JP2016100430A - 接合体の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、ヒートシンクの製造方法、及び、接合体、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク - Google Patents

接合体の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、ヒートシンクの製造方法、及び、接合体、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク Download PDF

Info

Publication number
JP2016100430A
JP2016100430A JP2014235438A JP2014235438A JP2016100430A JP 2016100430 A JP2016100430 A JP 2016100430A JP 2014235438 A JP2014235438 A JP 2014235438A JP 2014235438 A JP2014235438 A JP 2014235438A JP 2016100430 A JP2016100430 A JP 2016100430A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
aluminum
layer
heat sink
metal
phase diffusion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014235438A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6673635B2 (ja
Inventor
伸幸 寺▲崎▼
Nobuyuki Terasaki
伸幸 寺▲崎▼
長友 義幸
Yoshiyuki Nagatomo
義幸 長友
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Materials Corp
Original Assignee
Mitsubishi Materials Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Materials Corp filed Critical Mitsubishi Materials Corp
Priority to JP2014235438A priority Critical patent/JP6673635B2/ja
Publication of JP2016100430A publication Critical patent/JP2016100430A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6673635B2 publication Critical patent/JP6673635B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

【課題】比較的固相線温度の低いアルミニウム合金からなるアルミニウム合金部材と、銅、ニッケル、又は銀からなる金属部材とが良好に接合され、積層方向の熱抵抗が低い接合体を製造可能な接合体の接合方法を提供する。
【解決手段】銅、ニッケル、又は銀からなる金属部材と、固相線温度が前記金属部材を構成する金属元素とアルミニウムとの共晶温度未満とされたアルミニウム合金からなるアルミニウム合金部材と、が接合されてなる接合体の製造方法であって、アルミニウム合金部材と金属部材との間には、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層が配設され、アルミニウム合金部材とアルミニウム介在層とを固相拡散接合するアルミニウム合金部材/アルミニウム介在層固相拡散接合工程S05と、アルミニウム介在層と金属部材とを固相拡散接合するアルミニウム介在層/金属部材固相拡散接合工程S04と、を備えている。
【選択図】図2

Description

この発明は、銅、ニッケル、又は銀からなる金属部材と、固相線温度が前記金属部材を構成する金属元素とアルミニウムとの共晶温度未満とされたアルミニウム合金からなるアルミニウム合金部材とが接合されてなる接合体の製造方法、パワーモジュール用基板とヒートシンクとを備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、ヒートシンク本体と金属部材層とを備えたヒートシンクの製造方法、及び、接合体、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンクに関するものである。
LEDやパワーモジュール等の半導体装置においては、導電材料からなる回路層の上に半導体素子が接合された構造とされている。
風力発電、電気自動車、ハイブリッド自動車等を制御するために用いられる大電力制御用のパワー半導体素子においては、発熱量が多いことから、これを搭載する基板としては、例えばAlN(窒化アルミ)、Al(アルミナ)などからなるセラミックス基板と、このセラミックス基板の一方の面に導電性の優れた金属板を接合して形成した回路層と、を備えたパワーモジュール用基板が、従来から広く用いられている。なお、パワージュール用基板としては、セラミックス基板の他方の面に金属層を形成したものも提供されている。
例えば、特許文献1に示すパワーモジュールにおいては、セラミックス基板の一方の面及び他方の面にAlからなる回路層及び金属層が形成されたパワーモジュール用基板と、この回路層上にはんだ材を介して接合された半導体素子と、を備えた構造とされている。
そして、パワーモジュール用基板の金属層側には、ヒートシンクが接合されており、半導体素子からパワーモジュール用基板側に伝達された熱を、ヒートシンクを介して外部へ放散する構成とされている。
ところで、特許文献1に記載されたパワーモジュールのように、回路層及び金属層をAlで構成した場合には、表面にAlの酸化皮膜が形成されるため、はんだ材によって半導体素子やヒートシンクを接合することができない。
そこで、従来、例えば特許文献2に開示されているように、回路層及び金属層の表面に無電解めっき等によってNiめっき膜を形成した上で、半導体素子やヒートシンクをはんだ接合している。
また、特許文献3には、はんだ材の代替として、酸化銀粒子と有機物からなる還元剤とを含む酸化銀ペーストを用いて、回路層と半導体素子、金属層とヒートシンクを接合する技術が提案されている。
しかしながら、特許文献2に記載されたように、回路層及び金属層表面にNiめっき膜を形成したパワーモジュール用基板においては、半導体素子及びヒートシンクを接合するまでの過程においてNiめっき膜の表面が酸化等によって劣化し、はんだ材を介して接合した半導体素子及びヒートシンクとの接合信頼性が低下するおそれがあった。ここで、ヒートシンクと金属層との接合が不十分であると、熱抵抗が上昇し、放熱特性が低下するおそれがあった。また、Niめっき工程では、不要な領域にNiめっきが形成されて電食等のトラブルが発生しないように、マスキング処理を行うことがある。このように、マスキング処理をした上でめっき処理をする場合、回路層表面及び金属層表面にNiめっき膜を形成する工程に多大な労力が必要となり、パワーモジュールの製造コストが大幅に増加してしまうといった問題があった。
また、特許文献3に記載されたように、酸化銀ペーストを用いて回路層と半導体素子、金属層とヒートシンクを接合する場合には、Alと酸化銀ペーストの焼成体との接合性が悪いために、予め回路層表面及び金属層表面にAg下地層を形成する必要があった。Ag下地層をめっきにより形成する場合には、Niめっきと同様に多大な労力が必要となるといった問題があった。
そこで、特許文献4には、回路層及び金属層をAl層とCu層の積層構造としたパワーモジュール用基板が提案されている。このパワーモジュール用基板においては、回路層及び金属層の表面にはCu層が配置されるため、はんだ材を用いて半導体素子及びヒートシンクを良好に接合することができる。このため、積層方向の熱抵抗が小さくなり、半導体素子から発生した熱をヒートシンク側へと効率良く伝達することが可能となる。
また、特許文献5には、金属層及びヒートシンクの一方がアルミニウム又はアルミニウム合金で構成され、他方が銅又は銅合金で構成されており、これら前記金属層と前記ヒートシンクとが固相拡散接合されたヒートシンク付パワーモジュール用基板が提案されている。このヒートシンク付パワーモジュール用基板においては、金属層とヒートシンクとが固相拡散接合されているので、熱抵抗が小さく、放熱特性に優れている。
特許第3171234号公報 特開2004−172378号公報 特開2008−208442号公報 特開2014−160799号公報 特開2014−099596号公報
ところで、内部に冷却媒体の流路等が形成された複雑な構造のヒートシンクにおいては、比較的固相線温度が低いアルミニウム鋳物合金を用いて製造されることがある。
ここで、固相線温度の低いアルミニウム鋳物合金からなるアルミニウム合金部材と、銅又は銅合金からなる金属部材とを、特許文献5に記載されたように、固相拡散接合した場合には、接合界面近傍にカーケンダルボイドが多数発生することが確認された。このようなカーケンダルボイドがパワーモジュール用基板とヒートシンクとの間に存在すると、熱抵抗が上昇し、放熱特性が低下してしまうといった問題があった。
この発明は、前述した事情に鑑みてなされたものであって、比較的固相線温度の低いアルミニウム合金からなるアルミニウム合金部材と、銅、ニッケル、又は銀からなる金属部材とが良好に接合され、積層方向の熱抵抗が低い接合体を製造可能な接合体の接合方法、この接合体を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法及びヒートシンクの製造方法、及び、接合体、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンクを提供することを目的とする。
前述の課題を解決するために、本発明の接合体の製造方法は、銅、ニッケル、又は銀からなる金属部材と、固相線温度が前記金属部材を構成する金属元素とアルミニウムとの共晶温度未満とされたアルミニウム合金からなるアルミニウム合金部材と、が接合されてなる接合体の製造方法であって、前記アルミニウム合金部材と前記金属部材との間には、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層が配設されており、前記アルミニウム合金部材と前記アルミニウム介在層とを固相拡散接合するアルミニウム合金部材/アルミニウム介在層固相拡散接合工程と、前記アルミニウム介在層と前記金属部材とを固相拡散接合するアルミニウム介在層/金属部材固相拡散接合工程と、を備えていることを特徴としている。
なお、本発明において、金属部材は、銅又は銅合金、ニッケル又はニッケル合金、もしくは銀又は銀合金で構成されたものとしている。
この構成の接合体の製造方法によれば、銅、ニッケル、又は銀からなる金属部材と、固相線温度が前記金属部材を構成する金属元素とアルミニウムとの共晶温度未満とされたアルミニウム合金からなるアルミニウム合金部材との間に、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層が介在しており、前記アルミニウム合金部材と前記アルミニウム介在層とを固相拡散接合するアルミニウム合金部材/アルミニウム介在層固相拡散接合工程と、前記アルミニウム介在層と前記金属部材とを固相拡散接合するアルミニウム介在層/金属部材固相拡散接合工程と、を備えているので、アルミニウム合金部材と金属部材とが直接接合されておらず、アルミニウム合金部材と金属部材との間にカーケンダルボイドが多数生成することを抑制できる。これにより、積層方向の熱抵抗が低く、伝熱部材等に適した接合体を得ることができる。
なお、本発明の接合体の製造方法においては、アルミニウム合金部材/アルミニウム介在層固相拡散接合工程、及び、アルミニウム介在層/金属部材固相拡散接合工程の実施順序に制限はなく、アルミニウム合金部材/アルミニウム介在層固相拡散接合工程の後にアルミニウム介在層/金属部材固相拡散接合工程を実施してもよいし、アルミニウム介在層/金属部材固相拡散接合工程の後にアルミニウム合金部材/アルミニウム介在層固相拡散接合工程を実施してもよい。
あるいは、アルミニウム介在層/金属部材固相拡散接合工程と、アルミニウム合金部材/アルミニウム介在層固相拡散接合工程を、同時に実施してもよい。この場合、製造工程が少なくなり、製造コストの低減を図ることが可能となる。
本発明のヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法は、絶縁層と、この絶縁層の一方の面に形成された回路層と、前記絶縁層の他方の面に形成された金属層と、この金属層の前記絶縁層とは反対側の面に配置されたヒートシンクと、を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法であって、前記金属層と前記ヒートシンクとの間には、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層が配設されており、前記金属層のうち前記アルミニウム介在層との接合面は、銅、ニッケル、又は銀で構成され、前記ヒートシンクのうち前記アルミニウム介在層との接合面は、固相線温度が前記金属層の前記接合面を構成する金属元素とアルミニウムとの共晶温度未満とされたアルミニウム合金で構成されており、前記ヒートシンクと前記アルミニウム介在層とを固相拡散接合するヒートシンク/アルミニウム介在層固相拡散接合工程と、前記アルミニウム介在層と前記金属層とを固相拡散接合するアルミニウム介在層/金属層固相拡散接合工程と、を備えていることを特徴としている。
この構成のヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法によれば、前記金属層と前記ヒートシンクとの間に、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層が介在しており、前記ヒートシンクと前記アルミニウム介在層とを固相拡散接合するヒートシンク/アルミニウム介在層固相拡散接合工程と、前記アルミニウム介在層と前記金属層とを固相拡散接合するアルミニウム介在層/金属層固相拡散接合工程と、を備えているので、ヒートシンクと金属層とが直接接合されておらず、ヒートシンクと金属層との間にカーケンダルボイドが多数生成することを抑制できる。よって、積層方向における熱抵抗が低く、放熱特性に優れたヒートシンク付パワーモジュール用基板を製造することが可能となる。
なお、本発明のヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法においては、ヒートシンク/アルミニウム介在層固相拡散接合工程、及び、アルミニウム介在層/金属層固相拡散接合工程の実施順序に制限はなく、ヒートシンク/アルミニウム介在層固相拡散接合工程の後にアルミニウム介在層/金属層固相拡散接合工程程を実施してもよいし、アルミニウム介在層/金属層固相拡散接合工程の後にヒートシンク/アルミニウム介在層固相拡散接合工程を実施してもよい。
あるいは、ヒートシンク/アルミニウム介在層固相拡散接合工程と、アルミニウム介在層/金属層固相拡散接合工程を、同時に実施してもよい。この場合、製造工程が少なくなり、製造コストの低減を図ることが可能となるとともに、絶縁層への熱負荷を抑えることができる。
本発明のヒートシンクの製造方法は、ヒートシンク本体と、前記金属部材層と、を備えたヒートシンクの製造方法であって、前記ヒートシンク本体と前記金属部材層との間に、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層が配設されており、前記金属部材層は、銅、ニッケル、又は銀からなり、前記ヒートシンク本体は、固相線温度が前記金属部材層を構成する金属元素とアルミニウムとの共晶温度未満とされたアルミニウム合金で構成されており、前記ヒートシンク本体と前記アルミニウム介在層とを固相拡散接合するヒートシンク本体/アルミニウム介在層固相拡散接合工程と、前記アルミニウム介在層と前記金属部材層とを固相拡散接合するアルミニウム介在層/金属部材層固相拡散接合工程と、を備えていることを特徴としている。
この構成のヒートシンクの製造方法によれば、前記金属部材層と前記ヒートシンク本体との間に、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層が介在し、前記ヒートシンク本体と前記アルミニウム介在層とを固相拡散接合するヒートシンク本体/アルミニウム介在層固相拡散接合工程と、前記アルミニウム介在層と前記金属部材層とを固相拡散接合するアルミニウム介在層/金属部材層固相拡散接合工程と、を備えているので、ヒートシンク本体と金属部材層とが直接接合されておらず、ヒートシンク部材と金属部材層との間にカーケンダルボイドが多数生成することを抑制できる。よって、積層方向における熱抵抗が低く、放熱特性に優れたヒートシンクを製造することが可能となる。
なお、本発明のヒートシンクの製造方法においては、ヒートシンク本体/アルミニウム介在層固相拡散接合工程、及び、アルミニウム介在層/金属部材層固相拡散接合工程の実施順序に制限はなく、ヒートシンク本体/アルミニウム介在層固相拡散接合工程の後にアルミニウム介在層/金属部材層固相拡散接合工程を実施してもよいし、アルミニウム介在層/金属部材層固相拡散接合工程の後にヒートシンク本体/アルミニウム介在層固相拡散接合工程を実施してもよい。
あるいは、ヒートシンク本体/アルミニウム介在層固相拡散接合工程と、アルミニウム介在層/金属部材層固相拡散接合工程を、同時に実施してもよい。この場合、製造工程が少なくなり、製造コストの低減を図ることが可能となる。
本発明の接合体は、銅、ニッケル、又は銀からなる金属部材と、固相線温度が前記金属部材を構成する金属元素とアルミニウムとの共晶温度未満とされたアルミニウム合金からなるアルミニウム合金部材と、が接合されてなる接合体であって、前記アルミニウム合金部材と前記金属部材との間には、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層が配設されており、前記アルミニウム合金部材と前記アルミニウム介在層とが固相拡散接合され、前記アルミニウム介在層と前記金属部材とが固相拡散接合されていることを特徴としている。
この構成の接合体によれば、銅、ニッケル、又は銀からなる金属部材と、前記金属部材を構成する金属元素とアルミニウムとの共晶温度未満とされたアルミニウム合金からなるアルミニウム合金部材とが、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層を介して接合されており、前記アルミニウム合金部材と前記アルミニウム介在層とが固相拡散接合され、前記アルミニウム介在層と前記金属部材とが固相拡散接合されているので、アルミニウム合金部材と金属部材との間におけるカーケンダルボイドの発生が抑制されており、熱抵抗が低く、伝熱部材として特に適している。
本発明のヒートシンク付パワーモジュール用基板は、絶縁層と、この絶縁層の一方の面に形成された回路層と、前記絶縁層の他方の面に形成された金属層と、この金属層の前記絶縁層とは反対側の面に配置されたヒートシンクと、を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板であって、前記金属層と前記ヒートシンクとの間には、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層が配設されており、前記金属層のうち前記アルミニウム介在層との接合面は、銅、ニッケル、又は銀で構成され、前記ヒートシンクのうち前記アルミニウム介在層との接合面は、固相線温度が前記金属層の前記接合面を構成する金属元素とアルミニウムとの共晶温度未満とされたアルミニウム合金で構成されており、前記ヒートシンクと前記アルミニウム介在層とが固相拡散接合され、前記アルミニウム介在層と前記金属層とが固相拡散接合されていることを特徴としている。
この構成のヒートシンク付パワーモジュール用基板によれば、前記金属層と前記ヒートシンクとの間に、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層が介在し、前記ヒートシンクと前記アルミニウム介在層とが固相拡散接合され、前記アルミニウム介在層と前記金属層とが固相拡散接合されているので、ヒートシンクと金属層の間におけるカーケンダルボイドの発生が抑制されており、熱抵抗が低く、放熱特性に特に優れている。
本発明のヒートシンクは、ヒートシンク本体と、前記金属部材層と、を備えたヒートシンクであって、前記ヒートシンク本体と前記金属部材層との間に、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層が配設されており、前記金属部材層は、銅、ニッケル、又は銀からなり、前記ヒートシンク本体は、固相線温度が前記金属部材層を構成する金属元素とアルミニウムとの共晶温度未満とされたアルミニウム合金で構成されており、前記ヒートシンク本体と前記アルミニウム介在層とが固相拡散接合され、前記アルミニウム介在層と前記金属部材層とが固相拡散接合されていることを特徴としている。
この構成のヒートシンクによれば、前記ヒートシンク本体と前記金属部材層との間に、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層が介在しており、前記ヒートシンク本体と前記アルミニウム介在層とが固相拡散接合され、前記アルミニウム介在層と前記金属部材層とが固相拡散接合されているので、ヒートシンク本体と金属部材層との間におけるカーケンダルボイドの発生が抑制されており、熱抵抗が低く、放熱特性に特に優れている。
本発明によれば、比較的固相線温度の低いアルミニウム合金からなるアルミニウム合金部材と、銅、ニッケル、又は銀からなる金属部材とが良好に接合され、積層方向の熱抵抗が低い接合体を製造可能な接合体の接合方法、この接合体を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法及びヒートシンクの製造方法、及び、接合体、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンクを提供することが可能となる。
本発明の第一実施形態に係るヒートシンク付パワーモジュール用基板を備えたパワーモジュールの概略説明図である。 第一実施形態に係るヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法を説明するフロー図である。 第一実施形態に係るヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法の概略説明図である。 本発明の第二実施形態に係るヒートシンクの概略説明図である。 第二実施形態に係るヒートシンクの製造方法を説明するフロー図である。 第二実施形態に係るヒートシンクの製造方法の概略説明図である。 本発明の他の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板を備えたパワーモジュールの概略説明図である。
(第一実施形態)
以下に、本発明の実施形態について、添付した図面を参照して説明する。
図1に、本発明の第一実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板30を用いたパワーモジュール1を示す。
このパワーモジュール1は、ヒートシンク付パワーモジュール用基板30と、このヒートシンク付パワーモジュール用基板30の一方の面(図1において上面)にはんだ層2を介して接合された半導体素子3と、を備えている。
ヒートシンク付パワーモジュール用基板30は、パワーモジュール用基板10と、パワーモジュール用基板10に接合されたヒートシンク31と、を備えている。
パワーモジュール用基板10は、絶縁層を構成するセラミックス基板11と、このセラミックス基板11の一方の面(図1において上面)に配設された回路層12と、セラミックス基板11の他方の面に配設された金属層13と、を備えている。
回路層12は、図3に示すように、セラミックス基板11の一方の面に、アルミニウム又はアルミニウム合金からなるアルミニウム板22が接合されることにより形成されている。本実施形態においては、回路層12は、純度が99質量%以上のアルミニウム(2Nアルミニウム)の圧延板(アルミニウム板22)がセラミックス基板11に接合されることで形成されている。なお、回路層12となるアルミニウム板22の厚さは0.1mm以上1.0mm以下の範囲内に設定されており、本実施形態では、0.6mmに設定されている。
金属層13は、図1に示すように、セラミックス基板11の他方の面に配設されたAl層13Aと、このAl層13Aのうちセラミックス基板11が接合された面と反対側の面に積層されたCu層13Bと、を有している。
Al層13Aは、図3に示すように、セラミックス基板11の他方の面に、アルミニウム又はアルミニウム合金からなるアルミニウム板23Aが接合されることにより形成されている。本実施形態においては、Al層13Aは、純度が99質量%以上のアルミニウム(2Nアルミニウム)の圧延板(アルミニウム板23A)がセラミックス基板11に接合されることで形成されている。接合されるアルミニウム板23Aの厚さは0.1mm以上1.0mm以下の範囲内に設定されており、本実施形態では、0.6mmに設定されている。
Cu層13Bは、Al層13Aの他方の面に、銅又は銅合金からなる銅板23Bが接合されることにより形成されている。本実施形態においては、Cu層13Bは、無酸素銅の圧延板(銅板23B)が接合されることで形成されている。銅層13Bの厚さは0.1mm以上6mm以下の範囲内に設定されており、本実施形態では、1mmに設定されている。
ヒートシンク31は、パワーモジュール用基板10側の熱を放散するためのものであり、本実施形態では、図1に示すように、冷却媒体が流通する流路32が設けられている。このヒートシンク31は、固相線温度が金属層13の接合面(Cu層13B)を構成するCuとAlとの共晶温度(548℃)未満とされたアルミニウム合金で構成されており、具体的には、JIS H 2118:2006で規定されたダイカスト用アルミニウム合金であるADC12(固相線温度515℃)で構成されている。なお、このADC12は、Cuを1.5〜3.5質量%の範囲内、Siを9.6〜12.0質量%の範囲内で含むアルミニウム合金である。
そして、ヒートシンク31と金属層13(Cu層13B)との間には、アルミニウム介在層18が介在している。
このアルミニウム介在層18は、純度が99質量%以上の2Nアルミニウム、純度が99.9質量%以上の3Nアルミニウム又は純度が99.99質量%以上の4Nアルミニウムからなるアルミニウム板28が接合させることで構成されている。本実施形態では、アルミニウム介在層18を構成するアルミニウム板28として純度が99質量%以上の2Nアルミニウム板を用い、厚さは0.05mm以上0.6mm以下の範囲内に設定されている。より望ましくは、0.05mm以上0.3mm以下に設定される。
ここで、金属層13(Cu層13B)とアルミニウム介在層18、アルミニウム介在層18とヒートシンク31が、それぞれ固相拡散接合されている。
そして、金属層13(Cu層13B)とアルミニウム介在層18との接合界面には、金属間化合物層が形成されている。
この金属間化合物層は、アルミニウム介在層18のAl原子と、Cu層13BのCu原子とが相互拡散することによって形成されるものである。この金属間化合物層においては、アルミニウム介在層18からCu層13Bに向かうにしたがい、漸次Al原子の濃度が低くなり、かつCu原子の濃度が高くなる濃度勾配を有している。
金属間化合物層は、CuとAlからなる金属間化合物で構成されており、本実施形態では、複数の金属間化合物が接合界面に沿って積層した構造とされている。ここで、金属間化合物層の厚さは、1μm以上80μm以下の範囲内、好ましくは、5μm以上80μm以下の範囲内に設定されている。
また、本実施形態では、金属間化合物層は、3種の金属間化合物が積層された構造とされており、アルミニウム介在層18側からCu層13B側に向けて順に、アルミニウム介在層18とCu層13Bとの接合界面に沿って、θ相、η相が積層し、さらにζ相、δ相、及びγ相のうち少なくとも一つの相が積層して構成されている
また、この金属間化合物層とCu層13Bとの接合界面には、酸化物が接合界面に沿って層状に分散している。なお、本実施形態においては、この酸化物は、アルミナ(Al)等のアルミニウム酸化物とされている。なお、酸化物は、金属間化合物層とCu層13Bとの界面に分断された状態で分散しており、金属間化合物層とCu層13Bとが直接接触している領域も存在している。また、酸化物がθ相、η相もしくは、ζ相、δ相、及びγ相のうち少なくとも一つの相の内部に層状に分散している場合もある。
また、ヒートシンク31とアルミニウム介在層18との接合界面においては、それぞれの接合面に酸化物が層状に分散している。本実施形態においては、この酸化物はアルミナ(Al)等のアルミニウム酸化物等とされている。なお、酸化物は、ヒートシンク31とアルミニウム介在層18との界面に分断された状態で分散しており、ヒートシンク31とアルミニウム介在層18とが直接接触している領域も存在している。この酸化物は、ヒートシンク31及びアルミニウム介在層18の表面に形成されていた酸化皮膜に起因したものと推測される。
次に、本実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板30の製造方法について、図2及び図3を参照して説明する。
(アルミニウム板積層工程S01)
まず、図3に示すように、セラミックス基板11の一方の面に、回路層12となるアルミニウム板22を、Al−Si系のろう材箔26を介して積層する。
また、セラミックス基板11の他方の面に、Al層13Aとなるアルミニウム板23A、Al−Si系のろう材箔26を介して積層する。なお、本実施形態では、Al−Si系のろう材箔26として、厚さ10μmのAl−8質量%Si合金箔を用いた。
(回路層及びAl層形成工程S02)
そして、積層方向に加圧(圧力1〜35kgf/cm)した状態で真空加熱炉内に配置し加熱して、アルミニウム板22とセラミックス基板11を接合して回路層12を形成する。また、セラミックス基板11とアルミニウム板23Aを接合してAl層13Aを形成する。
ここで、真空加熱炉内の圧力は10−6Pa以上10−3Pa以下の範囲内に、加熱温度は600℃以上643℃以下、保持時間は30分以上180分以下の範囲内に設定されることが好ましい。
(Cu層(金属層)形成工程S03)
次に、Al層13Aの他方の面側に、Cu層13Bとなる銅板23Bを積層する。
そして、積層方向に加圧(圧力3〜35kgf/cm)した状態で真空加熱炉内に配置し加熱して、Al層13Aと銅板23Bとを固相拡散接合し、金属層13を形成する。
ここで、真空加熱炉内の圧力は10−6Pa以上10−3Pa以下の範囲内に、加熱温度は400℃以上548℃以下、保持時間は5分以上240分以下の範囲内に設定されることが好ましい。
なお、Al層13A、銅板23Bのうち固相拡散接合されるそれぞれの接合面は、予め当該面の傷が除去されて平滑にされている。
(アルミニウム介在層/金属層固相拡散接合工程S04及びヒートシンク/アルミニウム介在層固相拡散接合工程S05)
次に、金属層13(Cu層13B)と、アルミニウム介在層18となるアルミニウム板28と、ヒートシンク31と、を積層し、積層方向に加圧(圧力5〜35kgf/cm)した状態で真空加熱炉内に配置し加熱して、金属層13(Cu層13B)とアルミニウム介在層18(アルミニウム板28)、アルミニウム介在層18(アルミニウム板28)とヒートシンク31をそれぞれ固相拡散接合する。なお、金属層13(Cu層13B)、アルミニウム板28、ヒートシンク31のうち固相拡散接合されるそれぞれの接合面は、予め当該面の傷が除去されて平滑にされている。
ここで、真空加熱炉内の圧力は10−6Pa以上10−3Pa以下の範囲内に、加熱温度は400℃以上520℃以下、保持時間は0.5時間以上3時間以下の範囲内に設定されることが好ましい。
このようにして、本実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板30が製造される。
(半導体素子接合工程S06)
次いで、回路層12の一方の面(表面)に、はんだ材を介して半導体素子3を積層し、還元炉内においてはんだ接合する。
上記のようにして、本実施形態であるパワーモジュール1が製造される。
以上のような構成とされた本実施形態に係るヒートシンク付パワーモジュール用基板30によれば、ヒートシンク31が、固相線温度が金属層13の接合面(Cu層13B)を構成するCuとAlとの共晶温度(548℃)未満とされたアルミニウム合金で構成されており、具体的には、JIS H 2118:2006で規定されたダイカスト用アルミニウム合金であるADC12(固相線温度515℃)で構成されているので、流路32を有する複雑な構造のヒートシンク31を構成することができ、放熱性能を向上させることが可能となる。
そして、本実施形態では、金属層13がAl層13AとCu層13Bとを有し、金属層13(Cu層13B)と比較的融点の低いアルミニウム合金からなるヒートシンク31との間に、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層18が介在しており、金属層13(Cu層13B)とアルミニウム介在層18、アルミニウム介在層18とヒートシンク31がそれぞれ固相拡散接合されているので、ヒートシンク31とアルミニウム介在層18との接合界面及びアルミニウム介在層18と金属層13(Cu13B)との接合界面にカーケンダルボイドの発生を抑制することができる。よって、積層方向における熱抵抗が低く、放熱特性に優れたヒートシンク付パワーモジュール用基板30を製造することが可能となる。
また、本実施形態では、アルミニウム介在層/金属層固相拡散接合工程S04及びヒートシンク/アルミニウム介在層固相拡散接合工程S05を同時に実施しているので、製造工程が少なくすることができ、このヒートシンク付パワーモジュール用基板30の製造コスト低減を図ることが可能となる。
さらに、固相拡散接合する際に、接合面に傷がある場合には接合界面に隙間が生じるおそれがあるが、本実施形態では、Cu層13B(銅板23B)、アルミニウム介在層18(アルミニウム板28)、ヒートシンク31の接合される面は、予め当該面の傷が除去されて平滑にされた後に固相拡散接合されているので、それぞれの接合界面に隙間が生じることを抑制することができ、確実に固相拡散接合することができる。
また、本実施形態では、金属層13(Cu層13B)とアルミニウム介在層18との接合界面に、CuとAlの金属間化合物層からなる金属間化合物層が形成されており、この金属間化合物層は、複数の金属間化合物が接合界面に沿って積層した構造とされているので、脆い金属間化合物が大きく成長してしまうことを抑制できる。また、金属間化合物層内部における体積変動が小さくなり、内部歪みが抑えられることになる。
さらに、本実施形態では、Cu層13Bと金属間化合物層との接合界面においては、酸化物がこれらの接合界面に沿ってそれぞれ層状に分散しているので、アルミニウム介在層18(アルミニウム板28)の接合面に形成された酸化膜が確実に破壊され、CuとAlの相互拡散が十分に進行していることになり、Cu層13Bとアルミニウム介在層18とが確実に接合されている。
(第二実施形態)
次に、本発明の第二実施形態であるヒートシンクについて説明する。図4に、本発明の第二実施形態に係るヒートシンク101を示す。
このヒートシンク101は、ヒートシンク本体110と、ヒートシンク本体110の一方の面(図4において上側)に積層された銅、ニッケル又は銀からなる金属部材層117と、を備えている。本実施形態では、金属部材層117は、図6に示すように、無酸素銅の圧延板からなる金属板127を接合することによって構成されている。
ヒートシンク本体110は、冷却媒体が流通する流路111が設けられている。このヒートシンク本体110は、固相線温度が金属部材層117を構成する金属元素(本実施形態ではCu)とAlとの共晶温度(548℃)未満とされたアルミニウム合金で構成されており、具体的には、JIS H 2118:2006で規定されたダイカスト用アルミニウム合金であるADC5(固相線温度535℃)で構成されている。なお、このADC5は、Mgを4.1〜8.5質量%の範囲内で含むアルミニウム合金である。
ここで、ヒートシンク本体110と金属部材層117との間には、アルミニウム介在層118が介在している。
このアルミニウム介在層118は、純度が99質量%以上の2Nアルミニウム、純度が99.9質量%以上の3Nアルミニウム又は純度が99.99質量%以上の4Nアルミニウムからなるアルミニウム板128が接合させることで構成されている。本実施形態では、アルミニウム介在層118を構成するアルミニウム板128として純度が99質量%以上の2Nアルミニウムを用い、厚さは0.05mm以上0.6mm以下の範囲内に設定されている。より望ましくは、0.05mm以上0.3mm以下に設定される。
ここで、金属部材層117とアルミニウム介在層118、アルミニウム介在層118とヒートシンク本体110とが、それぞれ固相拡散接合されている。
ここで、金属部材層117とアルミニウム介在層118との接合界面には、金属間化合物層が形成されている。
この金属間化合物層は、アルミニウム介在層118のAl原子と、金属部材層117のCu原子とが相互拡散することによって形成されるものである。この金属間化合物層においては、アルミニウム介在層118から金属部材層117に向かうにしたがい、漸次Al原子の濃度が低くなり、かつCu原子の濃度が高くなる濃度勾配を有している。
金属間化合物層は、CuとAlからなる金属間化合物で構成されており、本実施形態では、複数の金属間化合物が接合界面に沿って積層した構造とされている。ここで、金属間化合物層の厚さは、1μm以上80μm以下の範囲内、好ましくは、5μm以上80μm以下の範囲内に設定されている。
また、本実施形態では、金属間化合物層は、3種の金属間化合物が積層された構造とされており、アルミニウム介在層118側から金属部材層117側に向けて順に、アルミニウム介在層118と金属部材層117との接合界面に沿って、θ相、η相が積層し、さらにζ相、δ相、及びγ相のうち少なくとも一つの相が積層して構成されている。
また、この金属間化合物層と金属部材層117との接合界面には、酸化物が接合界面に沿って層状に分散している。なお、本実施形態においては、この酸化物は、アルミナ(Al)等のアルミニウム酸化物とされている。なお、酸化物は、金属間化合物層と金属部材層117との界面に分断された状態で分散しており、金属間化合物層と金属部材層117とが直接接触している領域も存在している。また、酸化物がθ相、η相もしくは、ζ相、δ相、及びγ相のうち少なくとも一つの相の内部に層状に分散している場合もある。
また、ヒートシンク本体110とアルミニウム介在層118との接合界面においては、それぞれの接合面に酸化物が層状に分散している。本実施形態においては、この酸化物はアルミナ(Al)等のアルミニウム酸化物とされている。なお、酸化物は、ヒートシンク本体110とアルミニウム介在層118との界面に分断された状態で分散しており、ヒートシンク本体110とアルミニウム介在層118とが直接接触している領域も存在している。この酸化物は、ヒートシンク本体110及びアルミニウム介在層118の表面に形成されていた酸化皮膜に起因したものと推測される。
次に、本実施形態であるヒートシンク101の製造方法について、図5及び図6を参照して説明する。
(ヒートシンク本体/アルミニウム介在層固相拡散接合工程S101)
まず、図6に示すように、ヒートシンク本体110と、アルミニウム介在層118となるアルミニウム板128とを積層し、積層方向に加圧(圧力5〜35kgf/cm)した状態で真空加熱炉内に配置し加熱することにより、アルミニウム板128とヒートシンク本体110とを固相拡散接合する。なお、アルミニウム板128、ヒートシンク本体110のうち固相拡散接合されるそれぞれの接合面は、予め当該面の傷が除去されて平滑にされている。
ここで、真空加熱炉内の圧力は10−6Pa以上10−3Pa以下の範囲内に、加熱温度は400℃以上520℃以下、保持時間は30分以上240分以下の範囲内に設定されることが好ましい。
(アルミニウム介在層/金属部材層固相拡散接合工程S102)
次に、図6に示すように、アルミニウム介在層118と金属部材層117となる金属板127とを積層し、積層方向に加圧(圧力1〜35kgf/cm)した状態で真空加熱炉内に配置し加熱することにより、金属板127とアルミニウム介在層118とを固相拡散接合する。なお、金属板127、アルミニウム介在層118のうち固相拡散接合されるそれぞれの接合面は、予め当該面の傷が除去されて平滑にされている。
ここで、真空加熱炉内の圧力は10−6Pa以上10−3Pa以下の範囲内に、加熱温度は400℃以上548℃以下、保持時間は15分以上180分以下の範囲内に設定されることが好ましい。
このようにして、本実施形態であるヒートシンク101が製造される。
以上のような構成とされた本実施形態に係るヒートシンク101によれば、ヒートシンク本体110の一方の面側に、無酸素銅の圧延板からなる金属板127を接合することによって金属部材層117が形成されているので、熱を金属部材層117によって面方向に広げることができ、放熱特性を大幅に向上させることができる。また、はんだ等を用いて他の部材とヒートシンク101とを良好に接合することができる。
また、ヒートシンク本体110が、固相線温度が金属部材層117を構成する金属元素と(Cu)とAlとの共晶温度(548℃)未満とされたアルミニウム合金で構成されており、具体的には、JIS H 2118:2006で規定されたダイカスト用アルミニウム合金であるADC5(固相線温度535℃)で構成されているので、流路等を有する複雑な構造のヒートシンク本体110を構成することができる。
そして、本実施形態では、比較的融点の低いアルミニウム合金からなるヒートシンク本体110と金属部材層117との間に、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層118が介在しており、ヒートシンク本体110とアルミニウム介在層118、アルミニウム介在層118と金属部材層117がそれぞれ固相拡散接合されているので、ヒートシンク本体110とアルミニウム介在層118との接合界面及びアルミニウム介在層118と金属部材層117との接合界面にカーケンダルボイドの発生を抑制することができる。よって、積層方向における熱抵抗が低く、放熱特性に優れたヒートシンク101を製造することが可能となる。
また、本実施形態では、金属部材層117とアルミニウム介在層118との接合界面が、第1の実施形態のCu層13Bとアルミニウム介在層18との接合界面と同様の構成とされているので、第1の実施形態と同様の作用効果を奏することが可能となる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこれに限定されることはなく、その発明の技術的思想を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。
例えば、上記実施の形態では、金属部材層として銅からなるCu層とが接合される場合について説明したが、Cu層に代えて、ニッケル又はニッケル合金からなるNi層、もしくは銀又は銀合金からなるAg層が接合されても良い。
Cu層に代えてNi層を形成した場合には、はんだ付け性が良好となり、他の部材との接合信頼性を向上できる。さらに、固相拡散接合によってNi層を形成する場合には、無電解めっき等でNiめっき膜を形成する際に行われるマスキング処理が不要なので、製造コストを低減できる。この場合、Ni層の厚さは1μm以上30μm以下とすることが望ましい。Ni層の厚さが1μm未満の場合には他の部材との接合信頼性の向上の効果が無くなるおそれがあり、30μmを超える場合にはNi層が熱抵抗体となり効率的に熱を伝達できなくなるおそれがある。また、固相拡散接合によってNi層を形成する場合、Al層とNiの固相拡散接合については、接合温度を400℃以上630℃以下に設定されるが、その他の条件は前述の実施形態と同様の条件で形成することができる。
Cu層に代えてAg層を形成した場合には、例えば酸化銀粒子と有機物からなる還元剤とを含む酸化銀ペーストを用いて他の部材を接合する際に、酸化銀が還元された銀とAg層とが同種の金属同士の接合となるため、接合信頼性を向上させることができる。さらには、熱伝導率の良好なAg層が形成されるので、熱を面方向に拡げて効率的に伝達することができる。この場合、Ag層の厚さは1μm以上20μm以下とすることが望ましい。Ag層の厚さが1μm未満の場合には他の部材との接合信頼性を向上の効果が無くなるおそれがあり、20μmを超える場合には接合信頼性向上の効果が観られなくなり、コストの増加を招く。また、固相拡散接合によってAg層を形成する場合、Al層とAgの固相拡散接合については、接合温度を400℃以上560℃以下に設定されるが、その他は前述の実施形態と同様の条件で形成することができる。
さらに、第一の実施形態では、金属層13を、Al層13AとCu層13Bとを有するものとして説明したが、これに限定されることはなく、図7に示すように、金属層全体を銅又は銅合金で構成してもよい。この図7に示すパワーモジュール201及びヒートシンク付パワーモジュール用基板230においては、セラミックス基板11の他方の面(図70において下側)に銅板がDBC法あるいは活性金属ろう付け法等によって接合され、銅又は銅合金からなる金属層213が形成されている。そして、この金属層213とヒートシンク31と間に、アルミニウム介在層18が介在しており、金属層213とアルミニウム介在層18、アルミニウム介在層18とヒートシンク31が、それぞれ固相拡散接合されている。なお、図7に示すパワーモジュール用基板210においては、回路層212も銅又は銅合金によって構成されたものとされている。
また、第1の実施形態において、回路層を純度99質量%のアルミニウム板を接合することで形成したものとして説明したが、これに限定されることはなく、他のアルミニウム又はアルミニウム合金、銅又は銅合金等の他の金属で構成したものであってもよい。また、回路層をAl層とCu層の2層構造のものとしてもよい。これは、図7に示すパワーモジュール用基板210でも同様である。
また、第1の実施形態において、アルミニウム介在層/金属層固相拡散接合工程S04と、ヒートシンク/アルミニウム介在層固相拡散接合工程S05とを、同時に実施するものとして説明したが、これに限定されることはなく、アルミニウム介在層/金属層固相拡散接合工程S04を実施した後にヒートシンク/アルミニウム介在層固相拡散接合工程S05を実施してもよいし、ヒートシンク/アルミニウム介在層固相拡散接合工程S05を実施した後にアルミニウム介在層/金属層固相拡散接合工程S04を実施してもよい。
なお、第1の実施形態において、Cu層(金属層)形成工程S03とアルミニウム介在層/金属層固相拡散接合工程S04を同時に行うこともできる。
また、第1の実施形態において、Cu層(金属層)形成工程S03とアルミニウム介在層/金属層固相拡散接合工程S04とヒートシンク/アルミニウム介在層固相拡散接合工程S05を同時に行うこともできる。
これらの場合、接合温度は450℃以上520℃以下の範囲内とすることが好ましい。
さらに、第2の実施形態において、ヒートシンク本体/アルミニウム介在層固相拡散接合工程S101を実施した後にアルミニウム介在層/金属部材層固相拡散接合工程S102を実施するものとして説明したが、これに限定されることはなく、アルミニウム介在層/金属部材層固相拡散接合工程S102を実施した後にヒートシンク本体/アルミニウム介在層固相拡散接合工程S101を実施してもよいし、ヒートシンク本体/アルミニウム介在層固相拡散接合工程S101及びアルミニウム介在層/金属部材層固相拡散接合工程S102を同時に実施してもよい。
以下に、本発明の効果を確認すべく行った確認実験の結果について説明する。
表1に示すアルミニウム合金板(50mm×50mm×厚さ5mm)及び金属板(40mm×40mm)を準備した。また、純度99質量%の2Nアルミニウムからなるアルミニウム介在層(40mm×40mm×厚さ0.1mm)を準備した。
本発明例1〜6においては、表1の金属板とアルミニウム介在層、アルミニウム介在層とアルミニウム合金板を、それぞれ表1に示す条件で固相拡散接合した。
なお、比較例1−3においては、金属板とアルミニウム合金板との間にアルミニウム介在層を介在させずに、金属板とアルミニウム合金板とを直接固相拡散接合した。接合を同時に実施した。
このようにして製造された接合体において、積層方向の熱抵抗を測定した。
ヒータチップ(13mm×10mm×0.25mm)を金属板の表面に半田付けし、アルミニウム合金板を冷却器にろう付け接合した。次に、ヒータチップを100Wの電力で加熱し、熱電対を用いてヒータチップの温度を実測した。また、冷却器を流通する冷却媒体(エチレングリコール:水=9:1)の温度を実測した。そして、ヒータチップの温度と冷却媒体の温度差を電力で割った値を熱抵抗とした。なお、アルミニウム介在層を介在させずにアルミニウム合金板と銅板とを直接拡散接合した比較例1を基準として1とし、この比較例1との比率で熱抵抗を評価した。評価結果を表1に示す。
Figure 2016100430
金属板(銅板)とアルミニウム合金板とを直接固相拡散接合した比較例1においては、本発明例1〜4と比べ熱抵抗が大きくなっていることが確認される。また、金属板としてニッケルを用いた比較例2と本発明例5を比べると、比較例2の熱抵抗が大きくなっていることが確認される。同様に金属板として銀を用いた比較例3と本発明例6を比べると比較例3の熱抵抗が大きくなっていることが確認される。これは、カーケンダルボイドが形成されたためと推測される。
これに対して、金属板とアルミニウム合金板との間に純度99質量%以上の2Nアルミニウムからなるアルミニウム介在層を介在させた本発明例においては、比較例に比べて熱抵抗が小さくなっていることが確認される。アルミニウム介在層を介在させることにより、カーケンダルボイドの形成が抑制されたためと推測される。
10、210 パワーモジュール用基板
11 セラミックス基板
13,213 金属層
13B Cu層(金属部材)
18 アルミニウム介在層
31 ヒートシンク(アルミニウム合金部材)
101 ヒートシンク
110 ヒートシンク本体(アルミニウム合金部材)
117 金属部材層
118 アルミニウム介在層

Claims (9)

  1. 銅、ニッケル、又は銀からなる金属部材と、固相線温度が前記金属部材を構成する金属元素とアルミニウムとの共晶温度未満とされたアルミニウム合金からなるアルミニウム合金部材と、が接合されてなる接合体の製造方法であって、
    前記アルミニウム合金部材と前記金属部材との間には、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層が配設されており、
    前記アルミニウム合金部材と前記アルミニウム介在層とを固相拡散接合するアルミニウム合金部材/アルミニウム介在層固相拡散接合工程と、
    前記アルミニウム介在層と前記金属部材とを固相拡散接合するアルミニウム介在層/金属部材固相拡散接合工程と、
    を備えていることを特徴とする接合体の製造方法。
  2. 前記アルミニウム合金部材/アルミニウム介在層固相拡散接合工程と、前記アルミニウム介在層/金属部材固相拡散接合工程と、を同時に実施することを特徴とする請求項1に記載の接合体の製造方法。
  3. 絶縁層と、この絶縁層の一方の面に形成された回路層と、前記絶縁層の他方の面に形成された金属層と、この金属層の前記絶縁層とは反対側の面に配置されたヒートシンクと、を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法であって、
    前記金属層と前記ヒートシンクとの間には、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層が配設されており、
    前記金属層のうち前記アルミニウム介在層との接合面は、銅、ニッケル、又は銀で構成され、
    前記ヒートシンクのうち前記アルミニウム介在層との接合面は、固相線温度が前記金属層の前記接合面を構成する金属元素とアルミニウムとの共晶温度未満とされたアルミニウム合金で構成されており、
    前記ヒートシンクと前記アルミニウム介在層とを固相拡散接合するヒートシンク/アルミニウム介在層固相拡散接合工程と、
    前記アルミニウム介在層と前記金属層とを固相拡散接合するアルミニウム介在層/金属層固相拡散接合工程と、
    を備えていることを特徴とするヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法。
  4. ヒートシンク/アルミニウム介在層固相拡散接合工程と、前記アルミニウム介在層/金属層固相拡散接合工程と、を同時に実施することを特徴とする請求項3に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法。
  5. ヒートシンク本体と、前記金属部材層と、を備えたヒートシンクの製造方法であって、
    前記ヒートシンク本体と前記金属部材層との間に、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層が配設されており、
    前記金属部材層は、銅、ニッケル、又は銀からなり、
    前記ヒートシンク本体は、固相線温度が前記金属部材層を構成する金属元素とアルミニウムとの共晶温度未満とされたアルミニウム合金で構成されており、
    前記ヒートシンク本体と前記アルミニウム介在層とを固相拡散接合するヒートシンク本体/アルミニウム介在層固相拡散接合工程と、
    前記アルミニウム介在層と前記金属部材層とを固相拡散接合するアルミニウム介在層/金属部材層固相拡散接合工程と、
    を備えていることを特徴とするヒートシンクの製造方法。
  6. 前記ヒートシンク本体/アルミニウム介在層固相拡散接合工程と、前記アルミニウム介在層/金属部材層固相拡散接合工程と、を同時に実施することを特徴とする請求項5に記載のヒートシンクの製造方法。
  7. 銅、ニッケル、又は銀からなる金属部材と、固相線温度が前記金属部材を構成する金属元素とアルミニウムとの共晶温度未満とされたアルミニウム合金からなるアルミニウム合金部材と、が接合されてなる接合体であって、
    前記アルミニウム合金部材と前記金属部材との間には、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層が配設されており、
    前記アルミニウム合金部材と前記アルミニウム介在層とが固相拡散接合され、
    前記アルミニウム介在層と前記金属部材とが固相拡散接合されていることを特徴とする接合体。
  8. 絶縁層と、この絶縁層の一方の面に形成された回路層と、前記絶縁層の他方の面に形成された金属層と、この金属層の前記絶縁層とは反対側の面に配置されたヒートシンクと、を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板であって、
    前記金属層と前記ヒートシンクとの間には、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層が配設されており、
    前記金属層のうち前記アルミニウム介在層との接合面は、銅、ニッケル、又は銀で構成され、
    前記ヒートシンクのうち前記アルミニウム介在層との接合面は、固相線温度が前記金属層の前記接合面を構成する金属元素とアルミニウムとの共晶温度未満とされたアルミニウム合金で構成されており、
    前記ヒートシンクと前記アルミニウム介在層とが固相拡散接合され、
    前記アルミニウム介在層と前記金属層とが固相拡散接合されていることを特徴とするヒートシンク付パワーモジュール用基板。
  9. ヒートシンク本体と、前記金属部材層と、を備えたヒートシンクであって、
    前記ヒートシンク本体と前記金属部材層との間に、純度が99質量%以上のアルミニウムからなるアルミニウム介在層が配設されており、
    前記金属部材層は、銅、ニッケル、又は銀からなり、
    前記ヒートシンク本体は、固相線温度が前記金属部材層を構成する金属元素とアルミニウムとの共晶温度未満とされたアルミニウム合金で構成されており、
    前記ヒートシンク本体と前記アルミニウム介在層とが固相拡散接合され、
    前記アルミニウム介在層と前記金属部材層とが固相拡散接合されていることを特徴とするヒートシンク。
JP2014235438A 2014-11-20 2014-11-20 接合体の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、ヒートシンクの製造方法、及び、接合体、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク Active JP6673635B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014235438A JP6673635B2 (ja) 2014-11-20 2014-11-20 接合体の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、ヒートシンクの製造方法、及び、接合体、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014235438A JP6673635B2 (ja) 2014-11-20 2014-11-20 接合体の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、ヒートシンクの製造方法、及び、接合体、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016100430A true JP2016100430A (ja) 2016-05-30
JP6673635B2 JP6673635B2 (ja) 2020-03-25

Family

ID=56077443

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014235438A Active JP6673635B2 (ja) 2014-11-20 2014-11-20 接合体の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、ヒートシンクの製造方法、及び、接合体、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6673635B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018180159A1 (ja) * 2017-03-29 2018-10-04 三菱マテリアル株式会社 ヒートシンク付き絶縁回路基板の製造方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5877784A (ja) * 1981-10-30 1983-05-11 Yamaha Motor Co Ltd 複合材料の製造方法
JPH06292984A (ja) * 1993-04-12 1994-10-21 Asahi Chem Ind Co Ltd 銅−アルミニウム異種金属継手材
JP2001252772A (ja) * 2000-03-10 2001-09-18 Showa Denko Kk アルミニウム−銅クラッド材およびその製造方法
JP2002294376A (ja) * 2001-03-29 2002-10-09 Showa Denko Kk アルミニウム−異種金属クラッド材およびその製造方法
JP2005129599A (ja) * 2003-10-21 2005-05-19 Sky Aluminum Products Kk 電子機器部品の液体冷却板、液体冷却板の製造方法
WO2009098865A1 (ja) * 2008-02-06 2009-08-13 A.L.M.T. Corp. ヒートスプレッダおよびその製造方法
JP2014060215A (ja) * 2012-09-14 2014-04-03 Mitsubishi Materials Corp ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク付パワーモジュール、及びヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法
JP2014210270A (ja) * 2013-04-17 2014-11-13 株式会社アルキャスト ヒートシンクおよびその製造方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5877784A (ja) * 1981-10-30 1983-05-11 Yamaha Motor Co Ltd 複合材料の製造方法
JPH06292984A (ja) * 1993-04-12 1994-10-21 Asahi Chem Ind Co Ltd 銅−アルミニウム異種金属継手材
JP2001252772A (ja) * 2000-03-10 2001-09-18 Showa Denko Kk アルミニウム−銅クラッド材およびその製造方法
JP2002294376A (ja) * 2001-03-29 2002-10-09 Showa Denko Kk アルミニウム−異種金属クラッド材およびその製造方法
JP2005129599A (ja) * 2003-10-21 2005-05-19 Sky Aluminum Products Kk 電子機器部品の液体冷却板、液体冷却板の製造方法
WO2009098865A1 (ja) * 2008-02-06 2009-08-13 A.L.M.T. Corp. ヒートスプレッダおよびその製造方法
JP2014060215A (ja) * 2012-09-14 2014-04-03 Mitsubishi Materials Corp ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク付パワーモジュール、及びヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法
JP2014210270A (ja) * 2013-04-17 2014-11-13 株式会社アルキャスト ヒートシンクおよびその製造方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018180159A1 (ja) * 2017-03-29 2018-10-04 三菱マテリアル株式会社 ヒートシンク付き絶縁回路基板の製造方法
CN110366777A (zh) * 2017-03-29 2019-10-22 三菱综合材料株式会社 带散热片的绝缘电路基板的制造方法
US11735434B2 (en) 2017-03-29 2023-08-22 Mitsubishi Materials Corporation Method for producing insulating circuit substrate with heat sink
CN110366777B (zh) * 2017-03-29 2024-04-26 三菱综合材料株式会社 带散热片的绝缘电路基板的制造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP6673635B2 (ja) 2020-03-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102422607B1 (ko) 접합체, 히트 싱크가 부착된 파워 모듈용 기판, 히트 싱크, 및 접합체의 제조 방법, 히트 싱크가 부착된 파워 모듈용 기판의 제조 방법, 히트 싱크의 제조 방법
JP5403129B2 (ja) パワーモジュール用基板、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、パワーモジュール、及びパワーモジュール用基板の製造方法
JP6696214B2 (ja) 接合体、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク、及び、接合体の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、ヒートシンクの製造方法
JP6127833B2 (ja) 接合体の製造方法及びパワーモジュール用基板の製造方法
JP6079505B2 (ja) 接合体及びパワーモジュール用基板
JP6111764B2 (ja) パワーモジュール用基板の製造方法
TWI637466B (zh) 接合體及功率模組用基板
JP5720839B2 (ja) 接合体及びパワーモジュール用基板
TWI661516B (zh) 接合體,附散熱器電源模組用基板,散熱器,接合體的製造方法,附散熱器電源模組用基板的製造方法及散熱器的製造方法
JP2013098387A (ja) パワーモジュール用基板の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュール用基板
JP2011119652A (ja) ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板及びパワーモジュール
JP5640569B2 (ja) パワーモジュール用基板の製造方法
JP2014039062A (ja) パワーモジュール用基板、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、パワーモジュール、及びパワーモジュール用基板の製造方法
JP2010238965A (ja) パワーモジュール用基板、パワーモジュール用基板の製造方法及びパワーモジュール
WO2016167217A1 (ja) 接合体、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク、及び、接合体の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、ヒートシンクの製造方法
TWI708754B (zh) 接合體,電源模組用基板,電源模組,接合體的製造方法及電源模組用基板的製造方法
JP6673635B2 (ja) 接合体の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、ヒートシンクの製造方法、及び、接合体、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク
JP2015095624A (ja) 接合体及びパワーモジュール用基板
WO2016167218A1 (ja) 接合体、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク、及び、接合体の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、ヒートシンクの製造方法
JP6459427B2 (ja) ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、及び、接合体、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク
JP6819385B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP6413230B2 (ja) 抵抗器及び抵抗器の製造方法
KR102590640B1 (ko) 접합체, 히트 싱크가 부착된 절연 회로 기판, 및, 히트 싱크
JP2011066387A (ja) パワーモジュール用基板、パワーモジュール及びパワーモジュール用基板の製造方法
JP5640571B2 (ja) パワーモジュール用基板の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170929

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180625

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180703

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180821

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20181012

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20181023

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190123

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20190131

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20190308

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200305

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6673635

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150