JP7070708B2 - 分析装置の評価方法、分析装置の較正方法、分析方法、分析装置およびプログラム - Google Patents

Description

本発明は、分析装置の評価方法、分析装置の較正方法、分析方法、分析装置およびプログラムに関する。

質量分析計等の分析装置が分析を行うために適切な状態にないと、導入された特定の化合物の意図せぬ分解が起こり、分析対象の試料における当該化合物や分解により生じた化合物等の量が適切に測定できない場合がある。例えば、難燃剤であるデカブロモジフェニルエーテル（Ｄｅｃａｂｒｏｍｏｄｉｐｈｅｎｙｌ ｅｔｈｅｒ；Ｄｅｃａ－ＢＤＥ）は、質量分析の際、質量分析計の汚染や劣化に伴い、分解されて生成した反応生成物が検出される。この反応生成物は、Ｄｅｃａ－ＢＤＥから臭素が１つ脱離したノナブロモジフェニルエーテル（Ｎｏｎａｂｒｏｍｏｄｉｐｈｅｎｙｌ ｅｔｈｅｒ；Ｎｏｎａ－ＢＤＥ）や、臭素が２つ脱離したオクタブロモジフェニルエーテル（Ｏｃｔａｂｒｏｍｏｄｉｐｈｅｎｙｌ ｅｔｈｅｒ；Ｏｃｔａ－ＢＤＥ）等である（図１参照）。

このため、分析対象の試料の分析を行う前に、分析装置に評価用化合物としてのＤｅｃａ－ＢＤＥを導入してＤｅｃａ－ＢＤＥおよび上記反応生成物を検出し、当該分析装置が分析を行うために適切な状態であるかを評価することが行われている（非特許文献１参照）。

国際電気標準会議、"DETERMINATION OF CERTAIN SUBSTANCES IN ELECTROTECHNICAL PRODUCTS - Part 6: Polybrominated biphenyls and polybrominated diphenyl ethers in polymers by gas chromatography-mass spectrometry (GC-MS)"、第１版、（スイス連邦）、国際電気標準会議、2015年6月、p. 22-23

上述した従来の分析装置の評価方法では、評価精度の低下を防ぐため、評価用化合物と反応生成物のそれぞれに対して予め検量線を作成したり、評価用化合物の標準試料と反応生成物の標準試料とを別々に測定する等、煩雑な操作が必要であった。

本発明の第１の態様によると、分析装置の評価方法は、試料に含まれる複数の化合物をそれぞれ検出可能な分析装置の評価方法であって、第１化合物を含む前記試料を前記分析装置に導入して測定を行い、前記第１化合物および前記第１化合物に由来する少なくとも一つの反応生成物を検出することと、検出された前記第１化合物の強度および前記少なくとも一つの反応生成物のそれぞれの強度と、前記第１化合物および前記少なくとも一つの反応生成物のそれぞれについての相対応答係数とに基づいて、前記分析装置が分析に適している状態か否かを示す情報を取得することとを備える。
本発明の第２の態様によると、第１の態様の分析装置の評価方法において、検出された前記第１化合物の強度と検出された前記少なくとも一つの反応生成物のそれぞれの強度との比、および前記相対応答係数に基づいて、前記情報を取得することが好ましい。
本発明の第３の態様によると、第１または第２の態様の分析装置の評価方法において、前記第１化合物の強度および前記少なくとも一つの反応生成物のそれぞれの強度と、前記相対応答係数とに基づいて、前記第１化合物が前記反応生成物に変化した割合を算出することが好ましい。
本発明の第４の態様によると、第３の態様の分析装置の評価方法において、前記割合が所定の閾値に基づく条件を満たすか否かに基づいて、前記分析装置が分析に適している状態か否かを示す情報を取得することが好ましい。
本発明の第５の態様によると、第３または第４の態様の分析装置の評価方法において、前記割合の経時的変化を示すグラフを表示することを備えることが好ましい。
本発明の第６の態様によると、第３から第５までのいずれかの態様の分析装置の評価方法において、前記割合は、前記第１化合物の強度をＡ’_Ｓとし、ｎを反応生成物の種類の数、ｋを自然数としてｋ番目の反応生成物の強度をＡ’_Ｐｋ（ｋは１以上ｎ以下の整数）とし、前記ｋ番目の反応生成物に対する前記第１化合物の相対応答係数をＲＲＦ_Ｓ/Ｐｋとすると、前記割合（Ｐｒ）は、以下の実施形態中の式（Ａ）で表されることが好ましい。
本発明の第７の態様によると、第１から第６までのいずれかの態様の分析装置の評価方法において、少なくとも前記分析装置が分析に適している状態にない場合に、通知を出力することを備えることが好ましい。
本発明の第８の態様によると、第１から第７までのいずれかの態様の分析装置の評価方法において、前記第１化合物または前記反応生成物の絶対的な濃度の定量を行わないことが好ましい。
本発明の第９の態様によると、第１から第８までのいずれかの態様の分析装置の評価方法において、前記分析装置は、質量分析計およびクロマトグラフの少なくとも一つを備えることが好ましい。
本発明の第１０の態様によると、第９の態様の分析装置の評価方法において、前記分析装置は、ガスクロマトグラフ－質量分析計、熱分解ガスクロマトグラフ－質量分析計、ガスクロマトグラフ、液体クロマトグラフ、液体クロマトグラフ－質量分析計またはイオン付着質量分析計であることが好ましい。
本発明の第１１の態様によると、分析装置の較正方法は、第１から第１０までのいずれかの態様の分析装置の評価方法により分析装置の評価を行うことと、前記評価に基づいて前記分析装置を較正することとを備える。
本発明の第１２の態様によると、分析方法は、第１から第１０までのいずれかの態様の分析装置の評価方法により分析装置の評価を行うことと、評価された前記分析装置を用いて分析を行うこととを備える。
本発明の第１３の態様によると、第１２の態様の分析方法において、前記情報に基づいて、前記分析装置により得られたデータを補正することが好ましい。
本発明の第１４の態様によると、分析装置は、試料に含まれる複数の化合物をそれぞれ検出可能な分析装置であって、第１化合物を含む前記試料を前記分析装置に導入して測定を行い、前記第１化合物および前記第１化合物に由来する少なくとも一つの反応生成物を検出する測定部と、検出された前記第１化合物の強度および前記少なくとも一つの反応生成物のそれぞれの強度と、前記第１化合物および前記少なくとも一つの反応生成物のそれぞれについての相対応答係数とに基づいて、前記分析装置が分析に適している状態か否かを示す情報を取得する装置情報取得部とを備える。
本発明の第１５の態様によると、プログラムは、試料に含まれる複数の化合物をそれぞれ検出可能な分析装置に、第１化合物を含む前記試料が導入され測定が行われ、前記第１化合物および前記第１化合物に由来する少なくとも一つの反応生成物が検出されて得られた測定データを取得する測定データ取得処理と、検出された前記第１化合物の強度および前記少なくとも一つの反応生成物のそれぞれの強度と、前記第１化合物および前記少なくとも一つの反応生成物のそれぞれについての相対応答係数とに基づいて、前記分析装置が分析に適している状態か否かを示す情報を取得する装置情報取得処理とを処理装置に行わせるためのものである。

本発明によれば、分析装置が分析に適した状態にあるかについての評価を煩雑な操作を必要とせず行うことができる。

図１（Ａ）は、Ｄｅｃａ－ＢＤＥの化学式を示す図であり、図１（Ｂ）は、Ｎｏｎａ－ＢＤＥの化学式を示す図であり、図１（Ｃ）は、Ｏｃｔａ－ＢＤＥの化学式を示す図である。 図２は、一実施形態に係る分析装置の構成を示す概略図である。 図３は、一実施形態に係る分析方法の流れを示すフローチャートである。 図４は、反応比率の経時的変化を示すグラフである。 図５は、プログラムを説明するための概念図である。

以下、図を参照して本発明を実施するための形態について説明する。

－第１実施形態－
本実施形態の分析装置の評価方法では、評価用化合物を分析装置に導入して測定を行い、評価用化合物と、評価用化合物に由来する少なくとも一つの反応生成物を検出する。その後、検出された評価用化合物および上記少なくとも一つの反応生成物のそれぞれの強度と、評価用化合物および上記少なくとも一つの反応生成物のそれぞれについての相対応答係数とに基づいて、分析装置が分析に適した状態にあるか否かについての情報が得られる。

（評価用化合物について）
評価用化合物は、分析装置の評価を行うために当該分析装置に試料として導入され、測定に供される化合物である。評価用化合物は、分析装置による分析により、評価用化合物に由来する少なくとも一つの反応生成物が生成される可能性があれば、特に限定されない。ここで、反応生成物とは、分析装置による分析において評価用化合物を検出しようとした場合に生成される生成物であって、当該反応生成物の生成が評価用化合物を検出する精度に影響を及ぼす分子である（以下、単に「反応生成物」と記載した際には、当該分子を指す）。反応生成物は分析装置による評価用生成物の分析において意図せず生成される分子である。ここで、評価用化合物または反応生成物を「検出する」とは、試料に含まれているこれらの分子を定量するための検出を行うことを指し、イオン化された分子、解離された分子、または分子の誘導体等の、これらの分子由来の物質を直接検出するが分子自体を直接検出しない場合も含む。

評価用化合物は、分析装置の汚染や劣化の際、分析装置による評価用化合物の分析において生成される反応生成物の量が増加する分子であることが好ましい。これにより、本実施形態の分析装置の評価方法を用いて分析装置の汚染や劣化を検出することができ、精度の低い分析を行うことを避けることができる。

評価用化合物は、評価用化合物または、評価用化合物に由来する反応生成物の少なくとも一つが工業的に生産され流通されている化学物質であることが好ましく、少なくとも一つが人間等の生物や環境への影響から規制の対象となっている規制対象物質であることがより好ましい。評価用化合物や反応生成物と分析対象の化合物が同一または類似の構造を有すると、評価の精度が高まる。従って、規制の対象となる化学物質が増え正確な定量の重要性が増す中で、分析装置による上記化学物質や規制対象物質の分析を行う際に、事前に本実施形態の分析装置の評価方法を行うことで、より精度よく分析装置が当該分析に適した状態にあるかについての情報を得ることができる。

好ましくは、評価用化合物は、Ｄｅｃａ－ＢＤＥであり、反応生成物はＤｅｃａ－ＢＤＥを除くポリブロモジフェニルエーテル（Ｐｏｌｙｂｒｏｍｉｎａｔｅｄ ｄｉｐｈｅｎｙｌ ｅｔｈｅｒ；ＰＢＤＥ）の少なくとも一つである。これにより、難燃剤として工業的に生産され流通しているＤｅｃａ－ＢＤＥや、規制対象となっているまたはなり得るＰＢＤＥ等の重要な分子の分析の前に、分析装置が当該分析に適した状態にあるかについての情報を得ることができる。反応生成物はＮｏｎａ－ＢＤＥおよびＯｃｔａ－ＢＤＥの少なくとも一つであることがより好ましい。これにより、Ｄｅｃａ－ＢＤＥを分析する際に生成しやすい反応生成物を用いて、より精度よく上記情報を得ることができる。

図１（Ａ）、（Ｂ）および（Ｃ）は、Ｄｅｃａ－ＢＤＥ、Ｎｏｎａ－ＢＤＥおよびＯｃｔａ－ＢＤＥの化学式をそれぞれ示した。Ｎｏｎａ－ＢＤＥはＤｅｃａ－ＢＤＥから臭素が１つ脱離した分子であり、Ｏｃｔａ－ＢＤＥはＤｅｃａ－ＢＤＥから臭素が２つ脱離した分子である。以下の実施形態において、Ｎｏｎａ－ＢＤＥおよびＯｃｔａ－ＢＤＥにおける臭素が脱離した位置は特に限定されない。

（分析対象について）
本実施形態の分析装置の評価方法は、当該分析装置を用いた任意の分析対象の分子の分析の前に行うことができる。上述の通り、分析対象の分子は工業的に生産され流通されている化学物質や、人間等の生物や環境への影響から規制の対象となっている規制対象物質を含むことが好ましいが、特に限定されない。分析対象の分子は、少なくとも一種類のＰＢＤＥが好ましく、Ｄｅｃａ－ＢＤＥ、Ｎｏｎａ－ＢＤＥおよびＯｃｔａ－ＢＤＥからなる群から選択される少なくとも一つであることがより好ましい。

（分析装置について）
図２は、本実施形態に係る分析装置の構成を示す概念図である。分析装置１は、ガスクロマトグラフ－質量分析計（以下、ＧＣ－ＭＳと呼ぶ）であり、測定部１００と情報処理部４０とを備える。測定部１００は、ガスクロマトグラフ１０と、質量分析部３０とを備える。
なお、本実施形態の分析装置は、試料に含まれる複数の化合物をそれぞれ検出可能であり、評価用化合物の分析の際に評価用化合物に由来する反応生成物が生成される可能性があれば特に限定されない。分析装置は、ガスクロマトグラフ（ＧＣ）若しくは液体クロマトグラフ等のクロマトグラフ、熱分解ガスクロマトグラフ－質量分析計（Ｐｙ－ＧＣ－ＭＳ）若しくは液体クロマトグラフ－質量分析計（以下、ＬＣ－ＭＳと呼ぶ）等のクロマトグラフを含む質量分析計、または、イオン付着質量分析計若しくはその他のクロマトグラフを含まない質量分析計でもよい。Ｄｅｃａ－ＢＤＥ等の分子は、ガスクロマトグラフのガラスインサート、クロマトグラフのカラムまたはイオン付着質量分析計のイオン化室等において汚れている部位や酸化された部位が増加すると、当該部位を反応点として分解による反応生成物が増加する。従って、これらの装置に好適に本発明を適用することができる。

ガスクロマトグラフ１０は、キャリアガス流路１１、分析対象の試料または評価用化合物（以下、「試料等」と呼ぶ）が導入される試料導入部１２、カラム温度調節部１３、分離カラム１４および試料ガス導入管１５を備える。質量分析部３０は、真空容器３１と、排気口３２と、試料等をイオン化してイオンＩｎを生成するイオン化部３３と、イオン調整部３４と、質量分離部３５と、検出部３６とを備える。イオン化部３３は、イオン化室３３１と、熱電子生成用フィラメント３３２と、トラップ電極３３３とを備える。

情報処理部４０は、入力部４１と、通信部４２と、記憶部４３と、出力部４４と、制御部５０とを備える。制御部５０は、装置制御部５１と、データ処理部５２と、出力制御部５３とを備える。データ処理部５２は、強度算出部５２１と、比率算出部５２２と、判定部５２３とを備える。出力制御部５３は、通知部５３０を備える。

測定部１００は、分離分析により試料等の各成分を分離し、試料等を検出する。

ガスクロマトグラフ１０は、試料等に含まれる成分を物理的または化学的特性に基づいて分離する。分離カラム１４に導入される際に、試料等はガスまたはガス状となっているが、これを試料ガスと呼ぶ。

キャリアガス流路１１は、ヘリウム等のキャリアガスの流路であり、キャリアガスを試料導入部１２に導入する（矢印Ａ１）。試料導入部１２は、試料気化室等の試料等を導入する室を備え、不図示のシリンジやオートサンプラー等の注入器により注入された試料等を一時的に収容し、試料等が液体の場合は気化させて、試料ガスを分離カラム１４に導入する（矢印Ａ２）。試料等の導入法は特に限定されず、スプリットレス導入法やスプリット導入法等を適宜用いることができる。

分離カラム１４は、キャピラリーカラム等のカラムを備える。分離カラム１４は、カラムオーブン等を備えるカラム温度調節部１３により数百℃以下等に温度制御されている。試料ガスの各成分は、移動相と、分離カラム１４の固定相との間の分配係数等に基づいて分離され、分離された試料ガスの各成分は異なる時間に分離カラム１４から溶出し、試料ガス導入管１５を通って質量分析部３０のイオン化室３３１に導入される。

質量分析部３０は、質量分析計を備え、イオン化部３３に導入された試料等をイオン化し、質量分離して検出する。イオン化部３３で生成されたイオンＩｎの経路を矢印Ａ３で模式的に示した。
なお、クロマトグラフから溶出された試料等の検出方法は評価用化合物および反応生成物の強度を取得できれば特に限定されず、吸光度検出器等を用いてもよい。また、以下では質量分析部３０として１つの四重極マスフィルタにより質量分離を行うシングル四重極質量分析計を用いる例を用いて説明する。しかし、試料等に対応するイオンＩｎを所望の精度で質量分析して検出することができれば、質量分析部３０を構成する質量分析計の種類は特に限定されない。当該質量分析計はタンデム質量分析計または多段階質量分析計としてもよい。

質量分析部３０の真空容器３１は、排気口３２を備える。排気口３２は、ターボ分子ポンプ等の、１０^－２Ｐａ以下等の高真空が実現可能なポンプおよびその補助ポンプを含む不図示の真空排気系と接続されている。図２では、真空容器３１の内部の気体が排出される点を矢印Ａ４で模式的に示した。

質量分析部３０のイオン化部３３は、イオン源を備え、イオン化部３３に導入された試料等を電子イオン化によりイオン化する。イオン化部３３は、熱電子生成用フィラメント３３２で生成された熱電子を、トラップ電極３３３に印加された数十ｅＶ等の電圧で加速し、イオン化室３３１の内部の試料等に照射してイオンＩｎを生成する。イオン化の際に試料等は解離されるため、イオンＩｎは、試料等が解離されて得られたフラグメントイオンを含む。イオン化部３３で生成されたイオンＩｎはイオン調整部３４に導入される。
なお、イオン化部３３によるイオン化の方法は、所望の効率でイオン化を行うことができれば特に限定されない。ＧＣ－ＭＳの場合、化学イオン化等を用いてもよい。ＬＣ－ＭＳの場合はエレクトロスプレー法等を適宜用いることができる。

質量分析部３０のイオン調整部３４は、レンズ電極やイオンガイド等のイオン輸送系を備え、電磁気学的作用により、イオンＩｎを収束させる等して調整する。イオン調整部３４から出射されたイオンＩｎは質量分離部３５に導入される。

質量分析部３０の質量分離部３５は、四重極マスフィルタを備え、導入されたイオンＩｎを質量分離する。質量分離部３５は、四重極マスフィルタに印加された電圧により、ｍ／ｚの値に基づいてイオンＩｎを選択的に通過させる。質量分離部３５で質量分離されたイオンＩｎは検出部３６に入射する。
なお、質量分離部を構成する質量分析器は特に限定されず、イオントラップや飛行時間型等の質量分析器を用いてもよい。

質量分析部３０の検出部３６は、イオン検出器を備え、入射したイオンＩｎを検出する。検出部３６は、入射したイオンＩｎの検出により得られた検出信号を、不図示のＡ／Ｄ変換器によりＡ／Ｄ変換し、デジタル化された検出信号を測定データとして情報処理部４０に出力する（矢印Ａ５）。

情報処理部４０は、電子計算機等の情報処理装置を備え、分析装置１のユーザー（以下、単に「ユーザー」と呼ぶ）とのインターフェースとなる他、様々なデータに関する通信、記憶、演算等の処理を行う。
なお、情報処理部４０は、測定部１００と一体となった一つの装置として構成してもよい。また、分析装置１が用いるデータの一部は遠隔のサーバ等に保存してもよく、分析装置１が行う演算処理の一部は遠隔のサーバ等で行ってもよい。

入力部４１は、マウス、キーボード、各種ボタンまたはタッチパネル等の入力装置を含んで構成される。入力部４１は、測定部１００の制御や制御部５０の処理に必要な情報等を、ユーザーから受け付ける。通信部４２は、インターネット等の無線や有線接続により通信可能な通信装置を含んで構成され、測定部１００の制御や制御部５０の処理に関するデータ等を適宜送受信する。

記憶部４３は、不揮発性の記憶媒体で構成され、測定データ、制御部５０が処理を実行するためのプログラム、データ処理部５２が処理を行うために必要なデータおよび当該処理により得られたデータ等を記憶する。

記憶部４３には、予め算出された反応生成物に対する評価用化合物の相対応答係数が記憶されている。検出する反応生成物が複数の場合、記憶部４３には複数の相対応答係数が記憶され、複数の相対応答係数のそれぞれは、評価用化合物に対するそれぞれの反応生成物の相対応答係数に対応する。この相対応答係数は、分析装置１の状態が分析を行うに適した状態のときに評価用化合物の標準試料と少なくとも一つの反応生成物の標準試料とが測定されて得られたものである。さらに、記憶部４３には、後述する反応比率判定の閾値（以下、判定閾値と呼ぶ）を示す数値が記憶されている。

出力部４４は、液晶モニタ等の表示装置やプリンター等を含んで構成される。出力部４４は、本実施形態の分析装置の評価方法により、分析装置１が分析に適した状態でないと判定された旨の通知や、データ処理部５２の処理により得られたデータ等を、表示装置に表示したり、プリンターにより印刷したりして出力する。

制御部５０は、ＣＰＵ等のプロセッサを備え、測定部１００の各部の動作を制御したり、測定データを処理する。

制御部５０の装置制御部５１は、測定部１００の各部の動作を制御する。例えば、装置制御部５１は、質量分離部３５で通過させるイオンのｍ／ｚを連続的に変化させるスキャンモードや、特定のｍ／ｚを有する複数のイオンを通過させるＳＩＭ（Ｓｅｌｅｃｔｉｖｅ Ｉｏｎ Ｓｃａｎｎｎｉｎｇ）モードによりイオンＩｎの検出を行うことができる。この場合、装置制御部５１は、入力部４１からの入力等に基づいて設定されたｍ／ｚを有するイオンＩｎが質量分離部３５を選択的に通過するように、質量分離部３５の電圧を変化させる。さらに、装置制御部５１は、感度の調整や質量較正等の較正において、分析装置１の各部の電圧値等を制御する。

制御部５０のデータ処理部５２は、測定データを処理し、解析する。データ処理部５２は、測定データと、記憶部４３に記憶された少なくとも一つの相対応答係数から、分析装置１が分析に適した状態であるかについての情報を取得する装置情報取得部として機能する。その他、データ処理部５２は、分析対象の試料の定量等の様々な解析を行うことができる。

強度算出部５２１は、測定データから、検出された評価用化合物の強度と、検出された少なくとも一つの反応生成物の強度とを算出する。本実施形態では、「強度」とは、検出されて得られた信号の強度を示す。ＳＩＭモードにより質量分析が行われた場合、強度算出部５２１は、設定された各ｍ／ｚに対応する評価用化合物または反応生成物の強度を、当該ｍ／ｚに対応して検出された強度として算出する。スキャンモードにより質量分析が行われた場合、強度算出部５２１は、測定データから、マススペクトルに対応するデータを生成し、評価用化合物または反応生成物に対応するピークのピーク強度やピーク面積を評価用化合物または反応生成物の強度として算出する。

比率算出部５２２は、検出された評価用化合物の強度、検出された少なくとも一つの反応生成物の強度、ならびに、評価用化合物および各反応生成物についての各相対応答係数に基づいて、評価用化合物のうち少なくとも一つの反応生成物へと変化した比率（以下、反応比率と呼ぶ）を算出する。

＜検出された強度と相対応答係数からの反応比率の算出について＞
反応生成物が一つの場合を考える。反応比率Ｐｒは、試料中の評価用化合物Ｓの濃度をＣ’_Ｓ、試料中の反応生成物Ｐの濃度をＣ’_Ｐ とすると、以下の式（１）で定義される。
Ｐｒ＝Ｃ’_Ｐ／（Ｃ’_Ｓ＋Ｃ’_Ｐ） …（１）

反応生成物Ｐに対する評価用化合物Ｓの相対応答係数（Ｒｅｌａｔｉｖｅ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ Ｆａｃｔｅｒ；ＲＲＦ）をＲＲＦ_Ｓ/Ｐとする。ＲＲＦは２つの化合物の応答係数（Ｒｅｓｐｏｎｓｅ Ｆａｃｔｏｒ）ＲＦの比率で表される。ＲＦは分析した化合物の重量をＭ、分析して得られた強度をＡとすると以下の式（１１）で表される。
ＲＦ＝Ａ／Ｍ …（１１）
分析した評価用化合物Ｓの重量をＭ_Ｓ、分析して得られた強度をＡ_Ｓ、分析した反応生成物Ｐの重量をＭ _Ｐ 、分析して得られた強度をＡ _Ｐ 、とするとＲＲＦ_Ｓ/Ｐは以下の式（１２）で表される。
ＲＲＦ_Ｓ/Ｐ＝(Ａ_Ｓ／Ｍ_Ｓ)／(Ａ_Ｐ／Ｍ_Ｐ) …（１２）
ＲＲＦ_Ｓ/Ｐを取得する際に使用した評価用化合物Ｓの濃度がＣ_ｓ、反応生成物Ｐの濃度がＣ_Ｐのとき、分析した試料の体積をＶとするとＭ_Ｓ=Ｃ_Ｓ×Ｖ、Ｍ_Ｐ=Ｃ_Ｐ×Ｖであることと上記の式（１２）からＲＲＦ_Ｓ/Ｐは以下の式（２）により定義される。
ＲＲＦ_Ｓ/Ｐ＝ （Ａ_Ｓ／Ｃ_Ｓ×Ｖ） ／ （Ａ_Ｐ／Ｃ_Ｐ×Ｖ）
＝ （Ａ_Ｓ／Ｃ_Ｓ） ／ （Ａ_Ｐ／Ｃ_Ｐ） …（２）

ここで、分析装置１の相対応答係数ＲＲＦ_Ｓ/Ｐは、一定とする。この場合、濃度Ｃ’_Ｓの評価用化合物Ｓを分析して得られた強度をＡ’_Ｓ、濃度Ｃ’_Ｐの反応生成物Ｐを分析して得られた強度をＡ’_Pとすると、以下の式（３）が成り立つ。
ＲＲＦ_Ｓ/Ｐ＝（Ａ_Ｓ／Ｃ_Ｓ） ／ （Ａ_Ｐ／Ｃ_Ｐ）＝（Ａ’_Ｓ／Ｃ’_Ｓ） ／ （Ａ’_Ｐ／Ｃ’_Ｐ） …（３）
なお、評価用化合物Ｓに対する反応生成物Ｐの相対応答係数を用いて反応比率Ｐｒを算出してもよい。この場合の相対応答係数の値は（３）式の逆数となる。

式（３）から、Ｃ’_Ｐ／Ｃ’_Ｓ＝ＲＲＦ_Ｓ/Ｐ／（Ａ’_Ｓ／Ａ’_Ｐ）となるから、これを利用して、反応比率Ｐｒを以下の式（４）により算出することができる。
Ｐｒ＝Ｃ’_Ｐ／（Ｃ’_Ｓ＋Ｃ’_Ｐ）
＝（Ｃ’_Ｐ／Ｃ’_Ｓ） ／（１＋Ｃ’_Ｐ／Ｃ’_Ｓ）
＝（ＲＲＦ_Ｓ/Ｐ／（Ａ’_Ｓ／Ａ’_Ｐ））／（１＋ＲＲＦ_Ｓ/Ｐ／（Ａ’_Ｓ／Ａ’_Ｐ）） …（４）

同様に、反応生成物がｎ個（ｎは１以上の整数）ある場合について述べる。評価用化合物Ｓに対する、反応生成物Ｐ１、Ｐ２、…Ｐｋ…、Ｐｎのいずれかとなった評価用化合物Ｓの比率（反応比率）Ｐｒは、試料中の反応生成物Ｐ１、Ｐ２、…Ｐｋ…、Ｐｎの各濃度をＣ’_Ｐ１，Ｃ’_Ｐ２，…Ｃ’_Ｐｋ…Ｃ’_Ｐｎとして以下の式（５）のように定義される。
Ｐｒ＝（Ｃ’_Ｐ１＋Ｃ’_Ｐ２＋…＋Ｃ’_Ｐｋ＋…＋Ｃ’_Ｐｎ）／（Ｃ’_Ｓ＋Ｃ’_Ｐ１＋Ｃ’_Ｐ２＋…＋Ｃ’_Ｐｋ＋…＋Ｃ’_Ｐｎ） …（５）

反応生成物Ｐ１、Ｐ２、…Ｐｋ…、Ｐｎの検出された強度をそれぞれＡ’_Ｐ１,Ａ’_Ｐ２,…Ａ’_Ｐｋ…Ａ’_Ｐｎとし、反応生成物Ｐ１、Ｐ２、…Ｐｋ…、Ｐｎのそれぞれに対する評価用化合物Ｓの相対応答係数をそれぞれＲＲＦ_Ｓ/Ｐ１，ＲＲＦ_Ｓ/Ｐ２，…ＲＲＦ_Ｓ/Ｐｋ…ＲＲＦ_Ｓ/Ｐｎとする。この場合、式（４）の場合と同様の計算により、反応比率Ｐｒは、以下の式（Ａ）で表される。式（Ａ）は式（４）の場合を含む式となっている。
Ｐｒ＝（ＲＲＦ_Ｓ/Ｐ１／（Ａ’_Ｓ／Ａ’_Ｐ１）＋ＲＲＦ_Ｓ/Ｐ２／（Ａ’_Ｓ／Ａ’_Ｐ２）＋…ＲＲＦ_Ｓ/Ｐｋ/（Ａ’_Ｓ／Ａ’_Ｐｋ）＋…ＲＲＦ_Ｓ/Ｐn／（Ａ’_Ｓ／Ａ’_Ｐｎ））／(１＋ＲＲＦ_Ｓ/Ｐ１／（Ａ’_Ｓ／Ａ’_Ｐ１）＋ ＲＲＦ_Ｓ/Ｐ２／（Ａ’_Ｓ／Ａ’_Ｐ２） ＋…ＲＲＦ_Ｓ/Ｐｋ／（Ａ’_Ｓ／Ａ’_Ｐｋ）＋…ＲＲＦ_Ｓ/Ｐｎ／（Ａ’_Ｓ／Ａ’_Ｐｎ）) …（Ａ）

式（Ａ）が、評価用化合物と各反応生成物との検出された強度の比に基づいていることから理解されるように、検量線等を作成して評価用化合物または反応生成物の絶対的な濃度の定量を行う必要がなく、評価用化合物を分析装置１に導入する際の濃度は既知である必要はない。また、分析装置１で過去に相対応答係数を測定してなくても、相対応答係数が略等しいと考えられる分析装置で過去に得られた相対応答係数を用いて反応比率を算出できるため、操作をさらに低減できる。相対応答係数が互いに略等しいと考えられる分析装置の例としては、同一メーカーの同一機種等が挙げられる。

比率算出部５２２は、式（Ａ）を用いて、反応比率を算出する。比率算出部５２２は、評価用化合物Ｓと各反応生成物Ｐ１、Ｐ２、…Ｐｋ…、Ｐｎのそれぞれとの比率Ａ’_Ｐ１,Ａ’_Ｐ２,…Ａ’_Ｐｋ…Ａ’_Ｐｎを算出する。比率算出部５２２は、算出されたこれらの比率を式（Ａ）に代入し、反応比率を算出する。パーセント表示にする場合には、反応比率に１００を掛ければよい。算出された反応比率は、記憶部４３に記憶される。

判定部５２３は、算出された反応比率に基づいて、分析装置１が分析に適した状態にあるか否かを判定する。判定部５２３は、記憶部４３等に記憶されている、上述の判定閾値を参照し、算出された反応比率が閾値より小さいか否かを判定（以下、反応比率判定と呼ぶ）する。上記判定閾値は、過去の測定例や理論値等に基づいて４％等の値に予め適宜設定される。

出力制御部５３は、データ処理部５２の処理により得られた、反応比率判定の結果を示す情報等を含む出力画像を生成し、出力部４４を制御して当該出力画像を出力させる。

出力制御部５３の通知部５３０は、反応比率判定の結果、分析装置１が分析に適した状態にない場合に、その旨をユーザーに伝えるための通知を出力する。例えば、通知部５３０は、判定部５２３の反応比率判定の結果、分析装置１は分析に適した状態にないと判定された場合、「試料が分解されやすい状態にあります」「不合格」「精度の高い分析ができない可能性があります」「ＦＡＩＬ」等の文字を出力部４４に出力させ、警告することができる。このような警告の表示方法は特に限定されないが、例えば画面にポップアップメッセージとして表示してもよい。また、通知部５３０は、イオン調整部３４や質量分離部３５等の電圧の感度等のオートチューニングやｍ／ｚ値の較正等、装置の再較正を促したり、消耗品の交換等の必要がある旨を出力部４４に出力させてもよい。通知部５３０は、反応比率判定の結果、分析装置１が分析に適した状態であると判定された場合にも、「合格」「ＰＡＳＳ」等の文字を出力部４４に出力させてもよい。

（分析方法について）
図３は、本実施形態に係る分析方法の流れを示すフローチャートである。ステップＳ１００１において、情報処理部４０は、評価用化合物に対する少なくとも一つの反応生成物の各相対応答係数を取得する。相対応答係数は入力部４１や通信部４２を介して取得され、記憶部４３に記憶される。ステップＳ１００１が終了したら、ステップＳ１００３が開始される。ステップＳ１００３において、評価用化合物を含む試料を分析装置１により分析して情報処理部４０が測定データを取得し、強度算出部５２１は、検出された評価用化合物および少なくとも一つの反応生成物のそれぞれに対応する強度を算出する。ステップＳ１００３が終了したらステップＳ１００５が開始される。

ステップＳ１００５において、比率算出部５２２は、ステップＳ１００１で取得した各相対応答係数と、ステップＳ１００３で算出された評価用化合物および少なくとも一つの反応生成物のそれぞれに対応する強度とに基づいて、反応比率を算出する。ステップＳ１００５が終了したら、ステップＳ１００７が開始される。ステップＳ１００７において、判定部５２３は、反応比率が判定閾値に基づく条件を満たすかを判定する。反応比率が判定閾値未満の場合、判定部５２３はステップＳ１００７を肯定判定しステップＳ１００９が開始される。反応比率が判定閾値以上の場合、判定部５２３はステップＳ１００７を否定判定しステップＳ１０１１が開始される。

ステップＳ１００９において、分析装置１は、分析対象の試料の分析を行う。この分析で得られた情報は、出力部４４等から出力される。ステップＳ１００９が終了したら、処理が終了される。

ステップＳ１０１１において、通知部５３０は、分析装置１が分析に適した状態にない旨を示す通知を出力部４４に出力させる。ステップＳ１０１１が終了したら、ステップＳ１０１３が開始される。ステップＳ１０１３において、装置制御部５１が測定部１００を制御し分析装置１の較正を行ったり、ユーザーが、分析装置１の修理や調整を行う。ステップＳ１０１３が終了したら、処理が終了される。

上述の実施の形態によれば、次の作用効果が得られる。
（１）本実施形態の分析装置の評価方法または分析装置１は、測定部１００が、評価用化合物を含む試料を分析装置１に導入して測定を行い、評価用化合物および評価用化合物に由来する少なくとも一つの反応生成物を検出することと、データ処理部５２が、検出された評価用化合物の強度および少なくとも一つの反応生成物のそれぞれの強度と、評価用化合物および少なくとも一つの反応生成物のそれぞれについての相対応答係数とに基づいて、分析装置１が分析に適している状態か否かを示す情報を取得することとを備える。これにより、分析装置１が分析に適した状態にあるかについての評価を煩雑な操作を必要とせず行うことができる。

（２）本実施形態の分析装置の評価方法において、検出された評価用化合物の強度と検出された少なくとも一つの反応生成物のそれぞれの強度との比、および上記相対応答係数に基づいて、上記情報を取得する。これにより、導入する評価用化合物の量に依存せず、上記評価を行うことができる。また、本実施形態において、「比」とはＡ、Ｂの二者間のＡ：Ｂ、Ｂ：ＡまたはＡ／Ｂ、Ｂ／Ａ等で表される関係とし、「比率」（Ａ／Ｂ）を含むものとする。

（３）本実施形態の分析装置の評価方法において、評価用化合物の強度および少なくとも一つの反応生成物のそれぞれの強度と、上記相対応答係数とに基づいて、評価用化合物が反応生成物に変化した割合である反応比率を算出する。これにより、分析装置１が分析に適した状態にあるかについての指標を数値で表し、数値を用いた比較等を行うことができる。

（４）本実施形態の分析装置の評価方法において、反応比率が判定閾値に基づく条件を満たすか否かに基づいて、分析装置１が分析に適している状態か否かを示す情報を取得する。これにより、判定閾値を用いて、より客観的な上記評価を行うことができる。

（５）本実施形態の分析装置の評価方法において、反応比率Ｐｒは、上記式（Ａ）で表される。これにより、定量的に上記評価を行うことができる。

（６）本実施形態の分析装置の評価方法は、少なくとも、分析装置１が分析に適している状態にない場合に、通知を出力することを備える。これにより、分析装置１についての情報をユーザーにわかりやすく伝えることができる。

（７）本実施形態の分析装置の評価方法において、評価用化合物または反応生成物の絶対的な濃度の定量を行う必要がないか、行わない。従って、評価用化合物および反応生成物についての検量線を作成する必要が無く、行う操作の量を低減することができる。
なお、評価用化合物または反応生成物の絶対的な濃度の定量を行ってもよい。

（８）本実施形態の分析装置の評価方法において、分析装置１は、質量分析計およびクロマトグラフの少なくとも一つを備える。これらの装置では汚れや劣化により導入した化合物が分解される場合があるため、本発明を好適に適用することができる。

（９）本実施形態の分析装置の評価方法において、分析装置１は、ガスクロマトグラフ－質量分析計、熱分解ガスクロマトグラフ－質量分析計、ガスクロマトグラフ、液体クロマトグラフ、液体クロマトグラフ－質量分析計またはイオン付着質量分析計である。これらの装置では汚れや劣化により導入した化合物が分解される場合がより顕著に観察されるため、本発明をより好適に適用することができる。

（１０）本実施形態に係る分析装置の較正方法は、上述の分析装置の評価方法により分析装置１の評価を行うことと、この評価に基づいて分析装置１を較正することを備える。これにより、煩雑な操作を低減し、効率よく分析装置１の較正をすることができる。

（１１）本実施形態に係る分析方法は、上述の分析装置の評価方法により分析装置１を評価することと、評価された分析装置１を用いて分析を行うこととを備える。これにより、煩雑な操作を低減し、効率よく分析を行うことができる。

次のような変形も本発明の範囲内であり、上述の実施形態と組み合わせることが可能である。以下の変形例において、上述の実施形態と同様の構造、機能を示す部位等に関しては、同一の符号で参照し、適宜説明を省略する。
（変形例１）
上述の実施形態において、分析装置１により分析対象の試料の分析を行う際、反応比率を用いて当該分析で得られた値を補正してもよい。例えば、比率算出部５２２は、評価用化合物をＤｅｃａ－ＢＤＥとし、反応生成物をＮｏｎａ－ＢＤＥとして反応比率を算出し、その後、分析対象をＤｅｃａ－ＢＤＥおよびＮｏｎａ－ＢＤＥとして分析を行ったとする。この場合、当該分析で得られたＤｅｃａ－ＢＤＥの検出量を、反応比率から示されるＤｅｃａ－ＢＤＥの分解される割合に基づいて補正することができる。また、当該分析で得られたＮｏｎａ－ＢＤＥの検出量を、反応比率から示されるＮｏｎａ－ＢＤＥの生成される割合に基づいて補正することができる。

本変形例の分析方法では、分析装置１が分析に適している状態か否かを示す情報に基づいて、分析装置１により得られた測定データを補正する。これにより、分析装置１の評価に基づいて、より正確な測定データを提供することができる。

（変形例２）
上述の実施形態において、分析装置１について上述の実施形態の分析装置の評価方法が複数回行われた場合に、データ処理部５２は、算出された反応比率の経時的変化を示すグラフに対応するデータを生成することができる。出力制御部５３は、当該グラフを示す出力画像を出力部４４に出力させることができる。

図４は、反応比率の経時的変化を示すグラフの一例を示す図である。横軸にデータの取得時期を日付で示し、縦軸に反応比率を示している。横軸の時間間隔や縦軸の数値は適宜設定することができる。

本変形例の分析装置の評価方法において、反応比率の経時的変化を示すグラフが表示される。これにより、グラフに対応する期間について、分析装置１が分析に適した状態にあるかについての情報をユーザに分かりやすく示すことができる。

（変形例３）
分析装置１の情報処理機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録された、上述したデータ処理部５２の処理およびそれに関連する処理の制御に関するプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行させてもよい。なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ Ｓｙｓｔｅｍ）や周辺機器のハードウェアを含むものとする。また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、光ディスク、メモリカード等の可搬型記録媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムを送信する場合の通信線のように、短時間の間、動的にプログラムを保持するもの、その場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように、一定時間プログラムを保持するものを含んでもよい。また上記のプログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであってもよく、さらに前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせにより実現するものであってもよい。

また、パーソナルコンピュータ（以下、ＰＣと記載）等に適用する場合、上述した制御に関するプログラムは、ＣＤ－ＲＯＭ、ＤＶＤ－ＲＯＭ等の記録媒体やインターネット等のデータ信号を通じて提供することができる。図５はその様子を示す図である。ＰＣ９５０は、ＣＤ－ＲＯＭ９５３を介してプログラムの提供を受ける。また、ＰＣ９５０は通信回線９５１との接続機能を有する。コンピュータ９５２は上記プログラムを提供するサーバーコンピュータであり、ハードディスク等の記録媒体にプログラムを格納する。通信回線９５１は、インターネット、パソコン通信などの通信回線、あるいは専用通信回線などである。コンピュータ９５２はハードディスクを使用してプログラムを読み出し、通信回線９５１を介してプログラムをＰＣ９５０に送信する。すなわち、プログラムをデータ信号として搬送波により搬送して、通信回線９５１を介して送信する。このように、プログラムは、記録媒体や搬送波などの種々の形態のコンピュータ読み込み可能なコンピュータプログラム製品として供給できる。

上述した情報処理機能を実現するためのプログラムは、試料に含まれる複数の化合物をそれぞれ検出可能な分析装置に評価用化合物を含む試料が導入され測定が行われ、評価用化合物および評価用化合物に由来する少なくとも一つの反応生成物が検出されて得られた測定データを取得する測定データ取得処理（図３のフローチャートにおけるステップＳ１００３に対応）と、検出された評価用化合物の強度および少なくとも一つの反応生成物のそれぞれの強度と、評価用化合物および少なくとも一つの反応生成物のそれぞれについての相対応答係数とに基づいて、分析装置１が分析に適している状態か否かを示す情報を取得する装置情報取得処理（Ｓ１００５に対応）とをコンピュータなどを含む処理装置に行わせるためのプログラムである。これにより、分析装置１が分析に適した状態にあるかについての評価を煩雑な操作を必要とせず実現することができる。

本発明は上記実施形態の内容に限定されるものではない。本発明の技術的思想の範囲内で考えられるその他の態様も本発明の範囲内に含まれる。

１…分析装置、１０…ガスクロマトグラフ、１２…試料導入部、１４…分離カラム、３０…質量分析部、３３…イオン化部、３５…質量分離部、３６…検出部、４０…情報処理部、４４…出力部、５０…制御部、５２…データ処理部、１００…測定部、５２１…強度算出部、５２２…比率算出部、５２３…判定部、５３０…通知部、Ｉｎ…イオン。

Claims (15)

1. 試料に含まれる複数の化合物をそれぞれ検出可能な分析装置の評価方法であって、
   第１化合物を含む前記試料を前記分析装置に導入して測定を行い、前記第１化合物および前記第１化合物に由来する少なくとも一つの反応生成物を検出することと、
   検出された前記第１化合物の強度および前記少なくとも一つの反応生成物のそれぞれの強度と、前記第１化合物および前記少なくとも一つの反応生成物のそれぞれについての相対応答係数とに基づいて、前記分析装置が分析に適している状態か否かを示す情報を取得することとを備える分析装置の評価方法。
2. 請求項１に記載の分析装置の評価方法において、
   検出された前記第１化合物の強度と検出された前記少なくとも一つの反応生成物のそれぞれの強度との比、および前記相対応答係数に基づいて、前記情報を取得する分析装置の評価方法。
3. 請求項１または２に記載の分析装置の評価方法において、
   前記第１化合物の強度および前記少なくとも一つの反応生成物のそれぞれの強度と、前記相対応答係数とに基づいて、前記第１化合物が前記反応生成物に変化した割合を算出する分析装置の評価方法。
4. 請求項３に記載の分析装置の評価方法において、
   前記割合が所定の閾値に基づく条件を満たすか否かに基づいて、前記分析装置が分析に適している状態か否かを示す情報を取得する分析装置の評価方法。
5. 請求項３または４に記載の分析装置の評価方法において、
   前記割合の経時的変化を示すグラフを表示することを備える分析装置の評価方法。
6. 請求項３から５までのいずれか一項に記載の分析装置の評価方法において、
   前記割合は、前記第１化合物の強度をＡ’_Ｓとし、ｎを反応生成物の種類の数、ｋを自然数としてｋ番目の反応生成物の強度をＡ’_Ｐｋ（ｋは１以上ｎ以下の整数）とし、前記ｋ番目の反応生成物に対する前記第１化合物の相対応答係数をＲＲＦ_Ｓ/Ｐｋとすると、前記割合（Ｐｒ）は、以下の式（Ａ）
   Ｐｒ＝（ＲＲＦ_Ｓ/Ｐ１／（Ａ’_Ｓ／Ａ’_Ｐ１）＋ＲＲＦ_Ｓ/Ｐ２／（Ａ’_Ｓ／Ａ’_Ｐ２）＋…ＲＲＦ_Ｓ/Ｐｋ/（Ａ’_Ｓ／Ａ’_Ｐｋ）＋…ＲＲＦ_Ｓ/Ｐｎ／（Ａ’_Ｓ／Ａ’_Ｐｎ））／(１＋ＲＲＦ_Ｓ/Ｐ１／（Ａ’_Ｓ／Ａ’_Ｐ１）＋ ＲＲＦ_Ｓ/Ｐ２／（Ａ’_Ｓ／Ａ’_Ｐ２） ＋…ＲＲＦ_Ｓ/Ｐｋ／（Ａ’_Ｓ／Ａ’_Ｐｋ）＋…ＲＲＦ_Ｓ/Ｐｎ／（Ａ’_Ｓ／Ａ’_Ｐｎ）) …式（Ａ）
   で表される、分析装置の評価方法。
7. 請求項１から６までのいずれか一項に記載の分析装置の評価方法において、
   少なくとも前記分析装置が分析に適している状態にない場合に、通知を出力することを備える分析装置の評価方法。
8. 請求項１から７までのいずれか一項に記載の分析装置の評価方法において、
   前記第１化合物または前記反応生成物の絶対的な濃度の定量を行わない分析装置の評価方法。
9. 請求項１から８までのいずれか一項に記載の分析装置の評価方法において、
   前記分析装置は、質量分析計およびクロマトグラフの少なくとも一つを備える、分析装置の評価方法。
10. 請求項９に記載の分析装置の評価方法において、
    前記分析装置は、ガスクロマトグラフ－質量分析計、熱分解ガスクロマトグラフ－質量分析計、ガスクロマトグラフ、液体クロマトグラフ、液体クロマトグラフ－質量分析計またはイオン付着質量分析計である、分析装置の評価方法。
11. 請求項１から１０までのいずれか一項に記載の分析装置の評価方法により分析装置の評価を行うことと、
    前記評価に基づいて前記分析装置を較正することとを備える分析装置の較正方法。
12. 請求項１から１０までのいずれか一項に記載の分析装置の評価方法により分析装置を評価することと、
    評価された前記分析装置を用いて分析を行うこととを備える分析方法。
13. 請求項１２に記載の分析方法において、
    前記情報に基づいて、前記分析装置により得られたデータを補正する分析方法。
14. 試料に含まれる複数の化合物をそれぞれ検出可能な分析装置であって、
    第１化合物を含む前記試料を前記分析装置に導入して測定を行い、前記第１化合物および前記第１化合物に由来する少なくとも一つの反応生成物を検出する測定部と、
    検出された前記第１化合物の強度および前記少なくとも一つの反応生成物のそれぞれの強度と、前記第１化合物および前記少なくとも一つの反応生成物のそれぞれについての相対応答係数とに基づいて、前記分析装置が分析に適している状態か否かを示す情報を取得する装置情報取得部とを備える分析装置。
15. 試料に含まれる複数の化合物をそれぞれ検出可能な分析装置に、第１化合物を含む前記試料が導入され測定が行われ、前記第１化合物および前記第１化合物に由来する少なくとも一つの反応生成物が検出されて得られた測定データを取得する測定データ取得処理と、
    検出された前記第１化合物の強度および前記少なくとも一つの反応生成物のそれぞれの強度と、前記第１化合物および前記少なくとも一つの反応生成物のそれぞれについての相対応答係数とに基づいて、前記分析装置が分析に適している状態か否かを示す情報を取得する装置情報取得処理とを処理装置に行わせるためのプログラム。

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