JP2016109630A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2016109630A5
JP2016109630A5 JP2014249426A JP2014249426A JP2016109630A5 JP 2016109630 A5 JP2016109630 A5 JP 2016109630A5 JP 2014249426 A JP2014249426 A JP 2014249426A JP 2014249426 A JP2014249426 A JP 2014249426A JP 2016109630 A5 JP2016109630 A5 JP 2016109630A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
information
target object
contact
position information
accuracy
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014249426A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6415291B2 (ja
JP2016109630A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2014249426A priority Critical patent/JP6415291B2/ja
Priority claimed from JP2014249426A external-priority patent/JP6415291B2/ja
Priority to US15/533,960 priority patent/US10335963B2/en
Priority to PCT/JP2015/005745 priority patent/WO2016092749A1/en
Publication of JP2016109630A publication Critical patent/JP2016109630A/ja
Publication of JP2016109630A5 publication Critical patent/JP2016109630A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6415291B2 publication Critical patent/JP6415291B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

上記の課題を解決するために、本発明の情報処理装置は、例えば、対象物体の形状情報を保持するデータ保持手段と、前記対象物体の概略位置姿勢を取得する概略位置姿勢取得手段と、前記対象物体を非接触センサで計測することにより、前記対象物体の位置情報を取得する位置情報取得手段と、前記対象物体に対して、接触センサを接触させることにより、該接触センサが接触した接触位置の位置情報を取得する接触位置情報取得手段と、前記位置情報取得手段で取得した前記対象物体の位置情報の精度を示す第1の精度情報と、前記接触位置取得手段で取得した接触位置の位置情報の精度を示す第2の精度情報とを取得する手段と、前記第1の精度情報と前記第2の精度情報とに基づいて、前記対象物体の位置情報と前記接触位置の位置情報とを重みづけし、前記概略位置姿勢に基づいて、前記データ保持手段で保持する対象物体の形状情報を、重みづけされた前記対象物体の位置情報と前記接触位置の位置情報とに対応づけることにより、前記対象物体の位置姿勢を導出する位置姿勢導出手段とを備えることを特徴とする。

Claims (13)

  1. 対象物体の形状情報を保持するデータ保持手段と、
    前記対象物体の概略位置姿勢を取得する概略位置姿勢取得手段と、
    前記対象物体を非接触センサで計測することにより、前記対象物体の位置情報を取得する位置情報取得手段と、
    前記対象物体に対して、接触センサを接触させることにより、該接触センサが接触した接触位置の位置情報を取得する接触位置情報取得手段と、
    前記位置情報取得手段で取得した前記対象物体の位置情報の精度を示す第1の精度情報と、前記接触位置取得手段で取得した接触位置の位置情報の精度を示す第2の精度情報とを取得する手段と、
    前記第1の精度情報と前記第2の精度情報とに基づいて、前記対象物体の位置情報と前記接触位置の位置情報とを重みづけし、前記概略位置姿勢に基づいて、前記データ保持手段で保持する対象物体の形状情報を、重みづけされた前記対象物体の位置情報と前記接触位置の位置情報とに対応づけることにより、前記対象物体の位置姿勢を導出する位置姿勢導出手段とを備えることを特徴とする情報処理装置。
  2. 前記位置姿勢導出手段は、前記第1の精度情報と前記第2の精度情報とに基づいて、前記対象物体の位置情報と、前記接触位置の位置情報とのうち、より確からしい位置情報に大きい重みをつけることにより、前記対象物体の位置姿勢を算出することを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。
  3. 前記第1の精度情報および前記第2の精度情報は、位置情報の誤差分布の広がりを示し、
    前記位置姿勢導出手段は、前記対象物体の位置情報と前記接触位置の位置情報それぞれの誤差分布の広がりに応じて、前記対象物体の位置情報と前記接触位置の位置情報に重みを設定し、該重みに基づいて前記対象物体の位置姿勢を算出することを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。
  4. 対象物体の形状情報を保持するデータ保持手段と、
    前記対象物体の概略位置姿勢を取得する概略位置姿勢取得手段と、
    前記対象物体を非接触センサで計測することにより、前記対象物体の位置情報を取得する位置情報取得手段と、
    前記対象物体に対して、接触センサを接触させることにより、該接触センサが接触した接触位置の位置情報を取得する接触位置情報取得手段と、
    前記位置情報取得手段で取得した前記対象物体の位置情報の精度を示す第1の精度情報と、前記接触位置取得手段で取得した接触位置の位置情報の精度を示す第2の精度情報とを取得する手段と、
    前記概略位置姿勢と、前記第1の精度情報と前記第2の精度情報とに基づいて、前記対象物体の位置情報と前記接触位置の位置情報とのうち、いずれか一方を選択し、該選択された位置情報と前記対象物体の形状情報とを対応づけることにより、前記対象物体の位置姿勢を算出する位置姿勢導出手段とを備えることを特徴とする情報処理装置。
  5. 前記第1の精度情報は、前記非接触センサにより計測されるデータの誤差分布であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の情報処理装置。
  6. 前記第2の精度情報は、前記接触位置における前記対象物体の面の法線に略直交する方向に広がりのある誤差分布であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の情報処理装置。
  7. 前記位置情報取得手段で取得した前記対象物体の位置情報に基づいて、前記接触センサを接触させる接触位置を決定する接触位置決定手段をさらに有することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の情報処理装置。
  8. 前記非接触センサは、撮像装置を含み、前記位置情報は、前記撮像装置により取得される画像から抽出される前記対象物体の特徴であることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の情報処理装置。
  9. 前記接触センサは、前記対象物体を把持するためのロボットハンドに取り付けられていることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の情報処理装置。
  10. 請求項1乃至9のいずれか1項に記載の情報処理装置と、
    前記対象物体を保持または把持する手段とを備えることを特徴とするシステム。
  11. 対象物体の概略位置姿勢を取得する概略位置姿勢取得工程と、
    前記対象物体を非接触センサで計測することにより得られる、前記対象物体の位置情報を取得する位置情報取得工程と、
    前記対象物体に対して、接触センサを接触させることにより、該接触センサが接触した接触位置の位置情報を取得する接触位置情報取得工程と、
    前記位置情報取得工程において取得された前記対象物体の位置情報の精度を示す第1の精度情報と、前記接触位置取得工程において取得された接触位置の位置情報の精度を示す第2の精度情報とを取得する工程と、
    前記第1の精度情報と前記第2の精度情報とに基づいて、前記対象物体の位置情報と前記接触位置の位置情報とを重みづけし、前記概略位置姿勢に基づいて、前記データ保持手段で保持する対象物体の形状情報を、重みづけされた前記対象物体の位置情報と前記接触位置の位置情報とに対応づけることにより、前記対象物体の位置姿勢を導出する位置姿勢導出工程とを備えることを特徴とする情報処理方法。
  12. 対象物体の概略位置姿勢を取得する概略位置姿勢取得工程と、
    前記対象物体を非接触センサで計測することにより得られる、前記対象物体の位置情報を取得する位置情報取得工程と、
    前記対象物体に対して、接触センサを接触させることにより、該接触センサが接触した接触位置の位置情報を取得する接触位置情報取得工程と、
    前記位置情報取得工程において取得された前記対象物体の位置情報の精度を示す第1の精度情報と、前記接触位置取得工程において取得された接触位置の位置情報の精度を示す第2の精度情報とを取得する取得工程と、
    前記概略位置姿勢と、前記第1の精度情報と、前記第2の精度情報とに基づいて、前記対象物体の位置情報と前記接触位置の位置情報とのうち、いずれか一方を選択し、該選択された位置情報と前記対象物体の形状情報とを対応づけることにより、前記対象物体の位置姿勢を算出する位置姿勢導出工程とを備えることを特徴とする情報処理方法。
  13. コンピュータを、請求項1乃至9の何れか1項に記載の情報処理装置の各手段として機能させるためのプログラム。
JP2014249426A 2014-12-09 2014-12-09 情報処理装置、情報処理方法、プログラム Active JP6415291B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014249426A JP6415291B2 (ja) 2014-12-09 2014-12-09 情報処理装置、情報処理方法、プログラム
US15/533,960 US10335963B2 (en) 2014-12-09 2015-11-17 Information processing apparatus, information processing method, and program
PCT/JP2015/005745 WO2016092749A1 (en) 2014-12-09 2015-11-17 Information processing apparatus, information processing method, and program

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014249426A JP6415291B2 (ja) 2014-12-09 2014-12-09 情報処理装置、情報処理方法、プログラム

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2016109630A JP2016109630A (ja) 2016-06-20
JP2016109630A5 true JP2016109630A5 (ja) 2018-01-25
JP6415291B2 JP6415291B2 (ja) 2018-10-31

Family

ID=56106983

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014249426A Active JP6415291B2 (ja) 2014-12-09 2014-12-09 情報処理装置、情報処理方法、プログラム

Country Status (3)

Country Link
US (1) US10335963B2 (ja)
JP (1) JP6415291B2 (ja)
WO (1) WO2016092749A1 (ja)

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6415026B2 (ja) * 2013-06-28 2018-10-31 キヤノン株式会社 干渉判定装置、干渉判定方法、コンピュータプログラム
JP6415291B2 (ja) * 2014-12-09 2018-10-31 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法、プログラム
JP6582530B2 (ja) * 2015-05-11 2019-10-02 富士通株式会社 支援プログラム、支援方法および支援装置
CN106945034B (zh) * 2016-01-07 2021-09-03 鸿富锦精密电子(郑州)有限公司 机器人点位调节方法与系统
JP6657132B2 (ja) 2017-02-27 2020-03-04 富士フイルム株式会社 画像分類装置、方法およびプログラム
JP2018161700A (ja) * 2017-03-24 2018-10-18 キヤノン株式会社 情報処理装置、システム、情報処理方法、製造方法
WO2018227612A1 (en) * 2017-06-16 2018-12-20 Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft Methods and apparatus for selecting a map for a moving object, system, and vehicle/robot
US11065761B2 (en) * 2017-07-25 2021-07-20 Dematic Corp. Robotic picking training technique
JP6880457B2 (ja) * 2017-11-14 2021-06-02 オムロン株式会社 把持方法、把持システム及びプログラム
US10792809B2 (en) * 2017-12-12 2020-10-06 X Development Llc Robot grip detection using non-contact sensors
JP6587195B2 (ja) * 2018-01-16 2019-10-09 株式会社Preferred Networks 触覚情報推定装置、触覚情報推定方法、プログラム及び非一時的コンピュータ可読媒体
JP6988531B2 (ja) * 2018-02-06 2022-01-05 トヨタ自動車株式会社 ロボット
JP7052564B2 (ja) * 2018-05-29 2022-04-12 オムロン株式会社 視覚センサシステム、制御方法およびプログラム
JP7163116B2 (ja) * 2018-09-14 2022-10-31 株式会社東芝 情報処理装置及びピッキングシステム
US11241795B2 (en) * 2018-09-21 2022-02-08 Beijing Jingdong Shangke Information Technology Co., Ltd. Soft package, robot system for processing the same, and method thereof
JP6697204B1 (ja) 2019-01-25 2020-05-20 株式会社Mujin ロボットシステムの制御方法、非一過性のコンピュータ読取可能な記録媒体及びロボットシステムの制御装置
US10870204B2 (en) * 2019-01-25 2020-12-22 Mujin, Inc. Robotic system control method and controller
US10456915B1 (en) 2019-01-25 2019-10-29 Mujin, Inc. Robotic system with enhanced scanning mechanism
JP6725862B1 (ja) 2019-03-14 2020-07-22 株式会社東京精密 三次元測定システム及び三次元測定方法
JP7400183B2 (ja) 2020-03-04 2023-12-19 株式会社東京精密 三次元測定システム及び三次元測定方法
WO2020184678A1 (ja) * 2019-03-14 2020-09-17 株式会社東京精密 三次元測定システム及び三次元測定方法
JP7458578B2 (ja) 2020-03-04 2024-04-01 株式会社東京精密 三次元測定システム及び三次元測定方法
EP3738725B1 (en) 2019-05-15 2022-02-16 Omron Corporation Measurement system, measurement device, measurement method, and measurement program
JP7307592B2 (ja) * 2019-05-24 2023-07-12 キヤノン株式会社 計測装置、撮像装置、制御方法及びプログラム
JPWO2021002465A1 (ja) * 2019-07-03 2021-01-07
CN114430800B (zh) * 2019-10-02 2024-04-02 富士通株式会社 生成方法、记录介质和信息处理装置
JP7388970B2 (ja) 2020-04-06 2023-11-29 ファナック株式会社 ロボットシステム
JP7490452B2 (ja) 2020-05-19 2024-05-27 株式会社東芝 作業ロボットの操作支援装置、方法及びプログラム

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05288543A (ja) * 1992-04-07 1993-11-02 Fujitsu Ltd 視覚情報と触覚情報とを統合した認識装置
KR20060015557A (ko) * 2003-04-28 2006-02-17 스티븐 제임스 크램톤 외골격을 구비한 cmm 암
JP2008014691A (ja) * 2006-07-04 2008-01-24 Japan Aerospace Exploration Agency ステレオ画像計測方法とそれを実施する装置
JP5105147B2 (ja) * 2006-08-28 2012-12-19 株式会社安川電機 ロボットおよび制御方法
JP5380792B2 (ja) * 2007-06-15 2014-01-08 株式会社Ihi 物体認識方法および装置
JP5505138B2 (ja) 2010-07-05 2014-05-28 株式会社安川電機 ロボット装置およびロボット装置による把持方法
US9437005B2 (en) * 2011-07-08 2016-09-06 Canon Kabushiki Kaisha Information processing apparatus and information processing method
JP5610443B2 (ja) * 2011-08-01 2014-10-22 三菱日立パワーシステムズ株式会社 3次元寸法測定方法
JP6000579B2 (ja) * 2012-03-09 2016-09-28 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法
JP6415291B2 (ja) * 2014-12-09 2018-10-31 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法、プログラム
GB201509341D0 (en) * 2015-05-29 2015-07-15 Cambridge Medical Robotics Ltd Characterising robot environments
JP2017177294A (ja) * 2016-03-31 2017-10-05 キヤノン株式会社 ロボット制御装置、ロボット制御方法、ロボットシステムおよびコンピュータプログラム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2016109630A5 (ja)
JP2012021958A5 (ja)
JP2018091656A5 (ja)
JP2014046433A5 (ja) 情報処理システム、装置、方法及びプログラム
US10799299B2 (en) Tracking system and tracking method using same
JP2013184278A5 (ja)
WO2017132297A3 (en) Tubular measurement
JP2016524197A5 (ja) 測定データを捕捉し、測定データに注釈をつけるためのコンピュータ実現方法、及びそのためのシステム、並びに、コンピュータ読み取り可能な媒体
EP3029604A3 (en) Area information estimating device, area information estimating method, and air conditioning apparatus
JP2014063475A5 (ja)
EP3118618A3 (en) Automated calibration of non-destructive testing equipment
JP2010134649A5 (ja)
JP2017508151A5 (ja)
EP3098080A3 (en) Distance measuring device, image forming apparatus, distance measuring method, and computer-readable recording medium
TW201612855A (en) Object detecting device, object detecting method and object detecting system
JP2011175477A5 (ja) 3次元計測装置、処理方法、プログラム及び記憶媒体
JP2015199155A (ja) 情報処理装置および情報処理方法、プログラム
JP2014044203A5 (ja)
JP2014215039A5 (ja)
JP2015127664A5 (ja)
JP2015090298A5 (ja)
JP2009186288A5 (ja)
JP2013185832A5 (ja)
JP2014169990A5 (ja)
WO2015173346A3 (de) Verfahren zur kalibrierung eines messgerätes