JP2015064382A - プローブの電気的接点を強化した構造を備えた集積回路用プローブカード - Google Patents
プローブの電気的接点を強化した構造を備えた集積回路用プローブカード Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015064382A JP2015064382A JP2014257240A JP2014257240A JP2015064382A JP 2015064382 A JP2015064382 A JP 2015064382A JP 2014257240 A JP2014257240 A JP 2014257240A JP 2014257240 A JP2014257240 A JP 2014257240A JP 2015064382 A JP2015064382 A JP 2015064382A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- integrated circuit
- probe card
- circuit board
- angle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 112
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 9
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 9
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 10
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000037361 pathway Effects 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 239000000047 product Substances 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 1
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
- G01R1/0441—Details
- G01R1/0466—Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/2872—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
- G01R31/2879—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to electrical aspects, e.g. to voltage or current supply or stimuli or to electrical loads
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
Description
12、42、61 回路板
14 支持体
16 プローブ
20 コンタクトホール
24 エポキシ樹脂
26、31、65 リード
30 被検査素子
33、63 導電性柱状体
38 信号コンタクト
41、71 後端部
42’ 中央開口
43 湾曲部
44 第2の支持構造
44’ 第1の支持構造
45 連結アーム
46 カンチレバー型プローブ
47、77 尖端部
48 第2の粘着体
48’ 第1の粘着体
49 第3の角度
51、101 仲介物
55、85 第1の角度
57 第2の角度
75 直線状本体
76 バーチカル型プローブ
81 支持構造
83 上部ガイド板
87 下部ガイド板
91、111 角度
132、152、172、192 平面部
Claims (10)
- 少なくとも一つの導電性柱状体を備えている回路板と、
後端部と、湾曲部と、連結アームと、尖端部とを有している少なくとも一つのカンチレバー型プローブであって、前記連結アームは、前記尖端部と前記湾曲部とを結合するように配置されており、前記後端部は、前記湾曲部と前記少なくとも一つの導電性柱状体とを結合するように配置されている少なくとも一つのカンチレバー型プローブと、
前記湾曲部を支持するように前記回路板上に設けられている第1の支持構造と、
前記連結アームを支持するように前記回路板上に設けられている第2の支持構造と、
を具備しており、
前記湾曲部は水平線とで第1の角度をなしており、前記連結アームは前記水平線とで第2の角度をなしており、前記第1の角度は前記第2の角度とは異なっている、ことを特徴とする集積回路用プローブカード。 - 前記後端部と前記回路板との間に第3の角度を有している、ことを特徴とする請求項1に記載の集積回路用プローブカード。
- 前記第3の角度の角度が15度ないし60度の間である、ことを特徴とする請求項2に記載の集積回路用プローブカード。
- 前記回路板が、前記後端部と前記少なくとも一つの導電性柱状体との間に設けられている少なくとも一つの仲介物を備えている、ことを特徴とする請求項1に記載の集積回路用プローブカード。
- 前記仲介物が、電気信号を前記導電性柱状体または前記カンチレバー型プローブに垂直方向で伝送するように配置されている、ことを特徴とする請求項4に記載の集積回路用プローブカード。
- 前記湾曲部を前記第1の支持構造上に固定するように配置されている第1の粘着体をさらに備えている、ことを特徴とする請求項1に記載の集積回路用プローブカード。
- 前記連結アームを前記第2の支持構造上に固定するように配置されている第2の粘着体をさらに備えている、ことを特徴とする請求項1に記載の集積回路用プローブカード。
- 前記後端部が、前記回路板に接触するように配置されている平面部をさらに有している、ことを特徴とする請求項1に記載の集積回路用プローブカード。
- 前記尖端部が、被検査チップに接触するように配置されている、ことを特徴とする請求項1に記載の集積回路用プローブカード。
- 前記導電性柱状体が、前記プローブの後端部とリードとを電気的に接続するように配置されている、ことを特徴とする請求項1に記載の集積回路用プローブカード。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW101100899A TWI465726B (zh) | 2012-01-10 | 2012-01-10 | 具有強化探針電性觸點結構之積體電路測試卡 |
TW101100899 | 2012-01-10 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012073003A Division JP5731432B2 (ja) | 2012-01-10 | 2012-03-28 | プローブの電気的接点を強化した構造を備えた集積回路用プローブカード |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015064382A true JP2015064382A (ja) | 2015-04-09 |
Family
ID=48993520
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012073003A Active JP5731432B2 (ja) | 2012-01-10 | 2012-03-28 | プローブの電気的接点を強化した構造を備えた集積回路用プローブカード |
JP2014257240A Pending JP2015064382A (ja) | 2012-01-10 | 2014-12-19 | プローブの電気的接点を強化した構造を備えた集積回路用プローブカード |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012073003A Active JP5731432B2 (ja) | 2012-01-10 | 2012-03-28 | プローブの電気的接点を強化した構造を備えた集積回路用プローブカード |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JP5731432B2 (ja) |
KR (1) | KR101296523B1 (ja) |
TW (1) | TWI465726B (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI632374B (zh) * | 2016-12-29 | 2018-08-11 | Sv探針私人有限公司 | 探針卡 |
CN113533805B (zh) * | 2020-04-20 | 2024-01-23 | 台湾中华精测科技股份有限公司 | 分隔式薄膜探针卡及其弹性模块 |
CN113777369B (zh) * | 2020-06-10 | 2023-12-19 | 台湾中华精测科技股份有限公司 | 悬臂式薄膜探针卡 |
CN214473740U (zh) * | 2021-01-08 | 2021-10-22 | 迪科特测试科技(苏州)有限公司 | 高速回送测试装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0749355A (ja) * | 1993-06-29 | 1995-02-21 | Nobuaki Suzuki | 検査・試験用プローブ装置とプローブ装置取付構造 |
JPH10239351A (ja) * | 1997-02-27 | 1998-09-11 | Mitsubishi Materials Corp | コンタクトプローブおよびその製造方法 |
JP2004069485A (ja) * | 2002-08-06 | 2004-03-04 | Yamaha Corp | プローブユニットおよびその製造方法、プローブカードおよびその製造方法 |
JP2007303826A (ja) * | 2006-05-08 | 2007-11-22 | Tokyo Electron Ltd | プローブ |
JP2009139169A (ja) * | 2007-12-05 | 2009-06-25 | Japan Electronic Materials Corp | カンチレバー型プローブカード |
JP2009236509A (ja) * | 2008-03-26 | 2009-10-15 | Fujitsu Microelectronics Ltd | プローブカード |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11142433A (ja) * | 1997-11-10 | 1999-05-28 | Mitsubishi Electric Corp | 垂直針型プローブカード用のプローブ針とその製造方法 |
JPH11344510A (ja) * | 1998-06-02 | 1999-12-14 | Advantest Corp | プローブカード、プローブ及び半導体試験装置 |
US6535003B2 (en) * | 1999-01-29 | 2003-03-18 | Advantest, Corp. | Contact structure having silicon finger contactor |
KR20010017665A (ko) * | 1999-08-13 | 2001-03-05 | 윤종용 | 반도체 웨이퍼 검사용 프로브카드 니들 |
JP2004020209A (ja) * | 2002-06-12 | 2004-01-22 | Mitsubishi Electric Corp | プローブカード |
JP2004170189A (ja) * | 2002-11-19 | 2004-06-17 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ及びこれを用いた電気的接続装置 |
KR100602231B1 (ko) * | 2004-04-12 | 2006-07-19 | 스타 테크놀로지스 인코포레이션 | 프로브 카드 |
JP2006041073A (ja) * | 2004-07-26 | 2006-02-09 | Seiko Epson Corp | プローブカード及びプローブカードを用いた測定方法 |
JP4087378B2 (ja) * | 2004-12-24 | 2008-05-21 | 日本電子材料株式会社 | プローブカード |
JP4536525B2 (ja) * | 2005-01-12 | 2010-09-01 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体装置の試験装置及び試験方法 |
JP4522975B2 (ja) * | 2006-06-19 | 2010-08-11 | 東京エレクトロン株式会社 | プローブカード |
CN101688885A (zh) * | 2007-07-03 | 2010-03-31 | 株式会社爱德万测试 | 探针及探针卡 |
TWM361631U (en) * | 2009-03-26 | 2009-07-21 | Mpi Corp | Cantilever probe card |
TWI407106B (zh) * | 2009-09-17 | 2013-09-01 | Mpi Corp | High frequency cantilever probe card |
-
2012
- 2012-01-10 TW TW101100899A patent/TWI465726B/zh active
- 2012-03-12 KR KR1020120025015A patent/KR101296523B1/ko active IP Right Grant
- 2012-03-28 JP JP2012073003A patent/JP5731432B2/ja active Active
-
2014
- 2014-12-19 JP JP2014257240A patent/JP2015064382A/ja active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0749355A (ja) * | 1993-06-29 | 1995-02-21 | Nobuaki Suzuki | 検査・試験用プローブ装置とプローブ装置取付構造 |
JPH10239351A (ja) * | 1997-02-27 | 1998-09-11 | Mitsubishi Materials Corp | コンタクトプローブおよびその製造方法 |
JP2004069485A (ja) * | 2002-08-06 | 2004-03-04 | Yamaha Corp | プローブユニットおよびその製造方法、プローブカードおよびその製造方法 |
JP2007303826A (ja) * | 2006-05-08 | 2007-11-22 | Tokyo Electron Ltd | プローブ |
JP2009139169A (ja) * | 2007-12-05 | 2009-06-25 | Japan Electronic Materials Corp | カンチレバー型プローブカード |
JP2009236509A (ja) * | 2008-03-26 | 2009-10-15 | Fujitsu Microelectronics Ltd | プローブカード |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101296523B1 (ko) | 2013-08-13 |
KR20130082046A (ko) | 2013-07-18 |
JP5731432B2 (ja) | 2015-06-10 |
TWI465726B (zh) | 2014-12-21 |
JP2013142691A (ja) | 2013-07-22 |
TW201329456A (zh) | 2013-07-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10459007B2 (en) | Probe card | |
KR101384714B1 (ko) | 반도체 검사장치 | |
TWI574013B (zh) | 探針卡、探針結構及其製造方法 | |
JP2015064382A (ja) | プローブの電気的接点を強化した構造を備えた集積回路用プローブカード | |
US7782070B2 (en) | Probing device | |
US8933722B2 (en) | Measuring device and a method for measuring a chip-to-chip-carrier connection | |
KR101047537B1 (ko) | 프로브 카드 | |
CN105572561B (zh) | 通用型芯片失效分析的测试设备 | |
KR100748393B1 (ko) | 기판 구조물 및 이를 갖는 프로브 카드 | |
CN105388413B (zh) | 芯片失效分析仪器 | |
CN105425139B (zh) | 芯片失效分析的测试设备 | |
CN203849368U (zh) | 探针卡及测试机台 | |
TW201821808A (zh) | 積體電路之測試探針卡 | |
TWM553422U (zh) | 用於晶圓量測之垂直式探針卡與探針頭 | |
KR101416477B1 (ko) | 프로브 카드 | |
TWI431278B (zh) | 半導體測試探針卡空間變換器的製造方法 | |
KR101853002B1 (ko) | 반도체 패키지 테스트 소켓 | |
TWI461698B (zh) | Probe unit and its making method | |
JP5631715B2 (ja) | 電気検査用装置、及び配線基板の製造方法 | |
JP2008205282A (ja) | プローブカード | |
TW201913101A (zh) | 用於晶圓量測之垂直式探針卡與探針頭 | |
JP2015078955A (ja) | 検査装置および検査方法 | |
KR102035998B1 (ko) | 인터페이스 장치, 제조 방법 및 시험 장치 | |
TWM429099U (en) | Integrated circuits probe card having a reinforced structure of electric contact for probes | |
JP2012053010A (ja) | Tdr式検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150119 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150119 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20151214 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160105 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160405 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160906 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20161206 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20170328 |