JP6345934B2 - 質量分析メソッドの自動生成方法 - Google Patents
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Description
被測定試料中の少なくとも測定条件決定に影響し得る全元素を半定量測定し、
半定量測定した元素の合計濃度に基づいてプラズマ条件を決定し、
半定量測定した元素の各々について被測定試料中
での元素及び干渉成分の信号強度を見積もり、その結果から元素濃度を見積もり、
見積もられた元素及び干渉成分の信号強度、及び元素濃度に基づいて、
(1)プラズマ条件
(2)測定対象元素定量時の補正に用いる、内部標準元素の組合せ、
(3)コリジョン/リアクションセルのチューン条件、
(4)質量分析計で用いる質量電荷比、及び
(5)質量分析計で用いる積分時間
の少なくとも一つを含む少なくとも一つの質量分析メソッドを生成することを含んでなる。ユーザは次いで、決定された少なくとも一つの質量分析メソッドに基づいて被測定試料を定量することができる。
プラズマイオン源質量分析装置を用いて被測定試料中の測定条件決定に影響し得る全元素を半定量測定する手順、
半定量測定した元素の合計濃度に基づいてプラズマ条件を決定する手順、
半定量測定した元素の各々について被測定試料中での元素及び干渉成分の信号強度を見積もり、その結果から元素濃度を見積もる手段、
見積もられた元素及び干渉成分の信号強度、及び元素濃度に基づいて、
(1)プラズマ条件
(2)測定対象元素定量時の補正に用いる、内部標準元素の組合せ、
(3)コリジョン/リアクションセルのチューン条件、
(4)質量分析計で用いる質量電荷比、及び
(5)質量分析計で用いる積分時間
の少なくとも一つを含む少なくとも一つの質量分析メソッドを生成する手順をコンピュータに実行させる、質量分析メソッドの自動生成用プログラムとして実現される。
本発明によれば、質量分析メソッドの自動生成に必要な測定が行われるが、それに先立って試料112がプラズマに取り込まれるまでの時間や、試料112をリンス液に置き換えて洗浄操作を行う場合に必要なリンス時間を求めるための測定を行うことができる。従来は試料の取り込み時間を求めるために、例えば何らかの標準液を用いて行った測定により得られた検出信号の下限と、上限で安定した信号レベルとの間の移行時間を計算していた。しかしながらこの場合には、安定したか否かを判定できる程度の長い時間待つ必要があり、長い測定時間が必要となっていた。
次いで、上記のようにして求めた試料取り込み時間を用いて、被測定試料の半定量を行う。しかしながら勿論、別の基準を用いて求めた取り込み時間を用いて、或いは用いることなしに半定量を行うことも可能である。半定量は標準物質を用いずに被測定試料中の元素の大まかな定量を行うものである。例えば各元素の感度特性を予めインプットしておき、これを参照して半定量を行う。より正確な半定量値を後の計算に用いたい場合には、例えばICP質量分析装置のチューニング液、校正標準液、又は元素濃度か既知の溶液などを用いて実行して感度を校正することができる。図2のS1で示されているように、生成される質量分析メソッドで用いる、測定対象となる元素などに関するパラメータを予め設定しておく。こうしたパラメータには例えば測定対象元素名、使用する内部標準中の元素名と濃度などが含まれうる。半定量に用いるプラズマ条件としては、未知試料の濃度が高い可能性を配慮して、高マトリックスモードを用いるのが好ましく、被測定試料に含まれ測定条件決定に影響し得る全ての元素を半定量するために、その半定量に必要な全ての質量電荷比を用いてスキャンを行う。このステップを図2のS3で示す。
周知のように、低温プラズマの場合にはキャリアガスのイオン化が抑制され、バックグラウンドノイズが低くなり、また軽元素に対する感度が上昇するといった利点がある反面、高マトリックスのサンプルではマトリックス効果の影響が増大したり、イオン化ポテンシャルの高い元素がイオン化しにくいといった問題がある。本発明においては半定量測定により得られた元素の濃度を合計し、合計濃度に応じてプラズマ条件を選択する。この場合、合計濃度の計算結果に応じてプラズマの電圧、導入されるエアロゾル量などを制御することも可能ではあるが、予め合計濃度に応じて設定された幾つかの選択肢の中からプラズマ条件を決定することが望ましい。このように限られた選択肢の中から選択しても誤差は少なく、結果である設定値への影響は無いと考えられる。選択肢としては、低マトリックスモードから高マトリックスモードまで、合計濃度に応じて幾つかの段階に分けて設定したモードを用意することができ、例えば合計濃度が2%程度であれば、プラズマ条件として高マトリックスモードを選択し、合計濃度がより希薄であれば、低マトリックスモードを選択するように設定できる。しかしながらこの選択肢は離散的に設定する他に、連続的に設定することも可能であることは理解されるであろう。予め用意した選択肢はテーブルとしてコンピュータのメモリ内に格納することができ、選択したプラズマ条件もまた記憶される。このステップを図2で例示的にS4として示す。
本発明の方法によれば、試料の半定量測定によって検出された元素の各々について、半定量された濃度をもとに、各元素を示す信号、及び干渉成分を示す信号を見積もる。これは、予め用意しておいた各プラズマ条件、コリジョン/リアクションセルで用いられる各チューン条件(例えばガスなしモード、ヘリウムガスモード、高エネルギーヘリウムガスモード、及び水素ガスモード)の各々について、各元素の信号、干渉成分の信号の見積もり値を得るものである。しかしながら半定量測定に際して用いた高マトリックスモードで十分な精度の半定量結果を得られなかったような場合には、プラズマ条件を変えて、例えばより低マトリックスのモードで再度半定量測定を行ってもよい。
被測定試料について決定される質量分析メソッドには、選択された内部標準(ISTD)を含めることができる。これは、質量分析で内部標準として使用されうる元素、例えばLi、Sc、Ge、Y、Rh、Inなどの元素について、被測定試料の定量値補正に適した元素の組み合わせを選択するものである。これらの元素は内部標準として使用するために、予め被測定試料に自動導入されていてよい。例えばこれらの元素の各々について優先指数を求め、指数の数値が低いほうから、例えば4番目までを選択して、内部標準として用い得る元素の組を決定することができる。ある元素についての優先指数は例えば、被分析元素と当該元素の間の第一イオン化エネルギー差、質量数差、周期律表での族の同一性や特性の類似性、沸点差及び経験則などの少なくとも一つに基づいて定めることができる。優先順位を決定する手順はプログラムしておくことができ、本発明の方法の実施に際してコンピュータにより実行可能である。
被測定試料に用いる質量分析メソッドでは、被分析元素を測定する質量電荷比を指定することができる。質量電荷比(m/z)は通常1価イオンM+を想定しているが、意図的に水素、酸素、アンモニア等と反応させ、生成される多原子イオンを測定する場合などでは、測定対象元素に由来するこれらの多原子イオン、多価イオンの質量電荷比を用いることになる。質量電荷比についても、被分析元素の各々について優先順位を定め、優先順位に従って選択を行うのが有利であるが、選択可能な質量電荷比が限られている場合など、このような優先順位付けが必要でない場合もありうる。優先順位は例えば、当該元素についての同位体の存在比や、同重体との重なりが生ずる可能性、経験則などを考慮して、各元素について予め決定してメモリテーブル(質量電荷比テーブル)に格納しておくことが好ましい。例えばCdについては、質量電荷比111、114、112といった順序で優先順位をつけることができる。次いで選択された質量電荷比について、当該質量電荷比を用いた場合の評価を行うことができる。評価は例えば、被分析元素について見積もられた元素及び干渉成分の信号強度に基づいて、当該質量電荷比について見積もられる誤差が所定の判定閾値以下であるか否かに基づいて行うことができるが、積分時間やブランクノイズなどを加味してより厳格な判定を行うことも可能である。誤差の見積もりは評価関数を用いて行うことができ、評価関数は例えば当該質量電荷比について見積もられる干渉信号の見積もり値、及び検出限界見積もり値の少なくとも一つとすることができる。一例としては評価のための閾値は、[閾値]=MAX([半定量濃度]×[期待RSD%],[期待定量下限])、質量電荷比の判定は、[検出限界見積もり値]+[干渉の濃度換算値]≦[閾値]によって求められるであろう。これによって、各チューン条件ごとに適切な質量電荷比を選択することができる。最適な質量電荷比が得られない場合は、第1優先順位の質量電荷比、あるいは、誤差が最も小さくなる質量電荷比が選択される。
被測定試料について決定される質量分析メソッドには、コリジョン/リアクションセルについて選択されたチューン条件(モード)を含めることができる。この場合にも、被分析元素の各々について、測定の容易性などの考慮のもとにチューンモードの優先順位付けを行い、優先順位の先頭から選択が可能なようにメモリテーブルに格納しておくことができる。例えば水素ガスオプションを含む装置での分析については水素ガスモードが好ましく選択され、水素ガスオプションを含まない場合や測定時間を短縮したい場合についてはヘリウムガスモードが好ましく選択されるといった具合である。しかしながら勿論、こうした順位付けを用いずにチューン条件を選択することも可能であり、また選択肢を用いずにチューン条件を生成させることも可能であるが、少数の選択肢を準備しておくことは設定値を決定する上で考慮すべき条件数や計算量を減らすため有利である。また離散的な選択肢の場合には数値丸めを生じるので、同じ数値丸め範囲内の誤差があっても、同じ設定値に判定されるため、選択間違いも少ないと考えられる。表7にはこのようにして設定したチューンモードの優先順位の一例をアルミニウムについて示す。
被測定試料について決定される質量分析メソッドには、質量分析計における被分析元素の積分時間を含めることができる。積分時間は半定量測定結果とユーザの入力、或いは入力値から導かれる目標カウントを用いて計算することができるが、幾つかの選択肢の中から絞り込んで選択するように構成することも可能ある。例えば積分時間は、0.1秒、0.3秒、1秒、3秒、10秒といった離散的な値の中から選択するように構成してよい。これらの選択肢もメモリテーブルに格納できる。
以上のように本発明によれば、半定量測定した元素の各々について見積もられた、被測定試料中での元素及び干渉成分の信号強度、及び元素濃度に基づいて、プラズマ条件、被測定試料に添加する内部標準、コリジョン/リアクションセルのチューン条件、質量分析計で用いる質量電荷比、及び質量分析計で用いる積分時間の少なくとも一つを含む少なくとも一つの質量分析メソッドが生成される。好ましくは質量分析メソッドは、内部標準、チューン条件、質量電荷比、及び積分時間の全てを含む。また質量分析メソッドには、半定量前に決定した試料取り込み時間及びリンス時間を含めることができる。
110 試料採取部
120 試料導入部
130 誘導結合プラズマイオン源
140 インタフェース
150 イオンレンズ
160 コリジョン/リアクションセル
170 質量フィルタ
180 検出器
Claims (22)
- 被測定試料をプラズマへと供給して試料中の元素をイオン化し、生成したイオンのビームをコリジョン/リアクションセルを介して質量分析計へと導入し、質量電荷比に応じてイオン化された元素を分離し検出するプラズマイオン源質量分析装置において用いられる方法であって、
被測定試料中の少なくとも測定条件の設定に影響する全元素を半定量測定し、
半定量測定した元素の合計濃度に基づいてプラズマ条件を決定し、
半定量測定した元素の各々について被測定試料中での元素及び干渉成分の信号強度を見積もり、その結果から元素濃度を見積もり、
これらの見積もられた元素及び干渉成分の信号強度、及び元素濃度に基づいて、
(1)プラズマ条件、
(2)測定対象元素定量時の補正に用いる、内部標準元素の組合せ、
(3)コリジョン/リアクションセルのチューン条件、
(4)質量分析計で用いる質量電荷比、及び
(5)質量分析計で用いる積分時間
の少なくとも一つを含む少なくとも一つの質量分析メソッドを生成する、質量分析メソッドの自動生成方法。 - 被測定試料の全元素を半定量測定するに先立って、液体試料またはガス試料をプラズマイオン源質量分析装置に導入して検出信号を測定し、測定値を微分して傾きの極値を検出後に傾きが0に近接した事を検出することにより、被測定試料のプラズマへの取り込み時間及び/又はリンス液による導入経路洗浄時間が見積もられ、質量分析メソッドに含められる、請求項1記載の方法。
- 被測定試料の取込み時間及び/又はリンス液による導入経路洗浄時間の見積もりに先立って、試料の検出信号に対して雑音除去をした後に取込み時間/洗浄時間を見積もる、請求項2記載の方法。
- プラズマ条件の決定が、予め定義された複数の離散的なプラズマ条件又は連続的に設定されたプラズマ条件の中からの選択によって行われる、請求項1から3のいずれか記載の方法。
- 干渉成分の信号強度が、半定量測定された各々の元素について、同時に測定された他の元素に起因する少なくとも一つの干渉イオンの種及びその生成比、及び/又は同時に測定された他の元素の同重体及びその同位体比を用いて見積もられる、請求項1から4のいずれか記載の方法。
- 半定量測定した元素の被測定試料中での各々の元素濃度が、半定量測定された信号強度から前記見積もられた干渉成分の信号強度を減算することによって見積もられる、請求項1から5のいずれか記載の方法。
- 被測定試料中での見積もられた元素濃度に基づいて再度プラズマ条件を決定する、請求項1から6のいずれか記載の方法。
- 決定されたプラズマ条件を用いて再度半定量測定を行う、請求項1から7のいずれか記載の方法。
- 内部標準が、被分析元素と内部標準元素の組合せの複数の候補を予め定義し、その中から、被測定試料中の被分析元素と質量電荷比が重なる元素を含まず、且つ内部標準として
用いられる元素の被測定試料中での含有量が所定の閾値以下であって、混合後の内部標準元素濃度に対して最終分析結果に与える誤差が所定の閾値以下であるように選択される、請求項1から8のいずれか記載の方法。 - 前記元素の複数の組み合わせが、被分析元素と内部標準元素の間の第一イオン化エネルギー差、質量数差、族の同一性、及び沸点差の少なくとも一つに基づいて定められる、請求項9記載の方法。
- コリジョン/リアクションセルのチューン条件が、予め選択された複数のチューン条件の中から、被分析元素について見積もられた元素及び干渉成分の信号強度に基づいて当該チューン条件について見積もられる干渉信号の見積もり値、及び検出限界見積もり値の少なくとも一つからなる評価関数が所定の判定閾値以下であるかに基づいて選択される、請求項1から10のいずれか記載の方法。
- 前記複数のチューン条件が、ガスなしモード、ヘリウムガスモード、高エネルギーヘリウムガスモード、及び水素ガスモードの少なくとも一つを含む、請求項11記載の方法。
- 質量分析計で用いる質量電荷比が、各元素について質量電荷比を優先順位付けした質量電荷比テーブルから、被分析元素について見積もられた元素及び干渉成分の信号強度に基づいて当該質量電荷比について見積もられる干渉信号の見積もり値、及び検出限界見積もり値の少なくとも一つからなる評価関数が所定の判定閾値以下であるかに基づいて選択される、請求項1から12のいずれか記載の方法。
- 前記質量電荷比テーブルが同位体の存在比、及び/又は同重体の重なりの可能性に基づいて生成される、請求項13記載の方法。
- 積分時間が、見積もられた元素濃度または見積もられたCPS値、または実測値を用いて決定される、請求項1から14のいずれか記載の方法。
- 前記半定量測定が、プラズマイオン源質量分析装置のチューニング液、校正標準液、または元素濃度が既知の溶液を用いて感度を校正する、請求項1から15のいずれか記載の方法。
- プラズマイオン源質量分析装置がICP質量分析装置である、請求項1から16のいずれか記載の方法。
- コンピュータプログラムにより実行される、請求項1から17のいずれか記載の方法。
- 被測定試料をプラズマへと供給して試料中の元素をイオン化し、生成したイオンのビームをコリジョン/リアクションセルを介して質量分析計へと導入し、質量電荷比に応じてイオン化された元素を分離し検出するプラズマイオン源質量分析装置を作動させるために用いられるコンピュータプログラムであって、
プラズマイオン源質量分析装置を用いて被測定試料中の少なくとも測定条件の設定に影響する全元素を半定量測定する手順、
半定量測定した元素の合計濃度に基づいてプラズマ条件を決定する手順、
半定量測定した元素の各々について被測定試料中での元素及び干渉成分の信号強度を見積もり、その結果から元素濃度を見積もる手順、
見積もられた元素及び干渉成分の信号強度、及び元素濃度に基づいて、
(1)プラズマ条件
(2)測定対象元素定量時の補正に用いる、内部標準元素の組合せ、
(3)コリジョン/リアクションセルのチューン条件、
(4)質量分析計で用いる質量電荷比、及び
(5)質量分析計で用いる積分時間
の少なくとも一つを含む少なくとも一つの質量分析メソッドを決定する手順をコンピュータに実行させる、質量分析メソッドの自動生成用プログラム。 - 被測定試料の全元素を半定量測定するに先立って、液体試料またはガス試料をプラズマイオン源質量分析装置に導入して検出信号を測定する手順、測定値を微分して傾きの極値を検出後に傾き0に近接した事を検出することにより、被測定試料のプラズマへの取り込み時間及び/又はリンス液による導入経路洗浄時間を見積もる手順をコンピュータに実行させる、請求項19記載のプログラム。
- プラズマイオン源質量分析装置がICP質量分析装置である、請求項19又は20記載のプログラム。
- 請求項1から18のいずれか記載の方法によって決定された少なくとも一つの質量分析メソッドに基づいて、前記プラズマイオン源質量分析装置において被測定試料中の被分析元素を定量する、質量分析方法。
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