JP2015191347A - 透明導電性フィルム積層体およびタッチパネルの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】PETフィルムの片面にインジウム−錫複合酸化物層を有する透明導電性フィルムと、PETフィルムの片面に粘着剤層を有する保護フィルムとが、複合酸化物層が外側になるように粘着剤層を介して貼り合わされた透明導電性フィルム積層体において、透明導電性フィルムの140℃90分加熱後におけるMD方向の収縮率と、保護フィルムの140℃90分加熱後におけるMD方向の収縮率との差の絶対値は0.15%以下であり、透明導電性フィルムの140℃90分加熱後におけるTD方向の収縮率と、保護フィルムの140℃90分加熱後におけるTD方向の収縮率との差の絶対値は0.20%以下であり、且つ、両フィルムはMD方向が平行となるように貼り合わされ、透明導電性フィルムの分子配向角度と前記保護フィルムの分子配向角度のなす狭角が10°未満である。
【選択図】図1
Description
以下、本発明の好ましい実施の形態について図面を参照しつつ説明する。図1および図2はベースフィルムであるポリエチレンテレフタレートフィルム20上にインジウム−錫複合酸化物層10を有する透明導電性フィルム30と、ベースフィルムであるポリエチレンテレフタレートフィルム50上に粘着剤層40を有する保護フィルム60において、透明導電性フィルム30のインジウム−錫複合酸化物層を有さない側の面に保護フィルムを貼り合わせてなる透明導電性フィルム積層体70を示している。
(ポリエチレンテレフタレートフィルム20)
透明導電性フィルム30を構成するポリエチレンテレフタレートフィルム20は、少なくとも可視光領域で無色透明であるものが好ましい。
透明導電性フィルム30を構成するインジウム−錫複合酸化物層10はインジウム−スズ複合酸化物(Indium Tin Oxide)からなる金属酸化物薄膜である。インジウム−錫複合酸化物層10を構成する金属酸化物薄膜は非晶質であることが好ましい。非晶質であることで、ハンドリング時にインジウム−錫複合酸化物層10に割れが生じにくくなったり、パターン形成が容易になったりする傾向にある。本明細書において、「非晶質」とは、完全に結晶化されていないものを指し、膜中に一部(80%以下)の結晶質部分を含んでいてもよい。膜中の結晶質部分の含有量は、走査型電子顕微鏡(SEM)などの顕微鏡観察時において観察視野内で結晶粒が占める面積の割合から求められる。
(ポリエチレンテレフタレートフィルム50)
保護フィルム60を構成するポリエチレンテレフタレートフィルム50は、少なくとも可視光領域で無色透明であるものが好ましい。
粘着剤層40を形成する粘着剤としては、再剥離用粘着剤(アクリル系、ゴム系、合成ゴム系等)を好適に使用できる。なかでも組成により粘着力をコントロールし易いアクリル系粘着剤が好ましい。アクリル系粘着剤を用いることで、タッチパネルを加工する過程で求められる適度な粘着性と軽剥離性、耐候性を備えることができる。粘着剤層は高密度に架橋されていることが好ましい。
本発明の透明導電性フィルム積層体70はポリエチレンテレフタレートフィルム20とポリエチレンテレフタレートフィルム50のMD方向を合わせて透明導電性フィルム30と保護フィルム70が積層されてなる。MD方向を合わせて貼り合わせするとロール・トゥ・ロール方式で生産した時の生産性が良くなるため好ましい。
本発明において、透明導電性フィルム30の140℃90分加熱後のMD方向の収縮率と保護フィルム60の140℃90分加熱後のMD方向の収縮率の差の絶対値は0.15%以下であり、透明導電性フィルム30の140℃90分加熱後のTD方向の収縮率と保護フィルム60の140℃90分加熱後のTD方向の収縮率の差の絶対値は0.20%以下である。さらに好ましくは、透明導電性フィルム30の140℃90分加熱後のMD方向の収縮率と保護フィルム60の140℃90分加熱後のMD方向の収縮率の差の絶対値は0.15%以下であり、透明導電性フィルム30の140℃90分加熱後のTD方向の収縮率と保護フィルム60の140℃90分加熱後のTD方向の収縮率の差の絶対値は0.17%以下である。この範囲を外れると、加熱処理時の収縮により加熱処理直後のカールが大きくなる。加熱処理直後のカールが大きいと配線形成などの次工程以降でのハンドリングに悪影響を与え、配線形成の精度が低下する、生産性が低下する、歩留りが下がる、生産設備によっては生産できなくなるなどの問題が発生するため好ましくない。
式: 熱収縮率(%)=100×(L0−L)/L0
によって得られる。
本発明において、透明導電性フィルム30の分子配向角と保護フィルム60の分子配向角のなす狭角は10°未満である。さらに好ましくは、透明導電性フィルム30の分子配向角と保護フィルム60の分子配向角のなす狭角は7.3°以下である。分子配向角は図3に示すように、フィルムのTD方向を0°とし、TD方向と分子の配向方向とがなす狭角に図3に従って符号をつけ、−90°〜90°で表記する。
本発明のカールは透明導電性フィルム積層体70の寸法をMD方向に297mm、TD方向に210mmにカットしたものを、透明導電性フィルム30を上にして厚さ0.7mmのアルミニウム平板上において140℃90分加熱した後に気温23℃湿度50%の環境下におき、透明導電性フィルム積層体70を置いた平板面に対して、透明導電性フィルム積層体70の4隅の位置のうち最も高いものを定規で測定することで求められる。
本発明の透明導電性フィルム積層体70は、ディスプレイや発光素子、光電変換素子等の透明電極として用いることができ、タッチパネル用の透明電極として好適に用いられ、特に静電容量方式タッチパネルに好ましく用いられる。
分子配向角はMD方向とTD方向を明記した試料をシンテック社製汎用偏光解析装置Optiproで測定することにより求めた。
透明導電性フィルムのベースフィルムとして、両面に1.5μmのハードコート層が形成されており、透明導電層を形成する側のハードコート層の上に厚さ30nmの高屈折率光学調整層と厚さ40nmの低屈折率層がこの順に積層された、フィルム製造時のTD方向中央から1100mmの位置から得られた厚さ50μmのポリエチレンテレフタレートフィルムを用いた。このポリエチレンテレフタレートフィルムを、巻取式スパッタ製膜装置内に導入し100℃で45秒加熱した後に、スパッタリング法により厚さ20nmのインジウム−錫複合酸化物層を形成した。
透明導電性フィルムと保護フィルムの分子配向角を測定した。透明導電性フィルムと保護フィルムの収縮率を測定した。透明導電性フィルム積層体を用いてカールの測定を実施した。
透明導電性フィルムのベースフィルムとして、両面に1.5μmのハードコート層が形成されており、透明導電層を形成する側のハードコート層の上に厚さ30nmの高屈折率光学調整層と厚さ40nmの低屈折率層がこの順に積層された、フィルム製造時のTD方向中央の位置から得られた厚さ50μmのポリエチレンテレフタレートフィルムを用いた。このポリエチレンテレフタレートフィルムを、巻取式スパッタ製膜装置内に導入し100℃で60秒加熱した後に、スパッタリング法により厚さ20nmのインジウム−錫複合酸化物層を形成した。
透明導電性フィルムと保護フィルムの分子配向角を測定した。透明導電性フィルムと保護フィルムの収縮率を測定した。透明導電性フィルム積層体を用いてカールの測定を実施した。
透明導電性フィルムとして実施例2の透明導電性フィルムを用いた。
保護フィルムとして、フィルム製造時のTD方向中央の位置から得られた厚み125μmのポリエチレンテレフタレートフィルムに厚み20μmのアクリル系粘着剤層を形成したものを用いた。
透明導電性フィルムと保護フィルムの分子配向角を測定した。透明導電性フィルムと保護フィルムの収縮率を測定した。透明導電性フィルム積層体を用いてカールの測定を実施した。
透明導電性フィルムとして実施例2の透明導電性フィルムを用いた。
保護フィルムとして、フィルム製造時のTD方向中央の位置から得られた厚み125μmのポリエチレンテレフタレートフィルムに厚み10μmのアクリル系粘着剤層を形成したものを用いた。
透明導電性フィルムと保護フィルムの分子配向角を測定した。透明導電性フィルムと保護フィルムの収縮率を測定した。透明導電性フィルム積層体を用いてカールの測定を実施した。
透明導電性フィルムとして実施例2の透明導電性フィルムを用いた。
保護フィルムとして、フィルム製造時のTD方向中央の位置から得られた厚み125μmのポリエチレンテレフタレートフィルムに厚み10μmのアクリル系粘着剤層を形成したものを用いた。
透明導電性フィルムと保護フィルムの分子配向角を測定した。透明導電性フィルムと保護フィルムの収縮率を測定した。透明導電性フィルム積層体を用いてカールの測定を実施した。
透明導電性フィルムとして実施例2の透明導電性フィルムを用いた。
保護フィルムとして、フィルム製造時のTD方向中央から1400mmの位置から得られた厚み125μmのポリエチレンテレフタレートフィルムに厚み7μmのアクリル系粘着剤層を形成したものを用いた。
透明導電性フィルムと保護フィルムの分子配向角を測定した。透明導電性フィルムと保護フィルムの収縮率を測定した。透明導電性フィルム積層体を用いてカールの測定を実施した。
透明導電性フィルムのベースフィルムとして、両面に1.5μmのハードコート層が形成されており、透明導電層を形成する側のハードコート層の上に厚さ30nmの高屈折率光学調整層と厚さ40nmの低屈折率層がこの順に積層された、フィルム製造時のTD方向中央から1100mmの位置から得られた厚さ50μmのポリエチレンテレフタレートフィルムを用いた。このポリエチレンテレフタレートフィルムを、巻取式スパッタ製膜装置内に導入し100℃で45秒加熱した後に、スパッタリング法により厚さ20nmのインジウム−錫複合酸化物層を形成した。
この保護フィルムと透明導電性フィルムをラミネータ―で貼り合せ加熱前にカールしていない透明導電性フィルム積層体を得た。透明導電性フィルムと保護フィルムの分子配向角を測定した。透明導電性フィルムと保護フィルムの収縮率を測定した。透明導電性フィルム積層体を用いてカールの測定を実施した。
透明導電性フィルムのベースフィルムとして、両面に1.5μmのハードコート層が形成されており、透明導電層を形成する側のハードコート層の上に厚さ30nmの高屈折率光学調整層と厚さ40nmの低屈折率層がこの順に積層された、フィルム製造時のTD方向中央から1400mmの位置から得られた厚さ50μmのポリエチレンテレフタレートフィルムを用いた。このポリエチレンテレフタレートフィルムを、巻取式スパッタ製膜装置内に導入し100℃で60秒加熱した後に、スパッタリング法により厚さ20nmのインジウム−錫複合酸化物層を形成した。
この保護フィルムと透明導電性フィルムをラミネータ―で貼り合せ加熱前にカールしていない透明導電性フィルム積層体を得た。
透明導電性フィルムと保護フィルムの分子配向角を測定した。透明導電性フィルムと保護フィルムの収縮率を測定した。透明導電性フィルム積層体を用いてカールの測定を実施した。比較例3の透明導電性フィルム積層体は、カール測定のすべてのタイミングにおいて、カールが大きくなりすぎたことにより直径43mm以下の筒状となり測定不能な状態であった。
Claims (6)
- 厚さ15〜250μmのポリエチレンテレフタレートフィルムの片面にインジウム−錫複合酸化物層を有する透明導電性フィルムと、厚さ15〜250μmのポリエチレンテレフタレートフィルムの片面に粘着剤層を有する保護フィルムとが、前記複合酸化物層が外側になるように前記粘着剤層を介して貼り合わされた透明導電性フィルム積層体において、
前記透明導電性フィルムの140℃90分加熱後におけるMD方向の収縮率と、前記保護フィルムの140℃90分加熱後におけるMD方向の収縮率との差の絶対値は0.15%以下であり、
前記透明導電性フィルムの140℃90分加熱後におけるTD方向の収縮率と、前記保護フィルムの140℃90分加熱後におけるTD方向の収縮率との差の絶対値は0.20%以下であり、且つ、
前記透明導電性フィルムと前記保護フィルムは、MD方向が平行となるように貼り合わされ、前記透明導電性フィルムの分子配向角度と前記保護フィルムの分子配向角度のなす狭角が10°未満であることを特徴とする透明導電性フィルム積層体。 - 前記透明導電性フィルムおよび前記保護フィルムの140℃90分加熱後のMD方向の収縮率が共に0.70%以下であり、且つ、TD方向の収縮率が共に0.50%以下であることを特徴とする請求項1に記載の透明導電性フィルム積層体。
- 前記透明導電性フィルムのポリエチレンテレフタレートフィルムの厚みが20〜60μmであり、前記保護フィルムのポリエチレンテレフタレートフィルムの厚みが100〜150μmである請求項1又は2に記載の透明導電性フィルム積層体。
- 前記複合酸化物層が非晶質であり、前記粘着剤層がアクリル系粘着剤であることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の透明導電性フィルム積層体。
- 前記透明導電性フィルム積層体は、MD方向に297mm、TD方向に210mmになるように加工され、且つ、140℃90分の加熱工程を経た後に、
23℃湿度50%の環境に放置した時における、加熱終了直後から30分経時するまでの最大カール量変化の絶対値が10mm以下であり、且つ、加熱後30分経時までの最大カール量の絶対値も10mm以下であることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の透明導電性フィルム積層体。 - 請求項5に記載の透明導電性フィルム積層体を用いてタッチパネルを製造する方法であって、
前記透明導電性フィルム積層体へのタッチパネル製造のための加工工程は、前記140℃90分の加熱工程終了後、120分以内に行うことを特徴とするタッチパネルの製造方法。
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