JP2017125800A - 光検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
[X線検査装置の構成]
[検査部の構成]
[検査部による検査処理]
[物品Gの形状に向きがないと設定されている場合]
[物品Gの形状に向きがあると設定されている場合]
[作用及び効果]
[変形例]
Claims (6)
- 物品に光を照射する光照射部と、
前記物品を透過した光を検出する光検出部と、
前記光検出部から出力された信号に基づいて前記物品の光透過画像を生成し、前記光透過画像に基づいて前記物品の検査を行う検査部と、を備え、
前記検査部は、前記光透過画像のうち前記物品に対応する領域について、所定方向における幅の中点を求め、複数の前記中点の位置に基づいて、前記物品に欠けが有るか否かを判定する、光検査装置。 - 前記検査部は、前記物品の形状に向きがある場合には、前記光透過画像のうち前記物品に対応する前記領域について、前記所定方向に対して前記向きが一定となるように角度補正を実施する、請求項1記載の光検査装置。
- 前記光透過画像のうち前記物品に対応する前記領域は、円形状又は楕円形状である、請求項1記載の光検査装置。
- 前記検査部は、前記光透過画像のうち前記物品に対応する前記領域について、前記所定方向における幅の前記中点として第1方向における幅の第1中点を求めると共に、前記第1方向に交差する第2方向における幅の第2中点を求め、複数の前記第1中点の位置及び複数の前記第2中点の位置に基づいて、前記物品に欠けが有るか否かを判定する、請求項1〜3のいずれか一項記載の光検査装置。
- 前記検査部は、前記光透過画像のうち前記物品に対応する前記領域について、前記領域が内接する矩形を求める矩形フィットを実施し、前記矩形の長手方向に直交する方向を前記所定方向とする、請求項1〜4のいずれか一項記載の光検査装置。
- 前記光はX線である、請求項1〜5のいずれか一項記載の光検査装置。
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Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5179419A (en) * | 1991-11-22 | 1993-01-12 | At&T Bell Laboratories | Methods of detecting, classifying and quantifying defects in optical fiber end faces |
JP2003065976A (ja) * | 2001-08-29 | 2003-03-05 | Anritsu Corp | X線異物検出装置 |
JP2003139519A (ja) * | 2001-11-05 | 2003-05-14 | Nec Corp | 電子部品検査装置およびプログラム |
JP2010281654A (ja) * | 2009-06-04 | 2010-12-16 | Shimadzu Corp | X線検査装置およびx線検査装置用検査プログラム |
JP2010286409A (ja) * | 2009-06-12 | 2010-12-24 | Ishida Co Ltd | 物品検査装置 |
JP2012237649A (ja) * | 2011-05-12 | 2012-12-06 | Ckd Corp | 錠剤検査装置及びptp包装機 |
JP2013200157A (ja) * | 2012-03-23 | 2013-10-03 | Toray Eng Co Ltd | 端面検査方法および端面検査装置 |
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5179419A (en) * | 1991-11-22 | 1993-01-12 | At&T Bell Laboratories | Methods of detecting, classifying and quantifying defects in optical fiber end faces |
JP2003065976A (ja) * | 2001-08-29 | 2003-03-05 | Anritsu Corp | X線異物検出装置 |
JP2003139519A (ja) * | 2001-11-05 | 2003-05-14 | Nec Corp | 電子部品検査装置およびプログラム |
JP2010281654A (ja) * | 2009-06-04 | 2010-12-16 | Shimadzu Corp | X線検査装置およびx線検査装置用検査プログラム |
JP2010286409A (ja) * | 2009-06-12 | 2010-12-24 | Ishida Co Ltd | 物品検査装置 |
JP2012237649A (ja) * | 2011-05-12 | 2012-12-06 | Ckd Corp | 錠剤検査装置及びptp包装機 |
JP2013200157A (ja) * | 2012-03-23 | 2013-10-03 | Toray Eng Co Ltd | 端面検査方法および端面検査装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021050961A (ja) * | 2019-09-24 | 2021-04-01 | 株式会社イシダ | 検査装置 |
WO2021059681A1 (ja) * | 2019-09-24 | 2021-04-01 | 株式会社イシダ | 検査装置 |
JP7411984B2 (ja) | 2019-09-24 | 2024-01-12 | 株式会社イシダ | 検査装置 |
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