JP2015028468A - 自動分析装置 - Google Patents
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Abstract
Description
上記の実施形態において自動分析装置は、測定項目の計測に利用する利用範囲として測光信号の時間範囲を決定するものとした。しかしながら、本実施形態はこれに限定されない。変形例に係る自動分析装置は、測定項目の計測に利用する利用範囲として測光信号の空間的な範囲を決定する。以下、変形例に係る自動分析装置1について説明する。なお以下の説明において、本実施形態と略同一の機能を有する構成要素については、同一符号を付し、必要な場合にのみ重複説明する。
上記の説明の通り、本実施形態に係る自動分析装置1は、磁場発生体41、測光機構27、信号処理部4、及び測定項目計算部5を有している。磁場発生体41は、反応管31に収容されている反応液において磁性粒子により磁気分離する。測光機構27は、光を発生する測光用光源210と、測光用光源210から発生され反応管31に収容されている反応液を透過した光を検出し、検出された光に応じた測光信号を発生する測光用検出器220とを有する。測定項目計算部5は、測光用検出器220からの出力信号に基づいて測定項目を計測する。信号処理部4は、磁場発生体41による磁気分離の空間的な不均一さに応じて、測定項目の計測に利用される測光信号の利用範囲を決定する。
磁気分離の揺らぎが発生する事態は好ましく無い。自動分析装置1の判定部6は、測光信号に基づいて磁気分離の揺らぎが発生している否かを判定する。
システム制御部10は、複数の反応管31の各々に測定項目を設定する。例えば、システム制御部10は、磁気分離を必要とする項目と磁気分離を必要としない項目とについて測光方式を切り替える。
Claims (19)
- 反応管に収容されている反応液において磁性粒子により磁気分離するための磁場発生体と、
光を発生する光源部と前記光源から発生され前記反応管に収容されている反応液を透過した光を検出し前記検出された光に応じた出力信号を発生する検出部とを有する測光部と、
前記出力信号に基づいて測定項目を計測する計測部と、
前記磁場発生体による磁気分離の空間的な不均一さに応じて、前記測定項目の計測に利用される前記出力信号の範囲を決定する決定部と、
を具備する自動分析装置。 - 前記検出部は、前記反応管に収容されている反応液を透過した光に応じた出力信号を繰り返し発生し、
前記決定部は、前記利用範囲として、前記磁場発生体による磁気分離の空間的な不均一さに応じて、前記繰り返し発生される出力信号のうちの前記測定項目の計測に利用される時間範囲を決定する、
請求項1記載の自動分析装置。 - 複数の反応管を保持する反応管保持機構と、
前記複数の反応管が測光位置を順番に通過するように前記反応管保持機構を駆動する駆動部と、をさらに備え、
前記決定部は、前記繰り返し発生される出力信号の時間変化波形に応じて前記利用範囲を前記複数の反応管の各々について個別に決定する、
請求項2記載の自動分析装置。 - 前記磁場発生体は、前記複数の反応管の各々に磁場を印加するために前記反応管保持機構に設けられる、請求項3記載の自動分析装置。
- 前記磁場発生体は、前記測光位置に対して前記複数の反応管の各々が通過する方向に磁場を印加するため、前記複数の反応管の各々を挟むように設けられる、請求項3記載の自動分析装置。
- 前記繰り返し発生される出力信号の時間変化波形に基づいて前記複数の反応管の各々での前記磁気分離の揺らぎの有無を判定する判定部と、
前記判定部による判定結果を報知する報知部と、をさらに備える、
請求項3記載の自動分析装置。 - 前記報知部は、前記判定結果を前記測定項目の計測値とともに報知する、請求項6記載の自動分析装置。
- 前記判定部は、前記繰り返し出力される出力信号の時間変化波形が極値を有しているか否かに基づいて前記磁気分離の揺らぎの有無を判定する、請求項6記載の自動分析装置。
- 前記決定部は、前記繰り返し発生される出力信号の時間変化波形の極値を検出し、前記極値を含む既定の時間範囲を前記利用範囲に決定する、請求項2記載の自動分析装置。
- 前記極値は最大値である、請求項9記載の自動分析装置。
- 前記極値は最小値である、請求項9記載の自動分析装置。
- 前記複数の反応管の各々について前記磁気分離の要否を設定する設定部をさらに備え、
前記決定部は、前記設定部により前記磁気分離を要すると設定された反応管について、前記利用範囲を前記磁気分離の空間的な不均一さに応じて決定し、前記設定部により前記磁気分離を要しないと設定された反応管について、前記利用範囲を予め設定された範囲に決定する、
請求項1記載の自動分析装置。 - 前記光源部は、前記反応管の互いに位置が異なる複数の領域に光を照射し、
前記検出部は、前記複数の領域を透過した光に応じた複数の出力信号を発生し、
前記決定部は、前記利用範囲として、前記磁場発生体による磁気分離の空間的な不均一さに応じて、前記複数の出力信号のうちの前記測定項目の計測に利用される出力信号を決定する、
請求項1記載の自動分析装置。 - 前記決定部は、時間的に略一致する前記複数の出力信号における極値を検出し、前記複数の領域のうちの前記極値の近傍にある前記少なくとも一つの領域に対応する出力信号を決定する、請求項13記載の自動分析装置。
- 前記極値は最大値である、請求項14記載の自動分析装置。
- 前記極値は最小値である、請求項14記載の自動分析装置。
- 前記磁場発生体は、一対の磁場発生体を有し、
前記一対の磁場発生体は、前記光源部から発生された光の進行方向に対する直交方向に関して対向して配置される、
請求項1記載の自動分析装置。 - 前記測定項目が前記磁気分離を必要とするか否かに応じて前記利用範囲を切り替える制御部をさらに備える、請求項1記載の自動分析装置。
- 反応管に収容されている反応液において磁性粒子により磁気分離するための磁場発生体と、
光を発生する光源部と前記光源から発生され前記反応管に収容されている反応液を透過した光を検出し前記検出された光に応じた出力信号を発生する検出部とを有する測光部と、
前記出力信号のうちの前記測定項目の計測に利用される範囲の出力信号に基づいて測定項目を計測する計測部と、
前記磁場発生体による磁気分離の空間的な不均一さに応じて前記範囲を補正する補正部と、
を具備する自動分析装置。
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