JP2015108794A - 結像光学素子 - Google Patents

Abstract

【課題】遮光部材の貫通孔を通過するときに同貫通孔において反射される光によって、結像した光学像が不鮮明になることを抑制することができる結像光学素子を提供する。
【解決手段】ＣＩＳＭは、複数のレンズを互いの光軸Ｌが平行となるように列状に配したレンズアレイを備え、該レンズアレイの光軸方向における一方端側からの入射光学像を他方端側で結像させて像を形成する。ＣＩＳＭは、光を通過させる複数の貫通孔２０が配列方向Ｘに列状に設けられた遮光部材１３，１４をさらに備える。遮光部材１３，１４において、配列方向Ｘと交差する貫通孔２０の内壁面２１は、副走査方向Ｙと交差する反射面２２〜２４を有する。そして、反射面２２〜２４は、同反射面２２〜２４に入射する光を配列方向Ｘと交差する方向に反射する。
【選択図】図２

Description

本発明は、イメージスキャナーなどの画像読取装置に適用可能な結像光学素子に関する。

従来から、画像読取装置として、読取対象物に記録された文字や画像などの読み取りを行うイメージスキャナーが知られている。こうしたイメージスキャナーには、列状に配列された複数の撮像素子を有するイメージセンサーに読取対象物の光学像を正しく結像させるために、複数のレンズを列状に配列したレンズアレイと、複数のレンズに対応した貫通孔が形成された遮光部材とを有する結像光学素子を備えるものがある（例えば、特許文献１）。

そして、このような結像光学素子では、遮光部材が、結像に不要とされる光を遮光する一方で、貫通孔を介して結像に必要とされる光を通過させることで、イメージセンサーにおいて読取対象物の光学像が正しく結像されるようにしている。

特開２０００−２２１４４２号公報

ところで、上記のような結像光学素子において、遮光部材の貫通孔を通過する光には、貫通孔の内側面で反射されずにイメージセンサーに入射する光と、貫通孔の内側面で反射されてからイメージセンサーに入射する光とが含まれる。ここで、貫通孔の内側面で反射された光は、レンズの光軸から外れた方向に進むことで迷光となり、イメージセンサー上にて本来の結像位置と異なる位置で受光されやすい。この場合、そうした迷光がイメージセンサー上で光学像の結像に関与することで、結像した光学像が不鮮明になるという課題がある。

本発明は、上記課題に鑑みてなされたものである。その目的は、遮光部材の貫通孔を通過するときに同貫通孔において反射される光によって、結像した光学像が不鮮明になることを抑制することができる結像光学素子を提供することにある。

以下、上記課題を解決するための手段及びその作用効果について記載する。
上記課題を解決する結像光学素子は、複数のレンズを互いの光軸が平行となるように列状に配したレンズアレイを備え、該レンズアレイの光軸方向における一方端側からの入射光学像を他方端側で結像させて像を形成する。また、同結像光学素子は、前記レンズアレイにおける前記一方端側及び前記他方端側の少なくとも一方に配置され、光を通過させる複数の貫通孔が前記レンズアレイにおける前記レンズの配列方向である主走査方向と同方向に列状に設けられた遮光部材をさらに備える。そして、同結像光学素子において、前記主走査方向と交差する前記貫通孔の内壁面は、前記光軸方向及び前記主走査方向と直交する副走査方向と交差する反射面を有し、前記反射面は、同反射面に入射する光を前記主走査方向と交差する方向に反射する。

上記構成によれば、光軸方向において、一方端側から入射する光学像の光は、レンズアレイによって集光され他方端側に進む。また、光軸方向において、一方端側から入射する光学像のうち光軸から外れた光であって貫通孔に進入しない光は遮光部材で遮光され、同光学像のうち光軸に沿った光は遮光部材の貫通孔を通過して他方端側に進む。

そして、遮光部材において、光軸から外れた光が貫通孔に進入する場合、そうした光は、貫通孔の内壁面で反射され他方端側に進むことがある。ここで、上記構成では、配列方向（主走査方向）と交差する貫通孔の内壁面が、副走査方向と交差する反射面を有している。このため、反射面に入射する光は、配列方向と交差する方向に反射され、光軸に向かって反射されることが抑制される。例えば、光軸から配列方向に進む光が貫通孔の反射面に入射する場合、そうした光は配列方向と交差する方向に反射される。

したがって、光軸と直交する配列方向を長手方向とするライン上に入射光学像を結像する場合、遮光部材の貫通孔を通過するときに同貫通孔において反射される光（迷光）は、ライン上から副走査方向にずれた位置に入射し易くなる。こうして、遮光部材の貫通孔を通過するときに同貫通孔において反射される光（迷光）が、ライン上において結像に関与し難くなることで、結像した光学像が不鮮明になることを抑制することができる。

上記結像光学素子において、前記主走査方向と交差する前記貫通孔の内壁面は、複数の前記反射面を有することが好ましい。
上記構成によれば、貫通孔の内壁面の位置ごとに反射面の向きを変更することができる。このため、貫通孔の内壁面が単一の反射面を備える場合に比較して、内壁面の反射面において反射される光（迷光）を、上記ライン上から副走査方向にずれた位置に入射し易くすることができる。

上記結像光学素子において、前記主走査方向と交差する前記貫通孔の内壁面は、単一の前記反射面を有することが好ましい。
上記構成によれば、貫通孔の内壁面に複数の反射面を形成する場合に比較して、反射面を形成する手間やコストを低減することができる。

上記結像光学素子において、前記遮光部材は、少なくとも前記レンズアレイの前記一方端側に配置されることが好ましい。
上記構成によれば、結像光学素子の一方端側から他方端側に進む光のうち光軸から外れた光の多くがレンズアレイの一方端側に配置される遮光部材によって遮光されるため、結像に悪影響を与え得る光がレンズアレイに入射することが抑制される。このため、遮光部材をレンズアレイの一方端側に配置せず、遮光部材をレンズアレイの他方端側のみに配置する場合に比較して、結像した光学像が不鮮明になることを抑制することができる。

上記結像光学素子において、前記反射面は、平滑面且つ低反射面であることが好ましい。
上記構成によれば、反射面が粗面である場合には、同反射面に入射する光は各方向に反射（散乱）することになるため、光軸に向かって光を反射するおそれがある。これに対し、上記構成では、反射面を平滑面とするため、同反射面で反射される光は主に配列方向と交差する方向に反射されることとなり、光軸に向かって光が反射されることを抑制することができる。また、反射面を低反射面とすることにより、同反射面で反射する光を低減することができる。一例として、遮光部材を光吸収性（例えば黒色など）として、反射面を低反射面とすればよい。

上記結像光学素子において、前記貫通孔の前記光軸方向と直交する断面の面積は、前記他方端側に向かうに連れ次第に大きくなることが好ましい。
上記構成によれば、貫通孔の容積が等しいことを前提として、貫通孔の断面の面積を光軸方向において一定とする場合に比較して、一方端側の貫通孔の断面の面積が小さくなるため光軸から外れた光の多くを遮光することができる。また、貫通孔の断面の面積を光軸方向において一定とする場合に比較して、貫通孔を進む光が同貫通孔の内壁面で反射され難くすることができる。換言すれば、他方端側に向かうに連れ次第に大きくなる貫通孔の内壁面に沿って進む光は、貫通孔の断面の面積を光軸方向において一定とする場合には、同貫通孔の内壁面で反射されて他方端側に進み易くなる。こうして、上記構成の遮光部材によれば、一方端側から他方端側に進む光を貫通孔の内壁面で反射し難くすることができる。

上記結像光学素子において、前記貫通孔における前記光軸方向と直交する断面の面積は、前記他方端側に向かうに連れ次第に小さくなることが好ましい。
上記構成によれば、貫通孔の断面の面積を光軸方向において一定とする場合に比較して、一方端側から貫通孔の内壁面に入射する光を同一方端側に反射し易くなる。このため、貫通孔の内壁面で反射された光がレンズアレイの他方端側において、結像に関与することをさらに抑制することができる。

第１実施形態のＣＩＳＭの概略構成を示す斜視図。 （ａ），（ｂ），（ｃ）は、第１実施形態のＣＩＳＭが備える遮光部材の部分平面図。 ＣＩＳＭが読み取りの対象とする原稿を示す図。 比較例のＣＩＳＭにおける光の進行態様を説明する図であって、（ａ）は副走査方向と直交するＣＩＳＭの断面図、（ｂ）は配列方向と直交するＣＩＳＭの断面図、（ｃ）は第１遮光部材の平面図。 第１実施形態のＣＩＳＭにおける光の進行態様を説明する図であって、（ａ）は副走査方向と直交するＣＩＳＭの断面図、（ｂ）は配列方向と直交するＣＩＳＭの断面図、（ｃ）は第１遮光部材の平面図。 比較例のＣＩＳＭによる受光状態を示すグラフ。 第１実施形態のＣＩＳＭによる受光状態を示すグラフ。 第２実施形態のＣＩＳＭが備える遮光部材の部分平面図。 第２実施形態のＣＩＳＭによる受光状態を示すグラフ。 第３実施形態のＣＩＳＭが備える遮光部材の部分平面図。 第３実施形態のＣＩＳＭによる受光状態を示すグラフ。 第４実施形態のＣＩＳＭによる受光状態を示すグラフ。 第５実施形態のＣＩＳＭによる受光状態を示すグラフ。 第６実施形態のＣＩＳＭが備える第１遮光部材を示す図であって、（ａ）は部分平面図、（ｂ）は（ａ）における１４ｂ−１４ｂ線矢視断面図。 第６実施形態のＣＩＳＭが備える第２遮光部材を示す図であって、（ａ）は部分平面図、（ｂ）は（ａ）における１５ｂ−１５ｂ線矢視断面図。 第６実施形態に対する比較例のＣＩＳＭによる受光状態を示すグラフ。 第６実施形態のＣＩＳＭによる受光状態を示すグラフ。 貫通孔の回転角に対する明度の強度比を示すグラフ。 第１遮光部材及び第２遮光部材における貫通孔の回転角の角度差に対する明度の強度比を示すグラフ。 変形例の遮光部材を示す図であって、（ａ）は斜視図、（ｂ）は一部構成を簡略化した断面図。 他の変形例の遮光部材を示す図であって、（ａ）は斜視図、（ｂ）は一部構成を簡略化した断面図。 他の別の変形例の遮光部材の貫通孔を示す平面図。

（第１実施形態）
以下、結像光学素子をコンタクトイメージセンサーモジュール（以下、「ＣＩＳＭ（Contact Image Sensor Module）」ともいう）に具体化した一実施形態について、図面を参照して説明する。

図１に示すように、ＣＩＳＭ１０は、複数のレンズ１１を互いの光軸Ｌが平行となるように列状に配したレンズアレイ１２と、光を通過可能な貫通孔２０が設けられた第１遮光部材１３及び第２遮光部材１４と、リニア式のイメージセンサー１５を有する受光部１６とを備えている。また、第１遮光部材１３がレンズアレイ１２と対向する他方端側とは反対側となる一方端側には、読取対象物の一例としての原稿Ｐが載置される原稿台１７が設けられている。

なお、以降の説明では、レンズアレイ１２において複数のレンズ１１が配列する方向を「配列方向Ｘ」若しくは「主走査方向Ｘ」ともいい、レンズ１１の光軸Ｌの延びる方向（図１では上下方向）を「光軸方向Ｚ」ともいう。また、光軸方向Ｚにおいて、原稿Ｐ側を「一方端側」ともいい、受光部１６側を「他方端側」ともいう。そして、配列方向Ｘ（主走査方向Ｘ）及び光軸方向Ｚの両方向と直交する方向を「副走査方向Ｙ」ともいう。因みに、副走査方向Ｙは、ＣＩＳＭ１０が、原稿Ｐの読取を行う際に同原稿Ｐに対して相対的に移動する方向である。

レンズアレイ１２は、レンズ１１に入射する光をイメージセンサー１５に集光させるために設けられている。レンズアレイ１２としては、本実施形態のように棒状をなす複数のレンズ１１を配列したロッドレンズアレイを用いてもよいし、その他のレンズアレイを用いてもよい。また、イメージセンサー１５は、副走査方向Ｙに「１個」の撮像素子を有するとともに、配列方向Ｘに複数個（例えば「２０４８個」）の撮像素子を有している。このため、イメージセンサー１５は、配列方向Ｘの「１ライン」の像を撮像可能としている。

第１遮光部材１３及び第２遮光部材１４（以下、「遮光部材１３，１４」ともいう。）は、光軸方向Ｚにおいてレンズアレイ１２の一方端側及び他方端側に設けられている。遮光部材１３，１４は、配列方向Ｘを長手方向とし副走査方向Ｙを短手方向とする板状をなし、本実施形態では同一形状とされている。光軸方向Ｚにおける遮光部材１３，１４の一方端側の面は、同一方端側から他方端側に向かって進む光を遮光する遮光面１８となっている。また、遮光部材１３，１４において、隣り合う貫通孔２０の中心間距離は、レンズアレイ１２において隣り合うレンズ１１の中心間距離と等しくなっている。このため、光軸方向Ｚにおける平面視において、各レンズ１１の中心位置と各貫通孔２０の中心位置は一致しており、各貫通孔２０はレンズアレイ１２の各レンズ１１に対応して設けられている。

図２（ａ）に示すように、遮光部材１３，１４の貫通孔２０は、配列方向Ｘにおける長さ寸法が副走査方向Ｙにおける長さ寸法よりも短くなっている。また、貫通孔２０において、配列方向Ｘと交差する内壁面２１は、複数の反射面２２，２３，２４を有することで鋸歯状に形成され、副走査方向Ｙと交差する内壁面２５は、複数の反射面２６，２７，２８を有することで鋸歯状に形成されている。

図２（ａ），（ｂ）に示すように、配列方向Ｘと交差する内壁面２１は、副走査方向Ｙと４５度の角度で交差する反射面２２，２３と、副走査方向Ｙと９０度の角度で交差する（直交する）反射面２４とを有している。なお、反射面２２は配列方向＋Ｘと副走査方向＋Ｙの間をなす方向に沿う面とされ、反射面２３は配列方向＋Ｘと副走査方向−Ｙの間をなす方向に沿う面とされている。そして、内壁面２１において、配列方向＋Ｘ側且つ副走査方向＋Ｙ側及び配列方向−Ｘ側且つ副走査方向−Ｙ側の内壁面は、反射面２２と反射面２４とが交互に連続することで鋸歯状になっている。また、内壁面２１において、配列方向＋Ｘ側且つ副走査方向−Ｙ側及び配列方向−Ｘ側且つ副走査方向＋Ｙ側の内壁面は、反射面２３と反射面２４とが交互に連続することで鋸歯状になっている。また、内壁面２１において、光軸Ｌから配列方向＋Ｘ及び配列方向−Ｘに位置する内壁面は、反射面２２と反射面２３とで光軸Ｌに向かって凸状になっている。

図２（ａ），（ｃ）に示すように、副走査方向Ｙと交差する内壁面２５は、配列方向Ｘと４５度の角度で交差する反射面２６，２７と、配列方向Ｘと９０度の角度で交差する（直交する）反射面２８とを有している。なお、反射面２６は配列方向＋Ｘと副走査方向＋Ｙの間をなす方向に沿う面とされ、反射面２７は配列方向＋Ｘと副走査方向−Ｙの間をなす方向に沿う面とされている。そして、内壁面２５において、配列方向＋Ｘ側且つ副走査方向＋Ｙ側及び配列方向−Ｘ側且つ副走査方向−Ｙ側の内壁面は、反射面２６と反射面２８とが交互に連続することで鋸歯状になっている。また、内壁面２５において、配列方向＋Ｘ側且つ副走査方向−Ｙ側及び配列方向−Ｘ側且つ副走査方向＋Ｙ側の内壁面は、反射面２７と反射面２８とが交互に連続することで鋸歯状になっている。また、内壁面２５において、光軸Ｌから副走査方向＋Ｙ及び副走査方向−Ｙに位置する内壁面は、反射面２６と反射面２７とで光軸Ｌに向かって凸状になっている。

こうして、貫通孔２０の光軸方向Ｚにおける平面視形状は、光軸Ｌを通り配列方向Ｘと平行な直線を対称軸とする線対称であって、且つ光軸Ｌを通り副走査方向Ｙと平行な直線を対称軸とする線対称であって、且つ光軸Ｌを対称軸とする点対称な形状とされている。また、貫通孔２０の光軸方向Ｚと直交する断面の面積は、光軸方向Ｚにおいて一定の面積となっている。また、貫通孔２０の内壁面２１，２５（反射面２２〜２４，２６〜２８）は、平滑面であるとともに低反射面となっている。なお、ここでいう「平滑面」とは、意図的に表面を荒らした粗面ではないことを意味する。したがって、遮光部材１３，１４の材料として樹脂を選択し、同樹脂を射出成形した場合には、その射出成形によって形成された面は平滑面であるとする。すなわち、射出成形後に研磨工程などを経なくとも射出成形面は平滑面であるとする。また、「低反射面」とは、貫通孔２０の内壁面２１，２５が光を反射し難い面であることを意味する。本実施形態では、遮光部材１３，１４が光吸収性を有する黒色の材料で構成することで、貫通孔２０の内壁面２１，２５が光を吸収し易くなっている。

なお、遮光部材１３，１４における貫通孔２０の各寸法については、任意に設定することが可能であるが、次にその一例について述べる。まず、配列方向Ｘにおけるレンズ１１とレンズ１１の中心間距離であるレンズピッチを「ＬＰ」とし、配列方向Ｘにおける貫通孔２０の幅を「ＨＷ」とし、配列方向Ｘにおける反射面２２〜２４の長さ寸法を「ＲＬ」としたとする。この場合、貫通孔２０の幅ＨＷは０．４・ＬＰ程度とすればよく、反射面２２〜２４の長さ寸法ＲＬは０．２・ＨＷ程度以下とすればよい。

図１に示すように、原稿台１７は、光を透過するガラスなどで薄板状に形成されている。そして、原稿Ｐは、原稿台１７に対し、読み取り対象となる文字や画像が記録された面（読取面）をＣＩＳＭ１０に向けた状態で、原稿台１７に載置されることになる。

こうして、ＣＩＳＭ１０は、原稿台１７に載置された原稿Ｐの読取面からＣＩＳＭ１０に向かって進む光のうち、結像に不要な光を遮光部材１３，１４で遮光するとともに、結像に必要とする光をレンズアレイ１２で集光することで、原稿Ｐの読取面の画像等を受光部１６に結像させる。なお、原稿Ｐの読取面からＣＩＳＭ１０に向かって進む光とは、実際には、不図示の光源から原稿台１７越しに原稿Ｐの読取面に照射された光の反射光であることが一般的である。

次に、本実施形態のＣＩＳＭ１０の作用について説明する。
ここでは、遮光部材１３，１４の貫通孔２０の内壁面２１を鋸歯状とした本実施形態のＣＩＳＭ１０と、遮光部材の貫通孔の内壁面を平面状とした比較例のＣＩＳＭ１００（図４参照）とにおいて、貫通孔を通過しようとする光の進行態様の差異について説明する。さらに、本実施形態のＣＩＳＭ１０と比較例のＣＩＳＭ１００とにおいて、図３に示す原稿Ｐを読み取るときのイメージセンサー１５の受光状態の差異について説明する。

図３には、ＣＩＳＭ１０，１００が読取り対象とする黒地に白い帯状の線が印刷された原稿Ｐを示している。この原稿Ｐは、原稿台１７に載置された状態では、図３における左右方向（一点鎖線の延びる方向）がＣＩＳＭ１０，１００の配列方向Ｘとされ、図３における上下方向（一点鎖線と直交する方向）がＣＩＳＭ１０，１００の副走査方向Ｙとされる。そして、原稿Ｐにおいて、白い帯状の線は、その線幅Ｄを「１．０ｍｍ」とされ、副走査方向Ｙに対して「３０度」の傾きを有している。また、図３において、白い帯状の線の中心位置を基準位置ＣＰともいう。

次に、図４及び図５を参照して、本実施形態のＣＩＳＭ１０と比較例のＣＩＳＭ１００とにおいて、原稿Ｐの読取面から受光部１６に向かう光Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３について説明する。ここで、光Ｌ１〜Ｌ３のうち、光軸Ｌとの間をなす角度が最も小さいのは光Ｌ１とされ、光軸Ｌとの間をなす角度が最も大きいのは光Ｌ３とされ、光軸Ｌとの間をなす角度が光Ｌ１以上であって光Ｌ３未満であるのが光Ｌ２とされる。こうした点で、以降の説明では、光Ｌ１を「光軸Ｌに沿う光Ｌ１」ともいい、光Ｌ２を「光軸Ｌから外れた光Ｌ２」ともいい、光Ｌ３を「光軸Ｌから大きく外れた光Ｌ３」ともいう。また、説明理解の容易のために、光Ｌ１〜Ｌ３は原稿Ｐの読取面から配列方向Ｘに沿って進む光であるとする。また、図４に示すＣＩＳＭ１００の遮光部材１０１，１０２は、貫通孔１１０の内壁面１１１が平面であることを除き、本実施形態のＣＩＳＭ１０における遮光部材１３，１４と同一形状とされている。また、図４及び図５では説明理解の容易のために、一部構成の図示と、レンズ１１及び原稿台１７の断面ハッチングとを省略している。

図４（ａ），（ｂ）に示すように、原稿Ｐの読取面から光軸方向Ｚにおける他方端側に出射される光のうち、光軸Ｌに沿う光Ｌ１は、原稿台１７から空気中に入射する際に屈折され、第１遮光部材１０１の貫通孔１１０を通過してレンズ１１に入射する。そして、こうした光Ｌ１は、レンズ１１に入射する際及びレンズ１１から出射する際に屈折され、第２遮光部材１０２の貫通孔１１０を通過して、受光部１６のイメージセンサー１５に入射する。ここで、イメージセンサー１５上での光Ｌ１の受光位置は、同光Ｌ１が通過するレンズ１１の光軸Ｌの延長線上となっている。したがって、光軸Ｌに沿う光Ｌ１は、配列方向Ｘ及び副走査方向Ｙにおいて位置ずれすることなく本来の結像位置ＰＡで、受光部１６のイメージセンサー１５で受光される。

また、原稿Ｐの読取面から光軸方向Ｚにおける他方端側に出射される光のうち、光軸Ｌから大きく外れた光Ｌ３は、原稿台１７から空気中に入射する際に屈折され、遮光部材１０１の遮光面１８に入射する。そして、こうした光Ｌ３は、同遮光面１８において光軸方向Ｚにおける一方端側に反射される。こうして、光軸Ｌから大きく外れた光Ｌ３は、遮光部材１０１（遮光面１８）で遮光されることで、受光部１６のイメージセンサー１５で受光されない。

また、原稿Ｐの読取面から光軸方向Ｚにおける他方端側に出射される光のうち、光軸Ｌから外れた光Ｌ２は、原稿台１７から空気中に入射する際に屈折され、第１遮光部材１０１の貫通孔１１０の内壁面１１１で反射された後にレンズ１１に入射する。このとき、図４（ｃ）に示す光軸方向Ｚにおける平面視において、配列方向＋Ｘに進む光Ｌ２は、第１遮光部材１０１の貫通孔１１０の内壁面１１１で配列方向−Ｘに反射される。すなわち、光Ｌ２の進む経路は内壁面１１１への入射時と反射時とで等しく、光Ｌ２は光軸Ｌに向かって反射される。そして、反射された光Ｌ２は、レンズ１１に入射する際及びレンズ１１から出射する際に屈折され、第２遮光部材１０２の貫通孔１１０でさらに反射された後に、受光部１６に入射する。なお、第２遮光部材１０２の貫通孔１１０においても、第１遮光部材１０１の貫通孔１１０と同様に、例えば、配列方向＋Ｘに進む光Ｌ２は配列方向−Ｘに反射される。なお、読み取る原稿位置により、光Ｌ２は、第１遮光部材１０１の貫通孔１１０の内壁面１１１でのみ反射される場合もあれば、第２遮光部材１０２の貫通孔１１０の内壁面１１１でのみ反射される場合もある。そして、これら迷光が配列方向Ｘにレンズピッチの周期に沿って出現するため、これらを副走査方向Ｙに引きずったようなストライプ状のゴーストが発生することとなる。

ここで、図４（ａ）に示すように、配列方向Ｘにおいて、受光部１６上で光Ｌ２が入射する位置は、同光Ｌ２が通過するレンズ１１の光軸Ｌの延長線上からずれた位置ＰＢとなっている。一方、図４（ｂ）に示すように、副走査方向Ｙにおいて、受光部１６上で光Ｌ２が入射する位置は、光軸Ｌの延長線上の位置ＰＢとなっている。すなわち、光Ｌ２は、本来の結像位置である光軸Ｌとイメージセンサー１５が交わる点から、配列方向−Ｘにずれた位置であって、副走査方向Ｙにずれていない位置に入射する。このため、光Ｌ２は、本来の結像位置におけるイメージセンサー１５の撮像素子よりも配列方向−Ｘに位置する撮像素子に入射することとなる。したがって、このような光Ｌ２が本来の結像位置とは異なる位置において、イメージセンサー１５上で受光されることで、比較例のＣＩＳＭ１００では、結像した光学像が不鮮明となり光学像の読取精度の低下を招くことがある。

これに対し、図５（ａ），（ｂ）に示すように、本実施形態のＣＩＳＭ１０では、原稿Ｐの読取面から光軸方向Ｚにおける他方端側に出射される光は次のようにＣＩＳＭ１０内を進む。

まず、原稿Ｐの読取面から光軸方向Ｚにおける他方端側に出射される光のうち、光軸Ｌに沿う光Ｌ１及び光軸Ｌから大きく外れた光Ｌ３は、比較例のＣＩＳＭ１００と同様に進む。

また、原稿Ｐの読取面から光軸方向Ｚにおける他方端側に出射される光のうち、光軸Ｌから外れた光Ｌ２は、原稿台１７から空気中に入射する際に屈折され、第１遮光部材１３の貫通孔２０の内壁面２１で反射された後にレンズ１１に入射する。このとき、図５（ｃ）に示す光軸方向Ｚにおける平面視において、配列方向＋Ｘに進む光Ｌ２は、第１遮光部材１３の貫通孔２０の内壁面２１（反射面２２，２３）で副走査方向＋Ｙ及び副走査方向−Ｙに反射される。すなわち、光Ｌ２の進む経路は内壁面２１への入射時と反射時とで異なり、光Ｌ２は配列方向Ｘと交差（直交）する方向に反射される。そして、反射された光Ｌ２は、レンズ１１に入射する際及びレンズ１１から出射する際に屈折され、第２遮光部材１４の貫通孔２０でさらに反射された後に、受光部１６に入射する。なお、第２遮光部材１４の貫通孔２０においても、第１遮光部材１３の貫通孔２０と同様に、例えば、光軸Ｌから配列方向＋Ｘに進む光がある場合、同光は副走査方向＋Ｙ及び副走査方向−Ｙに反射される。因みに、反射面２２，２３は低反射面とされるため、光Ｌ２は反射面２２，２３で反射される度にその光量が小さくなる。

ここで、図５（ａ）に示すように、配列方向Ｘにおいて、受光部１６上で光Ｌ２が入射する位置は、同光Ｌ２が通過するレンズ１１の光軸Ｌの延長線上からずれた位置ＰＣとなっている。また、図５（ｂ）に示すように、副走査方向Ｙにおいて、受光部１６上で光Ｌ２が入射する位置は、光軸Ｌの延長線上からずれた位置ＰＣとなっている。すなわち、光Ｌ２は、本来の結像位置である光軸Ｌとイメージセンサー１５が交わる点から配列方向−Ｘにずれた位置であって、副走査方向＋Ｙ，−Ｙにずれた位置に入射する。このため、光Ｌ２は、本来の結像位置ＰＡにおけるイメージセンサー１５の撮像素子よりも配列方向−Ｘ及び副走査方向＋Ｙ，−Ｙにずれた位置ＰＣに入射することとなる。したがって、こうした遮光部材１３，１４の貫通孔２０で反射される光Ｌ２は、イメージセンサー１５から配列方向−Ｘにずれた位置で受光部１６に入射するため、同光Ｌ２が本来の結像位置とは異なる位置においてイメージセンサー１５上で受光されることが抑制される。すなわち、本実施形態の遮光部材１３，１４では、同遮光部材１３，１４の貫通孔２０で反射されるような光を、光軸Ｌを基準に副走査方向＋Ｙ，−Ｙに反射することで、光がイメージセンサー１５から副走査方向＋Ｙ，−Ｙにずれた位置に入射し易くなる。したがって、本実施形態のＣＩＳＭ１０によれば、結像した光学像が不鮮明となることが抑制され、さらには光学像の読取精度の低下が抑制される。

なお、以上の説明では、説明理解の容易のために、光Ｌ１〜Ｌ３は原稿Ｐの読取面から配列方向Ｘに進む光であるとしたが、その他の方向に進む光（例えば配列方向Ｘと副走査方向Ｙとの間をなす方向）についても、貫通孔２０の内壁面２１，２５によって、光軸Ｌに向かって反射されることが抑制される。

次に、図６及び図７を参照して、本実施形態のＣＩＳＭ１０と比較例のＣＩＳＭ１００とにおいて、図４に示す原稿Ｐを読み取るときのイメージセンサー１５の受光状態の差異について説明する。なお、図６及び図７は、図３に示す原稿Ｐの１点鎖線上における結像状態を示している。すなわち、図６及び図７において、横軸は原稿Ｐの基準位置ＣＰを基準とする１点鎖線上における位置を示し、縦軸は原稿Ｐの受光像の明度を示している。すなわち、縦軸の値が大きく明度が高い場合は白色であることを示し、縦軸の値が小さく明度が小さい場合は黒色であることを示している。

図６に示すように、比較例のＣＩＳＭ１００の結像状態によると、基準位置ＣＰ（図４参照）を中心として、「−１．８ｍｍ」未満の位置及び「１．８ｍｍ」以上の位置では、明度は「略０（零）」とされ、同位置が黒色であるとされる。一方、基準位置ＣＰを中心として、「−０．６ｍｍ」から「０．６ｍｍ」までの位置では、他の位置よりも明度が高く、同位置が白色であるとされる。そして、基準位置ＣＰを中心として、「−１．８ｍｍ」以上「−０．６ｍｍ」未満の位置及び「０．６ｍｍ」以上「１．８ｍｍ」未満の位置では、明度は「０（零）」以上とされ、同位置が黒色よりは明るい色であるとされる。こうして、「−０．６ｍｍ」から「０．６ｍｍ」までの位置における明度の平均値を基準とする「−０．６ｍｍ」未満の位置及び「０．６ｍｍ」以上の位置における明度の最大値の割合を計算すると「８．９％」となる。そして、この明度の最大値（８．９％）を２５６階調に置き換えると、２２階調分に相当する。このため、本来黒地であるはずの部分を黒よりも２２階調分だけ白色寄りの色と読み取ることととなり、比較例のＣＩＳＭ１００では結像した光学像が不鮮明となりやすい。

これに対し、図７に示すように、本実施形態のＣＩＳＭ１０の結像状態によると、基準位置ＣＰを中心として、「−１．６ｍｍ」未満の位置及び「１．６ｍｍ」以上の位置では、明度は「略０（零）」とされ、同位置が黒色であるとされる。一方、基準位置ＣＰを中心として、「−０．６ｍｍ」から「０．６ｍｍ」までの位置では、他の位置よりも明度が高く、同位置が白色であるとされる。そして、基準位置ＣＰを中心として、「−１．６ｍｍ」以上「−０．６ｍｍ」未満の位置及び「０．６ｍｍ」以上「１．６ｍｍ」未満の位置では、明度は「０（零）」以上とされ、同位置が黒色よりは明るい色であるとされる。こうして、「−０．６ｍｍ」から「０．６ｍｍ」までの位置における明度の平均値を基準とする「−０．６ｍｍ」未満の位置及び「０．６ｍｍ」以上の位置における明度の最大値の割合を計算すると「５．４％」となる。そして、この明度の最大値（５．４％）を２５６階調に置き換えると、１３階調分に相当する。このため、第１実施形態のＣＩＳＭ１０によれば、比較例に比べ、原稿Ｐの黒地部分を黒地として読み取ることが可能となり、結像した光学像において不鮮明な部分が生じにくい。

上記実施形態によれば、以下に示す効果を得ることができる。
（１）配列方向Ｘと交差する貫通孔２０の内壁面２１を副走査方向Ｙと交差する反射面２２〜２４とした。このため、反射面２２〜２４に入射する光は、光軸Ｌに向かって反射されることが抑制され、配列方向Ｘと交差する方向（例えば副走査方向＋Ｙ，−Ｙ）に反射される。したがって、イメージセンサー１５上に入射光学像を結像する場合、遮光部材１３，１４の貫通孔２０を通過するときに同貫通孔２０において反射される光（迷光）は、イメージセンサー１５のライン上から副走査方向＋Ｙ，−Ｙにずれた位置に入射し易くなる。こうして、遮光部材１３，１４の貫通孔２０を通過するときに同貫通孔２０において反射される光（迷光）が、イメージセンサー１５のライン上において結像に関与し難くなることで、結像した光学像が不鮮明になることを抑制することができる。

（２）レンズアレイ１２の一方端側に第１遮光部材１３を配置したことで、ＣＩＳＭ１０の一方端側から他方端側に進む光のうち光軸Ｌから外れた光の多くが第１遮光部材１３によって遮光される。このため、結像に悪影響を与え得る光がレンズアレイ１２に入射することが抑制される。したがって、第１遮光部材１３をレンズアレイ１２の一方端側に配置しない場合に比較して、結像した光学像が不鮮明になることを抑制することができる。

（３）貫通孔２０の内壁面２１が有する反射面２２〜２４が粗面である場合には、そうした反射面に入射する光は各方向に反射（散乱）することになるため、光軸Ｌに向かって光を反射するおそれがある。この点、本実施形態では、反射面２２〜２４が平滑面であるため、同反射面２２〜２４で反射される光は主に配列方向Ｘと交差する方向に反射されることとなり、光軸Ｌに向かって反射されることを抑制することができる。こうして、内壁面２１（反射面２２〜２４）で反射された光がイメージセンサー１５で受光されることが抑制される。また、内壁面２１（反射面２２〜２４）を低反射面としたことで、内壁面２１における反射光量が低減され、内壁面２１（反射面２２〜２４）で反射された光がイメージセンサー１５で受光されることがさらに抑制される。

（第２実施形態）
次に、結像光学素子の第２実施形態について説明する。なお、第２の実施形態の結像光学素子（ＣＩＳＭ）では、遮光部材の貫通孔の形状が第１実施形態と異なる。したがって、以下の説明においては、第１実施形態と相違する部分について主に説明するものとし、第１実施形態と同一の部材構成には同一符号を付して重複説明を省略するものとする。

図８に示すように、第２実施形態のＣＩＳＭが備える第１遮光部材３１及び第２遮光部材３２（以下、「遮光部材３１，３２」ともいう。）には、光軸方向Ｚに貫通孔４０が設けられている。遮光部材３１，３２の貫通孔４０は、配列方向Ｘにおける長さ寸法が副走査方向Ｙにおける長さ寸法よりも短くなっている。また、貫通孔４０において、配列方向Ｘと交差する内壁面４１は、複数の反射面４２，４３，４４を有することで鋸歯状に形成され、副走査方向Ｙと交差する内壁面４５は、副走査方向Ｙと９０度の角度で交差する（直交する）反射面４６を有している。

配列方向Ｘと交差する内壁面４１は、副走査方向Ｙと４５度の角度で交差する反射面４２，４３と、副走査方向Ｙと９０度の角度で交差する（直交する）反射面４４とを有している。なお、反射面４２は配列方向＋Ｘと副走査方向＋Ｙの間をなす方向に沿う面とされ、反射面４３は配列方向＋Ｘと副走査方向−Ｙの間をなす方向に沿う面とされている。そして、内壁面４１において、配列方向＋Ｘ側且つ副走査方向＋Ｙ側及び配列方向−Ｘ側且つ副走査方向−Ｙ側の内壁面は、反射面４３と反射面４４とが交互に連続することで鋸歯状になっている。また、内壁面４１において、配列方向＋Ｘ側且つ副走査方向−Ｙ側及び配列方向−Ｘ側且つ副走査方向＋Ｙ側の内壁面は、反射面４２と反射面４４とが交互に連続することで鋸歯状になっている。また、内壁面４１において、光軸Ｌから配列方向＋Ｘ及び配列方向−Ｘに位置する内壁面は、反射面４２と反射面４３とで光軸Ｌに向かって凹状になっている。

こうして、貫通孔４０の光軸方向における平面視形状は、光軸Ｌを通り配列方向Ｘと平行な直線を対称軸とする線対称であって、且つ光軸Ｌを通り副走査方向Ｙと平行な直線を対称軸とする線対称であって、且つ光軸Ｌを対称軸とする点対称な形状とされている。また、貫通孔４０の光軸方向Ｚと直交する断面の面積は、光軸方向Ｚにおいて一定の面積となっている。また、貫通孔４０の内壁面４１（反射面４２〜４４）及び内壁面４５（反射面４６）は、平滑面且つ低反射面となっている。

次に、本実施形態のＣＩＳＭの作用について説明する。ここでは、本実施形態のＣＩＳＭにおいて、図３に示す原稿Ｐを読み取ったときの光学像の結像状態について説明する。
図９に示すように、本実施形態のＣＩＳＭの結像状態によると、基準位置ＣＰを中心として、「−１．８ｍｍ」未満の位置と「１．８ｍｍ」以上の位置とでは、明度は「略０（零）」とされ、同位置が黒色であるとされる。一方、基準位置ＣＰを中心として、「−０．６ｍｍ」から「０．６ｍｍ」までの位置では、他の位置よりも明度が高く、同位置が白色であるとされる。そして、基準位置ＣＰを中心として、「−１．８ｍｍ」以上「−０．６ｍｍ」未満の位置及び「０．６ｍｍ」以上「１．８ｍｍ」未満の位置では、明度は「０（零）」以上とされ、同位置が黒色よりは明るい色であるとされる。こうして、「−０．６ｍｍ」から「０．６ｍｍ」までの位置における明度の平均値を基準とする「−０．６ｍｍ」未満の位置及び「０．６ｍｍ」以上の位置における明度の最大値の割合を計算すると「４．７％」となる。そして、この明度の最大値（４．７％）を２５６階調に置き換えると、１２階調分に満たないため、第２実施形態によれば、比較例に比べ、原稿Ｐの黒地部分を黒地として読み取ることが可能となり、結像した光学像において不鮮明な部分が生じにくい。

これは、第２実施形態の遮光部材３１，３２の貫通孔４０においても、副走査方向Ｙと交差する反射面４２〜４４によって、貫通孔４０の内壁面４１で反射される光がイメージセンサー１５よりも副走査方向＋Ｙ，−Ｙにずれた位置に入射するようになるためである。すなわち、遮光部材３１，３２の貫通孔４０の内壁面４１で反射される光が、本来の結像位置におけるイメージセンサー１５の撮像素子よりも配列方向Ｘに位置する撮像素子に入射することが抑制される。

上記第２実施形態によれば、第１実施形態の効果（１）〜（３）と同等の効果を得ることができる。
（第３実施形態）
次に、結像光学素子の第３実施形態について説明する。なお、第３の実施形態の結像光学素子（ＣＩＳＭ）では、遮光部材の貫通孔の形状が第１実施形態と異なる。したがって、以下の説明においては、第１実施形態と相違する部分について主に説明するものとし、第１実施形態と同一の部材構成には同一符号を付して重複説明を省略するものとする。

図１０に示すように、第３実施形態のＣＩＳＭが備える第１遮光部材５１及び第２遮光部材５２（以下、「遮光部材５１，５２」ともいう。）には、光軸方向Ｚに貫通孔６０が設けられている。遮光部材５１，５２の貫通孔６０は、配列方向Ｘにおける長さ寸法が副走査方向Ｙにおける長さ寸法よりも短くなっている。また、貫通孔６０において、配列方向Ｘと交差する内壁面６１は、副走査方向と４５度の角度で交差する複数の反射面６２，６３を有することで鋸歯状に形成され、副走査方向Ｙと交差する内壁面６４は、副走査方向と９０度の角度で交差する（直交する）反射面６５を有している。

配列方向と交差する内壁面６１において、反射面６２は配列方向＋Ｘと副走査方向＋Ｙの間をなす方向に沿う面とされ、反射面６３は配列方向＋Ｘと副走査方向−Ｙの間をなす方向に沿う面とされている。こうして、内壁面６１は、反射面６２と反射面６３とが交互に連続することで鋸歯状になっている。また、配列方向＋Ｘ側の内壁面６１における反射面６２は、配列方向−Ｘ側の内壁面６１における反射面６２と配列方向Ｘに対向し、配列方向＋Ｘ側の内壁面６１における反射面６３は、配列方向−Ｘ側の内壁面６１における反射面６３と配列方向Ｘに対向している。このため、図１０に示すように、貫通孔６０の光軸方向Ｚにおける平面視において、配列方向＋Ｘ側及び配列方向−Ｘ側の両内壁面６１間の距離が、副走査方向Ｙにおいて一定となっている。

こうして、貫通孔６０の光軸方向Ｚにおける平面視形状は、光軸Ｌを通り配列方向Ｘと平行な直線を対称軸とする線対称な形状とされている。また、貫通孔６０の光軸方向Ｚと直交する断面の面積は、光軸方向Ｚにおいて一定の面積となっている。また、貫通孔６０の内壁面６１（反射面６２，６３）及び内壁面６４（反射面６５）は、平滑面且つ低反射面となっている。

次に、本実施形態のＣＩＳＭ１０の作用について説明する。ここでは、本実施形態のＣＩＳＭ１０において、図３に示す原稿Ｐを読み取ったときの光学像の結像状態について説明する。

図１１に示すように、本実施形態のＣＩＳＭの結像状態によると、基準位置ＣＰを中心として、「−１．８ｍｍ」未満の位置と「１．８ｍｍ」以上の位置とでは、明度は「略０（零）」とされ、同位置が黒色であるとされる。一方、基準位置ＣＰを中心として、「−０．６ｍｍ」から「０．６ｍｍ」までの位置では、他の位置よりも明度が高く、同位置が白色であるとされる。そして、基準位置ＣＰを中心として、「−１．８ｍｍ」以上「−０．６ｍｍ」未満の位置及び「０．６ｍｍ」以上「１．８ｍｍ」未満の位置では、明度は「０（零）」以上とされ、同位置が黒色よりは明るい色であるとされる。こうして、「−０．６ｍｍ」から「０．６ｍｍ」までの位置における明度の平均値を基準とする「−０．６ｍｍ」未満の位置及び「０．６ｍｍ」以上の位置における明度の最大値の割合を計算すると「５．３％」となる。そして、この明度の最大値（５．３％）を２５６階調に置き換えると、１３階調分に満たないため、第３実施形態によれば、比較例に比べ、原稿Ｐの黒地部分を黒地として読み取ることが可能となり、結像した光学像において不鮮明な部分が生じにくい。

これは、第３実施形態の遮光部材５１，５２の貫通孔６０においても、副走査方向Ｙと交差する反射面６２，６３によって、貫通孔６０の内壁面６１で反射される光がイメージセンサー１５よりも副走査方向＋Ｙ，−Ｙにずれた位置に入射するようになるためである。すなわち、遮光部材５１，５２の貫通孔６０の内壁面６１で反射される光が、本来の結像位置におけるイメージセンサー１５の撮像素子よりも配列方向Ｘに位置する撮像素子に入射することが抑制される。

上記第３実施形態によれば、第１実施形態の効果（１）〜（３）と同等の効果を得ることができる。
（第４実施形態）
次に、結像光学素子の第４実施形態について説明する。なお、第４の実施形態の結像光学素子（ＣＩＳＭ）では、第１遮光部材を従来の遮光部材（比較例の第１遮光部材１０１）とする点が第１実施形態と異なる。したがって、以下の説明においては、第１実施形態と相違する部分について主に説明するものとし、第１実施形態と同一の部材構成には同一符号を付して重複説明を省略するものとする。

上述したように、第４実施形態のＣＩＳＭは、第１遮光部材として比較例の第１遮光部材１０１を備え、第２遮光部材として第１実施形態の第２遮光部材１４を備える。すなわち、レンズアレイ１２の一方端側に第１遮光部材１０１を備え、同レンズアレイ１２の他方端側に第２遮光部材１４を備える。

次に、本実施形態のＣＩＳＭの作用について説明する。ここでは、本実施形態のＣＩＳＭにおいて、図３に示す原稿Ｐを読み取ったときの光学像の結像状態について説明する。
図１２に示すように、本実施形態のＣＩＳＭの結像状態によると、基準位置ＣＰを中心として、「−１．７ｍｍ」未満の位置と「１．７ｍｍ」以上の位置とでは、明度は「略０（零）」とされ、同位置が黒色であるとされる。一方、基準位置ＣＰを中心として、「−０．６ｍｍ」から「０．６ｍｍ」までの位置では、他の位置よりも明度が高く、同位置が白色であるとされる。そして、基準位置ＣＰを中心として、「−１．７ｍｍ」以上「−０．６ｍｍ」未満の位置及び「０．６ｍｍ」以上「１．７ｍｍ」未満の位置では、明度は「０（零）」以上とされ、同位置が黒色よりは明るい色であるとされる。こうして、「−０．６ｍｍ」から「０．６ｍｍ」までの位置における明度の平均値を基準とする「−０．６ｍｍ」未満の位置及び「０．６ｍｍ」以上の位置における明度の最大値の割合を計算すると「６．３％」となる。そして、この明度の最大値（６．３％）を２５６階調に置き換えると、１６階調分に満たないため、第４実施形態によれば、比較例に比べ、原稿Ｐの黒地部分を黒地として読み取ることが可能となり、結像した光学像において不鮮明な部分が生じにくい。

これは、第４実施形態の第２遮光部材１４の貫通孔２０においても、副走査方向Ｙと交差する反射面２２〜２４によって、貫通孔２０の内壁面２１で反射される光がイメージセンサー１５よりも副走査方向＋Ｙ，−Ｙにずれた位置に入射するようになるためである。すなわち、第２遮光部材１４の貫通孔２０の内壁面２１で反射される光が、本来の結像位置におけるイメージセンサー１５の撮像素子よりも配列方向Ｘに位置する撮像素子に入射することが抑制される。

上記第４実施形態によれば、第１実施形態の効果（１）〜（３）と同等の効果を得ることができる。
（第５実施形態）
次に、結像光学素子の第５実施形態について説明する。なお、第５の実施形態の結像光学素子（ＣＩＳＭ）では、第２遮光部材１４を従来の遮光部材（比較例の第２遮光部材１０２）とする点が第１実施形態と異なる。したがって、以下の説明においては、第１実施形態と相違する部分について主に説明するものとし、第１実施形態と同一の部材構成には同一符号を付して重複説明を省略するものとする。

上述したように、第５実施形態のＣＩＳＭは、第１遮光部材として第１実施形態の第１遮光部材１３を備え、第２遮光部材として比較例の第２遮光部材１０２を備える。すなわち、レンズアレイ１２の一方端側に第１遮光部材１３を備え、同レンズアレイ１２の他方端側に第２遮光部材１０２を備える。

次に、本実施形態のＣＩＳＭ１０の作用について説明する。ここでは、本実施形態のＣＩＳＭ１０において、図３に示す原稿Ｐを読み取ったときの光学像の結像状態について説明する。

図１３に示すように、本実施形態のＣＩＳＭの結像状態によると、基準位置ＣＰを中心として、「−１．７ｍｍ」未満の位置と「１．７ｍｍ」以上の位置とでは、明度は「略０（零）」とされ、同位置が黒色であるとされる。一方、基準位置ＣＰを中心として、「−０．６ｍｍ」から「０．６ｍｍ」までの位置では、他の位置よりも明度が高く、同位置が白色であるとされる。そして、基準位置ＣＰを中心として、「−１．７ｍｍ」以上「−０．６ｍｍ」未満の位置及び「０．６ｍｍ」以上「１．７ｍｍ」未満の位置では、明度は「０（零）」以上とされ、同位置が黒色よりは明るい色であるとされる。こうして、「−０．６ｍｍ」から「０．６ｍｍ」までの位置における明度の平均値を基準とする「−０．６ｍｍ」未満の位置及び「０．６ｍｍ」以上の位置における明度の最大値の割合を計算すると「７．３％」となる。そして、この明度の最大値（７．３％）を２５６階調に置き換えると、１８階調分に満たないため、第５実施形態によれば、比較例に比べ、原稿Ｐの黒地部分を黒地として読み取ることが可能となり、結像した光学像において不鮮明な部分が生じにくい。

これは、第５実施形態の第１遮光部材１３の貫通孔２０においても、副走査方向Ｙと交差する反射面２２〜２４によって、貫通孔２０の内壁面２１で反射される光がイメージセンサー１５よりも副走査方向＋Ｙ，−Ｙにずれた位置に入射するようになるためである。すなわち、第１遮光部材１３の貫通孔２０の内壁面２１で反射される光が、本来の結像位置におけるイメージセンサー１５の撮像素子よりも配列方向Ｘに位置する撮像素子に入射することが抑制される。

上記第５実施形態によれば、第１実施形態の効果（１）〜（３）と同等の効果を得ることができる。
（第６実施形態）
次に、結像光学素子の第６実施形態について説明する。第６の実施形態の結像光学素子（ＣＩＳＭ）は、第１遮光部材及び第２遮光部材における貫通孔の形状が第１実施形態と異なる。したがって、以下の説明においては、第１実施形態と相違する部分について主に説明するものとし、第１実施形態と同一の部材構成には同一符号を付して重複説明を省略するものとする。

図１４及び図１５に示すように、第６実施形態のＣＩＳＭは、光軸方向Ｚに進む光を透過可能な第１貫通孔２１１が形成された第１遮光部材２１０と、光軸方向Ｚに進む光を透過可能な第２貫通孔２２１が形成された第２遮光部材２２０とを備えている。なお、図１４（ａ）及び図１５（ａ）は、光軸方向Ｚにおける一方端側から見た、すなわち原稿台１７側から見た第１遮光部材２１０及び第２遮光部材２２０を図示している。

第１遮光部材２１０は、光軸方向Ｚにおいてレンズアレイ１２の一方端側に設けられ、第２遮光部材２２０は、光軸方向Ｚにおいてレンズアレイ１２の他方端側に設けられている。第１遮光部材２１０及び第２遮光部材２２０（以下、「遮光部材２１０，２２０」ともいう。）は、配列方向Ｘを長手方向とし副走査方向Ｙを短手方向とする板状をなしている。光軸方向Ｚにおける遮光部材２１０，２２０の一方端側の面は、同一方端側から他方端側に向かって進む光を遮光する遮光面１８となっている。また、遮光部材２１０，２２０において、隣り合う貫通孔２１１，２２１の中心間距離は、レンズアレイ１２において隣り合うレンズ１１の中心間距離（レンズピッチ）と等しくなっている。すなわち、第１貫通孔２１１及び第２貫通孔２２１はレンズアレイ１２のレンズ１１に対応して設けられており、光軸方向Ｚにおいて、各レンズ１１の中心位置と各貫通孔２１１，２２１の中心位置は一致していることが好ましい。

図１４（ａ），（ｂ）に示すように、第１遮光部材２１０の第１貫通孔２１１は、その平面視において略平行四辺形状をなしている。また、第１貫通孔２１１は、その平面視における短手方向が配列方向Ｘに沿う方向とされる一方、同平面視における長手方向が副走査方向Ｙと交差している。ここで、副走査方向Ｙに対する上記長手方向の傾きを第１貫通孔２１１の回転角θ１とすると、同回転角θ１は「１０度」となっている。

また、第１貫通孔２１１において、配列方向Ｘと交差する内壁面２１２は、副走査方向Ｙと交差する単一の反射面２１３を有し、副走査方向Ｙに対して回転角θ１の傾きをなす方向と交差する内壁面２１４は、配列方向Ｘに沿う単一の反射面２１５を有している。ここで、貫通孔２１１の内壁面２１２，２１４（反射面２１３，２１５）は、平滑面且つ低反射面であることが好ましい。

また、図１４（ｂ）に示すように、第１貫通孔２１１の光軸方向Ｚと直交する断面積は、他方端側に向かうに連れ次第に小さくなっており、反射面２１３，２１５は光軸方向Ｚと交差している。なお、第１貫通孔２１１の反射面２１３，２１５は、光軸方向Ｚに沿って他方端側に向かうに連れて、向かい合う反射面２１３，２１５同士が次第に接近するように、例えば光軸方向Ｚに対して「４度」の傾きを有していることが好ましい。これは、第１遮光部材２１０を樹脂材料で金型に射出成形する場合の離型性を考慮してのことである。

図１５（ａ），（ｂ）に示すように、第２遮光部材２２０の第２貫通孔２２１は、その平面視において略平行四辺形状をなしている。また、第２貫通孔２２１は、その平面視における短手方向が配列方向Ｘに沿う方向とされる一方、同平面視における長手方向が副走査方向Ｙと交差している。ここで、副走査方向Ｙに対する上記長手方向の傾きを第２貫通孔２２１の回転角θ２とすると、同回転角θ２は「１０度」となっている。すなわち、本実施形態では、第１貫通孔２１１の回転角θ１は、第２貫通孔２２１の回転角θ２と等しい。

また、第２貫通孔２２１において、配列方向Ｘと交差する内壁面２２２は、副走査方向Ｙと交差する単一の反射面２２３を有し、副走査方向Ｙに対して回転角θ２の傾きをなす方向と交差する内壁面２２４は、配列方向Ｘに沿う単一の反射面２２５を有している。ここで、貫通孔２２１の内壁面２２２，２２４（反射面２２３，２２５）は、平滑面且つ低反射面であることが好ましい。

また、図１５（ｂ）に示すように、第２貫通孔２２１の光軸方向Ｚと直交する断面積は、他方端側に向かうに連れ次第に大きくなっており、反射面２２３，２２５は光軸方向Ｚと交差している。なお、第２貫通孔２２１の反射面２２３は、光軸方向Ｚに沿って他方端側に向かうに連れて、向かい合う反射面２２３同士が次第に離れるように、例えば光軸方向Ｚに対して「１０度」の傾きを有していることが好ましい。また、第２貫通孔２２１の反射面２２５は、光軸方向Ｚに沿って他方端側に向かうに連れて、向かい合う反射面２２５同士が次第に離れるように、例えば光軸方向Ｚに対して「３５度」の傾きを有していることが好ましい。これは、第１遮光部材２１０と同様に、第２遮光部材２２０を樹脂材料で金型に射出成形する場合の離型性を考慮してのことである。

ところで、一般的なＣＩＳＭにおいて、高画素の画像を読み取り可能とするためには、配列方向Ｘに並ぶように設けられるイメージセンサー１５の撮像素子を小型化し、配列方向Ｘにおける単位長さ当たりに配置される撮像素子数を増加させる必要がある。また、それに伴い、レンズ１１の大きさ及び貫通孔２１１，２２１の大きさを小型化したり、配列方向Ｘにおける単位長さ当たりに配置されるレンズ１１の数及び貫通孔２１１，２２１の数を増大させたりする必要がある。

こうした場合には、遮光部材とレンズアレイ１２とイメージセンサー１５とにおける加工精度や組み付け精度の問題から、ＣＩＳＭにおいて、対応関係にある貫通孔２１１，２２１の中心とレンズ１１の中心と撮像素子の中心とが光軸方向Ｚに必ずしも全て一致しない場合がある。そして、この場合には、遮光部材の貫通孔の内壁面（反射面）で反射される光が、本来の結像位置に位置するイメージセンサー１５の撮像素子よりも配列方向Ｘ（＋Ｘ，−Ｘ）に位置する撮像素子に入射しやすくなる。このため、以降の説明では、上記の場合を想定し、レンズピッチの「１０％」に相当する距離だけ、遮光部材２１０，２２０とレンズアレイ１２とが配列方向Ｘにずれるように組み付けられる場合について説明する。

次に、本実施形態と比較例のＣＩＳＭにおいて、図３に示す原稿Ｐを読み取ったときの光学像の結像状態について説明する。なお、比較例のＣＩＳＭとは、図１４及び図１５に示す遮光部材２１０，２２０における貫通孔２１１，２２１の回転角θ１，θ２をともに「０度」としたものである。また、以降の説明では、光軸方向Ｚに貫通孔２１１，２２１の中心とレンズ１１の中心とが一致するように遮光部材２１０，２２０とレンズアレイ１２とが組み付けられる場合と、そうでない場合を区別するために、前者の場合を光軸方向Ｚに中心が一致する場合ともいい、後者の場合を光軸方向Ｚに中心が一致しない場合ともいう。

図１６に示すように、比較例のＣＩＳＭの結像状態によると、基準位置ＣＰを中心として、「−０．６ｍｍ」から「０．６ｍｍ」までの範囲の位置では、他の位置よりも明度が高く、同位置が白色であるとされる。一方、基準位置ＣＰを中心として、「−０．６ｍｍ」未満の範囲の位置及び「０．６ｍｍ」よりも大きい範囲の位置では、明度は「０（零）」又は「０（零）」以上となり、同位置では黒色又は黒色よりも明るい色であるとされる。すなわち、図１６に実線矢印で示す位置のように、本来、明度が「０（零）」であるはずの範囲において、明度が「０（零）」以上となる場合がある。ここで、基準位置ＣＰを中心として、本来白地部分であるはずの範囲における明度の平均値を基準とする、本来黒地部分であるはずの範囲における明度の最大値（図１６に実線矢印で示す位置の明度）の割合を計算すると「１．６５％」となる。なお、本来白地部分であるはずの範囲とは、図３に示す原稿Ｐにおいて、一点鎖線の延びる方向における白い帯状の線の幅に相当する。

これに対し、図１７に示すように、本実施形態のＣＩＳＭの結像状態によると、基準位置ＣＰを中心として、「−０．６ｍｍ」から「０．６ｍｍ」までの範囲の位置では、他の位置よりも明度が高く、同位置が白色であるとされる。一方、基準位置ＣＰを中心として、「−０．６ｍｍ」未満の範囲の位置及び「０．６ｍｍ」よりも大きい範囲の位置では、明度は「０（零）」又は「０（零）」以上となり、同位置では黒色又は黒色よりも明るい色であるとされる。そして、基準位置ＣＰを中心として、本来白地部分であるはずの範囲における明度の平均値を基準とする、本来黒地部分であるはずの範囲における明度の最大値（図１７に実線矢印で示す位置の明度）の割合を計算すると「１．３９％」となる。

したがって、本実施形態のＣＩＳＭによれば、比較例のＣＩＳＭに比較して、上記割合が小さくなるため、原稿Ｐの黒地部分を黒地として読み取ることが可能となり、結像した光学像において不鮮明な部分が生じにくい。これは、遮光部材２１０，２２０の貫通孔２１１，２２１の回転角θ１，θ２をともに「１０度」としたことで、遮光部材２１０，２２０の貫通孔２１１，２２１の副走査方向Ｙと交差する反射面２１３，２２３によって反射される光がイメージセンサー１５よりも副走査方向Ｙ（＋Ｙ，−Ｙ）にずれた位置に入射するようになるためである。すなわち、遮光部材２１０，２２０の貫通孔２１１，２２１の反射面２１３，２２３で反射される光が、本来の結像位置におけるイメージセンサー１５の撮像素子よりも配列方向Ｘ（＋Ｘ，−Ｘ）に位置する撮像素子に入射することが抑制される。

次に、図１８を参照して、遮光部材２１０、２２０の貫通孔２１１、２２１の回転角θ１，θ２と、図３に示す原稿Ｐを読み取ったときの光学像の結像状態との関係について説明する。

図１８は、第１遮光部材２１０における第１貫通孔２１１の回転角θ１及び第２遮光部材２２０における第２貫通孔２２１の回転角θ２をともに「０度」から「３０度」まで変更した場合の強度比を示している。ここで、強度比とは、本来白地部分であるはずの範囲における明度の平均値を基準とする、本来黒地部分であるはずの範囲における明度の最大値の割合である。すなわち、強度比が小さいほど、結像面に原稿の光学像を正しく結像できているといえる。

また、図１８には、光軸方向Ｚに中心が一致する場合Ｄ０と、光軸方向Ｚに中心が一致しない場合Ｄ１０とにおける強度比を示している。なお、光軸方向Ｚに中心が一致しない場合Ｄ１０とは、貫通孔２１１，２２１の中心とレンズ１１の中心がレンズピッチの「１０％」に相当する距離だけ配列方向Ｘにずれている場合である。

図１８に示すように、光軸方向Ｚに中心が一致する場合Ｄ０には、光軸方向Ｚに中心が一致しない場合Ｄ１０に比較して、強度比が小さくなっている。すなわち、貫通孔２１１，２２１の中心とレンズ１１の中心とが一致するように遮光部材２１０，２２０とレンズアレイ１２とが組み付けられるほど、強度比が小さくなり、ＣＩＳＭの受光精度を高めることができるといえる。

また、光軸方向Ｚに中心が一致する場合Ｄ０において、回転角θ１，θ２が「３度」以上「１０度」未満である場合には、回転角θ１，θ２が「０度」である場合と強度比が略等しくなっている。また、回転角θ１，θ２が「１０度」以上「２５度」以下である場合には、回転角θ１，θ２が「０度」である場合よりも強度比が小さくなっている。また、回転角θ１，θ２が「３０度」である場合には、回転角θ１，θ２が「０度」である場合よりも強度比が大きくなっている。したがって、光軸方向Ｚに中心が一致する場合Ｄ０には、回転角θ１，θ２が大きいほど一律に強度比が小さくなるわけではないが、特定の回転角θ１，θ２の範囲においては強度比が小さくなる。

一方、光軸方向Ｚに中心が一致しない場合Ｄ１０において、回転角θ１，θ２が「３度」以上「２５度」以下である場合には、回転角θ１，θ２が「０度」である場合よりも強度比が小さくなっている。また、図１８には図示していないが、回転角θ１，θ２が「３０度」である場合には、回転角θ１，θ２が「０度」である場合よりも強度比が大きくなっている。なお、回転角θ１，θ２が「３０度」である場合の強度比は「４．２８％」である。したがって、光軸方向Ｚに中心が一致しない場合Ｄ１０には、回転角θ１，θ２を「０度」よりも大きくすることで、上限値があるものの強度比が小さくなる。

こうして、光軸方向Ｚに中心が一致する場合Ｄ０であっても、光軸方向Ｚに中心が一致しない場合Ｄ１０であっても、遮光部材２１０，２２０における貫通孔２１１，２２１の回転角θ１，θ２を設けることで、強度比を小さくすることができる。詳しくは、遮光部材２１０，２２０における貫通孔２１１，２２１の回転角θ１，θ２は、「３度」以上「２５度」以下であることが好ましく、「５度」以上「２０度」以下であることがより好ましい。

次に、図１９を参照して、第１遮光部材２１０の第１貫通孔２１１の回転角θ１から第２遮光部材２２０の第２貫通孔２２１の回転角θ２を差し引いた値である角度差Δθ（θ１―θ２）と、図３に示す原稿Ｐを読み取ったときの光学像の結像状態との関係について説明する。なお、図１９は、第１遮光部材２１０の第１貫通孔２１１の回転角θ１を「５度」、「１０度」、「１５度」、「２０度」とした場合の角度差Δθに対する強度比を示している。また、図１９に示す強度比は、光軸方向Ｚに中心が一致しない場合、すなわち、貫通孔２１１，２２１の中心とレンズ１１の中心がレンズピッチの「１０％」に相当する距離だけ配列方向Ｘにずれている場合における強度比である。

図１９に示すように、第１貫通孔２１１の回転角θ１が何れの角度の場合においても、角度差Δθの絶対値が小さい場合のほうが、同角度差Δθの絶対値が大きい場合よりも強度比が小さい。言い換えれば、第１貫通孔２１１の回転角θ１が何れの角度の場合においても、角度差Δθが「０度」よりも大きくなるほど、すなわち第１貫通孔２１１の回転角θ１が第２貫通孔２２１の回転角θ２よりも大きくなるほど、強度差が大きくなる。一方、角度差Δθが「０度」よりも小さくなるほど、すなわち第２貫通孔２２１の回転角θ２が第１貫通孔２１１の回転角θ１よりも大きくなるほど、強度差が大きくなる。

このため、第１貫通孔２１１の回転角θ１が「５度」である場合には、第２貫通孔２２１の回転角θ２が「５度」である場合が最も強度比が小さく、第１貫通孔２１１の回転角θ１が「１０度」である場合には、第２貫通孔２２１の回転角θ２が「１０度」である場合が最も強度比が小さい。また、第１貫通孔２１１の回転角θ１が「１５度」である場合及び第１貫通孔２１１の回転角θ１が「２０度」である場合についても同様である。

こうして、第１貫通孔２１１の回転角θ１を何れの角度にした場合においても、角度差Δθは「０度」に近い値とすることが好ましい。すなわち、第１遮光部材２１０の第１貫通孔２１１の回転角θ１は、第２遮光部材２２０の第２貫通孔２２１の回転角θ２と乖離していないことが好ましい。具体的には、遮光部材２１０，２２０の貫通孔２１１，２２１の回転角θ１，θ２をともに「０度」とした場合の強度比が「１．６５％」であることから、回転角の角度差Δθは、「−１０度」以上「１０度」以下であることが好ましい。

なお、貫通孔２１１，２２１の回転角θ１，θ２の適正範囲及び同回転角θ１，θ２の角度差Δθの適正範囲は、貫通孔２１１，２２１の大きさや形状などによって異なるものである。

上記第６実施形態によれば、第１実施形態の効果（１）〜（３）に加え、以下に示す効果を得ることができる。
（４）貫通孔２１１，２２１の内壁面２１２，２２２に複数の反射面を形成する場合に比較して、反射面を形成する手間やコストを低減することができる。例えば、遮光部材２１０，２２０を樹脂材料で金型に射出成形する場合に、貫通孔２１１，２２１の成形性を良くしたり、金型からの離型性を良くしたりすることができる。

なお、上記実施形態は以下に示すように変更してもよい。
・遮光部材１３，１４の貫通孔２０における光軸方向Ｚと直交する面積は、同光軸方向Ｚにおいて一定でなくてもよい。例えば、図２０（ａ），（ｂ）に示すように、遮光部材７０の貫通孔７１における光軸方向Ｚと直交する断面の面積は、他方端側に向かうに連れ次第に大きくなるようにしてもよい。すなわち、遮光部材７０の貫通孔７１は、光軸方向Ｚにおける他方端側に広がるテーパー状をなす貫通孔としてもよい。これによれば、貫通孔７１の容積が等しいことを前提として、貫通孔７１の断面の面積を光軸方向Ｚにおいて一定とする場合や、貫通孔７１の断面の面積を他方端側に向かうに連れ次第に小さくする場合に比較して、一方端側の貫通孔７１の断面の面積が小さくなるため光軸Ｌから外れた光Ｌ４の多くを遮光することができる。また、貫通孔７１の断面の面積を光軸方向Ｚにおいて一定とする場合に比較して、貫通孔７１を進む光が同貫通孔７１の内壁面７２で反射され難くなる。換言すれば、図２０（ｂ）に示す貫通孔７１の内壁面７２に沿って進む光Ｌ５は、貫通孔７１の断面の面積を光軸方向Ｚにおいて一定とする場合には、その内壁面で反射され迷光となりやすい。したがって、図２０に示す遮光部材７０によれば、貫通孔７１の内壁面７２で反射する光の量を低減することができる。

・また、図２１（ａ），（ｂ）に示すように、遮光部材８０の貫通孔８１における光軸方向Ｚと直交する断面の面積は、他方端側に向かうに連れ次第に小さくなるようにしてもよい。すなわち、遮光部材８０の貫通孔８１は、光軸方向Ｚにおける他方端側に狭まるテーパー状をなす貫通孔としてもよい。これによれば、図２１（ｂ）に示すように、貫通孔８１の断面の面積を光軸方向Ｚにおいて一定とする場合に比較して、一方端側から貫通孔８１の内壁面８２に入射する光Ｌ６を同一方端側に反射し易くなる。このため、貫通孔８１の内壁面８２で反射された光がレンズアレイ１２の他方端側において、結像に関与することを抑制することができる。

また、図２０及び図２１に示す遮光部材７０，８０によれば、同遮光部材７０，８０を金型で樹脂成形する際に、貫通孔７１，８１の断面の面積を光軸方向Ｚにおいて一定とする場合に比較して、遮光部材７０，８０を金型から円滑に離型させることができる。

・図２０及び図２１に示す遮光部材８０，９０の貫通孔７１，８１において、配列方向Ｘと交差する内壁面がテーパー状をなしていれば、副走査方向Ｙと交差する内壁面はテーパー状をなしていなくてもよい。また、副走査方向Ｙと交差する内壁面がテーパー状をなしていれば、配列方向Ｘと交差する内壁面はテーパー状をなしていなくてもよい。

・図２０及び図２１に示す遮光部材８０，９０の貫通孔７１，８１において、光軸方向Ｚにおける他方端側に向かうに連れ、階段状に貫通孔７１，８１の面積を変化するようにしてもよい。

・遮光部材１３，１４の貫通孔２０における光軸Ｌから配列方向Ｘに位置する内壁面２１を副走査方向Ｙと交差する反射面としてもよい。すなわち、図２２に示すように、遮光部材９０の貫通孔９１における光軸Ｌから配列方向Ｘに位置する内壁面９２は、遮光部材１３，１４の貫通孔２０の内壁面２１のように反射面２２と反射面２３とで形成される凸状の内壁面でなくてもよい。この場合、内壁面９２の反射面９３の副走査方向Ｙにおける長さ寸法Ｄ１は、イメージセンサー１５の副走査方向Ｙにおける長さ寸法Ｄ２、すなわち、イメージセンサー１５の撮像素子１つ分の長さよりも長いことが好ましい。これによれば、光軸Ｌから配列方向Ｘに進む光を光軸Ｌに向けて反射することを抑制し、その反射した光がイメージセンサー１５で受光されることを抑制することができる。

・貫通孔２０，４０，６０，２１１，２２１の内壁面２１，４１，６１，２１２，２２２は、粗面であってもよい。
・内壁面２１，４１，６１が有する反射面２２〜２４，４２〜４４，６２，６３の数、大きさ、及び副走査方向Ｙに対する角度は任意に変更してもよい。

・第１遮光部材１３，３１，５１，２１０及び第２遮光部材１４，３２，５２，２２０の一方の遮光部材を備えなくてもよい。
・第２実施形態のＣＩＳＭ及び第３実施形態のＣＩＳＭにおいて、レンズアレイ１２の一方端側に配置される第１遮光部材３１，５１を比較例の第１遮光部材１０１としてもよい。又は、レンズアレイ１２の一方端側に配置される第２遮光部材３２，５２を比較例の第２遮光部材１０２としてもよい。

・遮光部材１３，１４，３１，３２，５１，５２の貫通孔２０は、光軸Ｌと交差する断面形状が矩形を除く他の多角形形状であってもよいし、真円形状若しくは楕円形状であってもよい。

・第２遮光部材１４と受光部１６との間に、さらにレンズアレイ１２と遮光部材を備えてもよい。この場合、そうした遮光部材を光軸方向Ｚにおいてレンズアレイ１２で挟持してもよい。

・第６実施形態において、遮光部材２１０，２２０の貫通孔２１１，２２１の平面視形状は平行四辺形でなくてもよい。例えば、矩形形状であってもよいし、楕円形状であってもよい。

・第６実施形態において、配列方向Ｘと交差する内壁面２１２，２２２における副走査方向Ｙと交差する反射面２１３，２２３は、内側に向かって湾曲する湾曲面であってもよいし、外側に向かって湾曲する湾曲面であってもよい。副走査方向Ｙに対して回転角θ１，θ２をなす方向と交差する内壁面２１４，２２４における配列方向Ｘに沿う反射面２１５，２２５は、内側に向かって湾曲する湾曲面であってもよいし、外側に向かって湾曲する湾曲面であってもよい。

・第６実施形態において、第１遮光部材２１０の第１貫通孔２１１の光軸方向Ｚと直交する断面積は、他方端側に向かうに連れ次第に大きくしてもよいし、他方端側に向かうに連れ一様であってもよい。また、第２遮光部材２２０の第２貫通孔２２１の光軸方向Ｚと直交する断面積は、他方端側に向かうに連れ次第に小さくしてもよいし、他方端側に向かうに連れ一様であってもよい。また、第１貫通孔２１１と第２貫通孔２２１は同一形状であってもよい。

・第６実施形態において、第１遮光部材２１０における貫通孔２１１の回転角θ１及び第２遮光部材２２０における貫通孔２２１の回転角θ２の少なくとも一方は、負の値であってもよい。

・各ＣＩＳＭを構成する原稿台１７、第１遮光部材１３、レンズアレイ１２、第２遮光部材１４、及び受光部１６において、光軸方向Ｚにおける間隔などは適宜変更してもよい。

・各ＣＩＳＭ（結像光学素子）は、イメージスキャナーの他に、複合プリンター、転写機、カードリーダー、及び認証装置などに適用してもよい。

１０…ＣＩＳＭ（結像光学素子の一例）、１１…レンズ、１２…レンズアレイ、１３，３１，５１，２１０…第１遮光部材（遮光部材の一例）、１４，３２，５２，２２０…第２遮光部材（遮光部材の一例）、２０，４０，６０，２１１，２２１…貫通孔、２１，４１，６１，２１２，２２２…内壁面、２２〜２４，４２〜４４，６２，６３，２１３，２２３…反射面、７０，８０，９０…遮光部材、７１，８１，９１…貫通孔、７２，８２，９２…内壁面、Ｌ…光軸、Ｘ…配列方向（主走査方向）、Ｙ…副走査方向、Ｚ…光軸方向。

Claims (7)

1. 複数のレンズを互いの光軸が平行となるように列状に配したレンズアレイを備え、該レンズアレイの光軸方向における一方端側からの入射光学像を他方端側で結像させて像を形成する結像光学素子であって、
   前記レンズアレイにおける前記一方端側及び前記他方端側の少なくとも一方に配置され、光を通過させる複数の貫通孔が前記レンズアレイにおける前記レンズの配列方向である主走査方向と同方向に列状に設けられた遮光部材をさらに備え、
   前記主走査方向と交差する前記貫通孔の内壁面は、前記光軸方向及び前記主走査方向と直交する副走査方向と交差する反射面を有し、
   前記反射面は、同反射面に入射する光を前記主走査方向と交差する方向に反射することを特徴とする結像光学素子。
2. 前記主走査方向と交差する前記貫通孔の内壁面は、複数の前記反射面を有することを特徴とする請求項１に記載の結像光学素子。
3. 前記主走査方向と交差する前記貫通孔の内壁面は、単一の前記反射面を有することを特徴とする請求項１に記載の結像光学素子。
4. 前記遮光部材は、少なくとも前記レンズアレイの前記一方端側に配置されることを特徴とする請求項１〜請求項３の何れか一項に記載の結像光学素子。
5. 前記反射面は、平滑面且つ低反射面であることを特徴とする請求項１〜請求項４のうち何れか一項に記載の結像光学素子。
6. 前記貫通孔の前記光軸方向と直交する断面の面積は、前記他方端側に向かうに連れ次第に大きくなることを特徴とする請求項１〜請求項５のうち何れか一項に記載の結像光学素子。
7. 前記貫通孔における前記光軸方向と直交する断面の面積は、前記他方端側に向かうに連れ次第に小さくなることを特徴とする請求項１〜請求項５のうち何れか一項に記載の結像光学素子。