JP2015034103A - 13族窒化物結晶の製造方法及び製造装置 - Google Patents

13族窒化物結晶の製造方法及び製造装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2015034103A
JP2015034103A JP2013165083A JP2013165083A JP2015034103A JP 2015034103 A JP2015034103 A JP 2015034103A JP 2013165083 A JP2013165083 A JP 2013165083A JP 2013165083 A JP2013165083 A JP 2013165083A JP 2015034103 A JP2015034103 A JP 2015034103A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
crystal
group
reaction vessel
nitride crystal
seed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013165083A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6136735B2 (ja
Inventor
佐藤 隆
Takashi Sato
隆 佐藤
正二 皿山
Shoji Sarayama
正二 皿山
昌弘 林
Masahiro Hayashi
昌弘 林
和田 純一
Junichi Wada
純一 和田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP2013165083A priority Critical patent/JP6136735B2/ja
Priority to KR1020167003194A priority patent/KR101788487B1/ko
Priority to CN201480044635.XA priority patent/CN105452545B/zh
Priority to US14/910,453 priority patent/US20160177468A1/en
Priority to EP14834159.7A priority patent/EP3030700B1/en
Priority to PCT/JP2014/071135 priority patent/WO2015020226A1/en
Publication of JP2015034103A publication Critical patent/JP2015034103A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6136735B2 publication Critical patent/JP6136735B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B9/00Single-crystal growth from melt solutions using molten solvents
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B19/00Liquid-phase epitaxial-layer growth
    • C30B19/02Liquid-phase epitaxial-layer growth using molten solvents, e.g. flux
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B19/00Liquid-phase epitaxial-layer growth
    • C30B19/06Reaction chambers; Boats for supporting the melt; Substrate holders
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B19/00Liquid-phase epitaxial-layer growth
    • C30B19/06Reaction chambers; Boats for supporting the melt; Substrate holders
    • C30B19/068Substrate holders
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/10Inorganic compounds or compositions
    • C30B29/40AIIIBV compounds wherein A is B, Al, Ga, In or Tl and B is N, P, As, Sb or Bi
    • C30B29/403AIII-nitrides
    • C30B29/406Gallium nitride
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B9/00Single-crystal growth from melt solutions using molten solvents
    • C30B9/04Single-crystal growth from melt solutions using molten solvents by cooling of the solution
    • C30B9/08Single-crystal growth from melt solutions using molten solvents by cooling of the solution using other solvents
    • C30B9/10Metal solvents

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

【課題】高品質且つ大型の13族窒化物単結晶を得ることができるようにする。
【解決手段】本発明に係る13族窒化物結晶の製造方法はフラックス法により13族窒化物結晶5を製造するものであって、反応容器13内にアルカリ金属又はアルカリ土類金属及び13族元素を含む混合融液6と種結晶7とを収容する工程と、反応容器13を回転させることにより混合融液6を撹拌する工程とを含む。反応容器13は内部に混合融液6を撹拌するための構造物14を備える。反応容器13の中心軸以外の部分に、種結晶7のc面が反応容器13の底面と略平行となるように、複数の種結晶7が中心軸を基準として点対称に設置される。反応容器13の少なくとも中心軸以外の部分に構造物14が中心軸を基準として点対称に設置される。
【選択図】図2

Description

本発明は、13族窒化物結晶の製造方法及び製造装置に関する。特に、窒化ガリウム、窒化アルミニウム等の13族窒化物単結晶を製造するための技術に関する。
13族窒化物結晶を製造する方法として、フラックス法が知られている。フラックス法とは、アルカリ金属又はアルカリ土類金属及び13族金属を含む混合融液(フラックス)に窒素ガス等の原料ガスを溶解して過飽和状態にすることにより、混合融液中で自発核を成長させる、あるいは種結晶を核として13族窒化物結晶を成長させる方法である。
フラックス法においては、原料ガスが混合融液と原料ガスとの気液界面から混合融液中に溶解するため、混合融液中の溶質(窒素)濃度は気液界面近傍で高くなりやすく、混合融液中に溶質濃度分布が生じやすい。このような溶質濃度分布は、得られる結晶の品質を低下させる原因となる。
混合融液中の溶質濃度分布を小さくする方法として、混合融液を揺動や回転により攪拌する方法が知られている(特許文献1,2)。また、混合融液中にじゃま板、プロペラ等の構造物を設置し、これらを回転させることで混合融液を撹拌する技術も開示されている。例えば特許文献3には、反応容器内部にじゃま板等を設置し、気液界面から原料内部に向かって流れが生じるように混合融液を撹拌する方法が開示されている。特許文献4には、反応容器内に種結晶を保持する種結晶ホルダを設け、これを回転させる方法が開示されている。
しかしながら、フラックス法を用いて種結晶から13族窒化物結晶を結晶成長させる場合、結晶成長が進行して結晶が大型化することで、結晶自体もじゃま板等と同様の効果を持つようになり、反応容器の回転と共に混合融液を撹拌するようになる。そのため、じゃま板と種結晶の設置場所によっては、混合融液内の流れに乱れが生じ、13族窒化物結晶が多結晶化したり、雑結晶が析出したりする場合がある。
ここで、特許文献1,3のように結晶の成長時間を数時間から数十時間程度と想定している場合には、結晶サイズは比較的小さく、上述したような成長した結晶自体の撹拌効果による悪影響は比較的小さいといえる。しかし、近年、高品質且つ大型の13族窒化物単結晶に対するニーズが増加しており、このようなニーズに応えるためには、数100時間以上にわたって安定した結晶成長を維持する必要がある。このような長時間にわたる結晶成長工程においては、結晶サイズが大きくなるため、上述したような成長した結晶自体の撹拌効果による悪影響が大きくなる。従って、上記のような従来の方法では高品質且つ大型の結晶を製造することは極めて困難である。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、高品質且つ大型の13族窒化物単結晶を得ることができるようにすることを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、フラックス法により13族窒化物結晶を製造する13族窒化物結晶の製造方法であって、反応容器内にアルカリ金属又はアルカリ土類金属及び13族元素を含む混合融液と種結晶とを収容する工程と、前記反応容器を回転させることにより前記混合融液を撹拌する工程とを含み、前記反応容器は内部に前記混合融液を撹拌するための構造物を備え、前記反応容器の中心軸以外の部分に、前記種結晶のc面が前記反応容器の底面と略平行となるように、複数の前記種結晶が前記中心軸を基準として点対称に設置され、前記反応容器の少なくとも中心軸以外の部分に前記構造物が前記中心軸を基準として点対称に設置されていることを特徴とするものである。
本発明によれば、高品質且つ大型の13族窒化物単結晶を得ることができる。
図1は、本実施の形態に係る13族窒化物結晶の製造装置の全体的な構成を示す図である。 図2は、本実施の形態に係る耐圧容器の内部の構成を示す図である。 図3は、本実施の形態に係る種結晶の第1の例を示す図である。 図4は、本実施の形態に係る種結晶の第2の例を示す図である。 図5は、本実施の形態に係る種結晶の第3の例を示す図である。 図6は、本実施の形態に係る種結晶の第4の例を示す図である。 図7は、本実施の形態に係る種結晶の第5の例を示す図である。 図8は、本実施の形態に係る種結晶の第6の例を示す図である。 図9は、本実施の形態に係る種結晶及び構造物の設置方法の第1の例を示す図である。 図10は、図9のX−X断面図である。 図11は、本実施の形態に係る種結晶及び構造物の設置方法の第2の例を示す図である。 図12は、図11のXII−XII断面図である。 図13は、本実施の形態に係る種結晶及び構造物の設置方法の第3の例を示す図である。 図14は、種結晶及び構造物の設置方法の不適当な例を示す図である。 図15は、図13のXIV−XIV断面図である。 図16は、本実施の形態に係る回転制御の第1の例を示す図である。 図17は、本実施の形態に係る回転制御の第2の例を示す図である。
以下に添付図面を参照して、本発明の実施の形態を詳細に説明する。図1は、本実施の形態に係る13族窒化物結晶の製造装置1の全体的な構成を示している。図2は、製造装置1の耐圧容器11の内部の構成を示している。尚、図2の説明では便宜的に図1で示す耐圧容器11の外部からガスを導入する配管31、32を省略している。
製造装置1はフラックス法により13族窒化物結晶5を製造するための装置である。耐圧容器11は例えばステンレスにより構成される。耐圧容器11の内部には内部容器12が設置されている。内部容器12の内部には更に反応容器13が収容されている。
反応容器13は混合融液(フラックス)6及び種結晶7を保持し、13族窒化物結晶5を結晶成長させるための容器である。反応容器13の内部には混合融液6を撹拌するための構造物14が設置されている(構造物14については後に詳述する)。
反応容器13の材質は特に限定されるものではなく、BN焼結体、P−BN等の窒化物、アルミナ、YAG等の酸化物、SiC等の炭化物等を使用することができる。また、反応容器13の内壁面、すなわち反応容器13が混合融液6と接する部位は、混合融液6と反応し難い材質で構成されていることが望ましい。該材質の例としては、窒化ホウ素(BN)、パイロリティックBN(P−BN)、窒化アルミニウム等の窒化物、アルミナ、イットリウム・アルミニウム・ガーネット(YAG)等の酸化物、ステンレス鋼(SUS)等が挙げられる。
混合融液6は、アルカリ金属又はアルカリ土類金属と13族元素とを含む融液である。アルカリ金属としては、ナトリウム(Na)、リチウム(Li)、及びカリウム(K)から選ばれる少なくとも1つが挙げられる。好ましくは、ナトリウム又はカリウムである。アルカリ土類金属としては、カルシウム(Ca)、マグネシウム(Mg)、ストロンチウム(Sr)、及びバリウム(Ba)から選ばれる少なくとも1つが挙げられる。13族元素としては、ホウ素(B)、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)、インジウム(In)、及びタリウム(Tl)から選ばれる少なくとも1つが挙げられる。好ましくは、ガリウムである。代表的な混合融液6としては、Ga−Na混合融液が挙げられる。
反応容器13の内部には、種結晶7が混合融液6中に浸漬するように配置される。本実施の形態においては、種結晶7は反応容器13の底部に固定された状態となっている。種結晶7とは、13族窒化物結晶5の結晶成長の核となる窒化物結晶である(種結晶7については後に詳述する)。
内部容器12は耐圧容器11内のターンテーブル21上に着脱可能に設置されている。ターンテーブル21は回転軸22に固定され、耐圧容器11の外側にある回転機構16により回転可能である。回転機構16は、モータ等により回転軸22を回転させるものである。回転軸22の回転速度、回転方向等は、プログラムに従って動作するコンピュータ、各種論理回路等から構成される制御部により制御される(回転軸22の制御については後に詳述する)。回転軸22の回転に伴い内部容器12、反応容器13、構造物14等が回転する。尚、回転軸22の回転に伴い回転する部材はこれらに限られるものではなく、例えば更にヒータ15が回転してもよく、反応容器13のみが回転してもよい。反応容器13の回転に伴い種結晶7及び構造物14が回転することにより、混合融液6が撹拌される。
耐圧容器11の内部には、窒素を含む原料ガスが供給される。図1に示すように、耐圧容器11の内部空間及び内部容器12の内部空間には、それぞれ13族窒化物結晶5の原料である窒素(N)ガス及び全圧調整用の希釈ガスを供給する配管31,32が接続されている。配管33は2つの配管34,35に分岐している。配管34は窒素ガスを、配管35は希釈ガスをそれぞれ供給出来るようになっている。配管34,35にはそれぞれバルブ36,37が設けられている。希釈ガスとしては、不活性ガスのアルゴン(Ar)ガスを用いることが望ましいが、これに限定されず、ヘリウム(He)やネオン(Ne)等を用いてもよい。
窒素ガスは、ガスボンベ等から配管34に流入し、圧力制御装置41で圧力が調整された後、バルブ36を介して配管33に流入する。一方、希釈ガスは、ガスボンベ等から配管35に流入し、圧力制御装置42で圧力が調整された後、バルブ37を介して配管33に流入する。このようにして圧力が調整された窒素ガス及び希釈ガスは配管33内で混合ガスとなる。
上記混合ガスは、配管33からバルブ38及び配管31を経て耐圧容器11の内部空間に供給されると共に、バルブ39及び配管32を経て内部容器12の内部空間に供給される。内部容器12の内部空間と反応容器13の内部空間とは耐圧容器11内で連通しており、同じ略同一雰囲気、略同一圧力となっている。内部容器12は製造装置1から取り外すことが可能となっている。配管31は配管33とバルブ40を介して外部につながっている。
配管33には圧力計45が設けられている。圧力計45を監視することにより耐圧容器11及び内部容器12(反応容器13)の内部空間の圧力を調整することができる。このように、窒素ガス及び希釈ガスの圧力をバルブ36,37と圧力制御装置41,42とにより調整することにより、反応容器13内の窒素分圧を調整することができる。また、耐圧容器11及び内部容器12の全圧を調整できるので、内部容器12内の全圧を高くして反応容器13内の混合融液6(例えばナトリウム)の蒸発を抑制することができる。すなわち、窒化ガリウムの結晶成長条件に影響を与える窒素分圧と、混合融液6の蒸発に影響を与える全圧とを別々に制御することができる。勿論、希釈ガスを導入せずに窒素ガスのみを反応容器内に導入しても良い。尚、上記図1に示す製造装置1の全体構成は例示に過ぎず、反応容器13内に窒素を含むガスを供給する機構等の変更は本発明の技術的範囲に影響を与えない。
また、図1に示すように、耐圧容器11内の内部容器12の外周及び底部の下にはヒータ15が設置されている。ヒータ15は内部容器12及び反応容器13を加熱し、混合融液6の温度を調整する。
反応容器13に種結晶7、原料(アルカリ金属又はアルカリ土類金属及び13族元素)、C等の添加剤、Ge等のドーパント等を投入する作業は、例えばアルゴンガスのような不活性ガス雰囲気のグローブボックス内に内部容器12を入れた状態で行うとよい。また、この作業を内部容器12に反応容器13を入れた状態で行ってもよい。
尚、混合融液6に含まれる13族元素とアルカリ金属とのモル比は、特に限定されるものではないが、13族元素とアルカリ金属との総モル数に対するアルカリ金属のモル比を40%〜95%とすることが好ましい。
このように原料等を投入した後、ヒータ15に通電して内部容器12及び反応容器13を結晶成長温度まで加熱すると、反応容器12内で原料の13族元素、アルカリ金属又はアルカリ土類金属、その他の添加物等が溶融し、混合融液6が生成する。この混合融液6に所定の窒素分圧の原料ガスを接触させることにより、混合融液6中に窒素が溶解する。このような混合融液6中に溶解している原料は種結晶7の表面に供給され、13族窒化物結晶5が結晶成長していく。
このような結晶成長工程において、回転機構16により反応容器13を回転させ、種結晶7及び構造物14を回転させることにより、混合融液6が撹拌され、混合融液6中の窒素濃度分布が均一に保たれる。窒素濃度分布が均一な混合融液6中で長時間結晶成長させることにより、高品質且つ大型の13族窒化物結晶5を製造することができる。
以下に、上記製造装置1及び製造方法に利用可能な種結晶7を例示する。図3〜図8は、それぞれ種結晶7の第1〜第6の例を示している。尚、これらの異なる例において同一又は同様の作用効果を奏する箇所については同一の符号を付してその説明を省略する場合がある。
図3及び図4に示す第1及び第2の例に係る種結晶7A,7Bは、横断面六角形状の針状(柱状)結晶である(例えば特開2011−213579号公報参照)。種結晶7A,7Bは6つの側面({1−100}面)51及び6つの斜面({1−101}面)52を有する。種結晶7Bは更に上面({0001}面)53を有する。各側面51及び各斜面52は13族窒化物結晶の結晶成長工程における主成長面となる。主成長面とは、13族窒化物結晶が等方的に成長していく主な面である。側面51及び斜面52(種結晶7A,7Bの主成長面)は反応容器13の外周方向を向いている。すなわち、側面51は反応容器13の外周面に対して縦方向に略平行に対面しており、斜面52は当該外周面に対して所定の角度を持って対面している。このように主成長面が反応容器13の外周方向を向いている種結晶7A,7Bは、回転する際に混合融液6と衝突する面積が大きく、撹拌効果が大きいため、本実施の形態に係る製造装置1及び製造方法に適している。
図5及び図6に示す第3及び第4の例に係る種結晶7C,7Dは、ピラミッド状結晶である。種結晶7C,7Dは6つの斜面({1−101}面)52を有する。種結晶7Dは更に上面({0001}面)53を有する。各斜面52は上記主成長面となり、反応容器13の外周方向を向いている。すなわち、斜面52は反応容器13の外周面に対して所定の角度を持って対面している。当該種結晶7C,7Dのように、反応容器13の外周面に対して平行に対面する主成長面を有さないが、当該外周面に対して所定の角度を持って対面する主成長面を有しているものであれば、ある程度の撹拌効果を望めるため、本実施の形態に係る製造装置1及び製造方法に適しているといえる。
図7に示す第5の例に係る種結晶7Eは円盤状結晶である。図8に示す第6の例に係る種結晶7Fは六角板状結晶である。種結晶7Eは曲面状の側面55及び上面({0001}面)56を有する。種結晶7Fは6つの側面({1−100}面)57及び上面({0001}面)58を有する。上面56,58が主成長面となる。このような種結晶7E,7Fは主成長面が外周方向を向いておらず、結晶成長工程の開始当初においては撹拌効果が小さい。しかし、数100時間以上にわたる結晶成長によりこれらの種結晶7E,7Fの厚さが増加すれば、撹拌効果が大きくなる。従って、このような種結晶7E,7Fであっても本実施の形態に係る製造装置1及び製造方法に適用可能である。
以下に、種結晶7及び構造物14の設置方法について説明する。図9及び図10は、種結晶7及び構造物14の設置方法の第1の例を示している。図10は、図9のX−X断面図である。図11及び図12は、種結晶7及び構造物14の設置方法の第2の例を示している。図12は、図11のXII−XII断面図である。図13は、種結晶7及び構造物14の設置方法の第3の例を示している。図14及び図15は、種結晶7及び構造物14の設置方法の不適当な例を示している。図15は、図14のXIV−XIV断面図である。尚、これらの異なる例において同一又は同様の作用効果を奏する箇所については同一の符号を付してその説明を省略する場合がある。
図9及び図10に示す設置方法の第1の例においては、2つの柱状の種結晶7が反応容器13の中心軸61を基準として点対称となるように設置されていると共に、板状の構造物14Aが中心軸61を基準として点対称となる、即ち板状の構造物14Aが中心軸61を通り、且つ中心軸61が構造物14Aの長手方向の中心と略一致するように設置されている。構造物14Aは2つの種結晶7の間を区切るように立設されている。構造物14Aの両端部と反応容器13の内壁との間には間隔が設けられている。
このような構成において、反応容器13を回転させた後停止させると、混合融液6と構造物14Aとが衝突し、混合融液6中に上下流が生じるため、混合融液6の溶質(窒素)濃度分布が均一化される。また、13族窒化物結晶5のサイズが徐々に拡大していくと、13族窒化物結晶5自体が構造物14Aと同様の役割を果たすこととなる。すなわち、反応容器13を回転・停止させた際、構造物14Aだけでなく13族窒化物結晶5の近傍においても上下流が生じるため、溶質濃度分布は更に均一化される。これにより、均一性の高い13族窒化物結晶5を得ることができる。
混合融液6の溶質濃度分布が均一化されることで、複数の種結晶7の主成長面は等方的に成長する。また、種結晶7が中心軸61を基準として点対称に設置されているため、13族窒化物結晶5のサイズが拡大しても、混合融液6中に生ずる上下流は中心軸61を基準として対称性を維持して発生し、混合融液6中の流れに乱れを生じさせることはない。これにより、成長した13族窒化物結晶5が多結晶化したり、雑結晶が発生したりすることが抑制される。
尚、種結晶7及び構造物14Aの数には特に制約はなく、反応容器13内において種結晶7と構造物14Aとにより全体として対称性が確保、即ち中心軸を対称中心として種結晶と構造物が配置されていればよい。
図11及び図12に示す設置方法の第2の例においては、4つの柱状の構造物14Bが反応容器13の底面に中心軸61を基準として点対称となるように設置されると共に、4つの柱状の種結晶7がそれぞれ構造物14B上の中心に設置されている。この第2の例では、中心軸61を対称中心として4回対称となる位置に、構造物14B及び種結晶7が設置されている。
このように構造物14B上に種結晶7を設置することで、13族窒化物結晶5のサイズが徐々に拡大し、13族窒化物結晶5自体が構造物14Bと同様の役割を果たすこととなっても、混合融液6中の上下流が生ずる場所に変化はない。また、上下流は反応容器13内の対称性を維持して発生するため、混合融液6の流れを乱すことはない。従って、局所的に高過飽和度となる部分が発生することはなく、成長した13族窒化物結晶5が多結晶化したり、雑結晶が発生したりすることはない。また、このように種結晶7を構造物14B上に設置することにより、反応容器13内のスペースが有効に利用され、同時に多くの13族窒化物結晶5を結晶成長させることができるので、生産性を向上させることができる。尚、種結晶7及び構造物14Bの数には特に制約は無く、反応容器13内において種結晶7と構造物14Bが中心軸を対称中心として配置されていれば良い。更に配置される種結晶7と構造物14Bの位置は、回転対称となる位置であればより好ましい。
図13に示す設置方法の第3の例においては、上記第2の例に係る反応容器13−1,13−2,13−3が3つ積み重ねられている。各反応容器13−1,13−2,13−3はそれらの中心軸61と回転軸22(図1及び図2参照)とが一致するように積み重ねられており、回転軸22の回転に伴い全ての反応容器13−1,13−2,13−3が同時に回転する。
このように複数の反応容器13−1,13−2,13−3を同軸上に設置したことにより、1つの反応容器13を用いた場合と同様に、全ての反応容器13−1,13−2,13−3内の全ての種結晶7に同時に混合融液6を十分に流すことができる。これにより、高品質な13族窒化物結晶5を同時に複数得ることが可能となり、生産性が更に向上する。
図14及び図15は、種結晶7及び構造物14Bの設置方法の不適当な例を示している。この例においては、2つの構造物14Bが中心軸61を基準として非対称に設置されていると共に、2つの種結晶7がそれぞれ構造物14B上の中心に設置されている。
このような構成において、反応容器13を回転・停止させると、反応容器13の外周部から中心部へ向かって生じる上昇流が中心軸61を基準として非対称に発生し、混合融液6の流れに乱れが生じる。そのため、溶質濃度分布が生じて局所的に高過飽和度となる部分が生じ、成長した13族窒化物結晶5の一部が多結晶化したり、新たに雑結晶が析出したり、結晶成長速度が結晶成長面間でばらついたりする原因となる。
以下に、回転機構16による回転軸22の回転制御について説明する。図16は、回転制御の第1の例を示している。図17は、回転制御の第2の例を示している。
種結晶7及び構造物14を一方向に一定の速度で回転させた場合、混合融液6と種結晶7・構造物14との間に相対速度が生じないため、混合融液6の上下流等の理想的な流れは生じない。そのため、種結晶7及び構造物14が回転、停止等を繰り返すように回転制御を行うことにより、混合融液6と種結晶7・構造物14との間に相対速度を生じさせることが好ましい。
図16に示す第1の例に係る回転制御は、停止状態から第1の回転方向への加速、所定速度での回転、所定速度から停止状態への減速、及び停止状態の維持からなる1サイクルを繰り返すものである。このような回転制御を行うことにより、混合融液6と種結晶7・構造物14との間に相対速度を生じさせ、理想的な上下流を安定して発生させることができ、混合融液6を効果的に撹拌することができる。この第1の例では同一方向の回転を繰り返している。
図17に示す第2の例に係る回転制御は、停止状態から第1の回転方向への加速、所定速度での回転の維持、所定速度から停止状態への減速、停止状態の維持、停止状態から第1の回転方向とは逆の第2の回転方向への加速、所定速度での回転、所定速度から停止状態への減速、及び停止状態の維持からなる1サイクルを繰り返すものである。このような回転制御を行うことにより、上下流が種結晶7の隅々にまで行きわたるようになり、図16に示す第1の例より更に効果的に混合融液6を撹拌することができる。
以下に、本実施の形態に係る製造装置1を用いて13族窒化物結晶5を製造した実施例を記載する。
(実施例1)
本実施例では、図9及び図10に示すように種結晶7と構造物14Aを設置した状態で13族窒化物結晶としてGaN(窒化ガリウム)結晶を成長させた。先ず、高純度Ar雰囲気のグローブボックス内でアルミナからなる反応容器13に、図3に示す柱状のGaNからなる種結晶7Aを設置した。種結晶7Aを反応容器13の底面にあけた穴に差し込んで保持した。
次に、混合融液(フラックス)6として、加熱して液体にしたナトリウム(Na)を反応容器13内に入れた。ナトリウムが固化した後、ガリウム(Ga)とカーボンを入れた。ガリウムとナトリウムとのモル比を0.25:0.75とした。カーボンの含有量をガリウムとナトリウムとカーボンの全モル数に対して0.5%とした。
その後、反応容器13を内部容器12内に収納し、内部容器12をグローブボックスから出して製造装置1に組み込んだ。このとき、内部容器12を耐圧容器11内のターンテーブル21上に反応容器13の中心軸61と回転機構16の回転軸22とが一致するように設置した。
内部容器12内の全圧を2.2MPaにし、ヒータ15に通電し、反応容器13を結晶成長温度まで昇温させた。結晶成長工程における温度条件を870℃、窒素ガス圧力を3.0MPaとした。この状態で反応容器13を一方向に間欠回転させ(図16参照)、1000時間結晶成長を行った。このときの回転速度を15rpmとした。
これにより、反応容器13を回転させた後停止させた際に、混合融液6と構造物14Aとが衝突して混合融液6内に上下流が生じるため、混合融液6の溶質濃度分布が均一化された。また、GaN結晶5のサイズが結晶成長により徐々に拡大していくと、GaN結晶5自体が構造物14Aと同様の役割を果し、GaN結晶5の近傍においても上下流が生じるようになった。混合融液6の溶質濃度分布が均一化されたことにより、各種結晶7の主成長面が等方的に成長した。また、種結晶7が反応容器13の中心軸61を基準として点対称に設置されているため、GaN結晶5のサイズが拡大しても、混合融液6の上下流は反応容器13内で対称性を維持して発生した。これにより、局所的に高過飽和度となる部分が生じることはなく、成長したGaN結晶5が多結晶化したり、新たに雑結晶が発生したりすることがなかった。このように、GaN結晶5が結晶成長してそのサイズが拡大すると、構造物14Aのみによる撹拌効果よりも大きな撹拌効果が得られた。これにより、均一性の高い結晶を得ることができた。
上記結晶成長工程を経ることによって、c軸方向の長さ65mm、c軸と垂直方向の長さ55mmのバルク状のGaN結晶5を2つ製造することができた。雑晶は発生せず、成長したGaN結晶5が多結晶化することもなかった。製造したバルク状のGaN結晶5をm面、c面に平行にスライスしてXRD測定を行ったところ、XRCのFWHMとピーク位置がm面全面及びc面全面にわたってばらつきの小さいGaN結晶5が得られたことがわかった。このときのGaN結晶5のXRCのFWHMはm面、c面とも30±10arcsecであった。また、得られた結晶の転位密度は10cm−2以下と少なく、高品質な結晶であった。
(実施例2)
本実施例では、図11及び図12に示すように種結晶7と構造物14Bを設置した状態でGaN結晶5を成長させた。4つの柱状の構造物14Bを反応容器13の中心軸61を基準として点対称となるように設置した。即ち、中心軸61を対称中心として4回対称となる位置に、構造物14B及び種結晶7を設置した。4つの柱状の種結晶7Aをそれぞれ構造物14Bの中心に設置した。種結晶7Aは構造物14にあけた穴に差し込んで保持した。その他の結晶成長条件や回転条件を上記実施例1と同様にした。
上記構成により、GaN結晶5のサイズが拡大してGaN結晶5自体が構造物14Bと同様の役割を果たしても、混合融液6内で上下流が生ずる場所に変化はなく、上下流は反応容器13内で中心軸61を基準として対称性を維持して発生した。そのため、局所的に高過飽和度となる部分が生じることはなく、成長したGaN結晶5が多結晶化したり、新たに雑結晶が発生したりすることはなかった。また、種結晶7を構造物14B上に設置することにより、反応容器13内のスペースが有効に利用され、4つのGaN結晶5を同時に結晶成長させることができた。これにより、生産性が向上した。
上記結晶成長工程を経ることによって、c軸方向の長さ65mm、c軸と垂直方向の長さ55mmのバルク状のGaN結晶5を4つ製造することができた。雑晶は発生せず、成長したGaN結晶5が多結晶化することもなかった。製造したバルク状のGaN結晶5をm面、c面に平行にスライスしてXRD測定を行ったところ、XRCのFWHMとピーク位置がm面全面およびc面全面にわたってばらつきの小さいGaN結晶5が得られたことがわかった。このときのGaN結晶5のXRCのFWHMはm面、c面とも30±10arcsecであった。また、得られた結晶の転位密度は10cm−2以下と少なく、高品質な結晶であった。
(実施例3)
本実施例では、図17に示す回転制御を実行したことを除いて、上記実施例2と同様にGaN結晶5の結晶成長を行った。図11及び図12に示すように反応容器13内に種結晶7と構造物14Bを設置した。反応容器13を回転させる回転軸22の回転制御として、図17に示すように加速、回転、減速、停止させた後、直前の回転方向とは逆方向に加速、回転、減速、停止させることを1サイクルとする回転方法を用い、回転速度15rpmで当該サイクルを1000時間繰返して結晶成長させた。
このように回転方向を反転させることで、混合融液6内の溶質濃度分布がより均一化され、更に均一性の高いGaN結晶5を得ることができた。
上記結晶成長工程を経ることによって、c軸方向の長さ65mm、c軸と垂直方向の長さ55mmのバルク状のGaN結晶5を製造することができた。雑晶は発生せず、成長したGaN結晶5が多結晶化することもなかった。製造したバルク状のGaN結晶5をm面、c面に平行にスライスしてXRD測定を行ったところ、XRCのFWHMとピーク位置がm面全面およびc面全面にわたってばらつきの小さいGaN結晶5が得られたことがわかった。このときのGaN結晶5のXRCのFWHMはm面、c面とも25±5arcsecであった。また、得られた結晶の転位密度は10cm−2以下と少なく、高品質な結晶であった。
(実施例4)
本実施例では、図13に示すように、図11及び図12に示す反応容器13(13−1,13−2,13−3)を3つ積み重ねることによりGaN結晶5の結晶成長を行った。各反応容器13−1,13−2,13−3はそれらの中心軸61と回転軸22(図1及び図2参照)とが一致するように積み重ねられており、回転軸22の回転に伴い全ての反応容器13−1,13−2,13−3が同時に回転した。その他の結晶成長条件や回転条件を上記実施例3と同様にした。
このように3つの反応容器13−1,13−2,13−3を同軸上に設置したことにより、1つの反応容器13を用いた場合と同様に、全ての反応容器13−1,13−2,13−3内の全ての種結晶7に同時に混合融液6を十分に流すことができた。これにより、高品質なGaN結晶5を同時に12個得ることが可能となり、生産性が更に向上した。
上記結晶成長工程を経ることによって、c軸方向の長さ65mm、c軸と垂直方向の長さ55mmのバルク状のGaN結晶5を同時に12個製造することができた。雑晶は発生せず、成長したGaN結晶5が多結晶化することもなかった。製造したバルク状のGaN結晶5をm面、c面に平行にスライスしてXRD測定を行ったところ、XRCのFWHMとピーク位置がm面全面およびc面全面にわたってばらつきの小さいGaN結晶5が得られたことがわかった。このときのGaN結晶5のXRCのFWHMはm面、c面とも25±5arcsecであった。また得られた結晶の転位密度は10cm−2以下と少なく、高品質な結晶であった。
(比較例1)
本比較例は、本実施の形態に係る製造装置1ではない製造装置を用いた例である。本比較例では、図14及び図15に示すように種結晶7と構造物14Bを設置した反応容器13を用いてGaN結晶5の結晶成長を行った。2つの構造物14Bを反応容器13の中心軸61を基準として非対称に設置した。2つの種結晶7をそれぞれ構造物14Bの中心に設置した。種結晶7Aを構造物14にあけた穴に差し込んで保持した。その他の結晶成長条件や回転条件を上記実施例2と同様にした。
このように構造物14Bを設置することで、反応容器13を回転・停止させた際に反応容器13の外周部から中心部へ向かって生ずる上昇流が中心軸61を基準として非対称に発生した。そのため、混合融液6の流れに乱れが生じ、局所的に高過飽和度となる部分が発生した。これにより、成長したGaN結晶5が多結晶化したり、新たに雑結晶が析出したり、結晶成長速度が結晶成長面間でばらついたりした。
上記結晶成長工程を経ることによって、c軸方向の長さ50mm、c軸と垂直方向の長さ35mmのバルク状のGaN結晶5を2つ製造することができた。雑結晶は全体収率の55%発生し、成長したGaN結晶5は大部分が多結晶化していた。製造したバルク状のGaN結晶5をm面およびc面に平行にスライスしてXRD測定を行ったところ、XRCのFWHMが測定できないほど悪い部分があり、またマルチピークとなる部分が多かった。本比較例で製造したバルク状のGaN結晶5はm面全面およびc面全面にわたってばらつきの大きなGaN結晶5であった。
以上のように、本実施の形態によれば、数100時間以上の長時間成長を行う場合にも混合融液6を均一な状態に保つことができる。これにより、高品質且つ大型の13族窒化物結晶を製造することが可能となる。
1 13族窒化物結晶の製造装置(製造装置)
5 13族窒化物結晶(GaN結晶)
6 混合融液
7,7A,7B,7C,7D,7E,7F 種結晶
11 耐圧容器
12 内部容器
13,13−1,13−2,13−3 反応容器
14,14A,14B 構造物
15 ヒータ
16 回転機構
21 ターンテーブル
22 回転軸
31,32,33,34,35 配管
36,37,38,39,40 バルブ
41,42 圧力制御装置
45 圧力計
51,55,57 側面
52 斜面
53,56,58 上面
61 中心軸
国際公開第2004/083498号 特開2010−083711号公報 国際公開第2005/080648号 特開2009−263162号公報

Claims (10)

  1. フラックス法により13族窒化物結晶を製造する13族窒化物結晶の製造方法であって、
    反応容器内にアルカリ金属又はアルカリ土類金属及び13族元素を含む混合融液と種結晶とを収容する工程と、
    前記反応容器を回転させることにより前記混合融液を撹拌する工程と
    を含み、
    前記反応容器は内部に前記混合融液を撹拌するための構造物を備え、
    前記反応容器の中心軸以外の部分に、前記種結晶のc面が前記反応容器の底面と略平行となるように、複数の前記種結晶が前記中心軸を基準として点対称に設置され、
    前記反応容器の少なくとも中心軸以外の部分に前記構造物が前記中心軸を基準として点対称に設置されている
    13族窒化物結晶の製造方法。
  2. 複数の前記種結晶は前記中心軸を基準として全体として点対称となるように結晶成長していく
    請求項1に記載の13族窒化物結晶の製造方法。
  3. 前記種結晶は前記構造物上に設置されている
    請求項1又は2に記載の13族窒化物結晶の製造方法。
  4. 前記種結晶と前記構造物とが重ならないように設置されている
    請求項1又は2に記載の13族窒化物結晶の製造方法。
  5. 前記種結晶は柱状である
    請求項1〜4のいずれか1項に記載の13族窒化物結晶の製造方法。
  6. 前記反応容器を回転させる回転機構の回転軸と前記中心軸とが一致している
    請求項1〜5のいずれか1項に記載の13族窒化物結晶の製造方法。
  7. 前記反応容器は回転及び停止を繰り返すように回転する
    請求項1〜6のいずれか1項に記載の13族窒化物結晶の製造方法。
  8. 前記反応容器は回転及び停止した後、停止前の回転方向とは逆方向に回転する
    請求項7に記載の13族窒化物結晶の製造方法。
  9. 複数の前記反応容器がそれらの前記中心軸と前記回転軸とが一致するように設置されている
    請求項1〜8のいずれか1項に記載の13族窒化物結晶の製造方法。
  10. 請求項1〜9のいずれか1項に記載の13族窒化物結晶の製造方法を利用して13族窒化物結晶を製造する13族窒化物結晶の製造装置。
JP2013165083A 2013-08-08 2013-08-08 13族窒化物結晶の製造方法及び製造装置 Expired - Fee Related JP6136735B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013165083A JP6136735B2 (ja) 2013-08-08 2013-08-08 13族窒化物結晶の製造方法及び製造装置
KR1020167003194A KR101788487B1 (ko) 2013-08-08 2014-08-05 13 족 질화물 결정을 제조하기 위한 방법 및 장치
CN201480044635.XA CN105452545B (zh) 2013-08-08 2014-08-05 用于制造第13族氮化物晶体的方法和设备
US14/910,453 US20160177468A1 (en) 2013-08-08 2014-08-05 Method and apparatus for manufacturing group 13 nitride crystal
EP14834159.7A EP3030700B1 (en) 2013-08-08 2014-08-05 Method for manufacturing group 13 nitride crystal
PCT/JP2014/071135 WO2015020226A1 (en) 2013-08-08 2014-08-05 Method and apparatus for manufacturing group 13 nitride crystal

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013165083A JP6136735B2 (ja) 2013-08-08 2013-08-08 13族窒化物結晶の製造方法及び製造装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015034103A true JP2015034103A (ja) 2015-02-19
JP6136735B2 JP6136735B2 (ja) 2017-05-31

Family

ID=52461548

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013165083A Expired - Fee Related JP6136735B2 (ja) 2013-08-08 2013-08-08 13族窒化物結晶の製造方法及び製造装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20160177468A1 (ja)
EP (1) EP3030700B1 (ja)
JP (1) JP6136735B2 (ja)
KR (1) KR101788487B1 (ja)
CN (1) CN105452545B (ja)
WO (1) WO2015020226A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109680334A (zh) * 2019-03-07 2019-04-26 中国电子科技集团公司第四十六研究所 一种钠助熔剂法氮化镓单晶的生长装置

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08253393A (ja) * 1995-01-19 1996-10-01 Hoya Corp Ktp固溶体単結晶及びその製造方法
JP2002187791A (ja) * 2000-12-15 2002-07-05 Canon Inc 液相成長方法および液相成長装置
JP2005263622A (ja) * 2004-02-19 2005-09-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd 化合物単結晶の製造方法、およびそれに用いる製造装置
WO2009072254A1 (ja) * 2007-12-05 2009-06-11 Panasonic Corporation Iii族窒化物結晶、その結晶成長方法および結晶成長装置
JP2009263162A (ja) * 2008-04-24 2009-11-12 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物半導体製造装置および種結晶ホルダ
JP2010180085A (ja) * 2009-02-04 2010-08-19 Ihi Corp 基板ホルダ
JP2011213579A (ja) * 2010-03-15 2011-10-27 Ricoh Co Ltd 窒化ガリウム結晶、13族窒化物結晶、結晶基板、およびそれらの製造方法
JP2012091957A (ja) * 2010-10-26 2012-05-17 Ihi Corp 結晶成長装置
JP2012091958A (ja) * 2010-10-26 2012-05-17 Ihi Corp 結晶成長装置
JP2012214324A (ja) * 2011-03-31 2012-11-08 Ihi Corp 窒化ガリウム結晶の成長方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6949140B2 (en) * 2001-12-05 2005-09-27 Ricoh Company, Ltd. Crystal growth method, crystal growth apparatus, group-III nitride crystal and group-III nitride semiconductor device
WO2004083498A1 (ja) 2003-03-17 2004-09-30 Osaka Industrial Promotion Organization Iii族元素窒化物単結晶の製造方法およびそれに用いる装置
CN100564616C (zh) * 2004-02-19 2009-12-02 松下电器产业株式会社 化合物单晶的制造方法和用于该制造方法的制造装置
JP5012750B2 (ja) 2008-09-30 2012-08-29 豊田合成株式会社 Iii族窒化物系化合物半導体の製造方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08253393A (ja) * 1995-01-19 1996-10-01 Hoya Corp Ktp固溶体単結晶及びその製造方法
JP2002187791A (ja) * 2000-12-15 2002-07-05 Canon Inc 液相成長方法および液相成長装置
JP2005263622A (ja) * 2004-02-19 2005-09-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd 化合物単結晶の製造方法、およびそれに用いる製造装置
WO2009072254A1 (ja) * 2007-12-05 2009-06-11 Panasonic Corporation Iii族窒化物結晶、その結晶成長方法および結晶成長装置
JP2009263162A (ja) * 2008-04-24 2009-11-12 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物半導体製造装置および種結晶ホルダ
JP2010180085A (ja) * 2009-02-04 2010-08-19 Ihi Corp 基板ホルダ
JP2011213579A (ja) * 2010-03-15 2011-10-27 Ricoh Co Ltd 窒化ガリウム結晶、13族窒化物結晶、結晶基板、およびそれらの製造方法
JP2012091957A (ja) * 2010-10-26 2012-05-17 Ihi Corp 結晶成長装置
JP2012091958A (ja) * 2010-10-26 2012-05-17 Ihi Corp 結晶成長装置
JP2012214324A (ja) * 2011-03-31 2012-11-08 Ihi Corp 窒化ガリウム結晶の成長方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP6136735B2 (ja) 2017-05-31
EP3030700A1 (en) 2016-06-15
CN105452545A (zh) 2016-03-30
KR101788487B1 (ko) 2017-10-19
EP3030700B1 (en) 2018-11-28
KR20160029838A (ko) 2016-03-15
CN105452545B (zh) 2018-09-11
US20160177468A1 (en) 2016-06-23
WO2015020226A1 (en) 2015-02-12
EP3030700A4 (en) 2016-09-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101405440B (zh) 氮化物单晶的制造方法及其装置
JP5112983B2 (ja) Iii族窒化物半導体製造方法およびiii族窒化物半導体育成用の種結晶
JP2005263622A (ja) 化合物単結晶の製造方法、およびそれに用いる製造装置
JP2005247615A (ja) Iii族窒化物の結晶成長方法及び結晶成長装置
JP6136735B2 (ja) 13族窒化物結晶の製造方法及び製造装置
JP2008001569A (ja) 単結晶SiC及びその製造方法並びに単結晶SiCの製造装置
JP4849092B2 (ja) Iii族窒化物半導体製造装置および種結晶ホルダ
JP2011230966A (ja) 第13族金属窒化物結晶の製造方法
JP2008214126A (ja) 半導体結晶の製造方法
JP6263894B2 (ja) 13族窒化物結晶の製造方法及び製造装置
JP5464007B2 (ja) Iii族窒化物半導体結晶の製造方法
WO2017026196A1 (ja) 13族窒化物単結晶の製造方法、および13族窒化物単結晶の製造装置
JP6841191B2 (ja) Iii族窒化物半導体の製造方法
JP2018043893A (ja) 13族窒化物結晶の製造方法及び13族窒化物結晶基板の製造方法
JP2015034104A (ja) 13族窒化物結晶の製造装置及び製造方法
JP2011207677A (ja) Iii族窒化物半導体結晶の製造方法
JP6621421B2 (ja) 13族元素窒化物結晶の製造方法および装置
JP6424529B2 (ja) 13族窒化物結晶の製造方法
WO2017026183A1 (ja) 13族窒化物単結晶の製造方法、および13族窒化物単結晶の製造装置
JP2014227314A (ja) 周期表第13族金属窒化物多結晶の製造方法
US20140261157A1 (en) Method for producing group 13 nitride crystal and apparatus for producing the same
JP2016130189A (ja) 13族窒化物単結晶の製造方法、および13族窒化物単結晶の製造装置
JP2013203654A (ja) 周期表第13族金属窒化物結晶の製造方法
JP2017088472A (ja) 13族窒化物単結晶の製造方法
JP2013159547A (ja) Iii族窒化物半導体結晶の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160722

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170207

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170323

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170404

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170417

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6136735

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees