JP3509470B2 - 質量分析方法及び質量分析装置 - Google Patents
質量分析方法及び質量分析装置Info
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0009—Calibration of the apparatus
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
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- G01N30/8665—Signal analysis for calibrating the measuring apparatus
-
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は質量分析方法及び質
量分析装置に関する。
量分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、試料の分析のために質量分析装置
が多く使用される。この質量分析装置は、試料をイオン
化し、電場あるいは磁場を走査し質量を選択し、走査選
択されたイオンを検出する装置である。このようにし
て、質量に対する出力（マススペクトル）を得る。ま
た、試料のイオン化については、試料に電子を衝突させ
たり（ＥＩ法）、試料を高電圧の下に噴霧したり（エレ
クトロスプレイ法 ／ＥＳＩ法）、あるいは、試料を化
学的にイオン化したり（大気圧化学イオン化法／APCI
法）等により試料に電荷を与えている。このような技術
は、例えば、特開昭64−9359号公報に記載されている。
が多く使用される。この質量分析装置は、試料をイオン
化し、電場あるいは磁場を走査し質量を選択し、走査選
択されたイオンを検出する装置である。このようにし
て、質量に対する出力（マススペクトル）を得る。ま
た、試料のイオン化については、試料に電子を衝突させ
たり（ＥＩ法）、試料を高電圧の下に噴霧したり（エレ
クトロスプレイ法 ／ＥＳＩ法）、あるいは、試料を化
学的にイオン化したり（大気圧化学イオン化法／APCI
法）等により試料に電荷を与えている。このような技術
は、例えば、特開昭64−9359号公報に記載されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このように試料に電荷
与える際には、電子の衝突，高電圧あるいは大きな化学
エネルギーが介在するので、これに伴って、不純物の発
生が避けられない。例えば、ＥＩ法においては、電子衝
撃により試料が破壊されて、測定の対象となる試料とは
異なる質量のイオンが多く発生する。このような不純物
は、測定対象試料に混入して測定精度を低下させる。特
に、不純物が質量分析装置内部に付着し、さらにこの付
着が蓄積し、質量分析装置の内部を汚染した場合には、
測定精度は大きく低下し分析結果は信頼に耐えられなく
なる。
与える際には、電子の衝突，高電圧あるいは大きな化学
エネルギーが介在するので、これに伴って、不純物の発
生が避けられない。例えば、ＥＩ法においては、電子衝
撃により試料が破壊されて、測定の対象となる試料とは
異なる質量のイオンが多く発生する。このような不純物
は、測定対象試料に混入して測定精度を低下させる。特
に、不純物が質量分析装置内部に付着し、さらにこの付
着が蓄積し、質量分析装置の内部を汚染した場合には、
測定精度は大きく低下し分析結果は信頼に耐えられなく
なる。
【０００４】本発明の目的は、分析結果の信頼性検証が
可能な質量分析方法及び質量分析装置を提供することに
ある。
可能な質量分析方法及び質量分析装置を提供することに
ある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明では、試料をイオン化し、イオン化した試
料を質量に応じて分離し、分離したイオンを検出する装
置において、分離による試料に含まれる特定質量数に対
応する量を計測し、分離された試料とこれを異なる試料
における共通の検出項目を比較、あるいは、同一試料に
おける異なる検出量を比較し、この比較により信頼性の
データを出力するように構成した。
めに、本発明では、試料をイオン化し、イオン化した試
料を質量に応じて分離し、分離したイオンを検出する装
置において、分離による試料に含まれる特定質量数に対
応する量を計測し、分離された試料とこれを異なる試料
における共通の検出項目を比較、あるいは、同一試料に
おける異なる検出量を比較し、この比較により信頼性の
データを出力するように構成した。
【０００６】好ましくは標準試料測定時に標準試料のマ
ススペクトルを保存し、未知試料測定時に先に保存した
標準試料のマススペクトルと未知試料のマススペクトル
を比較することにより、定量目的成分が正しく測定され
たかどうかの信頼性を判断する。
ススペクトルを保存し、未知試料測定時に先に保存した
標準試料のマススペクトルと未知試料のマススペクトル
を比較することにより、定量目的成分が正しく測定され
たかどうかの信頼性を判断する。
【０００７】また、一般に質量分析計においては、試料
分子どうしの化学イオン化反応等の原因により、マスス
ペクトルのパターンは試料濃度により変動するが、濃度
の近いマススペクトルを比較することが好ましい。これ
によって、濃度変化に伴うマススペクトルのパターン変
動の影響を最小にし、定量結果の信頼性を向上させるこ
とができる。特に、検量線から未知試料の濃度を算出し
た後、未知試料の濃度に最も近い濃度の標準試料と未知
試料を比較すると良い。目的とする成分が正しく定量さ
れたかどうかの判定が、標準試料のマススペクトルと未
知試料のマススペクトルの類似度などの数値を比較して
行われるので、分析者の熟練度による定量結果の信頼性
の評価の違いがなくなる。試料が低濃度になると、バッ
クグランドピークや隣接ピーク由来のピーク，ランダム
ノイズ等の影響のため類似度の信頼性は著しく低下する
が、標準試料及び未知試料のマススペクトルより、当該
成分の保持時間にピークの検出されないバックグランド
ピーク及び保持時間の異なる成分由来のピークを自動で
除去して純化することにより、低濃度であっても類似度
の信頼性は向上する。
分子どうしの化学イオン化反応等の原因により、マスス
ペクトルのパターンは試料濃度により変動するが、濃度
の近いマススペクトルを比較することが好ましい。これ
によって、濃度変化に伴うマススペクトルのパターン変
動の影響を最小にし、定量結果の信頼性を向上させるこ
とができる。特に、検量線から未知試料の濃度を算出し
た後、未知試料の濃度に最も近い濃度の標準試料と未知
試料を比較すると良い。目的とする成分が正しく定量さ
れたかどうかの判定が、標準試料のマススペクトルと未
知試料のマススペクトルの類似度などの数値を比較して
行われるので、分析者の熟練度による定量結果の信頼性
の評価の違いがなくなる。試料が低濃度になると、バッ
クグランドピークや隣接ピーク由来のピーク，ランダム
ノイズ等の影響のため類似度の信頼性は著しく低下する
が、標準試料及び未知試料のマススペクトルより、当該
成分の保持時間にピークの検出されないバックグランド
ピーク及び保持時間の異なる成分由来のピークを自動で
除去して純化することにより、低濃度であっても類似度
の信頼性は向上する。
【０００８】また、好ましくは、標準試料及び未知試料
の定量用質量数のマスクロマトグラムの目的成分のピー
クの半値幅／ピーク強度を比較して、目的成分のピーク
の相似度を検証する。これにより、装置の汚染やカラム
の劣化などによる影響を調べることが出来るので、定量
結果の信頼性を判断することが出来る。
の定量用質量数のマスクロマトグラムの目的成分のピー
クの半値幅／ピーク強度を比較して、目的成分のピーク
の相似度を検証する。これにより、装置の汚染やカラム
の劣化などによる影響を調べることが出来るので、定量
結果の信頼性を判断することが出来る。
【０００９】また好ましくは、目的成分に特徴的なピー
クが得られる質量数の強度比を求めて、未知試料の強度
比と比較する。これにより、定量用質量数が隣接ピーク
と質量的に分離されているかが検証できるので、他成分
ピークからの影響を知ることが出来る。
クが得られる質量数の強度比を求めて、未知試料の強度
比と比較する。これにより、定量用質量数が隣接ピーク
と質量的に分離されているかが検証できるので、他成分
ピークからの影響を知ることが出来る。
【００１０】好ましくは、信頼性報告として、自動純化
した標準試料マススペクトルと未知試料のマススペクト
ル間で算出した類似度を出力する。これにより、分析者
が定量結果の信頼性を数値によって確認できると同時
に、両マススペクトルの規格化したスペクトルや両マス
スペクトルの差スペクトルを表示することにより、視覚
的にも確認できるため、数値による判断と画面の両方で
定量結果の妥当性を検証できる。
した標準試料マススペクトルと未知試料のマススペクト
ル間で算出した類似度を出力する。これにより、分析者
が定量結果の信頼性を数値によって確認できると同時
に、両マススペクトルの規格化したスペクトルや両マス
スペクトルの差スペクトルを表示することにより、視覚
的にも確認できるため、数値による判断と画面の両方で
定量結果の妥当性を検証できる。
【００１１】好ましくは、信頼性報告画面において、自
動純化した未知試料のマススペクトルと標準試料マスス
ペクトルあるいはそれらの差スペクトル上で、定量に用
いた質量と参照に用いた質量を色を変えたり記号を付し
たり、あるいは線種を変更するなどして明示する。これ
により、目的とする成分がクロマトグラム上の隣接ピー
クと質量的に分離されているかどうかを、分析者が視覚
的に確認できるため、不適当な定量質量を排除すること
が容易になる。
動純化した未知試料のマススペクトルと標準試料マスス
ペクトルあるいはそれらの差スペクトル上で、定量に用
いた質量と参照に用いた質量を色を変えたり記号を付し
たり、あるいは線種を変更するなどして明示する。これ
により、目的とする成分がクロマトグラム上の隣接ピー
クと質量的に分離されているかどうかを、分析者が視覚
的に確認できるため、不適当な定量質量を排除すること
が容易になる。
【００１２】好ましくは、検量線作成時の標準試料マス
スペクトルを、あらかじめ登録してある信頼性確認用マ
ススペクトルと比較し、同一濃度におけるマススペクト
ルの強度比と類似度を装置の信頼性の指標として用い
る。これにより、インターフェイス部や、イオン源の汚
れ、検出機の劣化による感度低下、マススペクトルパタ
ーンの変化による影響を検証するため、分析者は容易に
装置のメンテナンス時期を知ることができる。またこの
値が一定以上であれば、装置性能が定量分析に使用可能
な状態であることが保証される。
スペクトルを、あらかじめ登録してある信頼性確認用マ
ススペクトルと比較し、同一濃度におけるマススペクト
ルの強度比と類似度を装置の信頼性の指標として用い
る。これにより、インターフェイス部や、イオン源の汚
れ、検出機の劣化による感度低下、マススペクトルパタ
ーンの変化による影響を検証するため、分析者は容易に
装置のメンテナンス時期を知ることができる。またこの
値が一定以上であれば、装置性能が定量分析に使用可能
な状態であることが保証される。
【００１３】
【発明の実施の形態】本発明の実施例を図面を用いて説
明する。
明する。
【００１４】図２にＬＣ直結イオントラップ質量分析計
の概要を示す。溶液瓶１に保管された移動相溶媒はポン
プ２により注入口３を経て分析カラム４に送られる。試
料はマイクロシリンジ等により注入口３から導入され
る。導入された試料は分析カラム４を進みながら、成分
毎に分離される。分析カラム４を出た試料成分溶液は高
電圧が印加されたＥＳＩプローブ５に送られる。プロー
ブ先端から大気中に電荷を持った液滴として噴霧され
る。液滴は大気分子と衝突を繰り返し、液滴の径が小さ
くなり、最終的に大気中にイオンが放出される。生成し
たイオンは加熱器６で加熱されたスキマを介して真空ポ
ンプで排気された中間圧力室７に導入される。さらに、
真空ポンプで排気され質量分析計が置かれた真空室に導
入される。導入されたイオンは、レンズ９のエンドキャ
ップ電極１０，１１とドーナツ状の一つのリング電極１
２で囲まれた空間に導入される。これらの電極の断面は
放物線となっている。リング電極１２に印加された１Ｍ
Ｈｚ程度の高周波により、安定に捕捉される。各電極間
に直流電圧Ｕと高周波電圧ＶcosΩtが印加されて電極間
空間に四重極電界がつくられる。この電界中に捕捉され
たイオンの軌道の安定性は、装置の大きさ（リング電極
内径ｒ0 ）と電極に印加される、直流電圧Ｕ，高周波電
圧の振幅Ｖとその角周波数Ω、更に、イオンの質量対電
荷比ｍ／Ｚによって与えられるａ，ｑ値によって定まる
（（数１）式）。
の概要を示す。溶液瓶１に保管された移動相溶媒はポン
プ２により注入口３を経て分析カラム４に送られる。試
料はマイクロシリンジ等により注入口３から導入され
る。導入された試料は分析カラム４を進みながら、成分
毎に分離される。分析カラム４を出た試料成分溶液は高
電圧が印加されたＥＳＩプローブ５に送られる。プロー
ブ先端から大気中に電荷を持った液滴として噴霧され
る。液滴は大気分子と衝突を繰り返し、液滴の径が小さ
くなり、最終的に大気中にイオンが放出される。生成し
たイオンは加熱器６で加熱されたスキマを介して真空ポ
ンプで排気された中間圧力室７に導入される。さらに、
真空ポンプで排気され質量分析計が置かれた真空室に導
入される。導入されたイオンは、レンズ９のエンドキャ
ップ電極１０，１１とドーナツ状の一つのリング電極１
２で囲まれた空間に導入される。これらの電極の断面は
放物線となっている。リング電極１２に印加された１Ｍ
Ｈｚ程度の高周波により、安定に捕捉される。各電極間
に直流電圧Ｕと高周波電圧ＶcosΩtが印加されて電極間
空間に四重極電界がつくられる。この電界中に捕捉され
たイオンの軌道の安定性は、装置の大きさ（リング電極
内径ｒ0 ）と電極に印加される、直流電圧Ｕ，高周波電
圧の振幅Ｖとその角周波数Ω、更に、イオンの質量対電
荷比ｍ／Ｚによって与えられるａ，ｑ値によって定まる
（（数１）式）。
【００１５】
【数１】
【００１６】ここで、ｚはイオンの電価数、ｍは質量、
ｅは素電荷を表す。イオントラップ電極間空間内で安定
軌道を与えるａ，ｑの範囲を表した安定領域図を図３に
示す。この安定領域内に相当する全てのイオンは、電極
間空間内を安定に振動する。電極内に蓄えられたイオン
はリング電極に印加された高周波の電圧（振幅）を変化
することによりエンドキャップ電極の中心に開けられた
穴１４からトラップ外に放出される。放出されたイオン
を検出器１５で検出し、データ処理装置１３により質量
スペクトルを得る。また、エンドキャップ電極１０，１
１及びリング電極の印加電圧は、データ処理装置１３に
よって印加される。
ｅは素電荷を表す。イオントラップ電極間空間内で安定
軌道を与えるａ，ｑの範囲を表した安定領域図を図３に
示す。この安定領域内に相当する全てのイオンは、電極
間空間内を安定に振動する。電極内に蓄えられたイオン
はリング電極に印加された高周波の電圧（振幅）を変化
することによりエンドキャップ電極の中心に開けられた
穴１４からトラップ外に放出される。放出されたイオン
を検出器１５で検出し、データ処理装置１３により質量
スペクトルを得る。また、エンドキャップ電極１０，１
１及びリング電極の印加電圧は、データ処理装置１３に
よって印加される。
【００１７】図４にマススペクトルの出力例を説明す
る。試料が分析カラム４を通過すると図４（ａ）のよう
に溶出時間に対し出力がある。一方、分析カラム４で分
離された試料は、さらに、エンドキャップ電極１０，１
１及び、リング電極１２の印加電圧の変化により、質量
に応じて分離される。この分離では、所定の質量の走査
がなされ、しかも、短い時間間隔で繰り返し走査がなさ
れる。例えば、図４(ｂ)のように、ｔ(1)，ｔ(2)，…，
ｔ(n），…，ｔ(m）の時間の間、走査がなされる。これ
に応じて、データ処理装置１３に質量スピクトルが表示
される。
る。試料が分析カラム４を通過すると図４（ａ）のよう
に溶出時間に対し出力がある。一方、分析カラム４で分
離された試料は、さらに、エンドキャップ電極１０，１
１及び、リング電極１２の印加電圧の変化により、質量
に応じて分離される。この分離では、所定の質量の走査
がなされ、しかも、短い時間間隔で繰り返し走査がなさ
れる。例えば、図４(ｂ)のように、ｔ(1)，ｔ(2)，…，
ｔ(n），…，ｔ(m）の時間の間、走査がなされる。これ
に応じて、データ処理装置１３に質量スピクトルが表示
される。
【００１８】図１により、本発明を使った質量分析計の
定量手順を説明する。始めにオペレーターが目的定量成
分及び、定量に用いる質量数を決定すると、これらがデ
ータ処理装置１３に入力され、記憶される（ステップ２
２）。次に、濃度の異なる目的成分の標準試料を複数測
定する（ステップ２４）。それらのマススペクトルを自
動純化し、参照用として保存する（ステップ２６，サブ
ルーチンＡ）。
定量手順を説明する。始めにオペレーターが目的定量成
分及び、定量に用いる質量数を決定すると、これらがデ
ータ処理装置１３に入力され、記憶される（ステップ２
２）。次に、濃度の異なる目的成分の標準試料を複数測
定する（ステップ２４）。それらのマススペクトルを自
動純化し、参照用として保存する（ステップ２６，サブ
ルーチンＡ）。
【００１９】マスクスペクトルの自動純化のサブルーチ
ンのフローチャートを図５に示す。まず、定量用質量数
のマスクロマトグラム（図６（ａ））より、目的成分の
ピークを選択してそのピークトップのマススペクトルを
作成する（図６（ｂ）)(ステップ１０２）。次に、マス
スペクトル上にある全ピーク（ピーク１〜ピーク７）の
マスクロマトグラムを作成する（ステップ１０４）。そ
こで第１番目のマスクロマトグラム図６(ｃ−１)につい
て（ステップ１０５）、マスクロマトグラム上に、定量
用質量数のマスクロマトグラム上の目的成分のピークと
同じ溶出時間にピークが存在するかどうかを検証する
（ステップ１０６）。この時、定量用質量数のマスクロ
マトグラム上のピークと同じ溶出時間にピークが存在し
ない場合（ステップ１０６）、すなわちバックグラウン
ドによりマススペクトルに見かけ上ピークが存在するよ
うに見えるものや、ピークが存在していても溶出時間が
異なるなどの場合には、目的成分によるピークではない
と判断してそのピークをマススペクトルから除去する
（ステップ１１２）。マスクロマトグラム上に同じ溶出
時間にピークが存在する場合には、次の検証に進む。
ンのフローチャートを図５に示す。まず、定量用質量数
のマスクロマトグラム（図６（ａ））より、目的成分の
ピークを選択してそのピークトップのマススペクトルを
作成する（図６（ｂ）)(ステップ１０２）。次に、マス
スペクトル上にある全ピーク（ピーク１〜ピーク７）の
マスクロマトグラムを作成する（ステップ１０４）。そ
こで第１番目のマスクロマトグラム図６(ｃ−１)につい
て（ステップ１０５）、マスクロマトグラム上に、定量
用質量数のマスクロマトグラム上の目的成分のピークと
同じ溶出時間にピークが存在するかどうかを検証する
（ステップ１０６）。この時、定量用質量数のマスクロ
マトグラム上のピークと同じ溶出時間にピークが存在し
ない場合（ステップ１０６）、すなわちバックグラウン
ドによりマススペクトルに見かけ上ピークが存在するよ
うに見えるものや、ピークが存在していても溶出時間が
異なるなどの場合には、目的成分によるピークではない
と判断してそのピークをマススペクトルから除去する
（ステップ１１２）。マスクロマトグラム上に同じ溶出
時間にピークが存在する場合には、次の検証に進む。
【００２０】次に、目的成分と同じ溶出時間に存在する
マスクロマトグラム上のピークのピークトップの前後少
なくとも一方に、例えば（ｃ−３）のように、ベースレ
ベルを越えるデータが存在するかどうかを検証する（ス
テップ１０８）。すなわち例えば（ｃ−７）のようにマ
スクロマトグラム上のピークが一つのデータのみで形成
されている場合には、そのピークはランダムノイズによ
るものであり目的成分によるものではないと判断して、
そのピークをマススペクトルから除去する（ステップ１
１２）。ピークが複数のデータから形成されている場合
には、そのピークはランダムノイズのものではないと
し、目的成分由来のものであると判断する。
マスクロマトグラム上のピークのピークトップの前後少
なくとも一方に、例えば（ｃ−３）のように、ベースレ
ベルを越えるデータが存在するかどうかを検証する（ス
テップ１０８）。すなわち例えば（ｃ−７）のようにマ
スクロマトグラム上のピークが一つのデータのみで形成
されている場合には、そのピークはランダムノイズによ
るものであり目的成分によるものではないと判断して、
そのピークをマススペクトルから除去する（ステップ１
１２）。ピークが複数のデータから形成されている場合
には、そのピークはランダムノイズのものではないと
し、目的成分由来のものであると判断する。
【００２１】そこで、得られたピークのベースラインを
求め、ピークトップからベースラインに垂線を引いてピ
ーク高さを求める（ステップ１１０）。そして、マスス
ペクトル上にピークを維持する（ステップ１１４）。以
上の動作を最後のクロマトグラムまで繰り直し（ステッ
プ１１６，１１７）、マススペクトルを再構築すること
により、スペクトルの純化が行われる（図６（ｄ））。
こうして得られたマススペクトルは、目的成分以外のピ
ークが除去されており、自動純化しない場合と比較して
マススペクトルの検証がより容易となり、その結果信頼
性が向上する。次に図１にもどり、装置が定量分析に使
用可能な状態であるかどうかの検証を行う（ステップ２
８／サブルーチンＢ）。装置状態の検証フローチャート
を図７に示す。まず、あらかじめ保存してある信頼性確
認用データファイルを参照し、現在の装置条件及び測定
試料の種類や濃度等を比較する（ステップ１２２）。こ
れらの測定条件が異なる場合には、どの測定条件が異な
っているかを表示し、再測定を促す（ステップ１２
６）。測定条件が全て等しい場合には、次の検証に進
む。次に信頼性確認用マススペクトルと標準試料のマス
スペクトルを比較する（ステップ１２８）。まず定量用
質量数のピーク強度を比較し、強度が大きく異なる場合
には感度が異常であるとの警告を表示する（ステップ１
３０）。強度が指定された許容範囲内にある場合には、
次の検証に進む。次に両マススペクトルの類似度を求
め、類似度が一定以上であるかどうかを検証する。信頼
性確認用マススペクトルと標準試料のマススペクトルの
相対強度の差スペクトルを求める（ステップ１３２）。
次に差スペクトルの各ピーク強度の平均値Ｅｘ及び標準
偏差Ｓｘを計算し（ステップ１３４，１３６）、計算式
を元に類似度を算出する。ここで類似度が０から１の値
をとり、完全に同一のスペクトルのときに類似度が１に
なるように、定数Ａ，Ｂは決定されている（ステップ１
３８）。このような手順で求められた類似度が一定値以
下である場合には（ステップ１４０）、装置が汚染され
ているなどの原因で定量分析を行うには不十分な状態で
あるため、その旨警告表示する（ステップ１４４）。一
定値以上である場合には、定量分析に使用可能な装置状
態にあると判断する（ステップ１４４）。
求め、ピークトップからベースラインに垂線を引いてピ
ーク高さを求める（ステップ１１０）。そして、マスス
ペクトル上にピークを維持する（ステップ１１４）。以
上の動作を最後のクロマトグラムまで繰り直し（ステッ
プ１１６，１１７）、マススペクトルを再構築すること
により、スペクトルの純化が行われる（図６（ｄ））。
こうして得られたマススペクトルは、目的成分以外のピ
ークが除去されており、自動純化しない場合と比較して
マススペクトルの検証がより容易となり、その結果信頼
性が向上する。次に図１にもどり、装置が定量分析に使
用可能な状態であるかどうかの検証を行う（ステップ２
８／サブルーチンＢ）。装置状態の検証フローチャート
を図７に示す。まず、あらかじめ保存してある信頼性確
認用データファイルを参照し、現在の装置条件及び測定
試料の種類や濃度等を比較する（ステップ１２２）。こ
れらの測定条件が異なる場合には、どの測定条件が異な
っているかを表示し、再測定を促す（ステップ１２
６）。測定条件が全て等しい場合には、次の検証に進
む。次に信頼性確認用マススペクトルと標準試料のマス
スペクトルを比較する（ステップ１２８）。まず定量用
質量数のピーク強度を比較し、強度が大きく異なる場合
には感度が異常であるとの警告を表示する（ステップ１
３０）。強度が指定された許容範囲内にある場合には、
次の検証に進む。次に両マススペクトルの類似度を求
め、類似度が一定以上であるかどうかを検証する。信頼
性確認用マススペクトルと標準試料のマススペクトルの
相対強度の差スペクトルを求める（ステップ１３２）。
次に差スペクトルの各ピーク強度の平均値Ｅｘ及び標準
偏差Ｓｘを計算し（ステップ１３４，１３６）、計算式
を元に類似度を算出する。ここで類似度が０から１の値
をとり、完全に同一のスペクトルのときに類似度が１に
なるように、定数Ａ，Ｂは決定されている（ステップ１
３８）。このような手順で求められた類似度が一定値以
下である場合には（ステップ１４０）、装置が汚染され
ているなどの原因で定量分析を行うには不十分な状態で
あるため、その旨警告表示する（ステップ１４４）。一
定値以上である場合には、定量分析に使用可能な装置状
態にあると判断する（ステップ１４４）。
【００２２】次に図１にもどりこれらの標準試料の定量
用質量数のマスクロマトグラムのピーク面積値より、目
的成分の検量線を作成する（ステップ３０）。検量線の
例を図８に示す。次に濃度未知の試料を測定し（ステッ
プ３２）、先に作成した検量線を用いて、試料中の目的
成分の濃度を計算する（ステップ３３）。
用質量数のマスクロマトグラムのピーク面積値より、目
的成分の検量線を作成する（ステップ３０）。検量線の
例を図８に示す。次に濃度未知の試料を測定し（ステッ
プ３２）、先に作成した検量線を用いて、試料中の目的
成分の濃度を計算する（ステップ３３）。
【００２３】ここで、この定量結果の信頼性を検証する
（ステップ３４／サブルーチンＣ）。信頼性の検証フロ
ーチャートを図９，図１１に示す。まず、未知試料中の
目的成分のピークから、図５のフローチャートの動作と
同様に自動純化マススペクトルを作成する（ステップ１
６０）。ここでは、同様の動作であるので、説明を省略
する。次に未知試料に濃度の最も近い標準試料のマスス
ペクトルを参照用として選択する（ステップ１６２）。
ここで未知試料の中の目的成分濃度を検証し、定量値が
一定濃度以上である場合には類似度を用いて信頼性の検
証を行い、一定濃度以下である場合には、差スペクトル
より信頼性の検証を行う。というのは、類似度による信
頼性の検証は目的成分濃度の高い場合には非常に有効で
あるが、一定濃度以下になると検証の信頼性が急激に落
ちてしまうためである。また差スペクトルによる信頼性
の検証は、信頼度は類似度と比べると多少落ちるが、成
分の濃度が低い場合にも適応することが出来る。そのた
め、目的成分濃度が一定値以上ある場合は類似度による
検証を行い、濃度が一定値以下の場合には差スペクトル
による検証を行うことにする（ステップ１６４）。
（ステップ３４／サブルーチンＣ）。信頼性の検証フロ
ーチャートを図９，図１１に示す。まず、未知試料中の
目的成分のピークから、図５のフローチャートの動作と
同様に自動純化マススペクトルを作成する（ステップ１
６０）。ここでは、同様の動作であるので、説明を省略
する。次に未知試料に濃度の最も近い標準試料のマスス
ペクトルを参照用として選択する（ステップ１６２）。
ここで未知試料の中の目的成分濃度を検証し、定量値が
一定濃度以上である場合には類似度を用いて信頼性の検
証を行い、一定濃度以下である場合には、差スペクトル
より信頼性の検証を行う。というのは、類似度による信
頼性の検証は目的成分濃度の高い場合には非常に有効で
あるが、一定濃度以下になると検証の信頼性が急激に落
ちてしまうためである。また差スペクトルによる信頼性
の検証は、信頼度は類似度と比べると多少落ちるが、成
分の濃度が低い場合にも適応することが出来る。そのた
め、目的成分濃度が一定値以上ある場合は類似度による
検証を行い、濃度が一定値以下の場合には差スペクトル
による検証を行うことにする（ステップ１６４）。
【００２４】まず、一定濃度以上のときには、標準試料
と未知試料のマススペクトルの類似度を図７のフローチ
ャートに従い求める（ステップ１６６）。類似度が一定
値以下である場合には、信頼性が低いと判断し（ステッ
プ１６７）、一定値以上であるときには、定量に用いた
質量数が分離されているかどうかの検証に進む。また、
未知試料の濃度が一定濃度以下である場合には、自動純
化する前の未知試料のマススペクトルを規格化し、同じ
く規格化した参照用マススペクトルを差し引く。この時
１０％以上の負のピークがあるかどうかを検証する（ス
テップ１６８）。１０％以上の負のピークがある場合に
は、目的成分ではない可能性が高いので信頼性が低いと
判断して警告表示する（ステップ１６９）、１０％以上
の負のピークがない場合には、濃度が高いときと同じく
定量に用いた質量数が分離されているかどうかの検証に
進む。
と未知試料のマススペクトルの類似度を図７のフローチ
ャートに従い求める（ステップ１６６）。類似度が一定
値以下である場合には、信頼性が低いと判断し（ステッ
プ１６７）、一定値以上であるときには、定量に用いた
質量数が分離されているかどうかの検証に進む。また、
未知試料の濃度が一定濃度以下である場合には、自動純
化する前の未知試料のマススペクトルを規格化し、同じ
く規格化した参照用マススペクトルを差し引く。この時
１０％以上の負のピークがあるかどうかを検証する（ス
テップ１６８）。１０％以上の負のピークがある場合に
は、目的成分ではない可能性が高いので信頼性が低いと
判断して警告表示する（ステップ１６９）、１０％以上
の負のピークがない場合には、濃度が高いときと同じく
定量に用いた質量数が分離されているかどうかの検証に
進む。
【００２５】次に、定量に用いた質量数が質量的に分離
されているかどうかを検証する。まず、自動純化した標
準試料のマススペクトルより、定量用質量数以外で目的
成分に由来するピークの質量数を参照用質量数として選
択する（ステップ１７０）。次に定量用質量数と参照用
質量数のピーク強度比を求める（ステップ１７２）。同
様に、自動純化した未知試料のマススペクトルから定量
用質量数と参照用質量数のピーク強度比を求めて（ステ
ップ１７４）、両者のピーク強度比を比較する。ここ
で、両者のピーク強度比が指定された許容範囲内にある
かどうかを検証する（ステップ１７６）。許容範囲を越
えている場合には、定量用質量数が何らかの妨害を受け
ており質量的に分離されていないと判断し（ステップ１
８０）、その結果定量結果の信頼性が低いと判定し警告
表示する（ステップ１０６）。指定された許容範囲内に
ある場合には、マスクロマトグラムの相似度の検証に進
む。例えば、図１１に示すように、妨害スペクトルの印
加によりピーク比が大きく変わっていると、信頼性が低
いと判断される。
されているかどうかを検証する。まず、自動純化した標
準試料のマススペクトルより、定量用質量数以外で目的
成分に由来するピークの質量数を参照用質量数として選
択する（ステップ１７０）。次に定量用質量数と参照用
質量数のピーク強度比を求める（ステップ１７２）。同
様に、自動純化した未知試料のマススペクトルから定量
用質量数と参照用質量数のピーク強度比を求めて（ステ
ップ１７４）、両者のピーク強度比を比較する。ここ
で、両者のピーク強度比が指定された許容範囲内にある
かどうかを検証する（ステップ１７６）。許容範囲を越
えている場合には、定量用質量数が何らかの妨害を受け
ており質量的に分離されていないと判断し（ステップ１
８０）、その結果定量結果の信頼性が低いと判定し警告
表示する（ステップ１０６）。指定された許容範囲内に
ある場合には、マスクロマトグラムの相似度の検証に進
む。例えば、図１１に示すように、妨害スペクトルの印
加によりピーク比が大きく変わっていると、信頼性が低
いと判断される。
【００２６】次に、標準試料と未知試料のマスクロマト
グラムの目的成分ピークの相似度の検証を行う。標準試
料の定量用質量数のマスクロマトグラムより目的成分の
ピークを選択し、そのピークの半値幅／ピーク強度を求
める。同様に未知試料についてもピークの半値幅／ピー
ク強度を求め、それらが指定された許容範囲内で等しい
かどうかを検証する。等しくない場合には信頼性が低い
と判断し、指定された許容範囲内で等しい場合には未知
試料のピークが標準試料のピークと相似であるとし、そ
の結果定量結果の信頼性があるものと判定する（ステッ
プ１８０，ステップ１８４）。
グラムの目的成分ピークの相似度の検証を行う。標準試
料の定量用質量数のマスクロマトグラムより目的成分の
ピークを選択し、そのピークの半値幅／ピーク強度を求
める。同様に未知試料についてもピークの半値幅／ピー
ク強度を求め、それらが指定された許容範囲内で等しい
かどうかを検証する。等しくない場合には信頼性が低い
と判断し、指定された許容範囲内で等しい場合には未知
試料のピークが標準試料のピークと相似であるとし、そ
の結果定量結果の信頼性があるものと判定する（ステッ
プ１８０，ステップ１８４）。
【００２７】この後、定量結果と信頼性検証により得ら
れた結果をデータ処理装置１３の画面等に出力する。信
頼性検証結果報告の出力例を図１２に示す。図１２は定
量分析の信頼性が高いと判断した例であり、定量信頼性
が高いことを二重丸で表示している。また信頼性が低い
と判断した場合には、その程度に応じて丸や三角あるい
はバツなどを表示して、信頼性の程度をすぐに判断でき
るようにしている。ここで、信頼性検証に用いた類似度
あるいは質量分離の程度などの数値を画面上に表示して
もよい。またこの時、何が原因で信頼性が低いと判断し
たかを類似度あるいは質量分離の程度などの数値あるい
は言葉で同時に表示してもよい。
れた結果をデータ処理装置１３の画面等に出力する。信
頼性検証結果報告の出力例を図１２に示す。図１２は定
量分析の信頼性が高いと判断した例であり、定量信頼性
が高いことを二重丸で表示している。また信頼性が低い
と判断した場合には、その程度に応じて丸や三角あるい
はバツなどを表示して、信頼性の程度をすぐに判断でき
るようにしている。ここで、信頼性検証に用いた類似度
あるいは質量分離の程度などの数値を画面上に表示して
もよい。またこの時、何が原因で信頼性が低いと判断し
たかを類似度あるいは質量分離の程度などの数値あるい
は言葉で同時に表示してもよい。
【００２８】また図１２のように、信頼性報告結果の出
力時に、標準試料のマススペクトル及び未知試料のマス
スペクトルの規格化したスペクトルあるいは両マススペ
クトルの差スペクトルを表示することにより、信頼性を
判定結果あるいは数値だけでなく視覚的にも確認できる
ので、分析者が信頼性報告の妥当性を確認することが出
来る。またこの時、定量用質量数及び参照用質量数に対
して、色を変えたり印を付したりあるいは線種を変更す
るなどして他の質量数と明確に区別することにより、目
的成分が質量的に分離されているかどうかを、分析者が
視覚的に容易に確認できるようになる。図１２では定量
用質量数の部位に塗り潰した三角形を、参照用質量数の
部位に塗り潰した丸を表示させて、他の質量数と明確に
区別出来るようにしている。
力時に、標準試料のマススペクトル及び未知試料のマス
スペクトルの規格化したスペクトルあるいは両マススペ
クトルの差スペクトルを表示することにより、信頼性を
判定結果あるいは数値だけでなく視覚的にも確認できる
ので、分析者が信頼性報告の妥当性を確認することが出
来る。またこの時、定量用質量数及び参照用質量数に対
して、色を変えたり印を付したりあるいは線種を変更す
るなどして他の質量数と明確に区別することにより、目
的成分が質量的に分離されているかどうかを、分析者が
視覚的に容易に確認できるようになる。図１２では定量
用質量数の部位に塗り潰した三角形を、参照用質量数の
部位に塗り潰した丸を表示させて、他の質量数と明確に
区別出来るようにしている。
【００２９】このように、質量分析計を用いた定量にお
いて、未知試料の定量結果が正しく目的とする成分のも
のであるかどうかを、標準試料のマススペクトルと未知
試料のマススペクトルの比較により検証し数値により判
断を下すので、分析者の熟練度によらず誰でも同等の判
定を得ることが出来る。また、未知試料と最も濃度の近
い標準スペクトルと比較するために、濃度によるスペク
トルパターンの変動の影響を最少にすることができる。
また、バックグランドやランダムノイズ、隣接ピークの
影響等を自動的に排除した自動純化スペクトルを類似度
計算に用いて検証することにより、より信頼性の高い保
証を得ることができる。またマスクロマトグラムの相似
度を検証することにより、カラムの汚染等によるクロマ
トグラムのピーク形状の変動を検証することが出来る。
また定量用質量数の質量分離の状態を検証することによ
り、他成分などによる妨害を判断することも出来る。
いて、未知試料の定量結果が正しく目的とする成分のも
のであるかどうかを、標準試料のマススペクトルと未知
試料のマススペクトルの比較により検証し数値により判
断を下すので、分析者の熟練度によらず誰でも同等の判
定を得ることが出来る。また、未知試料と最も濃度の近
い標準スペクトルと比較するために、濃度によるスペク
トルパターンの変動の影響を最少にすることができる。
また、バックグランドやランダムノイズ、隣接ピークの
影響等を自動的に排除した自動純化スペクトルを類似度
計算に用いて検証することにより、より信頼性の高い保
証を得ることができる。またマスクロマトグラムの相似
度を検証することにより、カラムの汚染等によるクロマ
トグラムのピーク形状の変動を検証することが出来る。
また定量用質量数の質量分離の状態を検証することによ
り、他成分などによる妨害を判断することも出来る。
【００３０】上記のような判定結果を信頼性報告とし
て、画面に表示するため分析者が定量結果の信頼性を数
値によって確認できると同時に、視覚的にも確認でき
る。また、この報告を印刷して定量結果に添付し、信頼
性を証明することもできる。
て、画面に表示するため分析者が定量結果の信頼性を数
値によって確認できると同時に、視覚的にも確認でき
る。また、この報告を印刷して定量結果に添付し、信頼
性を証明することもできる。
【００３１】未知試料測定前に装置状態の検証を行うこ
とにより、定量結果の信頼性を向上させるとともに、装
置状態の異常による無駄な測定を抑えることができる。
とにより、定量結果の信頼性を向上させるとともに、装
置状態の異常による無駄な測定を抑えることができる。
【００３２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
質量分析における信頼性の向上が可能となる。
質量分析における信頼性の向上が可能となる。
【図１】本発明の定量分析フローチャートを示す。
【図２】装置全体の構成図を示す。
【図３】図２の装置のトラック空間の安定曲線図であ
る。
る。
【図４】図２の装置の溶出に対するマススペクトルの表
示を示す図である。
示を示す図である。
【図５】図１のフローチャート図の自動純化の詳細フロ
ーチャート図である。
ーチャート図である。
【図６】自動純化の動作説明図である。
【図７】図１のフローチャート図の装置状態の検証の詳
細フローチャート図である。
細フローチャート図である。
【図８】検量線の説明図である。
【図９】図１のフローチャート図の定量結果の信頼性検
証の詳細フローチャート図（その１）である。
証の詳細フローチャート図（その１）である。
【図１０】図１のフローチャート図の定量結果の信頼性
検証の詳細フローチャート図（その２）である。
検証の詳細フローチャート図（その２）である。
【図１１】妨害成分の影響の説明図である。
【図１２】データ処理装置にマッチする表示例である。
４…分析カラム、１０，１１…エンドキャップ電極、１
２…リング電極、１５…検出器、１３…データ処理装
置。
２…リング電極、１５…検出器、１３…データ処理装
置。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01N 27/62 - 27/70
G01N 30/72
H01J 49/00 - 49/48
Claims (6)
- 【請求項１】試料を成分毎に分離し、 分離された成分毎に試料をイオン化し、 イオン化された試料を質量に応じて分離し、 質量に応じて分離されたイオンを検出する、質量分析方
法において、 前記分離された目的成分のマススペクトルの各ピーク位
置毎にマスクロマトグラムを作成し、 該各ピーク位置毎のマスクロマトグラムの溶出時間と、
該目的成分のマスクロマトグラムの溶出時間とを比較
し、 目的成分のマスクロマトグラムの溶出時間と異なる溶出
時間をもつピークを前記マススペクトルから除去するこ
とにより、測定されたマススペクトルデータを純化する
ステップを含むことを特徴とする質量分析方法。 - 【請求項２】試料を成分毎に分離し、 分離された成分毎に試料をイオン化し、 イオン化された試料を質量に応じて分離し、 質量に応じて分離されたイオンを検出する、質量分析方
法において、 前記分離された目的成分のマスクロマトグラムと、 該目的成分のマススペクトルの各ピーク毎のマスクロマ
トグラムとを、 比較することにより、測定されたマススペクトルデータ
に含まれる目的成分以外の成分に由来するマススペクト
ルデータを除去して目的成分のマススペクトルの純化を
行った後、 前記分離された目的成分の濃度が予め定められた濃度以
上の場合には、目的成分のマススペクトルと標準試料の
マススペクトルの類似度の検証を行い、 前記分離された目的成分の濃度が予め定められた濃度以
下の場合には、測定対象成分のマススペクトルから、標
準試料のマススペクトルを差し引いて、負のピークの有
無の検証を行うステップを含むことを特徴とする質量分
析方法。 - 【請求項３】請求項２記載の質量分析方法において、更
に、 標準試料のマススペクトルを、標準試料のマスクロマト
グラムと、 該標準試料のマススペクトルの各ピーク毎のマスクロマ
トグラムとを、 比較することにより、測定されたマススペクトルデータ
に含まれる標準試料以外の成分に由来するマススペクト
ルデータを除去して標準試料のマススペクトルの純化を
行った後、該純化された標準試料のマススペクトルのう
ちの複数の質量数のピークの強度比と、 純化した目的成分のマススペクトルのうちの前記標準試
料で選択した複数の質量数と同じピークの強度比とを比
較して、 両者のピーク強度比が予め定められた範囲内にあるかど
うかを検証する信頼性検証ステップを含むことを特徴と
する質量分析方法。 - 【請求項４】請求項３記載の質量分析方法において、 前記信頼性検証ステップにより得られた信頼性検証結果
を、マススペクトルデータと共に出力装置に表示するこ
とを特徴とする質量分析方法。 - 【請求項５】請求項３記載の質量分析方法において、 標準試料のマススペクトルと目的成分のマススペクトル
を同時に出力装置に出力することを特徴とする質量分析
方法。 - 【請求項６】試料を成分毎に分離する分離手段と、 分離された成分毎に試料をイオン化するイオン化手段
と、 イオン化された試料を質量に応じて分離する分離手段
と、 質量に応じて分離されたイオンを検出する検出手段を備
えた質量分析装置であって、 測定時間経過に対する質量毎のイオンの検出量のデータ
を記憶する記憶手段を有し、 該記憶手段からのデータに基づき前記分離された目的成
分のマスクロマトグラムと、 該目的成分のマススペクトルの各ピーク毎のマスクロマ
トグラムとの溶出時間を比較する手段を備えることを特
徴とする質量分析装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12671597A JP3509470B2 (ja) | 1997-05-16 | 1997-05-16 | 質量分析方法及び質量分析装置 |
| US09/075,829 US6369382B1 (en) | 1997-05-16 | 1998-05-12 | Mass spectrometry and mass spectroscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12671597A JP3509470B2 (ja) | 1997-05-16 | 1997-05-16 | 質量分析方法及び質量分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10318983A JPH10318983A (ja) | 1998-12-04 |
| JP3509470B2 true JP3509470B2 (ja) | 2004-03-22 |
Family
ID=14942082
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12671597A Expired - Fee Related JP3509470B2 (ja) | 1997-05-16 | 1997-05-16 | 質量分析方法及び質量分析装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6369382B1 (ja) |
| JP (1) | JP3509470B2 (ja) |
Families Citing this family (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030068989A (ko) * | 2002-02-19 | 2003-08-25 | 주식회사 핸손테크놀로지 | 분광광도계를 이용한 토양점토함량 분석방법 |
| US6822223B2 (en) * | 2002-08-29 | 2004-11-23 | Siemens Energy & Automation, Inc. | Method, system and device for performing quantitative analysis using an FTMS |
| DE602004002856T2 (de) * | 2003-04-09 | 2007-05-16 | MDS Inc. doing business through its MDS Sciex Division, Concord | Dynamische signalauswahl in einem chromatographie-/massenspektometrie-/massenspektrometriesystem |
| US6984820B2 (en) * | 2003-11-20 | 2006-01-10 | Siemens Energy & Automation, Inc. | Method and apparatus for analyzing hydrocarbon streams |
| JP4719694B2 (ja) * | 2004-02-13 | 2011-07-06 | ウオーターズ・テクノロジーズ・コーポレイシヨン | 化学物質を追跡し、定量化するためのシステムおよび方法 |
| JP2006138755A (ja) * | 2004-11-12 | 2006-06-01 | Hitachi Ltd | 危険物探知装置および危険物探知方法 |
| JP2006184275A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-07-13 | Jeol Ltd | 質量分析方法および質量分析装置 |
| US7488935B2 (en) * | 2005-06-24 | 2009-02-10 | Agilent Technologies, Inc. | Apparatus and method for processing of mass spectrometry data |
| JP5103089B2 (ja) * | 2006-10-13 | 2012-12-19 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置を用いた定量分析方法 |
| US20110101215A1 (en) * | 2008-04-03 | 2011-05-05 | Atsumu Hirabayashi | Quantitative analysis method using mass spectrometer |
| JP5707021B2 (ja) * | 2008-09-30 | 2015-04-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 磁場計測装置 |
| JP5066072B2 (ja) * | 2008-12-25 | 2012-11-07 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 液体クロマトグラフ装置 |
| JP2010281633A (ja) * | 2009-06-03 | 2010-12-16 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 樹脂中の赤リンの定量方法 |
| JP5413590B2 (ja) * | 2009-11-11 | 2014-02-12 | 株式会社島津製作所 | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
| JP2011237311A (ja) * | 2010-05-12 | 2011-11-24 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 |
| JP5365579B2 (ja) * | 2010-05-18 | 2013-12-11 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 |
| RU2483388C1 (ru) * | 2011-12-06 | 2013-05-27 | Открытое акционерное общество "Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности "Гиредмет" | Способ получения наноразмерного тонкопленочного стандартного образца химического состава |
| US8946648B2 (en) | 2012-01-19 | 2015-02-03 | Princeton Gamma-Tech Instruments Llc | Dual range digital nuclear spectrometer |
| US8624195B2 (en) | 2012-03-13 | 2014-01-07 | Princeton Gamma-Tech Instruments Inc. | Neutron detector attachment device |
| US20140260586A1 (en) * | 2013-03-14 | 2014-09-18 | Schlumberger Technology Corporation | Method to perform rapid formation fluid analysis |
| WO2015132901A1 (ja) | 2014-03-05 | 2015-09-11 | 株式会社島津製作所 | 質量分析方法及び質量分析装置 |
| JP6318992B2 (ja) * | 2014-09-01 | 2018-05-09 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
| JP6465190B2 (ja) * | 2017-10-31 | 2019-02-06 | 株式会社島津製作所 | 質量分析方法及び質量分析装置 |
| US11754526B2 (en) * | 2018-12-17 | 2023-09-12 | Shimadzu Corporation | Method of evaluating analysis device, method of calibrating analysis device, analysis method, analysis device and non-transitory computer readable medium |
| US20220359178A1 (en) * | 2019-08-30 | 2022-11-10 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Method for Mass Spectrometry |
| WO2022107079A1 (en) * | 2020-11-19 | 2022-05-27 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Systems and methods for improved mass analysis instrument operations |
| CN116087396B (zh) * | 2023-04-11 | 2023-06-02 | 华谱科仪(北京)科技有限公司 | 一种基于专家模型的色谱数据分析方法及装置 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4008388A (en) * | 1974-05-16 | 1977-02-15 | Universal Monitor Corporation | Mass spectrometric system for rapid, automatic and specific identification and quantitation of compounds |
| US4507555A (en) * | 1983-03-04 | 1985-03-26 | Cherng Chang | Parallel mass spectrometer |
| DE3710935C2 (de) * | 1986-04-23 | 1994-08-18 | Finnigan Mat Gmbh | Verfahren zum Betrieb eines Massenspektrometers sowie Massenspektrometer zur Durchführung des Verfahrens |
| US5072115A (en) * | 1990-12-14 | 1991-12-10 | Finnigan Corporation | Interpretation of mass spectra of multiply charged ions of mixtures |
| US5352891A (en) * | 1993-07-16 | 1994-10-04 | The Regents Of The University Of California | Method and apparatus for estimating molecular mass from electrospray spectra |
| EP0647847A1 (de) * | 1993-09-14 | 1995-04-12 | Elpatronic Ag | Verwendung eines Massenspektrometers mit Sekundärionisation zur Inspektion von Behältern |
| US5742525A (en) * | 1995-01-10 | 1998-04-21 | Ye; Yuancai | Method for eliminating the fluctuation and drift of spectral line intensities |
| US5600134A (en) * | 1995-06-23 | 1997-02-04 | Exxon Research And Engineering Company | Method for preparing blend products |
| US5744702A (en) * | 1996-09-12 | 1998-04-28 | Exxon Research And Engineering Company | Method for analyzing total reactive sulfur |
| US5862512A (en) * | 1996-11-27 | 1999-01-19 | Colorado School Of Mines | Method and apparatus for processing geochemical survey data |
-
1997
- 1997-05-16 JP JP12671597A patent/JP3509470B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-05-12 US US09/075,829 patent/US6369382B1/en not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10318983A (ja) | 1998-12-04 |
| US6369382B1 (en) | 2002-04-09 |
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