JP2017147249A - 波長可変型レーザモジュールおよびその波長制御方法 - Google Patents

波長可変型レーザモジュールおよびその波長制御方法 Download PDF

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Abstract

【課題】全ての使用周波数に対して制御パラメータを予め記憶しておかなくても、全ての使用周波数に対する制御を行うこと。
【解決手段】制御装置のメモリ内に記憶された各基本周波数チャンネル当たり2点以上における測定周波数および波長フィルタ制御値のデータを参照する参照ステップと、レーザ光源が出射するように指示されたレーザ光の周波数に最も近い基本周波数チャンネルを選択し、前記最も近い基本周波数チャンネルに割り当てられた前記測定周波数および波長フィルタ制御値のデータから、前記指示されたレーザ光の周波数を実現するための第1の波長フィルタ制御値を算出する第1の算出ステップと、前記第1の波長フィルタ制御値を用いて前記波長フィルタの透過特性を制御する制御ステップとを含む波長可変型レーザモジュールの波長制御方法。
【選択図】図1

Description

本発明は、波長可変型レーザモジュールおよびその波長制御方法に関する。
1本の光ファイバに波長が異なる複数の光信号を多重化して同時に伝送する波長分割多重(Wavelength Division Multiplexing:WDM)通信分野では、情報通信量の増加に伴い、より狭い波長間隔で光信号を多重化することが求められている。より狭い波長間隔で光信号を多重化するためには、信号としてレーザ素子から出射されるレーザ光の波長を精度高く制御する必要がある。
近年では、光伝送波長帯域の効率的利用のために、レーザ光の周波数間隔についても、25GHzや50GHzに固定されていた従来の固定グリッド方式から、異なる周波数間隔で混在して配置できる、いわゆるフレキシブルグリッド方式が導入されようとしている。
このため、温度を制御することにより波長透過特性を変更することができるエタロンフィルタを用いた半導体レーザモジュールをフレキシブルグリッド方式の通信に利用することが検討されている。エタロンフィルタを用いた半導体レーザモジュールは、半導体レーザ素子から出射されたレーザ光の一部をエタロンフィルタ側に分岐し、エタロンフィルタを透過した分岐光の強度に基づいて半導体レーザ素子の温度を制御することによって、半導体レーザ素子から出射されるレーザ光の波長を制御する。エタロンフィルタは、周期的な波長透過特性を有し、かつ、この周期的な波長透過特性は、温度に依存して波長方向にシフトする。したがって、エタロンフィルタを用いた半導体レーザモジュールは、エタロンフィルタと半導体レーザ素子の温度を制御することによって、出力するレーザ光を所望の波長かつ所望の強度に制御することができる(例えば特許文献1参照)。
特開2012−33895号公報
しかしながら、従来技術の延長としてフレキシブルグリッド方式を実現しようとすると自ずと限界が訪れる。例えば従来の50GHzグリッドのチャンネルでC−bandを全てカバーすると約100チャンネルである。これを、フレキシブルグリッドを実現するための波長可変型レーザモジュールのグリッド間隔の一例である0.1GHzグリッドに単純拡張すると50GHzグリッドの場合の500倍となり、約50,000チャンネルとなってしまう。この約50,000チャンネルの全てに対して、キャリブレーションを行い、その結果のレーザ駆動条件や制御の目標値などをメモリに記憶することは、量産およびコストの観点から現実的ではない。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、その目的は、全ての使用周波数に対して制御パラメータを予め記憶しておかなくても、全ての使用周波数に対する制御を行うことができる波長可変型レーザモジュールの波長制御方法を提供することにある。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の一態様に係る波長可変型レーザモジュールの波長制御方法は、レーザ光を出射するレーザ光源と、光の波長に対して周期的な透過特性を有する波長フィルタと、前記波長フィルタを透過した前記レーザ光の強度に基づいて前記レーザ光源から出射されるレーザ光の波長の制御および前記波長フィルタの透過特性の制御を行う制御装置と、を備える波長可変型レーザモジュールの波長制御方法であって、前記制御装置のメモリ内に記憶された各基本周波数チャンネル当たり2点以上における測定周波数および波長フィルタ制御値のデータを参照する参照ステップと、前記レーザ光源が出射するように指示されたレーザ光の周波数に最も近い基本周波数チャンネルを選択し、前記最も近い基本周波数チャンネルに割り当てられた前記測定周波数および波長フィルタ制御値のデータから、前記指示されたレーザ光の周波数を実現するための第1の波長フィルタ制御値を算出する第1の算出ステップと、前記第1の波長フィルタ制御値を用いて前記波長フィルタの透過特性を制御する制御ステップと、を含むことを特徴とする。
また、本発明の一態様に係る波長可変型レーザモジュールの波長制御方法は、前記第1の算出ステップは、指示された周波数を挟む前記測定周波数および波長フィルタ制御値のデータから線形近似もしくは次数が2以上の多項式近似により、前記指示された周波数を実現するための第1の波長フィルタ制御値を算出することを特徴とする。
また、本発明の一態様に係る波長可変型レーザモジュールの波長制御方法は、前記第1の算出ステップは、指示された周波数を挟まない前記測定周波数および波長フィルタ制御値のデータから線形近似もしくは次数が2以上の多項式近似により、前記指示された周波数を実現するための第1の波長フィルタ制御値を算出することを特徴とする。
また、本発明の一態様に係る波長可変型レーザモジュールの波長制御方法は、前記制御装置のメモリ内に記憶された測定周波数および波長フィルタ制御値のデータは、隣接する基本周波数チャンネルの周波数間隔をn分割し、該隣接する基本周波数チャンネルの間におけるn−1個の分割点のうち少なくとも1点以上の周波数における追加測定を行い、前記追加測定の結果である測定周波数および波長フィルタ制御値のデータがメモリ内に事前に記録されたものであることを特徴とする。
また、本発明の一態様に係る波長可変型レーザモジュールの波長制御方法は、前記レーザ光源が出射するように指示されたレーザ光の周波数に2番目に近い基本周波数チャンネルを選択し、前記2番目に近い基本周波数チャンネルに割り当てられた前記測定周波数および波長フィルタ制御値のデータから、前記指示されたレーザ光の周波数を実現するための第2の波長フィルタ制御値を算出する第2算出ステップと、前記第1の波長フィルタ制御値の代わりに、前記第1の波長フィルタ制御値と前記第2の波長フィルタ制御値のうち、前記メモリに記憶されている波長フィルタ制御値の中心値に近い方を用いて前記波長フィルタの透過特性を制御する制御ステップと、を含むことを特徴とする。
また、本発明の一態様に係る波長可変型レーザモジュールは、レーザ光を出射するレーザ光源と、光の波長に対して周期的な透過特性を有する波長フィルタと、前記波長フィルタを透過した前記レーザ光の強度に基づいて前記レーザ光源から出射されるレーザ光の波長の制御および前記波長フィルタの透過特性の制御を行う制御装置と、を備え、前記制御装置の演算部は、前記制御装置のメモリ内に記憶された各基本周波数チャンネル当たり2点以上における測定周波数および波長フィルタ制御値のデータを参照する参照ステップと、前記レーザ光源が出射するように指示されたレーザ光の周波数に最も近い基本周波数チャンネルを選択し、前記最も近い基本周波数チャンネルに割り当てられた前記測定周波数および波長フィルタ制御値のデータから、前記指示されたレーザ光の周波数を実現するための第1の波長フィルタ制御値を算出する第1の算出ステップと、前記第1の波長フィルタ制御値を用いて前記波長フィルタの透過特性を制御する制御ステップと、を実行するようにプログラムされていることを特徴とする。
本発明に係る波長可変型レーザモジュールの波長制御方法は、全ての使用周波数に対して制御パラメータを予め記憶しておかなくても、全ての使用周波数に対する制御を行うことができるという効果を奏する。
図1は、波長可変型レーザモジュールの構成例を模式的に示す図である。 図2は、波長フィルタが有する周期的な透過特性の例を示すグラフである。 図3は、2つの波長フィルタ温度におけるPD電流比の例を示すグラフである。 図4は、基本周波数チャンネルと追加測定周波数との関係の例を示す図である。 図5は、算出方法2の効果を説明するための図である。 図6は、波長可変型レーザモジュールの制御方法の全体の流れの例を示す図である。 図7は、弁別曲線を波長方向にシフトの例を示す図である。 図8は、SOAに供給する電流とパワーモニタが出力する電流との関係の例を示すグラフである。 図9は、指示された周波数に対応するためにシフトされた弁別曲線の例を示すグラフである。 図10は、本実施形態に係る波長可変型レーザモジュールの波長制御方法における波長精度の測定結果の例を示すグラフである。 図11は、比較例に係る波長可変型レーザモジュールの波長制御方法における波長精度の測定結果の例を示すグラフである。
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態に係る波長可変型レーザモジュールの波長制御方法を詳細に説明する。なお、以下に説明する実施形態により本発明が限定されるものではない。また、各図面において、同一または対応する構成要素には適宜同一の符号を付している。また、図面は模式的なものであり、各層の厚さや厚さの比率などは現実のものとは異なることに留意すべきである。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれている。
(実施形態)
図1は、波長可変型レーザモジュールの構成例を模式的に示す図である。図1に示される波長可変型レーザモジュールは、実施形態に係る波長可変型レーザモジュールの波長制御方法の実施に用いられる装置の代表例を示している。
図1に示すように、波長可変型レーザモジュール100は、波長可変光源部200と制御装置300とを主要な構成要素として備えている。波長可変光源部200は、制御装置300からの制御に応じて所望の波長および出力のレーザ光を出力し、当該レーザ光を後段の装置に供給する。制御装置300は、例えばユーザーインターフェイスを備えた上位の制御装置と接続されており、当該上位の制御装置を介したユーザーからの指示に従って、波長可変光源部200を制御する。なお、波長可変型レーザモジュール100は、波長可変光源部200と制御装置300とを別体として備えることもできるが、制御装置300と波長可変光源部200とを同一の回路基板上に実装することも可能である。
図1に示すように、波長可変光源部200は、レーザ光源210と波長検知部220と光分波器230とパワーモニタ240と光ファイバ260とを備えている。
レーザ光源210は、さらに詳しく、DFB−LD(Distributed Feedback Laser Diode:分布帰還型レーザダイオード)211と光導波路212と光合波器213とSOA(Semiconductor Optical Amplifier:半導体光増幅器)214とペルチェ素子215とレーザ温度モニタ素子216とを備えている。なおDFB−LD211と光導波路212と光合波器213とSOA214は、単一の半導体チップの上に形成することも可能である。
レーザ光源210は、それぞれ異なる波長のレーザ光を前端面から出射するストライプ形状の複数のDFB−LD211を備えている。各DFB−LD211は、温度を調整することによってその発振波長を制御することができる。各DFB−LD211は、ペルチェ素子215の上に載置されており、ペルチェ素子215によって温度が変更可能なように構成されている。また、ペルチェ素子215の上にはレーザ温度モニタ素子216が設けられ、DFB−LD211の温度を監視することが可能である。
DFB−LDは3nm〜4nm程度の範囲内で発振波長を変化させることができるので、各DFB−LD211の発振波長が3nm〜4nm程度の間隔でずらして各DFB−LD211の発振波長を設計する。これにより、レーザ光源210は、複数のDFB−LD211のうち、所望のレーザ光の波長を得るのに適した1個のDFB−LD211を選択して駆動すると共にDFB−LD211の温度を制御することによって、単体のDFB−LDよりも広帯域な連続した波長帯域に亘ってレーザ光を出射することができる。
なお、WDM通信用の波長帯域全体(例えば1.53μm〜1.56μmのCバンド又は1.57μm〜1.61μmのLバンド)をカバーするためには、それぞれ3nm〜4nmの範囲内で発振波長を変化させることが可能な例えば12個のDFB−LD211を集積する。これによって、30nm以上の波長帯域に亘ってレーザ光の波長を変化させることができる。
複数のDFB−LD211の何れかが出射したレーザ光は、光導波路212および光合波器213を経由することによって1つの光路に導かれ、SOA214によって増幅された後に、レーザ光源210から出射される。
光分波器230は、レーザ光源210から出力されたレーザ光の大半を波長可変光源部200から出力するために光ファイバ260に結合する。同時に、レーザ光源210から出力されたレーザ光の一部をパワーモニタ240と波長検知部220とに分波して供給する。光ファイバ260は光分波器230から入力されたレーザ光を出力し、図示しない後段の装置に供給する。
パワーモニタ240は、入力された光の強度に応じた電気信号を出力するフォトダイオードを利用した測定器である。したがって、パワーモニタ240から出力される電気信号を光ファイバ260から出力されるレーザ光の出力に換算することができる。
波長検知部220は、さらに詳しく、波長フィルタ221とペルチェ素子222とフィルタ温度モニタ素子223と波長モニタ250とを備えている。波長フィルタ221は、光の波長に対して周期的な透過特性を有し、例えばエタロンフィルタが用いられる。図2は、波長フィルタが有する周期的な透過特性の例を示すグラフである。
また、波長フィルタ221は、温度に依存してこの周期的な波長透過特性が波長方向にシフトする。その温度係数は、波長フィルタ221を形成する材料によって異なり、例えば、石英(SiO)によって形成されたエタロンフィルタの温度特性は1.25GHz/deg.C程度、水晶によって形成されたエタロンフィルタの温度特性は1.9GHz/deg.C程度、ビスマスゲルマニウムオキサイド(Bi12GeO20:BGO)によって形成されたエタロンフィルタの温度特性は2.5GHz/deg.C程度である。
なお、エタロンフィルタの温度特性を大きくしすぎると、エタロンフィルタの透過特性が温度変化に対して敏感になり、エタロンフィルタの透過特性にばらつきが生じやすくなる。一方、エタロンフィルタの温度特性を小さくしすぎると、基本周波数チャンネル以外の使用周波数を出力する制御時にエタロンフィルタの温度を大きくシフトさせる必要が生じる結果、消費電力が大きくなってしまう。
波長フィルタ221は、ペルチェ素子222の上に載置されており、ペルチェ素子222によって温度が変更可能に構成されている。また、ペルチェ素子222の上にはフィルタ温度モニタ素子223が設けられ、波長フィルタ221の温度を監視することが可能である。
光分波器230によって分波されたレーザ光は、波長検知部220の波長フィルタ221を透過して、波長モニタ250に入射される。波長モニタ250は、パワーモニタ240と同様に、入力された光の強度に応じた電気信号を出力するフォトダイオードを利用した測定器である。したがって、波長モニタ250から出力される電気信号は、レーザ光源210から出力され、分波器230で分波されて波長フィルタ221に入射したレーザ光の強度に図2に示したような透過特性を乗じたものとなる。
先述のように、波長フィルタ221は、光の波長に対して周期的な透過特性を有する。そこで、波長モニタ250から出力される電気信号(PD2)とパワーモニタ240から出力される電気信号(PD1)との比(これをPD電流比という)を考えると、PD電流比(PD2/PD1)も、光の波長に対して周期的な値となる。しかも、波長フィルタ221における周期的な波長透過特性は、波長フィルタ221の温度に依存して波長方向にシフトする。図3は、2つの波長フィルタ221の温度におけるPD電流比の例を示すグラフである。
図3のグラフに示される曲線は、弁別曲線と呼ばれ、測定されるPD電流比と出力されているレーザ光の波長との関係を示している。したがって、図3に示されるような弁別曲線を用いてPD電流比を監視すれば、レーザ光源210から出力されたレーザ光の波長に誤差が生じた場合に、その誤差を検知することができる。また、波長フィルタ221の温度を制御すれば弁別曲線を波長方向にシフトすることができるので、レーザ光源210から出力すべき所望のレーザ光の波長に対応した弁別曲線を得ることが可能である。
次に、制御装置300の構成について説明する。なお、図1に示す制御装置300の構成は、機能をブロックで表示したものであり、図示されるブロックが物理的に分離されていることを意味するものではない。
図1に示すように、制御装置300は、DFB−LD選択回路311と、DFB−LD電流制御回路312と、レーザ温度モニタ回路321と、レーザ温度制御回路322と、SOA制御回路330と、PD1電流モニタ回路341と、PD2電流モニタ回路342と、エタロン温度モニタ回路351と、エタロン温度制御回路352と、デジタル演算器360と、メモリ370とを備えている。
DFB−LD選択回路311は、デジタル演算器360からの指令に従い、複数のDFB−LD211のうち1つを選択するための回路である。具体的には、DFB−LD211に電流を供給するための回路のスイッチを切り替えることで実現することが可能である。DFB−LD電流制御回路312は、デジタル演算器360からの指令に従い、DFB−LD211に供給する電流を制御するための回路である。
レーザ温度モニタ回路321は、レーザ温度モニタ素子216の温度を検出することによりDFB−LD211の温度を特定し、DFB−LD211の温度のデータをデジタル信号としてデジタル演算器360へ送信する。一方、レーザ温度制御回路322は、デジタル演算器360から指示された温度にDFB−LD211がなるように、ペルチェ素子215に供給する電流を制御する。
SOA制御回路330は、デジタル演算器360からの指示に基づいて、SOA214に供給される電流を制御し、SOA214の利得を調整する。
PD1電流モニタ回路341およびPD2電流モニタ回路342は、それぞれ、パワーモニタ240および波長モニタ250から出力された電流をデジタル信号に変換し、デジタル演算器360へ送信する。
エタロン温度モニタ回路351は、フィルタ温度モニタ素子223の温度を検出することにより波長フィルタ221の温度を特定し、波長フィルタ221の温度のデータをデジタル信号としてデジタル演算器360へ送信する。一方、エタロン温度制御回路352は、デジタル演算器360から指示された温度に波長フィルタ221がなるように、ペルチェ素子222に供給する電流を制御する。
メモリ370は、デジタル演算器360が制御パラメータを算出するために必要なレーザ駆動条件および波長検知部の目標値などのデータを各種記憶している。特に、後に詳述する制御方法のため、メモリ370は、各基本周波数チャンネルにおける基本周波数チャンネル自体の周波数と波長フィルタ221の温度との組、さらに、追加測定周波数における測定周波数と波長フィルタ221の温度との組を記憶している。
ここで、基本周波数チャンネルとは、設計思想に従って設定し得るパラメータであるが、例えば、標準規格によって定められた周波数を用いることも可能であり、また、基本周波数チャンネルの間隔として波長フィルタ221の透過特性の半周期や四分の一周期等の周波数間隔を用いることも可能である。ただし、この基本周波数チャンネルの間隔は、波長可変光源部200が制御装置300によるAFC制御によって出力し得るレーザ光の周波数の最小間隔よりは大きいものとする。基本周波数チャンネルの間隔が、波長可変光源部200が制御装置300によるAFC制御によって出力し得るレーザ光の最小間隔よりも小さい場合、出力可能な全ての周波数に対してのパラメータを記憶することになるので効率的ではないからである。
また、追加測定周波数とは、隣接する基本周波数チャンネルの周波数間隔をn分割し、その結果におけるn−1個の分割点の周波数のことをいう。なお、当該n−1個の分割点の周波数のうち少なくとも1点以上の周波数を追加測定周波数として採用すれば本実施形態の効果を奏することができるが、n−1個の分割点の全てを追加測定周波数として採用すれば本実施形態の効果はより大きくなる。なお、各基本周波数チャンネルに割り当てられる追加測定の個数は、隣接する基本周波数チャンネルの間隔を、ユーザーが使用する最小の周波数間隔で割った数程度以下にすることが好ましい。ユーザーが使用する周波数の個数よりも、追加測定の個数が多すぎると、効率的でないからである。
例えば、C−band全域における25GHz間隔で約200chを基本周波数チャンネルとすると、基本周波数チャンネルに対するキャリブレーションでは、波長計を用いた波長キャリブレーションを行い、メモリ370に各基本周波数チャンネルのレーザ駆動条件および波長検知部の目標値を含む駆動条件を記録する。
図4は、基本周波数チャンネルと追加測定周波数との関係の例を示す図である。図4には基本周波数チャンネルの間隔を25GHz、開始周波数を191.25THzとした、4つの基本周波数チャンネルが示されている。基本周波数チャンネル1(◆)は191.25THzで5点の追加測定周波数(◇)が割り当てられ、基本周波数チャンネル2(黒四角)は191.275THzで5点の追加測定周波数(□)が割り当てられ、基本周波数チャンネル3(黒三角)は191.3THzで5点の追加測定周波数(△)が割り当てられ、基本周波数チャンネル4(●)は191.325THzで5点の追加測定周波数(○)が割り当てられている。各追加測定周波数は波長計を用いた波長測定により得られる。なお、図4に示されるように、追加測定周波数の間隔は、等間隔にする必要はない。また、例えば追加測定周波数(□、△、○)のように、各基本周波数チャンネルに割り当てる追加測定周波数は、基本周波数チャンネルを中心に略対称に設定することが好ましいが、例えば追加測定周波数(◇)のように、端の基本周波数チャンネル(191.250THz)などでは、使用周波数の側に重点を置くように追加測定周波数を設定することもできる。また、基本周波数チャンネルに割り当てる追加測定周波数は、当該追加測定周波数に最も近い基本周波数チャンネルに限定されることはなく、例えば追加測定周波数(○、△)のように、基本周波数チャンネルと追加測定周波数の関係が交差してもよい。また、互いに異なる基本周波数チャンネルに割り当てられている2つ以上の追加測定周波数が全く同一の周波数であっても良い。また、図4に示されるように、追加測定を行う隣接する基本周波数チャンネル間の分割数は隣接する基本周波数チャンネルごとに異なっていても良い。
ここで、追加測定周波数に対する波長測定における波長フィルタ221の温度は、前記追加測定周波数を割り当てる基本周波数チャンネルにおける波長フィルタ221の温度から、波長フィルタ221の温度特性に従ってシフトさせる。当該測定結果である波長および波長フィルタ221の温度を追加測定周波数における測定周波数と波長フィルタ221の温度との組としてメモリ370に記憶する。
デジタル演算器360は、いわゆるCPUと呼ばれる演算装置である。デジタル演算器360は、レーザ温度モニタ回路321、PD1電流モニタ回路341、PD2電流モニタ回路342、および、エタロン温度モニタ回路351から受信した波長可変光源部200の状態のデータから適切な制御パラメータを算出し、DFB−LD選択回路311、DFB−LD電流制御回路312、レーザ温度制御回路322、SOA制御回路330、および、エタロン温度制御回路352に制御信号を送信する。
デジタル演算器360は、メモリ370内に記憶された各基本周波数チャンネル当たり2点以上における測定周波数と波長フィルタ221の温度との組のデータを参照する参照ステップと、レーザ光源210が出射するように指示されたレーザ光の周波数に最も近い基本周波数チャンネルを選択し、最も近い基本周波数チャンネルに割り当てられた測定周波数と波長フィルタ221の温度との組のデータから、指示されたレーザ光の周波数を実現するための波長フィルタ221の温度を算出するステップと、当該算出された波長フィルタ221の温度を用いて波長フィルタ221の透過特性を制御するステップとを実行し得るようにプログラムされている。
なお、上位の制御装置を介したユーザーからの制御装置300への周波数の指示は周波数の値そのものによる指示とは限らず、間接的な値を用いた指示の場合もある。例えば、開始周波数、グリッド間隔、チャンネル番号で、これらの情報から指示された周波数を以下の式により算出することが出来る。
指示された周波数=開始周波数+(チャンネル番号−1)×グリッド間隔
例えば、開始周波数=191.3THz、グリッド間隔=0.1GHz、チャンネル番号=5169の場合、指示された周波数は191.8168THzと算出される。
以下、波長フィルタ221の制御値として波長フィルタ221の温度を用いて、指示されたレーザ光の周波数を実現するための波長フィルタ221の温度を算出する方法の具体例を挙げる。
(算出方法1)
デジタル演算器360は、メモリ370に記憶されている基本周波数チャンネルのうち、指示されたレーザ光の周波数に最も近い基本周波数チャンネルを選択する。そして、この最も近い基本周波数チャンネルに割り当てられた2組の測定周波数と波長フィルタ221の温度との組((Freq1,Tf1),(Freq2,Tf2))を選択する。
これら2組の測定周波数と波長フィルタ221の温度との組((Freq1,Tf1),(Freq2,Tf2))を用いれば、指示されたレーザ光の周波数を実現するための波長フィルタ221の温度Tfは、以下の式によって算出することができる。ただし、Freq_targetは指示されたレーザ光の周波数である。
Tf=Tf1+{(Tf2−Tf1)/(Freq2−Freq1)}*(Freq_target−Freq1)
なお、これら周波数と波長フィルタ221の温度との組は、基本周波数チャンネル自体における周波数と波長フィルタ221の温度との組と追加測定周波数における測定周波数と波長フィルタ221の温度との組とを選択することが可能である。つまり、本算出方法を実施するためには、隣接基本周波数チャンネル間におけるn−1個の分割点のうち少なくとも1点以上の周波数における追加測定を行っておけばよい。
また、上記算出方法は2個の追加測定周波数を用いた単純な線形近似であるが、用いる追加測定周波数の個数を増やして最小二乗法を用いた線形近似とすることも可能である。さらに、上記算出方法は線形近似に限らず、2次以上の多項式近似を用いることも可能である。また、補間の方法についても、内挿および外挿のいずれを用いることも可能である。すなわち、指示された周波数を挟む測定周波数および波長フィルタ221の温度のデータから線形近似もしくは次数が2以上の多項式近似を用いることも、指示された周波数を挟まない測定周波数および波長フィルタ221の温度のデータから線形近似もしくは次数が2以上の多項式近似を用いることも可能である。
(算出方法2)
まず算出方法1と同様に、デジタル演算器360は、メモリ370に記憶されている基本周波数チャンネルのうち、指示されたレーザ光の周波数に最も近い基本周波数チャンネルに割り当てられた2組の測定周波数と波長フィルタ221の温度との組((Freq1_a,Tf1_a),(Freq2_a,Tf2_a))を選択する。
そして、これらの組((Freq1_a,Tf1_a),(Freq2_a,Tf2_a))を用いて、指示されたレーザ光の周波数を実現するための波長フィルタ221の温度の候補Tf_aを、以下の式によって算出する。
Tf_a=Tf1_a+{(Tf2_a−Tf1_a)/(Freq2_a−Freq1_a)}*(Freq_target−Freq1_a)
さらに、デジタル演算器360は、メモリ370に記憶されている基本周波数チャンネルのうち、指示されたレーザ光の周波数に2番目に近い基本周波数チャンネルに割り当てられた2組の測定周波数と波長フィルタ221の温度との組((Freq1_b,Tf1_b),(Freq2_b,Tf2_b))を選択し、同様に、指示されたレーザ光の周波数を実現するための波長フィルタ221の温度の候補Tf_bを、以下の式によって算出する。
Tf_b=Tf1_b+{(Tf2_b−Tf1_b)/(Freq2_b−Freq1_b)}*(Freq_target−Freq1_b)
そして、2つの候補Tf_a,Tf_bのうち、メモリ370に記憶されている波長フィルタ221の温度の中心値に近い方を、指示されたレーザ光の周波数を実現するための波長フィルタ221の温度に採用する。
なお、上記算出方法は、算出方法1と同様に、用いる追加測定周波数の個数を増やして最小二乗法を用いた線形近似とすることも、2次以上の多項式近似を用いることも可能である。また、補間の方法についても、内挿および外挿のいずれを用いることも可能である。
図5は、算出方法2の効果を説明するための図である。図5に示されるグラフは、横軸に周波数をとり、縦軸に波長フィルタ221の温度をとり、指示されたレーザ光の周波数を191.2865THzとし、指示されたレーザ光の周波数に最も近い基本周波数チャンネル1(191.275THz)に割り当てられた測定周波数と波長フィルタ221の温度との組と指示されたレーザ光の周波数に2番目に近い基本周波数チャンネル2(191.3THz)に割り当てられた測定周波数と波長フィルタ221の温度との組とがプロットされている。基本周波数チャンネルの間隔は25GHzである。メモリ370に記憶されている波長フィルタ221の温度の中心値を54℃とする。
具体的には、5点の追加測定データ1(+)が、指示されたレーザ光の周波数に最も近い基本周波数チャンネル1に割り当てられた測定周波数と波長フィルタ221の温度との組であり、5点の追加測定データ2(△)が、指示されたレーザ光の周波数に2番目に近い基本周波数チャンネル2に割り当てられた測定周波数と波長フィルタ221の温度との組である。また、指示されたレーザ光の周波数における波長フィルタ温度を、追加測定データ1(+)から内挿して算出したものが波長フィルタ温度(●)であり、追加測定データ2(△)から外挿して算出したものが波長フィルタ温度(○)である。
図5から読み取れるように、2番目に近い基本周波数チャンネル2の追加測定データ(△)から算出される波長フィルタ温度(○)の方が、最も近い基本周波数チャンネルの追加測定データ(+)から算出される波長フィルタ温度(●)よりも、波長フィルタ221の温度の中心値(=54℃)に近い。したがって、この場合、算出方法2では、2番目に近い基本周波数チャンネル2の追加測定データ(△)から算出された波長フィルタ温度(○)を、指示されたレーザ光の周波数を実現するための波長フィルタ221の温度に採用する。このように、算出方法2では、波長フィルタ221の温度の中心値に近い方を、指示されたレーザ光の周波数を実現するための波長フィルタ221の温度に採用する。メモリ370に記憶されている波長フィルタ221の温度の中心値をあらかじめ適切な値に設定しておけば、ペルチェ素子222で消費される電力が高くなってしまうような波長フィルタ221の温度として低い温度が採用されることがないので、結果、ペルチェ素子222で消費される電力を少なく抑えることが可能である。なお、図5のフィルタ温度の算出方法の例では、基本周波数チャンネルに割り当てられた追加測定周波数とフィルタ221の温度の追加測定データのみを用いたが、追加測定データのみならず基本周波数チャンネル自体の周波数とフィルタ温度221のデータも用いても良い。
(制御方法)
ここで、図6を参照しながら、波長可変型レーザモジュール100の制御方法の全体の流れを説明する。図6は、波長可変型レーザモジュールの制御方法の全体の流れの例を示す図である。
既に説明したように、制御装置300のメモリ370には、初期値として、基本周波数チャンネルごとにDFB−LD211の番号および温度、波長フィルタ221の温度、DFB−LD211に供給する電流、および、フィードバック制御目標値としてPD電流比(=PD1/PD2)を含むデータが記憶されている。これらデータは波長可変型レーザモジュールの出荷前に波長計を用いた波長キャリブレーションにより取得され、メモリ370に記録されたものである。
さらに、制御装置300のメモリ370には、基本周波数チャンネルごとに例えば5点の周波数と波長フィルタ221の温度のデータ(基本周波数チャンネル自身の周波数と波長フィルタ221の温度のデータ+4点の追加測定周波数の測定周波数と波長フィルタ221の温度のデータ)が記憶されている。これらデータは波長可変型レーザモジュールの出荷前に波長計を用いた波長測定により取得され、メモリ370に記録されたものである。
ステップS1にて、制御装置300は、上位の制御装置を介したユーザーからの指示された周波数に従って、波長フィルタ221の温度の目標値を算出する。具体的には、制御装置300のデジタル演算器360が、メモリ370内に記憶された各基本周波数チャンネル当たり2点以上における測定周波数と波長フィルタ221の温度との組のデータを参照し、レーザ光源210が出射するように指示されたレーザ光の周波数に最も近い基本周波数チャンネルを選択し、最も近い基本周波数チャンネルに割り当てられた測定周波数と波長フィルタ221の温度との組のデータから、指示されたレーザ光の周波数を実現するための波長フィルタ221の温度を算出する。
そして、ステップS2にて、DFB−LD211および波長フィルタ221の温度の制御を開始する。
さらに、制御装置300のデジタル演算器360は、波長フィルタ221の温度が算出された目標値になるように、エタロン温度制御回路352に制御信号を送信すると共に、フィルタ温度モニタ素子223およびエタロン温度モニタ回路351を介した波長フィルタ221の温度の監視を開始する。
結果、図7に示すように、基本周波数チャンネルにおける波長フィルタ221の弁別曲線を波長方向にシフトした、ユーザーからの指示された周波数に対応した弁別曲線を得ることになる。図7は、弁別曲線を波長方向にシフトの例を示す図であり、同図では、基本周波数チャンネルにおける弁別曲線が破線、ユーザーからの指示された周波数に対応した弁別曲線が実線で記載されている。
次に、ステップS3にて、複数のDFB−LD211のうちから基本周波数チャンネルに対応したものを選択し、当該DFB−LD211に対して一定電流の供給を開始する。具体的には、制御装置300のデジタル演算器360は、DFB−LD選択回路311およびDFB−LD電流制御回路312に対して制御信号を送信する。
そして、ステップS4にて、DFB−LD211および波長フィルタ221の温度が共に設定範囲内に収まるまで待機する。具体的には、制御装置300のデジタル演算器360は、レーザ温度モニタ回路321およびエタロン温度モニタ回路351からの温度情報を監視して設定範囲内であるか否かを判断する。
DFB−LD211および波長フィルタ221の温度が共に設定範囲内になった場合、ステップS5にて、SOA214に電流供給を開始し、APC制御(Auto Power Control制御)を開始する。具体的には、制御装置300のデジタル演算器360は、SOA制御回路に制御信号を送信すると共に、パワーモニタ240およびPD1電流モニタ回路341を介してレーザ光源210からの出力を監視し、パワーモニタ240からの電流がメモリ370に記憶されている目標値となるようにフィードバック制御を行う。
図8に示すように、SOA214に供給する電流を増加させると、パワーモニタ240が出力する電流も増加する。図8は、SOAに供給する電流とパワーモニタが出力する電流との関係の例を示すグラフである。したがって、図8に示されるような関係を用いれば、下記のステップS6およびステップS7にて、レーザ光源210からの出力を上げていくと共に、レーザ光源210からの出力が目標値に達したかを監視することで、レーザ光源210からの出力を目標値に合わせることができる。
その後、レーザ光源210からの出力が目標値になったところで、ステップS8にて、AFC制御(Auto Frequency Control制御)を行う。具体的には、制御装置300のデジタル演算器360は、PD1電流モニタ回路341およびPD2電流モニタ回路342を介して、パワーモニタ240から出力される電流(PD1)と波長モニタ250とから出力される電流(PD2)を監視し、PD電流比(PD2/PD1)を算出する。
そして、制御装置300のデジタル演算器360は、図9に示されるような弁別曲線に基づいて、算出されたPD電流比が、基本周波数チャンネルのフィードバック制御目標値としてメモリ370に記憶されているPD電流比になるようにフィードバック制御を行う。図9は、ステップS1で得られたエタロン温度目標値になるように波長フィルタ221の温度を制御することにより得られた、指示された周波数に対応する弁別曲線の例を示すグラフである。
ステップS8のAFC制御で用いられる弁別曲線は、基本周波数チャンネルにおける弁別曲線を波長方向にシフトしたものである。したがって、ステップS8のAFC制御で用いられるフィードバック制御目標値は、基本周波数チャンネルのフィードバック制御目標値としてメモリ370に記憶されているPD電流比を用いることができる。
(精度の検証)
図10および図11は、本実施形態および比較例に係る波長可変型レーザモジュールの波長制御方法における波長精度の測定結果の例を示すグラフである。図10に示される波長精度の測定結果は、上記説明した実施形態においてC−bandを25GHz間隔の基本周波数チャンネルに分割し、隣接基本周波数チャンネルを6分割した追加測定周波数を設定した場合の、0.1GHz間隔の波長精度を測定したものである。一方、図11に示される波長精度の測定結果は、波長フィルタの温度特性から波長フィルタの温度(弁別曲線のシフト量)を決める方式で0.1GHz間隔の波長精度を測定したものである。なお、どちらの波長精度測定にも同一の波長計が用いられている。
図10および図11を比較すると解るように、比較例では波長精度が±0.6GHz程度であるが、本実施形態では波長精度が±0.2GHz程度に改善している。したがって、本実施形態に係る波長可変型レーザモジュールの波長制御方法によれば、全ての使用周波数に対して制御パラメータを予め記憶しておかなくても、全ての使用周波数に対する制御を行うことができるのみならず、その波長精度も向上することができることが示された。
以上、本発明者によってなされた発明を適用した実施の形態について説明したが、本実施形態による本発明の開示の一部をなす記述及び図面により本発明は限定されることはない。例えば、本実施形態では、レーザ光源として、アレイ型の半導体レーザ素子を用いたが、合波器や半導体光増幅器を備えない構成やDBRレーザ素子(分布ブラッグ反射型半導体レーザ素子)による単一縦モード半導体レーザ素子とすることもできる。このように、本実施形態に基づいて当業者等によりなされる他の実施の形態、実施例及び運用技術等は全て本発明の範疇に含まれる。
100 波長可変型レーザモジュール
200 波長可変光源部
210 レーザ光源
211 DFB−LD
212 光導波路
213 光合波器
214 SOA
215,222 ペルチェ素子
216 レーザ温度モニタ素子
220 波長検知部
221 波長フィルタ
223 フィルタ温度モニタ素子
230 光分波器
240 パワーモニタ
250 波長モニタ
260 光ファイバ
300 制御装置
311 DFB−LD選択回路
312 DFB−LD電流制御回路
321 レーザ温度モニタ回路
322 レーザ温度制御回路
330 SOA制御回路
341 PD1電流モニタ回路
342 PD2電流モニタ回路
351 エタロン温度モニタ回路
352 エタロン温度制御回路
360 デジタル演算器
370 メモリ

Claims (6)

  1. レーザ光を出射するレーザ光源と、
    光の波長に対して周期的な透過特性を有する波長フィルタと、前記波長フィルタを透過した前記レーザ光の強度に基づいて前記レーザ光源から出射されるレーザ光の波長の制御および前記波長フィルタの透過特性の制御を行う制御装置と、
    を備える波長可変型レーザモジュールの波長制御方法であって、
    前記制御装置のメモリ内に記憶された各基本周波数チャンネル当たり2点以上における測定周波数および波長フィルタ制御値のデータを参照する参照ステップと、
    前記レーザ光源が出射するように指示されたレーザ光の周波数に最も近い基本周波数チャンネルを選択し、前記最も近い基本周波数チャンネルに割り当てられた前記測定周波数および波長フィルタ制御値のデータから、前記指示されたレーザ光の周波数を実現するための第1の波長フィルタ制御値を算出する第1の算出ステップと、
    前記第1の波長フィルタ制御値を用いて前記波長フィルタの透過特性を制御する制御ステップと、
    を含むことを特徴とする波長可変型レーザモジュールの波長制御方法。
  2. 前記第1の算出ステップは、指示された周波数を挟む前記測定周波数および波長フィルタ制御値のデータから線形近似もしくは次数が2以上の多項式近似により、前記指示された周波数を実現するための第1の波長フィルタ制御値を算出することを特徴とする請求項1に記載の波長可変型レーザモジュールの波長制御方法。
  3. 前記第1の算出ステップは、指示された周波数を挟まない前記測定周波数および波長フィルタ制御値のデータから線形近似もしくは次数が2以上の多項式近似により、前記指示された周波数を実現するための第1の波長フィルタ制御値を算出することを特徴とする請求項1に記載の波長可変型レーザモジュールの波長制御方法。
  4. 前記制御装置のメモリ内に記憶された測定周波数および波長フィルタ制御値のデータは、隣接する基本周波数チャンネルの周波数間隔をn分割し、該隣接する基本周波数チャンネルの間におけるn−1個の分割点のうち少なくとも1点以上の周波数における追加測定を行い、前記追加測定の結果である測定周波数および波長フィルタ制御値のデータがメモリ内に事前に記録されたものであることを特徴とする請求項1から請求項3の何れか1つに記載の波長可変型レーザモジュールの波長制御方法。
  5. 前記レーザ光源が出射するように指示されたレーザ光の周波数に2番目に近い基本周波数チャンネルを選択し、前記2番目に近い基本周波数チャンネルに割り当てられた前記測定周波数および波長フィルタ制御値のデータから、前記指示されたレーザ光の周波数を実現するための第2の波長フィルタ制御値を算出する第2算出ステップと、
    前記第1の波長フィルタ制御値の代わりに、前記第1の波長フィルタ制御値と前記第2の波長フィルタ制御値のうち、前記メモリに記憶されている波長フィルタ制御値の中心値に近い方を用いて前記波長フィルタの透過特性を制御する制御ステップと、
    を含むことを特徴とする請求項1から請求項4の何れか1つに記載の波長可変型レーザモジュールの波長制御方法。
  6. レーザ光を出射するレーザ光源と、
    光の波長に対して周期的な透過特性を有する波長フィルタと、
    前記波長フィルタを透過した前記レーザ光の強度に基づいて前記レーザ光源から出射されるレーザ光の波長の制御および前記波長フィルタの透過特性の制御を行う制御装置と、
    を備え、
    前記制御装置の演算部は、
    前記制御装置のメモリ内に記憶された各基本周波数チャンネル当たり2点以上における測定周波数および波長フィルタ制御値のデータを参照する参照ステップと、
    前記レーザ光源が出射するように指示されたレーザ光の周波数に最も近い基本周波数チャンネルを選択し、前記最も近い基本周波数チャンネルに割り当てられた前記測定周波数および波長フィルタ制御値のデータから、前記指示されたレーザ光の周波数を実現するための第1の波長フィルタ制御値を算出する第1の算出ステップと、
    前記第1の波長フィルタ制御値を用いて前記波長フィルタの透過特性を制御する制御ステップと、
    を実行するようにプログラムされている、
    ことを特徴とする波長可変型レーザモジュール。
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