JP2017067591A5 - - Google Patents

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Claims (14)

  1. 電子部品の電気的特性を検査する第1検査と第2検査とを行う検査部が配置される電子部品搬送装置であって、
    前記電子部品が載置された載置部材を受け取る第1位置を有した給材部と、
    前記載置部材から取り出した前記電子部品を前記検査部に搬送する供給部と、
    前記検査部により前記第1検査が行われた後の前記電子部品を前記載置部材に搬送して載置する回収部と、
    前記回収部により前記電子部品が載置された前記載置部材を排出する第2位置を有した除材部と、
    前記回収部により前記電子部品が載置された前記載置部材を、前記第2位置から前記第1位置に搬送する搬送部と、を備え、
    前記供給部は、前記検査部により前記第1検査が行われた後の前記電子部品を前記載置部材から取り出して前記検査部に搬送し、
    前記検査部は、前記第1検査が行われた後の前記電子部品に第2検査を行う電子部品搬送装置。
  2. 互いに直交するX方向とY方向とを想定したとき、前記搬送部は、前記給材部の前記第1位置から前記Y方向に前記載置部材を搬送するローダーと、前記除材部の前記第2位置から前記Y方向に前記載置部材を搬送するアンローダーと、前記X方向に前記載置部材を搬送する載置部材搬送ロボットと備える請求項に記載の電子部品搬送装置。
  3. 電子部品の電気的特性を検査する第1検査と第2検査とを行う検査部が配置される電子部品搬送装置であって、
    前記電子部品が載置された載置部材が配置される第1位置を有し、前記第1位置に配置された前記載置部材から取り出した前記電子部品を前記検査部に搬送する供給部と、
    前記載置部材が配置される第2位置を有し、前記検査部により前記第1検査が行われた後の前記電子部品を前記第2位置に配置された前記載置部材に搬送して載置する回収部と、
    前記回収部により前記電子部品が載置された前記載置部材を、前記第2位置から前記第1位置に搬送する搬送部と、を備え、
    前記供給部は、前記検査部により前記第1検査が行われた後の前記電子部品を前記載置部材から取り出して前記検査部に搬送し、
    前記検査部は、前記第1検査が行われた後の前記電子部品に第2検査を行う電子部品搬送装置。
  4. 互いに直交するX方向とY方向とを想定したとき、前記搬送部は、前記X方向に前記載置部材を搬送する載置部材搬送ロボットを備える請求項に記載の電子部品搬送装置。
  5. 前記電子部品を搬送する複数の電子部品搬送ヘッドを備える請求項1から4のいずれか1項に記載の電子部品搬送装置。
  6. 前記第1査と前記第2査とは、同じ検査である請求項1から5のいずれか1項に記載の電子部品搬送装置。
  7. 前記第1査と前記第2査とは、異なる検査である請求項1から5のいずれか1項に記載の電子部品搬送装置。
  8. 前記第1査から前記第2査への自動切り替えを設定する設定画面を有する請求項1から7のいずれか1項に記載の電子部品搬送装置。
  9. 前記設定画面は、前記自動切り替えの有効または無効を設定する請求項に記載の電子部品搬送装置。
  10. 前記設定画面は、前記自動切り替えの回数を設定可能である請求項またはに記載の電子部品搬送装置。
  11. 前記第1査から前記第2査への手動切り替えを設定する設定画面を有する請求項1から7のいずれか1項に記載の電子部品搬送装置。
  12. 前記第1査を行なっている状態と前記第2査を行なっている状態とを表示可能な表示部を備える請求項1から11のいずれか1項に記載の電子部品搬送装置。
  13. 電子部品の電気的特性を検査する第1検査と第2検査とを行う検査部と、
    前記電子部品が載置された載置部材を受け取る第1位置を有した給材部と、
    前記載置部材から取り出した前記電子部品を前記検査部に搬送する供給部と、
    前記検査部により前記第1検査が行われた後の前記電子部品を前記載置部材に搬送して載置する回収部と、
    前記回収部により前記電子部品が載置された前記載置部材を排出する第2位置を有した除材部と、
    前記回収部により前記電子部品が載置された前記載置部材を、前記第2位置から前記第1位置に搬送する搬送部と、を備え、
    前記供給部は、前記検査部により前記第1検査が行われた後の前記電子部品を前記載置部材から取り出して前記検査部に搬送し、
    前記検査部は、前記第1検査が行われた後の前記電子部品に第2検査を行う電子部品検査装置。
  14. 電子部品の電気的特性を検査する第1検査と第2検査とを行う検査部と、
    前記電子部品が載置された載置部材が配置される第1位置を有し、前記第1位置に配置された前記載置部材から取り出した前記電子部品を前記検査部に搬送する供給部と、
    前記載置部材が配置される第2位置を有し、前記検査部により前記第1検査が行われた後の前記電子部品を前記第2位置に配置された前記載置部材に搬送して載置する回収部と、
    前記回収部により前記電子部品が載置された前記載置部材を、前記第2位置から前記第1位置に搬送する搬送部と、を備え、
    前記供給部は、前記検査部により前記第1検査が行われた後の前記電子部品を前記載置部材から取り出して前記検査部に搬送し、
    前記検査部は、前記第1検査が行われた後の前記電子部品に第2検査を行う電子部品検査装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019064765A (ja) * 2017-09-29 2019-04-25 日本電産サンキョー株式会社 トレイ配置部および搬送システム
JP2019064763A (ja) * 2017-09-29 2019-04-25 日本電産サンキョー株式会社 搬送システム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5319353A (en) * 1992-10-14 1994-06-07 Advantest Corporation Alarm display system for automatic test handler
JPH07239365A (ja) * 1994-02-25 1995-09-12 Advantest Corp 半導体試験装置における自動再検査方法
JPH08262102A (ja) * 1995-03-23 1996-10-11 Advantest Corp Icテスタ用ハンドラにおけるデバイス再検査方法
JP3492793B2 (ja) * 1994-12-28 2004-02-03 株式会社アドバンテスト Icテスタ用ハンドラにおける再検査方法
JPH08262103A (ja) * 1995-03-24 1996-10-11 Ando Electric Co Ltd Ic搬送器が循環するオートハンドラの再選別方法
KR100270652B1 (ko) * 1995-09-04 2000-11-01 오우라 히로시 반도체디바이스반송처리장치
JPH09318703A (ja) * 1996-05-31 1997-12-12 Toshiba Corp Icハンドラ
US6518745B2 (en) * 2000-10-10 2003-02-11 Mirae Corporation Device test handler and method for operating the same
WO2006009253A1 (ja) * 2004-07-23 2006-01-26 Advantest Corporation 電子部品試験装置及び電子部品試験装置の編成方法
KR100699866B1 (ko) * 2005-09-30 2007-03-28 삼성전자주식회사 로트 및 트레이 확인을 통한 반도체 소자의 연속검사 방법

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