JP2017032289A - 光照射装置 - Google Patents

光照射装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2017032289A
JP2017032289A JP2015149206A JP2015149206A JP2017032289A JP 2017032289 A JP2017032289 A JP 2017032289A JP 2015149206 A JP2015149206 A JP 2015149206A JP 2015149206 A JP2015149206 A JP 2015149206A JP 2017032289 A JP2017032289 A JP 2017032289A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
slit
light
light emitting
workpiece
led
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2015149206A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6632243B2 (ja
Inventor
一乃大 八木
Motonao Yagi
一乃大 八木
篤史 宮武
Atsushi Miyatake
篤史 宮武
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
CCS Inc
Original Assignee
CCS Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by CCS Inc filed Critical CCS Inc
Priority to JP2015149206A priority Critical patent/JP6632243B2/ja
Priority to US15/742,855 priority patent/US10605437B2/en
Priority to CN201680044022.5A priority patent/CN107923854A/zh
Priority to EP16830206.5A priority patent/EP3330699B1/en
Priority to PCT/JP2016/068467 priority patent/WO2017018101A1/ja
Publication of JP2017032289A publication Critical patent/JP2017032289A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6632243B2 publication Critical patent/JP6632243B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21VFUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21V17/00Fastening of component parts of lighting devices, e.g. shades, globes, refractors, reflectors, filters, screens, grids or protective cages
    • F21V17/02Fastening of component parts of lighting devices, e.g. shades, globes, refractors, reflectors, filters, screens, grids or protective cages with provision for adjustment
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21VFUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21V29/00Protecting lighting devices from thermal damage; Cooling or heating arrangements specially adapted for lighting devices or systems
    • F21V29/50Cooling arrangements
    • F21V29/70Cooling arrangements characterised by passive heat-dissipating elements, e.g. heat-sinks
    • F21V29/74Cooling arrangements characterised by passive heat-dissipating elements, e.g. heat-sinks with fins or blades
    • F21V29/76Cooling arrangements characterised by passive heat-dissipating elements, e.g. heat-sinks with fins or blades with essentially identical parallel planar fins or blades, e.g. with comb-like cross-section
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21VFUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21V3/00Globes; Bowls; Cover glasses
    • F21V3/02Globes; Bowls; Cover glasses characterised by the shape
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21VFUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21V7/00Reflectors for light sources
    • F21V7/04Optical design
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N1/00Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
    • H04N1/024Details of scanning heads ; Means for illuminating the original
    • H04N1/028Details of scanning heads ; Means for illuminating the original for picture information pick-up
    • H04N1/02815Means for illuminating the original, not specific to a particular type of pick-up head
    • H04N1/0288Means for illuminating the original, not specific to a particular type of pick-up head using a two-dimensional light source, e.g. two-dimensional LED array
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21YINDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBCLASSES F21K, F21L, F21S and F21V, RELATING TO THE FORM OR THE KIND OF THE LIGHT SOURCES OR OF THE COLOUR OF THE LIGHT EMITTED
    • F21Y2115/00Light-generating elements of semiconductor light sources
    • F21Y2115/10Light-emitting diodes [LED]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8812Diffuse illumination, e.g. "sky"
    • G01N2021/8816Diffuse illumination, e.g. "sky" by using multiple sources, e.g. LEDs
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/86Investigating moving sheets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901Optical details; Scanning details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/062LED's
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/56Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof provided with illuminating means

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Non-Portable Lighting Devices Or Systems Thereof (AREA)

Abstract

【課題】ワークWに照射する光量を低減させることなく、複数の方向からワークW表面を撮像できるようにする。【解決手段】ワークWに対向する発光面11を有し、前記ワークWで反射した光を発光面側からその反対側に向かって通過させるスリットSが形成された光照射装置100であって、スリットSが、発光面11側からその反対側に向かって徐々に幅が広がるテーパ状をなすようにした。【選択図】図3

Description

本発明は、例えば製品等のワークに光を照射し、傷の有無やマーク読み取り等の検査を行うために用いられる光照射装置に関するものである。
この種の光照射装置としては、特許文献1に示すように、ワークとワークを撮像する撮像装置との間に配置され、ワークに対向する発光面から光を射出するように構成されたものがある。
より具体的にこのものは、前記発光面を有した発光板を具備し、この発光板に複数のスリットを形成することで、これらのスリットを介して前記撮像装置が異なる方向からワーク表面を撮像できるように構成されている。
しかしながら、上述した構成では、発光板に複数のスリットが形成されているので、単一のスリットが形成されている構成に比べて発光面の面積が小さくなり、ワークに照射される光の光量が低減してしまい、検査精度や検査速度の低下を招来するという問題が生じる。
特開2011−69651号公報
そこで、本発明は、上記問題点を解決すべくなされたものであり、ワークに照射する光量を低減させることなく、複数の方向からワーク表面を撮像することを可能とする光照射装置を提供することをその主たる課題とするものである。
すなわち本発明にかかる光照射装置は、ワークに対向する発光面を具備し、前記ワークで反射した光を発光面側からその反対側に向かって通過させるスリットが形成された光照射装置であって、前記スリットが、発光面側からその反対側に向かって徐々に幅が広がる形状であることを特徴とするものである。
このような光照射装置であれば、ワークで反射した光を発光面側からその反対側に向かって通過させるスリットが発光面側からその反対側に向かって徐々に幅が広がる形状であるので、スリットの形成による発光面の減少を可及的に抑えることができ、ワークに照射する光量を低減させることなく、スリットの拡がりに応じてワーク表面を撮像する方向を変更することができる。
これにより、例えばワーク表面の荒れ状態や傷の種類などにより、撮像装置をワークに正対させて、ワーク表面で反射した光の正反射成分を除去して撮像したり、撮像装置を傾けて、前記正反射成分を利用して撮像したりすることができる。
なお、スリットの形状としては、発光面側の開口幅がその反対面側の開口幅よりも徐々に狭くなる形状であればどのような形状でも良く、その一例としては、発光面側と反対側に拡開したテーパ形状が挙げられる。
発光面の具体的な実施態様としては、平面が挙げられ、平面であれば、発光面をワークに近づけることができ、ワークに照射する光の照度を上げることができる。
発光面に照射する光の光量を増加させるためには、前記発光面に対して前記ワークと反対側に設けられた複数のLED光源をさらに具備することが好ましい。
上述したスリットを形成するための具体的な実施態様としては、前記発光面が形成された発光板と、前記発光板により閉塞された開口を有し、該開口に対向して設けられた複数のLED光源を収容するとともに、互いに対向して設けられた一対のケーシングとをさらに具備し、前記一対のケーシングの互いに対向する対向面によって前記スリットが形成されている構成が挙げられる。
また、発光面からムラのない光を射出するためには、以下の構成が好ましい。
前記開口が概略矩形状をなし、前記開口を形成する前記ケーシングの側壁のうち、スリット側の側壁及び反スリット側の側壁の内面に、前記LED光源の光を前記開口に向けて反射する反射部材が設けられており、スリット側の前記反射部材が、反スリット側の前記反射部材よりも反射面の面積が大きい構成。
前記複数のLED光源が、スリットを間に挟んでその両側に設けられるとともに、スリット側の方が反スリット側よりも密に配置されている構成。
スリットを間に挟んでその両側に前記発光板に対向して設けられるとともに、前記複数のLED光源が搭載されたLED基板をさらに具備し、前記LED基板が、スリット側の方が反スリット側よりも前記発光板から離間するように傾斜して配置されている構成。
これらの構成であれば、LED光源からの光が発光板のスリット側から反スリット側に亘って全体に均一に行き届くので、例えば発光面におけるスリット側の一部がその他の部分に比べて暗くなることを防ぐことができる。
また、前記発光板に対向する前記ケーシングの底壁が、スリット側の方が反スリット側よりも前記発光板から離間するように傾いており、前記底壁の内面に前記LED基板が設けられるとともに、前記底壁の外面に放熱部材が設けられていることが好ましい。
このような構成であれば、底壁をスリット側の方が反スリット側よりも前記発光板から離間するように傾けているので、放熱部材をスリットと重ならないように配置することができ、放熱部材が光の妨げとなることを防ぐことができる。
撮像可能な領域を変更できるようにするためには、前記一対のケーシングを連結する連結部材をさらに具備し、前記連結部材が、前記一対のケーシングの離間距離を変更して前記スリットの幅を変更するスリット幅変更機構を有していることが好ましい。
このように構成した本発明によれば、ワークに照射する光量を低減させることなく、複数の方向からワーク表面を撮像することができる。
本実施形態の光照射装置の構成を示す側面図。 同実施形態の光照射装置の構成を示す斜視図。 同実施形態の光照射装置の構成を示す断面図。 同実施形態のスリット幅変更機構の構成を示す模式図。 その他の実施形態における光照射装置の構成を示す概略図。 その他の実施形態における光照射装置の構成を示す概略図。 その他の実施形態におけるスリットの形状を示す模式図。 その他の実施形態における発光板の構成を示す断面図。
以下に本発明に係る光照射装置の一実施形態について図面を参照して説明する。
本実施形態に係る光照射装置100は、図1に示すように、ワークW(検査物)に光を照射するものであり、例えば、ラインセンサカメラと称される撮像装置Cによって前記ワークWの所定領域を撮影し、得られた画像データを画像処理装置(図示しない)で取り込んで傷等の有無の表面検査を行う製品検査システムX等に用いられる。
なお、本実施形態におけるワークWは、例えば、所定方向に一定速度で流れていく紙やフィルム等の連続物や、コンベアに載置されて連続して搬送されるカットフィルムやカット硝子等の個別品である。
この光照射装置100は、ワークWと撮像装置Cとの間に配置されるものであり、具体的には図1〜図3に示すように、ワークWに対向する発光面11を有した発光板10と、発光板10により閉塞された開口21を有するケーシング20と、ケーシング20内に収容された光源ユニット30とを具備する。
発光板10は、図1〜図3に示すように、後述する光源ユニット30からの光が裏面12(発光面11と反対側の面)に照射されるとともに、発光面11からワークWに向かって光を射出するものである。
本実施形態の発光板10は、透光性を有する例えば矩形平板状の拡散板で、前記発光面11は平面であり、一対の発光板要素14から構成されている。
前記各発光板要素14は、特に図3に示すように、同一平面状に互いに離間して配置され、これらの間にワークWで反射した光の一部が発光面11側からその反対側に向かって通過する空間を形成するものであり、ここでは、互いに同一形状である。本実施形態では、各発光板要素14における一側面141が、発光面11の面積が裏面12の面積よりも大きくなるように傾斜しており、これらの一側面141が互いに対向するように各発光板要素14が配置されている。
ケーシング20は、図1〜図3に示すように、前記発光板10に閉塞される開口21を有し、前記発光板10がワークWに対向するように配置されている。本実施形態では、長尺状をなす一対のケーシング20が、互いに離間して並設されており、一方のケーシング20の開口21に一方の発光板要素14が設けられ、他方のケーシング20の開口21に他方の発光板要素14が設けられている。
なお、各発光板要素14の発光面11における外周部には、当該各発光板要素14をケーシング20に固定する板金M1が設けられている。
上述した構成により、前記一対のケーシング20の間には、ワークWで反射した光が発光面11側からその反対側に向かって通過するスリットSが形成されており、このスリットSを介して、前記撮像装置CがワークWの所定領域を撮像することができる。
より具体的に各ケーシング20は、長手方向に延びる概略矩形状の底壁22と、底壁22の長手方向両辺に設けられた側壁(以下、短側壁23ともいう)と、底壁22の幅方向両辺に設けられた側壁(以下、長側壁24ともいう)とを有し、これらの各側壁23、24によって概略矩形状の開口21が前記底壁22に対向して形成されている。
前記底壁22は、その内面に後述する光源ユニット30が設けられるとともに、外面にヒートシンクなどの放熱部材50が例えばネジ等を用いて取り付けられており、本実施形態では、スリットS側の方が反スリット側よりも発光板要素14から離間するように傾いている。
前記短側壁23のうち、一方のケーシング20における長手方向の一端側に設けられた短側壁23と、他方のケーシング20における長手方向の一端側に設けられた短側壁23とは、共通の連結部材40に固定されて連結されている。また、一方のケーシング20における長手方向の他端側に設けられた短側壁23と、他方のケーシング20における長手方向の他端側に設けられた短側壁23とは、共通の連結部材40に固定されて連結されている。
前記連結部材40は、例えば平板状をなし、厚み方向に貫通して形成された複数の貫通孔41を有するものであり、これらの貫通孔41に挿通されたボルト等の締結具Bによって前記短側壁23が固定されている。
前記長側壁24のうちスリットS側の長側壁24(以下、スリット側側壁24aともいう)は、特に図3に示すように、互いに対向するとともに、これらの間に、発光面11側からその反対側に向かって徐々に幅が広がるテーパ状のスリットSを形成するものである。
より詳細には、前記各スリット側側壁24aは、ワークW側から撮像装置C側に向かって徐々に離間距離が長くなるように傾斜しており、これにより一対のケーシング20の対向面25が、発光面11側からその反対側に向かって拡開している。
ここでは、前記対向面25の拡がり角度は、上述した一対の発光板要素14の一側面141の拡がり角度と略等しくなるように設定されており、この拡がり角度の範囲内で撮像装置Cの撮像方向を変更できるようにしている。
具体的に本実施形態の前記スリット側側壁24aは、反射部材241(以下、第1反射板241ともいう)と、前記第1反射板241をケーシング20に固定する板金M2とから構成されており、前記板金M2が底壁22にネジ止めされている。
前記長側壁24のうち前記スリット側側壁24aの反対側の長側壁24(以下、反スリット側側壁24bともいう)は、前記スリット側側壁24aと平行に設けられており、その内面には反射部材242(以下、第2反射板242ともいう)が設けられている。前記第2反射板242は、前記反スリット側側壁24bの内面の一部を覆うように設けられており、前記第1反射板241よりも面積の小さいものである。
光源ユニット30は、発光板10の裏面12に光を照射するものであり、図3に示すように、上述した各ケーシング20内それぞれに収容されるとともに、前記発光面11に対してワークWの反対側に設けられている。
なお、各光源ユニット30は、図示しない制御部から送信されるON/OFF信号や光量信号などの制御信号に基づいて調光制御されるものであり、ここでは、それぞれを独立して制御できるように構成されている。
具体的に各光源ユニット30は、発光板要素14に対向して設けられたLED基板31と、LED基板31に搭載された複数のLED光源32とを有するものである。
前記LED基板31は、前記底壁22に例えばネジ止めされており、これにより底壁22と同様、スリットS側の方が反スリット側よりも発光板要素14から離間するように傾いている。
前記LED光源32は、前記LED基板31の長手方向及び幅方向に沿って多数敷設されており、ここでは、スリットS側の方が反スリット側よりも密に配置されている。
なお、密に配置するための具体的な実施態様としては、例えば前記幅方向に沿って設けられた各LED光源32の離間距離をスリットS側の方が反スリット側よりも短くする態様や、等間隔に配列された複数のLED光源32を全体的にLED基板31のスリットS側に寄せる態様などが挙げられる。
さらに、本実施形態の光照射装置100は、上述したスリットSの幅寸法を変更するスリット幅変更機構60を具備している。
具体的にこのスリット幅変更機構60は、上述した短側壁23又は連結部材40の一方に形成された前記スリットSの幅方向に沿って延びるスライド溝61と、前記短側壁23又は連結部材40の他方に固定されて前記スライド溝61内をスライド移動する摺動体62とから構成されている。
本実施形態では、前記スライド溝61は、前記連結部材40に形成された貫通孔41であり、前記摺動体62は、ボルトなどの締結具Bであり、図4に示すように、前記締結具Bを貫通孔41に沿ってスライド移動させることにより、スリット幅を所定範囲内において変更することができる。
このように構成された本実施形態の光照射装置100によれば、ワークWで反射した光を発光面11側からその反対側に向かって通過させるスリットSが、発光面11側からその反対側に向かって徐々に幅が拡がるテーパ状をなすので、スリットSの形成による発光面11の減少を可及的に抑えることができ、ワークWに照射する光量を低減させることなく、スリットSの拡がりに応じてワークW表面を撮像する方向を変更することができる。
これにより、例えばワークW表面の荒れ状態や傷の種類などに応じて、撮像装置CをワークWに正対させることで、ワークW表面で反射した光のうち正反射成分を除去して撮像したり、撮像装置Cを傾けることで、前記正反射成分を利用して撮像したりすることができる。なお、ワークW表面に光沢がある場合は、撮像装置CをワークWに正対させると撮像装置C自身が写りこんでしまうことから、撮像装置Cを傾けてワークW表面を撮像することが好ましい。
また、発光面11が平面であるので、発光面11をワークWに近づけることができ、ワークWに高い照度の光を照射することができる。
さらに、LED基板31が、スリットS側の方が反スリット側よりも発光板要素14から離間するように傾いており、このLED基板31に搭載された複数のLED光源32が、スリットS側の方が反スリット側よりも密に配置されているので、LED光源32からの光が発光板10のスリットS側から反スリット側に亘って全体に均一に行き届く。これにより、例えば発光面11のスリットS側の一部が他の部分に比べて暗くなることなどを防ぐことができ、発光面11からムラのない光を射出することができる。
かかる作用効果は、第1反射板241が、第2反射板242よりも大きいことからも奏し得る作用効果である。
加えて、底壁22が、スリットS側の方が反スリット側よりも発光板要素14から離間するように傾いているので、この底壁22の外面に設けられた放熱部材50をスリットSに重ならないように配置させることができ、スリットSを通過する光は放熱部材50によって遮られない。これにより、放熱部材50がワークWの撮像を阻害することを防ぐことができる。
さらに加えて、一対の発光板要素14が互いに同一形状であるので、製造コストを低減することができる。
そのうえ、スリット幅変更機構60によりスリット幅を変更することができるので、ワークW表面における撮像可能な領域を変更することができ、種々の傷や欠陥に対応して検査を行うことができる。
なお、本発明は前記実施形態に限られるものではない。
例えば、前記実施形態では、発光板10が平板状をなすものであり、その発光面11が平面であったが、図5に示すように、発光板10が例えば半円筒形状をなし、発光面11がスリットSの延伸方向から視てワークWと反対方向に湾曲した曲面であっても良い。
また、前記実施形態のスリットSは、一対のケーシング20の対向面25によって形成されていたが、図6に示すように、スリットSは、1枚の発光板10の中央部に厚み方向に貫通して形成されたものであっても構わない。
さらに、発光板10は、図6に示すように、例えば平面視概略正方形状をなし、内部に複数のLED光源32を有したものであっても良い。このような構成であれば、前記実施形態におけるケーシング20を不要にすることができ、装置全体を厚み方向によりコンパクト化することができる。
なお、発光板10の形状は、例えば平面視概略長方形状や平面視円盤形状など、種々変更して構わない。
加えて、スリットSは、図7の上段に示すように、スリットSの延伸方向から視て左右非対象な形状や、図7の下段に示すように、発光面11側からその反対側に向かって湾曲しながら徐々に幅が広がる形状であっても構わないし、図示していないが、スリットSの延伸方向から視て階段状のものであっても構わない。
さらに加えて、発光板10を構成する各発光板要素14は、図8に示すように、一側面141に段部15が形成されたものであっても良い。
このようなものであれば、第1反射板241を、例えば両面テープなどの接着部材を介して前記段部15に押し当てて固定することができ、第1反射板241の取り付けを容易に行うことができる。
なお、図8に示す構成では、板金M2の発光面側端部Pは、第1反射板241の発光面側端部Qよりも発光面11から離れており、第1反射板241の発光面側端部Qが露出している。
そのうえ、前記実施形態の発光板要素14は、一側面141が傾斜した構成であったが、特に発光板要素14の厚み寸法が小さい場合など、発光板要素14の一側面141は、必ずしも傾斜させる必要はない。
その他、本発明は前記実施形態に限られず、その趣旨を逸脱しない範囲で種々の変形が可能である。
100・・・光照射装置
S ・・・スリット
10 ・・・発光板
11 ・・・発光面
14 ・・・発光板要素
20 ・・・ケーシング
21 ・・・開口
25 ・・・対向面
32 ・・・LED光源
C ・・・撮像装置
W ・・・ワーク

Claims (9)

  1. ワークに対向する発光面を具備し、前記ワークで反射した光を発光面側からその反対側に向かって通過させるスリットが形成された光照射装置であって、
    前記スリットが、発光面側からその反対側に向かって徐々に幅が広がる形状であることを特徴とする光照射装置。
  2. 前記発光面が平面であることを特徴とする請求項1記載の光照射装置。
  3. 前記発光面に対して前記ワークと反対側に設けられた複数のLED光源をさらに具備することを特徴とする請求項2記載の光照射装置。
  4. 前記発光面が形成された発光板と、
    前記発光板により閉塞された開口を有し、該開口に対向して設けられた複数のLED光源を収容するとともに、互いに対向して設けられた一対のケーシングとをさらに具備し、
    前記一対のケーシングの互いに対向する対向面によって前記スリットが形成されていることを特徴とする請求項2又は3記載の光照射装置。
  5. 前記開口が概略矩形状をなし、
    前記開口を形成する前記ケーシングの側壁のうち、スリット側の側壁及び反スリット側の側壁の内面に、前記LED光源の光を前記開口に向けて反射する反射部材が設けられており、
    スリット側の前記反射部材が、反スリット側の前記反射部材よりも反射面の面積が大きいことを特徴とする請求項4記載の光照射装置。
  6. 前記複数のLED光源が、前記スリットを間に挟んでその両側に設けられるとともに、スリット側の方が反スリット側よりも密に配置されていることを特徴とする請求項3乃至5のうち何れか一項に記載の光照射装置。
  7. 前記スリットを間に挟んでその両側に前記発光板に対向して設けられるとともに、前記複数のLED光源が搭載されたLED基板をさらに具備し、
    前記LED基板が、スリット側の方が反スリット側よりも前記発光板から離間するように傾斜して配置されていることを特徴とする請求項3乃至6のうち何れか一項に記載の光照射装置。
  8. 前記発光板に対向する前記ケーシングの底壁が、スリット側の方が反スリット側よりも前記発光板から離間するように傾いており、
    前記底壁の内面に前記LED基板が設けられるとともに、前記底壁の外面に放熱部材が設けられていることを特徴とする請求項7記載の光照射装置。
  9. 前記一対のケーシングを連結する連結部材をさらに具備し、
    前記連結部材が、前記一対のケーシングの離間距離を変更して前記スリットの幅を変更するスリット幅変更機構を有していることを特徴とする請求項4乃至8のうち何れか一項に記載の光照射装置。
JP2015149206A 2015-07-29 2015-07-29 光照射装置 Active JP6632243B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015149206A JP6632243B2 (ja) 2015-07-29 2015-07-29 光照射装置
US15/742,855 US10605437B2 (en) 2015-07-29 2016-06-22 Light projecting device
CN201680044022.5A CN107923854A (zh) 2015-07-29 2016-06-22 光照射装置
EP16830206.5A EP3330699B1 (en) 2015-07-29 2016-06-22 Light projecting device
PCT/JP2016/068467 WO2017018101A1 (ja) 2015-07-29 2016-06-22 光照射装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015149206A JP6632243B2 (ja) 2015-07-29 2015-07-29 光照射装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017032289A true JP2017032289A (ja) 2017-02-09
JP6632243B2 JP6632243B2 (ja) 2020-01-22

Family

ID=57885458

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015149206A Active JP6632243B2 (ja) 2015-07-29 2015-07-29 光照射装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10605437B2 (ja)
EP (1) EP3330699B1 (ja)
JP (1) JP6632243B2 (ja)
CN (1) CN107923854A (ja)
WO (1) WO2017018101A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019208752A1 (ja) * 2018-04-27 2019-10-31 シーシーエス株式会社 光照射装置
JP2020034370A (ja) * 2018-08-29 2020-03-05 シーシーエス株式会社 光照射装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7358985B2 (ja) * 2017-06-01 2023-10-11 コニカミノルタ株式会社 分光測色計

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1997016024A1 (en) * 1995-10-23 1997-05-01 Northeast Robotics, Inc. Hockey puck shaped continuous diffuse illumination apparatus and method
US5884775A (en) * 1996-06-14 1999-03-23 Src Vision, Inc. System and method of inspecting peel-bearing potato pieces for defects
JP2003202294A (ja) * 2001-10-29 2003-07-18 Ccs Inc 検査用照明装置
JP2004022327A (ja) * 2002-06-17 2004-01-22 Dainippon Printing Co Ltd 光源切替機構を有する照明装置
JP2004144565A (ja) * 2002-10-23 2004-05-20 Toppan Printing Co Ltd ホログラムの欠陥検出装置および欠陥検出方法
JP2005214877A (ja) * 2004-01-30 2005-08-11 Futec Inc 欠点検出装置用高照度照明装置および欠点検出装置
JP2008102103A (ja) * 2006-10-20 2008-05-01 Ccs Inc 光照射装置
JP2010112786A (ja) * 2008-11-05 2010-05-20 Canon Inc 照明装置及びそれを有する外観検査装置
WO2013099981A1 (ja) * 2011-12-27 2013-07-04 シーシーエス株式会社 ライン光照射装置

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR940004652B1 (ko) * 1984-11-06 1994-05-27 매슈렉스 코포레이숀 재질의 색상을 측정하는 장치
US5440127A (en) * 1993-05-17 1995-08-08 Simco/Ramic Corporation Method and apparatus for illuminating target specimens in inspection systems
JPH07155702A (ja) * 1993-12-01 1995-06-20 Satake Eng Co Ltd 穀粒色彩選別装置
US6286655B1 (en) * 1999-04-29 2001-09-11 Advanced Sorting Technologies, Llc Inclined conveyor
US6369882B1 (en) * 1999-04-29 2002-04-09 Advanced Sorting Technologies Llc System and method for sensing white paper
US7019822B1 (en) * 1999-04-29 2006-03-28 Mss, Inc. Multi-grade object sorting system and method
US6424416B1 (en) * 1999-10-25 2002-07-23 Textron Systems Corporation Integrated optics probe for spectral analysis
EP1089069A3 (en) * 1999-10-01 2001-08-29 CorkOpt Limited Linear illumination
DE10252523A1 (de) * 2001-11-16 2003-07-03 Ccs Inc Beleuchtungsvorrichtung zur optischen Prüfung
UA91387C2 (uk) 2005-11-16 2010-07-26 Джапан Тобакко Инк. Система ідентифікації суміші
ITBO20080031A1 (it) 2008-01-21 2009-07-22 Gd Spa Unita per il controllo ottico di articoli di forma allungata del settore del tabacco.
EP2166405A3 (en) * 2008-09-18 2010-08-25 Hitachi, Ltd. Liquid crystal display unit
JP2011069651A (ja) 2009-09-24 2011-04-07 Aitec System:Kk 外観検査装置及びその照明装置
JP5956407B2 (ja) * 2013-10-29 2016-07-27 キヤノンファインテック株式会社 画像読取装置、画像形成装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1997016024A1 (en) * 1995-10-23 1997-05-01 Northeast Robotics, Inc. Hockey puck shaped continuous diffuse illumination apparatus and method
US5884775A (en) * 1996-06-14 1999-03-23 Src Vision, Inc. System and method of inspecting peel-bearing potato pieces for defects
JP2003202294A (ja) * 2001-10-29 2003-07-18 Ccs Inc 検査用照明装置
JP2004022327A (ja) * 2002-06-17 2004-01-22 Dainippon Printing Co Ltd 光源切替機構を有する照明装置
JP2004144565A (ja) * 2002-10-23 2004-05-20 Toppan Printing Co Ltd ホログラムの欠陥検出装置および欠陥検出方法
JP2005214877A (ja) * 2004-01-30 2005-08-11 Futec Inc 欠点検出装置用高照度照明装置および欠点検出装置
JP2008102103A (ja) * 2006-10-20 2008-05-01 Ccs Inc 光照射装置
JP2010112786A (ja) * 2008-11-05 2010-05-20 Canon Inc 照明装置及びそれを有する外観検査装置
WO2013099981A1 (ja) * 2011-12-27 2013-07-04 シーシーエス株式会社 ライン光照射装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019208752A1 (ja) * 2018-04-27 2019-10-31 シーシーエス株式会社 光照射装置
JPWO2019208752A1 (ja) * 2018-04-27 2021-06-10 シーシーエス株式会社 光照射装置
JP7157799B2 (ja) 2018-04-27 2022-10-20 シーシーエス株式会社 光照射装置
JP2020034370A (ja) * 2018-08-29 2020-03-05 シーシーエス株式会社 光照射装置
JP7097264B2 (ja) 2018-08-29 2022-07-07 シーシーエス株式会社 光照射装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2017018101A1 (ja) 2017-02-02
US20180202633A1 (en) 2018-07-19
US10605437B2 (en) 2020-03-31
EP3330699A1 (en) 2018-06-06
EP3330699B1 (en) 2024-03-20
EP3330699A4 (en) 2019-04-17
JP6632243B2 (ja) 2020-01-22
CN107923854A (zh) 2018-04-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2007273456A (ja) 線光発光装置
JP6056058B2 (ja) 3次元測定装置、3次元測定方法、プログラム及び基板の製造方法
WO2017018101A1 (ja) 光照射装置
JP2016136124A (ja) 検査用照明装置
TWI691714B (zh) 檢查裝置及檢查方法
JP3176803U (ja) 検査用照明装置
JP2016014632A (ja) 照明装置
TWI651490B (zh) 銜接型稜鏡片及附稜鏡片線型光照射裝置
WO2018079742A1 (ja) 検査装置
JP7015132B2 (ja) 光照射装置
JP2011222239A (ja) 照明装置および検査装置
JP7097264B2 (ja) 光照射装置
JP6070057B2 (ja) Led照明装置
JP2011076863A (ja) 照明装置及び画像処理装置
JP2009009825A (ja) 平面発光装置及びこれを備えた照明看板
JP4869293B2 (ja) Led面照明装置
JP2015195082A (ja) 面状光源装置
JP5437016B2 (ja) 画像処理用照明装置
JP7157799B2 (ja) 光照射装置
JP2009103664A (ja) Ptpシートの検査装置
WO2022149356A1 (ja) 光照射装置
JP2021018093A (ja) 検査システム及び光照射装置
JP5229630B2 (ja) 光照射装置
JP2016148570A (ja) ライン光照射装置
JP2003344013A (ja) 位置検出又は外観検査装置、並びに位置検出又は外観検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180702

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190730

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190911

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20191203

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20191210

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6632243

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250