KR102534563B1 - 테스트 샘플에 대한 광 흡수 측정과 레퍼런스 샘플에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 장치 및 방법 - Google Patents

테스트 샘플에 대한 광 흡수 측정과 레퍼런스 샘플에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

테스트 샘플에 대한 광 흡수 측정과 레퍼런스 샘플에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 장치 및 방법이 개시된다. 본 발명 방법은, 장치의 레퍼런스 샘플 용기 캐리어를 이동시켜, 상기 캐리어에 수용된 제1 레퍼런스 샘플 용기를 광 경로상의 제2 위치에 위치시키는 단계, 조명 시스템으로부터 검출 시스템으로 광 경로를 따라 빛을 향하게 하여 제2 위치에 있는 제1 레퍼런스 샘플에 대하여 광 흡수 측정을 수행하는 단계, 캐리어를 이동시켜 제1 레퍼런스 샘플 용기를 광 경로로부터 벗어나게 위치시키는 단계, 상기 장치의 테스트 샘플 용기 홀더 내의 테스트 샘플 용기를 광 경로 상에 있으며 제2 위치와는 다른 위치의 제1 위치에 두는 단계, 및 광 경로를 따라 빛을 향하게 하여 제1 위치에 있는 테스트 샘플 용기 내의 테스트 샘플에 대하여 광 흡수 측정을 수행하는 단계를 포함한다.

Description

테스트 샘플에 대한 광 흡수 측정과 레퍼런스 샘플에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 장치 및 방법
본 발명은 테스트 샘플(test sample)에 대한 광 흡수 측정과 레퍼런스 샘플(reference sample)에 대한 컴플라이언스 측정(compliance measurement)을 수행하기 위한 장치 및 방법에 관한 것으로서, 테스트 샘플 또는 레퍼런스 샘플에 대한 분광계 측정 또는 광도계 측정을 수행하는 것을 포함하지만, 이에 한정되는 것은 아니다.
울프레이(Woolfrey)의 국제특허출원 공개번호 WO 2003/078945 A1는 분광계의 듀얼 빔(dual-beam) 측정을 개시하고 있다. 레이저 빔은 광학 초점이 맞추어진 샘플 쪽으로 통상 향해지고, 그 통상의 경로로부터 방향 전환하여 제1 레프런스 소스를 조명한다.
워크맨(Workman)의 국제특허출원 공개번호 WO 2013/163268 A1은 분광계의 제2 레퍼런스 측정을 개시하고 있다. 상기 분광계는 샘플 상에서 측정을 수행하도록 디자인되어있다. 진단(diagnostic) 측정을 행하기 위하여, 제2 레퍼런스 샘플가 분광계의 측정 챔버에 기계적으로 삽입되는 터릿(turret) 또는 패들(paddle)에 제공된다.
테스트 샘플에 대한 광 흡수 측정과 적어도 하나의 레퍼런스 샘플에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 장치가 개시된다. 상기 장치는, 광 경로를 따라 빛이 향하도록 구성된 조명 시스템; 테스트 샘플 측정을 위하여 광 경로의 제1 위치에 테스트 샘플 용기를 수용하도록 구성된 테스트 샘플 용기 홀더; 레퍼런스 샘플 측정을 위하여 레퍼런스 샘플 용기를 수용하도록 구성된 적어도 하나의 홀딩 에어리어를 포함하는 레퍼런스 샘플 용기 캐리어; 테스트 샘플 측정 동안 테스트 샘플에 의하여 흡수된 빛을 검출하고 또한 레퍼런스 샘플 측정 동안 레퍼런스 샘플에 의하여 흡수된 빛을 검출하도록 구성된 검출 시스템(detection system); 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어에 결합된 액츄에이터;를 포함하고, 상기 액츄에이터는, 적어도 하나의 홀딩 에어리어의 각각에 수용되는 레퍼런스 샘플 용기가 시간상 제1포인트에서는 광 경로 상의 제2 위치에 위치하고 시간상 제2포인트에서는 광 경로를 벗어난 제3 위치에 위치하도록 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어를 이동시키게 구성되어 있다. 상기 제1 위치 및 제2 위치는 광 경로 상에 있지만, 상기 광 경로를 따라 다른 위치에 있다
상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어는, 적어도 두 개의 홀딩 에어리어를 포함하고, 상기 적어도 두 개의 홀딩 에어리어 중 상기 적어도 하나의 홀딩 에어리어는, 적어도 두 개의 레퍼런스 샘플 용기의 각 하나씩을 수용하도록 구성된다. 또한, 상기 액츄에이터는 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어를 이동시켜 상기 적어도 두 개의 홀딩 에어리어의 각각에 수용된 적어도 두 개의 레퍼런스 샘플 용기 중 어느 하나를 상기 제2 위치에 위치시키도록 한다.
바람직하게는, 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어는 비일시적(non-transitory) 컴퓨터 가독 매체를 포함한다.
테스트 샘플에 대한 광 흡수 측정과 적어도 하나의 레퍼런스 샘플에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 상기 장치는, 광원과, 제1 광학요소를 포함하는 조명 시스템을 포함하여 구성된다. 상기 제1 광학요소는 발산 끝단(emitting end) 상에 위치하며, 제1 글라스 파이버를 포함하여 구성된다.
다른 실시예에서, 상기 조명 시스템과 검출 시스템은, 그 조명 시스템과 검출 시스템 사이의 광 경로 부분의 빛이 대략 콜리메이트되도록(collimated) 구성된다.
다른 실시예에서, 상기 검출 시스템은, 수광 단부 상에 위치하는 제2 광학요소를 포함한다. 상기 제2 광학요소는, 제2 글라스 파이버, 분산 요소, 및 광 검출기를 포함한다.
테스트 샘플에 대한 광 흡수 측정과 적어도 하나의 레퍼런스 샘플에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 상기 장치는, 상기 엑츄에이터와 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어를 연결하는 리니어 컨베이어를 더 포함한다.
한 실시예에서, 상기 장치는, 상기 조명 시스템, 테스트 샘플 용기 홀더 및 검출 시스템이 결합되는 지지부재와; 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어, 액츄에이터, 리니어 컨베이어, 및, 상기 리니어 컨베이어에 부착된 커버를 포함하는 캐리어 어셈블리;를 포함한다. 상기 캐리어 어셈블리는 상기 지지부재에 제거 가능하게 부착되도록 구성된다. 또한, 상기 캐리어 어셈블리가 상기 장치에 부착될 때, 상기 커버가 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어, 상기 액츄에이터 및 상기 리니어 컨베이어를 장치의 외부 환경으로부터 적어도 부분적으로 차폐하도록 구성된다.
상기 캐리어 어셈블리는 부착기구에 의하여 상기 지지부재에 제거 가능하게 부착되도록 구성된다. 상기 부착기구는, 스냅 핏(snap-fit) 부착기구, 자석 부착기구, 및 볼트 기구로 구성되는 세트로부터 선택된다.
한 실시예에서, 상기 액츄에이터와 리니어 컨베이어는 적어도 10 마이크로미터의 선형 정밀도(linear precision)를 가지도록 구성된다.
또 다른 실시예에서, 상기 액츄에이터가 미리 설정된 운동을 수행하기 전에는 적어도 하나의 홀딩 에어리어의 각각에 수용된 레퍼런스 샘플 용기가 광 경로 밖에 위치하고, 상기 액츄에이터가 미리 설정된 운동을 수행한 후에는 레퍼런스 샘플 용기가 상기 제2 위치에 위치하도록, 상기 액츄에이터, 리니어 컨베이어 및 레퍼런스 샘플 용기 캐리어가 배치된다.
테스트 샘플에 대한 광 흡수 측정과 적어도 하나의 레퍼런스 샘플에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 상기 장치의 레퍼런스 샘플 용기는, 상기 적어도 하나의 홀딩 에어리어의 각각에 수용된다.
한 실시예에서, 상기 레퍼런스 샘플 용기는, 각각 창을 가지는 두 개의 마주보는 벽을 포함하고, 상기 레퍼런스 샘플 용기가 제2 위치에 위치할 때 상기 창을 통하여 상기 광 경로가 통과한다.
다른 실시예에서, 상기 레퍼런스 샘플 용기의 창들은 방울(drop) 모양이다.
한 실시예에서, 테스트 샘플에 대한 광 흡수 측정과 적어도 하나의 레퍼런스 샘플에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 상기 장치와 조합되어 상기 레퍼런스 샘플 용기가 제공될 수 있다. 상기 레퍼런스 샘플 용기는 장치의 파장 정확도, 장치의 미광 성능(stray light performance), 장치의 선형성(linearity), 장치의 해상도의 하나를 결정하는데 사용되도록 선택될 수 있다.
다른 실시예에서, 테스트 샘플에 대한 광 흡수 측정과 적어도 하나의 레퍼런스 샘플에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 상기 장치와 조합되어 하나의 테스트 샘플 용기가 제공될 수 있다. 상기 테스트 샘플 용기는 상기 테스트 샘플 용기 홀더에 수용되어 테스트 샘플을 포함한다.
테스트 샘플에 대한 광 흡수 측정과 적어도 하나의 레퍼런스 샘플에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 상기 장치, 특히 상술한 실시예들중 어느 하나에 따른 상기 장치는, 광 경로를 따라 빛이 향하도록 구성된 조명 시스템; 테스트 샘플 측정을 위하여 광 경로의 제1 위치에서 테스트 샘플 용기를 수용하도록 구성된 테스트 샘플 용기 홀더; 레퍼런스 샘플 측정을 위하여 레퍼런스 샘플을 수용하도록 구성된 비어있는 레퍼런스 샘플 용기를 수용하는 적어도 하나의 홀딩 에어리어를 포함하는 레퍼런스 샘플 용기 캐리어; 테스트 샘플 측정 동안 테스트 샘플에 의하여 흡수된 빛을 검출하고 또한 레퍼런스 샘플 측정 동안 레퍼런스 샘플에 의하여 흡수된 빛을 검출하도록 구성된 검출 시스템; 및 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어에 결합되는 액츄에이터;를 포함하여 구성되고, 상기 액츄에이터는 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어를 이동시켜, 상기 레퍼런스 샘플 용기가 시간상 제1포인트에서는 광 경로상의 제2 위치에 위치하고 시간상 제2포인트에서는 광 경로를 벗어난 제3 위치에 위치하도록 구성된다. 상기 제1 위치 및 제2 위치는 광 경로를 따라 다른 위치의 광 경로 상에 있다.
테스트 샘플에 대한 광 흡수 측정과 적어도 하나의 레퍼런스 샘플에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 방법이 개시된다. 상기 방법은, 광 흡수 측정을 수행하기 위하여 장치의 레퍼런스 샘플 용기 캐리어를 이동시켜, 상기 캐리어의 제1 홀딩 에어리어에 수용된 제1 레퍼런스 샘플 용기를 광 경로상의 제2 위치에 위치시키는 단계; 상기 장치의 조명 시스템으로부터 상기 장치의 검출 시스템으로 광 경로를 따라 빛을 향하게 하여 제2 위치에 있는 제1 레퍼런스 샘플 용기에 포함된 제1 레퍼런스 샘플에 대하여 광 흡수 측정을 수행하는 단계; 캐리어를 이동시켜 제1 레퍼런스 샘플 용기를 광 경로로부터 벗어나게 위치시키는 단계; 상기 장치의 테스트 샘플 용기 홀더 내의 테스트 샘플 용기를 광 경로 상의 제1 위치에 두되, 상기 제2 위치와 제1 위치는 상기 광 경로를 따라 다른 위치의 광 경로 상에 있는 단계; 및 상기 조명 시스템으로부터 검출 시스템으로 광 경로를 따라 빛을 향하게 하여 제1 위치에 있는 테스트 샘플 용기에 포함된 테스트 샘플에 대하여 광 흡수 측정을 수행하는 단계;를 포함하여 구성된다.
상기 방법은 또한, 상기 조명 시스템으로부터 검출 시스템으로 광 경로를 따라 빛을 향하게 하여 제2 위치에 있는 제1 레퍼런스 샘플 용기에 포함된 제1 레퍼런스 샘플에 대한 광 흡수 측정을 수행하기 전에, 상기 테스트 샘플 용기 홀더 내에 테스트 샘플 용기가 존재하지 않도록 보증하는 단계를 더 포함한다.
다른 실시예에서, 상기 방법은, 상기 캐리어를 이동시켜, 상기 캐리어의 제2 홀딩 에어리어에 수용된 제2 레퍼런스 샘플 용기를 광 경로 상의 제2 위치에 위치시키는 단계를 포함한다. 또한, 상기 방법은, 상기 조명 시스템으로부터 검출 시스템으로 광 경로를 따라 빛을 향하게 하여 제2 위치에 있는 상기 제2 레퍼런스 샘플 용기에 포함된 제2 레퍼런스 샘플에 대하여 광 흡수 측정을 수행하는 단계를 더 포함하여 구성된다.
테스트 샘플에 대한 광 흡수 측정과 적어도 하나의 레퍼런스 샘플에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 방법의 한 실시예에서, 상기 제1 레퍼런스 샘플은 용매에 용해된 물질을 포함하고, 제2 레퍼런스 샘플은 용매만을 포함하며, 상기 방법은, 제1 레퍼런스 샘플 용기에 포함된 제1 레퍼런스 샘플에 대한 광 흡수 측정으로부터 발생되는 제1 스펙트럼을 얻는 단계와, 제2 레퍼런스 샘플 용기에 포함된 물질에 대한 광 흡수 측정으로부터 발생되는 제2 스펙트럼을 얻는 단계를 포함한다. 상기 방법은 또한, 상기 제1 및 제2 스펙트럼에 기초하여 레퍼런스 샘플 스펙트럼을 얻는 단계, 상기 레퍼런스 샘플 스펙트럼의 파장 및/또는 강도를 분석하는 단계, 표준(standard)을 가지는 컴플라이언스가 달성되었는지 여부를 결정하는 단계를 더 포함한다. 또한, 상기 방법은 컴플라이언스가 비일시적 컴퓨터 가독 매체에서 달성되었는지 여부를 나타내는 데이터를 저장하는 단계를 포함한다.
상술한 다른 실시예에서, 상기 방법은 데이터를 저장하는 단계 후에 그 데이터를 디스플레이하는 단계를 포함한다.
상술한 다른 실시예에서, 상기 방법은 표준을 가지는 컴플라이언스가 달성되었는지 여부를 결정하는 단계 후에 그 데이터를 디스플레이하는 단계를 포함한다.
본 명세서에 개시된 다른 특징들과 장점들은 첨부한 도면들과 결합되어 쓰여있는 예시적인 실시예들의 상술한 설명으로부터 보다 명확하게 될 것이다.
본 발명은 제1 및 제2 위치가 광 경로를 따라 다른 위치에 있기 때문에, 테스트 샘플 용기 홀더 내에 위치한 테스트 샘플을 측정할 때, 레퍼런스 샘플 용기 캐리어를 상기 장치로부터 제거할 필요가 없다. 또한, 테스트 샘플 측정 및 레퍼런스 샘플 측정을 위하여 동일한 광 경로가 사용되기 때문에, 테스트 샘플 측정 및 레퍼런스 샘플 측정 간에 상기 광 경로를 다시 배치하거나 방향 변경할 필요가 없으며, 따라서 더욱 정확하고 신뢰성있는 측정이 가능하게 된다.
도 1은, 테스트 샘플에 대한 광 흡수 측정과 레퍼런스 샘플에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 장치의 한 실시예를 도시하고 있다.
도 2는 테스트 샘플에 대한 광 흡수 측정과 레퍼런스 샘플에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 장치의 조명 시스템 및 검출 시스템에 관한 예시적인 실시예를 도시한 것이다.
도 3은 테스트 샘플에 대한 광 흡수 측정과 레퍼런스 샘플에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 장치의 캐리어 어셈블리의 예시적인 실시예에 대한 전개도이다.
도 4는 테스트 샘플에 대한 광 흡수 측정과 적어도 하나의 레퍼런스 샘플에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 예시적인 방법의 블록도를 나타낸 것이다.
도 1은 테스트 샘플(TS)에 대한 광 흡수 측정과 레퍼런스 샘플(RS)에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 장치(100)의 한 실시예를 도시하고 있다. 상기 장치(100)는, 광 경로(LP)를 따라 빛이 향하도록 구성된 조명 시스템(110), 테스트 샘플 측정을 위하여 광 경로(LP)의 제1 위치(A)에 테스트 샘플 용기(122)를 수용하도록 구성된 테스트 샘플 용기 홀더(120)와, 레퍼런스 샘플 측정을 위하여 레퍼런스 샘플 용기(134)를 수용하도록 구성된 적어도 하나의 홀딩 에어리어(132)를 포함하는 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)와, 테스트 샘플 측정 동안 테스트 샘플에 의하여 흡수된 빛을 검출하고 또한 레퍼런스 샘플 측정 동안 레퍼런스 샘플(RS)에 의하여 흡수된 빛을 검출하도록 구성된 검출 시스템(140)과, 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)에 결합된 액츄에이터(150)를 포함한다. 상기 액츄에이터(150)는, 적어도 하나의 홀딩 에어리어(132)의 각각에 수용되는 레퍼런스 샘플 용기(134)가 시간 t1의 제1포인트에서는 광 경로(LP)상의 제2 위치(B)에 위치하고 시간 t2의 제2포인트에서는 광 경로(LP)를 벗어난 제3 위치(도 1에서는 참조부호로 표시되어 있지 않음)에 위치하도록 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)를 이동시키게 구성되어 있다. 제1 위치(A) 및 제2 위치(B)는 광 경로(LP) 상에 있지만, 상기 광 경로(LP)를 따라 다른 위치에 있다. 한 실시예에서, 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어를 파킹(parking) 위치로 이동시키는 것에 의하여, 상기 레퍼런스 샘플 용기(134)가 제3 위치에 위치하도록 하는 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130) 이동을 달성할 수 있으며, 이 파킹 위치에서는 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)의 모든 레퍼런스 샘플 용기들(134)이 광 경로(LP) 밖에 있다. 상기 여러 위치들이 미리 설정된 공차 파라미터 내로 확실히 속하도록 하기 위하여 폐루프 피드백 메카니즘을 포함하는 광학 스위치를 사용할 수 있다.
상기 장치(100)의 한 실시예에서, 제1 및 제2 위치(A와 B)가 광 경로(LP)를 따라 다른 위치에 있기 때문에, 테스트 샘플 용기 홀더(120) 내에 위치한 테스트 샘플(TS)를 측정할 때, 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)를 상기 장치(100)로부터 제거할 필요가 없다. 또한, 테스트 샘플 측정 및 레퍼런스 샘플 측정을 위하여 동일한 광 경로(LP)가 사용되기 때문에(즉, 상기 장치(100)가 단일 빔 시스템이기 때문에), 테스트 샘플 측정 및 레퍼런스 샘플 측정 간에 상기 광 경로(LP)를 다시 배치하거나 방향 변경할 필요가 없으며, 따라서 더욱 정확하고 신뢰성있는 측정이 가능하게 된다.
상기 장치(100)의 한 실시예에서, 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)는 두 개의 홀딩 에어리어(132)를 포함한다. 각 홀딩 에어리어는 2개의 레퍼런스 샘플 용기(134)의 각 하나씩을 수용하도록 구성된다. 상기 액츄에이터(150)는 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)를 이동시켜 상기 2개의 홀딩 에어리어(132)의 각각에 수용된 2개의 레퍼런스 샘플 용기(134) 중 어느 하나를 상기 제2 위치(B)에 위치시키도록 한다.
레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)의 다른 실시예에서는 여러 개의 홀딩 에어리어(132)를 포함할 수 있다. 상기 장치(100)의 한 실시예에서, 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)는 2개보다 많은 홀딩 에어리어(132)를 포함하여, 컴플라이언스 측정을 공지의 표준과 일치하도록 수행한다. 예컨대, 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)는 8개의 홀딩 에어리어(132)를 포함할 수 있다.
한 실시예에서, 상기 장치(100)는 "UV/Vis(자외선-가시광선) 범위에서 작동하는 분광계 또는 분광 광도계이다. 다른 실시예에서 상기 장치(100)는 다음 스펙트럼 범위의 어느 하나 또는 그 스펙트럼의 조합의 범위 내에서 작동하는 분광계이다: UV/Vis, Vis(가시광선), MIR(중적외선), 및/또는 NIR(근적외선).
상기 장치(100)의 한 실시예에서, 하나 이상의 레퍼런스 샘플 용기(134)가 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130) 내에 위치된다. 예를 들어, 2개의 레퍼런스 샘플 용기(134)가 광도 측정 정확도를 측정하기 위하여 사용된다. 하나의 레퍼런스 샘플 용기(134)는 용매 내에 용해된 물질을 포함하는 레퍼런스 샘플(RS)를 포함하고, 다른 레퍼런스 샘플 용기(134)는 물질 없이 동일한 용매만 포함하는 레퍼런스 샘플(RS)를 포함하고 있다. 2개의 레퍼런스 샘플 용기(134)의 유사한 구성이 미광 성능(stray light performance)과 해상도를 측정하기 위하여 사용된다. 공기가 충전된 레퍼런스 샘플 용기(134)는 스태빌리티(stability)를 측정하기 위하여 사용되고, 용매에 하나의 레퍼런스 샘플(RS)가 포함된 단일의 레퍼런스 샘플 용기(134)는 파장 정확도를 측정하기 위하여 사용된다. 용매에 레퍼런스 샘플(RS)를 포함하는 레퍼런스 샘플 용기(134), 레퍼런스 샘플(RS)가 없이 용매만을 포함하는 레퍼런스 샘플 용기(134), 공기 충전의 레퍼런스 샘플 용기, 비워진 레퍼런스 샘플 용기, 또는 유기조성물로 채워진 레퍼런스 샘플 용기의 다른 조합들이 빛 또는 상기 장치(100)의 여러 특성들을 측정하기 위하여 사용될 수 있다.
도 2는 상기 장치(100)의 조명 시스템 및 검출 시스템에 관한 한 실시예를 도시한 것이다. 상기 조명 시스템(110)은 광원(112)과 상기 장치(100)의 발산 끝단(emitting end) 상의 제1 광학요소(114)를 포함한다. 상기 제1 광학요소(114)는 글라스 파이버(116)를 포함한다. 상기 조명 시스템(110)과 상기 검출 시스템(140)은, 그 조명 시스템(110)과 검출 시스템(140) 사이의 광 경로(LP) 부분의 빛이 대략 콜리메이트되도록(collimated) 구성되어 있다. 한 실시예에서, 상기 글라스 파이버(116)의 광학 특성은, 상기 글라스 파이버(116) 단부의 콜리메이터 렌즈(115)(및/또는 콜리메이터 미러)와 선택적으로 조합되어 상기 빔(beam)이 대략 콜리메이트되게 한다. 상기 빛이 대략 콜리메이트되기 때문에, 상기 조명 시스템(110)과 검출 시스템(140) 사이의 광 경로를 따라 다른 위치(예컨대 제1 및 제2 위치 A,B)에서 유사한 광(光) 조건 하에서 측정을 수행할 수 있다. 상기 검출 시스Å(140)은 상기 장치(100)의 수광 단부상에 위치한 제2 광학요소(142)와, 광 검출기(144)를 포함한다. 한 실시예에서, 예컨대 오더 소팅 필터(Order Sorting Filter:OSF 필터)와 같은 광학 필터가 상기 광 검출기(144) 앞의 광 경로(LP)에 배치된다. 한 실시예에서, 상기 검출기(144)는 CCD 어레이 검출기, 선형 CCD 검출기, 포토다이오드 어레이 검출기, 및/또는 CMOS 검출기, 및/또는 당해 기술분야의 공지된 또는 개발되고 있는 다른 적절한 검출기를 포함할 수 있다. 한 실시예에서, 상기 검출기(144)는 센서 칩(192) 상에 배치되며, 상기 센서 칩은 프로세서와 비일시적 컴퓨터 가독 메모리를 포함하고, 디스플레이(194)에 연결 또는 추가적인 처리를 위하여 컴퓨터를 경유하여 디스플레이(194)에 연결된다. 제2 광학요소(142)는 제2 글라스 파이버(146) 및 분산요소(147)를 포함한다. 한 실시예에서 상기 분산요소(147)는 트랜스미션 격자(transmission grating), 그루브드 격자(grooved grating), 홀로그래픽 격자 및/또는 프리즘, 및/또는 당해 기술분야의 또는 개발되고 있는 다른 적절한 분산요소를 포함한다. 한 실시예에서 상기 제1 및 제2 광학요소들(114 및 142)은, 상기 광원(112)로부터 입구 슬릿(143)을 통하여 상기 분산요소(147) 및 광 검출기(144)로 광 경로(LP)를 따라 빛을 보내기 위한 렌즈 및 거울과 같은 광학요소들을 포함한다. 한 실시예에서, 렌즈는 콜리메이트된 빛을 상기 글라스 파이버(146) 상에 포커싱시킨다. 다른 실시예에서는, 상기 광 경로(LP) 상의 모든 광학요소들, 예컨대 광원(112), 제1 및 제2 광학요소(114 및 142), 글라스 파이버(116 및 146), 필터, 및 검출기(144)를 포함하는 모든 광학요소들이 상기 장치(100)의 스펙트럼 범위를 위하여 최적화된다.
한 실시예에서, 상기 장치(100)의 검출 시스템(140)은, 입구 슬릿(113), 분산요소(147) 및 광 검출기(144)를 포함하는 스펙토그래프(spectograph)를 포함한다. 상기 스펙토그래프는 차광성 하우징을 포함할 수 있다.
상기 장치(100)의 한 실시예에서, 상기 테스트 샘플 용기 홀더(120)는 광 경로(LP)가 통과하는 관통 홀(124)(도 1 참조)를 포함한다. 더 일반적으로는, 상기 테스트 샘플 용기 홀더(120)는, 테스트 샘플 용기(122)가 그 테스트 샘플 용기 홀더(120) 내에 수용될 때는 상기 테스트 샘플 용기(122) 내의 테스트 샘플(TS)가 광 경로(LP)의 제1 위치(A)에 위치하도록, 또한 상기 테스트 샘플 용기 홀더(120)가 테스트 샘플 용기(122)를 수용하고 있지 않을 때는 상기 광 경로(LP)가 상기 테스트 샘플 용기 홀더(120)에 의하여 차단되지 않고 지나가도록 구성된다. 상기 장치(100)의 한 실시예에서, 상기 테스트 샘플 용기 홀더(120)는 테스트 샘플 용기(122)를 위치시키기 위한 슬롯을 가진 적어도 3개의 기둥(poles), 또는 부재 사이에 간격이 형성된 2개의 부재를 포함하여, 상기 광 경로(LP)가 상기 테스트 샘플 용기(122)를 관통하지만, 상기 테스트 샘플 용기 홀더(120)에 의해서는 차단되지 않도록 되어 있다. 한 실시예에서, 상기 테스트 샘플 용기 홀더(120)는 큐벳(cuvette) 홀더, 유니버설 샘플 홀더, 및/또는 테스트 샘플 용기 채인저(changer)(자동 또는 수동), 또는 다른 공지의 혹은 개발 중인 용기 홀더를 포함한다.
상기 장치(100)의 한 실시예에서, 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)는 비일시적 컴퓨터 가독 매체(131)(도 1 참조)를 포함한다. 상기 장치(100)의 한 실시예에서, 상기 비일시적 컴퓨터 가독 매체(131)는 읽기전용 또는 읽기/쓰기 매체를 포함한다. 상기 매체(131)는 예컨대 레퍼런스 샘플 용기(134)에 포함된 레퍼런스 샘플(RS)와 관련된 서티피케이트 데이터(certificate data), 및/또는 표준 서티파이드 값(standard certified value), 오차, 및 고유 식별자와 같은 데이터를 저장한다. 이 데이터는 상기 장치(100)의 센서에 의해 읽혀질 수 있다. 이에 의하여 상기 장치(100) 내로 레퍼런스 샘플에 관련된 데이터를 손으로 적어넣을 때의 사람이 실수할 리스크를 줄일 수 있다. 상기 장치(100)의 한 실시예에서, 상기 비일시적 컴퓨터 가독매체(131)는 이이피롬(EEPROM) 및/또는 무선인식(RFID) 태그의 메모리를 포함한다.
도 3에 도시된 바와 같이, 상기 장치(100)의 한 실시예는 액츄에이터(150)와 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)를 연결하는 리니어(linear) 컨베이어(160)를 포함한다. 상기 장치(100)의 한 실시예에서, 상기 리니어 컨베이어(160)는 벨트 구동의, 스크류 구동의, 또는 공지의 혹은 개발중의 다른 리니어 컨베이어이다.
상기 장치(100)의 한 실시예는 상기 조명 시스템(110), 테스트 샘플 용기 홀더(120) 및 검출 시스템(140)이 결합되는 지지부재(102)를 포함한다. 상기 장치(100)는 캐리어 어셈블리(170)를 포함하며, 상기 캐리어 어셈블리(170)는 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130), 액츄에이터(150), 리니어 컨베이어(150), 및 상기 리니어 컨베이어(160)에 부착된 커버(172)를 포함한다. 상기 리니어 컨베이어(160)는 직선적으로 이송하는 부분과, 상기 리니어 컨베이어(160)를 장치(100)의 다른 요소에 부착하도록 구성된 지지구조물을 포함한다. 상기 캐리어 어셈블리(170)를 이용하여 캐리어(130)를 상기 장치(100) 상에 위치시키는 것에 의하여 공지된 방법보다 사람의 실수가 덜 발생하게 되는데, 이는 상기 레퍼런스 샘플 용기가 부정확하게 위치되거나 지문이 광학 표면에 찍히거나 할 가능성을 줄여주기 때문이다. 또한, (특정 샘플 표준에 따른) 올바른 농도의 올바른 레퍼런스 샘플 또는 레퍼런스 샘플들을 특정 컴플라이언스 측정을 위하여 사용할 수 있으며, 연구소에서 이를 찾거나 새롭게 제조할 필요가 없다.
상기 장치(100)의 실시예에서, 상기 캐리어 어셈블리(170)는 상기 지지부재에 제거 가능하게 부착되도록 구성된다. 상기 캐리어 어셈블리(170)가 상기 장치(100)에 부착될 때, 상기 커버(172)는 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130), 액츄에이터(150) 및 상기 리니어 컨베이어(160)를 장치(100)의 외부 환경으로부터 적어도 부분적으로 차폐하도록 구성된다. 재측정, 재충전 또는 재인증을 위하여 상기 캐리어 어셈블리(170)는 제거 가능한 것이 바람직하다.
상기 장치(100)의 실시예에서, 상기 캐리어 어셈블리(170)는 스냅 핏(snap-fit) 부착기구, 자석 부착기구, 및/또는 볼트 기구에 의하여 상기 지지부재(102)에 제 거능하게 부착되도록 구성된다.
상기 장치(100)의 실시예에서, 상기 액츄에이터(150)와 리니어 컨베이어(160)는 적어도 10 마이크로미터의 선형 정밀도(linear precision)를 가지도록 구성된다. 이에 의하여 레퍼런스 샘플에 관하여 수행되는 광 흡수 측정의 반복성 및 정확도가 증가된다.
상기 장치(100)의 실시예에서, 상기 액츄에이터(150)가 미리 설정된 운동을 수행하기 전에는 각 홀딩 에어리어(132) 내에 수용된 레퍼런스 샘플 용기(134)가 광 경로(LP) 밖에 위치하고, 상기 액츄에이터(150)가 미리 설정된 운동을 수행한 후에는 레퍼런스 샘플 용기(134)가 상기 제2 위치(B)에 위치하도록, 상기 액츄에이터(150), 리니어 컨베이어(160) 및 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)가 배치된다.
상기 장치(100)의 한 실시예는 각 홀딩 에어리어(132) 내에 수용된 하나의 레퍼런스 샘플 용기(134)와 조합될 수 있다. 상기 장치(100)의 한 실시예에서, 상기 레퍼런스 샘플 용기(134)는 사용자에 의하여 비워지고 충전될 수 있다.
상기 장치(100)의 실시예에서, 상기 레퍼런스 샘플 용기(134)는 각각 창(window:138)을 가지는 두 개의 마주보는 벽(136)(도 3에서는 하나의 벽만이 보임)을 포함하고, 레퍼런스 샘플 용기(134)가 제2 위치(B)에 위치할 때 상기 창(138)을 통하여 상기 광 경로(LP)가 통과한다. 예시적인 실시예에서, 빛은 레퍼런스 샘플 용기(134)의 상기 창(138)을 통해서만 통과할 수 있고, 상기 레퍼런스 샘플 용기(134)의 나머지는 불투명하게 되어 있다. 상기 창(138)은 원형, 장방형, 또는 다른 바람직한 정형 또는 비정형의 형태일 수 있다.
상기 장치(100)의 예시적인 실시예에서, 하나 또는 양쪽의 창(138)은 방울(drop) 모양이다. 상기 광 경로(LP)는 상기 방울 모양 창(138) 하부의 넓은 부분을 통하여 지나간다. 사용자는 상기 방울 모양 창(138) 상부의 좁은 부분을 통하여 상기 레퍼런스 샘플 용기(134) 내 액체의 액면 높이를 시각적으로 모니터할 수 있다. 상기 레퍼런스 샘플 용기(134) 내 액체의 높이를 모니터링함으로써, 상기 액체 높이가 컴플라이언스 측정에 대해서 너무 낮아지기 전에(즉, 광 흡수 측정 동안 빛이 상기 액체를 통과할 수 없을 정도로 낮아지기 전에) 레퍼런스 샘플 용기(134) 내에 포함된 물질을 교체하거나, 또는 상기 레퍼런스 샘플 용기(134) 자체를 교체할 수 있다. 선택적으로, 상기 창(138)은 둥글거나 타원형일 수 있다. 바람직하게는, 상기 창은 광 빔(light beam)이 통과할 정도로 충분히 크고 동시에, 단지 소량의 주위 빛만이 상기 용기(134)를 침투하도록 충분히 작다.
상기 장치(100)의 예시적인 실시예는 레퍼런스 샘플 용기(134) 내에 포함된 하나의 레퍼런스 샘플(RS)와 조합될 수 있다. 상기 레퍼런스 샘플(RS)는 장치의 파장 정확도, 미광 성능, 선형성(linearity), 해상도를 결정하는데 사용되도록 선택된다. 상기 레퍼런스 샘플(RS)는 규제적표준(regulatory standard)을 따르도록 할 수 있다. 예를 들면, 상기 레퍼런스 샘플(RS)는 미국재료시험협회(ASTM)에 의해 발행된 표준, 미국 약전협정(USP) 표준 기준, 또는 당해 기술분야 또는 개발되고 있는 다른 표준을 따르도록 할 수 있다.
상기 장치(100)의 예시적인 실시예는 상기 테스트 샘플 용기 홀더(120)에 수용된 하나의 테스트 샘플 용기(122)와 조합될 수 있다.
상기 장치(100)의 예시적인 실시예는 상기 테스트 샘플 용기 홀더(120)에 수용된 하나의 테스트 샘플 용기(122) 및 상기 테스트 샘플 용기(122)에 포함된 하나의 테스트 샘플(TS)와 조합될 수 있다.
상기 장치(100)의 한 실시예에서, 레퍼런스 샘플(RS)와 용매(들)의 다양한 조합을 포함하는 레퍼런스 샘플 용기(134)를 가지는 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)가 광 흡수 측정을 수행하는 장치(100)의 사용자에 의하여 변경될 수 없도록 구성될 수 있다.
상기 장치(100)의 한 실시예에서, 레퍼런스 샘플(RS)와 용매(들)의 다양한 조합을 포함하는 레퍼런스 샘플 용기(134)가 광 흡수 측정을 수행하는 장치(100)의 사용자에 의하여 변경될 수 없도록 구성될 수 있다. 사용자는 그러나 레퍼런스 샘플 용기들 및 그 용기에 포함된 물질을 바꾸지 않고, 개개의 레퍼런스 샘플 용기(134)를 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)로 옮기거나 그 캐리어로부터 제거할 수 있다. 미리 채워진 레퍼런스 샘플 용기(134)를 제공함으로써, 광 흡수 측정의 신뢰성과 (원하는 표준에 관련된) 신뢰성이 개선된다.
도 4는 테스트 샘플(TS)에 대한 광 흡수 측정과 적어도 하나의 레퍼런스 샘플(RS)에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 예시적인 방법(400)의 블록도를 나타낸 것이다. 상기 방법(400)은 광 흡수 측정을 수행하기 위하여 장치(100)의 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)를 이동시켜 상기 캐리어(130)의 제1 홀딩 에어리어(132)에 수용된 제1 레퍼런스 샘플 용기를 광 경로상의 제2 위치(B)에 위치시키는 S402 단계를 포함한다. 상기 방법(400)은 또한 상기 장치의 조명 시스템(110)으로부터 검출 시스템(140)으로 광 경로(LP)를 따라 빛을 향하게 하여 제2 위치(B)에 있는 제1 레퍼런스 샘플 용기(134)에 포함된 제1 레퍼런스 샘플(RS)에 대한 광 흡수 측정을 수행하는 S404 단계를 포함한다. 상기 방법(400)은 또한 캐리어(130)를 이동시켜 제1 레퍼런스 샘플 용기(134)를 광 경로(LP)로부터 벗어나게 위치시키는 S406 단계와, 상기 장치(100)의 테스트 샘플 용기 홀더(120) 내의 테스트 샘플 용기(122)를 광 경로(LP) 상의 제1 위치에 두는 S408 단계를 포함하며, 상기 제2 위치(B)와 제1 위치(A)는 상기 광 경로(LP)를 따라 광 경로 상의 다른 위치에 위치하고 있다. 상기 방법(400)은 또한 상기 조명 시스템(110)으로부터 검출 시스템(140)으로 광 경로(LP)를 따라 빛을 향하게 하여 제1위치(A)에 있는 테스트 샘플 용기(122)에 포함된 테스트 샘플(TS)에 대한 광 흡수 측정을 수행하는 S410 단계를 포함한다.
예시적인 방법(400)은, 조명 시스템(110)으로부터 검출 시스템(140)으로 광 경로(LP)를 따라 빛을 향하게 하여 제2 위치(B)에 있는 제1 레퍼런스 샘플 용기(134)에 포함된 제1 레퍼런스 샘플(RS)에 대한 광 흡수 측정을 수행하기 전에, 테스트 샘플 용기 홀더(120) 내에 테스트 샘플 용기(122)이 존재하지 않도록 보증하는 단계를 포함한다. 상기 테스트 샘플 용기 홀더(120) 내에 테스트 샘플 용기(122)가 수용되어 있다면, 상기 보증하는 단계는 상기 테스트 샘플 용기 홀더(120)로부터 상기 테스트 샘플 용기(122)를 제거하는 단계를 포함한다. 상기 테스트 샘플 용기 홀더(120) 내에 테스트 샘플 용기(122)가 수용되어 있지 않다면, 상기 보증하는 단계는 상기 방법에서 다음의 단계로 진행하도록 하는 단계를 포함한다. 상기 보증하는 단계는 S402 단계 이전 또는 S404 단계 이전에 수행될 수 있다. 상기 보증하는 단계는 사용자에 의하여 육안으로 수행될 수 있다. 상기 보증하는 단계에서, 상기 테스트 샘플 용기(122)는 사용자에 의하여 손으로 제거될 수 있다. 예시적인 방법을 수행하기 위하여 상기 제1 레퍼런스 샘플(RS)는 용매에 용해된 레퍼런스 물질, 용매, 또는 공기를 포함한다.
예시적인 방법(400)은 상기 캐리어(130)를 이동시켜 캐리어(130)의 제2 홀딩 에어리어(132)에 수용된 제2 레퍼런스 샘플 용기(134)를 광 경로(LP) 상의 제2 위치(B)에 위치시키는 단계와, 조명 시스템(110)으로부터 검출 시스템(140)으로 광 경로(LP)를 따라 빛을 향하게 하여 제2 위치(B)에 있는 제2 레퍼런스 샘플 용기(134)에 포함된 제2 레퍼런스 샘플(RS)에 대한 광 흡수 측정을 수행하는 단계를 포함한다. 예시적인 방법을 행하기 위하여, 상기 제1 레퍼런스 샘플(RS)는 적절한 용매에 용해된 레퍼런스 물질을 포함하고, 상기 제2 레퍼런스 샘플(RS)는 단지 용매만을 포함한다.
다른 대안적인 실시예의 방법(400)에서, 상기 제1 레퍼런스 샘플 용기(134)는 용매에 용해된 레퍼런스 샘플(RS)를 포함하고, 제2 레퍼런스 샘플 용기(134)는 용매만을 포함한다. 상기 방법은 또한 용매와 함께 있는 레퍼런스 샘플(RS)의 광 흡수 측정으로부터 발생되는 제1 스펙트럼을 얻는 단계와, 용매만의 광 흡수 측정으로부터 발생되는 제2 스펙트럼을 얻는 단계와, 상기 제1 및 제2 스펙트럼에 기초하여 레퍼런스 샘플 스펙트럼을 얻는 단계를 포함한다. 예시적인 방법에 있어서, 상기 레퍼런스 샘플 스펙트럼은 제1 스펙트럼으로부터 제2 스펙트럼을 빼는 것에 의하여, 상기 제1 및 제2 스펙트럼의 비율을 계산하는 것에 의하여, 혹은 다른 적절한 방법에 의하여 얻어진다. 상기 방법은 또한 상기 레퍼런스 샘플 스펙트럼의 파장 및/또는 강도를 분석하는 단계를 포함한다. 파장은 적어도 하나의 피크(peak)의 위치 또는 흡수 최대치를 얻고 상기 레퍼런스 샘플(RS) 내 물질의 타입 또는 클래스(class)를 결정하는 것에 의하여 분석할 수 있다. 강도는 적어도 하나의 피크의 높이 또는 흡수 최대치를 얻고 상기 레퍼런스 샘플(RS) 내의 물질의 양 또는 농도를 결정하는 것에 의하여 분석할 수 있다. 상기 방법은 또한 표준과 관련된 기준에 대하여 상기 파장 및/또는 강도 분석의 결과를 비교하는 것에 의하여, 표준을 가진 컴플라이언스가 달성되었는지 여부를 결정하는 단계를 더 포함한다. 상기 방법은 또한 컴플라이언스가 비일시적 컴퓨터 가독 매체에서 달성되었는지 여부를 나타내는 데이터를 저장하는 단계 및/또는 그 데이터를 디스플레이(194)에 디스플레이하는 단계를 포함한다. 예시적인 실시예에서, 상기 데이터는 컴플라이언스 보고를 얻기 위하여 사용된다.
본 발명이 그 정신 또는 본질적인 특징를 벗어나지 않는 범위에서 다른 특정한 형태로 구현될 수 있다는 것은 통상의 기술자라면 이해할 것이다. 본 명세서에 개시된 실시예들은 따라서 모든 면에서 실례를 보여주기 위한 것으로서 간주되어야 하며, 이에 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 범위는 상술한 설명보다는 첨부된 청구범위에 의하여 지시되며, 그 의미 및 범위 내의 모든 변경과 균등물도 본 발명 범위 내에 포함된다고 할 것이다.
100 장치
102 지지부재
110 조명 시스템
112 광원
114 제1 광학요소
115 콜리메이터 렌즈
116 제1 글라스 파이버(glass fiber)
120 테스트 샘플 용기 홀더
122 테스트 샘플 용기
124 관통 홀
130 레퍼런스 샘플(referecne sample) 용기 캐리어
131 컴퓨터 가독 매체
132 홀딩 에어리어
134 레퍼런스 샘플 용기
136 벽
138 창(window)
140 검출 시스템
142 제2 광학요소
143 입구 슬릿
144 광 검출기(light detector)
146 글라스 파이버
147 분산 요소
150 액츄에이터
160 리니어 컨베이어
170 캐리어 어셈블리
172 커버
192 센서 칩
194 디스플레이
A 제1 위치
B 제2 위치
LP 광 경로(light path)
RS 레퍼런스 샘플
TS 테스트 샘플

Claims (20)

  1. 테스트 샘플(TS)에 대한 광 흡수 측정과 적어도 하나의 레퍼런스 샘플(RS)에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 장치(100)로서, 상기 장치(100)는,
    광 경로(LP)를 따라 빛이 향하도록 구성된 조명 시스템(110);
    테스트 샘플 측정을 위하여 광 경로(LP)의 제1 위치(A)에 테스트 샘플 용기(122)를 수용하도록 구성된 테스트 샘플 용기 홀더(120);
    레퍼런스 샘플 측정을 위하여 레퍼런스 샘플 용기(134)를 수용하도록 구성된 적어도 하나의 홀딩 에어리어(132)를 포함하는 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130);
    테스트 샘플 측정 동안 테스트 샘플(TS)에 의하여 흡수된 빛을 검출하고 또한 레퍼런스 샘플 측정 동안 레퍼런스 샘플(RS)에 의하여 흡수된 빛을 검출하도록 구성된 검출 시스템(140); 및
    상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)에 결합되는 액츄에이터(150);를 포함하여 구성되고,
    상기 액츄에이터(150)는 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)를 이동시켜, 적어도 하나의 홀딩 에어리어(132)의 각각에 수용되는 레퍼런스 샘플 용기(134)가 시간적으로 제1포인트에서는 광 경로(LP)상의 제2 위치(B)에 위치하고 시간적으로 제2포인트에서는 광 경로(LP)를 벗어난 제3 위치에 위치하도록 구성되며,
    상기 제1 위치(A) 및 제2 위치(B)는 광 경로(LP)를 따라 다른 위치의 광 경로(LP)상에 위치되고,
    상기 장치(100)는,
    상기 조명 시스템(110), 테스트 샘플 용기 홀더(120) 및 검출 시스템(140)이 결합되는 지지부재(102)와;
    상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130), 액츄에이터(150), 리니어 컨베이어(160), 및 상기 리니어 컨베이어(160)에 부착된 커버(172)를 포함하는 캐리어 어셈블리(170);를 포함하고,
    상기 캐리어 어셈블리(170)는 상기 지지부재(102)에 제거 가능하게 부착되도록 구성되고,
    상기 캐리어 어셈블리(170)가 상기 장치(100)에 부착될 때, 상기 커버(172)는 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130), 상기 액츄에이터(150) 및 상기 리니어 컨베이어(160)를 장치(100)의 외부 환경으로부터 적어도 부분적으로 차폐하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)는,
    적어도 두 개의 홀딩 에어리어를 포함하고, 상기 적어도 하나의 홀딩 에어리어(132)는 상기 적어도 두 개의 홀딩 에어리어 중 하나이고,
    상기 적어도 두 개의 홀딩 에어리어의 각각은 적어도 두 개의 레퍼런스 샘플 용기(134)의 각 하나씩을 수용하도록 구성되고,
    상기 액츄에이터(150)는 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)를 이동시켜 상기 적어도 두 개의 홀딩 에어리어(132)의 각각에 수용된 적어도 두 개의 레퍼런스 샘플 용기(134) 중 어느 하나를 상기 제2 위치(B)에 위치시키도록 하는 장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 조명 시스템(110)은,
    광원(112);
    발산 끝단(emitting end) 상에 위치하며, 제1 글라스 파이버(116)를 포함하여 구성되는 제1 광학요소(114);를 포함하고,
    상기 조명 시스템(110)과 상기 검출 시스템(140)은, 그 조명 시스템(110)과 검출 시스템(140) 사이의 광 경로(LP) 부분의 빛이 콜리메이트되도록(collimated) 구성된 장치.
  4. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 검출 시스템(140)은,
    수광 단부 상에 위치하며, 제2 글라스 파이버(146)와 분산 요소(147)을 포함하는 제2 광학 요소(142);와
    광 검출기(144)를 포함하는 장치.
  5. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)는 비일시적(non-transitory) 컴퓨터 가독 매체(131)를 포함하는 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 장치(100)가 상기 액츄에이터(150)와 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)를 연결하는 상기 리니어 컨베이어(160)를 포함하는 장치.
  7. 삭제
  8. 제1항에 있어서,
    상기 캐리어 어셈블리(170)가 스냅 핏(snap-fit) 부착기구, 자석 부착기구, 및 볼트 기구로 구성되는 세트로부터 선택되는 하나의 부착기구에 의하여 상기 지지부재(102)에 제거 가능하게 부착되도록 구성되는 장치.
  9. 제1항, 제6항 및 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 액츄에이터(150)와 리니어 컨베이어(160)는 적어도 10 마이크로미터의 선형 정밀도(linear precision)를 가지도록 구성되는 장치.
  10. 제1항, 제6항 및 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 액츄에이터(150)가 미리 설정된 운동을 수행하기 전에는 적어도 하나의 홀딩 에어리어(132)의 각각에 수용된 레퍼런스 샘플 용기(134)가 광 경로(LP) 밖에 위치하고, 상기 액츄에이터(150)가 미리 설정된 운동을 수행한 후에는 레퍼런스 샘플 용기(134)가 상기 제2 위치(B)에 위치하도록, 상기 액츄에이터(150), 리니어 컨베이어(160) 및 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)가 배치되는 장치.
  11. 제1항, 제6항 및 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 홀딩 에어리어(132)의 각각에 하나의 레퍼런스 샘플 용기(134)가 수용되는 장치.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 레퍼런스 샘플 용기(134)는,
    각각 창(window:138)을 가지는 두 개의 마주보는 벽(136)을 포함하고,
    상기 레퍼런스 샘플 용기(134)가 제2 위치(B)에 위치할 때 상기 창(138)을 통하여 상기 광 경로(LP)가 통과하는 장치.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 창(138)의 적어도 하나는 방울(drop) 모양인 장치.
  14. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 레퍼런스 샘플 용기(134) 내에 포함된 하나의 레퍼런스 샘플(RS)와 조합되고,
    상기 레퍼런스 샘플(RS)는 장치(100)의 파장 정확도, 장치(100)의 미광 성능(stray light performance), 장치(100)의 선형성(linearity), 장치(100)의 해상도를 결정하는데 사용되도록 선택되는 장치.
  15. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 테스트 샘플 용기 홀더(120)에 수용된 하나의 테스트 샘플 용기(122); 또는 상기 테스트 샘플 용기 홀더(120)에 수용된 하나의 상기 테스트 샘플 용기(122)와 그 테스트 샘플 용기(122)에 포함된 하나의 테스트 샘플(TS)의 조합의 어느 하나와 조합되어 사용되는 장치.
  16. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 장치(100)는,
    광 경로(LP)를 따라 빛이 향하도록 구성된 조명 시스템(110);
    테스트 샘플 측정을 위하여 광 경로(LP)의 제1 위치(A)에 테스트 샘플 용기(122)를 수용하도록 구성된 테스트 샘플 용기 홀더(120);
    레퍼런스 샘플 측정을 위하여 레퍼런스 샘플(RS)를 수용하도록 구성된 비어있는 레퍼런스 샘플 용기(134)를 수용하는 적어도 하나의 홀딩 에어리어(132)를 포함하는 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130);
    테스트 샘플 측정 동안 테스트 샘플(TS)에 의하여 흡수된 빛을 검출하고 또한 레퍼런스 샘플 측정 동안 레퍼런스 샘플(RS)에 의하여 흡수된 빛을 검출하도록 구성된 검출 시스템(140); 및
    상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)에 결합되는 액츄에이터(150);를 포함하여 구성되고,
    상기 액츄에이터(150)는 상기 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)를 이동시켜, 상기 레퍼런스 샘플 용기(134)가 시간적으로 제1포인트에서는 광 경로(LP)상의 제2 위치(B)에 위치하고 시간적으로 제2포인트에서는 광 경로(LP)를 벗어난 제3 위치에 위치하도록 하며,
    상기 제1 위치(A) 및 제2 위치(B)는 광 경로(LP)를 따라 다른 위치의 광 경로(LP)상에 있는 것을 특징으로 하는 장치.
  17. 테스트 샘플(TS)에 대한 광 흡수 측정과 적어도 하나의 레퍼런스 샘플(RS)에 대한 컴플라이언스 측정을 수행하기 위한 방법(400)으로서, 상기 방법(400)은
    광 흡수 측정을 수행하기 위하여 장치(100)의 레퍼런스 샘플 용기 캐리어(130)를 이동시켜, 상기 캐리어(130)의 제1 홀딩 에어리어(132)에 수용된 제1 레퍼런스 샘플 용기(134)를 광 경로상의 제2 위치(B)에 위치시키는 단계;
    상기 테스트 샘플 용기 홀더(120) 내에 테스트 샘플 용기(122)가 존재하지 않음을 확인한 다음, 상기 장치의 조명 시스템(110)으로부터 상기 장치(100)의 검출 시스템(140)으로 광 경로(LP)를 따라 빛을 향하게 하여 제2 위치(B)에 있는 제1 레퍼런스 샘플 용기(134)에 포함된 제1 레퍼런스 샘플(RS)에 대하여 광 흡수 측정을 수행하는 단계;
    캐리어(130)를 이동시켜 제1 레퍼런스 샘플 용기(134)를 광 경로(LP)로부터 벗어나게 위치시키는 단계;
    상기 장치(100)의 테스트 샘플 용기 홀더(120) 내의 테스트 샘플 용기(122)를 광 경로(LP) 상의 제1 위치에 두되, 상기 제2 위치(B)와 제1 위치(A)는 상기 광 경로(LP)를 따라 다른 위치의 광 경로(LP)상에 있는 단계; 및
    상기 조명 시스템(110)으로부터 검출 시스템(140)으로 광 경로(LP)를 따라 빛을 향하게 하여 제1 위치(A)에 있는 테스트 샘플 용기(122)에 포함된 테스트 샘플(TS)에 대하여 광 흡수 측정을 수행하는 단계;
    를 포함하여 구성되는 방법.
  18. 삭제
  19. 제17항에 있어서,
    상기 방법이,
    상기 캐리어(130)를 이동시켜, 상기 캐리어(130)의 제2 홀딩 에어리어(132)에 수용된 제2 레퍼런스 샘플 용기(134)를 광 경로 상의 제2 위치(B)에 위치시키는 단계;
    상기 조명 시스템(110)으로부터 검출 시스템(140)으로 광 경로(LP)를 따라 빛을 향하게 하여 제2 위치(B)에 있는 상기 제2 레퍼런스 샘플 용기(134)에 포함된 제2 레퍼런스 샘플(RS)에 대하여 광 흡수 측정을 수행하는 단계;
    를 포함하여 구성되는 방법.
  20. 제17항 또는 제19항에 있어서,
    상기 제1 레퍼런스 샘플(RS)는 용매에 용해된 물질을 포함하고, 제2 레퍼런스 샘플(TS)는 용매만을 포함하며,
    상기 방법은,
    제1 레퍼런스 샘플 용기(134)에 포함된 제1 레퍼런스 샘플에 대한 광 흡수 측정으로부터 발생되는 제1 스펙트럼을 얻는 단계;
    제2 레퍼런스 샘플 용기(134)에 포함된 물질에 대한 광 흡수 측정으로부터 발생되는 제2 스펙트럼을 얻는 단계;
    상기 제1 및 제2 스펙트럼에 기초하여 레퍼런스 샘플 스펙트럼을 얻는 단계;
    상기 레퍼런스 샘플 스펙트럼의 파장, 강도 또는 이 둘다를 분석하는 단계;
    표준을 가지는 컴플라이언스가 달성되었는지 여부를 결정하는 단계; 및
    컴플라이언스가 비일시적 컴퓨터 가독 매체에서 달성되었는지 여부를 나타내는 데이터를 저장하는 단계 또는 그 데이터를 디스플레이(194)하는 단계를 포함하는 방법.
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