JP2016040796A - ウエーハの分割方法 - Google Patents
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Abstract
Description
<Low−kエッチングレシピ1>
・高周波電力周波数:13.56MHz
・ステージ温度(静電チャック温度):10℃
・ウエーハ冷却用He圧力:2000Pa
・コイル印加電力:2500W
・ステージ印加電力:400W
・ガス種:CF4、C4F8、O2、Ar混合ガス
・ガス流量:CF4=200sccm、C4F8=50sccm、O2=50sccm、Ar=200sccm
・プロセス圧力:5Pa
また、絶縁膜除去工程では、Low−k膜11だけがエッチングされるため、Low−k膜11内のTEG14が外部に露出される。Low−k膜11除去後のウエーハWは切削装置(不図示)に搬入される。
<Low−kエッチングレシピ2>
・高周波電力周波数:13.56MHz
・ステージ温度(静電チャック温度):10℃
・ウエーハ冷却用He圧力:2000Pa
・コイル印加電力:2500W
・ステージ印加電力:600W
・ガス種:CF4、C4F8、O2、Ar混合ガス
・ガス流量:CF4=200sccm、C4F8=50sccm、O2=50sccm、Ar=200sccm
・プロセス圧力:1Pa
・処理時間: 任意(Low−k膜厚、アスペクト比に応じて調整)
<ポリイミドエッチングレシピの例>
・高周波電力周波数:13.56MHz
・ステージ温度(静電チャック温度):10℃
・ウエーハ冷却用He圧力:2000Pa
・コイル印加電力:3000W
・ステージ印加電力:400W
・ガス種:CF4、O2、Ar、N2混合ガス
・ガス流量:CF4=40sccm、O2=200sccm、N2=100sccm、Ar=100sccm
・プロセス圧力:5Pa
・処理時間:任意(ポリイミド膜厚に応じて調整)
(エッチングステップ)
・コイル印加電力:3500W
・ステージ印加電力:0W
・ガス種:SF6
・ガス流量:1000sccm
・プロセス圧力:7Pa
・ステップ時間:例えば60秒
・ステージ温度:10℃
14 TEG(測定パターン)
15 分割予定ライン
16 ウエーハの表面
17 ウエーハの裏面
21 レジスト層
25 深溝
32 切削ブレード
33 研削ホイール
D デバイス
W ウエーハ
Claims (2)
- 表面に形成される絶縁膜と、デバイスを区画する分割予定ラインと、該分割予定ラインの該絶縁膜内に配設され該デバイスを測定する測定パターンと、を有するウエーハを該分割予定ラインに沿って分割するウエーハの分割方法であって、
該分割予定ラインを除いてウエーハの表面をマスクするマスク形成工程と、
該マスク形成工程でマスクしない該分割予定ラインをドライエッチングして該絶縁膜を除去する絶縁膜除去工程と、
ウエーハの表面からウエーハを完全切断する深さに切削ブレードを切込ませ該絶縁膜が除去された該分割予定ラインに沿って該切削ブレードでウエーハを切断する切断工程と、
該切断工程で切断されたウエーハの切断面をドライエッチングするエッチング工程と、
該マスク形成工程で形成したマスクを除去するマスク除去工程と、
からなるウエーハの分割方法。 - 表面に形成される絶縁膜と、デバイスを区画する分割予定ラインと、該分割予定ラインの該絶縁膜内に配設され該デバイスを測定する測定パターンと、を有するウエーハを該分割予定ラインに沿って分割するウエーハの分割方法であって、
該分割予定ラインを除いてウエーハの表面をマスクするマスク形成工程と、
該マスク形成工程でマスクしない該分割予定ラインをドライエッチングして該絶縁膜を除去する絶縁膜除去工程と、
ウエーハの表面から仕上げ厚みに達する深さまで切削ブレードを切込ませ該絶縁膜が除去された該分割予定ラインに沿って該切削ブレードで深溝を形成する深溝形成工程と、
ウエーハを裏面から仕上げ厚みまで研削してウエーハを分割する裏面研削工程と、
該裏面研削工程で分割されたウエーハの切断面をドライエッチングするエッチング工程と、
該マスク形成工程で形成したマスクを除去するマスク除去工程と、
からなるウエーハの分割方法。
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