JP2014115138A - X線検査装置 - Google Patents

X線検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2014115138A
JP2014115138A JP2012268110A JP2012268110A JP2014115138A JP 2014115138 A JP2014115138 A JP 2014115138A JP 2012268110 A JP2012268110 A JP 2012268110A JP 2012268110 A JP2012268110 A JP 2012268110A JP 2014115138 A JP2014115138 A JP 2014115138A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
articles
image
inspection
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012268110A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5864404B2 (ja
Inventor
Osamu Hirose
修 廣瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ishida Co Ltd
Original Assignee
Ishida Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ishida Co Ltd filed Critical Ishida Co Ltd
Priority to JP2012268110A priority Critical patent/JP5864404B2/ja
Priority to PCT/JP2013/081604 priority patent/WO2014087862A1/ja
Priority to CN201380059007.4A priority patent/CN104781656B/zh
Publication of JP2014115138A publication Critical patent/JP2014115138A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5864404B2 publication Critical patent/JP5864404B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/083Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

【課題】包装材の内部で仕切り材によって並列された複数物品の個数検査について、正確な結果を得ることができるX線検査装置を提供する。
【解決手段】X線検査装置10は、X線照射部13と、X線検出部14と、検査制御部20とを備える。対象製品は、包装材と複数の物品とを含む。X線照射部は、対象製品に対してX線を照射する。X線検出部は、対象製品を透過したX線である透過X線を検出する。検査制御部は、透過X線に基づき、複数の物品の数を検査する。また、検査制御部は、X線画像生成部22aと、矩形生成部22cと、領域生成部22dと、個数検査実行部22eとを有する。X線画像生成部は、透過X線に基づき、X線画像を生成する。矩形生成部は、X線画像に基づき、複数の物品を包含する矩形を生成する。領域生成部は、矩形の内部を所定の情報に基づいて分割し、矩形の内部に分割線領域および複数の小領域を生成する。
【選択図】図6

Description

本発明は、X線検査装置に関する。
従来、包装材によって包装された物品(対象製品)をコンベアユニットによって搬送しながらX線を照射し、対象製品を透過したX線(透過X線)に基づいて、欠品検査を行うX線検査装置が知られている。また、例えば、特許文献1(特開2002―228761号公報)には、包装材の内部で仕切り材によって仕切られた複数の物品についての欠品検査を可能にするX線検査装置が提案されている。
ところで、上記文献に示されるX線検査装置は、透過X線に基づいて生成されたX線画像上に欠品検出用のマスク領域を設定する。マスク領域は、X線画像上の所定の座標軸位置に所定の範囲で設定される。その結果、コンベアユニットによって搬送される対象製品の傾きが一定でない場合には、個数検査について正確な結果を得ることができない。
本発明の課題は、包装材の内部で仕切り材によって並列された複数物品の個数検査について、正確な結果を得ることができるX線検査装置を提供することにある。
本発明に係るX線検査装置は、対象製品を検査するためのX線検査装置であって、X線照射部と、X線検出部と、検査制御部とを備える。対象製品は、包装材と複数の物品とを含む。複数の物品は、包装材の内部で仕切り材によって並列されている。X線照射部は、対象製品に対してX線を照射する。X線検出部は、対象製品を透過したX線である透過X線を検出する。検査制御部は、透過X線に基づき、複数の物品の数を検査する。また、検査制御部は、X線画像生成部と、矩形生成部と、領域生成部と、個数検査実行部とを有する。X線画像生成部は、透過X線に基づき、X線画像を生成する。矩形生成部は、X線画像に表れる複数の物品を包含する矩形を生成する。領域生成部は、矩形の内部を所定の情報に基づいて分割し、矩形の内部に分割線領域および複数の小領域を生成する。個数検査実行部は、X線画像に分割線領域を組み込んで、X線画像に含まれる複数の物品のそれぞれを識別し、複数の物品の個数検査を行う。
本発明に係るX線検査装置では、X線画像に表れる複数の物品を包含する矩形が生成される。また、矩形の内部に分割線領域と複数の小領域とが生成される。個数検査実行部は、X線画像に分割線領域を組み込んで、複数の物品のそれぞれを識別し、物品の個数検査を行う。これにより、隣接する物品が接触している場合であっても、個数検査の正確な結果を得ることができる。
また、個数検査実行部は、分割線領域が組み込まれたX線画像に基づいて、複数の物品のそれぞれの輪郭を識別し、複数の物品の個数検査を行うことが好ましい。重なり合った物品の画像は、分割線領域によって分割される。これにより、各物品を特定することができる。
また、個数検査実行部は、X線画像から分割線領域を除いた画像である処理画像を生成し、処理画像に含まれる複数の物品の画像に基づき、複数の物品の個数検査を行うことが好ましい。X線画像のうち重なり合った物品の画像の部分に境界を形成するので、対象製品に含まれる物品の個数を適切に検査することができる。
さらに、個数検査実行部は、複数の小領域のそれぞれに複数の物品があるか否かに基づいて、複数の物品の個数検査を行うことが好ましい。これにより、仕切り材で仕切られた各領域における物品の有無を判定することができる。
さらに、検査制御部は、並列数情報記憶部を有することが好ましい。並列数情報記憶部は、並列数情報を記憶する。並列数情報は、複数の物品が並列する行数および列数の少なくともいずれか一方に関する所定の情報である。また、領域生成部は、並列数情報に基づき、矩形の内部に複数の小領域および分割線領域を生成することが好ましい。分割線領域は、並列数情報に基づいてX線画像に均等に組み込まれるため、包装材の内部で複数の物品が適切に仕分けられているかどうかを判定することができる。
また、分割線領域は、矩形の内部を横切る直線状の領域である事が好ましい。これにより、仕切り材に適した欠品検査を行うことができる。
さらに、検査制御部は、入力受付部を有することが好ましい。入力受付部は、所定の情報の入力を受け付ける。また、領域生成部は、入力受付部によって受け付けられた所定の情報に基づいて、矩形の内部に複数の小領域および分割線領域を生成することが好ましい。これにより、ユーザの要望を容易に反映することができる。
また、並列数情報記憶部は、仕切り材に応じた行数および列数を記憶することが好ましい。並列数情報記憶部には、包装材の種類毎に分割線領域の数が記憶される。これにより、包装材に応じて自動的に分割線領域を組み込むことができる。
本発明に係るX線検査装置によれば、包装材の内部で仕切り材によって並列された複数物品の個数検査について、正確な結果を得ることができる。
本発明の一の実施形態に係るX線検査装置の外観斜視図である。 X線検査装置を含む検査ライン(X線検査システム)の概略図である。 X線検査装置のシールドボックス内部の簡易構成図である。 X線検出素子によって検出される透過X線量の例を示すグラフである。 モニタに表示される画面の例である。 制御ブロック図である。 二値化画像に基づいて生成される矩形の例を示す図である。 矩形の内部に生成される分割線領域および複数の小領域の例を示す図である。 X線検査装置における処理の流れを示すフローである。 X線画像の例を示す図である。 二値化画像の例を示す図である。 二値化画像に基づいて生成される矩形の例を示す図である。 矩形フィッティングを説明するための図である。 矩形フィッティングを説明するための図である。 矩形フィッティングを説明するための図である。 矩形フィッティングを説明するための図である。 矩形の内部に分割線領域を組み込む処理を説明するための図である。 処理画像の例を示す図である。 変形例Aに係るX線検査装置の処理を説明するための例である。 変形例Bに係る並列数情報記憶領域に記憶される情報の例である。
以下、図面を参照して、本発明の実施形態に係るX線検査装置について説明する。
(1)X線検査装置の概略説明
図1は、本発明の一実施形態に係るX線検査装置10の外観を示す斜視図である。また、図2に、X線検査装置10が組み込まれる検査ライン(X線検査システム)100の例を示す。検査ライン100では、食品等の製品Pの検査が行われる。検査ライン100には、X線検査装置10の他、上流コンベアユニット60と、振り分け機構70とが含まれる。上流コンベアユニット60は、X線検査装置10の上流に設けられている。振り分け機構70は、X線検査装置10の下流に設けられている。
X線検査装置10は、上流コンベアユニット60によって連続的に搬送されてくる製品Pに対してX線を照射することにより製品Pの良否判断を行う。具体的に、X線検査装置10は、製品Pを透過したX線量に基づいて製品Pに含まれる物品Gの個数判定(個数検査)を行う。製品Pには、図3に示すように、複数の物品Gと、複数の物品Gを包装する包装材m1と、包装材m1内部で複数の物品Gを仕切る仕切り材m2とが含まれる。複数の物品Gは、仕切り材m2によって、包装材m1の内部で並列されている。
X線検査装置10は、製品Pに含まれる物品Gの数が所定の値と一致する場合には、製品Pを良品と判断する。一方、X線検査装置10は、製品Pに含まれる物品Gの個数が所定の値に一致しない場合には、製品Pを不良品と判断する。X線検査装置10での検査結果は、振り分け機構70に送られる。振り分け機構70は、ラインコンベアユニット73および不良品回収ライン74に接続される。振り分け機構70は、X線検査装置10において良品と判断された製品Pをラインコンベアユニット73に振り分け、不良品と判断された製品Pを不良品回収ライン74に振り分ける。
(2)X線検査装置の詳細説明
図1、図3、または図6に示すように、X線検査装置10は、主として、シールドボックス11と、コンベアユニット12と、X線照射器(X線照射部)13と、X線ラインセンサ(X線検出部)14と、タッチパネル機能付きのモニタ30と、制御装置(検査制御部)20とから構成されている。
(2−1)シールドボックス
シールドボックス11は、後述するコンベアユニット12、X線照射器13、X線ラインセンサ14、制御装置20等を収容するボックスである。シールドボックス11の正面上部には、モニタ30の他、キーの差し込み口および電源スイッチ等が配置されている。シールドボックス11の両側面には、開口11aが形成されている。開口11aは、製品Pをシールドボックス11の内外に搬入および搬出させるために用いられる。開口11aは、遮蔽ノレン19によって塞がれている。遮蔽ノレン19は、シールドボックス11の内部のX線が外部へ漏洩することを防止する。遮蔽ノレン19は、鉛を含むゴムから成形されている。遮蔽ノレン19は、製品Pが開口11aを通過する際に製品Pによって押しのけられるようになっている。
(2−2)コンベアユニット
コンベアユニット12は、シールドボックス11内で製品Pを搬送する。コンベアユニット12は、図1に示すように、シールドボックス11の両側面に形成された開口11aを貫通するように配置されている。コンベアユニット12は、図3に示すように、主として、無端状のベルト12dと、コンベアローラ12cと、コンベアモータ12a(図6参照)とから構成されている。コンベアローラ12cは、コンベアモータ12aによって駆動される。コンベアローラ12cの駆動により、ベルト12dが回転され、ベルト12d上の製品Pが下流に搬送される。コンベアユニット12による製品Pの搬送速度は、オペレータによって入力された設定速度に応じて変動する。制御装置20は、設定速度に基づいてコンベアモータ12aをインバータ制御し、製品Pの搬送速度を細かく制御する。また、コンベアモータ12aには、コンベアユニット12による搬送速度を検出して制御装置20に送るエンコーダ12b(図6参照)が装着されている。
(2−3)X線照射器
X線照射器13は、図3に示すように、コンベアユニット12の上方に配置されている。X線照射器13は、X線ラインセンサ14に向けて扇状の照射範囲XにX線を照射する。照射範囲Xは、コンベアユニット12の搬送面に対して垂直に延びる。また、照射範囲Xは、コンベアユニット12の搬送方向に対して交差する方向に扇状に広がる。すなわち、X線照射器13から照射されるX線は、ベルト12dの幅方向に広がる。
(2−4)X線ラインセンサ
X線ラインセンサ14は、図3に示すように、コンベアユニット12の下方に配置されている。X線ラインセンサ14は、主として、多数のX線検出素子14aから構成されている。X線検出素子14aは、コンベアユニット12による搬送方向に直交する向きに一直線に水平配置されている。
また、各X線検出素子14aは、製品Pやコンベアユニット12を透過したX線量(透過X線量)を検出し、透過X線量に基づくX線透過信号を出力する。言い換えると、X線透過信号は、透過したX線の強度に応じたX線透過信号を出力する。なお、透過したX線の強度は、透過X線量の大小に依存する。X線透過信号により、X線画像の明るさ(濃淡値)が決定される(図4参照)。図4は、X線ラインセンサ14のX線検出素子14aによって検出される透過X線量(検出量)の例を示すグラフである。グラフの横軸は、各X線検出素子14aの位置に対応する。また、グラフの横軸は、コンベアユニット12の搬送方向に直交する方向の距離に対応する。また、グラフの縦軸は、X線検出素子14aで検出されたX線の透過量(検出量)を示す。すなわち、検出量の多いところが明るい(淡い)X線画像として表示され、検出量が少ないところが暗い(濃い)X線画像として表示される。すなわち、X線画像の明暗(濃淡)は、X線の検出量に対応する。
さらに、X線ラインセンサ14は、製品Pが扇状のX線の照射範囲X(図3参照)を通過するタイミングを検知するためのセンサとしても機能する。すなわち、X線ラインセンサ14は、コンベアユニット12のベルト12d上で搬送される製品PがX線ラインセンサ14の上方位置(照射範囲X)に来たとき、所定の閾値以下の電圧を示すX線透過信号(第1信号)を出力する。一方、X線ラインセンサ14は、製品Pが照射範囲Xを通過すると所定の閾値を上回る電圧を示すX線透過信号(第2信号)を出力する。第1信号および第2信号が後述の制御装置20に入力されることにより、照射範囲Xにおける製品Gの有無が検出される。
(2−5)モニタ
モニタ30は、表示部および入力部として機能する。具体的に、モニタ30は、液晶ディスプレイである。モニタ30には、製品Pの検査結果が表示される(図5参照)。図5は、製品Pの検査結果の例である。また、モニタ30は、タッチパネル機能を有する。したがって、モニタ30は、オペレータによる検査パラメータおよび動作設定情報等の入力を受け付ける。
ここで、検査パラメータとは、製品Pに含まれる物品Gの個数の正否を判定するために必要なパラメータである。また、動作設定情報とは、検査速度やコンベアユニット12の搬送方向等の情報である。また、モニタ30は、オペレータによる並列数情報の入力を受け付ける。並列数情報は、後述する領域生成部22dによって用いられる情報である。モニタ30で受け付けた検査パラメータは、後述の記憶部21に記憶される。モニタ30は、制御装置20と電気的に接続されており、制御装置20と信号の授受を行う。
(2−6)制御装置
制御装置20は、主として、CPU、ROM、RAM、およびHDD(ハードディスク)等によって構成されている。制御装置20は、図示しない表示制御回路、キー入力回路、通信ポートなども備えている。表示制御回路は、モニタ30でのデータ表示を制御する回路である。キー入力回路は、モニタ30のタッチパネルを介してオペレータにより入力されたキー入力データを取り込む回路である。通信ポートは、プリンタ等の外部機器やLAN等のネットワークとの接続を可能にする。
また、制御装置20は、また、上述のコンベアモータ12a、エンコーダ12b、X線照射器13、X線ラインセンサ14、およびモニタ30等に電気的に接続されている。制御装置20は、エンコーダ12bからコンベアモータ12aの回転数に関するデータを取得し、当該データに基づき、製品Pの移動距離を把握する。また、制御装置20は、上述したように、X線ラインセンサ14から出力された信号を受信することにより、コンベアユニット12のベルト12d上の製品Pが照射範囲Xに来たタイミングを検出する。
また、制御装置20は、図6に示すように、主として、記憶部21および制御部22として機能する。制御装置20は、透過X線に基づき、製品Pに含まれる複数の物品Gの数を検査する。
(2−6−1)記憶部
記憶部21は、制御部22に実行させる各種プログラムや検査パラメータを記憶する。検査パラメータは、上述したように、モニタ30のタッチパネル機能を使ってオペレータによって入力される。
記憶部21は、主として、X線画像記憶領域21a、二値化画像記憶領域21b、並列数情報記憶領域21c、および処理画像記憶領域21dを有する。
(a)X線画像記憶領域
X線画像記憶領域21aには、後述する画像生成部22aによって生成されたX線画像に関するデータ(画像データ)が記憶されている。X線画像には、製品Pに含まれる包装材m1、仕切り材m2、および複数の物品Gが含まれる(図10参照)。
(b)二値化画像記憶領域
二値化画像記憶領域21bには、後述する画像生成部22aによって生成された二値化画像に関するデータ(二値化データ)が記憶されている。二値化画像は、製品Pに含まれる包装材m1、仕切り材m2、および複数の物品Gのうち、複数の物品Gのみが表示されるようにX線画像が二値化処理された画像である(図11参照)。なお、二値化画像記憶領域21bに記憶された二値化画像は、二値化される前のX線画像に関するデータ(画像データ)と関連付けて記憶される。
(c)並列数情報記憶領域
並列数情報記憶領域21cは、後述する矩形生成部22cによって生成された矩形sqの内部に分割線領域daおよび小領域saを生成するための情報(並列数情報)を記憶する(図8参照)。並列数情報は、包装材m1の内部で並列する複数の物品Gに関する情報である。具体的に、並列数情報とは、複数の物品Gが並列する「行数」および「列数」の少なくともいずれか一方に関する情報(所定の情報)である。言い換えると、並列数情報とは、仕切り材m2が複数の物品Gを仕切る態様に関する情報である。例えば、図3に示される製品Pを検査するために必要な並列数情報には、行数:2、列数:3を示す情報が含まれる。また、図8に示される態様で物品Gが包装されている製品Pを検査するために必要な並列数情報には、行数:4、列数:3を示す情報が含まれる。
(d)処理画像記憶領域
処理画像記憶領域21dには、処理画像が記憶される。処理画像は、後述する個数検査実行部22eによって生成された画像である。具体的に、処理画像とは、二値化画像に、並列数情報に基づいた分割線領域daが組み込まれた画像である。なお、処理画像記憶領域21dに記憶された処理画像もまた、X線画像記憶領域21aに記憶された画像データと関連付けて記憶される。
(2−6−2)制御部
制御部22は、記憶部21に記憶された各種プログラムを実行することにより、画像生成部(X線画像生成部)22a、入力受付部22b、矩形生成部22c、領域生成部22d、個数検査実行部22e、および良否判定部22fとして機能する。
(a)画像生成部
画像生成部22aは、X線ラインセンサ14によって検出された透過X線量に基づいてX線画像を作成する。具体的に、画像生成部22aは、X線ラインセンサ14の各X線検出素子14aから出力されるX線透過信号を細かい時間間隔で取得し、取得したX線透過信号の強度(輝度)に基づいてX線画像を生成する。すなわち、画像生成部22aは、扇状のX線の照射範囲X(図3参照)を製品Pが通過する際に各X線検出素子14aから出力されるX線透過信号に基づいて、製品Pを含むX線画像を生成する。照射範囲Xにおける製品Pの有無は、X線ラインセンサ14が出力する信号により判断される。
画像生成部22aは、各X線検出素子14aから得られるX線の強度(輝度)に関する細かい時間間隔毎のデータをマトリクス状に時系列につなぎ合わせて、製品PについてのX線画像を生成する。画像生成部22aによって生成されたX線画像は、X線画像記憶領域21aに記憶される。
また、画像生成部22aは、X線画像の二値化画像を生成する。具体的に、画像生成部22aは、所定の閾値と、X線画像を構成する各画素の濃淡値とを比較し、X線画像を構成する各画素の濃淡値が所定の閾値以下かどうかを判断し、X線画像を二値化する。ここで、所定の閾値とは、製品Pに含まれる複数の物品Gと、それ以外の部分とを識別するために設定される閾値である。具体的に、画像生成部22aは、X線画像を構成する全画素のうち、透過X線の輝度(強度)が所定の閾値を上回る画素については白に対応する諧調(255)で表し、所定の閾値を以下の画素については黒に対応する諧調(0)で表すように、画像データのフィルタ処理を行う。なお、画像生成部22aによって生成された二値化画像に関するデータ(二値化データ)は、上述した二値化画像記憶領域21bに記憶される。
(b)入力受付部
入力受付部22bは、オペレータがモニタ30から入力した検査パラメータや動作設定情報等の各種情報を受け付ける。また、入力受付部22bは、オペレータがモニタ30から入力した並列数情報を受け付ける。入力受付部22bによって受け付けられた情報は、記憶部21に記憶される。なお、並列数情報は、上述したように、並列数情報記憶領域21cに記憶される。
(c)矩形生成部
矩形生成部22cは、X線画像に基づき、複数の物品Gを包含する矩形sqを生成する(図7参照)。具体的に、矩形成形部22cは、二値化されたX線画像(二値化画像)に表れる複数の物品Gを包含するような最小の矩形sqを求める(矩形フィッティング)。
より具体的に、矩形生成部22cは、二値化画像に表れる複数の物品Gの最左端、最右端、最上端、最下端の部分を通るように、X軸に対して垂直な線および平行な線を生成することにより、複数の物品Gを包含する矩形sqを求める(図13から図16参照)。
また、矩形成形部22cは、図13から図16に示すように、二値化画像の一点を基準に、二値化画像を所定角度(本実施形態では、10°)ずつ回転させ、二値化画像を回転させる度に、回転後の二値化画像に表れる複数の物品Gを包含する矩形sqを求める。矩形成形部22cは、二値化画像を回転させて求めた複数の矩形sqの中から最も面積の小さい矩形(最小の矩形)sqを特定する。
(d)領域生成部
領域生成部22dは、矩形sqの内部を並列数情報(所定の情報)に基づいて分割する。言い換えると、領域生成部22dは、矩形sqの内部に分割線領域daおよび複数の小領域saを生成する(図17参照)。なお、領域生成部22dによって内部が分割される矩形sqは、矩形生成部22cによって特定された最小の矩形sqである。
領域生成部22dは、入力受付部22bによって受け付けられた並列数情報に基づいて、矩形sqの内部に分割線領域daおよび複数の小領域saを生成する。ここで、分割線領域daとは、図8に示すように、矩形sqの内部を横切る直線状の領域である。分割線領域daは、矩形sqを構成する辺に対して平行または垂直に生成される。また、小領域saとは、矩形sqの内部に分割線領域daが生成されることにより矩形sqの内部に生成される領域である。すなわち、小領域saは、矩形sqの内部領域のうち、分割線領域da以外の領域であり、分割線領域daに隣接する領域である。
分割線領域daは、並列数情報に基づいて、矩形sqの内部を均等に分割する。言い換えると、領域生成部22dによって生成される分割線領域daは、矩形sqの内部に均等に配置される。また、領域生成部22dによって生成される小領域saの大きさは、ほぼ均等である。
(e)個数検査実行部
個数検査実行部22eは、製品Pに含まれる物品Gの個数検査を行う。言い換えると、個数検査実行部22eは、包装材m1の内部で並列する複数の物品Gについての個数検査を行う。個数検査実行部22eは、二値化されたX線画像(二値化画像)と、領域生成部22dによって生成された分割線領域daとを用いて、複数の物品Gの個数検査を行う。
具体的に、個数検査実行部22eは、二値化画像に分割線領域daを組み込んで、処理画像を生成する(図18参照)。処理画像とは、上述したように、二値化画像に、並列数情報に基づいた分割線領域daが組み込まれた画像である。処理画像では、分割線領域daの部分の諧調が255に設定される。すなわち、処理画像において、分割線領域daは白色で表される。言い換えると、処理画像は、二値化画像を構成する全画素のうち、分割線領域daと重なる部分の画素を白に置き換えた画像である。具体的に、処理画像では、二値化画像に表れた物品Gの画像から分割線領域daと重なる部分の画像が除かれた画像が表れる。
個数検査実行部22eは、処理画像に含まれる複数の物品Gの画像を認識することにより、個数検査を行う。具体的に、個数検査実行部22eは、処理画像を構成する全画素のうち、隣接する画素に設定されている色が異なる部分を特定する。隣接する画素に設定されている色が異なる部分は、物品Gの輪郭を示す部分となりうる。具体的に、個数検査実行部22eは、黒色に設定されている画素(黒色画素)が連続する部分(黒色部分)の面積または黒色部分の周長を求める。すなわち、個数検査実行部22eは、隣接する画素に設定されている色が異なる部分を物品Gの輪郭を構成する画素(輪郭画素)と判定し、輪郭画素に囲まれる画素の数(面積)、もしくは、輪郭画素の数(周長)を求める。さらに、個数検査実行部22eは、所定の閾値と、黒色部分の面積または黒色部分の周長とを比較し、黒色部分の面積または黒色部分の周長が所定の閾値を上回っていた場合、当該黒色部分が物品Gの画像であると判定する。一方、個数検査実行部22eは、所定の閾値と、黒色部分の面積または黒色部分の周長とを比較し、黒色部分の面積または黒色部分の周長が所定の閾値以下である場合には、当該黒色部分は物品Gの画像ではないと判定し、当該黒色部分を無視する。
個数検査実行部22eは、処理画像に含まれる物品Gの数を判定し、判定結果を上述の記憶部21に記憶する。言い換えると、個数検査実行部22eは、処理画像と所定の閾値とに基づいて処理画像に含まれる物品Gの画像の数を判定し、判定した物品Gの個数(判定個数)に関する情報を、上述の記憶部21に記憶する。
(f)良否判定部
良否判定部22fは、個数検査実行部22eによって判定された物品Gの個数に基づいて、製品Pに関する良品/不良品の判定を行う。言い換えると、良否判定部22fは、記憶部21に記憶された判定個数に関する情報に基づいて、製品Pに対する良品/不良品の判定を行う。
具体的に、良否判定部22fは、記憶部21に記憶された検査パラメータが示す物品Gの個数(基準個数)と、判定個数に関する情報が示す物品Gの個数とを比較し、製品Pに含まれる物品Gの数が正しいか否かを判定する。より具体的に、良否判定部22fは、基準個数と判定個数とが一致するか否かを判定し、基準個数と判定個数とが一致する場合には、製品Pに含まれる物品Gの数が正しい(良品である)と判定する。一方、良否判定部22fは、基準個数と判定個数とが一致しない場合には、製品Pに含まれる物品Gの数が正しくない(不良品である)と判定する。
良否判定部22fは、製品Pの良品/不良品の別を判断すると、製品Pが良品/不良品のいずれかである旨を示す信号(判定結果)を出力する。良否判定部22fによって出力された信号は、振り分け機構70に送られる。振り分け機構70は、良否判定部22fによる判定結果に基づき、製品Pをラインコンベアユニット73または不良品回収ライン74に振り分ける。
(3)処理の流れ
図9から図18を参照しながら、X線検査装置10による処理の流れを説明する。
X線検査装置10に製品Pが投入されると、ステップS1において、画像生成部22aによって製品PのX線画像が生成される(図10参照)。X線画像が生成されると、X線画像に関するデータ(画像データ)がX線画像記憶領域21aに記憶される。画像データがX線画像記憶領域21aに記憶されると、ステップS2に進む。
ステップS2では、画像生成部22aによって、X線画像の二値化画像が生成される(図11参照)。具体的には、画像生成部22aが、所定の閾値と、X線画像を構成する各画素の濃淡値とを比較し、各画素の濃淡値が所定の閾値以下かどうかを判断し、判断結果に基づいてX線画像を二値化する。ステップS2で生成された二値化データは、二値化画像記憶領域21bに記憶される。その後、ステップS3に進む。
ステップS3では、矩形フィッティングが行われる。具体的に、ステップS3では、矩形生成部22cによって、二値化画像に表れる複数の物品Gを包含するような最小の矩形sqが求められる(図7および図12参照)。より具体的に、矩形生成部22cは、二値化画像に表れる複数の物品Gの最左端、最右端、最上端、最下端の部分を通るように、X軸に対して垂直な線および平行な線を生成する(図13から図16参照)。詳細には、図13〜図16に示すように、矩形成形部22cは、二値化画像の一点を基準に、二値化画像を所定角度(本実施形態では、10°)ずつ回転させ、二値化画像を回転させる度に、回転後の二値化画像に表れる複数の物品Gを包含する矩形sqを求める。その後、矩形成形部22cは、複数の矩形sqの中から最も面積の小さい矩形sqを特定する。その後、ステップS4に進む。
ステップS4では、領域生成部22dによって、矩形sqの内部が分割される(図17参照)。言い換えると、領域生成部22dが、並列数情報(所定の情報)に基づいて、矩形の内部に分割線領域daおよび複数の小領域saを生成する。その後、ステップS5に進む。
ステップS5では、個数検査実行部22eによって、二値化画像に分割線領域daが組み込まれる(図18参照)。二値化画像に分割線領域daが組み込まれることによって、処理画像が生成される。その後、ステップS6に進む。
ステップS6では、処理画像に含まれる物品Gの画像が判定される。具体的に、個数検査実行部22eは、処理画像を構成する全画素のうち、輪郭画素を特定し、輪郭画素に囲まれる画素数(面積)または輪郭画素の数(周長)に基づいて、処理画像に含まれる物品Gの画像が判定される。個数検査実行部22eは、処理画像に含まれる物品Gの画像を判定すると、判定した物品Gの画像の数に関する情報(判定個数に関する情報)を、記憶部21に記憶する。その後、ステップS7に進む。
ステップS7では、基準個数に関する検査パラメータ(所定の閾値)と、記憶部21に記憶された判定個数に関する情報とに基づいて、良否判定部22fによって、製品Pに含まれる物品Gの個数検査が行われる。具体的に、良否判定部22fは、基準個数と、判定個数とが一致するか否かを判定する。ここで、基準個数と判定個数とが一致する場合には、良否判定部22fによって製品Pが良品と判定される。一方、基準個数と判定個数とが一致しない場合には、良否判定部22fによって製品Pが不良品と判定される。その後、ステップS8に進む。
ステップS8では、良否判定部22fによる判定結果が、モニタ30に表示される(図5参照)。なお、モニタ30には、製品Pの個数検査に関する判定結果と共に、図5に示すような、物品Gの画像を表示してもよい。ここで表示される物品Gの画像は、処理画像を加工した画像(加工画像)である。例えば、加工画像とは、処理画像を構成する全画素から、物品Gの画像ではないと判定された黒色部分を除いた画像である。
(4)特徴
(4−1)
上記実施形態に係るX線検査装置10は、二値化画像に含まれる複数の物品Gを包含する矩形sqが生成される。二値化画像は、X線画像を二値化した画像である。また、X線検査装置10では、矩形sqの内部に分割線領域saを組み込んで、複数の物品Gのそれぞれを識別し、物品Gの個数検査を行う。これにより、隣接する物品Gが接触している場合であっても、精度の良い個数検査を実行することができる。
X線検査装置の検査対象となる製品Pは、上流コンベアユニット60によって連続的に搬送されてくる。ここで、上流コンベアユニット60によって搬送される製品Pは、搬送方向に対して一定の傾きで搬送されてくるわけではない。すなわち、製品Pは、搬送方向に対して様々な傾きを有する状態でコンベアユニット12に搬送されてくる。ここで、例えば、製品Pに含まれる物品Gの個数検査を行うために、X線画像上にマスク領域を設定すると、マスク領域は、X線画像上の所定の座標軸位置に所定の範囲で設定される。その結果、正確な個数検査を行うことが困難である。
しかし、上記実施形態に係るX線検査装置10では、二値化画像に表れる物品Gの画像を包含する矩形sqを生成し、矩形sqの内部を分割する分割線領域daをさらに組み込む。これにより、接触している複数の物品Gが分割線領域daによって分割されるため、正確な個数検査の結果を得ることができる。
(4−2)
また、上記実施形態に係るX線検査装置10は、分割線領域daが組み込まれた二値化画像に基づいて、複数の物品Gのそれぞれの輪郭を識別し、複数の物品Gの個数検査を行う。分割線領域によって重なり合った物品Gについての画像が分割され、分割線領域によって各物品Gの画像の輪郭が生成される。これにより、各物品Gを特定することができる。
(4−3)
また、上記実施形態に係るX線検査装置10は、二値化されたX線画像を構成する全画素から、分割線領域daを構成する画素を除いた画像である処理画像を生成し、処理画像に含まれる複数の物品Gの画像に基づき、複数の物品Gの個数検査を行う。X線画像のうち重なり合った物品Gの画像の部分に分割線領域daによって境界を形成するので、対象製品Pに含まれる物品Gの個数を適切に検査することができる。
(4−4)
また、上記実施形態に係るX線検査装置10は、並列数情報記憶領域(並列数情報記憶部)21cを有する。並列数情報記憶領域21cは、並列数情報を記憶する。並列数情報は、複数の物品が並列する行数および列数の少なくともいずれか一方に関する情報である。また、X線検査装置10は、並列数情報に基づき、矩形sqの内部に複数の小領域saおよび分割線領域daを生成する。分割線領域daは、並列数情報に基づいて二値化画像に均等に組み込まれるため、包装材m1の内部で複数の物品Gが適切に仕分けられているかどうかを判定することができる。
(4−5)
また、上記実施形態に係るX線検査装置10は、二値化画像に対して生成した矩形sqの内部で直線状の領域を横切らせて矩形sqの内部を均等に分割する。これにより、仕切り材m2に適した欠品検査(個数検査)を行うことができる。
(4−6)
また、上記実施形態に係るX線検査装置10では、モニタ30によって入力された各種情報が、入力受付部22bによって受け付けられる。入力受付部22bは、並列数情報を含む各種情報の入力を受け付ける。領域生成部22dは、入力受付部22bによって受け付けられた情報に基づいて、矩形sqの内部に複数の小領域saおよび分割線領域daを生成する。これにより、ユーザの要望を容易に反映することができる。
(5)変形例
(5−1)変形例A
上記実施形態に係るX線検査装置10では、領域生成部22dによって矩形sqの内部を分割する分割線領域da(および小領域sa)が生成され、その後、個数検査実行部22eによって、分割線領域daが二値化画像に組み込まれる。具体的に、個数検査実行部22eは、二値化画像を構成する全画素のうち、分割線領域daと重なる部分の画素を白色に置き換えて、重なり合った物品Gを表す画像の部分を白線によって分離する。また、個数検査実行部22eは、分割線領域daと重なる部分の画素を白色に置き換えた画像に基づいて、物品Gの個数を判定する。
ここで、個数検査実行部は、図19に示すように、二値化画像に矩形sqおよび分割線領域daの両方を組み込み、矩形sq内に生成される複数の小領域saのそれぞれに物品Gの画像があるかどうかを判断することにより、欠品を判定してもよい。具体的に、個数検査実行部は、上述したように、二値化画像に分割線領域daを組み込んだ処理画像を生成し、処理画像に含まれる複数の物品Gの画像のそれぞれを認識する。さらに、個数検査実行部は、認識した物品Gが、複数の小領域saのそれぞれに含まれるかどうかを判定する。その結果、仕切り材m2で仕切られた各小領域saにおける物品Gの有無を判定することができる。すなわち、包装材m1の内部で物品Gが適切に並列されているか否かを判定することができる。
(5−2)変形例B
上記実施形態に係るX線検査装置10では、入力受付部22bによって受け付けられた並列数情報が並列数情報記憶領域21cに記憶され、領域生成部22dは、並列数情報に基づいて矩形sqの内部を分割する。ここで、並列数情報記憶領域21cには、仕切り材m2の種類に応じた複数の行数および列数に関する情報を記憶していてもよい。具体的に、並列数情報記憶領域21cには、図20に示すように、仕切り材m2の種類と、行数および列数とを関連付けた複数の情報が記憶されていてもよい。言い換えると、並列数情報記憶領域21cには、仕切り材m2の種類毎に小領域saを生成するために必要な情報が記憶されていてもよい。
また、並列数情報記憶領域21cは、仕切り材m2の種類に応じた「行数」および「列数」に代えて、仕切り材m2の種類に応じた「分割線領域daの数」が記憶されていてもよい。すなわち、図3で示す製品Pについては、X軸方向:2、Y軸方向:1を示す情報が記憶され、図8に対応する製品Pについては、X軸方向:2、Y軸方向:3を示す情報が記憶されてもよい。
いずれの場合であっても、検査対象となる製品Pに用いられる仕切り材m2を予め選択しておくことにより、仕切り材m2に応じた分割線領域daを自動的に組み込むことができる。
(5−3)変形例C
上記実施形態に係るX線検査装置10は、製品Pに含まれる物品Gの個数に基づいて製品の良否判定を行う。ここで、X線検査装置10は、物品Gの個数の他、欠け判定に基づいて物品Gの良否判定を行ってもよい。ここで、欠けとは、各物品Gが完全な形状を有しておらず、欠けた状態を意味する。欠け判定もまた、処理画像に基づいて行うものとする。なお、欠け判定を行う際には、物品Gの画像が分割線領域daによって欠けている場合を考慮して、幅を持たせた閾値を設定しておくことが好ましい。
また、X線検査装置10は、X線画像の濃淡値に基づき、各物品Gの重量を判定し、判定された重量に基づいて、各物品Gの欠け判定を行ってもよい。
さらに、X線検査装置10は、上記検査の他、異物検査を併せて行ってもよい。
10 X線検査装置
11 シールドボックス
12 コンベアユニット
13 X線照射器(X線照射部)
14 X線ラインセンサ(X線検出部)
14a X線検出素子
20 制御装置(検査制御部)
21 記憶部
21a X線画像記憶領域
21b 二値化画像記憶領域
21c 並列数情報記憶領域
21d 処理画像情報記憶領域
22 制御部
22a X線画像生成部
22b 入力受付部
22c 矩形生成部
22d 領域生成部
22e 個数検査実行部
22f 良否判定部
30 モニタ
70 振り分け機構
80 ラインコンベアユニット
90 不良品回収ライン
100 検査ライン(X線検査システム)
特開2002―228761号公報

Claims (8)

  1. 包装材と前記包装材の内部で仕切り材によって並列された複数の物品とを含む対象製品を検査するためのX線検査装置であって、
    前記対象製品に対してX線を照射するX線照射部と、
    前記対象製品を透過した前記X線である透過X線を検出するX線検出部と、
    前記透過X線に基づき、前記複数の物品の数を検査する検査制御部と、
    を備え、
    前記検査制御部は、
    前記透過X線に基づき、X線画像を生成するX線画像生成部と、
    前記X線画像に表れる前記複数の物品を包含する矩形を生成する矩形生成部と、
    前記矩形の内部を所定の情報に基づいて分割し、前記矩形の内部に分割線領域および複数の小領域を生成する領域生成部と、
    前記X線画像に前記分割線領域を組み込んで、前記X線画像に含まれる前記複数の物品のそれぞれを識別し、前記複数の物品の個数検査を行う個数検査実行部と、
    を有する、
    X線検査装置。
  2. 前記個数検査実行部は、
    前記分割線領域が組み込まれた前記X線画像に基づいて、前記複数の物品のそれぞれの輪郭を識別し、前記複数の物品の個数検査を行う、
    請求項1に記載のX線検査装置。
  3. 前記個数検査実行部は、
    前記X線画像から前記分割線領域を除いた画像である処理画像を生成し、
    前記処理画像に含まれる前記複数の物品の画像に基づき、前記複数の物品の個数検査を行う、
    請求項1または2に記載のX線検査装置。
  4. 前記個数検査実行部は、
    前記複数の小領域のそれぞれに前記複数の物品があるか否かに基づいて、前記複数の物品の個数検査を行う、
    請求項1または2に記載のX線検査装置。
  5. 前記検査制御部は、
    前記複数の物品が並列する行数および列数の少なくともいずれか一方に関する前記所定の情報である並列数情報を記憶する並列数情報記憶部
    をさらに有し、
    前記領域生成部は、前記並列数情報に基づき、前記矩形の内部に前記複数の小領域および前記分割線領域を生成する、
    請求項1から4のいずれかに記載のX線検査装置。
  6. 前記分割線領域は、前記矩形の内部を横切る直線状の領域である、
    請求項1から5のいずれかに記載のX線検査装置。
  7. 前記検査制御部は、
    前記所定の情報の入力を受け付ける入力受付部
    をさらに有し、
    前記領域生成部は、前記入力受付部によって受け付けられた前記所定の情報に基づいて、前記矩形の内部に前記複数の小領域および前記分割線領域を生成する、
    請求項1から6のいずれかに記載のX線検査装置。
  8. 前記並列数情報記憶部は、前記仕切り材に応じた前記行数および前記列数を記憶する、
    請求項5に記載のX線検査装置。
JP2012268110A 2012-12-07 2012-12-07 X線検査装置 Active JP5864404B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012268110A JP5864404B2 (ja) 2012-12-07 2012-12-07 X線検査装置
PCT/JP2013/081604 WO2014087862A1 (ja) 2012-12-07 2013-11-25 X線検査装置
CN201380059007.4A CN104781656B (zh) 2012-12-07 2013-11-25 X射线检查装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012268110A JP5864404B2 (ja) 2012-12-07 2012-12-07 X線検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014115138A true JP2014115138A (ja) 2014-06-26
JP5864404B2 JP5864404B2 (ja) 2016-02-17

Family

ID=50883285

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012268110A Active JP5864404B2 (ja) 2012-12-07 2012-12-07 X線検査装置

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP5864404B2 (ja)
CN (1) CN104781656B (ja)
WO (1) WO2014087862A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016117372A1 (ja) * 2015-01-20 2016-07-28 株式会社イシダ 検査装置
JP2017044620A (ja) * 2015-08-28 2017-03-02 日立金属株式会社 自動検査方法および自動検査装置

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6673165B2 (ja) * 2016-11-29 2020-03-25 株式会社島津製作所 電池のx線検査装置
JP6539893B1 (ja) * 2018-01-26 2019-07-10 株式会社 システムスクエア 検査ライン
JP7485543B2 (ja) * 2020-05-15 2024-05-16 東芝Itコントロールシステム株式会社 非破壊検査装置
CN113759431B (zh) * 2021-06-09 2023-08-11 同方威视技术股份有限公司 安检数据关联方法和装置、以及x射线安检系统

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020012419A1 (en) * 2000-05-25 2002-01-31 Mark Graves Analysis of samples
US20020191738A1 (en) * 2000-09-29 2002-12-19 Mazess Richard B. Method of inspecting meat for bone content using dual energy x-ray attenuation
JP2005024453A (ja) * 2003-07-04 2005-01-27 Anritsu Sanki System Co Ltd X線検査装置
JP2005031069A (ja) * 2003-06-19 2005-02-03 Ishida Co Ltd X線検査装置
JP2005127962A (ja) * 2003-10-27 2005-05-19 Anritsu Sanki System Co Ltd X線検査装置
JP2009042172A (ja) * 2007-08-10 2009-02-26 Lion Engineering Co Ltd 分包シート検査システム及び検査方法
WO2009041393A1 (ja) * 2007-09-26 2009-04-02 Ishida Co., Ltd. 検査装置
US20100303304A1 (en) * 2007-05-14 2010-12-02 Illinois Tool Works Inc. X-ray imaging

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3875842B2 (ja) * 2001-02-02 2007-01-31 アンリツ産機システム株式会社 X線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020012419A1 (en) * 2000-05-25 2002-01-31 Mark Graves Analysis of samples
US20020191738A1 (en) * 2000-09-29 2002-12-19 Mazess Richard B. Method of inspecting meat for bone content using dual energy x-ray attenuation
JP2005031069A (ja) * 2003-06-19 2005-02-03 Ishida Co Ltd X線検査装置
JP2005024453A (ja) * 2003-07-04 2005-01-27 Anritsu Sanki System Co Ltd X線検査装置
JP2005127962A (ja) * 2003-10-27 2005-05-19 Anritsu Sanki System Co Ltd X線検査装置
US20100303304A1 (en) * 2007-05-14 2010-12-02 Illinois Tool Works Inc. X-ray imaging
JP2009042172A (ja) * 2007-08-10 2009-02-26 Lion Engineering Co Ltd 分包シート検査システム及び検査方法
WO2009041393A1 (ja) * 2007-09-26 2009-04-02 Ishida Co., Ltd. 検査装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JPN1011504108; *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016117372A1 (ja) * 2015-01-20 2016-07-28 株式会社イシダ 検査装置
CN107209131A (zh) * 2015-01-20 2017-09-26 株式会社石田 检查装置
JPWO2016117372A1 (ja) * 2015-01-20 2017-11-02 株式会社イシダ 検査装置
JP2017044620A (ja) * 2015-08-28 2017-03-02 日立金属株式会社 自動検査方法および自動検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN104781656A (zh) 2015-07-15
JP5864404B2 (ja) 2016-02-17
CN104781656B (zh) 2016-08-31
WO2014087862A1 (ja) 2014-06-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111630519B (zh) 检查装置
JP5864404B2 (ja) X線検査装置
JP6537008B1 (ja) 検査装置
JP5739230B2 (ja) X線検査装置
JP6126230B2 (ja) 検査装置
US20100246930A1 (en) Inspection apparatus and method using penetrating radiation
JP6068060B2 (ja) X線検査装置
JP2005003480A (ja) X線検査装置
JP2015137858A (ja) 検査装置
JP2005031069A (ja) X線検査装置
JP2021025874A (ja) 検査装置
JPWO2019235022A1 (ja) 検査装置
JP5875878B2 (ja) 密度算出装置
JP4170366B2 (ja) X線検査装置
JP6306352B2 (ja) X線検査装置
JP6861990B2 (ja) X線検査装置
JP2008175691A (ja) X線検査装置および検査方法
JP2016170110A (ja) X線検査装置
JP3955559B2 (ja) X線検査装置
JP6144584B2 (ja) 破損検査装置
WO2017159856A1 (ja) X線検査装置
JP4291123B2 (ja) 放射線異物検査装置および放射線異物検査方法
JP2009080029A (ja) X線検査装置
JP2017156113A (ja) X線検査装置
JP2018048846A (ja) 光検査装置及び光検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20151022

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20151022

TRDD Decision of grant or rejection written
A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20151209

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20151222

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20151224

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5864404

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250