JP2015050215A - インゴットとワークホルダの接着方法及び接着装置 - Google Patents

インゴットとワークホルダの接着方法及び接着装置 Download PDF

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Abstract

【課題】円柱状のインゴットの円周面上にスライス台を介してワークホルダを接着する際、インゴットの結晶方位に対するワークホルダの向きをより高い精度で調整する。【解決手段】インゴットの結晶方位を測定する第1測定ステップS11と、第1測定ステップの測定結果を用いて、結晶方位が水平になるようにインゴットを円周方向に回転させる第1回転ステップS13と、第1回転ステップで回転させたインゴットの結晶方位を再び測定する第2測定ステップS15と、水平面に対して結晶方位がなす第1の傾斜角度が許容範囲内に収まっていない場合に、第2測定ステップの測定結果を用いて、結晶方位が水平となるようにインゴットを円周方向に再び回転させる第2回転ステップS12N,S13を実施する。その後、インゴットにスライス台を接着し、スライス台の上面にワークホルダを仮接着し、結晶方位と平行となるようにワークホルダを回転させてから本接着する。【選択図】図7

Description

本発明は、ワイヤソーを用いてインゴットからウェーハを切り出す際にインゴットに対して予め取り付けられるワークホルダの接着方法及び接着装置に関するものである。
シリコンウェーハは、チョクラルスキー法によって融液から引き上げられたインゴットを円柱状に加工した後、スライス、ラッピング、ポリシング等の各工程を経ることで完成する。インゴットのスライス工程では、インゴットの円周面にスライス台を接着し、スライス台の上面にワークホルダを接着する。そしてインゴットはワークホルダを介してワイヤソーに取り付けられ、スライス台と一緒にスライスされる。
インゴットの結晶方位には多少のばらつきがあり、インゴットの中心軸線と必ずしも一致しない。そのため、インゴットの中心軸線の向きに合わせてワークホルダを接着し、ワイヤソーに取り付けてスライスすると、インゴットから切り出されたウェーハの切断面は結晶格子面と一致せず、これによりウェーハの特性がばらつくという問題がある。この問題を解消する方法の一つとして、ゴニオ角設定器を用いる方法が知られている。ゴニオ角設定器は、ワイヤソーに装着されており、ワイヤソーに取り付けられた状態のインゴットの取り付け角度を、ワイヤと直交する面内と水平面内で調整することができる。ゴニオ角設定器によれば、インゴットの結晶方位に対して適正な向きとなるようにワイヤの走行方向を調整することができる。
一方、ゴニオ角設定器を用いない方法も提案されている(特許文献1、2参照。)この方法では、接着装置内に組み込まれた結晶方位測定器でインゴットの結晶方位を測定し、インゴットの中心軸線ではなく結晶方位の向きに合わせてワークホルダを接着する。具体的には、インゴットの中心軸線を中心にインゴットの結晶方位を回転させて水平面内に位置するまでのインゴットの回転角αと、インゴットの中心軸線に対する結晶方位の傾角βとを算出し、次にインゴットをその中心軸線を中心に回転角αで回転させてY軸方向の結晶方位合わせ(Y軸合わせ)を行う。次に、このインゴットにスライス台を接着し、さらにワークホルダに接着剤を塗布し、ワークホルダをスライス台に貼り合わせる。そして接着剤を乾燥させる前に、ワークホルダを水平方向に傾角βで回転させて、インゴットのX軸方向の結晶方位合わせ(X軸合わせ)を行う。その後、接着剤を乾燥させて、インゴットとワークホルダとを完全に接着する。
特開平10−329133号公報 特開平10−100142号公報
しかしながら、特許文献1、2に記載された従来の接着方法では、必ずしも正確に結晶方位合わせができていない場合があり、結晶方位合わせの精度の向上が求められている。
したがって、本発明の目的は、インゴットにワークホルダを接着する際、インゴットの結晶方位に対するワークホルダの向きをより高い精度で調整して接着することが可能な接着方法及び接着装置を提供することにある。
上記課題を解決するため、本発明によるインゴットとワークホルダとの接着方法は、円柱状のインゴットの結晶方位を測定する第1の測定ステップと、前記第1の測定ステップの測定結果を用いて、前記結晶方位が基準平面と平行になるように前記インゴットを円周方向に回転させる第1の回転ステップと、前記第1の回転ステップで回転させた前記インゴットの結晶方位を再び測定する第2の測定ステップと、前記基準平面に対して前記結晶方位がなす第1の傾斜角度が許容範囲内に収まっていない場合に、前記第2の測定ステップの測定結果を用いて、前記結晶方位が前記基準平面と平行となるように前記インゴットを円周方向に再び回転させる第2の回転ステップと、前記インゴットの円周面上にスライス台を接着するスライス台接着ステップと、前記スライス台の上面にワークホルダを仮接着するワークホルダ仮接着ステップと、前記第1及び第2の測定ステップの少なくとも一方の測定結果を用いて、前記ワークホルダの取付軸線が前記結晶方位と平行となるように前記ワークホルダを前記基準平面内で回転させる角度調整ステップと、前記角度調整ステップを経た前記ワークホルダを前記スライス台に本接着するワークホルダ本接着ステップとを備えることを特徴とする。
本発明によれば、ワークホルダに対するインゴットの結晶方位合わせ(Y軸合わせ)の精度を高めることができる。したがって、ゴニオ角設定器を用いることなくインゴットの結晶方位をワイヤソーの走行方向と直交させることができる。これにより、インゴットから切り出されたウェーハの切断面を結晶格子面と正確に一致させることができ、ウェーハの特性のばらつきを抑えることができる。
本発明による接着方法は、前記第1の傾斜角度が許容範囲内に収まるまで、前記第2の測定ステップ及び前記第2の回転ステップを予め設定された制限回数の範囲内で繰り返し行うことが好ましい。これによれば、ワークホルダに対するインゴットの結晶方位合わせの精度をさらに高めることができる。
本発明において、前記角度調整ステップは、前記ワークホルダの前記基準平面と平行な方向の変位量を測定し、前記変位量から前記結晶方位に対して前記ワークホルダの取付軸線がなす第2の傾斜角度を求め、前記第2の傾斜角度が許容範囲内に収まっていない場合に、前記取付軸線が前記結晶方位と平行となるように前記ワークホルダを前記基準平面内で再び回転させることが好ましい。これによれば、ワークホルダに対するインゴットの結晶方位合わせ(X軸合わせ)の精度を高めることができる。
本発明による接着方法は、前記第2の傾斜角度が許容範囲内に収まるまで、前記角度調整ステップを予め設定された制限回数の範囲内で繰り返し行うことが好ましい。これによれば、ワークホルダに対するインゴットの結晶方位合わせ(X軸合わせ)の精度をさらに高めることができる。
本発明において、前記第1及び第2の回転ステップでは、前記インゴットの円周面に当接させたローラの回転に合わせて前記インゴットを回転させることが好ましい。ローラに滑りが発生した場合にはインゴットを正しく回転させることができず、これによってローラの回転量とインゴットの回転量が一致しない場合が生じる。このようなインゴットの回転誤差は突発的に生じ、一見して確認することもできない。しかし本発明によれば、インゴットの結晶方位を再測定するので、上記回転誤差の容易かつ正確に検出することができ、インゴットの回転精度を高めることができる。
また、本発明による接着装置は、円柱状のインゴットの円周面上にスライス台を介してワークホルダを接着する装置であって、X線の回折を利用してインゴットの結晶方位を測定する方位測定装置と、前記インゴットを基準平面と平行に支持しながら円周方向に回転させる回転支持機構と、前記インゴットの上部にスライス台を接着するためのスライス台取付機構と、前記スライス台の上面にワークホルダを接着するためのワークホルダ取付機構とを備え、前記方位測定装置は、インゴットの結晶方位を測定し、前記回転支持機構は、前記方位測定装置による測定結果に基づいて、前記結晶方位が前記基準平面と平行になるように前記回転支持機構を用いて前記インゴットを円周方向に回転させ、前記方位測定装置は、前記回転したインゴットの結晶方位を再び測定し、前記回転支持機構は、前記基準平面に対して前記結晶方位がなす第1の傾斜角度が許容範囲内に収まっていない場合に、前記結晶方位が前記基準平面と平行となるように前記インゴットを円周方向に再び回転させることを特徴とする。
本発明によれば、ワークホルダに対するインゴットの結晶方位合わせ(Y軸合わせ)の精度を高めることができる。したがって、ゴニオ角設定器を用いることなくインゴットの結晶方位をワイヤソーの走行方向と直交させることができる。これにより、インゴットから切り出されたウェーハの切断面を結晶格子面と正確に一致させることができ、ウェーハの特性のばらつきを抑えることができる。
本発明において、前記ワークホルダ取付機構は、前記ワークホルダの取付軸線が前記結晶方位と平行になるように前記ワークホルダを前記基準平面内で回転させる角度調整機構を含み、前記角度調整機構は、前記ワークホルダの前記基準平面と平行な方向の変位量を測定し、前記変位量から前記結晶方位に対して前記取付軸線がなす第2の傾斜角度を求め、前記第2の傾斜角度が許容範囲内に収まっていない場合に、前記取付軸線が前記結晶方位と平行となるように前記ワークホルダを前記基準平面内で方向に再び回転させることが好ましい。これによれば、ワークホルダに対するインゴットの結晶方位合わせ(X軸合わせ)の精度をさらに高めることができる。
本発明によれば、インゴットにワークホルダを接着する際、インゴットの結晶方位に対するワークホルダの向きをより高い精度で調整して接着することが可能な接着方法及び接着装置を提供することができる。
図1は、ワイヤソーの構成の一例を示す略斜視図である。 図2は、インゴットとワークホルダとの関係を示す略斜視図である。 図3は、接着装置の構成を概略的に示すブロック図である。 図4は、方位測定装置の構成を示す模式図である。 図5は、回転支持機構の構成を示す模式図である。 図6は、水平角度調整機構の構成及び動作を示す略平面図である。 図7は、インゴットとワークホルダの接着方法を示すフローチャートである。 図8は、Y軸合わせ後のインゴットの模式図である。 図9は、結晶方位合わせ後のインゴットとワイヤソーとの関係を示す略平面図である。
以下、添付図面を参照しながら、本発明の好ましい実施の形態について詳細に説明する。
図1は、ワイヤソーの構成の一例を示す略斜視図である。
図1に示すように、ワイヤソー1は、3つの溝付きローラ2a,2b,2cと、ローラ2a,2b,2cに巻き掛けられた1本のワイヤ3と、走行するワイヤ3にクーラント液を供給するノズルユニット4a,4bと、被加工物(ワーク)であるインゴット5を昇降させる昇降装置8とを備えている。
インゴット5は例えば単結晶シリコンである。単結晶シリコンは大口径インゴットの量産が可能であり、大口径インゴットのスライス加工にはワイヤソーを用いることが特に必要とされる。インゴット5の直径は300mm以上であることが好ましく、450mm以上であることが特に好ましい。インゴットの大口径化に伴ってその結晶方位合わせの誤差が大きくなっており、特に直径が450mmのインゴットでは本発明による効果が顕著だからである。
本実施形態におけるワイヤソー1は固定砥粒方式であり、ワイヤ3は芯線上にバインダを介してダイヤモンド砥粒が固着されたダイヤモンド砥粒ワイヤである。一方のワイヤリール6aに巻回されたワイヤ3は、ガイドローラ7aを経由してローラ2a,2b,2cの順に繰り返し巻き掛けられた後、ガイドローラ7bを経由して他方のワイヤリール6bに巻き取られる。
固定砥粒方式では、ワイヤ3の走行方向を途中で反転(交播運動)させながら少しずつワイヤ3を繰り出すバック・アンド・フォース方式が採られる。そのため、ローラ2a,2bを交互に正転及び逆転させることによりワイヤ3を走行させる。なお、高速走行するワイヤ3に対して砥粒を分散させた加工液(スラリー)を供給しながら切削する遊離砥粒方式を採用してもよい。
ノズルユニット4a,4bはローラ2a,2b,2cの回転軸方向に沿って配置されたノズルであり、ローラ2a,2b,2cに多条に巻回されて走行するワイヤ列に対してクーラント液がかかるように複数のノズル孔を有している。ノズルユニット4a,4bは、インゴット5から見てワイヤ3の進行方向の手前に配置される必要があるが、ワイヤ3は双方向に進行することから、2つのノズルユニット4a,4bがインゴット5の両側にそれぞれ配置されている。
インゴット5はワイヤソー1の上方に配置されており、スライス台9及びワークホルダ11を介して昇降装置8に固定されている。昇降装置8を降下させることによってインゴット5はローラ2a,2b間に架け渡されたワイヤ列3Aに押し当てられて切断される。
インゴット5を正しく切断するためにはインゴット5の中心軸線が水平な状態を維持する必要がある。また、ウェーハの切断面が所定の結晶格子面を有するためには、インゴット5の結晶方位がワイヤ列3Aと直交する方向を向くように結晶方位合わせを行う必要がある。結晶方位合わせは、インゴット5を円周方向に所定角度回転させて結晶方位を水平にすること、及びインゴット5を水平方向に所定角度回転させて結晶方位をワイヤ列3Aと直交させることにより行われる。
図2は、インゴット5とワークホルダ11との関係を示す略斜視図である。
図2に示すように、中心軸線が水平となるように置かれた円柱状のインゴット5の上部の円周面には、スライス台9が接着剤により取り付けられる。スライス台9はインゴット5と一緒に切断可能なカーボン等の材料からなる。スライス台9の下面にはインゴット5の円周面にはまり合う湾曲面が形成され、インゴット5との密着性が高められている。さらに、スライス台9の上面にはワークホルダ11が取り付けられる。なお、図2では図1に合わせてインゴット5の上方にスライス台9及びワークホルダ11を順に取り付けているが、インゴット5の下方からスライス台9及びワークホルダ11を順に取り付けることも可能である。またスライス台9とワークホルダ11との間に絶縁プレートを介在させてもよい。
図示のように、インゴット5の結晶格子面の法線、つまり結晶方位12はインゴット5の中心軸線13に対して傾斜している。通常、インゴット5の中心軸線13に対する結晶方位12の傾斜角度βは最大で±3°程度である。また、任意の向きで置かれたインゴット5の結晶方位12は必ずしも水平ではなく、水平面に対して傾斜角度γを有している。
本実施形態の接着方法は、ワークホルダ11の取付軸線11aをインゴット5の結晶方位12と平行に設定して接着するものである。ここで、ワークホルダ11の取付軸線11aとは、ワークホルダ11の長手方向に延びる仮想軸線を言い、ワークホルダ11の長手方向と平行な左右両側の側面11b,11cは取付軸線11aと平行である。ワークホルダ11の取付面11dは取付軸線11aを含む平面であり、通常は水平に設定される。ワイヤソー1においては、この取付軸線11aがワイヤ列3Aと直交するようにワークが設置される。インゴット5の結晶方位12をワークホルダ11の取付軸線11aと平行にするためには、結晶方位12が水平となるようにインゴット5を回転角度αで回転させた後、さらに水平方向に角度βで回転させる必要がある。回転角度αは、sinα=sinγ/sinβの関係から求めることができる。
次に、インゴット5にワークホルダ11を接着するための接着装置について説明する。
図3は、本実施形態による接着装置20の構成を概略的に示すブロック図である。
図3に示すように、この接着装置20は、X線の回折を利用してインゴットの結晶方位を測定する方位測定装置21と、インゴット5を水平に支持しながら円周方向に回転させる回転支持機構22と、インゴット5の上部にスライス台9を接着するためのスライス台取付機構23と、スライス台9の上面にワークホルダ11を接着するためのワークホルダ取付機構24とを備えている。ワークホルダ取付機構24は、ワークホルダ11の取付軸線11aがインゴット5の結晶方位12と平行になるようにワークホルダ11を水平面内で回転させる水平角度調整機構25を有している。さらに接着装置20は制御部26を有しており、この制御部26は方位測定装置21、回転支持機構22、スライス台取付機構23、ワークホルダ取付機構24及び水平角度調整機構25を制御する。
図4は、方位測定装置21の構成を示す模式図である。
図4に示すように、方位測定装置21は、水平な回転軸27aを中心に回転自在に支持された測定ヘッド27を有している。測定ヘッド27には、X線をインゴット5の基準端面に向けて所定の傾斜角で照射するX線投光器28と、照射されたX線を受光するX線受光器29とが配設され、X線投光器28とX線受光器29は所定角度で取り付けられている。測定ヘッド27は回転軸27aの端部に連結された不図示のモータによって回転駆動される。X線受光器29には反射X線の出力を測定する測定器26aが接続されており、測定器26aには演算装置26bが接続されている。なお、測定器26a及び演算装置26bは制御部26の一部であってもよく、別の装置であってもよい。
インゴット5の結晶方位の測定では、測定基準位置Koに位置決めされたインゴット5を固定した状態で測定ヘッド27を90度ずつ回転させてインゴット5の端面に4方向からX線を照射し、反射X線の出力データに基づいて結晶方位の測定データを演算する。結晶方位は、水平面に対する傾斜角度γと、インゴット5の中心軸線13に対する結晶方位12の傾斜角度βが求められる。上記のように、傾斜角度γは、インゴット5の結晶方位12が水平になるまでに必要なインゴット5の円周方向の回転角度αに対して、sinα=sinγ/sinβの関係を有するものである。
図5は、回転支持機構22の構成を示す模式図である。
図5に示すように、回転支持機構22は、サーボモータ32によって駆動される一対のローラ31a,31bを備えている。ローラ31a,31bは、インゴット5の円周面に接触しながら回転することによりインゴット5を回転させる駆動ローラである。サーボモータ32にはロータリーエンコーダが取り付けられ、回転数に比例したインゴット5の回転角が検出される。ローラ31a,31bのどちらか一方のみをサーボモータ32で駆動し、他方のローラを従動させてもよい。回転支持機構22は、制御部26からの指示のもと、結晶方位の測定後にその測定データに基づいてインゴット5を回転させてその結晶方位12が水平面内に位置するように調整する。なお回転支持機構22は、方位測定装置21によって結晶方位を測定する測定位置とスライス台取付機構23によってスライス台9を接着させる作業位置との間を往復動可能に設けられていることが好ましい。
スライス台取付機構23は、スライス台9をハンドリングしてインゴット5の上部に搭載するハンドリング装置である。スライス台9は、インゴット5の中心軸線13と平行となるように取り付けられる。スライス台9の下面には接着剤が塗布されており、インゴット5の上面に搭載した後、接着剤を乾燥させることにより、スライス台9の取り付けが完了する。
ワークホルダ取付機構24もまた、ワークホルダ11をハンドリングしてインゴット上に固定されたスライス台9の上面に搭載するハンドリング装置である。ワークホルダ11は、その取付軸線11aがインゴット5の結晶方位12と平行となるように取り付ける必要がある。ワークホルダ11の下面にはスライス台9との接着のための接着剤が塗布されている。ワークホルダ11は、ワークホルダ取付機構24によってスライス台9の上面に搭載された後、水平角度調整機構25によってその取り付け角度が調整される。
図6は、水平角度調整機構25の構成及び動作を示す略平面図である。
図6に示すように、水平角度調整機構25は、水平支持板33と、水平支持板33に連結された水平角度調整板34と、ワークホルダ11の水平面内での変位量を測定するリニアスケール35とを備えている。
水平角度調整板34は水平支持板33の上面に設けられた連結軸33aに連結されており、水平面内で回動可能に支持されている。サーボモータ36の出力軸には自在継手37及び作動片38を介してねじ棒39が連結されており、ねじ棒39の先端は回転子40を介して水平角度調整板34に接続されている。サーボモータ36によりねじ棒39が回転すると、水平角度調整板34は連結軸33aを中心に水平方向に回転し、ワークホルダ11の水平方向の向きを調整することができる。これにより、取付軸線11aがインゴット5の結晶方位12と平行となるように調整される。
リニアスケール35はワークホルダ11の水平方向の変位量W(位置)を測定する。後述するように、ワークホルダ11の変位量からワークホルダ11の回転量を知ることができ、結晶方位12に対するリニアスケール35の取付軸線11aの角度誤差が許容範囲内に収まっていない場合には水平角度調整機構25による再調整が行われる。
次に、図7のフローチャートを参照しながら、上記接着装置20を用いたインゴット5とワークホルダ11の接着方法について説明する。
図7に示すように、この接着方法では、まず方位測定装置21を用いてインゴット5の結晶方位を測定し(ステップS11)、この測定結果に基づいてインゴット5のY軸合わせを行う(ステップS12〜S15)。Y軸合わせでは、結晶方位12が水平となるようにインゴット5を円周方向に角度αで回転させる。最初の測定時に結晶方位12の傾斜角度γがすでに許容範囲内に収まっている場合(ステップS12Y)、インゴット5を回転させる必要はなく、Y軸合わせは直ちに完了する。
次に、インゴット5の結晶方位12を再び測定し(ステップS14N、S15)、インゴットのY軸合わせが正しく行われたかどうかを確認する。図5においてローラ31a,31bはインゴット5をその下方から水平に支持しており、インゴット5の荷重を受けながらインゴット5に当接している。よってほとんどの場合、インゴット5はローラ31a,31bの回転に合わせて回転する。しかし、何らかの原因でローラ31a,31bがわずかに空転(スリップ)する場合があり、これによってローラ31a,31bの回転量とインゴット5の回転量が一致しない場合が生じている。
このようなインゴット5の回転誤差は直径450mmの大口径インゴットにおいて顕著である。直径450mmの大口径インゴットの製造では、直径300mmのインゴットのように長尺なインゴットを得ることが難しく、直径に比べて長さが短い円柱形状となり、これを横倒しにしたときには座り(安定性)が悪いため、ローラ31a,31bの空転も発生しやすいと想定される。このようなインゴットの回転誤差の発生は突発的であり、一見して確認することもできない。
また、インゴット5の直径はインゴットごとに多少のばらつきがあり、ローラ31a、31bを一定量回転させたときに直径が大きなインゴットの回転量は直径が小さなインゴットの回転量よりも少ない。直径のばらつきに起因するインゴットの回転量のばらつきは、直径が大きいほど大きくなり、直径が450mmの大口径インゴットでは回転量のばらつきが顕著である。そこで本実施形態では、インゴット5の結晶方位を再測定することにより上記誤差の発生を防止し、インゴット5の回転精度を高めている。
上記再測定の結果、水平面に対する結晶方位12の傾斜角度γ(第1の傾斜角度)が許容範囲内(例えば0.1度以下)に収まっている場合にはY軸合わせを終了し(ステップS12Y)、収まっていない場合にはインゴット5を再び回転させてY軸合わせを行う(ステップS12N、S13)。こうして結晶方位12の傾斜角度γが許容範囲内に収まるまでY軸合わせを繰り返し行う。ただし、繰り返し数が所定の制限回数(例えば3回)に達した場合には(ステップS14Y)、傾斜角度γが許容範囲内に収まっていなくてもY軸合わせを強制的に終了する。なお強制終了時には音や光による警報を出力することが好ましい。
図8は、Y軸合わせ後のインゴット5の模式図である。同図に示すように、Y軸合わせが行われたインゴット5の結晶方位12はXZ平面(水平面)内に含まれる水平線となり、傾斜角度γ≒0となる。インゴット5の中心軸線13に対する結晶方位12の傾斜角度βもXZ平面内における角度となる。
次に、インゴット5の円周面の上部にスライス台9を接着し、さらにスライス台9の上面にワークホルダ11を仮接着する。
次に、結晶方位の測定結果に基づいてワークホルダ11とインゴット5のX軸合わせを行う(ステップS17〜S22)。なお、このとき用いる結晶方位の測定結果は、最初の測定結果でもよく、2回目以降の測定結果でもよく、それら複数の測定結果を組み合わせたものであってもよい。
X軸合わせでは、ワークホルダ11の取付軸線11aがインゴット5の結晶方位12と平行になるように、ワークホルダ11を水平方向に回転させる(ステップS18)。その後、ワークホルダ11の水平面内での変位量(位置)をリニアスケール35で測定し(ステップS19)、結晶方位12に対する取付軸線11aの傾斜角度(第2の傾斜角度)が許容範囲内(例えば0.1度以下)に収まっているかどうかを確認する。
ワークホルダ11を水平方向に回転させる水平角度調整機構25のサーボモータ36内にはギヤがあり、このギヤのバックラッシュ(ガタ)により水平方向の回転角度にばらつきが生じている。このガタを調整するためにリニアスケールにてズレ角度をみて再調整する。X軸合わせにおいて0.1度以下の高い精度が求められると共に、サーボモータ36内のギヤのガタが大きい場合には非常に有効である。
そしてリニアスケール35による測定の結果、結晶方位12に対する取付軸線11aの傾斜角度(第2の傾斜角度)が許容範囲内(例えば0.1度以下)に収まっている場合にはX軸合わせを終了し(ステップS20Y)、収まっていない場合にはワークホルダ11を再び回転させてX軸合わせを行う(ステップS20N、S21、S22N、S18)。こうして結晶方位12に対する取付軸線11aの傾斜角度が許容範囲内に収まるまでX軸合わせを繰り返し行う。ただし、繰り返し数が所定の制限回数(例えば3回)に達した場合には、結晶方位12が許容範囲内に収まっていなくてもX軸合わせを強制的に終了する(ステップS22Y)。なお強制終了時には音や光による警報を出力することが好ましい。
その後、接着剤を乾燥させてワークホルダを本接着することにより、結晶方位合わせが完了する(ステップS23)。
図9は、結晶方位合わせ後のインゴット5とワイヤソー1との関係を示す略平面図である。
図9に示すように、取付軸線11aがワイヤ列3Aと直交するようにワークホルダ11をワイヤソー1に取り付けると、取付軸線11aと平行なインゴット5の結晶方位12もワイヤ列3Aと平行になる。一方、インゴット5の中心軸線13は、ワイヤ列3Aと直交する方向に対して傾斜角度βを持つことになる。このように、インゴット5の結晶方位12の向きに合わせてワークホルダ11を接着し、ワイヤソー1に設置してスライスすると、インゴット5から切り出されたウェーハの切断面は結晶格子面と一致するので、ウェーハの特性のばらつきをなくすことができる。
以上説明したように、本実施形態によるインゴット5とワークホルダ11の接着方法は、インゴット5の結晶方位12の測定結果に基づいて、結晶方位12が水平となるようにインゴットを円周方向に回転させた後、インゴットの結晶方位12を再び測定し、水平面に対して前記結晶方位がなす第1の傾斜角度が許容範囲内に収まっていない場合にはインゴット5を再び回転させるので、インゴット5のY軸合わせを高精度に行うことができる。また、本実施形態においては、ワークホルダ11の取付軸線11aが結晶方位12と平行となるようにワークホルダ11を水平方向に回転させた後、ワークホルダ11の水平方向の変位量を測定し、この変位量から結晶方位12に対する取付軸線11aの傾斜角度を求め、この傾斜角度が許容範囲内に収まっていない場合にはワークホルダ11を再び回転させるので、インゴットのX軸合わせを高精度に行うことができる。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は、上記の実施形態に限定されることなく、本発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能であり、それらも本発明の範囲内に包含されるものであることはいうまでもない。
例えば、上記実施形態においては、インゴットの代表例として単結晶シリコンインゴットを挙げたが、本発明は単結晶シリコンインゴットに限定されず、種々のインゴットを対象とすることができる。
また、上記実施形態においては、インゴットの結晶方位と切断面がなす角度を垂直にする場合を述べたが、本発明はこのような場合に限定されない。例えば、シリコンウェーハの用途によっては、インゴットの結晶方位と切断面がなす角度を垂直よりも少し斜めに傾ける場合もあるが、本発明はこのような場合にも適用可能である。この場合、ワークホルダの取付軸線を結晶方位に対して少し斜めに傾けて取り付けるか、あるいはワークホルダをワイヤソーに対して少し斜めに傾けて取り付ければよい。
また、上記実施形態では水平面を基準平面とし、Y軸合わせでは結晶方位12が水平面と平行となるようにインゴット5を円周方向に回転させており、またX軸合わせではワークホルダ11の取付軸線11aが結晶方位12と平行となるようにワークホルダ11を水平面と平行な方向に回転させているが、本発明は基準平面が水平面である場合に限定されない。すなわち、基準平面の向きはワークホルダ11の取付面11dと平行である限りにおいて任意に設定することができる。だたし、水平面を基準平面とする場合が最も合理的である。
1 ワイヤソー
2a,2b ローラ
3 ワイヤ
3A ワイヤ列
4a,4b ノズルユニット
5 インゴット
6a,6b ワイヤリール
7a,7b ガイドローラ
8 昇降装置
9 スライス台
11 ワークホルダ
11a 取付軸線
11b,11c ワークホルダの側面
11d ワークホルダの取付面
12 結晶方位
13 中心軸線
20 接着装置
21 方位測定装置
22 回転支持機構
23 スライス台取付機構
24 ワークホルダ取付機構
25 水平角度調整機構
26 制御部
26a 測定器
26b 演算装置
27 測定ヘッド
27a 回転軸
28 X線投光器
29 X線受光器
31a,31b ローラ
32 サーボモータ
33 水平支持板
33a 連結軸
34 水平角度調整板
35 リニアスケール
36 サーボモータ
37 自在継手
38 作動片
39 ねじ棒
40 回転子

Claims (7)

  1. 円柱状のインゴットの円周面上にワークホルダを接着する方法であって、
    インゴットの結晶方位を測定する第1の測定ステップと、
    前記第1の測定ステップの測定結果を用いて、前記結晶方位が基準平面と平行になるように前記インゴットを円周方向に回転させる第1の回転ステップと、
    前記第1の回転ステップで回転させた前記インゴットの結晶方位を再び測定する第2の測定ステップと、
    前記基準平面に対して前記結晶方位がなす第1の傾斜角度が許容範囲内に収まっていない場合に、前記第2の測定ステップの測定結果を用いて、前記結晶方位が前記基準平面と平行となるように前記インゴットを円周方向に再び回転させる第2の回転ステップと、
    前記インゴットにスライス台を接着するスライス台接着ステップと、
    前記スライス台の上面にワークホルダを仮接着するワークホルダ仮接着ステップと、
    前記第1及び第2の測定ステップの少なくとも一方の測定結果を用いて、前記ワークホルダの取付軸線が前記結晶方位と平行となるように前記ワークホルダを前記基準平面内で回転させる角度調整ステップと、
    前記角度調整ステップを経た前記ワークホルダを前記スライス台に本接着するワークホルダ本接着ステップとを備えることを特徴とするインゴットとワークホルダの接着方法。
  2. 前記第1の傾斜角度が許容範囲内に収まるまで、前記第2の測定ステップ及び前記第2の回転ステップを予め設定された制限回数の範囲内で繰り返し行う、請求項1に記載のインゴットとワークホルダの接着方法。
  3. 前記角度調整ステップは、前記ワークホルダの前記基準平面と平行な方向の変位量を測定し、前記変位量から前記結晶方位に対して前記ワークホルダの取付軸線がなす第2の傾斜角度を求め、前記第2の傾斜角度が許容範囲内に収まっていない場合に、前記取付軸線が前記結晶方位と平行となるように前記ワークホルダを前記基準平面内で再び回転させる、請求項1又は2に記載のインゴットとワークホルダの接着方法。
  4. 前記第2の傾斜角度が許容範囲内に収まるまで、前記角度調整ステップを予め設定された制限回数の範囲内で繰り返し行う、請求項3に記載のインゴットとワークホルダの接着方法。
  5. 前記第1及び第2の回転ステップでは、前記インゴットの円周面に当接させたローラの回転に合わせて前記インゴットを回転させる、請求項1乃至4のいずれか一項に記載のインゴットとワークホルダの接着方法。
  6. 円柱状のインゴットの円周面上にスライス台を介してワークホルダを接着する接着装置であって、
    X線の回折を利用してインゴットの結晶方位を測定する方位測定装置と、
    前記インゴットを基準平面と平行に支持しながら円周方向に回転させる回転支持機構と、
    前記インゴットの上部にスライス台を接着するためのスライス台取付機構と、
    前記スライス台の上面にワークホルダを接着するためのワークホルダ取付機構とを備え、
    前記方位測定装置は、インゴットの結晶方位を測定し、
    前記回転支持機構は、前記方位測定装置による測定結果に基づいて、前記結晶方位が前記基準平面と平行になるように前記回転支持機構を用いて前記インゴットを円周方向に回転させ、
    前記方位測定装置は、前記回転したインゴットの結晶方位を再び測定し、
    前記回転支持機構は、前記基準平面に対して前記結晶方位がなす第1の傾斜角度が許容範囲内に収まっていない場合に、前記結晶方位が前記基準平面と平行となるように前記インゴットを円周方向に再び回転させることを特徴とする接着装置。
  7. 前記ワークホルダ取付機構は、前記ワークホルダの取付軸線が前記結晶方位と平行になるように前記ワークホルダを基準平面内で回転させる角度調整機構を含み、
    前記角度調整機構は、前記ワークホルダの前記基準平面と平行な方向の変位量を測定し、前記変位量から前記結晶方位に対して前記取付軸線がなす第2の傾斜角度を求め、前記第2の傾斜角度が許容範囲内に収まっていない場合に、前記取付軸線が前記結晶方位と平行となるように前記ワークホルダを前記基準平面内で再び回転させる、請求項6に記載の接着装置。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017017919A1 (ja) * 2015-07-27 2017-02-02 信越半導体株式会社 ワークホルダー及びワークの切断方法
CN106738390A (zh) * 2016-12-29 2017-05-31 中国电子科技集团公司第二研究所 一种晶体的定向切割方法及定位粘接装置
CN107870175A (zh) * 2017-12-31 2018-04-03 唐山国芯晶源电子有限公司 Sc石英晶棒x光定向粘板机及其一次粘结定位方法
CN113696358A (zh) * 2021-08-26 2021-11-26 西安中晶半导体材料有限公司 一种多线切割实现单晶晶体晶向偏离的方法
CN114714526A (zh) * 2022-04-01 2022-07-08 宁夏中欣晶圆半导体科技有限公司 二维调整单晶硅棒晶向的接着方法
WO2023280201A1 (zh) * 2021-07-09 2023-01-12 麦斯克电子材料股份有限公司 一种用于 12 寸半导体晶圆的手动粘棒方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09207128A (ja) * 1995-11-30 1997-08-12 Nippei Toyama Corp インゴットと取付ステーの接着方法及び接着装置及びそれを用いたインゴット切断加工方法
JPH09325124A (ja) * 1996-06-04 1997-12-16 Tokyo Seimitsu Co Ltd X線を利用したインゴットの結晶軸方位調整方法及び装置
JPH10329133A (ja) * 1997-06-02 1998-12-15 Nippei Toyama Corp インゴットと取付ステーの接着方法及び接着装置
JPH11147217A (ja) * 1997-11-17 1999-06-02 Nippei Toyama Corp ワークの結晶方位調整方法
JPH11186199A (ja) * 1997-12-17 1999-07-09 Tokyo Seimitsu Co Ltd インゴットマウント装置
JP2000043031A (ja) * 1998-07-30 2000-02-15 Nippei Toyama Corp インゴットの結晶方位合わせ方法
JP2004306536A (ja) * 2003-04-10 2004-11-04 Sumitomo Electric Ind Ltd ワイヤソー切断方法とそのための設備
JP2008180526A (ja) * 2007-01-23 2008-08-07 Toshiba It & Control Systems Corp 結晶方位測定装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09207128A (ja) * 1995-11-30 1997-08-12 Nippei Toyama Corp インゴットと取付ステーの接着方法及び接着装置及びそれを用いたインゴット切断加工方法
JPH09325124A (ja) * 1996-06-04 1997-12-16 Tokyo Seimitsu Co Ltd X線を利用したインゴットの結晶軸方位調整方法及び装置
JPH10329133A (ja) * 1997-06-02 1998-12-15 Nippei Toyama Corp インゴットと取付ステーの接着方法及び接着装置
JPH11147217A (ja) * 1997-11-17 1999-06-02 Nippei Toyama Corp ワークの結晶方位調整方法
JPH11186199A (ja) * 1997-12-17 1999-07-09 Tokyo Seimitsu Co Ltd インゴットマウント装置
JP2000043031A (ja) * 1998-07-30 2000-02-15 Nippei Toyama Corp インゴットの結晶方位合わせ方法
JP2004306536A (ja) * 2003-04-10 2004-11-04 Sumitomo Electric Ind Ltd ワイヤソー切断方法とそのための設備
JP2008180526A (ja) * 2007-01-23 2008-08-07 Toshiba It & Control Systems Corp 結晶方位測定装置

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI684489B (zh) * 2015-07-27 2020-02-11 日商信越半導體股份有限公司 工件支架及工件的切斷方法
JP2017024145A (ja) * 2015-07-27 2017-02-02 信越半導体株式会社 ワークホルダー及びワークの切断方法
CN107848092A (zh) * 2015-07-27 2018-03-27 信越半导体株式会社 工件支架及工件的切断方法
KR20180036702A (ko) * 2015-07-27 2018-04-09 신에쯔 한도타이 가부시키가이샤 워크홀더 및 워크의 절단방법
WO2017017919A1 (ja) * 2015-07-27 2017-02-02 信越半導体株式会社 ワークホルダー及びワークの切断方法
US10596724B2 (en) 2015-07-27 2020-03-24 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. Workpiece holder and method for slicing workpiece
KR102545512B1 (ko) 2015-07-27 2023-06-20 신에쯔 한도타이 가부시키가이샤 워크홀더 및 워크의 절단방법
CN106738390A (zh) * 2016-12-29 2017-05-31 中国电子科技集团公司第二研究所 一种晶体的定向切割方法及定位粘接装置
CN107870175A (zh) * 2017-12-31 2018-04-03 唐山国芯晶源电子有限公司 Sc石英晶棒x光定向粘板机及其一次粘结定位方法
CN107870175B (zh) * 2017-12-31 2023-10-20 唐山国芯晶源电子有限公司 Sc石英晶棒x光定向粘板机及其一次粘结定位方法
WO2023280201A1 (zh) * 2021-07-09 2023-01-12 麦斯克电子材料股份有限公司 一种用于 12 寸半导体晶圆的手动粘棒方法
CN113696358A (zh) * 2021-08-26 2021-11-26 西安中晶半导体材料有限公司 一种多线切割实现单晶晶体晶向偏离的方法
CN114714526A (zh) * 2022-04-01 2022-07-08 宁夏中欣晶圆半导体科技有限公司 二维调整单晶硅棒晶向的接着方法

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