KR102205900B1 - 분석장치 및 분석장치의 카트리지 장착상태를 판단하는 방법 - Google Patents

분석장치 및 분석장치의 카트리지 장착상태를 판단하는 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR102205900B1
KR102205900B1 KR1020140011732A KR20140011732A KR102205900B1 KR 102205900 B1 KR102205900 B1 KR 102205900B1 KR 1020140011732 A KR1020140011732 A KR 1020140011732A KR 20140011732 A KR20140011732 A KR 20140011732A KR 102205900 B1 KR102205900 B1 KR 102205900B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
cartridge
wells
measurement signals
measurement
deviation
Prior art date
Application number
KR1020140011732A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20150090747A (ko
Inventor
조정민
김태수
이성화
장현수
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1020140011732A priority Critical patent/KR102205900B1/ko
Priority to US14/563,318 priority patent/US9869631B2/en
Publication of KR20150090747A publication Critical patent/KR20150090747A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102205900B1 publication Critical patent/KR102205900B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/13—Moving of cuvettes or solid samples to or from the investigating station
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/02—Mechanical
    • G01N2201/025—Mechanical control of operations
    • G01N2201/0256—Sensor for insertion of sample, cuvette, test strip

Abstract

분석장치 및 분석장치의 카트리지 장착상태를 판단하는 방법이 개시된다. 개시된 분석장치는 검체가 담기는 웰들을 구비한 카트리지를 장착하는 장착부와, 카트리지의 웰들을 측정하는 측정부와, 측정부에서 측정된 상기 웰들에 대한 측정신호들을 처리하는 연산처리부를 포함하며, 연산처리부는 웰들에 대한 측정신호들의 편차를 이용하여 카트리지의 장착상태를 판단한다.

Description

분석장치 및 분석장치의 카트리지 장착상태를 판단하는 방법{Analysis apparatus and method of checking cartridge installation of the analysis apparatus}
본 발명은 분석장치 및 분석장치의 카트리지 장착상태를 판단하는 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 카트리지를 장착하여 카트리지에 담긴 검체의 특성을 분석하는 분석장치 및 분석장치의 카트리지 장착상태를 판단하는 방법에 관한 것이다.
검체를 검사ㆍ분석하는 분석장치는 검체를 카트리지에 담고 사용하는 것이 일반적이다. 예를 들어, 체외진단검사기와 같은 분석장치는 유전자 등의 생체 정보를 포함하는 검체가 주입되는 카트리지를 사용한다. 카트리지는 검체 주입부와 시약이 들어있는 챔버를 포함한다. 검사 시 카트리지는 체외진단검사기에 장착이 되어 검체가 시약이 있는 챔버로 이동 및 반응을 하게 되고 반응물을 광학신호로 측정하여 결과를 도출하게 된다.
이와 같은 분석장치에서 카트리지는 검체의 이송과 챔버 내 반응물의 정확한 측정을 위해 제 위치에 정확히 장착되는 것이 무엇보다 중요하다. 이를 위해 종래의 시스템은 하나의 센서를 장착하여 카트리지의 장착여부를 판단하였으나, 이는 때론 카트리지의 장착을 정확히 인식하지 못하였고 이는 부정확한 검사 결과를 도출하였다. 분석장치에 추가적인 센서를 장착하여 카트리지의 장착인식의 정확성을 확보할 수도 있지만 이는 제품의 비용상승을 초래한다.
카트리지를 장착하여 카트리지에 담긴 검체를 검사ㆍ분석하는 분석장치의 카트리지 장착상태를 정확하게 판단하는 방법을 제공하고자 한다.
본 발명의 일 측면에 따른 분석장치는 검체가 담기는 웰들을 구비한 카트리지를 장착하는 장착부; 상기 카트리지의 웰들을 측정하는 측정부; 상기 측정부에서 측정된 상기 웰들에 대한 측정신호들을 처리하는 연산처리부;를 포함하며, 상기 연산처리부는 상기 웰들에 대한 측정신호들의 편차를 산출하고 상기 측정신호들의 편차를 이용하여 상기 카트리지의 장착상태를 판단한다.
상기 측정부는 상기 카트리지의 웰들에 대한 광학신호를 검출하는 광학검출장치일 수 있다. 가령, 상기 측정부는, 상기 카트리지의 웰들에 광을 순차적으로 스캔하며 조사하는 광원부; 및 상기 상기 카트리지의 웰들에 조사된 광으로부터 광학신호들을 검출하는 광검출부;를 포함할 수 있다.
상기 광원부는 상기 카트리지의 웰들에 담긴 시약 또는 검체에 영향으로 받지 않는 파장대역의 부파장 광원을 포함하며, 상기 카트리지의 장착상태 판단에 사용되는 측정신호들은 상기 부파장 광원에서 조사된 광으로부터 획득된 광학신호들일 수 있다.
상기 장착부는 측정기준용 웰을 포함하며, 상기 측정부는 상기 분석장치의 측정기준용 웰에 대한 측정신호를 측정하며, 상기 연산처리부는 상기 카트리지의 웰들에 대한 측정신호들과 함께 상기 분석장치의 측정기준용 웰에 대한 측정신호를 포함하여 편차를 산출할 수 있다.
상기 측정신호들의 편차는 측정신호들에 대한 절대값 차이, 최대 최소값의 비율, 최대값과 최소값의 차이, 평균편차, 및 표준편차 중 적어도 어느 하나일 수 있다.
상기 측정신호들의 편차는 상기 웰들 중 전부 혹은 일부의 웰에 대한 측정신호들에 대한 값일 수 있다.
상기 측정신호들의 편차가 기준 범위 내에 있으면 상기 카트리지가 정상 장착상태인 것으로 판단하고, 상기 측정신호들의 편차가 기준 범위 바깥에 있으면 상기 카트리지가 오장착상태인 것으로 판단할 수 있다.
본 발명의 일 측면에 따른 분석장치는 상기 카트리지의 종류에 대한 정보를 저장하는 메모리를 더 포함하며, 상기 연산처리부는 상기 카트리지의 종류에 따라 상기 카트리지의 장착상태의 판단 기준을 달리할 수 있다.
본 발명의 일 측면에 따른 분석장치는 상기 카트리지의 장착상태를 표시하는 표시부를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 측면에 따른 분석장치의 카트리지 장착상태를 판단하는 방법은 검체가 담기는 웰들을 구비한 카트리지를 사용하는 분석장치의 카트리지의 장착상태를 판단하는 방법으로서, 상기 카트리지를 상기 분석장치에 장착하는 단계; 상기 카트리지의 웰들에 대한 측정신호들을 획득하는 단계; 상기 웰들에 대한 측정신호들의 편차를 산출하는 단계; 및 상기 측정신호들에 대한 편차를 이용하여 상기 카트리지의 장착상태를 판단하는 단계;를 포함한다.
상기 카트리지의 웰들에 대한 측정신호들은 상기 카트리지의 웰들에 대한 광학신호들일 수 있다.
상기 카트리지의 웰들에 대한 측정신호들을 획득하는 단계는, 상기 카트리지의 웰들에 광을 순차적으로 스캔하며 조사하는 단계; 및 상기 상기 카트리지의 웰들에 조사된 광으로부터 광학신호들을 검출하는 단계;를 포함할 수 있다.
상기 카트리지의 장착상태 판단에 사용되는 측정신호들은 상기 카트리지의 웰들에 담긴 시약이나 검체에 영향으로 받지 않는 파장대역의 광으로부터 획득된 광학신호들일 수 있다.
상기 분석장치는 측정기준용 웰을 포함하며, 상기 카트리지의 웰들에 대한 측정신호들을 획득하는 단계는 상기 분석장치의 측정기준용 웰에 대한 측정신호를 획득하는 단계를 포함하며, 상기 측정신호들의 편차를 산출하는 단계는 상기 카트리지의 웰들에 대한 측정신호들과 함께 상기 분석장치의 측정기준용 웰에 대한 측정신호를 포함하여 편차를 산출할 수 있다.
상기 측정신호들의 편차는 측정신호들에 대한 절대값 차이, 최대 최소값의 비율, 및 최대값과 최소값의 차이, 평균편차, 및 표준편차 중 적어도 어느 하나일 수 있다.
상기 측정신호들의 편차는 상기 웰들 중 전부 혹은 일부의 웰에 대한 측정신호들에 대한 값일 수 있다.
상기 측정신호들의 편차가 기준 범위 내에 있으면 상기 카트리지가 정상 장착상태인 것으로 판단하고, 상기 측정신호들의 편차가 기준 범위 바깥에 있으면 상기 카트리지가 오장착상태인 것으로 판단할 수 있다.
본 발명의 다른 측면에 따른 분석장치의 카트리지 장착상태를 판단하는 방법은 상기 카트리지의 종류에 대한 정보를 메모리에 저장하는 단계를 더 포함하며, 상기 카트리지의 장착상태를 판단하는 단계는 상기 카트리지의 종류에 대한 정보에 따라 상기 측정신호들의 편차에 가중치를 둘 수 있다.
본 발명의 다른 측면에 따른 분석장치의 카트리지 장착상태를 판단하는 방법은 카트리지의 장착상태를 표시하는 단계를 더 포함할 수 있다.
개시된 실시예들에 의한 분석장치 및 분석장치의 카트리지 장착상태를 판단하는 방법은 분석장치 내의 기존에 있는 측정부를 이용하여 추가 비용없이 카트리지의 정확한 장착을 감지할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 분석장치를 개략적으로 도시한다.
도 2는 도 1의 분석장치의 측정부 및 회로부를 개략적으로 도시한다.
도 3a는 카트리지가 정상적으로 장착된 경우를 도시한다.
도 3b는 카트리지가 오장착된 경우를 도시한다.
도 4a는 카트리지가 정상적으로 장착된 경우의 광학 데이터의 일 예를 도시한다.
도 4b는 카트리지가 오장착된 경우의 광학 데이터의 일 예를 도시한다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 분석장치의 카트리지 장착상태를 판단하는 방법을 설명하는 흐름도이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
본 명세서에서 사용되는 용어에 대해 간략히 설명하고, 본 발명에 대해 구체적으로 설명하기로 한다.
본 발명에서 사용되는 용어는 본 발명에서의 기능을 고려하면서 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어들을 선택하였으나, 이는 당 분야에 종사하는 기술자의 의도 또는 판례, 새로운 기술의 출현 등에 따라 달라질 수 있다. 또한, 특정한 경우는 출원인이 임의로 선정한 용어도 있으며, 이 경우 해당되는 발명의 설명 부분에서 상세히 그 의미를 기재할 것이다. 따라서 본 발명에서 사용되는 용어는 단순한 용어의 명칭이 아닌, 그 용어가 가지는 의미와 본 발명의 전반에 걸친 내용을 토대로 정의되어야 한다.
명세서 전체에서 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있음을 의미한다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 분석장치의 외관을 개략적으로 도시하며, 도 2는 도 1의 분석장치의 측정부 및 회로부를 개략적으로 도시한다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 분석장치(100)는 카트리지(200)를 삽입하는 장착부(110)를 구비한다. 또한, 분석장치(100)는 장착된 카트리지(200)를 측정하는 측정부(120)와, 측정부에서 측정된 측정신호들을 처리하는 회로부(150)를 포함한다.
장착부(110)는 카트리지(200)를 삽입 및 고정하는 것으로서, 그 구체적인 구조는 카트리지(200)의 구체적인 형상에 따라 달라질 수 있다. 예를 들어, 장착부(110)는 도 1에 도시되듯이 슬롯 형태일 수 있으며, 다른 예로 장착부(110)는 도킹(docking) 형태를 취할 수도 있다. 장착부(110)에는 측정기준용 웰(115)이 마련될 수 있다. 예를 들어, 카트리지(200)의 삽입부위의 양측에 제1 및 제2 기준웰(115a, 115b)이 배치될 수 있다.
카트리지(200)는 평판형 케이스(210)의 일측에 복수의 웰(well)(220)들이 배열된 카드형 카트리지 형상의 랩온어칩일 수 있다. 복수의 웰(220)들은 일직선상으로 배열될 수 있다. 도면에는 복수의 웰(220)들이 일열로 배열된 경우를 도시하고 있으나, 복수열로 배열될 수도 있다. 웰(220)들에는 검체가 담긴다. 웰들(210)에는 검사하고자 하는 검체와 반응하는 시약이 미리 담겨 있을 수 있다. 또한, 카트리지(200)는 검체가 주입되는 검체 주입부(230)을 더 포함할 수 있다. 카트리지(200)는 검체 주입부(230)에 주입된 유체형태의 검체를 미세유로를 통해 웰(220)들로 이동시키는 미세유로장치를 채용할 수 있다. 본 실시예의 분석장치(100)는 환경 모니터링, 식품 검사, 의료 진단 등 다양한 분야에 사용될 수 있으며, 사용분야에 따라 검체는 달라질 수 있다. 예를 들어 검체는 혈액과 같은 유체일 수 있으며, 이 경우 분석장치(100)는 혈액을 분석하는 체외진단기기일 수 있다.
측정부(120)는 카트리지(200)에 광을 조사하는 광원부(121)와, 카트리지(200)를 통과한 광을 검출하는 광검출기(125)를 포함한다. 광원부(121)와 광검출기(125)는 서로 대향되게 배치되며, 그 사이에 카트리지(200)가 삽입된다. 광원부(121)에서 조사된 광은 카트리지(200)의 어느 하나의 웰(220)에 조사된다. 광원부(121) 및 광검출기(125)는 미도시된 구동장치에 의하여 함께 일 방향(이하, 스캔방향)(129)으로 이동하면서 카트리지(200)의 웰(220)들을 순차적으로 스캔한다. 나아가, 광원부(121) 및 광검출기(125)는 장착부(110)에 마련된 측정기준용 웰(115)을 포함하여 스캔할 수도 있다. 다른 실시예로, 광원부(121) 및 광검출기(125)가 고정된 상태로 시료 카트리지(200)가 이동되면서 스캔될 수도 있다.
광원부(121)는 카트리지(200)의 웰(220)에 광(L)을 조사하는 유닛으로서, 주파장 광원(121a)을 포함한다. 주파장 광원(121a)은 카트리지(200)에 담긴 검체를 분석하는데 사용된다. 주파장 광원(121a)은 예를 들어, 마이크로웨이브, 적외선, 가시광선, 자외선 및 X-선 등 다양한 판장의 전자기파에서 선택된 소정 파장대역의 광원일 수 있다. 가령, 주파장 광원(121a)은 카트리지(200)의 검체농도에 따라 광학특성의 차이를 보이거나 시약반응에 따라 흡광도 변화가 발생되는 파장대역의 광을 방출한다. 주파장 광원(121a)은 하나 혹은 복수개 배치될 수 있다. 주파장 광원(121a)이 복수개인 경우, 각기 서로 다른 파장대역을 가져, 카트리지(200)에 담긴 검체에 대해 복수의 파장에 대한 광학특성를 동시에 측정함으로써 다항목 동시검사를 제공할 수 있다. 광원부(121)는 추가적으로 부파장 광원(121b)을 포함할 수 있다. 부파장 광원(121b)은 카트리지(200)의 검체농도와 무관하게 일정한 광학특성을 보이거나 시약반응에 따른 흡광도 변화가 없는 파장대역의 광을 방출한다. 부파장 광원(121b)은 후술하는 바와 같이 카트리지(200)의 장착유무 혹은 오작착여부를 판단하는데 사용될 수 있다. 또한, 부파장 광원(121b)은 주파장 광원(121a)에 의한 측정 결과에서 발생되는 오차를 보정하는데 사용될 수 있다.
광원부(121)는 주파장 광원(121a)과 부파장 광원(121b)에서 출사된 광들을 집속하는 렌즈나 광속을 제한하는 개구(aperture)를 더 구비하여 광원부(121)에서 조사되는 광이 카트리지(200)의 웰(220)에 맺히는 빔 스폿은 카트리지(200)의 웰(220)의 직경보다 작을 수 있다.
광검출기(125)는 카트리지(200)의 웰(220)에 조사되어 투과된 광(L)을 검출하는 유닛이다. 이러한 광검출기(125)는 포토다이오드, 이미지센서와 같은 수광소자일 수 있다.
회로부(150)는 측정부(120)를 구동제어하는 구동부(151)와, 측정부(120)에서 측정된 광학신호들을 처리하는 연산처리부(152)와, 연산처리부(152)에서 연산처리된 정보를 표시하는 표시부(155)를 포함할 수 있다.
연산처리부(152)는 CPU(153)와 메모리(154)를 포함한다. 측정부(120)에서 측정된 측정신호들은 메모리(154)에 저장되며, CPU(153)는 측정부(120)에서 측정된 측정신호들의 편차를 산출하고, 산출된 측정신호들의 편차를 이용하여 카트리지(200)의 장착상태를 판단한다. 카트리지(200)의 종류에 따라 카트리지(200)의 웰(220)에 대한 투과특성등이 달라질 수 있으므로, 카트리지(200)의 종류를 반영하여 카트리지(200)의 장착상태를 판단할 수도 있다. 이를 위하여, 메모리(154)에는 카트리지(200)의 종류에 대한 정보가 저장될 수 있다. 카트리지(200)의 종류에 대한 정보는 카트리지(200)의 삽입시 수동적으로 입력될 수 있고, 또는 카트리지(200)에 종류식별표지가 마련되어 측정부(120)나 별도의 센서가 상기 종류식별표지를 인식하여 자동적으로 카트리지(200)의 종류에 대한 정보가 입력될 수도 있을 것이다. 연산처리부(152)의 카트리지(200)의 장착상태를 판단하는 구체적인 방법에 대해서는 후술하기로 한다.
다음으로 도 3a, 3b, 4a, 및 4b를 참조하여 본 실시예의 분석장치(100)에서 카트리지(200)의 장착상태를 판단하는 방법을 설명한다.
도 3a는 카트리지(200)가 정상적으로 장착된 경우를 도시하며, 도 3b는 카트리지(200)가 오장착된 경우를 도시한다.
도 3a에 도시된 바와 같이, 카트리지(200)가 정상적으로 장착되면, 측정부(200)의 스캔방향(129)은 제1 및 제2 기준웰(115a, 115b)와 카트리지(200)의 웰(220)들의 중앙에 놓이게 된다. 반면에, 도 3b에 도시된 바와 같이, 카트리지(200)가 비정상적으로 장착되면, 측정부(200)의 스캔방향(129)은 제1 및 제2 기준웰(115a, 115b)의 중앙에 놓일지라도, 카트리지(200)의 웰(220)들의 중앙에서 벗어난 상태로 놓이게 된다.
도 4a는 카트리지(200)가 정상적으로 장착된 경우의 광학 데이터의 일 예를 도시하며, 도 4b는 카트리지(200)가 오장착된 경우의 광학 데이터의 일 예를 도시한다. 도 4a 및 도 4b에서의 광학 데이터는 카트리지(200)의 검체농도와 무관하게 일정한 광학특성을 보이거나 시약반응에 따른 흡광도 변화가 없는 파장대역의 부파장 광원(121b)을 이용하여 획득한 데이터이다.
도 4a에 도시된 바와 같이 카트리지(200)가 정상적으로 장착된 경우, 카트리지(200)의 웰(220)들에 대한 측정신호(S1)는 모두 같은 값을 가질 수 있다. 또한, 부파장 광원(121b)을 이용하므로, 카트리지(200)의 웰(220)들에 검체가 있더라도 장착부(110)의 은 제1 및 제2 기준웰(115a, 115b)에 대한 측정신호(S0)와 카트리지(200)의 웰(220)들에 대한 측정신호(S1)들은 서로 같은 수 있다.
한편, 도 4b에 도시된 바와 같이 카트리지(200)가 비정상적으로 장착된 경우, 도 3b에 도시된 것처럼 스캔방향(129)이 웰(220)의 중심부를 벗어나게 되므로, 카트리지(200)의 웰(220)들에 대한 측정신호(S1')들도 서로 다른 값을 가질 수 있다. 또한, 제1 및 제2 기준웰(115a, 115b)에 대한 측정신호(S0')와 카트리지(200)의 웰(220)들에 대한 측정신호(S1')는 서로 다르게 된다.
제1 및 제2 기준웰(115a, 115b)은 카트리지(200)의 장착상태와 무관하게 일정하게 측정부(120)에 의해 측정되므로, 카트리지(200)가 비정상적으로 장착되는 경우의 제1 및 제2 기준웰(115a, 115b)에 대한 측정신호(S0')와 카트리지(200)가 정상적으로 장착되는 경우의 제1 및 제2 기준웰(115a, 115b)에 대한 측정신호(S0)는 서로 같을 수 있다. 따라서, 제1 및 제2 기준웰(115a, 115b)에 대한 측정신호(S0, S0') 및 카트리지(200)의 웰(220)들에 대한 측정신호(S1, S1')들의 편차를 통해서, 카트리지(200)의 장착상태를 판단할 수 있다.
일 예로, 제1 및 제2 기준웰(115a, 115b)에 대한 측정신호(S0, S0')를 기준으로, 카트리지(200)의 정상 장착시의 측정신호의 허용범위를 설정하고, 카트리지(200)의 웰(220)들에 대한 측정신호(S1, S1')들이 상기 허용범위안에 있는지 여부로 카트리지(200)의 정상 장착여부를 판단할 수 있다.
다른 예로, 카트리지(200)의 정상 장착시의 측정신호들에 대한 절대값의 차이, 최대 최소값의 비율, 최대값과 최소값의 차이, 평균편차, 또는 표준편차를 기준으로 카트리지(200)의 정상 장착여부를 판단할 수 있다. 가령, 도 4b에 도시된 바와 같이, 카트리지(200)가 비스듬히 장착된 경우, 제1 및 제2 기준웰(115a, 115b)에 대한 측정신호(S0')와 카트리지(200)의 웰(220)들에 대한 측정신호(S1')들은 서로 다른 값을 가질 수 있는바, 측정신호들에 대한 절대값의 차이, 최대 최소값의 비율, 최대값과 최소값의 차이, 평균편차, 또는 표준편차는 정상적으로 카트리지(200)가 장착된 경우의 값들과 차이를 가지게 된다. 따라서, 측정신호들에 대한 절대값의 차이, 최대 최소값의 비율, 최대값과 최소값의 차이, 평균편차, 또는 표준편차에 대한 허용범위를 설정하고, 측정신호들에 대한 절대값의 차이, 최대 최소값의 비율, 최대값과 최소값의 차이, 평균편차, 또는 표준편차가 상기 허용범위안에 있는지 여부로 카트리지(200)의 정상 장착여부를 판단할 수 있다. 카트리지(200)의 웰(220)들에 대한 측정신호(S1')들 자체도, 카트리지(200)가 비정상적으로 장착되는 경우 서로 다른 값을 가지게 되므로, 카트리지(200)의 웰(220)들에 대한 측정신호(S1')들만의 편차를 이용하여 카트리지(200)의 정상 장착여부를 판단할 수도 있다.
또 다른 예로, 카트리지(200)의 웰(220)들에 대한 측정신호(S1, S1')들이 검출되지 않는다면, 카트리지(200)가 장착되지 않은 상태로 판단할 수 있을 것이다. 물론, 분석장치(100)에 카트리지(200)의 장착유무에 대한 판단을 위한 별도의 센서가 추가적으로 마련될 수도 있을 것이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 분석장치(100)의 카트리지(200)의 장착상태를 판단하는 방법을 설명하는 흐름도이다.
도 5를 참조하면, 먼저, 카트리지(200)를 분석장치(100)의 장착부(110)에 삽입한다(S310).
다음으로, 분석장치(100)의 측정부(120)를 구동하여 카트리지(200)의 웰(220)들에 대한 측정신호를 검출한다(S320). 전술한 바와 같이 측정부(120)의 광원부(121)는 부파장 광원(121b)을 구비하는 경우, 부파장 광원(121b)을 카트리지(200)의 웰(220)들에 조사하고, 이의 광학신호들을 검출할 수 있다. 전술한 바와 같이 장착부(110)에는 측정시 기준이 되는 측정기준용 웰(115)이 마련될 수 있으며, 이 경우 분석장치(100)의 측정부(120)는 장착부(110)의 측정기준용 웰(115)에 대한 측정신호도 측정한다. 측정된 측정신호들은 메모리(151)에 저장될 수 있다.
다음으로, 분석장치(100)의 연산처리부(150)는 카트리지(200)의 웰(220)들에 대한 측정신호들에 대한 편차를 산출한다(S330). 분석장치(100)의 광원부(121)는 펄스 구동되면서 카트리지(200)의 하나의 웰(220)에 대해 복수의 측정신호를 얻을 수도 있으며, 이 경우 카트리지(200)의 하나의 웰(220)에 대한 대표 측정신호값을 구할 수 있다. 대표 측정신호값은 예를 들어 하나의 웰(220)에 대해 복수의 측정신호의 피크값이거나 혹은 평균값일 수 있다. 편차는 카트리지(200)의 웰(220)들에 대한 측정신호들과 함께 측정기준용 웰(115)에 대한 측정신호를 포함하여 산출할 수도 있다.
다음으로, 분석장치(100)의 연산처리부(150)는 측정신호들에 대한 편차가 허영범위 안에 있는지 여부를 통해 카트리지(200)의 장착상태를 판단한다(S340). 카트리지(200)의 장착상태 판단기준인 허용범위는 사용자에 의해 조정될 수 있다. 전술한 바와 같이, 카트리지(200)가 정상 장착된 경우, 측정기준용 웰(115)에 대한 측정신호들은 일정한 값을 가지며 설령 편차가 발생하더라도 허용범위 안에 있게 되므로, 카트리지(200)의 웰(220)들에 대한 측정신호들이 허용범위 안에 있다면, 카트리지(200)가 정상 장착되었다고 판단할 수 있다(S350). 반면에, 카트리지(200)가 오장착된 경우, 측정기준용 웰(115)에 대한 측정신호들에 편차가 발생하므로, 카트리지(200)의 웰(220)들에 대한 측정신호들이 허용범위 바깥에 있다면 카트리지(200)가 오장착되었다고 판단할 수 있다(S350).
다음으로, 상기와 같이 판단된 카트리지(200)의 장착상태를 표시한다(S370). 가령, 카트리지(200)의 오장착시 램프의 점멸로서 카트리지(200)의 오장착을 표시할 수 있을 것이다.
카트리지(200)의 삽입시 수동적으로 혹은 자동적으로 카트리지(200)의 종류에 대한 정보가 입력될 수도 있다. 이 경우, 카트리지의 장착상태 판단시, 카트리지(200)의 종류를 반영하여, 카트리지(200)의 장착상태 판단기준인 허용범위를 조정할 수도 있다.
전술한 실시예는 광원부(121)가 부파장 광원(121b)을 이용하여 카트리지(200)의 장착상태를 판단하는 경우를 예로 들어 설명하고 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 주파장 광원(121a)을 이용하더라도 카트리지(200)의 웰(220)들에 대한 광학신호는 카트리지(200)의 장착상태에 따라 달라질 수 있으므로, 주파장 광원(121a)에 의한 광학신호를 기초로 카트리지(200)의 장착상태를 판단할 수 있을 것이다.
전술한 실시예는 카트리지(200)가 카드형 카트리지 형상의 랩온어칩인 경우를 예로 들어 설명하고 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 다른 예로서, 카트리지(200)는 디스크형 기판의 가장자리 쪽에 복수의 웰들이 원주상에 배열된 디스크형 카트리지 형상의 랩온어씨디(Lab-on-a-CD)일 수도 있다. 카트리지(200)가 디스크형 카트리지 형상의 랩온어씨디인 경우, 분석장치(100)의 측정부(120)는 고정된 상태에서 카트리지(200)가 회전하면서 카트리지(200)의 웰들을 스캔하게 되는데, 이와 같은 경우라도 카트리지(200)의 웰들에 대한 측정데이터를 기초하여 카트리지(200)의 장착상태를 판단할 수 있음은 당업자라면 용이하게 이해할 수 있을 것이다.
또한, 전술한 실시예의 분석기기(100)는 광검출부(125)가 카트리지(200)의 웰(220)들을 투과한 광을 검출하는 경우를 예로 들어 설명하고 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 다른 예로서, 광검출부가 카트리지(200)의 웰(220)들에서 반사된 광을 검출하는 분석기기에서도 카트리지(200)의 웰(220)들에 대한 광학 데이터로부터 카트리지(200)의 장착상태를 판단할 수도 있을 것이다.
또한, 전술한 실시예의 분석기기(100)는 측정부(120)가 광학신호를 검출하는 광학검출장치인 경우를 예로 들어 설명하고 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 다른 예로서, 분석기기는 카트리지(200)의 웰(220)들에 대한 전기적 신호, 열적 신호를 검출하는 장치일 수 있으며, 전기적 신호의 데이터나, 열적 신호의 데이터로부터 카트리지(200)의 장착상태를 판단할 수도 있을 것이다.
전술한 본 발명인 분석장치 및 분석장치의 카트리지 장착상태를 판단하는 방법은 이해를 돕기 위하여 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 분야에서 통상적 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위에 의해 정해져야 할 것이다.
100 : 분석장치 110 : 장착부
115 : 측정기준용 웰 120 : 측정부
121 : 광원부 121a : 주파장 광원
121b : 부파장 광원 125 : 측정부
129 : 스캔방향 150 : 회로부
151 : 구동부 152 : 연산처리부
153 : CPU 154 : 메모리
155 : 표시부 200 : 카트리지
210 : 케이스 220 : 웰
230 : 검체 주입부

Claims (20)

  1. 검체가 담기는 웰들을 구비한 카트리지를 장착하는 장착부;
    상기 카트리지의 웰들을 측정하는 측정부;
    상기 측정부에서 측정된 상기 웰들에 대한 측정신호들을 처리하는 연산처리부;를 포함하며,
    상기 연산처리부는 상기 웰들에 대한 측정신호들의 편차를 이용하여 상기 카트리지의 장착상태를 판단하며,
    상기 측정부는 상기 카트리지의 웰들에 대한 광학신호를 검출하는 광학검출장치이며,
    상기 측정부는,
    상기 카트리지의 웰들에 광을 순차적으로 스캔하며 조사하는 광원부; 및
    상기 카트리지의 웰들에 조사된 광으로부터 광학신호들을 검출하는 광검출부;를 포함하며,
    상기 광원부는 상기 카트리지의 웰들에 담긴 시약 또는 검체를 분석하는데 사용되는 주파장 광원과, 상기 주파장 광원에서 방출되는 광의 파장대역과 다른 파장대역의 광을 방출하는 부파장 광원을 포함하며,
    상기 카트리지의 장착상태 판단에 사용되는 측정신호들은 상기 부파장 광원에서 조사된 광으로부터 획득된 광학신호들인 분석장치.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 검체가 담기는 웰들을 구비한 카트리지를 장착하는 장착부;
    상기 카트리지의 웰들을 측정하는 측정부;
    상기 측정부에서 측정된 상기 웰들에 대한 측정신호들을 처리하는 연산처리부;를 포함하며,
    상기 연산처리부는 상기 웰들에 대한 측정신호들의 편차를 이용하여 상기 카트리지의 장착상태를 판단하며,
    상기 장착부는 측정기준용 웰을 포함하며,
    상기 측정부는 분석장치의 측정기준용 웰에 대한 측정신호를 측정하며,
    상기 연산처리부는 상기 카트리지의 웰들에 대한 측정신호들과 함께 상기 분석장치의 측정기준용 웰에 대한 측정신호를 포함한 측정신호들의 편차를 이용하여 상기 카트리지의 장착상태를 판단하는 분석장치.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 측정신호들의 편차는 측정신호들에 대한 절대값 차이, 최대 최소값의 비율, 최대값과 최소값의 차이, 평균편차, 및 표준편차 중 적어도 어느 하나인 분석장치.
  7. 제1 항에 있어서,
    상기 측정신호들의 편차는 상기 웰들 중 전부 혹은 일부의 웰에 대한 측정신호들에 대한 값인 분석장치.
  8. 제1 항에 있어서,
    상기 측정신호들의 편차가 기준 범위 내에 있으면 상기 카트리지가 정상 장착상태인 것으로 판단하고, 상기 측정신호들의 편차가 기준 범위 바깥에 있으면 상기 카트리지가 오장착상태인 것으로 판단하는 분석장치.
  9. 제1 항에 있어서,
    상기 카트리지의 종류에 대한 정보를 저장하는 메모리를 더 포함하며,
    상기 연산처리부는 상기 메모리에 저장된 상기 카트리지의 종류에 따라 상기 카트리지의 장착상태의 판단 기준을 달리하는 분석장치.
  10. 제1 항에 있어서,
    상기 카트리지의 장착상태를 표시하는 표시부를 더 포함하는 분석장치.
  11. 검체가 담기는 웰들을 구비한 카트리지를 분석장치에 장착하는 단계;
    상기 카트리지의 웰들에 대한 측정신호들을 획득하는 단계;
    상기 웰들에 대한 측정신호들의 편차를 산출하는 단계; 및
    상기 웰들에 대한 측정신호들의 편차를 이용하여 상기 카트리지의 장착상태를 판단하는 단계;를 포함하며,
    상기 카트리지의 웰들에 대한 측정신호들은 상기 카트리지의 웰들에 대한 광학신호들이며,
    상기 카트리지의 웰들에 대한 측정신호들을 획득하는 단계는,
    상기 카트리지의 웰들에 광을 순차적으로 스캔하며 조사하는 단계; 및
    상기 상기 카트리지의 웰들에 조사된 광으로부터 광학신호들을 검출하는 단계;를 포함하며,
    상기 카트리지의 장착상태 판단에 사용되는 측정신호들은 상기 카트리지의 웰들에 담긴 시약 또는 검체를 분석하는데 사용되는 주파장 광의 파장대역과 다른 파장대역의 광으로부터 획득된 광학신호들인 카트리지의 장착상태를 판단하는 방법.
  12. 삭제
  13. 삭제
  14. 삭제
  15. 검체가 담기는 웰들을 구비한 카트리지를 분석장치에 장착하는 단계;
    상기 카트리지의 웰들에 대한 측정신호들을 획득하는 단계;
    상기 웰들에 대한 측정신호들의 편차를 산출하는 단계; 및
    상기 웰들에 대한 측정신호들의 편차를 이용하여 상기 카트리지의 장착상태를 판단하는 단계;를 포함하며,
    상기 분석장치는 측정기준용 웰을 포함하며,
    상기 카트리지의 웰들에 대한 측정신호들을 획득하는 단계는 상기 분석장치의 측정기준용 웰에 대한 측정신호를 획득하는 단계를 포함하며,
    상기 측정신호들의 편차를 산출하는 단계는 상기 카트리지의 웰들에 대한 측정신호들과 함께 상기 분석장치의 측정기준용 웰에 대한 측정신호를 포함하여 편차를 산출하는 카트리지의 장착상태를 판단하는 방법.
  16. 제11 항에 있어서,
    상기 측정신호들의 편차는 측정신호들에 대한 절대값 차이, 최대 최소값의 비율, 및 최대값과 최소값의 차이, 평균편차, 및 표준편차 중 적어도 어느 하나인 카트리지의 장착상태를 판단하는 방법.
  17. 제11 항에 있어서,
    상기 측정신호들의 편차는 상기 웰들 중 전부 혹은 일부의 웰에 대한 측정신호들에 대한 값인 카트리지의 장착상태를 판단하는 방법.
  18. 제11 항에 있어서,
    상기 카트리지의 장착상태를 판단하는 단계는,
    상기 측정신호들의 편차가 기준 범위 내에 있으면 상기 카트리지가 정상 장착상태인 것으로 판단하고, 상기 측정신호들의 편차가 기준 범위 바깥에 있으면 상기 카트리지가 오장착상태인 것으로 판단하는 카트리지의 장착상태를 판단하는 방법.
  19. 제11 항에 있어서,
    상기 카트리지의 종류에 대한 정보를 메모리에 저장하는 단계를 더 포함하며,
    상기 카트리지의 장착상태를 판단하는 단계는 상기 카트리지의 종류에 따라 상기 카트리지의 장착상태의 판단 기준을 달리하는 카트리지의 장착상태를 판단하는 방법.
  20. 제11 항에 있어서,
    상기 카트리지의 장착상태를 표시하는 단계를 더 포함하는 카트리지의 장착상태를 판단하는 방법.
KR1020140011732A 2014-01-29 2014-01-29 분석장치 및 분석장치의 카트리지 장착상태를 판단하는 방법 KR102205900B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140011732A KR102205900B1 (ko) 2014-01-29 2014-01-29 분석장치 및 분석장치의 카트리지 장착상태를 판단하는 방법
US14/563,318 US9869631B2 (en) 2014-01-29 2014-12-08 Analysis device and method of determining mounted state of cartridge of the analysis device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140011732A KR102205900B1 (ko) 2014-01-29 2014-01-29 분석장치 및 분석장치의 카트리지 장착상태를 판단하는 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20150090747A KR20150090747A (ko) 2015-08-06
KR102205900B1 true KR102205900B1 (ko) 2021-01-21

Family

ID=53678773

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020140011732A KR102205900B1 (ko) 2014-01-29 2014-01-29 분석장치 및 분석장치의 카트리지 장착상태를 판단하는 방법

Country Status (2)

Country Link
US (1) US9869631B2 (ko)
KR (1) KR102205900B1 (ko)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6904131B2 (ja) * 2017-07-21 2021-07-14 株式会社島津製作所 遺伝子測定装置
KR102458722B1 (ko) 2018-02-08 2022-10-26 프리시젼바이오 주식회사 유체 분석 장치 및 유체 분석 장치의 제어 방법
KR102239896B1 (ko) * 2019-07-09 2021-04-14 경북대학교 산학협력단 시료 변화 감지 장치와 시료 변화 감지 장치에서 시료들의 광학적 편차를 보정하는 방법

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6458596B1 (en) * 1999-07-14 2002-10-01 Lre Technology Partner Gmbh Method for sensing the faulty positioning of an optically evaluatable test strip and a test strip therefor
JP2005345178A (ja) 2004-06-01 2005-12-15 Canon Inc 生化学反応カートリッジ
JP2008116441A (ja) * 2006-11-07 2008-05-22 F Hoffmann-La Roche Ag テストエレメント上でのサンプルの分析方法および分析システム
US20130004952A1 (en) 2011-06-28 2013-01-03 Stmicroelectronics S.R.L. Cartridge for biochemical analyses, system for biochemical analyses, and method of carrying out a biochemical process
JP2013113728A (ja) 2011-11-29 2013-06-10 Nihon Yamamura Glass Co Ltd 物品配列検査方法および物品配列検査装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5225691A (en) * 1992-05-18 1993-07-06 Avalon Engineering, Inc. Semiconductor wafer cassette mapper with emitter and detector arrays for slot interrogation
JP3302257B2 (ja) * 1995-03-31 2002-07-15 ヒューレット・パッカード・カンパニー テープ・ドライブ装置
AU702209B2 (en) * 1996-07-16 1999-02-18 Roche Diagnostics Gmbh Analytical system with means for detecting too small sample volumes
US6970245B2 (en) * 2000-08-02 2005-11-29 Honeywell International Inc. Optical alignment detection system
US7420659B1 (en) 2000-06-02 2008-09-02 Honeywell Interantional Inc. Flow control system of a cartridge
JP4376284B2 (ja) * 2007-10-05 2009-12-02 アルプス電気株式会社 電子機能カードおよびカードコネクタ
KR101226957B1 (ko) * 2008-12-08 2013-02-07 한국전자통신연구원 일회용 진단 키트
CN114134029A (zh) * 2012-02-13 2022-03-04 纽莫德克斯莫勒库拉尔公司 用于处理和检测核酸的微流体盒
US9213043B2 (en) * 2012-05-15 2015-12-15 Wellstat Diagnostics, Llc Clinical diagnostic system including instrument and cartridge

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6458596B1 (en) * 1999-07-14 2002-10-01 Lre Technology Partner Gmbh Method for sensing the faulty positioning of an optically evaluatable test strip and a test strip therefor
JP2005345178A (ja) 2004-06-01 2005-12-15 Canon Inc 生化学反応カートリッジ
JP2008116441A (ja) * 2006-11-07 2008-05-22 F Hoffmann-La Roche Ag テストエレメント上でのサンプルの分析方法および分析システム
US20130004952A1 (en) 2011-06-28 2013-01-03 Stmicroelectronics S.R.L. Cartridge for biochemical analyses, system for biochemical analyses, and method of carrying out a biochemical process
JP2013113728A (ja) 2011-11-29 2013-06-10 Nihon Yamamura Glass Co Ltd 物品配列検査方法および物品配列検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR20150090747A (ko) 2015-08-06
US20150211994A1 (en) 2015-07-30
US9869631B2 (en) 2018-01-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7688448B2 (en) Through-container optical evaluation system
US7521703B2 (en) Automatic analyzer
EP2015035A1 (en) Liquid level detecting apparatus
CN109328356B (zh) 用于评估生物样品完整性的系统、设备和相关方法
US8150114B2 (en) Method for ensuring quality of a sample carrier
JP2006300950A (ja) ラテラルフローアッセイシステム及び方法
US10036760B2 (en) Sample analyzer and sample analysis method
KR102205900B1 (ko) 분석장치 및 분석장치의 카트리지 장착상태를 판단하는 방법
US10921260B2 (en) Optical measuring device
US10856391B2 (en) Method to correct signal light intensities measured by a detector of a detection unit in a laboratory instrument
KR102534563B1 (ko) 테스트 샘플에 대한 광 흡수 측정과 레퍼런스 샘플에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 장치 및 방법
JP2009281941A (ja) 分析方法及び分析装置
US11119043B2 (en) Analyzer
JP2016090476A (ja) 異物検出方法
KR102160034B1 (ko) 검사장치 및 그 제어방법
US10458997B2 (en) Signal offset determination and correction
JP2017146226A (ja) 自動分析装置
JP5860643B2 (ja) 自動分析装置
JP6328530B2 (ja) 血液凝固検出装置、血液凝固検出方法及び血液凝固検出プログラム
US20220003685A1 (en) Analyzer and analysis method
JP2012211782A (ja) 生体物質分析装置および生体物質分析方法
CN106885773B (zh) 用于分析介质的光学系统
US11226346B2 (en) Eliminating source lamp intensity drift effect using reference measurement between cuvettes
CN104321640B (zh) 用于检查一种测试条的定向的测试系统和方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right