JP2015527618A - 光学装置および光学顕微鏡 - Google Patents

光学装置および光学顕微鏡 Download PDF

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Abstract

本発明は、照射光線からの構造化された照明光線を提供するために少なくとも1つの第1のおよび1つの第2の光学系コンポーネントを備える、光学顕微鏡の光線経路内に配置するための光学装置に関する。本発明の光学装置は、光が異なる光線経路を介してさまざまな光学系コンポーネントへさらに試料の方向へと伝搬され、電子式制御手段を備え、またこの電子式制御手段が異なる光線経路からさまざまな光学系コンポーネントへ、ある時点においてそれぞれ1つの光線経路を照明するように設定されていて、さまざまな光学系コンポーネントから来る光を試料の方向への共通の光線経路へ導くための、少なくとも1つの第1の光線集光ミラーが存在し、この第1の光線集光ミラーが反射領域を持ち、この反射領域上には、2つの光学系コンポーネントの1つからの光のみが当たり、第1の光線集光ミラーが光線透過領域を持ち、この光線透過領域上には、別の光学系コンポーネントからの光のみが当たることを特徴とする。本発明はさらに、本発明の光学装置を持つ光学顕微鏡に関する。

Description

本発明は、第1の態様において、請求項1のプリアンブルにそった光学顕微鏡の光線経路内に位置決めするための、光学装置に関する。本発明のさらなる観点は請求項21のプリアンブルにそった光学顕微鏡に関する。
この種の光学顕微鏡は、その中に観察する試料を位置付けすることができる標本面と、少なくとも1つの標本面の方向へ光を射出する光源とを備える。こうして試料から来る光は、標本映像を表示するために、検出装置を用いて検出される。
高い解像度で試料を観察するための従来の1つの方法は構造化された照明を用いた顕微鏡観察法(構造化照明顕微鏡法、SIM)である。この場合、試料は構造化された照明光で照射される。構造化された照明光とは、その光線断面上に、空間的に変化のある強度分布を持つ任意の光と理解できる。特に、例えば照明されているラインと照明されていないラインとを持つライン模様のような、断面上に周期的な強度分布を持つ光線を用いることができる。
構造化された照明を形成するために、光学顕微鏡の光線経路内で、光源と標本面との間に取り付けられる、この種の光学装置が使われ得る。この種の光学装置は、照射光線から構造化された照明光を供給するために少なくとも1つの第1の光学系コンポーネントと1つの第2の光学系コンポーネントを備えている。
これらの光学系コンポーネントは例えば格子であり得る。格子の撮像が前後して標本面内に形成される。さまざまな格子の方向に対して標本映像が撮影され、これらからより高い解像度の標本映像を算出することができる。
このより高い解像度は、構造化された照明を使わない従来の広視野映像の撮影に対して、大きな利点である。しかしながら構造化された照明では、撮像のために必要な時間は長くなる。これゆえに基本的な目的は、撮像のために必要な時間を短く保つことと見なされる。この場合、機械的構成はできる限り簡単に実現することができ、また経費が手頃であるべきである。
公知の光学装置は、この要件を満たさない。
試料上へさまざまな格子方向を結像するために、ただ1つの格子を使用し、これをさまざまな方向へ回転させることが公知である。格子の後方に、光学的画像野ロータ、例えばアッベ・ケーニッヒ型プリズムを取り付けることも可能である。これを使って画像野回転が可能で、こうして標本面上で格子投影像の回転を起こすことができる。しかしながら、格子または画像野ロータの回転は比較的時間が掛かる。加えて場合によっては、障害となる、回折光線の反射が生じ得る。
代替として、干渉光線を発生させるために光学的光線分割を行うことができるが、これは装置が複雑であり、またその安定性に関して問題があり得る。
重畳され、異なった方向付けがされている、基板上の格子を設けることがさらに公知である。望まれる回折次数の光線が試料へと伝搬され、他方で他の回折次数は遮蔽される。しかしながら、このため強度損失は大きい。
最後に、複数の異なる方向付けの格子を設けることも可能である。これらはモータ付の格子交換装置によって、前後して選択される。しかしながら、同じくここでも格子の交換のために必要とされる時間は長い。
全体として、このように公知の光学装置は、2つの格子方向の交換のためのロスタイムが長いこと、および例えば移動可能な光学系構成要素の高い精度の位置付けに関して、機械的要求が高いことのうちの少なくとも一方が挙げられる。加えて、照明光の望ましくない強度損失が出現し得る。
本発明の課題は、それによって良好な画像品質と、簡単な構成で、構造化された照明光線を形成するためのさまざまな格子投影像の交換が速やかに行われることを可能にする、光学装置および光学顕微鏡を提供することであり得る。
この課題は、請求項1の特徴を備える光学装置と、請求項21の特徴を備える光学顕微鏡で解決される。
本発明の光学装置および本発明の光学顕微鏡の好ましい実施の変形形態は従属請求項の対象であり、以下の記述では特に図との関連で説明する。
本発明の、上述の種類の光学装置は、光が異なった光線経路を介してさまざまな光学系コンポーネントへ、さらに試料の方向へと伝搬可能であり、電子式制御手段が存在し、この電子式制御手段が異なる光線経路からさまざまな光学系コンポーネントへ、ある時点においてそれぞれ1つの光線経路を照明するように設定されており、さまざまな光学系コンポーネントから来る光を試料の方向への共通の光線経路へ導くための少なくとも1つの第1の光線集光ミラーが存在し、第1の光線集光ミラーが反射領域を持ち、この反射領域上には、2つの光学系コンポーネントの1つからの光のみが当たり、第1の光線集光ミラーが光線透過領域を持ち、この光線透過領域上には、他の光学系コンポーネントからの光のみが当たることを特徴とする。
本発明の、上述の種類の光学顕微鏡では、光源と標本面との間に本発明の光学装置が存在している。
構造化された照明光線を提供するために1つの光学系コンポーネントを選択する場合、光学系コンポーネントの移動を必要としないことが本発明の第1の中心思想であり得る。つまり、従来の光学装置とは異なり、1つの光学系コンポーネントは固定された光線経路内へ移動することによることなく選択される。むしろ、空間的に異なった光線経路を介して、光は光学系コンポーネントに導かれ得る。これらの光線経路の1つを選択するために必要な時間は、光の回折方向を用いることから、非常に僅かであり得る。
それぞれ光学系コンポーネントの1つへの、異なった光線経路のうち、常に1つだけが照明されている。光線経路が前後して照明されることで、標本面上には、さまざまな方向付けおよび位相偏移のうちの少なくとも一つを持つ構造化された照明を形成できる。光線経路の各々に対して、1つまたは複数の試料の映像を撮影することができ、これらから、より高解像度の像が算出できる。
その中にさまざまな光学系コンポーネントが存在する、異なった光線経路を集束するために、少なくとも1つの光線集光ミラーが設けられており、この光線集光ミラーがその横断面上に、反射領域と、これとは異なる光透過性領域を備えているということを、本発明のさらなる基本的思想と見なすことができる。光線集光のための従来の偏光ブロックまたは中立スプリッタに比べて、本発明の光線集光ミラーの場合はその光線損失は明らかにより少ない。光線集光のための、切替え可能なガルバノミラーと比べて、この光線集光ミラーは、皆無もしくは非常に僅かな電子的消費で駆動することができる。
各々の光線集光ミラーは、標本面に対して光学的に共役されている平面の外に配置されている。構造化された照明光を形成するために、例えば格子を標本面に対して光学的に共役している平面内に取り付けられた場合、これらの格子上で、光が異なった回折次数へ回折され、第1の光線集光ミラー上へと伝搬される。この際に、光は光線集光ミラーの特定の領域にのみ当たり、この領域は格子上の回折次数で決定される。格子の方向付けは、第1の光線集光ミラー上での、光の第1の回折次数の位置を決定する。このため、複数の、異なった方向付けの格子投影像に対して、1つの共通の光線経路の場合、さまざまな格子投影像の1次回折次数の光線部分は重なって位置しない。こうして、光線集光ミラーの、反射領域と光透過性領域によって、複数の光線経路を、非常に僅かな光線損失を持って、組み合わせることができる。加えて有利であるのは、異なった光線経路を集束するために機械的な運動は必要ではないことである。
本発明の光学装置の好ましい一形態においては、光学系コンポーネントはそれぞれ1つの格子を備える。基本的には反射格子も可能ではあるが、透過格子が好ましい。異なった方向付けの構造化された照明光を形成するために、この格子は相互に異なった方向付けで配置され得る。すなわち、さまざまな格子の格子線の方向は、衝突する光の主拡散方向を中心に、相対して回転されている。
付加的に光学系コンポーネントは1つの格子に対してそれぞれ1つの画像野ロータも備えることができる。画像野ロータを使って、それに属する格子の標本面上への投影を特定の角度だけ回転する。この場合、光学系コンポーネントの1つが、唯一の格子から、またその他の全ての光学系コンポーネントがそれぞれ1つの格子と、1つの、特に固定されている、画像野ロータから構成されることができる。
さまざまな光学系コンポーネントによって提供された構造化された照明は、形成された構造化された照明光の方向付けおよび位相位置のうちの少なくとも一方において差があり得る。構造化された照明光は例えば標本面上にライン模様を形成することができる。この場合、方向付けは線の方向が示す。この際、構造化された照明光の相または位相位置は、線が経過する方向に対して垂直な方向の線の位置を明らかにする。
本発明の光学装置の別の実施の一変形形態では、すでにただ1つの格子で充分であり得る。この場合は、構造化された照明光を形成するための1つの格子が、1つの共通の光線経路内に、さまざまな光学系コンポーネントへの異なった光線経路より手前に配置されている。この光学系コンポーネントはそれぞれ1つの、特に固定された画像野ロータを備え、この場合、異なった画像野ロータを用いて、異なった方向付けの構造化された照明光が提供される。
本発明の光学装置の特に好ましい一形態では、少なくとも1つの、照射光線からの構造化された照明光を形成するための第3の光学系コンポーネントを備え、第2および第3の光学系コンポーネントから来る光を、1つの共同の光線経路上で第1の光線集光ミラーへと導く、第2の光線集光ミラーを備え、第2の光線集光ミラーは第2の光学系コンポーネントからの光のみが当たる反射領域と、また第3の光学系コンポーネントからの光のみが当たるか、その逆に光が当たる光線透過領域を備える。少なくとも3つの光学系コンポーネントが、異なった方向付けの構造化された照明光を形成すると、標本面内において、全ての方向で解像度上昇を達成することができる。独立した光線経路を持つ、さらなる光学系コンポーネントそれぞれに対して、さらなる光線集光ミラーを設けることができる。光線集光ミラーの反射領域および光線透過領域は、第1および第2の光線集光ミラーのそれらの領域に対応して構成される。この場合、さまざまな光線集光ミラーの反射領域は、それに沿って光が光線集光ミラー間に広がる光学軸に対して垂直な平面内で、相対してずらされている。特にさまざまな光線集光ミラーの反射領域は相対して光学系軸を中心に回転され得る。この場合、光線集光ミラー間の回転角度は、格子投影像のさまざまな方向付け間の回転角度と同一であり得る。
光線集光ミラーでの光線損失を可能な限り僅かに保つために光線集光ミラーの横断面上で、格子の光は、別の格子の光と可能な限り少ない重複を持つべきである。このために全ての光線集光ミラーは、格子の平面に対して光学的に共役されている平面の外に配置されている。
好ましいのは、光線集光ミラーの1つが、平面内に配置されることであり、平面において分光が、格子上での分光のフーリエ変換として測定される。代替として、2つの光線集光ミラーをこの平面の異なる側面に配置することができる。この格子が光学顕微鏡の中間映像平面内にある場合は、したがって前述の平面は光学顕微鏡の瞳平面である。
さまざまな格子の構造化された照明光によって、同一の試料領域が観察できるように、異なる光線経路は光線集光ミラーによって共通の光線経路に集束される。これによって、さまざまな格子の0次回折次数の光は、1つの光線集光ミラーの同一の領域に当たる。第1の光線集光ミラーは、0次回折次数に回折され、かつ第1の光学系コンポーネントの光線経路を介して伝搬される光が第1の光線集光ミラーの中央領域に当たるように配置され、0次回折次数に回折され、かつ第2の光学系コンポーネントの光線経路を介して伝搬される光が、この場合、部分透過性である中央領域に当たるように配置されている。こうしてさまざまな格子からの0次回折次数の光は、各々部分的に第1の光線集光ミラーから試料の方向へさらに伝搬される。部分透過性とは、照射光線の一部分が透過され、一部が反射されると理解されたい。光の吸収は可能な限り僅かであるべきである。好ましいのは、部分透過性の度合いが、さまざまな格子または光学系コンポーネントからの光が比較可能な、特に同一の割合で、試料の方向へさらに伝搬されるように選択されることである。したがって、全ての光線集光ミラーを全体として見た場合、光線集光ミラーによる光線損失は、さまざまな光学系コンポーネントへの全ての光線経路において同じ大きさである。
同様に、全ての他の光線集光ミラーがまた部分透過性の中央領域を持つようになされていることができる。特に第2の光線集光ミラーは、0次回折次数に回折され、かつ第2の光学系コンポーネントの光線経路を介して伝搬される光が、第2の光線集光ミラーの中央領域に当たるように配置されることができ、0次回折次数に回折され、かつ第3の光学系コンポーネントの光線経路を介して伝搬される光が、第2の光線集光ミラーの中央領域に当たるように配置されることができる。この場合、第2の光線集光ミラーの中央領域は部分透過性であり、第1の光線集光ミラーの中央領域は第2の光線集光ミラーの中央領域よりもより高い光透過性を持つことが好ましい。言い換えれば、さまざまな光線集光ミラーの中央領域の部分透過性の程度は異なり、さまざまな光学系コンポーネントからの0次回折次数の光が、同一の割合または光線強度で光線集光ミラーを通って試料の方向へ伝搬されるように選択することができる。
複数の光線集光ミラーが直列に配置されている場合、中央領域の反射度および光透過性は好ましくは次のように選択される。標本面から最も離れている、最後方の光線集光ミラーは1/2の反射度およびこれに対応する1/2の光透過性を備え得る。これに続く光線集光ミラーの中央領域は、好ましくは1/3の反射度および2/3の光透過性を備える。一般式にすると、最後方の光線集光ミラーから数えた場合、第n番目の光線集光ミラーは、好ましくは1/(n+1)の反射度およびn/(n+1)の光透過性を備える。
望ましくない吸収効果および散光効果のために、実際には反射度および光透過性は上述の値とは異なり得るが、この差が、この場合、それぞれの値の20%を超えないことが目的に適っているであろう。
さまざまな光学系コンポーネントへの光線経路のどれが照明されるかという選択とは無関係に、試料はできる限り同じ光線強度で照射されるべきである。これに加えて、光線集光ミラー上で、異なった光学系コンポーネントから来る光束に関して、入射強度に対する光線損失のパーセンテージ率が同一であるように、光線集光ミラーの反射領域と光透過性領域が配置され、光線集光ミラーの中央領域の光透過性が選択され得る。この場合、この入射強度はそれぞれの光学系コンポーネントを通過する前に測定することができる。
異なった方向付けの格子投影像を標本面上に形成するために、光学系コンポーネントは画像野ロータおよび格子のうちの少なくとも一方を、相対して異なった方向付けで備えていることができる。さまざまな方向付けのために、第1の格子によって1次回折次数に回折される光と、第2の格子によって1次回折次数に回折される光は、第1の光線集光ミラー上の異なった領域に当たる。この異なる領域は反射領域と光透過性領域によって形成され、その結果、第1の格子からのみでなく第2の格子からの1次回折次数の光も標本面の方向へとさらに伝搬される。
反射領域は可能な限り完全に反射するべきであり、例えば80%または90%より大きい反射率を持つことができる。相応に、繋がった光透過性領域で構成されていることも可能である光透過性領域も、可能な限り完全に光透過性であるべきであり、例えば照射される光線の少なくとも80%または90%が透過され得る。これに対して、中央領域は、反射領域に比べてより小さな反射率を持つべきであり、光透過性領域より低い光透過性を持つべきである。
こうして、説明された実施形態では、それに属する格子と、場合によってはその後方に配置されている画像野ロータの方向付けに、1次回折次数の光の位置が左右されることが、光線集光のために使われる。各々の光線集光ミラーは、2つの反射領域を備えることが好ましく、この2つの反射領域は中心領域に対してお互いに対向して配置されている。別の格子の1次回折次数の光を通過させるために、光線集光ミラーの2つの反射領域は、繋がっている環状の領域を形成しない。むしろ、これらはこのような環状領域を、集束する光線数がNの場合、最大でその1/Nの部分を覆う。
1つのより高解像度の標本映像が可能な限り短時間で撮影できるように、さまざまな光学系コンポーネントへの異なった光線経路間を、短時間で切り替えることができなければならない。照射する光線経路を選択するために、調節可能な偏向素子が存在することが好ましく、この偏向素子でもって選択可能な光を光学系コンポーネントの1つへ偏向することができる。この偏向素子は1つの偏向ミラーを備えることが好ましく、これは回転および摺動のうちの少なくとも一方が可能である。例えば、この偏向ミラーは、微小電気機械システム(MEMS)またはガルバノメータスキャンミラーで実施されていることができる。これによって、さまざまな、照明するべき光線経路の間の交換の際に、そこでは光学系コンポーネント自身が光線経路内に入るという従来の光学装置に比べて、特に、大きな時間の節約を達成することができる。
この偏向ミラーは光学系コンポーネントより小さな質量とより小さな寸法を持つことができ、これによって、より速やかな調節が可能になる。加えて偏向ミラーにおいて必要となる位置の変更は、光学系コンポーネント全体が光線経路内に入れられるか、または出されるという場合に比べてより僅かである。
光は原則的に、偏向素子からさまざまな光学系コンポーネントへ自由光線として導かれることができ、すなわち、これは光ファイバを使わないことを意味する。しかし、光ファイバを設けることが好ましい。この場合、偏向素子は、調節可能な光を1つの光ファイバ上へ、さらに1つの光学系コンポーネントへ誘導するために取り付けられている。光ファイバは光を結像せずに伝達することが有利であり、これによって、より小さな横断面の光学系を使用することができる。特に偏向ミラーはより小さく実施されることができ、これはより短い切替え時間を可能にする。
好ましい一形態では、光ファイバは偏波保存性であり、また各々の光ファイバは軸性の回転配向に配置され、この場合、出射する光の偏光方向は、それぞれの光ファイバから出射する光が到達するところの、1つの格子の格子線の方向に対して垂直である。軸性の回転配向は、出射する光の主拡散方向を中心とした回転角と理解されるべきである。光の偏光方向が、光がそれへと伝搬されるところの、格子の方向付けに左右されて設定されることから、特に高い変調コントラストが標本面上に形成され得る。
原則的に、さまざまな光ファイバでの光線損失の大きさは異なり得る。これは例えば、偏向素子から来る光のさまざまな進入角度によって条件付けられ得る。それにもかかわらず、全ての光ファイバにおいて、出射する光の強度は可能な限り同一であるべきである。これを達成するために、光ファイバの手前に音響光学素子が備えられ、これのために電子制御手段が設けられることができ、音響光学素子を用いて、どの光ファイバに光がさらに伝搬されるかに依存して光の強度を変更し、その結果、全ての光ファイバで同じ光線強度で出射するように、または光線集光ミラーの背後で、すなわち光線集光ミラーと標本面との間で、さまざまな光学系コンポーネントから来る光束が同じ光線強度を持つようすることができる。音響光学系素子のこれに適した設定は、事前に試験的測定の際に決定することができる。音響光学系素子、例えば音響光学可変波長フィルタ(AOTF)を使用することで、有利なことに、特に短時間で光線強度を適合することができる。これが偏向素子の切替え時間内に行われると、偏向素子の変更によって条件付けられる測定中断時間は延長されない。
原則的に、異なった光学系コンポーネントへの光線経路のそれぞれに対して独立した光ファイバを設けることができる。しかし、光は偏光コード化を介して唯一の光ファイバを介して選択可能に2つの光学系コンポーネントの1つへと伝搬されることができる。これによって、さまざまな光学系コンポーネントへの光線経路よりも少ない数の光ファイバを備え得る。この実施では、第1のおよび第2の光線経路上の光が偏向素子によって第1の光ファイバへと偏向されることができ、第1の光線経路内に、第2の光線経路上の光の偏光方向に対して垂直に位置する、光の偏光方向を形成するための偏光方向変更手段が配置され、第1の光線経路と第2の光線経路を結合するための偏光ブロックを備え、第1の光ファイバが、偏光ブロックで結合された光線経路が第1の光ファイバに当たるように配置され、かつ第1の光ファイバの後方に、偏光ビームスプリッタが配置されていて、偏光ビームスプリッタは光をその偏光方向次第で1つの特定の光学系コンポーネントへの光線経路へ、または1つの別の光学系コンポーネントへの別の光線経路へと導く。偏光ブロックとしては、原則的に任意の、さまざまな方向からの光を、また垂直な偏光を、共通の1つの光線経路に集束する手段を使うことができる。
偏光ビームスプリッタと2つの光学系コンポーネントとの間の、1つまたは2つの光線経路上に、偏光を変更する手段が配置され得ることが目的に適う。これは、例えば1つの回転角度で配置されているλ/2板を含むことができ、この板を介して通過する光の偏光方向がλ/2板の後方では格子の格子線の1つの方向に対して垂直である。
構造化された照明を用いて高解像度の画像を算出するためには、異なって方向付けされた格子投影像で複数の標本映像が撮影され、かつ1つの格子投影像が同一の方向付けで移動された、すなわち位相が偏位された、複数の像が撮影されることが目的に適う。異なった光学系コンポーネントの格子および画像野ロータのうちの少なくとも一方を介して、さまざまな方向付けの格子投影像が作成されることが好ましい。位相偏移は、この場合、光学系コンポーネントの摺動移動により行うことができる。
光学系コンポーネントの1つによって提供される、構造化された照明光を変更するために、光学系コンポーネントを移動するための設定装置が相互に独立して存在し、電子的制御手段が、測定中断時間を減少するために、別の光学系コンポーネントの1つへの光線経路が選択されている間に、光学系コンポーネントの1つを移動するように設定されていることが好ましい。したがって、標本映像の直接連続する撮影は、異なった光線経路を介して、その結果として異なった方向付けの格子投影像に関して行われ、同一の光線経路を介した異なった位相偏移に関してなどではない。
設定装置はモータによって実施されていることができ、好ましくは例えばピエゾ圧電アクチュエータ、またはガルバノメータのようなアクチュエータを含む。位相偏移のためには、光学系コンポーネントはそれぞれの投影するべき格子の線の方向に対して横方向に移動される。この光学系コンポーネントは、また原則的に1つの格子方向の投影を回転するために回転されることも可能である。この場合は同一の方法で光線集光ミラーを回転するようになされていることができる。
光学系コンポーネントの1つを用いて提供される構造化された照明光の位相偏移のために、少なくとも1つの位相板を備えることができ、この位相板は、構造化された照明光の位相にさまざまに影響する、さまざまな設定にもたらされることができる。この位相板は可動可能な光学的回折媒体で実施されることができる。例えば、1つの楔を持つことができ、この楔は位相偏移のために移動される。代替として1つの平行平面板が存在し得て、これは位相偏移のために傾けられる。加えて液晶領域を持つ板が設けられることも可能で、これは位相偏移のために接続切替え可能である。
原則的に、位相偏移のためには光線経路内の光線集光ミラーの後方に配置される、唯一の位相板で充分である。しかし、各々の光学系コンポーネントの後方に1つの位相板があることが好ましい。これによって、本発明の光学装置の実施形態が可能になり、ここでは電子的制御手段は測定中断時間を減少するために、1つの別の光学系コンポーネントへの光線経路が選択されている間に、1つの特定の光学系コンポーネントの光線経路内にある、1つまたは複数の位相板を変位するように設定されている。
1つの位相板による位相偏移のために必要とされる典型的時間は約12msである。しかしながら、前述の制御によって測定中断時間は明らかに12msよりも減少し、場合によっては偏向ミラーの切替え時間によってのみ決定され得る。これは数ミリ秒の領域、例えば2msであり得る。
さまざまな光学系コンポーネントへの光線経路の存在数よりも大きな数の、さまざまに方向付けられた格子投影像を形成するために、光線集光ミラーの後方の光線経路内に画像野ロータが存在し得る。これは、光学系コンポーネントを使用して提供された、構造化された照明の方向付けを変更する。加えて画像野ロータの回転のための設定装置が設けられている。
構造化された照明を使わない測定を可能にするために、電子的制御手段は広視野照明を提供するために、光を格子の無い光線経路へ偏向できるように設定することができる。この場合、光を広視野照明へと、格子から来る光を共通の光線経路上を試料の方向へと、代替として伝達するための手段が存在する。この手段はダイクロイックミラー、偏光依存ミラーおよび偏光ブロックのうちの少なくとも一つを含むことができる。可動性ミラー、例えばガルバノメータスキャンミラーまたはMEMSミラーを使用することもできる。この場合、電子式制御手段は、可動性ミラーを、光が格子の無い光線経路から標本面へと伝搬される位置に設定するか、または可動性ミラーを、光が格子から標本面の方向へと伝搬される位置に設定するために、設けられている。
本発明の光学装置のさらなる好ましい一変形形態では、光線経路内の光線集光ミラーの後方に、光学顕微鏡の対物レンズの照明を適合させるためのズーム光学系が存在する。このズームの調節は、光線経路内に取り付けられた対物レンズと関連して、自動的に電子式制御手段を介して行われ得る。
原則的にズーム光学系に代わり、格子交換を介しても照明の適合を行うことができる。このためには、交換用格子は、さまざまな光学系コンポーネントへの異なった光線経路によって決定されている平面の外側に配置され得る。これらの交換用格子は、こうしてモータの付いた格子交換装置を介して、その時点で使用されている格子に交換され得る。
モータの付いた格子交換装置は、光学系コンポーネントをさらなる格子セットで置き換えるためにも、設けられていることができる。この場合、さまざまなセットの格子は、その格子構造に差があり得る。
本発明の光学顕微鏡のさらなる好ましい一形態では、格子の各々が、標本面に対して光学的に共役されている平面上に配置されている。この場合に特に好ましいのは、光線集光ミラーの1つが瞳平面上に、または2つの光線集光ミラーが瞳平面の異なる側面上に配置されていることである。3つ以上の光線集光ミラーの場合は、これらは瞳平面が中央の光線集光ミラーに接するかまたはその隣にあるように配置されていることが好ましい。これによって、さまざまな格子からの光が1つの光線集光ミラーの同一の領域に当たることがほぼ回避される。特に1次回折次数の光は、さまざまな格子に対して重なることなく、光線集光ミラーの完全に相互に異なった領域へ導かれ得る。
本発明の光学顕微鏡が、光線集光ミラーから来る光を、試料へと反射し、試料から来るサンプル光を検出装置の方向へと透過するダイクロイックミラーを備え得ることが目的に適う。このダイクロイックミラーは例えば、波長に依存して光を反射または透過させるカラースプリッタであり得る。サンプル光はルミネセンス光または燐光光であり得る。
光線集光ミラーとダイクロイックミラーとの間の装置は、望ましくない偏光の変化を低減することに利用され得る。こうして、光線集光ミラー上での反射の場合、偏光された光線のs波部分およびp波部分は異なって影響を受ける可能性があり、こうして望ましくない偏光の変化が発生する。ダイクロイックミラー上での反射によってs波部分およびp波部分は新たに異なった影響を受ける可能性があり、これによって、望ましくない偏光の変化が少なくとも部分的に補償される。これは、光の偏光を維持するために、光線集光ミラーおよびダイクロイックミラーをペリスコープの形に配置することで達成することができる。この場合、光はダイクロイックミラーの後ろでは、光線集光ミラー以前の光に対して平行に経過することができる。光線集光ミラー上およびダイクロイックミラー上の反射はこの場合、それぞれ光線の90°の偏向を引き起こし得る。
さまざまな光学系コンポーネントへの異なった光線経路は、機械的に簡易な一形態のために、1つの平面上に相互に平行に位置することが好ましい。この場合、最後方の光線集光ミラーで試料へ伝達されるべきである光は、最後に位置する光学系コンポーネントからの光線経路から、完全反射ミラーを介して、最後に位置する光線集光ミラーに伝搬される。最後に位置する光線集光ミラーとは、標本面から最も離れた光線集光ミラーと理解されたい。
本発明のさらなる特徴と利点を以下に添付の概略図を参照にして説明する。
本発明の光学装置を備える本発明の光学顕微鏡の例示的実施例の概略図。 光学装置の第1の光線集光ミラーの概略図。 光学装置の第2の光線集光ミラーの概略図。
図中では、同一および同じ効果を持つ構成要素は通例では同じ符号が付けられている。
図1には本発明の光学顕微鏡110の一例示的実施例が概略的に示されている。この顕微鏡は基本的構成要素として、光源10、光源10から送り出された光15から構造化された照明光を形成する光学装置100、構造化された照明光を標本面70上に集束させ、かつ標本面70からのサンプル光を受け取る対物レンズ65、およびサンプル光を検出するための検出装置80を備える。
ここに示されている例の場合、光源10は、さまざまな波長の光または光束15を射出する、複数のレーザモジュールを備える。本明細書では、光、光束および光線という単語は同義語であると理解され得る。図1には波長488nm、561nmおよび640nmの光15が記載されている。
さまざまなレーザモジュールの光線経路は、階段状ミラー12を介して、光学装置100の音響光学可変波長フィルタ(AOTF)14への1つの共通の光線経路へ伝搬される。AOTF14を介して、望まれる波長の光を選択することができる。加えて、これについては後により詳細に説明する、光15の強度適合が行われ得る。
中心的構成要素としてこの光学装置100は、偏向素子20を備え、AOTF14からの光はこれに到達する。この偏向素子20は1つの偏向ミラー20を備え、この偏向ミラーは電子式制御手段を介してさまざまな回転位置にもたらされることができる。この偏向ミラー20はその僅かな大きさと質量のゆえに、特に速やかな位置調整ができる。このようにして、有利なことには特に短時間で、例えば2ms以内で、さまざまな光線経路間の交換をすることができる。このために偏向ミラー20は特に微小電気機械システム(MEMS)またはガルバノメータスキャンミラーとして実施され得る。特に短い切替え時間がMEMSによって可能となり、ガルバノメータスキャンミラーは、可能な偏向角度をより広い領域にすることを提供する。
光学装置100は、異なった方向付けの構造化された照明光を提供するための複数の光学系コンポーネント31、32、33を包括する。これらは相互に異なる光線経路内に配置されている。偏向素子20の異なった偏向角度を介して、これら各々の光線経路を選択することができる。
偏向素子20から異なった光学系コンポーネント31〜33へ光15を伝搬するために、ここに示されている例では光ファイバ26、27を備える。光ファイバ26、27では光は結像せずに伝搬されることから、この偏向ミラー20は光ファイバ26、27を使用する場合はより小さく実施されることができる。これによって偏向ミラー20の切替え時間はより速やかになり得る。
偏光された光は光ファイバ26、27で伝搬されることが目的に適っている。これゆえに光ファイバ26、27は偏波保存性である。
原則的に光学系コンポーネント31〜33毎に1つの光ファイバを設けることができる。しかしながら、ここに示されている例では、光が同一の光ファイバ27を介して、偏光次第で光学系コンポーネント32または光学系コンポーネント33に伝搬される。光ファイバ27の手前に偏光ブロック23が配置されていて、偏光ブロックは、2つの異なる光線経路からの、また異なる偏光の光を共通の光線経路上で光ファイバ27へと導く。偏光ブロック23上で結合されるこの2つの光線経路は、偏向素子20の異なった偏向角度を使って選択することができる。これらの光線経路の1つでは光は、その際に光15の偏光方向が変わることなく、偏向素子20から1つのミラー24を介して偏光ブロック23に到達する。別の光線経路では、光15は偏光ビームスプリッタ23に到達する前に偏光方向変更手段22に当たる。偏光方向変更手段は例えばλ/2板を備えることができ、λ/2板は光15の偏光方向を90°回転させる。
こうして偏向素子20のさまざまな偏向角度を介して、光ファイバ27を介して伝搬される光15の偏光方向を選択することができる。光ファイバ27の後方には偏光ビームスプリッタ35が配置されている。光15は、偏光方向に左右されて、透過されるかまたは反射され、こうして光学系コンポーネント32への光線経路上を、または光学系コンポーネント33への光線経路上を伝搬する。
さまざまな光学系コンポーネント31〜33のこれらの光線経路は1つの平面上に位置し、また相互に平行に位置することが好ましい。これは光学系コンポーネント31〜33の後の、損失の少ない光線経路の結合にとって意味を持つ。光学系コンポーネント31〜33の光線経路が相互に平行に経過するように、偏光ビームスプリッタ35から反射された光を光学系コンポーネント33へと偏向するミラー30を設けることができる。
ここに示されている例では、第1の光学系コンポーネント31は第1の格子31を備え、第2の光学系コンポーネント32は第2の格子32を備え、また第3の光学系コンポーネント33は第3の格子33を備えている。それぞれの格子31〜33は中間像平面内に配置されている。こうして構造化された照明が形成され、この照明の場合、そのつど選択される格子31〜33の格子構造が鮮明に標本面70に投影される。
代替として唯一の格子を備えていることも可能であって、この格子は偏向素子20の手前に配置されている。この場合は光学系コンポーネント31〜33は画像野ロータを持ち、この装置によって格子がさまざまな方向付けで標本面70上に投影される。この場合は偏向素子20以後のさらなる伝搬は光ファイバを使わずに行われる。
標本面70上への格子31〜33の投影が、高い変調コントラストを持つように、光15の偏光方向は、格子のベクトルに対して垂直に、すなわちそれぞれの格子31〜33の格子のストライプの方向に対して平行に設定されていることが好ましい。
光15の偏光方向を、照明する格子31〜33に依存して設定するために、λ/2板34、36を格子の前に設けることができる。代替としてまたは付加的に、この偏光方向を、光ファイバ26、27の軸性の回転配向を介すること、および光ファイバに接続されていて、光15がそこでそれぞれの光ファイバ26、27を離れる、コリメータ28、29を介することのうちの少なくとも一方により、事前に定めることもできる。したがって、コリメータ28は、出射する光15の拡散方向の周りを、出射する光15の偏光方向が、第1の格子31の格子のストライプに対して平行であるように、回転されている。
同様の方法でコリメータ29は、出射する光15の偏光方向が第2の格子32の格子のストライプに対して平行であるように、設定されている。最終的に、偏光ビームスプリッタ35上で反射される光15の偏光方向も、格子33の格子のストライプの方向に対して平行でなければならない。このために、偏光ビームスプリッタ35と格子33の間にλ/2板が配置されている。
コリメータ28、29がそれぞれズーム光学系を含むことが好ましい。これによって、それに属する光学系コンポーネント31〜33への距離が異なる場合も、同種の光ファイバ26、27とコリメータ28、29を使用することができる。
異なる格子31〜33からの光線経路を結合するために、この光学装置100は複数の光線集光ミラー51、52を備えている。第1の格子31によって回折された光15は集束光学系44を介して第1の光線集光ミラー51に到達する。同様の方法で、第2の格子32によって回折された光15は第2の集束光学系45を介して第2の光線集光ミラー52に到達する。第3の格子33によって回折された光15はミラー53で完全に反射され、こうして第2の光線集光ミラー52に到達する。
光線集光ミラー51および52は、それぞれ反射領域と光線透過領域を備え、これらは、さまざまな格子31〜33の光線経路から、光15の可能な限り大きな割合が、試料へとさらに伝搬されるように配置されている。
第2の光線集光ミラー52の断面図が図3に概略的に示されている。光線集光ミラー52は、例えば光透過性の基質によって形成されていることができ、その上の特定の位置に、反射性領域58を形成するために反射性金属が取り付けられている。反射性および透過性の特性は、特に可視光線、赤外線および紫外線のうちの少なくとも一方のスペクトル領域に対して有効であり得る。反射領域58は、第2の格子32上で第1の回折次数へと回折される光15が至る、その位置に配置されている。固定周期のストライプ格子を用いることで、とりわけ光はマイナス1次回折次数とプラス1次回折次数と回折され、これによって光は2つの空間的に異なる領域へと回折される。光学軸に関連してのこれらの2つの領域の方向付けは、格子の向きに依存している。それゆえに中央領域59に関連して、これらの2つの反射領域58の方向付けは、第2の格子32の向きに依存して選択される。
第3の格子33の方向付けは第2の格子32とは異なる。これによって第3の格子33からの第1の回折次数の光15は第2の光線集光ミラー52の、反射領域58ではない他の位置に当たる。これらの位置は光透過性の領域60で形成されている。これによって、第2の格子32からのみでなく第3の格子33からの1次回折次数の光は、ほぼ完全に、例えば90%以上が第2の光線集光ミラー52から標本面70の方向にさらに伝搬され得る。
0次回折次数の光15は第2の格子32に対してのみでなく第3の格子33に対しても光学軸にそって拡散し、それゆえ第2の光線集光ミラー52の中央領域59に当たる。2つの格子32、33からの0次回折次数の光15を部分的に標本面70の方向へさらに伝搬するために、中央領域59は部分的に反射性である。例えば中央領域は光15を同一の割合で反射および透過し得る。
この反射領域58および中央領域59は円形状、例えば楕円形であり得る。これによって、円状の光線断面が、光の衝突方向に対して傾斜している光線集光ミラー上で、楕円形の面を照明するということが考慮されている。この領域58、59が、異なる格子31〜33の光線経路によって定義されている平面内に位置している水平方向において、これに直角な垂直方向におけるよりも大きいことが好ましい。領域58、59の水平方向への寸法が垂直方向よりも20%から60%大きいことが好ましい。
第2の光線集光ミラー52から標本面70の方向にさらに伝搬された光15は第1の光線集光ミラー51に当たる。第1の光線集光ミラーは図1に概略的に示されている。第1の光線集光ミラー51は同じく少なくとも1つの透過性領域57と、2つの反射性領域55と、1つの部分透過性の中央領域56とを備える。これらの領域は、第2の光線集光ミラー52の同じ名称の相応の領域と同様に実施可能である。しかしながら、この場合2つの反射領域55は、中央領域56に関連して、2つの反射領域58とは異なる別の回転角度で配置されている。光線集光ミラー51の表面内の、2つの反射領域55の回転配向は第1の格子31の格子方向に左右されて選択される。これによって、第1の格子31によって1次回折次数へと回折される光15は、2つの反射領域55に当たり、こうして標本面70の方向にさらに伝搬される。
第1の光線集光ミラー51に到達した場合、第2および第3の格子32および33の0次回折次数の光線強度は、第2の光線集光ミラー52の中央領域59のためにすでに減衰されている。それにもかかわらず、0次回折次数の光は、さまざまな格子31〜33から同じような強度を持って試料へとさらに伝搬されるべきである。このため第1の光線集光ミラー51の中央領域56の光の透過性は50%超が選択されている。例えば中央領域56はパーセント率で、反射する光の2倍の大きさの光の割合を透過し得る。これによって、3つの格子31〜33全てからの0次回折次数の光15は、同一強度で2つの光線集光ミラー51、52を通って、標本面70の方向にさらに伝搬され得る。
さまざまな格子によって回折された光は、瞳平面内で、殊更僅かな重複領域を持つ。これゆえに光線集光ミラー51、52は、瞳平面の近傍に配置されることが好ましい。
瞳平面の領域で結合された光線断面は図1の部分画像54に概略的に示されている。この場合、全ての格子31〜33の0次回折次数の光は1つの中央領域に認めることができる。この中央領域の円周にそって、6個の照明されている領域を認めることができ、これらのうちそれぞれ2つは、3つの格子31〜33のうちの1次回折次数に由来するものである。この実施例では、光15は同時にではなく、前後して個々の格子31〜33へと伝搬されるということを考慮に入れなければならない。したがって、どんな時点でも、部分画像54の、中央領域と、1次回折次数に属する2つの領域だけが照明されている。
光15は光学系61および62を介してさらにビームスプリッタ63に伝搬され得る。ビームスプリッタ63は、光源10の光15に対しては反射性である、カラースプリッタ63であることが好ましい。これはまた光学系交換装置を備えることができ、光学系交換装置をもって光源10に使用されている波長に左右されて、複数のカラースプリッタの中から1つが光線経路内に取り付けられる。カラースプリッタ63を通って光15は対物レンズ65へと伝搬され、対物レンズは光15を標本面70上に集束する。そこには、蛍光発光が励起され得る、試料71が配置され得る。試料から出射されたサンプル光は対物レンズ65から、さらにまたカラースプリッタ63へと伝搬され、その透過と反射の間の境界波長はサンプル光が透過されるように選択されている。こうしてサンプル光は集束光学系75によって、空間的に解像する検出装置80上に集束される。
格子31〜33上での光15の偏光方向が標本面70まで維持されることが望ましい場合がある。これに関連して、偏光された光線のs波部分およびp波部分が光学系要素に当たる場合に、一般的に、さまざまな影響を受けることは問題である。結果として、光の偏光が変化する。この効果を最小限にするために、ビームスプリッタ63および光線集光ミラー51、52ならびにミラー53はペリスコープの形に配置されている。一般的に、ビームスプリッタ63の代わりに他のミラーが、光線経路内の構成要素51、52、53の後方に、これらと共にペリスコープを形成するために、配置されることもできる。
ペリスコープでは、光15の反射によって、ビームスプリッタ63上に、光線集光ミラー51、52およびミラー53への偏向方向とは反対の方向への光15の偏向が起こる。図1に示されている例では光は格子31〜33から光線集光ミラー51、52およびミラー53上で右へと、試料の方向へさらに伝搬され、ビームスプリッタ63上で左へとさらに伝搬される。これによって構成要素51、52、53上での望まれない偏光への影響は、ビームスプリッタ63での反対への偏光の変更によって対処される。
さまざまな格子31〜33への3つの光線経路の1つを選択することで、さまざまな格子の方向付けから選択することができる。構造化された照明を基礎とした高解像度の画像を演算処理するためには、加えて位相偏移が必要である。このためには設定装置が存在し得、設定装置は格子31〜33を相互に独立して、ずらすことおよび回転させることのうちの少なくとも1つを行うことができる。代替としてそれぞれの格子31〜33の後方に、光学的屈折媒体41〜43が配置されていることができ、これらを揺動板(Wackelplatte)と名付けることができる。この揺動板41〜43は設定装置を介して動かすことができ、また例えば摺動移動させることができる光透過性の楔、または傾斜可能な光線透過板を備えている。それぞれの揺動板41〜43は代替として液晶領域で形成されていることも可能であり、その液晶は2つまたはそれ以上の設定位置に切替え可能である。いずれにしても、構造化された照明光の位相偏移は達成される、すなわち格子線の投影は、格子線の経過する方向に対して横方向へずらされる。各々の格子方向に対して少なくとも3枚または少なくとも5枚の試料71の画像が、さまざまな位相偏移で撮影され、続いて一緒に演算処理されることが好ましい。
設定装置は、格子31〜33および揺動板41〜43のうちの少なくとも一方を調整するために位相偏移時間を必要とする。これは通常、格子31〜33のさまざまな光線経路間を切り替えるため、偏向ミラー20の切替え時間より長い。標本映像の2つの撮影間の測定中断時間は、原則的に偏向ミラー20の切替え時間および位相偏移時間のうちの少なくとも一方で条件付けられ得る。
別の格子への別の光線経路が照明されている間に、1つの光線経路内で位相偏移が実施されることが好ましい。すなわち2つの標本映像が直接連続して同じ光線経路を介して、さまざまな位相偏移で撮影されるのではない。この場合、測定中断時間は位相偏移時間で決まるであろう。むしろ2つの直接連続する標本映像は、常に異なった光線経路を介して撮影される。
これによって位相偏移時間よりも短く、また特に偏向ミラー20の切替え時間に対応できる測定中断時間を達成することができる。
構造化された照明の方向付けと位相とは無関係に、全ての標本映像は同一の光線強度で撮影されるべきである。しかしながら、選択された光学系コンポーネント31〜33次第で、光15は別々の光ファイバ26、27を介して伝搬され、光ファイバは例えば異なった連結損失のために、一般的に異なる光線損失を引き起こす。
それにもかかわらず、光ファイバ26、27で同じ出射強度を達成するために、AOTF14を用いて強度調整を行うことができる。このために、電子式制御手段が、偏向ミラー20の調節に左右されて、AOTF14を制御する。1つの光ファイバへの光がより僅かな光線損失で伝搬される場合は、こうしてAOTF14は光をより大きく減衰する。
図1に示されている実施形態は、任意の数の独自の光線経路を伴うさらなる光学系コンポーネントを追加することができる。このさらなる光学系コンポーネントは、さらにまた、他の方向付けの格子投影像を形成する。この場合に、これらの光線経路の光も付加的な光線集光ミラーを介して共通の光線経路に結合される。1つの光線経路の光15が、全ての光線集光ミラーを通過しなければならないということを回避するために、これらの光線集光ミラーは、一列の配列に代わって、複数列に配分されて配置可能である。この複数列の光線経路は、続いて光線集光ミラーで1つにされる。
本発明の光学顕微鏡110および本発明の光学装置100によって、有利なことに、さまざまな格子方向の投影画像間の、特により短い時間での交換が可能になる。この際の光線損失は僅かで、また機器の経費も比較的低く保たれ得る。
10 光源
12 ダイクロイックミラーの階段状ミラー
14 音響光学可変波長フィルタ(AOTF)
15 光
20 偏向素子,偏向ミラー
22 偏光方向変更手段、λ/2板
23 偏光ブロック
24 ミラー
26、27 光ファイバ
28、29 光ファイバ切り離し光学系、コリメータ
30 ミラー
31 第1の光学系コンポーネント、第1の格子
32 第2の光学系コンポーネント、第2の格子
33 第3の光学系コンポーネント、第3の格子
34、36 偏光方向変更手段、λ/2板
35 偏光ビームスプリッタ
41、42、43 位相板
44、45、46 集束光学系
51、52 第1および第2の光線集光ミラー
53 ミラー
54 光線集光ミラーの後方の光線強度の分布
55 第1の光線集光ミラーの反射領域
56 第1の光線集光ミラーの部分透過性の中央領域
57 第1の光線集光ミラーの光透過性領域
58 第2の光線集光ミラーの反射領域
59 第2の光線集光ミラーの部分透過性の中央領域
60 第2の光線集光ミラーの光透過性領域
61、62 光学系
63 ビームスプリッタ、カラースプリッタ
65 対物レンズ
70 標本面
71 試料
75 集束光学系
80 検出装置
100 光学装置
110 光学顕微鏡

Claims (23)

  1. 照射光線(15)からの構造化された照明光(15)を提供するために少なくとも1つの第1の光学系コンポーネントおよび1つの第2の光学系コンポーネント(31,32)を備える、光学顕微鏡の光線経路内に位置決めするための光学装置であって、
    光(15)が異なる光線経路を介してさまざまな光学系コンポーネント(31,32,33)へ、さらに試料(71)の方向へと伝搬され、
    電子式制御手段を備え、この電子式制御手段が該異なる光線経路からさまざまな該光学系コンポーネント(31,32,33)へ、ある時点においてそれぞれ1つの光線経路を照明するように設定されており、さまざまな該光学系コンポーネント(31,32,33)から来る該光(15)を該試料(71)の方向における共通の光線経路へ導くための少なくとも1つの第1の光線集光ミラー(51)が存在し、
    該第1の光線集光ミラー(51)が、2つの光学系コンポーネント(31,32)の1つからの該光(15)のみが当たる反射領域(55)を持ち、
    該第1の光線集光ミラーが、他の該光学系コンポーネント(32,31)からの該光(15)のみが当たる光線透過領域(57)を持つことを特徴とする光学装置。
  2. 前記照射光線(15)からの前記構造化された照明光(15)を形成するための少なくとも1つの第3の光学系コンポーネント(33)を備え、
    前記第2および第3の光学系コンポーネント(32,33)から来る前記光(15)を、1つの共同の光線経路で前記第1の光線集光ミラー(51)へと導く、第2の光線集光ミラー(52)を備え、
    該第2の光線集光ミラー(52)が、前記第2の光学系コンポーネント(32)からの前記光(15)のみが当たる反射領域(58)と、前記第3の光学系コンポーネント(33)からの前記光(15)のみが当たるか、またはその逆に光が当たる光線透過領域(60)を備えることを特徴とする請求項1に記載の光学装置。
  3. 前記光学系コンポーネント(31,32,33)がそれぞれ1つの格子(31,32,33)を備えることを特徴とする請求項1または2に記載の光学装置。
  4. 前記構造化された照明光(15)を形成するための1つの格子が、1つの共同の光線経路内に、さまざまな前記光学系コンポーネント(31,32,33)への異なった光線経路より手前に配置されており、
    前記光学系コンポーネント(31,32,33)がそれぞれ1つの画像野ロータを備え、この場合、該画像野ロータを用いて、異なった方向付けの前記構造化された照明光(15)が提供されることを特徴とする請求項1または2に記載の光学装置。
  5. 光線集光ミラー(51,52)の1つが、平面内に配置され、その平面内で分光が、格子(31,32,33)上での分光のフーリエ変換として測定されるか、または
    前記2つの光線集光ミラー(51,52)が、平面の異なる側面上に配置され、その平面内で分光が、前記格子(31,32,33)上での分光のフーリエ変換として測定されることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の光学装置。
  6. 前記第1の光線集光ミラー(51)が、
    0次回折次数に回折され、かつ前記第1の光学系コンポーネント(31)の光線経路を介して伝搬される前記光(15)が、前記第1の光線集光ミラー(51)の中央領域(56)に当たるように配置され、
    0次回折次数に回折され、かつ前記第2の光学系コンポーネント(32)の光線経路を介して伝搬される前記光(15)が、該中央領域(56)に当たるように配置され、
    該中央領域(56)が部分透過性であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の光学装置。
  7. 第2の光線集光ミラー(52)が
    0次回折次数に回折され、かつ前記第2の光学系コンポーネント(32)の光線経路を介して伝搬される前記光(15)が、前記第2の光線集光ミラー(52)の中央領域(59)に当たるように配置され、
    0次回折次数に回折され、かつ第3の光学系コンポーネント(33)の光線経路を介して伝搬される前記光(15)が、前記第2の光線集光ミラー(52)の該中央領域(59)に当たるように配置され、かつ
    前記第2の光線集光ミラー(52)の該中央領域(59)が部分透過性であり、
    前記第1の光線集光ミラー(51)の前記中央領域(56)が、前記第2の光線集光ミラー(52)の該中央領域(59)よりもより高い光透過性を持つことを特徴とすることを特徴とする請求項2乃至6のいずれか1項に記載の光学装置。
  8. 異なった前記光学系コンポーネント(31,32,33)から来る光束(15)に関して、前記光線集光ミラー(51,52)上での入射強度に対する光線損失のパーセンテージ率が同一であるように、前記光線集光ミラー(51,52)の前記反射領域および光透過性領域(55,57,58,60)が配置され、かつ前記光線集光ミラー(51,52)の中央領域(56,59)の光透過性が選択されていることを特徴とする請求項2乃至7のいずれか1項に記載の光学装置。
  9. 異なった方向付けの格子投影像を標本面(70)上に形成するために、前記光学系コンポーネント(31,32,33)の画像野ロータおよび格子(31,32,33)のうちの少なくとも一方が相対して異なった方向付けとなるように備えられ、
    さまざまな格子方向の結像をすることで、第1の格子(31)によって1次回折次数に回折される前記光(15)と、第2の格子(32)によって1次回折次数に回折される前記光(15)は、前記第1の光線集光ミラー(51)上の異なった領域(55,57)に当たり、
    これらの該異なる領域(55,57)が前記反射領域(55)と光透過性領域(57)によって形成され、その結果、前記第1の格子(31)からのみでなく前記第2の格子(32)からの1次回折次数の前記光(15)も該標本面(70)の方向へと伝搬されることを特徴とする請求項1乃至3または5乃至8のいずれか1項に記載の光学装置。
  10. 特定の前記光学系コンポーネント(31,32,33)へ照射する光線経路を選択するために、調節可能な偏向素子(20)を持ち、この偏向素子をもって選択可能な前記光(15)を前記光学系コンポーネント(31,32,33)の1つへ偏向することができることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の光学装置。
  11. 前記光(15)を前記偏向素子(20)から前記光学系コンポーネント(31,32,33)へと導くための光ファイバ(26,27)を備えることを特徴とする請求項10に記載の光学装置。
  12. 前記光ファイバ(26,27)が偏波保存性であり、
    各々の前記光ファイバ(26,27)は軸性の回転配向に配置され、この場合、出射する光(15)の偏光方向は、それぞれの前記光ファイバ(26,27)から出射する前記光(15)が到達するところの、1つの格子(31,32,33)の格子のストライプの方向に対して平行であることを特徴とすることを特徴とする請求項11に記載の光学装置。
  13. 前記光ファイバ(26,27)の手前に音響光学素子(14)が備えられ、
    音響光学素子のために前記電子式制御手段が設けられ、該音響光学素子(14)を用いて、どの前記光ファイバ(26,27)に前記光(15)がさらに伝搬されるかに依存して前記光(15)の強度を変更し、その結果、全ての前記光ファイバ(26,27)で同じ光線強度で出射するようにするか、または前記光線集光ミラー(51,52)の背後で、さまざまな前記光学系コンポーネント(31,32,33)から来る光束(15)が同じ光線強度を持つようすることを特徴とする請求項11または12に記載の光学装置。
  14. 第1および第2の光線経路上の前記光(15)が前記偏向素子(20)によって第1の光ファイバ(27)へと偏向可能であり、該第1の光線経路内に、該第2の光線経路上の光の偏光方向に対して垂直に位置する、光の偏光方向を形成するための偏光方向変更手段(22)が配置されており、
    該第1の光線経路と該第2の光線経路を結合するための偏光ブロック(23)を備え、
    前記第1の光ファイバ(27)が、該偏光ブロック(23)で結合された光線経路が前記第1の光ファイバ(27)に当たるように配置され、
    前記第1の光ファイバ(27)の後方に、偏光ビームスプリッタ(35)が配置されており、偏光ビームスプリッタは、前記光(15)をその偏光方向次第で前記光学系コンポーネント(32)の1つへの光線経路へまたは1つの別の前記光学系コンポーネント(33)の別の光線経路へと導くことを特徴とする請求項11乃至13のいずれか1項に記載の光学装置。
  15. 前記光学系コンポーネント(31,32,33)の1つによって提供される、構造化された照明光を変更するために、前記光学系コンポーネント(31,32,33)を移動するための設定装置が相互に独立して存在し、
    電子的制御手段が、測定中断時間を減少するために、前記光学系コンポーネント(32,33)の別の1つへの光線経路が選択されている間に、1つまたは複数の前記光学系コンポーネント(31)を移動するように設定されていることを特徴とする請求項1乃至14のいずれか1項に記載の光学装置。
  16. 前記光学系コンポーネント(31,32,33)の1つを用いて提供される構造化された照明の位相偏移のために、少なくとも1つの位相板(44,45,46)を備え、この位相板が、構造化された照明光(5)の位相にさまざまに影響する、異なる設定を生じさせることができることを特徴とする請求項1乃至15のいずれか1項に記載の光学装置。
  17. 電子的制御手段は測定中断時間を減少するために、別の1つの光学系コンポーネント(32,33)への光線経路が選択されている間に、前記光学系コンポーネント(31)の1つの光線経路内にある、複数の前記位相板(44)の1つを変位するように設定されていることを特徴とする請求項16に記載の光学装置。
  18. 前記光学系コンポーネント(31,32,33)を使用して提供された、前記構造化された照明の方向付けを変更するために、光線集光ミラー(51,52)の後方の前記光線経路内に画像野ロータが存在し、
    該画像野ロータの回転のための設定装置が設けられていることを特徴とする請求項1乃至17のいずれか1項に記載の光学装置。
  19. 電子的制御手段が広視野照明を提供するために、前記光(15)を格子(31,32,33)の無い光線経路へ偏向することができるように設定され、かつ
    前記光(15)を該広視野照明へと、また前記格子(31,32,33)から来る前記光(15)を共通の光線経路上を前記試料(71)の方向へと、代替として導くための手段が存在することを特徴とする請求項1乃至18のいずれか1項に記載の光学装置。
  20. 前記光線経路内の光線集光ミラー(51,52)の後方に、前記光学顕微鏡の対物レンズ(65)の照明を適合させるためのズーム光学系(61)が存在することを特徴とする請求項1乃至19のいずれか1項に記載の光学装置。
  21. 光学顕微鏡であって、
    観察する試料(71)を位置付けすることができる1つの標本面(70)と、
    少なくとも1つの、該標本面(70)の方向へ光(15)を射出する光源(10)とを備え、
    該光源(10)と該標本面(70)の間に、請求項1乃至20のいずれか1項に記載の光学装置を備えることを特徴とする光学顕微鏡。
  22. 前記光線集光ミラー(51,52)の1つが瞳平面上に配置されているか、または
    2つの前記光線集光ミラー(51,52)が該瞳平面の異なる側面上に配置されていることを特徴とする請求項21に記載の光学顕微鏡。
  23. ダイクロイックミラー(63)を備え、該ダイクロイックミラーが前記光線集光ミラー(51,52)から来る前記光(15)を前記試料(71)へと反射し、前記試料(71)からくるサンプル光を検出装置(80)の方向へと透過し、
    前記光(15)の偏光を維持するために、前記光線集光ミラー(51,52)および該ダイクロイックミラー(63)をペリスコープの形に配置することを特徴とする請求項21または22に記載の光学顕微鏡。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017161793A (ja) * 2016-03-10 2017-09-14 シスメックス株式会社 光学機器、位相板および像の形成方法
JP2019509463A (ja) * 2016-12-22 2019-04-04 アドバンスド オプティカル テクノロジーズ,インク. 複数の独立した調整可能チャネルを有する偏光計、および、物質および物体を分類および認識する方法
JP2019532347A (ja) * 2016-10-17 2019-11-07 カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh 走査顕微鏡及び顕微鏡のためのビーム操作デバイス
KR20200019147A (ko) * 2018-01-16 2020-02-21 일루미나, 인코포레이티드 멀티-암 구조화 조명 이미징
US11867891B2 (en) 2016-12-22 2024-01-09 Advanced Optical Technologies, Inc. Polarimeter with multiple independent tunable channels and method for material orientation imaging
WO2024075895A1 (ko) * 2022-10-05 2024-04-11 주식회사 브이픽스메디칼 공초점 형광 현미경을 이용한 이미지 처리 시스템

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6846441B2 (ja) 2016-02-01 2021-03-24 ケーエルエー コーポレイション 物体の表面の光学的三次元トポグラフィ計測システム
DE102017109645A1 (de) * 2017-05-05 2018-11-08 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lichtmikroskop und Verfahren zum Bereitstellen von strukturiertem Beleuchtungslicht
DE102017207611A1 (de) * 2017-05-05 2018-11-08 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Beleuchtungsvorrichtung zur Strukturierung von Beleuchtungslicht und Verfahren zu deren Betrieb
NL2020619B1 (en) 2018-01-16 2019-07-25 Illumina Inc Dual optical grating slide structured illumination imaging
NL2020622B1 (en) * 2018-01-24 2019-07-30 Lllumina Cambridge Ltd Reduced dimensionality structured illumination microscopy with patterned arrays of nanowells
NL2022286B1 (en) * 2018-09-19 2020-05-07 Illumina Inc Structured illumination of a sample
US10901202B2 (en) 2018-09-19 2021-01-26 Illumina, Inc. Structured illumination of a sample
DE102018124984A1 (de) * 2018-10-10 2020-04-16 Friedrich-Schiller-Universität Jena Verfahren und Vorrichtung zur hochaufgelösten Fluoreszenzmikroskopie
DE102019129932B4 (de) * 2019-11-06 2023-12-21 Technische Universität Braunschweig Optische Detektionseinrichtung und Verfahren zum Betreiben einer optischen Detektionseinrichtung
CN116015452B (zh) * 2023-03-24 2023-06-30 南昌大学 一种透射反射联合的多ris可见光通信方法及系统

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003248175A (ja) * 2001-12-10 2003-09-05 Carl Zeiss Jena Gmbh 試料内で励起および/または後方散乱を経た光ビームの光学的捕捉のための配置
JP2005205469A (ja) * 2004-01-23 2005-08-04 Sumitomo Heavy Ind Ltd レーザ加工装置及びレーザ加工方法
JP2007199397A (ja) * 2006-01-26 2007-08-09 Nikon Corp 顕微鏡装置
JP2007199571A (ja) * 2006-01-30 2007-08-09 Nikon Corp 顕微鏡装置
JP2007279287A (ja) * 2006-04-05 2007-10-25 Nikon Corp 構造化照明光学系、及びそれを備えた構造化照明顕微鏡
US20100108873A1 (en) * 2007-04-13 2010-05-06 Michael Schwertner Method and assembly for optical reproduction with depth discrimination
JP2012078802A (ja) * 2010-10-01 2012-04-19 Carl Zeiss Microimaging Gmbh 顕微鏡および顕微鏡検査法
WO2012049831A1 (ja) * 2010-10-14 2012-04-19 株式会社ニコン 構造化照明装置、構造化照明顕微鏡装置、及び面形状測定装置

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4769551A (en) * 1986-06-27 1988-09-06 Nippon Kogaku K.K. Pattern detecting apparatus utilizing energy beam
US5866911A (en) * 1994-07-15 1999-02-02 Baer; Stephen C. Method and apparatus for improving resolution in scanned optical system
US5671085A (en) 1995-02-03 1997-09-23 The Regents Of The University Of California Method and apparatus for three-dimensional microscopy with enhanced depth resolution
DE10241472B4 (de) * 2002-09-04 2019-04-11 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Anordnung zur einstellbaren Veränderung von Beleuchtungslicht und/oder Probenlicht bezüglich seiner spektralen Zusammensetzung und/oder Intensität
ATE356968T1 (de) * 2003-05-16 2007-04-15 Univ Bruxelles Digitales holographisches mikroskop für dreidimensionale abbildung und verfahren zu dessen verwendung
US7642536B2 (en) * 2005-01-16 2010-01-05 Baer Stephen C Real-time high-magnification stereoscopic microscope
US7485875B2 (en) * 2005-07-22 2009-02-03 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Resolution-enhanced luminescence microscopy
DE102005037818A1 (de) * 2005-08-08 2007-02-15 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop
US8357917B2 (en) * 2005-09-10 2013-01-22 Baer Stephen C High resolution microscopy using an optically switchable fluorophore
DE102006046369A1 (de) * 2006-09-29 2008-04-03 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Auflösungsgesteigerte Lumineszenzmikroskopie
DE102006047912A1 (de) 2006-10-06 2008-04-10 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren und Anordnung zur parallelisierten mikroskopischen Bildgebung
JP5136422B2 (ja) * 2006-12-12 2013-02-06 株式会社ニコン 顕微鏡装置及び画像処理方法
DE102007018922A1 (de) * 2007-02-12 2008-08-14 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop
JP5189301B2 (ja) * 2007-03-12 2013-04-24 オリンパス株式会社 レーザー走査型顕微鏡
JP5206681B2 (ja) * 2007-09-05 2013-06-12 株式会社ニコン 構造化照明顕微鏡装置
FR2922658B1 (fr) * 2007-10-18 2011-02-04 Centre Nat Rech Scient Systeme d'illuminations structuree d'un echantillon
US20090219607A1 (en) * 2008-01-17 2009-09-03 Baylor College Of Medicine Method and apparatus for enhanced resolution microscopy of living biological nanostructures
WO2011072175A2 (en) * 2009-12-09 2011-06-16 Applied Precision, Inc. Method and system for fast three-dimensional structured-illumination-microscopy imaging
JP5452713B2 (ja) 2010-04-26 2014-03-26 株式会社ニコン 構造化照明光学系および構造化照明顕微鏡装置
US9494781B2 (en) * 2011-01-19 2016-11-15 California Institute Of Technology Plane-projection multi-photon microscopy
JP6033798B2 (ja) * 2011-03-01 2016-11-30 ジーイー・ヘルスケア・バイオサイエンス・コーポレイション 蛍光顕微鏡検査法における照明位相制御のためのシステムおよび方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003248175A (ja) * 2001-12-10 2003-09-05 Carl Zeiss Jena Gmbh 試料内で励起および/または後方散乱を経た光ビームの光学的捕捉のための配置
JP2005205469A (ja) * 2004-01-23 2005-08-04 Sumitomo Heavy Ind Ltd レーザ加工装置及びレーザ加工方法
JP2007199397A (ja) * 2006-01-26 2007-08-09 Nikon Corp 顕微鏡装置
JP2007199571A (ja) * 2006-01-30 2007-08-09 Nikon Corp 顕微鏡装置
JP2007279287A (ja) * 2006-04-05 2007-10-25 Nikon Corp 構造化照明光学系、及びそれを備えた構造化照明顕微鏡
US20100108873A1 (en) * 2007-04-13 2010-05-06 Michael Schwertner Method and assembly for optical reproduction with depth discrimination
JP2012078802A (ja) * 2010-10-01 2012-04-19 Carl Zeiss Microimaging Gmbh 顕微鏡および顕微鏡検査法
WO2012049831A1 (ja) * 2010-10-14 2012-04-19 株式会社ニコン 構造化照明装置、構造化照明顕微鏡装置、及び面形状測定装置

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7290907B2 (ja) 2016-03-10 2023-06-14 シスメックス株式会社 光学機器および像の形成方法
JP2017161793A (ja) * 2016-03-10 2017-09-14 シスメックス株式会社 光学機器、位相板および像の形成方法
US11598952B2 (en) 2016-03-10 2023-03-07 Sysmex Corporation Optical device, phase plate, and image forming method
JP7112391B2 (ja) 2016-10-17 2022-08-03 カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハー 走査顕微鏡及び顕微鏡のためのビーム操作デバイス
JP2019532347A (ja) * 2016-10-17 2019-11-07 カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh 走査顕微鏡及び顕微鏡のためのビーム操作デバイス
US11668916B2 (en) 2016-10-17 2023-06-06 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Beam manipulation device for a scanning microscope, and microscope
US10540571B2 (en) 2016-12-22 2020-01-21 Advanced Optical Technologies, Inc. Polarimeter with multiple independent tunable channels and method for material and object classification and recognition
JP2019509463A (ja) * 2016-12-22 2019-04-04 アドバンスド オプティカル テクノロジーズ,インク. 複数の独立した調整可能チャネルを有する偏光計、および、物質および物体を分類および認識する方法
US11867891B2 (en) 2016-12-22 2024-01-09 Advanced Optical Technologies, Inc. Polarimeter with multiple independent tunable channels and method for material orientation imaging
KR102303506B1 (ko) 2018-01-16 2021-09-17 일루미나, 인코포레이티드 멀티-암 구조화 조명 이미징
JP2021502582A (ja) * 2018-01-16 2021-01-28 イラミーナ インコーポレーテッド マルチアーム構造化照明撮像
KR20200019147A (ko) * 2018-01-16 2020-02-21 일루미나, 인코포레이티드 멀티-암 구조화 조명 이미징
US11675175B2 (en) 2018-01-16 2023-06-13 Illumina, Inc. Multi-arm structured illumination imaging
WO2024075895A1 (ko) * 2022-10-05 2024-04-11 주식회사 브이픽스메디칼 공초점 형광 현미경을 이용한 이미지 처리 시스템

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