JP2017156332A5 - - Google Patents
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Description
この態様の質量分析装置では、各測定対象試料について、取得したマススペクトルと前記イオン情報に基づき、前記目的元素のそれぞれについて、前記測定質量電荷比の決定時に想定されなかった干渉イオンが存在するか否かを判定する。このとき、想定外の干渉イオンが存在しないと判定されれば、当該測定対象試料について各目的成分に対応する測定質量電荷比がいずれも妥当であり、選択イオンモニタリング測定により取得したイオン強度から信頼度の高い定量結果が得られることを担保できる。一方、想定外の干渉イオンが存在すると判定された場合、その干渉イオンの存在により定量結果に誤差が生じる可能性がある。そこで、上記態様の質量分析方法では、この場合に分析者に再測定を促すことで目的成分を誤って定量することを防ぐことができる。
前記再測定を促す情報を提示する方法としては、画面出力、音声出力等、種々の方法を採ることができる。
前記再測定を促す情報を提示する方法としては、画面出力、音声出力等、種々の方法を採ることができる。
制御部４０は、記憶部４１のほか、機能ブロックとして、代表試料測定部４２、含有元素推定部４３、干渉イオン判定部４４、測定質量電荷比決定部４５、全試料測定部４６、想定外干渉イオン判定部４７、補正強度算出部４８、元素定量部４９、再測定提示部５０、変更質量電荷比提示部５１、及び仮定量値提示部５２を有している。制御部４０の実体はパーソナルコンピュータであり、ＣＰＵにより所定のプログラム（質量分析用プログラム）を実行することにより上記各機能ブロックが具現化される。また、制御部４０にはキーボードやマウスといった入力部６０、及び液晶ディスプレイ等の表示部７０が接続されている。
１１…オートサンプラ
１２…ネブライザガス供給源
１３…プラズマガス供給源
２０…プラズマトーチ
３１…第１真空室
３２…第２真空室
３２１…四重極マスフィルタ
３３…第３真空室
３３１…検出器
４０…制御部
４１…記憶部
４２…代表試料測定部
４３…含有元素推定部
４４…干渉イオン判定部
４５…測定質量電荷比決定部
４６…全試料測定部
４７…想定外干渉イオン判定部
４８…補正強度算出部
４９…元素定量部
５０…再測定提示部
５１…変更質量電荷比提示部
５２…仮定量値提示部
６０…入力部
７０…表示部
１２…ネブライザガス供給源
１３…プラズマガス供給源
２０…プラズマトーチ
３１…第１真空室
３２…第２真空室
３２１…四重極マスフィルタ
３３…第３真空室
３３１…検出器
４０…制御部
４１…記憶部
４２…代表試料測定部
４３…含有元素推定部
４４…干渉イオン判定部
４５…測定質量電荷比決定部
４６…全試料測定部
４７…想定外干渉イオン判定部
４８…補正強度算出部
４９…元素定量部
５０…再測定提示部
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|---|---|---|---|
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