JP2016070909A - 検査システム及び検査システムの制御方法 - Google Patents
検査システム及び検査システムの制御方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2016070909A JP2016070909A JP2015018111A JP2015018111A JP2016070909A JP 2016070909 A JP2016070909 A JP 2016070909A JP 2015018111 A JP2015018111 A JP 2015018111A JP 2015018111 A JP2015018111 A JP 2015018111A JP 2016070909 A JP2016070909 A JP 2016070909A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection system
- radiation source
- image detector
- rotation mechanism
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T7/00—Details of radiation-measuring instruments
- G01T7/08—Means for conveying samples received
- G01T7/10—Means for conveying samples received using turntables
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
【解決手段】放射線源110と、画像検出器120と、放射線源110と画像検出器120との間に配置される放置装置130と、を備え、放射線源110及び画像検出器120が共に駆動されて予定経路500に沿って移動され、放置装置130が少なくとも1つの物体600を載置するための載置器と、載置器に結合されており、載置器を回転させるための回転機構と、を含む検査システム。
【選択図】図1
Description
Claims (20)
- 放射線源と、 画像検出器と、 前記放射線源と前記画像検出器との間に配置される放置装置と、 を備え、
前記放射線源及び画像検出器が共に駆動されて予定経路に沿って移動され、前記放置装置が少なくとも1つの物体を載置するための載置器と、前記載置器に結合されており、前記載置器を回転させるための回転機構と、を含む検査システム。 - 前記放射線源が第1の方向へX線放射線を放射すると、前記回転機構は、前記載置器を第2の方向まで回転させて、前記第1の方向を前記第2の方向に平行させることに用いる請求項1に記載の検査システム。
- 前記画像検出器は、前記物体を透過した前記X線放射線を検出して、前記物体の側面の画像を取得することに用いる請求項2に記載の検査システム。
- 前記回転機構は、前記載置器を軸方向に沿って予定角度で回転させるように制御することに用いる請求項1に記載の検査システム。
- 前記放射線源は、方向が前記軸方向に垂直であるX線放射線を一方向へ放射する請求項4に記載の検査システム。
- 前記予定角度は、30°以内である請求項4又は請求項5に記載の検査システム。
- 前記放置装置は、 前記回転機構に結合されており、前記回転機構を移動させる移動機構を更に含む請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の検査システム。
- 前記放射線源、前記画像検出器、前記載置器及び前記回転機構は、それぞれ独立に駆動される請求項1から請求項7のいずれか一項に記載の検査システム。
- 前記放射線源及び前記画像検出器は、相対的に駆動される請求項1から請求項7のいずれか一項に記載の検査システム。
- 前記回転機構は、ステッピングモータ及びサーボモータの少なくとも1つを含む請求項1から請求項9のいずれか一項に記載の検査システム。
- 放射線源と、画像検出器と、前記放射線源と前記画像検出器との間に配置され、載置器及び回転機構を含む放置装置と、を含む検査システムの制御方法であって、 前記放射線源及び前記画像検出器を駆動して予定経路に沿って移動させる工程と、 前記載置器により物体を載置する工程と、 前記回転機構により前記載置器を回転させる工程と、 を備える検査システムの制御方法。
- 前記放射線源により第1の方向へX線放射線を放射する工程と、 前記回転機構により前記載置器を第2の方向まで回転させて、前記第1の方向を前記第2の方向に平行させる工程と、 を更に備える請求項11に記載の方法。
- 前記画像検出器により前記物体を透過した前記X線放射線を検出して、前記物体の側面の画像を取得することを更に備える請求項12に記載の方法。
- 前記回転機構により前記載置器を軸方向に沿って予定角度で回転させるように制御することを更に備える請求項11に記載の方法。
- 前記放射線源により、方向が前記軸方向に垂直であるX線放射線を一方向へ放射する工程を更に備える請求項14に記載の方法。
- 前記予定角度は、30°以内である請求項14又は請求項15に記載の方法。
- 移動機構に沿って前記回転機構を移動させる工程を更に備える請求項11から請求項16のいずれか一項に記載の方法。
- 前記放射線源、前記画像検出器、前記載置器及び前記回転機構を独立に駆動する工程を更に備える請求項11から請求項17のいずれか一項に記載の方法。
- 前記放射線源及び前記画像検出器を相対的に駆動する工程を更に備える請求項11から請求項17のいずれか一項に記載の方法。
- 前記回転機構は、ステッピングモータ及びサーボモータの少なくとも1つを含む請求項11から請求項19のいずれか一項に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US14/497,337 US9791387B2 (en) | 2014-09-26 | 2014-09-26 | Inspection system and method for controlling the same |
US14/497,337 | 2014-09-26 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016070909A true JP2016070909A (ja) | 2016-05-09 |
JP6093786B2 JP6093786B2 (ja) | 2017-03-08 |
Family
ID=55485636
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015018111A Active JP6093786B2 (ja) | 2014-09-26 | 2015-02-02 | 検査システム及び検査システムの制御方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9791387B2 (ja) |
JP (1) | JP6093786B2 (ja) |
CN (2) | CN113340924A (ja) |
DE (1) | DE102014116054B4 (ja) |
TW (1) | TWI561812B (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018133093A1 (en) | 2017-01-23 | 2018-07-26 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | Methods of making semiconductor x-ray detector |
JP2020020730A (ja) * | 2018-08-03 | 2020-02-06 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | X線透過検査装置及びx線透過検査方法 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05172763A (ja) * | 1991-12-20 | 1993-07-09 | Toshiba Corp | 断層撮影装置 |
JP2001324456A (ja) * | 2000-05-17 | 2001-11-22 | Shimadzu Corp | X線断層面検査装置 |
JP2003329616A (ja) * | 2002-05-10 | 2003-11-19 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | ユーセントリック型傾斜三次元x線ct及びそれによる三次元画像の撮影方法 |
JP2004132931A (ja) * | 2002-10-15 | 2004-04-30 | Shimadzu Corp | X線ct装置 |
JP2005331428A (ja) * | 2004-05-21 | 2005-12-02 | Sony Corp | 画像情報処理装置および方法、並びにプログラム |
JP2009063387A (ja) * | 2007-09-05 | 2009-03-26 | Sony Corp | X線断層撮像装置およびx線断層撮像方法 |
JP2010156607A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-15 | Sony Corp | X線断層撮像装置およびx線断層撮像方法 |
CN101839871A (zh) * | 2010-05-18 | 2010-09-22 | 华南理工大学 | 一种x射线分层摄影检测方法与系统 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05332953A (ja) * | 1992-05-29 | 1993-12-17 | Nippon Steel Corp | X線検査装置 |
US6324249B1 (en) * | 2001-03-21 | 2001-11-27 | Agilent Technologies, Inc. | Electronic planar laminography system and method |
US6707877B2 (en) * | 2001-09-27 | 2004-03-16 | Agilent Technologies, Inc. | Positioning mechanism providing precision 2-axis rotation, 1-axis translation adjustment |
US7356115B2 (en) * | 2002-12-04 | 2008-04-08 | Varian Medical Systems Technology, Inc. | Radiation scanning units including a movable platform |
WO2004036251A2 (en) * | 2002-10-15 | 2004-04-29 | Digitome Corporation | Ray tracing kernel |
US7099432B2 (en) * | 2003-08-27 | 2006-08-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | X-ray inspection apparatus and X-ray inspection method |
US7505554B2 (en) * | 2005-07-25 | 2009-03-17 | Digimd Corporation | Apparatus and methods of an X-ray and tomosynthesis and dual spectra machine |
US7529336B2 (en) * | 2007-05-31 | 2009-05-05 | Test Research, Inc. | System and method for laminography inspection |
TWI394490B (zh) | 2008-09-10 | 2013-04-21 | Omron Tateisi Electronics Co | X射線檢查裝置及x射線檢查方法 |
WO2010074030A1 (ja) | 2008-12-22 | 2010-07-01 | オムロン株式会社 | X線検査方法およびx線検査装置 |
JP5444718B2 (ja) * | 2009-01-08 | 2014-03-19 | オムロン株式会社 | 検査方法、検査装置および検査用プログラム |
JP5493360B2 (ja) * | 2009-01-08 | 2014-05-14 | オムロン株式会社 | X線検査方法、x線検査装置およびx線検査プログラム |
DE102010010723B4 (de) | 2010-03-09 | 2017-05-04 | Yxlon International Gmbh | Verwendung einer Laminographieanlage |
JP5403560B2 (ja) | 2010-11-17 | 2014-01-29 | コリア ベイシック サイエンス インスティテュート | 透過電子顕微鏡の、3方向以上から試片を観察し分析するための3軸駆動が可能な試片ホルダー |
CN102338756B (zh) * | 2011-06-17 | 2013-01-02 | 上海现代科技发展有限公司 | 微焦点x射线精密透视成像检测设备 |
CN103278515A (zh) * | 2013-05-16 | 2013-09-04 | 华南理工大学 | 旋转式x射线分层摄影检测系统与方法 |
TWM479727U (zh) | 2013-05-21 | 2014-06-11 | Taiwan Caretech Corp | 同步執行攝像與三維x光掃描之裝置 |
-
2014
- 2014-09-26 US US14/497,337 patent/US9791387B2/en active Active
- 2014-11-04 DE DE102014116054.1A patent/DE102014116054B4/de active Active
- 2014-11-21 TW TW103140445A patent/TWI561812B/zh active
- 2014-11-21 CN CN202110626198.4A patent/CN113340924A/zh active Pending
- 2014-11-21 CN CN201410677044.8A patent/CN105445295A/zh active Pending
-
2015
- 2015-02-02 JP JP2015018111A patent/JP6093786B2/ja active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05172763A (ja) * | 1991-12-20 | 1993-07-09 | Toshiba Corp | 断層撮影装置 |
JP2001324456A (ja) * | 2000-05-17 | 2001-11-22 | Shimadzu Corp | X線断層面検査装置 |
JP2003329616A (ja) * | 2002-05-10 | 2003-11-19 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | ユーセントリック型傾斜三次元x線ct及びそれによる三次元画像の撮影方法 |
JP2004132931A (ja) * | 2002-10-15 | 2004-04-30 | Shimadzu Corp | X線ct装置 |
JP2005331428A (ja) * | 2004-05-21 | 2005-12-02 | Sony Corp | 画像情報処理装置および方法、並びにプログラム |
JP2009063387A (ja) * | 2007-09-05 | 2009-03-26 | Sony Corp | X線断層撮像装置およびx線断層撮像方法 |
JP2010156607A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-15 | Sony Corp | X線断層撮像装置およびx線断層撮像方法 |
CN101839871A (zh) * | 2010-05-18 | 2010-09-22 | 华南理工大学 | 一种x射线分层摄影检测方法与系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN105445295A (zh) | 2016-03-30 |
TWI561812B (en) | 2016-12-11 |
CN113340924A (zh) | 2021-09-03 |
TW201612512A (en) | 2016-04-01 |
DE102014116054A1 (de) | 2016-03-31 |
DE102014116054B4 (de) | 2022-11-24 |
US9791387B2 (en) | 2017-10-17 |
JP6093786B2 (ja) | 2017-03-08 |
US20160091441A1 (en) | 2016-03-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI592655B (zh) | 用於使用成像系統產生有興趣區域之三維模型之方法及裝置 | |
JP5444718B2 (ja) | 検査方法、検査装置および検査用プログラム | |
JP6471151B2 (ja) | X線検査システム及びそのようなx線検査システムを用いて試験対象物を回転する方法 | |
KR100975417B1 (ko) | 디지털 방사선 투과 검사 시스템 및 방법 | |
KR101654825B1 (ko) | 기판의 밀집 검사 부위의 엑스레이 검사 방법 | |
US20180209924A1 (en) | Defect Determining Method and X-Ray Inspection Device | |
WO2019065701A1 (ja) | 検査位置の特定方法、3次元画像の生成方法、及び検査装置 | |
JP6093786B2 (ja) | 検査システム及び検査システムの制御方法 | |
JP2006162335A (ja) | X線検査装置、x線検査方法およびx線検査プログラム | |
JP2006184267A (ja) | X線検査装置、x線検査方法およびx線検査プログラム | |
US20210072168A1 (en) | Measurement x-ray ct apparatus | |
KR102542243B1 (ko) | 필름 위치 확인이 가능한 방사선투과검사장치 | |
US20080247505A1 (en) | Xray device for planar tomosynthesis | |
JP2009145062A (ja) | X線検査装置 | |
JP2013190361A (ja) | X線検査装置およびその制御方法 | |
JP2019060808A (ja) | 検査位置の特定方法及び検査装置 | |
US20230175985A1 (en) | Inspection device | |
JP4926645B2 (ja) | 放射線検査装置、放射線検査方法および放射線検査プログラム | |
JP2019060808A5 (ja) | ||
JP4793541B2 (ja) | コンピュータ断層撮影装置 | |
JP5851254B2 (ja) | 検査装置、検査方法および検査プログラム | |
JP4926734B2 (ja) | 放射線検査装置、放射線検査方法および放射線検査プログラム | |
JP7107008B2 (ja) | 検査装置および検査方法 | |
KR20150040096A (ko) | 엑스-레이 검사장치 | |
JP4636500B2 (ja) | X線検査装置、x線検査方法およびx線検査プログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160209 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160506 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20161025 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170207 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170213 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6093786 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |