVout1と同様の出力電圧となる。論理回路20の動作は第1および第2の実施形態と同様であり、出力電圧Voutは、ゼロクロス検出を行うと共に、ノイズによるゼロクロスの影響を除去することが可能である。
第3の実施形態では、ヒステリシス発生回路40を切替えて動作させるため、第2の実施形態と同様に第1の実施形態に対して動作速度が遅くなるが、比較回路の数が減ることで回路規模が小さくなるという利点を有する。
以上により、第3の実施形態のゼロクロス検出回路の動作を説明し、第1および第2の実施形態と同様に、ゼロクロス検出を行うと共に、ノイズによるゼロクロスの影響を除去することができ、高精度なゼロクロス検出結果を簡便な回路構成にて得ることが可能であることを示した。
本説明では、説明の便宜上、入力端子N2側に電圧を加算するようにしたが、入力端子N1側に電圧を加算するようにしてもよく、また入力端子N1と入力端子N2の両方に電圧を加算するようにしてもよい。
また、第2および第3の実施形態の説明においては、比較回路の出力電圧を保持する回路としてラッチ回路を示したが、データを取り込む動作を行う構成であれば、必ずしもこの構成に制限されるものではない。
また、第1、第2および第3実施形態の説明では、出力電圧Vout1のハイレベルまたはローレベルの論理状態によって、出力電圧Vout0を電圧Voutに出力するか否かを選択する動作を説明したが、必ずしもこの限りではなく、出力電圧Vout1の論理状態により、出力Vout0の変化タイミングで出力電圧Voutを制御するような動作にしてもよい。また、出力電圧Vout1がハイレベルの場合にはVout0のハイレベルからローレベルの遷移を1回のみVoutに出力し、出力電圧Vout1がローレベルの場合にはVout0のローレベルからハイレベルの遷移を1回のみVoutに出力するような動作にしてもよい。また、説明の便宜上、動作状態に応じて各出力電圧のハイレベルとローレベルを明記したが、ハイレベルとローレベルは逆でもよく、またハイレベルとローレベルの組合せが異なってもよい。また、本説明においては、電圧Vth1と電圧Vth2を比較回路のヒステリシス電圧として説明したが、本説明内で記載した比較回路の動作を行う構成であれば、必ずしもこの構成に制限されるものではない。一例としては、比較回路の内部にヒステリシス電圧を持つのではなく、基準電圧を比較回路に供給して、出力電圧Vout1の反転レベルを調整する構成にしてもよい。また、電圧Vth1と電圧Vth2については、図3(a)に示すように時間的に変化しない一定の電圧として説明したが、例えば電源電圧や温度等の周囲環境によってノイズの大きさが変わる場合には、電圧Vth1や電圧Vth2は一定の電圧ではなく、可変に制御してもよい。また、比較回路10のヒステリシス幅については特に言及せず、ゼロを前提として説明したが、実際の回路においては、非理想成分が存在するためにヒステリシス幅は必ずしもゼロにならず、微小な値を持つ場合がある。その場合でも、本発明の効果が損なわれることは無い。また実回路においては、電源電圧の変動等によるノイズを除去するために、比較回路10にごく小さな振幅のヒステリシス機能を持たせても良く、または時間的なヒステリシス機能を設けても良く、または比較回路10の出力を複数回サンプリングすることによってデジタル的なフィルタを設けても良い。また、本説明では、説明の便宜上、入力信号として特に電圧に着目して説明したが、入力信号は電流であっても良いことは明らかである。
<本発明のゼロクロス検出回路の応用例>
図8は、本発明の第1の実施形態のゼロクロス検出回路を磁気センサ装置に応用した第1の応用例の回路図である。磁電変換素子であるホール素子1aの信号は、端子Baと端子Daから差動増幅器2aに入力され、差動増幅器2aはこれを増幅し、差動増幅器2aの出力は本発明のゼロクロス検出回路の入力端子N1、入力端子N2に接続される。ここで、端子Baと端子Daの電圧をそれぞれVBa、VDaとし、ホール素子1aの信号電圧をVDa−VBaとし、差動増幅器2aの増幅率をGとする。
ホール素子1aの信号電圧VDa−VBaは、ホール素子1aに流れる電流の向きと、印加される磁界の向きによりフレミング左手の法則に従って、その大きさと符号が変化する。仮に紙面の手前から奥の方向に磁界が印加された場合の信号電圧VDa−VBaの符号が正とすると、紙面の奥から手前の方向に磁界が印加された場合には信号電圧VDa−VBaの符号が負となる。また、印加される磁界が大きいほど、信号電圧VDa−VBaの大きさは大きくなる。また、ホール素子1aのオフセット電圧がゼロである理想的な場合には、ホール素子1aに印加される磁界がゼロである場合の信号電圧VDa−VBaはゼロとなる。ホール素子1aの信号電圧は差動増幅器2aにより増幅され
Vn2−Vn1=G×(VDa−VBa)・・・(1)
となる。従って、Vn2−Vn1はホール素子1aに印加される磁界に応じて、正または負またはゼロの値をとる。すなわち、本発明の第1の実施形態のゼロクロス検出回路の動作により、ホール素子1aに印加される磁界のゼロクロス点を、ノイズによって誤動作することなく、高精度に検出することが可能になる。別の表現をすると、本発明の第1の実施形態のゼロクロス検出回路を搭載したセンサ装置と磁石との相対的な位置関係を検出する用途において、相対位置の変化によってセンサ装置に印加される磁界がS極からN極に切り替わる点、またはN極からS極に切り替わる点を高精度に検出することが可能になる。従って本発明の応用例は、ローターの回転位置を高精度に検出する必要があるブラシレスモーターでの使用やエンコーダでの使用に好適である。高速回転への要求に対応が可能となり、従来高速化に対応すると課題であったノイズによる誤出力も発生せず正確な回転制御ができるようになる。
図9は、本発明の第1の実施形態のゼロクロス検出回路を磁気センサ装置に応用した第2の応用例の回路図である。ホール素子1bと差動増幅回路2bの接続の構成は、第1の応用例のホール素子1aと差動増幅回路2aの接続の構成と同様である。またホール素子1cと差動増幅回路2cの接続の構成も、第1の応用例のホール素子1aと差動増幅回路2aの接続の構成と同様である。差動増幅回路2bおよび2cは差動増幅回路2aが差動出力であるのに対して、シングルエンドで出力する。磁電変換素子であるホール素子1bの信号は、端子Bbと端子Dbから差動増幅器2bに入力され、差動増幅器2bはこれを増幅し、差動増幅器2bの出力は本発明のゼロクロス検出回路の入力端子N1に接続される。また、磁電変換素子であるホール素子1cの信号は、端子Bcと端子Dcから差動増幅器2cに入力され、差動増幅器2cはこれを増幅し、差動増幅器2cの出力は本発明のゼロクロス検出回路の入力端子N2に接続される。ここで、端子Bb、Db、Bc、Dcの各電圧をそれぞれVBb、VDb、VBc、VDcとし、ホール素子1bおよび1cの信号電圧をそれぞれVDb−VBb、VDc−VBcとし、差動増幅器2bおよび2cの増幅率をともにGとする。すると、入力端子N1に供給される入力電圧Vn1と入力端子N2に供給される入力電圧Vn2は次のようになる。
Vn1=G×(VDb−VBb)・・・(2)
Vn2=G×(VDc−VBc)・・・(3)
式(2)と式(3)から次式を得る。
Vn2−Vn1=G×{(VDc−VBc)−(VDb−VBb)}・・・(4)
従って、Vn2−Vn1はホール素子1bとホール素子1cに印加される磁界に応じて、正または負またはゼロの値をとる。すなわち、本発明の第1の実施形態のゼロクロス検出回路の動作により、ホール素子1bとホール素子1cに印加される磁界の差のゼロクロス点を、ノイズによって誤動作することなく、高精度に検出することが可能になる。すなわち、2つのセンサ素子の信号が等しい場合にはゼロクロス検出を出力し、2つのセンサ素子のどちらの信号が大きいかを弁別して出力することが可能になる。本応用例は、例えば、バイアス磁界を発生する磁石と、鉄などの金属や磁性体で構成された歯車の間に磁気センサ装置を配置し、歯車の回転を磁気センサ装置で検出する用途で好適である。
本説明では、説明の便宜上、差動増幅回路2bおよび2cはシングルエンドで出力するとしたが、ノイズ耐性の向上を図るために差動出力としても良い。また、ホール素子が2つの場合を説明したが、2つより多くても良い。例えば、2つのホール素子の差分信号1と、これとは別の2つのホール素子の差分信号2を生成し、差分信号1と差分信号2のゼロクロスを検出するようにしても良い。
図10は、本発明の第2の実施形態のゼロクロス検出回路を磁気センサ装置に応用した第3の応用例の回路図である。ホール素子1aと差動増幅回路2aの接続の構成は、第1の応用例のホール素子1aと差動増幅回路2aの接続の構成と同様である。磁電変換素子であるホール素子1aの信号は、端子Baと端子Daから差動増幅器2aに入力され、差動増幅器2aはこれを増幅し、差動増幅器2aの出力は本発明のゼロクロス検出回路の入力端子N1、入力端子N2に接続される。第1の応用例の場合と同様に、Vn2−Vn1はホール素子1aに印加される磁界に応じて、正または負またはゼロの値をとる。すなわち、本発明の第2の実施形態のゼロクロス検出回路の動作により、ホール素子1aに印加される磁界のゼロクロス点を、ノイズによって誤動作することなく、高精度に検出することが可能になる。
図11は、本発明の第3の実施形態のゼロクロス検出回路を磁気センサ装置に応用した第4の応用例の回路図である。図10の第3の応用例との違いは、第2の実施形態の換わりに第3の実施形態を適用した点であり、具体的には、比較回路14を削除して比較回路15を追加し、入力端子N2と比較回路15の非反転入力端子の間にヒステリシス発生回路40を追加した点である。ヒステリシス発生回路40のヒステリシス制御端子HCは省略している。この他の接続および構成については、第3の応用例と同じである。
磁電変換素子であるホール素子1aの信号は、端子Baと端子Daから差動増幅器2aに入力され、差動増幅器2aはこれを増幅し、差動増幅器2aの出力は本発明のゼロクロス検出回路の入力端子N1、入力端子N2に接続される。第1および第2の応用例の場合と同様に、Vn2−Vn1はホール素子1aに印加される磁界に応じて、正または負またはゼロの値をとる。すなわち、本発明の第3の実施形態のゼロクロス検出回路の動作により、ホール素子1aに印加される磁界のゼロクロス点を、ノイズによって誤動作することなく、高精度に検出することが可能になる。
本説明では、説明の便宜上、差動増幅器2aと比較回路15の間にヒステリシス発生回路40を接続したが、より信号源に近い側にヒステリシス発生回路40を接続しても良い。具体的には、ホール素子1aと差動増幅器2aの間にヒステリシス発生回路40を接続しても良い。一般的に、ホール素子は抵抗成分を有するため、ヒステリシス発生回路40に抵抗が不要になる。そのため、ヒステリシス発生回路40は、一例としては定電流源とスイッチ素子のみで構成可能となり、小型化に寄与する上に、定電流の値をホール素子の抵抗値と連動させることで、温度による特性シフトを小さくできるなどの利点を有する。
図8〜11に本発明のゼロクロス検出回路を磁気センサ装置に応用した例を示した。本説明においては、説明のために具体的な例を示したが、必ずしもこの構成やセンサ素子に制限されるものではなく、広範な半導体回路およびセンサ回路において応用可能である。これは第1、第2、第3の実施形態のゼロクロス検出回路の場合についても同様である。一例としては、磁電変換素子であるホール素子の非理想成分であるオフセット電圧をキャンセルするスピニングカレント回路と組み合わせてもよく、また差動増幅器や比較回路の非理想成分であるオフセット電圧をキャンセルするチョッピング動作またはオートゼロ動作の回路等と組み合わせてもよい。ここで、スピニングカレント回路やチョッピング動作またはオートゼロ動作の回路等と組み合せた場合は、連続時間の信号処理ではなく離散時間の信号処理となるため、比較回路10〜15のそれぞれの出力を組み合わせ回路によって演算して出力端子outから出力するのは好ましくない。第2または第3の実施形態で示すように、ラッチ回路等の順序回路と組み合わせるのが好適である。また磁電変換素子以外にも、温度センサ素子、加速度センサ素子、圧力センサ素子といったセンサ素子のゼロクロス検出回路としても良い。
10、11、12、13、14、15 比較回路
20 論理回路
30 ラッチ回路
40 ヒステリシス発生回路
1a、1b、1c ホール素子
2a、2b、2c 差動増幅回路

Claims (10)

  1. 第一入力信号と第二入力信号が入力される第一比較回路と、
    前記第一入力信号と前記第二入力信号が入力され、ヒステリシス機能を有する第二比較回路と、
    論理回路と、を備え、
    前記第一比較回路は、前記第一入力信号と前記第二入力信号の第一比較結果を出力し、
    前記第二比較回路は、前記第一入力信号と前記第二入力信号の第二比較結果を出力し、
    前記論理回路は、前記第二比較結果にもとづいて前記第一比較結果を出力に反映するかを決定する手段を備えたことを特徴とするゼロクロス検出回路。
  2. 前記第二比較結果が第一レベルで前記論理回路の出力が第一出力レベルのとき、前記第一比較結果の第一レベルから第二レベルへの遷移によって前記論理回路の出力が第二出力レベルへ遷移し、
    前記第二比較結果が第二レベルで前記論理回路の出力が第二出力レベルのとき、前記第一比較結果の第二レベルから第一レベルへの遷移によって前記論理回路の出力が第一出力レベルへ遷移し、
    前記2つの条件以外では前記論理回路の出力が変化しないことを特徴とする請求項1に記載のゼロクロス検出回路。
  3. 前記第一比較回路が有するヒステリシス幅は、前記第二比較回路が備える前記ヒステリシス機能の有するヒステリシス幅よりも小さいことを特徴とする請求項1に記載のゼロクロス検出回路。
  4. 前記第一比較回路と前記第二比較回路は、同一の比較回路で構成され、
    前記第一比較回路と前記第二比較回路の動作状態を切り替える手段を備えたことを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載のゼロクロス検出回路。
  5. 前記第一比較回路と前記第二比較回路は、同一の比較回路で構成され、
    前記第一入力信号と前記第二入力信号の一方もしくは両方の信号に、加算する電圧を切り替えられる電圧加算手段を備えたことを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載のゼロクロス検出回路。
  6. 第一入力信号と第二入力信号との大小を示す第一比較結果信号と、
    前記第一入力信号と前記第二入力信号との差分が所定値よりも大きいか小さいかを示す第二比較結果信号と、を備え、
    前記第二比較結果信号にもとづいて前記第一比較結果信号にもとづく信号を出力信号に出力することを特徴とするゼロクロス検出回路。
  7. 前記第一入力信号および前記第二入力信号は電圧であることを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載のゼロクロス検出回路。
  8. 前記第一入力信号および前記第二入力信号は電流であることを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載のゼロクロス検出回路。
  9. 印加される物理量の強度に応じて信号を出力するセンサ素子と、
    前記センサ素子の出力する信号のゼロクロス検出を行う請求項1から8のいずれかに記載のゼロクロス検出回路と、
    を備えたことを特徴とするセンサ装置。
  10. 前記第一入力信号が第一センサ素子の出力信号であり、
    前記第二入力信号が第二センサ素子の出力信号であることを特徴とする、
    請求項9に記載のセンサ装置。

JP2017059973A 2016-05-20 2017-03-24 ゼロクロス検出回路およびセンサ装置 Active JP6581615B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW106116060A TWI670472B (zh) 2016-05-20 2017-05-16 零交越檢測電路以及感測裝置
KR1020170061433A KR102104776B1 (ko) 2016-05-20 2017-05-18 제로크로스 검출 회로 및 센서 장치
US15/598,755 US20170336445A1 (en) 2016-05-20 2017-05-18 Zero-crossing detection circuit and sensor device
CN201710356730.9A CN107402322B (zh) 2016-05-20 2017-05-19 零交检测电路及传感器装置
JP2019157825A JP6899877B2 (ja) 2016-05-20 2019-08-30 ゼロクロス検出回路およびセンサ装置
US16/717,820 US10852328B2 (en) 2016-05-20 2019-12-17 Zero-crossing detection circuit and sensor device

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016101236 2016-05-20
JP2016101236 2016-05-20

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019157825A Division JP6899877B2 (ja) 2016-05-20 2019-08-30 ゼロクロス検出回路およびセンサ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017211365A true JP2017211365A (ja) 2017-11-30
JP6581615B2 JP6581615B2 (ja) 2019-09-25

Family

ID=60476735

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017059973A Active JP6581615B2 (ja) 2016-05-20 2017-03-24 ゼロクロス検出回路およびセンサ装置
JP2019157825A Active JP6899877B2 (ja) 2016-05-20 2019-08-30 ゼロクロス検出回路およびセンサ装置

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019157825A Active JP6899877B2 (ja) 2016-05-20 2019-08-30 ゼロクロス検出回路およびセンサ装置

Country Status (3)

Country Link
JP (2) JP6581615B2 (ja)
KR (1) KR102104776B1 (ja)
TW (1) TWI670472B (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019026706A1 (ja) * 2017-07-31 2019-02-07 ローム株式会社 ゼロクロス検出回路
EP3561526A1 (en) 2018-04-24 2019-10-30 ABLIC Inc. Zero cross detection circuit and sensor device
JP2019190970A (ja) * 2018-04-24 2019-10-31 エイブリック株式会社 ゼロクロス検出回路およびセンサ装置
US11733275B2 (en) 2017-07-31 2023-08-22 Rohm Co., Ltd. Zero-crossing detection circuit
CN116973816A (zh) * 2023-09-21 2023-10-31 昂赛微电子(上海)有限公司 磁场过零检测控制电路及方法以及霍尔磁敏触发器芯片
KR102721894B1 (ko) 2018-04-24 2024-10-24 에이블릭 가부시키가이샤 제로크로스 검출 회로 및 센서 장치

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62159057A (ja) * 1986-01-04 1987-07-15 Fujitsu Ten Ltd 周期測定器
JPH1093402A (ja) * 1996-04-24 1998-04-10 Tandberg Data Storage As ヒステリシスコンパレータの作動方法および作動装置
JPH11248761A (ja) * 1998-03-05 1999-09-17 Texas Instr Japan Ltd 電圧比較回路
JP2000031795A (ja) * 1998-07-07 2000-01-28 Nec Corp ヒステリシスコンパレータ回路
JP2004012168A (ja) * 2002-06-04 2004-01-15 Sanyo Electric Co Ltd ゼロクロス検出回路
US20080164914A1 (en) * 2004-10-20 2008-07-10 Abdesselam Bayadroun High Accuracy Zero Crossing Detector and Method Therefor
JP2011220953A (ja) * 2010-04-14 2011-11-04 Yokogawa Electric Corp ゼロクロス信号生成回路および位相測定器
US20140176194A1 (en) * 2012-12-20 2014-06-26 Marvell World Trade Ltd. Zero crossing detector using current mode approach

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2585231B2 (ja) 1986-09-19 1997-02-26 株式会社東芝 ゼロクロス検出回路
US6326816B1 (en) * 1999-12-09 2001-12-04 Via Technologies, Inc. Method and apparatus for minimal phase delay and zero-crossing filtering
JP4230972B2 (ja) * 2003-10-16 2009-02-25 ローム株式会社 回転位置検出装置、及びそれを用いた記録再生装置
TWI323077B (en) * 2006-09-26 2010-04-01 Holtek Semiconductor Inc Driving apparatus for single phase motors and driving method thereof
JP5835917B2 (ja) * 2011-03-22 2015-12-24 ローム株式会社 モータ駆動回路、方法およびそれを用いた冷却装置、電子機器

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62159057A (ja) * 1986-01-04 1987-07-15 Fujitsu Ten Ltd 周期測定器
JPH1093402A (ja) * 1996-04-24 1998-04-10 Tandberg Data Storage As ヒステリシスコンパレータの作動方法および作動装置
JPH11248761A (ja) * 1998-03-05 1999-09-17 Texas Instr Japan Ltd 電圧比較回路
JP2000031795A (ja) * 1998-07-07 2000-01-28 Nec Corp ヒステリシスコンパレータ回路
JP2004012168A (ja) * 2002-06-04 2004-01-15 Sanyo Electric Co Ltd ゼロクロス検出回路
US20080164914A1 (en) * 2004-10-20 2008-07-10 Abdesselam Bayadroun High Accuracy Zero Crossing Detector and Method Therefor
JP2011220953A (ja) * 2010-04-14 2011-11-04 Yokogawa Electric Corp ゼロクロス信号生成回路および位相測定器
US20140176194A1 (en) * 2012-12-20 2014-06-26 Marvell World Trade Ltd. Zero crossing detector using current mode approach

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019026706A1 (ja) * 2017-07-31 2019-02-07 ローム株式会社 ゼロクロス検出回路
US12105123B2 (en) 2017-07-31 2024-10-01 Rohm Co., Ltd. Zero-crossing detection circuit
US11733275B2 (en) 2017-07-31 2023-08-22 Rohm Co., Ltd. Zero-crossing detection circuit
US11181562B2 (en) 2017-07-31 2021-11-23 Rohm Co., Ltd. Zero-crossing detection circuit
KR20190123686A (ko) 2018-04-24 2019-11-01 에이블릭 가부시키가이샤 제로크로스 검출 회로 및 센서 장치
JP7103836B2 (ja) 2018-04-24 2022-07-20 エイブリック株式会社 ゼロクロス検出回路およびセンサ装置
CN110398622A (zh) * 2018-04-24 2019-11-01 艾普凌科有限公司 过零检测电路和传感器装置
KR20190123689A (ko) 2018-04-24 2019-11-01 에이블릭 가부시키가이샤 제로크로스 검출 회로 및 센서 장치
EP3564686A1 (en) 2018-04-24 2019-11-06 ABLIC Inc. Zero cross detection circuit and sensor device
US10908193B2 (en) 2018-04-24 2021-02-02 Ablic Inc. Zero cross detection circuit and sensor device
US10914610B2 (en) 2018-04-24 2021-02-09 Ablic Inc. Zero cross detection circuit and sensor device
JP2019190970A (ja) * 2018-04-24 2019-10-31 エイブリック株式会社 ゼロクロス検出回路およびセンサ装置
JP7080098B2 (ja) 2018-04-24 2022-06-03 エイブリック株式会社 ゼロクロス検出回路およびセンサ装置
CN110398623A (zh) * 2018-04-24 2019-11-01 艾普凌科有限公司 过零检测电路和传感器装置
CN110398623B (zh) * 2018-04-24 2023-04-07 艾普凌科有限公司 过零检测电路和传感器装置
JP2019190971A (ja) * 2018-04-24 2019-10-31 エイブリック株式会社 ゼロクロス検出回路およびセンサ装置
KR102721894B1 (ko) 2018-04-24 2024-10-24 에이블릭 가부시키가이샤 제로크로스 검출 회로 및 센서 장치
EP3561526A1 (en) 2018-04-24 2019-10-30 ABLIC Inc. Zero cross detection circuit and sensor device
KR102695095B1 (ko) 2018-04-24 2024-08-13 에이블릭 가부시키가이샤 제로크로스 검출 회로 및 센서 장치
CN116973816B (zh) * 2023-09-21 2023-12-08 昂赛微电子(上海)有限公司 磁场过零检测控制电路及方法以及霍尔磁敏触发器芯片
CN116973816A (zh) * 2023-09-21 2023-10-31 昂赛微电子(上海)有限公司 磁场过零检测控制电路及方法以及霍尔磁敏触发器芯片

Also Published As

Publication number Publication date
TW201805600A (zh) 2018-02-16
TWI670472B (zh) 2019-09-01
JP6899877B2 (ja) 2021-07-07
KR20170131254A (ko) 2017-11-29
JP2019200217A (ja) 2019-11-21
JP6581615B2 (ja) 2019-09-25
KR102104776B1 (ko) 2020-04-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6581615B2 (ja) ゼロクロス検出回路およびセンサ装置
US10852328B2 (en) Zero-crossing detection circuit and sensor device
US8193807B2 (en) Magnetic sensor device
US9261569B2 (en) Sensor device
US8866474B2 (en) Magnetic sensor device
US9128127B2 (en) Sensor device
US8502529B2 (en) Magnetic sensor device
JP4965387B2 (ja) 磁気センサ回路
US9453888B2 (en) Sensor device
JP2013167578A (ja) 磁気センサ装置
JP2011043331A (ja) 磁気センサ装置及びこれを用いた電子機器
JP2011117731A (ja) 磁気検出装置
JP2008249452A (ja) 磁気検出装置
JP5729254B2 (ja) ヒシテリシス装置
JP7080098B2 (ja) ゼロクロス検出回路およびセンサ装置
JP2005257642A (ja) 磁気検出回路およびエンコーダ
JP4290739B2 (ja) 磁気検出装置
KR102721894B1 (ko) 제로크로스 검출 회로 및 센서 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20181024

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20190226

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20190315

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190326

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190408

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190611

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190611

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190709

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190729

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190820

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190830

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6581615

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250