JP2016193809A - シリコン単結晶引き上げ用石英ガラスルツボ - Google Patents

シリコン単結晶引き上げ用石英ガラスルツボ Download PDF

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Abstract

【課題】シリコン単結晶インゴットを引き上げる際に、石英ガラスルツボにおける透明層中の気泡が単結晶インゴット内に取り込まれることがない、石英ガラスルツボを提供する。
【解決手段】
円筒状のストレート部と、コーナー部と、底部とからなり、外層側に不透明層が形成され、内層側に透明層が形成された層構造を有する石英ガラスルツボであって、前記コーナー部における不透明層の厚さが、不透明層及び透明層の合計厚さの25%以上80%以下であり、前記ストレート部及び底部における不透明層の厚さが、不透明層及び透明層の合計厚さの10%以上25%未満であり、かつ、前記コーナー部における不透明層の厚さが、前記ストレート部及び底部における不透明層の厚さよりも大きいことを特徴とする石英ガラスルツボ。
【選択図】図1

Description

本発明は、チョクラルスキー法によりシリコン単結晶を引き上げる際に用いられる、原料シリコン融液を収容するための石英ガラスルツボに関する。
シリコン単結晶の育成に関し、チョクラルスキー法(以下「CZ法」という。)が広く用いられている。この方法は、ルツボ内に収容された原料シリコン融液の表面に種結晶を接触させ、ルツボを回転させるとともに、この種結晶を反対方向に回転させながら上方へ引き上げることによって、種結晶の下端に単結晶を形成していくものである。
従来から、このシリコン単結晶を製造するためのルツボとして、石英ガラスルツボが用いられている。この石英ガラスルツボは二層構造であって、外側が不透明な石英ガラス層、内側が透明な石英ガラス層で形成される。外側の不透明層は、多数の気泡を含み、合成シリカガラスに比べて純度は低いが耐熱性に優れた天然シリカガラスにより形成され、内側の透明層は、気泡をほとんど含んでおらず、天然シリカ質原料又は合成シリカ質原料により形成される。
例えば、特許文献1には、天然石英ガラスによって形成された外面層と、合成石英ガラスによって形成された内面層とを備え、直胴部及び底部の内面層がコーナー部の内面層よりも薄く形成された石英ガラスルツボが開示されている。
特許文献2には、壁体の内表面側部分が透明ガラス層からなり、壁体の外表面側部分が不透明ガラス層からなり、ルツボ全体の赤外線透過率を一定範囲に調整した石英ガラスルツボが開示されている。特許文献2では、石英ルツボ湾曲部の平均赤外線透過率を他の部分よりも大きくするため、湾曲部の不透明層を薄く形成している。
特許文献3には、壁体の内表面側部分が透明ガラス層からなり、壁体の外表面側部分が不透明ガラス層からなり、壁体の湾曲部における透明ガラス層が、他の壁体部分の透明ガラス層よりも厚く形成され、同部の不透明ガラス層が、他の部分よりも薄く形成され、かつ、透明ガラス層及び不透明ガラス層の合計厚さが壁体全体に渡って均一である石英ガラスルツボが開示されている。
国際公開第2009/099084号 特開平9−157082号公報 特開平8−301693号公報
ところで、シリコン単結晶の引き上げにおいては、石英ガラスルツボの品質がこの単結晶に大きな影響を与える。原料シリコン融液と接する石英ガラスルツボの内側層の表面付近に気泡が存在すると、シリコン単結晶の引き上げ中に該気泡が熱膨張してシリコン融液中に放出され、シリコン融液の対流によって、シリコン単結晶の引き上げ界面に到達し、シリコン単結晶内に取り込まれてしまうことがある。気泡が取り込まれると、引き上げられたシリコン単結晶インゴットをスライスし、研磨してウェーハに加工する際に、気泡のあった箇所がエアポケット(以下単に「AP」ともいう。)と呼ばれる数μm〜数mmの球状欠陥として出現し、その箇所は半導体素子を形成できないといった不具合が発生する。エアポケットが出現しない場合でも、リーク電流が発生する原因となり、結果として、シリコン単結晶のDF率(単結晶化率)が低下する。
現在、半導体素子の高精細化の影響で、球径φが200μm未満のAPの発生も抑制する要求が高まっている。シリコン融液中に混入した200μm未満の気泡は、その上昇速度が3cm/sec未満(理論式から計算)と遅いため、シリコン融液の対流が強くなると、その影響を受けて、単結晶インゴット中のAPの発生率を上昇させる可能性がある。
しかしながら、上記した特許文献1〜3に記載のルツボはいずれも、コーナー部における不透明層が透明層より薄くなっているため、赤外線等の透過率が高く、ヒーターの輻射熱を受けやすい形状をしている。このため、コーナー部の内表面温度が、底部や直胴部の内表面温度に比べて高くなり、シリコン融液に温度ムラが生じて対流が起こり、シリコン単結晶中に気泡が混入して、引き上げられる単結晶インゴットのDF率の低下を招くという課題があった。
本発明は、シリコン単結晶インゴットを引き上げる際に、石英ガラスルツボにおける透明層中の気泡が単結晶インゴット内に取り込まれることがない、石英ガラスルツボを提供することを目的とする。
本発明の石英ガラスルツボは、円筒状のストレート部と、コーナー部と、底部とからなり、外層側に不透明層が形成され、内層側に透明層が形成された層構造を有し、前記コーナー部における不透明層の厚さが、不透明層及び透明層の合計厚さの25%以上80%以下であり、前記ストレート部及び底部における不透明層の厚さが、不透明層及び透明層の合計厚さの10%以上25%未満であり、かつ、前記コーナー部における不透明層の厚さが、前記ストレート部及び底部における不透明層の厚さよりも大きいことを特徴とする。
前記コーナー部における不透明層の厚さは、不透明層及び透明層の合計厚さの25%以上50%以下であることが好ましく、25%以上30%以下であることがより好ましい。
本発明の石英ガラスルツボは、コーナー部における不透明層が、ストレート部及び底部における不透明層に比べて厚い。このため、本発明の石英ガラスルツボを用いれば、シリコン単結晶インゴットを引き上げる際、ストレート部、コーナー部及び底部の各部における内表面温度の温度差が小さくなり、温度ムラによるシリコン融液の対流が抑制される。したがって、本発明によれば、シリコン単結晶インゴットを引き上げる際に、透明層から放出された気泡がシリコン単結晶に混入することがなく、エアポケット(AP)を含まないシリコン単結晶インゴットを製造することができる。
図1は、本発明の石英ガラスルツボの概略断面図である。 図2は、本発明の石英ガラスルツボのストレート部、コーナー部及び底部の拡大断面図である。 図3は、本発明の石英ガラスルツボにおけるシリコン融液の対流の様子を示す図である。 図4は、実施例1及び比較例1における、石英ガラスルツボのストレート部、底部、コーナー部及びのそれぞれの中心部の不透明層の厚さを表す散布図である。 図5は、実施例1及び比較例1における、シリコン単結晶インゴットのエアポケット(AP)発生率を表す図である。
以下、本発明について、図面を参照しながら詳細に説明する。
図1に、本発明の石英ガラスルツボ10の断面図を示す。石英ガラスルツボ10は、上方から、円筒状のストレート部2と、コーナー部3と、底部1とからなり、断面がU字状の形状を有する。そして、その外層側に不透明層4が形成され、内層側に透明層5が形成された層構造を有する。図2は、ストレート部2、コーナー部3及び底部1の拡大断面図である。
不透明層は、シリカガラス中に多数の気泡(好ましくは、20個/mm3以上)を含み、みかけ上、白濁した状態のシリカガラス層であり、純度は低いものの、耐熱性に優れた水晶等の天然シリカ原料により形成される。
透明層は、シリカガラス中に気泡をほとんど含まず(好ましくは、2個/mm3以下)、実質的に透明であるシリカガラス層であり、シリコンアルコキシドの加水分解等により得られる高純度の合成シリカ原料か、磁選処理や純化処理により不純物を除去した、高純度の天然シリカ原料により形成される。このような材料で形成されるため、不透明層は、透明層に比べて断熱性に優れる。
コーナー部3における不透明層4の厚さ3atは、不透明層4及び透明層5の厚さ3at,3btを合計した厚さ(3at+3bt)の25%以上80%以下であり、その他の部分、すなわち、ストレート部2及び底部1における不透明層4の厚さ2at,1atは、不透明層4及び透明層5の合計厚さ(1at+1bt,2at+2bt,3at+3bt)の10%以上25%以下であり、かつ、前記コーナー部3の不透明層4の厚さ3atは、前記ストレート部3及び底部1の不透明層4の厚さ2at,1atよりも大きい。
ここで、不透明層4及び透明層5の合計厚さ(1at+1bt,2at+2bt,3at+3bt)は、石英ガラスルツボの肉厚を指す。石英ガラスルツボの肉厚は、厳密にいえば、製造過程において、各部位でわずかな差異を生じることもあるが、本発明では、ストレート部2の肉厚(2at+2bt)、コーナー部3の肉厚(3at+3bt)、及び底部1(1at+1bt)の肉厚は同一であるとして説明する。不透明層及び透明層の合計厚さ(1at+1bt,2at+2bt,3at+3bt)を、以下「肉厚」ともいう。
コーナー部3における不透明層4の厚さ3atが肉厚の25%未満であると、不透明層による耐熱効果が充分でないために、ヒーターの輻射熱により、石英ガラスルツボにおけるコーナー部付近のシリコン融液の温度が高くなり、図3に示すような、コーナー部付近のシリコン融液の対流が大きくなる。その結果、石英ガラスルツボの内側層の表面から放出された気泡や石英小片がシリコン融液の対流によって固液界面に到達し、単結晶インゴットに取り込まれることによりAPや転位が発生し、DF率が低下する恐れがある。
一方、コーナー部3における不透明層4の厚さ3atが、肉厚の80%を超えると、透明層5が過度に薄いために、加熱により不透明層中の気泡が膨張し、シリコン融液中に気泡が放出されやすくなり、前記したようなシリコン単結晶インゴットの品質の低下を招く恐れがある。また、透明層の厚さ3btが薄いため、不透明層に含まれる不純物が短時間で透明層中を拡散し、透明層内表面の溶出にともないシリコン融液に取り込まれ、引き上げたシリコン単結晶インゴットの特性を変化させてしまう恐れがある。
本発明では、肉厚に対するコーナー部における不透明層の厚さ3atを25%以上80%以下とすることにより、コーナー部付近のシリコン融液の対流が小さくなり、結果的に底部中心部からコーナー部を通って融液界面に向かって上昇する対流が小さくなることで、シリコン単結晶中のAPの発生量を抑制することができる。
不透明層に含まれる不純物が短時間で透明層中を拡散し、透明層内表面の溶出にともないシリコン融液に取り込まれる恐れ、および引き上げ時の熱により不透明層中の気泡が膨張し、肉厚が増加することによるシリコンインゴット品質低下の影響を小さくするため、より好ましくは、肉厚に対するコーナー部における不透明層の厚さ3atを25%以上50%以下、更に好ましくは、肉厚に対するコーナー部における不透明層の厚さ3atを25%以上30%以下とする。
また、コーナー部3における不透明層4の厚さ3atが、肉厚の25%以上80%以下であるとき、ストレート部2及び底部1における不透明層4の厚さ2at,1atは、肉厚の10%以上25%以下である。ストレート部2及び底部1における不透明層4の厚さ2at,1atが25%を超えると、引き上げ時の熱により不透明層中の気泡が膨張し、肉厚が増加するため、メルトライン位置が変動してシリコンインゴットの転移を引き起こす場合がある。一方、ストレート部2及び底部1における不透明層の厚さ2at,1atが、肉厚の10%未満であると、不透明層4が過度に薄いために、気泡の熱膨張による不透明層の厚さの増大量も少なくなり、シリコン単結晶の引き上げ時に、石英ガラスルツボとこれを保持するカーボンルツボとの馴染みが悪くなる。この結果、シリコン融液の温度が安定せず、シリコン単結晶引き上げ時にメルトバックが起きたり、石英ガラスルツボとカーボンルツボとの隙間に、石英ガラスルツボとカーボンルツボとの反応により発生したガスが溜まって、石英ガラスルツボが変形することがある。
不透明層4及び透明層5の合計の厚さ(1at+1bt,2at+2bt,3at+3bt)、すなわち、石英ガラスルツボの肉厚は、具体的には、10〜25mmである。石英ガラスルツボの肉厚が前記範囲を超えると、自重による沈み込み変形が発生する場合がある。一方、石英ガラスルツボの肉厚が前記範囲未満であると、使用時の熱環境により粘性が低下し、口元の倒れこみ変形が発生する場合がある。
コーナー部3における不透明層4の厚さ3atは、好ましくは4〜8mm、より好ましくは、5〜7mmである。不透明層の厚さが前記範囲内であると、ヒーターの輻射熱を理想的に制御できるため、好ましい。
ストレート部2及び底部1における不透明層4の厚さ2at,1atは、好ましくは1〜5mm、より好ましくは2〜4mmである。不透明層の厚さが前記範囲内であると、ヒーターの輻射熱を理想的に制御できるため、好ましい。
石英ガラスルツボの肉厚や、コーナー部3、ストレート部2及び底部1の厚さ3at,2at,1atは、接触式変位センサ、非接触式変位センサ、及びマイクロスコープを使って測定する。
上記のような本発明の石英ガラスルツボは、従来の製造方法を用いて製造することができる。以下に、具体的な製造方法の一例を示すが、本発明の石英ガラスルツボの製造方法は、これに限定されるものではない。
まず、石英ガラスルツボの中心軸周りに回転するルツボ成形用型内に、天然シリカ原料粉を供給し、遠心力及び機械的押圧によって、前記型の内表面に、外層成形体を形成する。次いで、前記型内に、合成シリカ原料粉を供給して、外層成形体の内側の表面全体を合成シリカ原料粉で覆い、アーク放電により溶融後、冷却し、所定厚さの透明層を形成する。最後に、49%フッ化水素酸で5分間、シャワーリング洗浄を行い、純水で洗浄後に、乾燥処理することにより、石英ガラスルツボを製造する。
コーナー部3における不透明層4(外側層)を透明層5(内側層)よりも厚く形成する方法として、以下の(ア)〜(ウ)がある。
(ア)透明層層形成時のルツボ成形用型の回転数を、従来品の回転数に比べて少なくする。ただし、不透明層形成時及び透明層形成時の回転時間は同一であるものとする。
具体的には、不透明層層溶融時のルツボ成形用型の回転数を40〜80rpmとするとき、透明層溶融時のルツボ成形用型の回転数を、好ましくは40〜80rpm、より好ましくは50〜75rpmとする。
(イ)不透明層層形成時の天然シリカ原料の溶融時間を、外側層上に均一な厚さの内側層を形成させた場合の溶融時間に比べて長くする。
具体的には、不透明層形成時の溶融時間を4〜13分とするとき、透明層層形成時の溶融時間を、好ましくは10〜18分、より好ましくは13〜15分とする。
コーナー部における不透明層4(外側層)を透明層5(内側層)よりも厚く形成するには、上記(ア)〜(ウ)のうち、少なくともいずれか1つ実施すればよく、2つ実施してもよいし、(ア)〜(ウ)のすべてを実施してもよい。
以下、本発明を実施例に基づいてさらに具体的に説明するが、本発明は下記実施例により制限されるものではない。
[実施例1]
上記の実施の形態において説明した方法と同様の製造方法により、外径709mm、高さ412mm、肉厚が16mmであり、コーナー部における不透明層の厚さが8.3mmであり、ストレート部及び底部の不透明層の厚さが2.9mmである石英ガラスルツボを製造した。
得られた石英ガラスルツボの底部中心部、コーナー部中心部及びストレート部中心部を、接触式変位センサ、非接触式変位センサ、及びマイクロスコープを使って、それぞれ14箇所で測定したときの不透明層の厚さを求めた。
石英ガラスルツボの肉厚に対する底部中心部、コーナー部中心部及びストレート部中心部の厚さ平均の比率(%)を図4及び表1に示す。
さらに、この石英ガラスルツボを用いて、約250kgの原料シリコンを溶融させ、CZ法により、直径28インチのシリコン単結晶インゴットの引き上げを行った。
得られたシリコン単結晶インゴットについて、X線による画像解析装置を使って径(φ)が200μm超、150μmを超え200μm以下、100μmを超え150μm以下、及び50μmを超え100μ以下のエアポケット(AP)の発生率をそれぞれ求めた。
結果を図5及び表2に示す。
[比較例1]
実施例1において、コーナー部における不透明層の厚さを4.1mmとし、ストレート部及び底部の不透明層の厚さを2.9mmとしたこと以外は、実施例1と同様にして、石英ガラスルツボを製造した。
得られた石英ガラスルツボの底部中心部、コーナー部中心部及びストレート部中心部を、接触式変位センサ、非接触式変位センサ、及びマイクロスコープを使って、それぞれ230箇所で測定したときの不透明層の厚さを求めた。
結果を図4及び表1に示す。
さらに、実施例1と同様にして、直径28インチのシリコン単結晶インゴットの引き上げを行い、該シリコン単結晶インゴットについて、径(φ)が200μm超、150μmを超え200μm以下、100μmを超え150μm以下、及び50μmを超え100μ以下のAPの発生率をそれぞれ求めた。
結果を図5及び表2に示す。
Figure 2016193809
実施例1と比較例1とを比較すると、底部中心部及びストレート部中心部では、不透明層の厚さ平均があまり変わらないのに対して、コーナー部中心部では、実施例1の石英ガラスルツボの不透明層の厚さ平均が、比較例1の石英ガラスルツボの不透明層の厚さ平均よりも大きいことがわかる。
Figure 2016193809
図5及び表2より、実施例1では、比較例1に比べて、AP発生率が平均23.9〜43.8%減少していることがわかる。
1 底部
1a 底部中心部
1at 底部における不透明層の厚さ
1bt 底部における透明層の厚さ
2 ストレート部
2at ストレート部における不透明層の厚さ
2bt ストレート部における透明層の厚さ
3 コーナー部
3at コーナー部における不透明層の厚さ
3bt コーナー部における透明層の厚さ
4 不透明層
5 透明層
6 シリコン単結晶インゴット
L 原料シリコン融液
10 石英ガラスルツボ

Claims (3)

  1. 円筒状のストレート部と、コーナー部と、底部とからなり、外層側に不透明層が形成され、内層側に透明層が形成された層構造を有する石英ガラスルツボであって、
    前記コーナー部における不透明層の厚さが、不透明層及び透明層の合計厚さの25%以上80%以下であり、
    前記ストレート部及び底部における不透明層の厚さが、不透明層及び透明層の合計厚さの10%以上25%未満であり、かつ、
    前記コーナー部における不透明層の厚さが、前記ストレート部及び底部における不透明層の厚さよりも大きいことを特徴とする石英ガラスルツボ。
  2. 前記コーナー部における不透明層の厚さが、不透明層及び透明層の合計厚さの25%以上50%以下であることを特徴とする請求項1に記載の石英ガラスルツボ。
  3. 前記コーナー部における不透明層の厚さが、不透明層及び透明層の合計厚さの25%以上30%以下であることを特徴とする請求項1に記載の石英ガラスルツボ。
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