JP6124809B2 - 画像読取装置 - Google Patents

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本発明は、コピー機及び紙幣読取機等に用いられる画像読取装置に関する。
従来、コピー機及び紙幣読取機等に用いられる画像読取装置の一つの形態として、密着型イメージセンサが存在する。この密着型イメージセンサは、対象物である原稿を照明する光源と、ライン状に複数画素が配列された一次元撮像素子と、原稿からの反射光を正立等倍像として撮像素子上に原稿の像を結像させる分布屈折率型のロッドレンズアレイとを有する。ここで、ロッドレンズアレイは、装置小型化に課題があるため、ロッドレンズアレイを使わない完全密着型イメージセンサと呼ばれる形態も存在する。この完全密着型イメージセンサは、原稿に近接して配置した一次元撮像素子に、原稿からの散乱光をレンズを介すること無く直接に入射させることにより、原稿からの反射散乱光の強度分布を電子情報として読み取る装置である。
この完全密着型イメージセンサとして、例えば特許文献1に示されるようなものがある。この完全密着型イメージセンサは、基板に形成された受光画素と、遮光部材と、天板ガラスと、原稿照明用の光源とを有し、基板上に、遮光部材によって天板ガラスを支持する構成である。そして、光源からの光が天板ガラスに載置した原稿で反射し、この反射光が各受光画素に入射し、画像の一次元の電子情報が得られる。ここで遮光部材は、筒状の部材でアレイ状に基板に立設され、各受光画素の直上の領域における原稿からの散乱反射光が対応する各受光画素にのみ入射し直上以外の領域からの散乱反射光が他の受光画素に迷光として入射しないように、遮光を行っている。そして、天板ガラス上の原稿をその紙面に垂直な方向にスキャンすることにより、2次元の画像情報を得ることができる。
特開平2−230862号公報
しかしながら、上述した特許文献1に開示される完全密着型イメージセンサは、作製するのが難しいという問題がある。即ち、特許文献1では、まず、受光画素上に遮光部材の材料としてポリイミドを60μmの膜厚に塗布する。次にフォトリソグラフィーによる方法でポリイミドをエッチングして除去する。このようにして各受光画素上に、一辺85μmの方形状の透光部を形成する方法が挙げられている。
ここでフォトリソグラフィーは、精密な位置合わせ工程が必要であるという課題がある。また、エッチングによって厚い遮光部材、例えば数100μm程度以上の遮光部材、を作製するのも困難である。遮光部材の厚みが薄い場合には、基板の受光画素と原稿面との間のスペースをとることができない、すなわち物体距離を大きく取れないという課題が生じる。また、光源から照明光を原稿面に照射するためには、遮光部材の紙面垂直方向における横方向から照明せざるを得ない。よって原稿面から基板の受光画素までに十分なスペースがない場合には、照明光を照射することができない。さらにまた、原稿が天板ガラスから浮いた場合、十分な遮光ができず迷光が発生してしまい解像度が劣化するという問題、言い換えると被写界深度を大きくできないという問題もある。
本発明はこのような問題点を解決するためになされたもので、従来に比べて製作が容易であり、かつ迷光の発生を低減でき解像度の向上が可能な画像読取装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明は以下のように構成する。
即ち、本発明の一態様における画像読取装置は、原稿での反射光を受光する受光画素を有する撮像素子と、上記撮像素子の上方に位置し、上記受光画素の配列方向に直角方向へ移送される上記原稿を載置する天板ガラスと、上記原稿に光を照射する光源と、上記撮像素子と上記天板ガラスとの間に設けられる透光性部材であって、当該透光性部材の表面には、それぞれの上記受光画素に対応して位置し光が通過する開口部、及びこの開口部以外の領域において光通過を阻止する遮光部を形成した光制限層を有する透光性部材と、を備え、複数の上記光制限層が設けられ、各光制限層におけるそれぞれの上記開口部は、上記受光画素の真上に沿って配列されることを特徴とする。
本発明の一態様における画像読取装置によれば、受光画素を有する撮像素子と天板ガラスとの間に透光性部材を配置し、この透光性部材の表面には、開口部及び遮光部を有する光制限層を設けた。よって撮像素子と天板ガラスとの間の隙間は、透光性部材の厚みで容易に調節可能であり、光源から原稿への照明光の照射も容易に行うことができる。また、光制限層を用いることで、受光画素へ入射する光の通路を形成するために、従来のようにフォトリソグラフィー及びエッチングを使用する必要はない。これらのことから、従来に比べて容易に画像読取装置を作製することが可能となる。よって作製上の歩留まりの向上にも寄与することができる。また、ロッドレンズアレイを用いないことから、装置を小型化することができ、運搬等も容易である。
さらにまた、透光性部材を用いて複数の光制限層を設けたことで、受光画素へ入射させる光を調整することができるとともに、受光画素への入射光は、その直上に位置する原稿面からの散乱反射光のみが入射し、原稿面における他の領域からの散乱反射光は光制限層の遮光部で遮光することができる。したがって、迷光の発生を容易に低減することが可能となる。
本発明の実施の形態1による画像読取装置の概略構成を示す斜視図である。 図1に示す画像読取装置における撮像光学系の分解状態を示す斜視図である。 図1に示す画像読取装置における照明光学系の構成例を示す斜視図である。 図1に示す画像読取装置の概略構成を示し、(a)は側面図、(b)は正面図を示す。 図1に示す画像読取装置の効果を説明するための図である。 図1に示す画像読取装置の効果を説明するための図である。 図1に示す画像読取装置の効果を説明するための図である。 図1に示す画像読取装置における原稿面における照度分布を説明するための図である。 図1に示す画像読取装置における原稿面における照度分布を説明するための図である。 図1に示す画像読取装置において受光画素から見た原稿面の視野を説明するための図である。 本発明の実施の形態2による画像読取装置の概略構成を示す斜視図である。 図9に示す画像読取装置における撮像光学系の分解状態を示す斜視図である。 図9に示す画像読取装置の効果を説明するための図である。 図9に示す画像読取装置の効果を説明するための図であり、当該画像読取装置の正面図を示す。 図9に示す画像読取装置の効果を説明するための図であり、図12Aの側面図を示す。 図9に示す画像読取装置の効果を説明するための図であり、斜視図を示す。 図9に示す画像読取装置の効果を説明するための図である。 本発明の実施の形態3による画像読取装置の概略構成を示す斜視図である。 図14に示す画像読取装置における撮像光学系の分解状態を示す斜視図である。 図1に示す画像読取装置における遮光設計の手法例を説明するための図である。 図1に示す画像読取装置における遮光設計の手法例を説明する図であり、図16Aに示す光線から主な光線の光路を示す図である。 従来の画像読取装置の概略構成を示すとともに課題を説明する図である。
本発明の実施形態である画像読取装置について、図を参照しながら以下に説明する。尚、各図において、同一又は同様の構成部分については同じ符号を付している。また、以下の説明が不必要に冗長になるのを避け当業者の理解を容易にするため、既によく知られた事項の詳細説明及び実質的に同一の構成に対する重複説明を省略する場合がある。また、以下の説明及び添付図面の内容は、特許請求の範囲に記載の主題を限定することを意図するものではない。
実施の形態1.
本実施の形態による画像読取装置を説明する前に、従来の画像読取装置における問題点について、図17を参照して今一度詳しく説明する。
図17において、311は基板、312は基板311に形成した受光画素、301は遮光部材、302は透光部、320は天板ガラス、330は原稿である。ここで、遮光部材301は、基板311を覆って設けたポリイミドをフォトリソグラフィーによるエッチングすることで基板311に柱状に立設して形成した。
このように構成された従来の画像読取装置では、遮光部材301の厚みが薄い(高さが低い)場合には、既に説明したように、光源から原稿330へ照明光を十分に照射できない、さらには迷光が発生するという問題が発生する。但し、遮光部材301の厚みが薄い場合であっても、図17の(a)に示すように原稿330が天板ガラス320に近接しているときには、受光画素312の「a」には、隣接する受光画素312の「b」の直上にある原稿領域からの散乱光340は入射しない。
一方、図17の(b)に示すように、原稿330が天板ガラス320から浮き遠くなったときには、遮光部材301の厚みが薄い場合には、受光画素312の「a」には、隣接する受光画素312の「b」の直上にある原稿領域からの散乱光341が入射する可能性が生じる。
よって、原稿330が天板ガラス320から遠い場合においても迷光を抑制するためには、図17の(c)に示すように、遮光部材301の厚みを厚くすれば良いが、厚い遮光部材301は作製が困難であるという問題がある。
本実施の形態による画像読取装置は、このような問題点も解決するもので、従来に比べて製作が容易であり、かつ迷光の発生を低減でき解像度の向上が可能な画像読取装置である。
図1から図8を参照して、本発明の実施の形態1における画像読取装置101の一例について説明する。
図1は、画像読取装置101の全体概略構成を示しており、画像読取装置101は、大別すると、撮像光学系1と、照明光学系2と、天板ガラス3とを備え、天板ガラス3に載置された撮像対象物に対して、照明光学系2から光が照射され、撮像対象物での反射光を撮像光学系1で受光する構成である。図2では、特に撮像光学系1の分解図を示している。尚、撮像対象物とは、撮像される物全般であり、例えば、文字あるいは画像等が印刷された印刷物であり、以下、「原稿」とも記す。また、以下でも説明するが、原稿は天板ガラス3に載置されながら、副走査方向であるY方向に搬送され撮像が行われる。
撮像光学系1は、撮像素子基板11と、第1アパーチャガラス基板14と、第2アパーチャガラス基板15とを有し、第1アパーチャガラス基板14と第2アパーチャガラス基板15とは、互いに接触して、主走査方向のX方向及び副走査方向のY方向に直交するZ方向において重なって配置され、撮像素子基板11上に設置される。
撮像素子基板11は、非透光性部材から形成された基板であり、その表面11aに撮像素子チップ12が実装されている。撮像素子チップ12には、受光画素13が主走査方向のX方向に沿って一列に配列されている。受光画素13は、原稿からの反射光を受光する部分であり、一例として、画素密度200dpi、すなわちピッチ126μmで配列され、受光画素領域は63μm×63μmである。
第1アパーチャガラス基板14及び第2アパーチャガラス基板15は、透光性部材の一例に相当し、本実施の形態では、透明なガラス材から形成される。しかしながら、第1アパーチャガラス基板14及び第2アパーチャガラス基板15は、透明でなくてもよく、光を透過可能な部材で形成することができる。また、第1アパーチャガラス基板14及び第2アパーチャガラス基板15は、本実施の形態では共に同形状で図示するような直方体形状であるが、この形状に限定するものではない。
第1アパーチャガラス基板14において、撮像素子基板11の受光画素13に対向する面14aには、光制限層の一例に相当する第1層アパーチャアレイ16が形成されている。第1層アパーチャアレイ16は、光が通過する開口部16aと、光の通過を阻止する遮光部16bとを有する。第1層アパーチャアレイ16において開口部16aは、主走査方向のX方向に沿って受光画素13と同じ配列ピッチ、つまり本実施形態では126μmで一列状に配列されている。開口部16aは、本実施の形態では例えば24μm×24μmのサイズを持つ正方形状である。第1層アパーチャアレイ16において遮光部16bは、開口部16a以外の領域に対応する。このような第1層アパーチャアレイ16は、例えば印刷工程により、第1アパーチャガラス基板14の面14aに光吸収材料を塗布することで容易に形成することができる。Z方向において第1アパーチャガラス基板14の厚みは、例えば0.4mmである。
第2アパーチャガラス基板15では、第1アパーチャガラス基板14に対向する面15aに、光制限層の一例に相当する第2層アパーチャアレイ17が形成され、さらに、面15aに対向する他面15bに、光制限層の一例に相当する第3層アパーチャアレイ18が形成されている。第2層アパーチャアレイ17についても、光が通過する開口部17aと、光の通過を阻止する遮光部17bとを有する。また、第3層アパーチャアレイ18についても、光が通過する開口部18aと、光の通過を阻止する遮光部18bとを有する。
第2層アパーチャアレイ17において開口部17aは、主走査方向のX方向に沿って受光画素13と同じ配列ピッチの、本実施形態では126μmで一列状に配列されている。開口部17aは、本実施の形態では例えば32μm×32μmのサイズを持つ正方形状である。
第3層アパーチャアレイ18において開口部18aは、主走査方向のX方向に沿って受光画素13と同じ配列ピッチの、本実施形態では126μmで一列状に配列されている。開口部18aは、本実施の形態では例えば40μm×40μmのサイズを持つ正方形状である。第1層アパーチャアレイ16における開口部16aを含めて、開口部17a及び開口部18aは、Z方向において同軸上に位置する。
また、第2層アパーチャアレイ17及び第3層アパーチャアレイ18も、第1層アパーチャアレイ16と同様に、例えば印刷工程により光吸収材料を塗布することで容易に形成することができる。また、Z方向において第2アパーチャガラス基板15の厚みは、例えば0.6mmである。
本実施の形態において、上述のように第1、第2、第3層のアパーチャアレイ16,17,18における各開口部16a、17a、18aの大きさは、それぞれ異なっていても良いし、同じであっても良い。
また、本実施の形態では、第2層アパーチャアレイ17は、第2アパーチャガラス基板15の面15aに形成したが、第1アパーチャガラス基板14の面14bに形成しても良い。ここで面14bは、第1アパーチャガラス基板14の面14aに対向する面である。
撮像光学系1を構成する上述の各部品の組み立て方法として、まず、第1アパーチャガラス基板14と第2アパーチャガラス基板15とを、互いの対向する面14bと面15aとを接着等で貼りあわせる。次に、この第1、第2のアパーチャガラス基板14,15が一体化されたものを、撮像素子基板11における撮像素子チップ12の上方にスペーサ91(図4)を介して配置する。このスペーサ91のZ方向における厚みは例えば0.6mmである。この場合、Z方向において受光画素13と第1層アパーチャアレイ16との間隔は0.6mmとなる。
次に、照明光学系2について説明する。
照明光学系2は、原稿面に光源から照明光を照射するためのものである。その構成の一例を図3の(a)に示す。照明光学系2は、光源の一例に相当するLEDアレイ21と、導光体22とを備える。LEDアレイ21は、複数のLEDを主走査方向のX方向に一列以上にて配列したものである。このような構成において、LEDアレイ21から出射された出射光21aは、導光体22内を伝播し、原稿面41に照明光を照射する。
また、照明光学系2の別の構成の一例を図3の(b)に示す。この例では、主走査方向のX方向における導光体22の両端に、光源に相当するLED23が配置され、LED23からの出射光21aは導光体22内を伝播し、導光体22の下部に設けた散乱部24によって散乱されて、原稿面41を照明する。
次に、天板ガラス3は、撮像光学系1、照明光学系2の上方に配置され、原稿を載置する。天板ガラス3の厚みは、例えば1mmである。また、天板ガラス3に載置される原稿は、受光画素13の配列方向である主走査方向のX方向に直角方向である副走査方向のY方向へ移送される
以上のように構成される画像読取装置101における動作である撮像機能について、図4等を参照して説明する。ここで、撮像される原稿は天板ガラス3に載置され移送されるが、このとき原稿が天板ガラス3から浮き上がる場合もある。よって、画像読取装置101は、天板ガラス3の表面上に相当する原稿面41から、原稿面41からZ方向において距離H離れた原稿面42までの間を撮像することを想定する。
また図4において、(a)は画像読取装置101の側面図を、(b)は正面図を示している。
照明光学系2から発せられた照明光線51は、天板ガラス3に載置した原稿の原稿面に照射され、また、原稿は副走査方向のY方向に搬送される。このとき原稿が受光画素13の配列ピッチに相当する126μmを搬送される時間間隔で、受光画素13によって原稿における一ラインの画像情報が読み取られていく。
具体的に説明すると、照明光学系2から発せられた照明光線51(図4の(a))は、原稿面41から原稿面42に存在する原稿31を照射する。原稿31の原稿面で反射した散乱光の強度分布が撮像光学系1によって記録される。例えば、図4の(b)に示す点Pから発せられた散乱光は、あらゆる方向に散乱するが、点Pの真下に散乱される光線53のみが受光画素13まで到達する。一方、点Pの真下以外に散乱される光線52は、第1、第2、第3層のアパーチャアレイ16,17,18までのいずれかで遮光されるか、あるいは撮像素子チップ12における受光画素13以外の領域に到達する。
アパーチャアレイが複数層必要である理由について、図5から図7を用いて説明する。
図5はアパーチャアレイとして、第3層アパーチャアレイ18のみを設けた場合を示している。受光画素13のうちの一つを受光画素Q1とし、順にQ2、Q3、Q4、…と配列されているとする。それらの受光画素Q1,Q2,…に対応する、第3層アパーチャアレイ18の開口部をR1、R2、R3、…とする。各開口部Riを通過して、対応する受光画素Qiに到達する光線群の、原稿面42における出発点群の領域を視野44とし、F1、F2、F3、…とする。各受光画素Qiに対応する視野Fiの領域の外からの光線が受光画素Qiに到達する光、つまり迷光が存在すると、コントラストの大きな低下、あるいはゴースト像の発現が生じてしまう。例えば、受光画素Q1の上方に存在する、原稿面42における点Pから散乱する光線を考える。散乱光線54のように、開口部R3を通過する光線は受光画素Q4に到達してしまい、迷光となる。よって図5に示すように、アパーチャアレイが一層のみの場合には、明瞭な画像を得ることができない。
そこで、図6に示すように、図5の構成に対して第1層アパーチャアレイ16を追加して、2層構成とする。また第1層アパーチャアレイ16の開口部をS1、S2、S3、…とする。図6の構成では、上述の散乱光線54は、開口部S3とS4との間の遮光部によって遮断されている。この例のように、2層のアパーチャアレイをZ方向に適切な間隔を保って配置し、さらにアパーチャアレイの開口部の大きさを適切な大きさにした場合には、大きな遮光効果が得られ、迷光のない明瞭な画像を得ることができる。
しかしながら、2層だけでは十分な遮光効果が得られない場合もある。即ち、図6では、点Pから、散乱光線54よりも少し大きな角度で散乱する散乱光線55の例が示されている。この散乱光線55は、開口部R3及び開口部S4を通過した後、受光画素Q4に到達し、迷光となっている。よって図6に示す例では、2層にてアパーチャアレイを設けた場合には大きな遮光効果が得られるが、わずかに迷光が残っている。
但し、受光画素13から得られる画像における解像度の許容度に応じて、アパーチャアレイの層数は、最低2層とすることができる。
さらに迷光を無くして明瞭な画像を得るためには、図6に示す散乱光線55のような光路を遮断する必要がある。このためには図7に示すように、さらに第2層アパーチャアレイ17を加えれば良い。図7からも明らかなように、散乱光線55は、第2層アパーチャアレイ17で遮断され、受光画素13に到達しない。即ち、アパーチャアレイを3層にすると、2層の場合よりも大きな遮光効果が得られ、迷光のない明瞭な画像を得ることができる。
なお、透光性部材で構成した第1アパーチャガラス基板14、第2アパーチャガラス15及び天板ガラス3等と空気との界面では、屈折により光線の進行方向が偏向されるが、図4から図7では、便宜上、光線は直進するとして作図している。遮光を実現するための実際の設計作業においては、屈折光線の偏向方向を考慮して開口部の大きさ及び配置を決定する。
また、遮光の設計作業においては、あらゆる方向に光を放射する面状の仮想光源を受光画素13に置き、そこから原稿面に対し光線追跡を実行し、該受光画素13の直上以外の開口部から原稿面に到達する光線がないように、開口部の大きさ及び配置を決定すれば良い。その一例を図16Aに示す。受光画素13を仮想的な面光源とし、そこから上方のあらゆる角度に光を放射させる。この図から分かるように、直上の開口以外に進行する光線は、第1層から第3層アパーチャアレイ16〜18で全て遮光されている。代表的な光線のみを取り出した図を、図16Bに示す。ここでは第1層から第3層アパーチャアレイ16〜18の各開口部を、図示のようにRi,Si,Ti(iは整数)と名付ける。
受光画素13のうちのひとつ受光画素Q1から真上に放射された光線61は、開口部R1、S1、T1のそれぞれを通り抜け、原稿面42に到達する。
一方、受光画素Q1から開口部R2を通り抜ける光線62は、第2層アパーチャアレイ17で遮光されるように、第2層アパーチャアレイ17の開口部Siの大きさ、及び第1層アパーチャアレイ16から第2層アパーチャアレイ17までの距離が設定される。このとき、受光画素Q1から開口部R3を通り抜ける光線63は、第2層アパーチャアレイ17の開口部S4を通り抜けてしまうが、第3層アパーチャアレイ18で遮光されるように、第3層アパーチャアレイ18の開口部Tiの大きさ、及び第2層アパーチャアレイ17から第3層アパーチャアレイ18までの距離が設定される。この設計例では、受光画素Q1から開口部R4を通り抜ける光線64は、第2層アパーチャアレイ17の開口部S5を通り抜けるが、第3層アパーチャアレイ18の開口部T7と開口部T8との間にある遮光部で遮光される。受光画素Q1から第1層アパーチャアレイ16の開口部R5を通る光線65、及び受光画素Q1から第1層アパーチャアレイ16の開口部R6を通る光線66は、第2層アパーチャアレイ17で遮光される。
以上のような手順で、遮光設計を行うことができる。ここで、上述の例で例えば光線64が第3層アパーチャアレイ18で遮光できない場合には、さらにアパーチャアレイを追加してもよい。
このように1つの受光画素13からあらゆる方向に光線を射出し、その受光画素の直上以外へ進行するすべての光線が遮光されるとき、つまり実際においては原稿からの散乱光がその真下にある画素以外には到達しない、すなわち迷光が発生しないことは明らかである。
次に、迷光が存在しない場合に得られる画像の解像度、及び被写界深度について図8Aから図8C(以下、総称して図8と記す場合もある)を参照して説明する。
図8Cに示すように、受光画素13から原稿面の方に向けて、仮想的に逆方向に光線を追跡させ、原稿面41、42上での照度分布を計算する。図8Cにおいて、受光画素13の右端から第3層アパーチャアレイ18の開口部18aの左端を通過する光線が原稿面41、42を通過する点をそれぞれ「a」、「a’」とする。受光画素13から第1層アパーチャアレイ16の開口部16aの左端及び第3層アパーチャアレイ18の開口部18aの左端を通過する光線が原稿面41、42を通過する点をそれぞれ「b」、「b’」とする。同様に、上述の左右対称な点を「c」、「c’」、「d」、「d’」とする。
次に、受光画素13に一様な空間分布、かつ一様な放射角分布で散乱放射する面光源を設置したと仮定するときの、原稿面41、42での逆光線追跡による照度分布を図8B及び図8Aに示す。照度分布は略台形形状となり、その分布の横幅の位置は、点a’から点d’、もしくは点aから点dで表される。主走査方向のX方向に各受光画素13からの逆光線追跡による照度分布を重ねて描くと、図8B及び図8Aにおいて、右側に示すようなグラフとなる。
この逆光線追跡による照度分布は、原稿面から逆に見ると、原稿面のある点から受光画素13に到達する光量を表していると考えることができる。例えば、図8Cの主走査方向(X方向)における、原稿面41における点P1,P2,P3、及び、原稿面42における点P1’,P2’,P3'を考える。図8Bから分かるように、点P1、点P2からの光線は、受光画素Q1に到達するが、隣接する受光画素Q2には到達しない。点P3からの光線は、受光画素Q1及び受光画素Q2にわずかずつ到達する。同様に、図8Aから、原稿面42における点P1’からの光線は、受光画素Q1に主に到達し、隣接する受光画素Q2にはわずかな光量が到達する。点P2’からの光線では、点P1’からの光線に比べ、受光画素Q2に到達する光量の割合が増加する。境界部である点P3’からの光線は、受光画素Q1及び受光画素Q2に等量ずつ配分される。
このように、本画像読取装置101により近い面である原稿面41では、隣接する受光画素13間で画像情報が混在することはなく、解像度の高い画像が得られる。一方、より遠い原稿面42においては、隣接する受光画素13間の境界で画像情報が混在することから、画素ピッチに対応する空間周波数の解像度は若干劣化する。容易に類推できるように、原稿面42よりも遠い面においては、隣接受光画素13間の画像情報の混在率が大きくなり、距離が離れるに従って解像度が劣化する。
上述した実施の形態1の説明で記した具体的な数値を当てはめた計算例では、逆光線追跡による原稿面41におけるスポットの大きさは、約1画素ピッチである約126μmとなり、原稿面41と原稿面42との間の距離Hを2mmとしたときの原稿面42におけるスポットの大きさは約2画素ピッチである約252μmとなる。このとき、センサ画素密度200dpiに相当する空間周波数4 lp/mmでのコントラストでは、原稿面42上でも30%を確保することが可能となる。
以上説明したように、本実施の形態1の画像読取装置101によれば、迷光を効果的に遮光することができる。よって、受光画素と原稿面との間のスペース、即ち物体距離を大きくすることができ、つまり被写界深度も大きくすることができる。
実施の形態2.
図9から図13を参照して、本発明の実施の形態2における画像読取装置102の一例について説明する。
実施の形態1では、撮像素子基板11の撮像素子チップ12において、受光画素13は主走査方向のX方向に沿って一列に配列している。これに対して本実施の形態2の画像読取装置102では、受光画素13は主走査方向のX方向に沿って千鳥状に配列した点で相違する。また、実施の形態1では2つの第1アパーチャガラス基板14及び第2アパーチャガラス基板15を使用しているが、本実施の形態2では第1アパーチャガラス基板14のみを用いている。以下では、主にこれらの相違部分について説明を行う。
本実施形態の画像読取装置102は、画像読取装置101と同様に、撮像光学系1と、照明光学系2と、天板ガラス3とを備える。
撮像光学系1の分解図を図10に示す。撮像素子基板11に実装されている撮像素子チップ12は、受光画素13が第1列12aと第2列12bとの2列に千鳥配列されている。例えば、取得画像の解像度を200dpiとすると、一列内における受光画素13の画素ピッチは2p=252μmで、副走査方向(Y方向)に並んだ第1列12aと第2列12bとの列間隔はp=126μmであり、第1列12aにおける各受光画素13の配列の中間に、第2列12bにおける各受光画素13が位置するようにして、千鳥配列されている。また、受光画素13の領域サイズは、例えば100μm×100μmであるとする。
第1アパーチャガラス基板14は、本実施の形態2では、受光画素13に対面する面14aだけでなく、面14aに対向する面14bにもアパーチャアレイのパターンが印刷されている。つまり、第1アパーチャガラス基板14の面14aは、第1層アパーチャアレイ16−2を有し、面14bは第2層アパーチャアレイ17−2を有する。第1層、第2層アパーチャアレイ16−2,17−2の開口部16a,17aは、受光画素13と同じ配列ピッチにて千鳥配列されており、Z方向において第1層アパーチャアレイ16−2の開口部16aの上方に第2層アパーチャアレイ17−2の開口部17aが存在する。
尚、第1層アパーチャアレイ16−2の開口部16aの大きさは、第2層アパーチャアレイ17−2の開口部17aの大きさと異なっていても良いし、同じであっても良い。本実施の形態2では、第1層アパーチャアレイ16−2の開口部16a領域は、例えば60μm×60μmのサイズを持つ正方形状であり、第2層アパーチャアレイ17−2の開口部17a領域は、例えば80μm×80μmのサイズを持つ正方形状である。また、第1アパーチャガラス基板14の厚みは、例えば1.3mmである。
以上のような構成を有する本実施の形態2の画像読取装置102においても、実施の形態1と同様に、原稿が天板ガラス3を副走査方向(Y方向)に、受光画素13の第1列12aと第2列12bとの列間隔pの126μmを搬送される時間間隔で、受光画素13によって、原稿の画像情報が読み取られる。第1列12aにおける受光画素13及び第2列12bにおける受光画素13で読み取られた画像情報は、副走査方向(Y方向)には一画素シフトさせられ、主走査方向(X方向)には一画素ずつ交互に並べられて、全体の画像情報が復元される。
本実施の形態2においては、実施の形態1と比較してアパーチャアレイによる迷光の遮光性能が高いことから、次の効果がある。(1)より大きな面積を持つ開口部であっても隣接する開口部からの迷光を遮断できる。(2)アパーチャアレイの層数を減らすことができる。
受光画素13を2列千鳥配列にすることで迷光の遮光性能が高くなる理由について、図11及び図12Aから図12C(総称して図12と記す場合もある)を用いて説明する。
受光画素13から原稿面へ仮想光線を出射させる逆光線追跡を用いて、迷光光路が存在するか否かを調べる。図11は、受光画素13が主走査方向のX方向に沿って一列に配列され、2層のアパーチャアレイを有する構成を示している。図11の構成の場合、受光画素Q3から第1層アパーチャアレイ16−2の開口部R3、及び第2層アパーチャアレイ17−2の開口部S4を通過する、迷光光線56のような経路が存在する。
図12は、図11の構成において、受光画素13を2列の千鳥配列にした場合の構成図である。即ち、図12に示す構成は、図11の場合と同じ画素ピッチであり、第1層及び第2層アパーチャアレイについて、各開口部のサイズ及びZ方向における面間隔も全て図11の場合と同じであるが、受光画素13、第1層アパーチャアレイ16−2、及び第2層アパーチャアレイ17−2が2列の千鳥配列になっている点が異なる。
図12の場合、例えば受光画素Q3から第1層アパーチャアレイ16−2の開口部R3を通る光線56を考える。Z方向から副走査方向(Y方向)への光線56の傾斜角度がほとんどなく、主走査方向(X方向)にのみ天板ガラス3側へ光線56が進行するような場合には、図12Aに示すように、開口部S3と開口部S4との間の遮光部17bの領域にて光線56を遮光することができる。一方、図12Bに示すように、Z方向から副走査方向(Y方向)への光線56の傾斜角度が比較的大きい場合には、図12Bもしくは図12Cに光線56’として示しているように、受光画素Q3→第1層アパーチャアレイ16−2の開口部R3→第2層アパーチャアレイ17−2の開口部S4の経路で通り抜ける光線56’が存在する場合もある。しかし、このような光線56’は、副走査方向に大きく傾いているので、次のような手段によって容易に遮光することができる。
例えば、(1)天板ガラス3の上面3a(図12B)において、撮像光学系1の読み取り光軸から外れた位置に遮光マスクを設ける、(2)天板ガラス3の側面3b(図12B)に遮光マスクを設ける、(3)原稿面に対する照明光の照明領域を撮像光学系1の読み取り位置付近にのみ制限し、逆光線追跡による上述の光線56’のような光線が到達する原稿面における領域には照明光を照射しないようにする、などの対策が考えられる。
あるいは、図13に示すように、受光画素13における2列の千鳥配列について、副走査方向(Y方向)における間隔を、ピッチpよりも大きく離してqとする手法もある(q>p)。こうすることで、受光画素13だけでなく、第1層アパーチャアレイ16−2及び第2層アパーチャアレイ17−2における各開口部の2列間の副走査方向間隔も広がることから、上述の光線56’のように副走査方向への傾斜が比較的大きい光線を第2層アパーチャアレイ17−2の遮光部17bにて遮光することができる。
この場合、2列の受光画素13で得られたそれぞれの画像から、全体の画像を復元するには、副走査方向に(q÷p)画素だけシフトさせて合成すればよい。例えば、q=2pだけ2列間が離れているとするならば、2画素シフトさせて合成すればよい。
受光画素13を2列千鳥配列にすることの効果を要約して述べると、2列千鳥配列にすることで、各列において、受光画素13の主走査方向(X方向)の画素ピッチ、及びアパーチャアレイの開口部間のピッチをpの2倍に広げることができ、遮光が容易になるということである。尚、第1層及び第2層アパーチャアレイにおいて異なる列に属する開口部を通過する迷光もあり得るが、このような迷光は、副走査方向(Y方向)において読み取りの光軸から大きく離れる光線であるため、遮光は容易に行うことができる。
上述した実施の形態2では、アパーチャアレイが2層で、2列千鳥配列の場合について述べたが、この構成に限定するものではない。即ち、アパーチャアレイは3層以上であっても良く、千鳥配列の配列数も3列以上であっても良く、3層以上かつ3列以上の各数の組み合わせであっても良い。アパーチャアレイの層数が多いほど、あるいは千鳥配列の配列数が多いほど遮光性能を高くすることができる。
以上説明したように、本実施の形態2の画像読取装置102によれば、実施の形態1の構成に比べてさらに迷光を効果的に遮光することが可能となる。よって、受光画素と原稿面との間のスペース、即ち物体距離をより大きくすることができ、つまり被写界深度もより大きくすることができる。また、実施の形態1において説明した画像読取装置101における変形例についても、本実施の形態2の画像読取装置102に適用することができる。
実施の形態3.
図14から図15を参照して、本発明の実施の形態3における画像読取装置103の一例について説明する。
実施の形態1、2では、撮像光学系1に備わる撮像素子基板11は、非透光性部材から形成された基板を使用している。これに対して本実施の形態3では、撮像光学系1に備わる撮像素子基板は、透光性部材、例えばガラス材で透明な基板を使用し、いわゆる裏面照射型の撮像素子基板である。以下では、主にこの相違部分について説明を行う。
本実施形態の画像読取装置103は、図14に示すように、画像読取装置101と同様に、撮像光学系1と、照明光学系2と、天板ガラス3とを備えている。また撮像光学系1の分解図を図15に示す。撮像光学系1に備わる撮像素子基板81は、ガラス基板であり、撮像素子チップ12は撮像素子基板81の一表面81a、例えば下面にTFT(Thin Film Transistor)として形成され、受光画素13は裏面照射型である。尚、撮像光学系1におけるその他の構成部分は、実施の形態1にて説明した構成に同じであり、ここでの説明を省略する。
撮像光学系1を構成する上述の各部品を組み立て方法として、まず、第1アパーチャガラス基板14と第2アパーチャガラス基板15とを、互いの対向する面14bと面15aとを接着等で貼りあわせる。次に、この第1、第2のアパーチャガラス基板14,15が一体化されたものを、撮像素子基板81の上面に、第1層アパーチャアレイ16の開口部16aと受光画素13とのXY面内での位置あわせを行いながら接着する。ここで撮像素子基板81の上面は、一表面81aに対向する他表面81bが相当する。
このように、本実施の形態3における画像読取装置103に備わる撮像光学系1は、2回の接着だけで作製でき、また全てガラス製であるため堅牢で小型であるという利点を有する。また、受光画素13は、裏面照射型であるため、ガラス製の撮像素子基板81の他表面81bから撮像素子基板81内に入射した光線は、撮像素子基板81を通り受光画素13に到達する。
以上のように構成される本実施の形態3の画像読取装置103においても、実施の形態1において上述した、画像読取装置101が奏する効果を得ることが可能である。また、実施の形態1において説明した画像読取装置101における変形例についても、本実施の形態3の画像読取装置103に適用することができる。
また、上述した各実施形態における構成を適宜組み合わせた構成を採ることもできる。
1 撮像光学系、2 照明光学系、3 天板ガラス、
11 撮像素子基板、13 受光画素、14 第1アパーチャガラス基板、
15 第2アパーチャガラス基板、16 第1層アパーチャアレイ、16a 開口部、
16b 遮光部、17 第2層アパーチャアレイ、17a 開口部、17b 遮光部、 18 第3層アパーチャアレイ、18a 開口部、18b 遮光部、
21 LEDアレイ、23 LED、31 原稿、81 撮像素子基板、
101〜103 画像読取装置。

Claims (5)

  1. 原稿での反射光を受光する受光画素を有する撮像素子と、
    上記撮像素子の上方に位置し、上記受光画素の配列方向に直角方向へ移送される上記原稿を載置する天板ガラスと、
    上記原稿に光を照射する光源と、
    上記撮像素子と上記天板ガラスとの間に設けられる透光性部材であって、当該透光性部材の表面には、それぞれの上記受光画素に対応して位置し光が通過する開口部、及びこの開口部以外の領域において光通過を阻止する遮光部を形成した光制限層を有する透光性部材と、を備え、
    複数の上記光制限層が設けられ、各光制限層におけるそれぞれの上記開口部は、上記配列方向及び上記移送方向に直交する方向において同軸上に、上記受光画素の真上に沿って配列される、
    ことを特徴とする画像読取装置。
  2. 原稿での反射光を受光する受光画素を有する撮像素子と、
    上記撮像素子の上方に位置し、上記受光画素の配列方向に直角方向へ移送される上記原稿を載置する天板ガラスと、
    上記原稿に光を照射する光源と、
    上記撮像素子と上記天板ガラスとの間に設けられる透光性部材であって、当該透光性部材の表面には、それぞれの上記受光画素に対応して位置し光が通過する開口部、及びこの開口部以外の領域において光通過を阻止する遮光部を形成した光制限層を有する透光性部材と、を備え、
    複数の上記光制限層が設けられ、各光制限層におけるそれぞれの上記開口部は、上記受光画素の真上に沿って配列され、上記開口部の上記光制限層内において上記受光画素の配列ピッチと同じピッチで配列されている、
    ことを特徴とする画像読取装置。
  3. 上記受光画素は、複数列に千鳥状に配置され、各光制限層におけるそれぞれの上記開口部も上記受光画素の真上にて千鳥状に配列される、請求項1又は2に記載の画像読取装置。
  4. 上記撮像素子は、透光性を有する基板の一面に製作された裏面照射型の受光画素を有し、上記一面に対向する当該基板の他面に、上記透光性部材における上記光制限層が重ねられる、請求項1から3のいずれか1項に記載の画像読取装置。
  5. 上記光制限層の少なくとも2層は、一つの上記透光性部材の互いに対向する2つの面に存在する、請求項1からのいずれか1項に記載の画像読取装置。
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