JP2017014058A - ガラス基板の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ディスプレイ用のガラス基板を熱処理温度で熱処理する熱処理工程を含むガラス基板の製造方法であって、ガラス基板の搬送方向に沿って複数の熱源が設けられた熱処理炉において、ガラス基板の平面が鉛直方向になるように保持しつつ、かつ、互いに隣接するガラス基板の平面が進行方向に向けて距離的に所定間隔をあけた対面状態を維持して、ガラス基板の平面に対して垂直方向に前記ガラス基板を搬送する搬送工程と、ガラス基板を、ガラス基板の平面方向の側部側から中心方向に向かって加熱し、室温から加熱後、熱処理温度より低い中間温度から熱処理温度になるまで昇温速度で加熱する加熱工程と、ガラス基板を、中間温度になるまで昇温速度の絶対値と等しい降温速度で冷却工程と、を備える。
【選択図】 図3
Description
前記熱処理工程は、
前記ガラス基板の搬送方向に沿って複数の熱源が設けられた熱処理炉において、前記ガラス基板の平面が鉛直方向になるように保持しつつ、かつ、互いに隣接するガラス基板の平面が進行方向に向けて距離的に所定間隔をあけた対面状態を維持して、前記ガラス基板の平面に対して垂直方向に前記ガラス基板を搬送する搬送工程と、
前記搬送工程で搬送されるガラス基板を、前記ガラス基板の平面方向の側部側から中心方向に向かって加熱し、室温から加熱後、前記熱処理温度より50℃から150℃より低い中間温度から前記熱処理温度になるまで昇温速度で加熱する加熱工程と、
前記加熱工程で加熱されたガラス基板を、前記中間温度になるまで前記昇温速度の絶対値と等しい降温速度で冷却工程と、を備える、
ことを特徴とする。
前記冷却工程では、前記中間温度から室温になるまで前記降温速度より速い降温速度で前記ガラス基板を冷却する、ことが好ましい。
図1は、本実施形態のガラス基板の製造方法の流れを示すフローチャートである。製造されるガラス基板は、特に制限されないが、例えば縦寸法及び横寸法のそれぞれが500mm〜3500mmであることが好ましい。ガラス基板の厚さは、0.1mm〜1.1mm、より好ましくは0.75mm以下の極めて薄い矩形形状の板であることが好ましい。
まず、熔融されたガラスが、例えばフュージョン法あるいはフロート法等の公知の方法により、所定の厚さの帯状ガラスであるシートガラスが成形される(ステップS1)。
次に、成形されたシートガラスが所定の長さの素板であるガラス基板に採板される(ステップS2)。採板により得られたガラス基板は、搬送機構によりピンチング保持されつつ、熱処理炉に搬送され(ステップS3)、次工程のアニーリング(熱処理)工程(ステップS4)までレールに誘導されて搬送される。次に、この搬送されたガラス基板に対して熱処理を行なう(ステップS4)。このステップS3の処理およびステップS4の処理が本実施形態のアニーリング工程である。アニーリング工程の詳細については後述する。
SiO2 55〜80モル%、
Al2O3 8〜20モル%、
B2O3 0〜12モル%、
RO 0〜17モル%(ROはMgO、CaO、SrO及びBaOの合量)。
ROのうち、MgOが0〜10モル%、CaOが0〜15モル%、SrOが0〜10%、BaOが0〜10%であることが好ましい。
また、上記ガラス組成のガラス基板におけるアルカリ金属酸化物の含有率は、0モル%以上0.4モル%以下であってもよい。
また、ガラス中で価数変動する金属の酸化物(酸化スズ、酸化鉄)を合計で0.05〜1.5モル%含み、As2O3、Sb2O3及びPbOを実質的に含まないということは必須ではなく任意である。
次に、アニーリング工程について詳細に説明する。図2は、アニーリング工程(熱処理)において炉内におけるガラス基板Gの状態を示す図であり、二つ一組の走行循環手段810,820を備えたガラス板保持装置の構造を模式的に示す図である。ガラス基板Gは、図2に示すように、垂直に吊り下げられた状態で熱処理炉500に搬送され、熱処理炉500内を移動しながら熱処理が行われる。熱処理炉500には、熱処理炉500の雰囲気(空気)を加熱するための発熱装置(ヒーター)510が複数設けられ、発熱装置510が熱源となって、熱処理炉500の雰囲気が温められる。発熱装置510は、ガラス基板Gの面方向の周囲に設けられ、ガラス基板Gの温度が後述する熱履歴になるように、ガラス基板Gを加熱する。また、発熱装置510は、熱風を放出し、熱処理炉500において熱風を循環させて、ガラス基板Gを熱処理する。発熱装置510は、ガラス基板Gの面方向の温度分布はほぼ一様となるように、熱風の温度、熱風の速度を制御する。熱処理炉500において、昇温区間、維持区間、降温区間が形成され、ガラス基板Gの面方向の温度分布がほぼ一様になるように、熱処理炉500内に発熱装置510が設けられる。
ステップS3の処理で搬送されたガラス基板Gに対して、製造ラインから外れたオフラインで熱処理が行われる。切断装置により幅方向の端部(耳部)の切断された板状のガラス基板Gは必要に応じて表面等に付着した切断屑(パーティクル、カレット等)の除去が行われた後、図2に示すように、搬送機構370により垂下されつつ熱処理炉500の入り口側501の所定位置まで搬送されてくる。熱処理炉500では、発熱装置510を制御して、炉内の雰囲気温度が、熱処理温度になるよう処理する。ここで、熱処理温度とは、高精細ディスプレイに用いるLTPS、IGZOから構成される半導体層をガラス基板Gに形成する形成温度であり、具体的には400℃〜600℃の範囲の温度である。高精細ディスプレイを製造する際のガラス基板Gの加工処理温度は、ガラスの歪点(1014.5ポワズの粘度に相当する温度、例えば661℃)より低い温度である。この加工処理温度より低い温度領域において、ガラス基板の熱収縮率が大きいと、ガラス基板は高精細ディスプレイを製造するためのガラス基板として適さない。このため、高精細ディスプレイを製造するガラス基板の加工処理温度と等しい温度領域である400℃〜600℃の範囲の熱処理温度において、ガラス基板Gを熱処理し、熱処理温度以下の温度領域において、熱収縮率が0〜15ppm、好ましくは0〜10ppm、より好ましくは0〜6ppm、さらに好ましくは0〜3ppmとなるようにする。
なお、歪点はガラスの種類によって異なるが、ガラス基板Gは、熱収縮を小さくするために、歪点が高いガラス組成を有することが好ましく、ガラス基板Gのガラスの歪点は、600℃以上であることが好ましく、より好ましくは655℃以上であり、例えば661℃である。
助走加熱工程、加熱工程、維持工程、冷却工程における速度、時間の範囲を以下に示す。
(1)助走加熱工程:時間=5分〜20分、助走区間503の最高温度=200℃、助走加熱速度=10℃/分未満、
(2)第1加熱工程:t1−t0=10分〜15分、Tm2−Tm1=150℃〜250℃、昇温速度S1(第1昇温速度)は、(Tm2−Tm1)/(t1−t0)=10℃/分〜25℃/分。
(3)第2加熱工程:t2−t1=15分〜100分、Tm3−Tm2=50℃〜150℃、昇温速度S2(第2降温速度)=(Tm3−Tm2)/(t2−t1)=0.5℃/分〜10℃/分
(4)維持工程:t3−t2=0分〜120分、Tm3−Tm3=0、速度S3=(Tm3−Tm3)/(t3−t2)=0℃/分、
(5)第2冷却工程:t4−t3=15分〜100分、Tm3−Tm2=50℃〜150℃、降温速度S4(第2降温速度)=(Tm3−Tm2)/(t4−t3)=0.5℃/分〜10℃/分
(6)第1冷却工程:t5−t4=10分〜15分、Tm2−室温=150℃〜250℃、降温速度S5(第1降温速度)は、(Tm2−室温)/(t5−t4)=10℃/分〜25℃/分。
ここで、室温は、25℃に限定されず、例えば、0℃〜30℃である。また、熱処理温度は、500℃に限定されず、400℃〜600℃の任意の温度であり、中間温度は、400℃に限定されず、熱処理温度−(50℃〜150℃)の任意の温度である。また、昇温速度・降温速度は、ガラス基板11全体を昇温・降温する平均速度である。
下記ガラス組成を有するガラス基板をフュージョン法の1つであるオーバダウンドロー法により複数作製した。ガラス基板の板厚は、0.5mmであり、ガラス基板の歪点は660℃であった。熱処理により熱収縮率を低減する前のこのガラス基板の熱収縮率は、40ppm〜60ppmであった。
SiO2 67.0モル%、
Al2O3 10.6モル%、
B2O3 11.0モル%、
RO 11.4モル%(ROはMgO、CaO、SrO及びBaOの合量)。
このガラス基板に対し、上述した熱処理炉において、熱風を循環させることにより、アニーリングを行った。実施例では、室温(20℃)から昇温し、500℃で1時間維持し、その後、室温まで降温する熱処理を行う。この際、昇温区間、降温区間における加熱・冷却時間、速度を等しくし、維持区間を中心として昇温区間、降温区間の温度勾配が左右対称になるように、アニーリングを行った。また、比較対象として、室温(20℃)から昇温し、500℃で1時間維持し、その後、室温まで降温する時間が、昇温時間の半分となる、アニーリングを行った。
ガラス基板から所定のサイズの長方形の試験片に切りだし、長辺両端部間の長さを計測する。次に、切り出した試験片を短辺中央部で半分に切断し、2つのガラスサンプルを得る。2つのガラスサンプルの一方の端から同じ距離の位置にケガキ線を入れる。このうちの一方のガラスサンプルを、室温(20℃)から10℃/分の昇温速度で昇温し、500℃で1時間維持し、その後、10℃/分で室温まで降温する。その後、加熱した一方のガラスサンプルと加熱しなかった他方のガラスサンプルの一方の端を位置あわせして、2つのケガキ線の位置ずれ距離を測定し、この位置ずれ距離を熱収縮量とする。熱収縮量は、レーザ顕微鏡等で測定される。この熱収縮量と、熱処理前のガラスサンプルの長さ用いて、以下の式により熱収縮率を求める。このガラスサンプルの熱収縮率をガラス基板の熱収縮率とする。
熱収縮率(ppm)=(熱収縮量)/(熱処理前のガラスサンプルの長さ)×106
一方、ガラス基板に対して、昇温区間、降温区間の温度勾配が非対称になるように、アニーリングを行った結果、ガラス基板の面方向の中央領域の熱収縮率は18ppm、ガラス基板の面方向の周辺領域の熱収縮率は10ppmとなり、ガラス基板の熱収縮率の絶対値は低減したが、ガラス基板の面方向における熱収縮率のばらつきを抑制することはできなかった。
500 炉
510 発熱装置
Claims (4)
- ディスプレイ用のガラス基板を400℃〜600℃の範囲にある熱処理温度で熱処理する熱処理工程を含むガラス基板の製造方法であって、
前記熱処理工程は、
前記ガラス基板の搬送方向に沿って複数の熱源が設けられた熱処理炉において、前記ガラス基板の平面が鉛直方向になるように保持しつつ、かつ、互いに隣接するガラス基板の平面が進行方向に向けて距離的に所定間隔をあけた対面状態を維持して、前記ガラス基板の平面に対して垂直方向に前記ガラス基板を搬送する搬送工程と、
前記搬送工程で搬送されるガラス基板を、前記ガラス基板の平面方向の側部側から中心方向に向かって加熱し、室温から加熱後、前記熱処理温度より50℃から150℃より低い中間温度から前記熱処理温度になるまで昇温速度で加熱する加熱工程と、
前記加熱工程で加熱されたガラス基板を、前記中間温度になるまで前記昇温速度の絶対値と等しい降温速度で冷却工程と、を備える、
ことを特徴とするガラス基板の製造方法。 - 前記熱処理工程は、前記ガラス基板を前記熱処理温度で維持する維持工程をさらに備える、
ことを特徴とする請求項1に記載のガラス基板の製造方法。 - 前記熱処理工程では、室温から前記中間温度になるまで前記昇温速度より速い昇温速度で前記ガラス基板を加熱し、
前記冷却工程では、前記中間温度から室温になるまで前記降温速度より速い降温速度で前記ガラス基板を冷却する、
ことを特徴とする請求項1又は2に記載のガラス基板の製造方法。 - 前記熱処理工程では、前記熱処理炉において熱風を循環させる、
ことを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載のガラス基板の製造方法。
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