JP2016165768A - ウェーハの面取り加工装置及びウェーハの面取り加工方法 - Google Patents

ウェーハの面取り加工装置及びウェーハの面取り加工方法 Download PDF

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Abstract

【課題】ウェーハの外周エッジ部に、加工屑等の汚れが付着することを抑制し、面取り加工後の品質検査の精度の悪化を抑制可能な面取り加工装置及び面取り加工方法を提供することを目的とする。【解決手段】ウェーハを保持するための回転可能な加工テーブルと、該加工テーブルに保持された前記ウェーハの外周エッジ部を研削するための回転可能な砥石と、加工部にクーラントを供給するためのクーラント供給ノズルとを具備するウェーハの面取り加工装置であって、さらに、前記ウェーハの表面に洗浄水を供給するための洗浄水供給ノズルを具備するものであることを特徴とするウェーハの面取り加工装置。【選択図】 図1

Description

本発明は、回転する砥石を用いてウェーハの外周を面取り加工するウェーハの面取り加工装置及びウェーハの面取り加工方法に関する。
例えば、シリコンウェーハの製造工程において、単結晶インゴットの状態から薄くスライスされたウェーハは、その後の各工程での取り扱い等による外周エッジ部の割れや欠けを防止するため、通常はウェーハの外周エッジ部の面取り加工を行う。
このウェーハの面取り加工は、高速回転している砥石に、ウェーハを加工テーブルで保持して回転させながら接触させることで、ウェーハの外周エッジ部を研削して行う(例えば、特許文献1参照)。その際、研削を行う加工部には、ウェーハと砥石の冷却や、加工で生じる研削屑の除去のために、通常、クーラントが適切に供給される。
また、近年の傾向として加工工程の自動化が進み、ウェーハの面取り加工において、加工のみならず、加工後のウェーハの簡単な品質検査までを自動で行うことができる加工装置(例えば、ダイトロンテクノロジー社製CVP)が用いられるようになっている。このような加工装置において、加工後のウェーハの自動検査はCCDセンサーを利用した画像判定に基づく各種検査を行うのが一般的である。
特開2007−48780号公報
ところが、面取り加工後のウェーハの外周エッジ部の面取り部に、研削屑等の汚れが付着していると、画像判定の際にその汚れが、傷またはチッピング等と誤認識されてしまうことがあることが分かった。そして、このような誤認識によって、検査の結果で誤りが生じてしまい、検査精度が悪化するという問題があった。
そのため、ウェーハの面取り部へ付着する汚れの除去または付着の防止は従来以上に重要な技術となっている。
しかしながら、従来のウェーハの面取り加工装置は、前述したように研削屑の除去を目的として加工部にクーラントを供給しているが、その大多数は加工点に向けて大量のクーラントを供給するものであり、この方法では検査精度の悪化をもたらす、研削屑等の汚れがウェーハの面取り部に付着することを防止する効果は実際には不十分であった。
また、従来のウェーハの面取り加工において、通常、面取り加工後のウェーハに対して、水洗浄を行っているが、上記したような検査精度の悪化を引き起こすような研削屑等の汚れを検査前に十分に除去するには、不十分であった。
これに対して、面取り加工後のウェーハの面取り部へ付着した研削屑等の汚れを十分に除去するために、面取り加工後のウェーハに対して、薬液洗浄等を行うことが考えられるが、薬液洗浄等を行った場合、コストが多くかかるという問題があった。
本発明は前述のような問題に鑑みてなされたもので、ウェーハの面取り加工において、ウェーハの外周エッジ部に、加工屑等の汚れが付着することを抑制し、面取り加工後の品質検査の精度の悪化を抑制可能な面取り加工装置及び面取り加工方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明によれば、ウェーハを保持するための回転可能な加工テーブルと、該加工テーブルに保持された前記ウェーハの外周エッジ部を研削するための回転可能な砥石と、加工部にクーラントを供給するためのクーラント供給ノズルとを具備するウェーハの面取り加工装置であって、
さらに、前記ウェーハの表面に洗浄水を供給するための洗浄水供給ノズルを具備するものであることを特徴とするウェーハの面取り加工装置が提供される。
このようなものであれば、ウェーハの面取り加工中にウェーハの表面に洗浄水を供給することができるので、加工中に生じた研削屑等の汚れがウェーハの外周エッジ部に付着することを効率的に防止することができる。これによって、面取り加工後に行う品質検査において、検査精度の悪化を防ぐことができる。しかも、面取り加工後のウェーハに対して行う洗浄は、例えば従来通りの水洗浄で済ませることができるため、薬液洗浄等により洗浄を行う場合に比べて簡便で、コストも多くはかからない。
このとき、前記洗浄水供給ノズルは、前記ウェーハの外周エッジ部を研削する位置から、前記ウェーハの中心方向へ10mm、かつ前記ウェーハの回転方向へ10mm離れた位置に前記洗浄水を供給することができるものであることが好ましい。
このようなものであれば、加工部からウェーハの表面に流れ出てきた直後の汚れたクーラント液に、洗浄水を効率よく混ぜ合わせることができ、ウェーハの外周エッジ部への研削屑等の汚れの付着をより効率よく防止することができる。
またこのとき、前記ウェーハの表面に供給した前記洗浄水を、前記ウェーハの回転により生じる慣性力によって前記ウェーハの外周エッジ部から流し落とすことができるものであることが好ましい。
このようなものであれば、清浄な洗浄水と共に、加工で生じた汚れたクーラント液や、研削屑等の汚れも同時にウェーハの外周エッジ部から押し流すことができるので、ウェーハの外周エッジ部への研削屑等の汚れの付着に対して高い防止効果が得られる。
またこのとき、前記砥石の回転中は、前記ウェーハを着脱する時を除いて、前記ウェーハの表面に常に前記洗浄水を供給することができるものであることが好ましい。
このようなものであれば、加工で生じた汚れたクーラント液や、研削屑等をウェーハの外周エッジ部から押し流す効果が高く、面取り加工の間、ウェーハの外周エッジ部への研削屑等の汚れの付着を防止する効果を維持することができる。
また、本発明によれば、加工テーブルでウェーハを保持し、該加工テーブル及び砥石を回転させながら、加工部にクーラントを供給しつつ前記ウェーハの外周エッジ部と前記砥石を接触させることで、前記ウェーハの外周エッジ部を研削するウェーハの面取り加工方法であって、
前記ウェーハの外周エッジ部の研削中に、前記ウェーハの表面に洗浄水を供給することを特徴とするウェーハの面取り加工方法が提供される。
このようにすれば、ウェーハの面取り加工中にウェーハの表面に洗浄水を供給することで、加工中に生じた研削屑等の汚れがウェーハの外周エッジ部に付着することを効率的に防止することができる。これによって、面取り加工後に行う品質検査において、検査精度の悪化を防ぐことができる。しかも、面取り加工後のウェーハに対して行う洗浄は、例えば従来通りの水洗浄で済ませることができるため、薬液洗浄等により洗浄を行う場合に比べて簡便で、コストも多くはかからない。
このとき、前記洗浄水を、前記ウェーハの外周エッジ部を研削する位置から、前記ウェーハの中心方向へ10mm、かつ前記ウェーハの回転方向へ10mm離れた位置に供給することが好ましい。
このようにすれば、加工部からウェーハの表面に流れ出てきた直後の汚れたクーラント液に、洗浄水を効率よく混ぜ合わせることができ、ウェーハの外周エッジ部への研削屑等の汚れの付着をより効率よく防止することができる。
また、このとき、前記ウェーハの表面に供給した前記洗浄水を、前記ウェーハの回転により生じる慣性力によって前記ウェーハの外周エッジ部から流し落とすことが好ましい。
このようにすれば、清浄な洗浄水と共に、加工で生じた汚れたクーラント液や、研削屑等の汚れも同時にウェーハの外周エッジ部から押し流すことができるので、ウェーハの外周エッジ部への研削屑等の汚れの付着に対して高い防止効果が得られる。
また、このとき、前記砥石の回転中は、前記ウェーハを着脱する時を除いて、前記ウェーハの表面に常に前記洗浄水を供給することが好ましい。
このようにすれば、加工で生じた汚れたクーラント液や、研削屑等をウェーハの外周エッジ部から押し流す効果が高く、面取り加工の間、ウェーハの外周エッジ部への研削屑等の汚れの付着を防止する効果を維持することができる。
本発明のウェーハの面取り加工装置及びウェーハの面取り加工方法は、ウェーハの面取り加工中にクーラントとは別にウェーハの表面に洗浄水を供給することができるので、加工中に生じた研削屑等の汚れがウェーハの外周エッジ部に付着することを効率的に防止することができる。これによって、面取り加工後に行う品質検査において、検査精度の悪化を防ぐことができる。しかも、面取り加工後のウェーハに対して行う洗浄は、例えば従来通りの水洗浄で済ませることができるため、薬液洗浄等により洗浄を行う場合に比べて簡便で、コストも低減できる。
本発明のウェーハの面取り加工装置の一例を示す概略図(断面図)である。 本発明のウェーハの面取り加工装置の一例を示す概略図(平面図)である。 面取り加工後のウェーハの面取り加工面に付着している汚れの一例を示した写真である
以下、本発明について実施の形態を説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。
回転するウェーハの外周を回転する砥石で研削するウェーハの面取り加工装置及び方法において、面取り加工後のウェーハの外周エッジ部に付着した研削屑等の汚れによって、面取り加工後に行うウェーハの品質検査の検査精度が悪化するという問題があった。そこで本発明者はこのような問題について詳細に検討したところ、クーラント供給に加えて、加工中のウェーハ表面に洗浄水を供給することで、加工中に生じた研削屑等の汚れがウェーハの外周エッジ部に付着することを高効率に防止することができることを見出し、これによって、面取り加工後に行う品質検査において、検査精度の悪化を防ぐことができることに想到し、本発明を完成させた。
まず、本発明のウェーハの面取り加工装置について図1、図2を参照しながら説明する。なお、図1はウェーハの面取り加工装置の概略断面図、図2は本発明のウェーハの面取り加工装置の概略平面図を示している。
図1、図2に示すように、本発明のウェーハの面取り加工装置1は、ウェーハWを保持するための回転可能な加工テーブル3と、加工テーブル3に保持されたウェーハWの外周エッジ部8を研削するための回転可能な砥石2a、2bと、加工部にクーラントを供給するためのクーラント供給ノズル4a、4bとを有している。
さらに、ウェーハWの表面に洗浄水を供給するための洗浄水供給ノズル5を有している。
このようなものであれば、ウェーハの面取り加工中にウェーハの外周エッジ部に供給されるクーラントのみならず、ウェーハの表面に洗浄水を供給することができるので、加工中に生じた研削屑等の汚れがウェーハの外周エッジ部に付着することを効率的に防止することができる。これによって、面取り加工後に行う品質検査において、検査精度の悪化を防ぐことができる。
加工テーブル3の上面は例えば、真空源6と連結した吸着面であり、面取り加工するウェーハWを真空吸着することによって保持することができる。
そして、加工テーブル3でウェーハWを保持した状態で、加工テーブル3が回転することによって、ウェーハWも回転する。
加工テーブル3は例えば、加工テーブル3の下方に図示しないθ軸モータおよびθスピンドル等による回転ユニットを備え、これらによって加工テーブル3の中心を回転軸として図1、図2のθ方向に回転することができる。
また、加工テーブル3は例えば、図示しないボールスクリューおよびステッピングモーター等から成るX軸駆動手段を備え、これによって加工テーブル3はX軸方向に移動することができる。
面取り加工装置1において砥石は、例えば、一対からなる砥石2a、2bを用いることができる。このようなものであれば、より高精度な面取り加工をすることができる。ただし、これに限定されず、例えば砥石は1つであってもよい。
砥石2a、2bは例えば、コンタリング砥石とすることができる。そして、加工テーブル3の回転方向と、砥石2a、2bの回転の方向とが垂直となるようにすることができる。ただし、これに限定されず、例えば加工テーブル3と、砥石の回転の方向とが水平であっても良い。
例えば、砥石2a、2bはそれぞれ、図示しない砥石回転用モータと回転軸からなる砥石回転ユニットに固定され、モータ回転によって回転することができる。
また、砥石2a、2bは例えば、図示しないボールスクリューおよびステッピングモーター等によるZ軸駆動手段を備え、これによってZ軸方向に移動することができる。
砥石2a、2bとして、例えば、ダイアモンド砥粒のレジンボンド砥石を用いることができる。ダイアモンド砥粒の粒度は、例えば、粒度#3000程度のものを用いることが好ましい。
クーラント供給ノズル4a、4bは、図示しない砥石回転ユニットに取り付けられている。そして、クーラント供給ノズル4a、4bは例えば、砥石2a、2b及び加工テーブル3の上方に位置し、外部の給水源7に連結した導水管を通じて、常にクーラント液が砥石2a、2bとウェーハWの加工部に供給することができるものである。
クーラント供給ノズル4a、4bは、加工部に供給するクーラントの量を制御することができるものであることが好ましい。そして、加工部に供給するクーラントの量は、2L/min以上とすることが好ましい。
洗浄水供給ノズル5は例えば、加工テーブル3の上方にウェーハWの表面に向けて取り付けられている。そして、洗浄水供給ノズル5は、外部の給水源7に連結した導水管を通じて、加工中のウェーハWの表面の所定の位置に常に洗浄水をかけることができるものである。
洗浄水供給ノズル5は、図2に示すように、ウェーハWの外周エッジ部8を研削する位置から、ウェーハWの中心方向へ10mm、かつウェーハWの回転方向へ10mm離れた位置に洗浄水を供給することができるものであることが好ましい。
このようなものであれば、加工部からウェーハWの表面に流れ出てきた直後の汚れたクーラント液に、洗浄水を効率よく混ぜ合わせることができ、ウェーハWの外周エッジ部8への研削屑等の汚れの付着をより効率よく防止することができる。
洗浄水供給ノズル5は、ウェーハWの表面に供給する洗浄水の量を制御することができるものであることが好ましい。そして、ウェーハWの表面に供給する洗浄水の量は、2L/min以上とすることが好ましい。
このような供給量であれば、加工で生じた汚れたクーラント液や、研削屑等をウェーハの外周エッジ部から押し流すことが十分にできる。
給水源7は、クーラント供給ノズル4a、4bと洗浄水供給ノズル5とで共通のものであっても良いが、これに限定されず、例えば、クーラント供給ノズル4a、4bと洗浄水供給ノズル5とで、それぞれ別に設けても良い。
ウェーハWの表面に供給した洗浄水を、ウェーハWの回転により生じる慣性力によってウェーハWの外周エッジ部から流し落とすことができるものであることが好ましい。
このようなものであれば、清浄な洗浄水と共に、加工で生じた汚れたクーラント液や、研削屑等の汚れも同時にウェーハWの外周エッジ部8から押し流すことができるので、ウェーハWの外周エッジ部8への研削屑等の汚れの付着に対して高い防止効果が得られる。
砥石2a、2bの回転中は、ウェーハWを着脱する時を除いて、ウェーハWの表面に常に洗浄水を供給することができるものであることが好ましい。
このようなものであれば、加工で生じた汚れたクーラント液や、研削屑等をウェーハWの外周エッジ部8から押し流す効果が高く、面取り加工の間、ウェーハWの外周エッジ部8への研削屑等の汚れの付着を防止する効果を維持することができる。
次に、本発明のウェーハの面取り加工方法について、上記した図1、2に示す本発明のウェーハの面取り加工装置1を用いた場合を例として説明する。
まず、加工テーブル3で、面取り加工を行う対象のウェーハWを吸着保持する。
そして、ウェーハWを保持した加工テーブル3が回転することでウェーハWが回転し、加工テーブル3をX軸方向に移動させて、回転している砥石2a、2bに近づけ、加工部にクーラント供給ノズル4a、4bでクーラントを供給しつつ、接触させることで、ウェーハWの外周エッジ部8の研削が開始される。
さらに、ウェーハWの外周エッジ部8の研削中には、洗浄水供給ノズル5からウェーハWの表面に洗浄水を供給する。
そして、砥石2a、2bをZ軸方向に任意の速度で移動させながら、加工テーブル3を任意の速度でX軸方向に移動させることにより、ウェーハWの外周エッジ部8を任意の形状に面取り加工する。
このとき、洗浄水の供給はウェーハWの表面側であればいずれの位置でもよいが、洗浄水を、ウェーハWの外周エッジ部8を研削する位置から、ウェーハWの中心方向へ10mm、かつウェーハWの回転方向へ10mm離れた位置に供給することが好ましい。
このようにすれば、加工部からウェーハWの表面に流れ出てきた直後の汚れたクーラント液に、洗浄水を効率よく混ぜ合わせることができ、ウェーハWの外周エッジ部8への研削屑等の汚れの付着をより効率よく防止することができる。
また、このとき、ウェーハWの表面に供給した洗浄水を、ウェーハWの回転により生じる慣性力によってウェーハWの外周エッジ部8から流し落とすことが好ましい。
このようにすれば、清浄な洗浄水と共に、加工で生じた汚れたクーラント液や、研削屑等の汚れも同時にウェーハWの外周エッジ部8から押し流すことができるので、ウェーハWの外周エッジ部8への研削屑等の汚れの付着に対して高い防止効果が得られる。
また、このとき、砥石2a、2bの回転中は、ウェーハWを着脱する時を除いて、ウェーハWの表面に常に洗浄水を供給することが好ましい。
このようにすれば、加工で生じた汚れたクーラント液や、研削屑等をウェーハWの外周エッジ部8から押し流す効果が高く、面取り加工の間、ウェーハWの外周エッジ部8への研削屑等の汚れの付着を防止する効果を維持することができる。
このような本発明のウェーハの面取り加工方法であれば、ウェーハの面取り加工中にウェーハの表面に洗浄水を供給することで、加工中に生じた研削屑等の汚れがウェーハの外周エッジ部に付着することを効率的に防止することができる。これによって、面取り加工後に行う品質検査において、検査精度の悪化を防ぐことができる。
そして、上記のようにしてウェーハWの面取り加工を行った後に、ウェーハWの洗浄を行うことができる。
ウェーハWの洗浄は、一般的な面取り加工装置に付属する簡単な水洗浄ユニットへ移載後に簡単な洗浄を行うことが好ましい。ウェーハWの洗浄は、例えば、コストが低い、ウェーハWへ水をかけながらのスピン洗浄・乾燥が好ましい。
このように、本発明の面取り加工方法で面取り加工を行った後のウェーハWに対して行う洗浄は、水洗浄で済ませることができるため、薬液洗浄等により洗浄を行う場合に比べて簡便で、コストも多くはかからない。
その後、ウェーハWを検査装置に移載して所定の品質検査を実施する。ウェーハWの品質検査は、CCDセンサーを利用した画像判定に基づく各種検査を行うことができる。
なお、ウェーハWの面取り加工終了後に、上記したような洗浄を行わずに、ウェーハWの品質検査を行っても良い。
以下、本発明の実施例及び比較例を示して本発明をより具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
(実施例)
図1に示すような本発明のウェーハの面取り加工装置1を用い、本発明のウェーハの面取り加工方法に従って、シリコン単結晶インゴットから切り出された直径450mmのスライス・ウェーハの面取り加工を行った。
砥石2a、2b(コンタリング砥石)として、ダイアモンド砥粒のレジンボンド砥石を用いた。そして、精密な面取り形状を得るために粒度#3000とした。
加工取り代は精密な面取り形状を得る上で、80μmとした。クーラント供給ノズル4a、4bから供給するクーラント液(例えば、水)の流量は一般的な2L/min以上とした。
洗浄水供給ノズル5からウェーハWの表面へ供給する洗浄水は、2L/min以上とした。
面取り加工後のウェーハWに、水をかけながらのスピン洗浄・乾燥を行った。
そして、スピン洗浄・乾燥後のウェーハWの検査及び評価を行った。評価はダイトロンテクノロジー社製CVPを使用し、CCDセンサーを利用した画像判定に基づく検査を行った。
合計20枚のウェーハに対して、上記と同様にして面取り加工、スピン洗浄・乾燥、そして検査及び評価を行った。そして、このときのウェーハWの外周エッジ部8に汚れが付着していたウェーハWの割合と、それを誤認識して検査の判定に誤りが生じたウェーハWの割合を表1に示した。
その結果、表1に示したように、実施例では汚れが付着していたウェーハは20枚中4枚(20%)であった。また、汚れを誤認識して、検査で誤判定が生じたウェーハは20枚中2枚(10%)であった。
一方、後述の比較例ではウェーハ20枚中16枚(80%)に汚れが付着していて、付着した汚れを誤認識して、検査で誤判定が生じたウェーハは20枚中12枚(60%)であった。
このように、実施例では、比較例に比べて面取り加工後のウェーハに汚れが付着することを抑制することができたので、検査精度を大きく改善させることができた。
(比較例)
ウェーハの面取り加工中に、ウェーハ表面に洗浄液を供給しなかったこと以外は、実施例と同様にしてウェーハの面取り加工、スピン洗浄・乾燥、そして検査及び評価を合計20枚のウェーハに対して行った。
そして、面取り加工面に汚れが付着していたウェーハの割合と、それを誤認識して検査の判定に誤りが生じたウェーハの割合を表2に示した。
その結果、表2に示したように、比較例では加工したウェーハ20枚中16枚(80%)に汚れが付着していた。そして、付着した汚れを誤認識して、検査で誤判定が生じたウェーハは20枚中12枚(60%)であった。
このように、比較例では、実施例に比べてウェーハの外周エッジ部に付着した汚れが多かったため、検査精度が大きく悪化した。
図3は面取り加工後のダイトロンテクノロジー社製CVPのCCDセンサーを利用した画像判定に基づく検査で検出された、面取り加工後のウェーハの外周エッジ部に付着した汚れの一例である。
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。
1…面取り加工装置、 2a、2b…砥石、 3…加工テーブル、
4a、4b…クーラント供給ノズル、 5…洗浄水供給ノズル、 6…真空源、
7…給水源、 8…外周エッジ部、 W…ウェーハ。

Claims (8)

  1. ウェーハを保持するための回転可能な加工テーブルと、該加工テーブルに保持された前記ウェーハの外周エッジ部を研削するための回転可能な砥石と、加工部にクーラントを供給するためのクーラント供給ノズルとを具備するウェーハの面取り加工装置であって、
    さらに、前記ウェーハの表面に洗浄水を供給するための洗浄水供給ノズルを具備するものであることを特徴とするウェーハの面取り加工装置。
  2. 前記洗浄水供給ノズルは、前記ウェーハの外周エッジ部を研削する位置から、前記ウェーハの中心方向へ10mm、かつ前記ウェーハの回転方向へ10mm離れた位置に前記洗浄水を供給することができるものであることを特徴とする請求項1に記載のウェーハの面取り加工装置。
  3. 前記ウェーハの表面に供給した前記洗浄水を、前記ウェーハの回転により生じる慣性力によって前記ウェーハの外周エッジ部から流し落とすことができるものであることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のウェーハの面取り加工装置。
  4. 前記砥石の回転中は、前記ウェーハを着脱する時を除いて、前記ウェーハの表面に常に前記洗浄水を供給することができるものであることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のウェーハの面取り加工装置。
  5. 加工テーブルでウェーハを保持し、該加工テーブル及び砥石を回転させながら、加工部にクーラントを供給しつつ前記ウェーハの外周エッジ部と前記砥石を接触させることで、前記ウェーハの外周エッジ部を研削するウェーハの面取り加工方法であって、
    前記ウェーハの外周エッジ部の研削中に、前記ウェーハの表面に洗浄水を供給することを特徴とするウェーハの面取り加工方法。
  6. 前記洗浄水を、前記ウェーハの外周エッジ部を研削する位置から、前記ウェーハの中心方向へ10mm、かつ前記ウェーハの回転方向へ10mm離れた位置に供給することを特徴とする請求項5に記載のウェーハの面取り加工方法。
  7. 前記ウェーハの表面に供給した前記洗浄水を、前記ウェーハの回転により生じる慣性力によって前記ウェーハの外周エッジ部から流し落とすことを特徴とする請求項5又は請求項6に記載のウェーハの面取り加工方法。
  8. 前記砥石の回転中は、前記ウェーハを着脱する時を除いて、前記ウェーハの表面に常に前記洗浄水を供給することを特徴とする請求項5から請求項7のいずれか1項に記載のウェーハの面取り加工方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107263327A (zh) * 2017-07-12 2017-10-20 苏州希瑞特环保科技有限公司 新型抛光机粉尘净化装置
JP6750592B2 (ja) * 2017-08-15 2020-09-02 信越半導体株式会社 シリコンウエーハのエッジ形状の評価方法および評価装置、シリコンウエーハ、ならびにその選別方法および製造方法
JP6841202B2 (ja) * 2017-10-11 2021-03-10 株式会社Sumco 半導体ウェーハの評価方法および半導体ウェーハの製造方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3893749B2 (ja) * 1998-06-08 2007-03-14 信越半導体株式会社 薄板の加工方法および加工装置
CN100585812C (zh) * 2005-04-19 2010-01-27 株式会社荏原制作所 基板处理设备
JP5618508B2 (ja) * 2009-08-18 2014-11-05 三菱電機株式会社 ウエハ研磨装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112497046A (zh) * 2020-11-26 2021-03-16 上海新昇半导体科技有限公司 晶圆边缘抛光设备及方法

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