JP2003527558A - マイクロプレート走査読取りヘッド - Google Patents
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Abstract
Description
はマイクロプレートの各試料ウェル中の蛍光、発光および/または吸収を測定す
るためにマイクロプレートを走査する方法および装置に関する。
研究者たちは、何百万もの試料の特徴を正確にかつ迅速に決定する性能を必要と
している。この必要のため、しばしば何十、何百または何千もの個々の試料ウェ
ルを含むであろう試料プレートにおいて試料試験が行われる。そのような多ウェ
ル式の試料プレートを使用すると、必要な試験設備が多ウェル式試料プレートに
互換性があるとして、試料試験の自動化が簡単になる。
慮される。第一の重要な設計要因は、試験装置の使用意図である。例えば、装置
は、試料の吸収特性、発光特性または蛍光特性を決定するように設計されること
がある。また、試験装置は、一つより多い特性を試験できるように設計されるこ
ともある。今日、色々な数の試料ウェルおよびタイプを含む標準フォーマットの
試料プレートが種々入手可能である。それら試料プレートは、典型的に様々の外
形寸法を有しており、また、様々の試料ウェル寸法を有していることもある。大
部分の機器がただ一つの特定の試料プレートフォーマットを扱うように設計され
ているが、ある程度の範囲の異なる試料プレートフォーマットを扱うように設計
されているものもある。典型的に考慮される第三の設計要因は、個々の試料ウェ
ルの寸法形状である。例えば、試料ウェルは、いくつかのチップ試料プレートに
用いられるような直径数マイクロメートルのものからミリメートル級以上のもの
まで大きさがいろいろある。加えて、試料ウェルは、透明または不透明の材質で
、いろいろな深さにすることができ、そして例えば四角または丸の断面など様々
の形を採ることができる。試料ウェルは、反射性の底表面を持たせることもでき
る。好ましくは、機器は、ある程度の範囲の異なる試料ウェルタイプを扱えるよ
うにする。
複数の走査機構に結合された保持用の取付具の中に保持されている。走査機構は
、試料の特性を決定するのに使用する機器の部分(例えば、励起源および蛍光検
出器)に対して少なくとも一つの軸に沿って試料プレートを動かすことができる
。好ましくは、走査機構は、試料プレートを二つの軸に沿って動かすことができ
、二次元配列された試料ウェルを分析することができる。試料プレートを動かす
と、試料のこぼれなどの問題を生じるが、典型的にそれら問題は、固定した試料
プレートに対して試験ヘッドを走査させることに関連する困難さに比べると、小
さな問題である。例えば、プレートが動いている間に試料こぼれを避けるには、
プレートをより低速で動かせばよいし、徐々に動き始め徐々に止まるサイクルを
採用すればよい。加えて、各試料ウェル内の液面レベルを単純に試料ウェルの上
端よりこぼれを避けるのに十分なだけ下方にすればよい。
ェルの試料プレートの利便性を備えた機器が望まれる。この発明は、そのような
機器を提供するものである。
ブリを提供する。例えば、この発明の走査ヘッドアセンブリは、吸収、蛍光また
は発光の特性を決定するのに使用することができる。好ましくは、機器は種々の
マイクロプレートの寸法およびフォーマットでの使用が可能であり、それにより
ユーザに最大限の柔軟度を提供する。
つの腕の中に光源が実装され、アセンブリの他の腕の中に検出器が実装されてい
る。好ましくは、光源および関連の光学系は、アセンブリの下側の腕の中にあり
、検出器および関連の光学系は、上側の腕の中にある。この発明は、上の腕の中
に光源を設けて下の腕に検出器を設けるなど、他の配置構成を利用することもで
きる。また、代わりに、C字形以外の配置構成を使用して、光源と検出器の両方
を同一の腕の中に実装することもできる。
イクロプレートに対してX軸とY軸の両方に沿ってラスタ走査させる一対の走査
機構に結合されている。走査は、好ましくは蛇状パターンに従うが、他の走査パ
ターンを利用することもできる。各試料ウェルごとに単一または多重の測定をす
ることができ、多重の測定は個別にまたは平均で報告される。
の一つの腕の中に取り付けられたキセノンフラッシュランプである。キセノンラ
ンプからの光は、一連の窓孔およびレンズで調整され平行化される。好ましくは
、光源からの光は、試料を照射する光の波長を制限するために、フィルタを通る
。フィルタは、種々の異なるフィルタタイプ(例えば、バンドパス、カットオフ
、その他)のいずれであってもよく、好ましくは、フィルタホイールまたは他の
フィルタ選択システムによりアクセス可能な一連のフィルタの内の一つである。
試料を照射する前に、ビームスプリッタを使用して光源からの光の一部分が分離
され、分離された部分は光源の出力の変動をモニタするのに使用される。試料か
らの光は、窓孔を通り抜けて、試料光を測定用検出器の上に集束させるレンズに
よって集められる。
、一つまたは複数のプロセッサを有する制御装置に結合されている。制御装置は
、試料プレートに対する操作ヘッドの位置をモニタし制御するのに使用される。
制御装置は、また、データの収集および処理、光源の制御、そしてフィルタの選
択にも使用される。
よび利点のさらなる理解がなされるであろう。
好ましくはC字形である読取りヘッド101で構成されている。読取りヘッド1
01がC字形であることにより、光を105方向に放射する光源103をヘッド
アセンブリの一つの腕の中に実装することができ、検出器107(仮想線で示さ
れている)をヘッドアセンブリの第二の腕の中に実装することができる。図解さ
れている配置構成が好ましいけれども、少なくとも一つの実施態様では光源と検
出器をヘッドアセンブリの同じ腕の中に実装することによって、アセンブリをC
字形にする必要性がなくなることが理解されるべきである。光源103と検出器
107とを読取りヘッド101の対向する腕の中に設置することで。システムに
課される光学的制約が簡単になるが、この配置構成は試料ウェルの底面が使用す
る波長において実質的に透明であることを必要とする。
試料プレート、すなわちマイクロプレート、109(仮想線で示されている)は
、ヘッドアセンブリ101の下側腕111,上側腕113および背部115の間
に適合する。好ましくは、光源103および検出器107は、それぞれ腕111
および113の端の近くに取り付けられている。ヘッドアセンブリ101を使用
して読み取ることのできるプレート109の大きさについての主な制限は、腕1
11および113の端部、つまり光源103および検出器107の設置場所、並
びに背部115の前面117の間の距離である。
ト109に対してX軸およびY軸の両方に沿って容易に動かすことができる。試
料プレート109ではなくて、むしろヘッドアセンブリ101を動かすことによ
って、特性を調べる間、プレート109を動かさないでおけるので、いくつかの
利点がもたらされる。第一に、プレート109の動きを制限することで、個々の
試料ウェル123内の液体がウェルから飛び散る可能性を制限する。液体が飛び
散って失われると、液体が失われた試料ウェルのみならず、飛び散った液体のい
くらかを受けるかも知れない隣接の試料ウェルの中における化学反応を変える可
能性がある。第二に、読取りの間にプレート109を動かす必要がないので、試
料ウェル内での混合の量を制御することができる。例えば、多成分試料の成分の
各々を試料ウェルの中に入れてしまった後で追加の混合をしないのが望ましいこ
とがある。あるいは、特定の振動幅と振動数で特定の時間プレート109を制御
しつつ揺り動かして混合するのが望ましいこともある。後者の場合、プレート1
09を振動テーブルまたは他の機構に結合することができる。
び検出特性、並びに試料ウェル123の底面の透過特性によって、ヘッドアセン
ブリ101は種々の異なる試験要綱において使用することができる。この発明の
好ましい実施態様では、光源103からの光105は試料ウェルの底面を通り抜
け、個々の試料ウェル内の試料を通り抜けて、検出器107によって検出され、
試料の吸収特性の測定が行われる。あるいは、光源103と検出器107の設置
場所を交換して、光源103を上側の腕113の中に、検出器107を下側の腕
111の中に設置することができる。このヘッドアセンブリは、試料の蛍光また
は発光を測定するように設計された機器に使用することもできる。
ヘッドアセンブリ101は、X軸走査システム201およびY軸走査システム2
03に結合されていて、ヘッドアセンブリの光源部分および検出器部分が試料プ
レート109の各資料ウェル123内に入っている試料を分析するのに使用でき
るようになっている。図示のように、X軸走査システム201は、ベルト・プー
リシステム205および駆動モータ207を有して構成されている。同様に、Y
軸走査システム203は、ベルト・プーリシステム209および駆動モータ21
1を有して構成されている。この発明の好ましい実施態様ではベルト・プーリシ
ステムが使用されているが、歯車駆動システムなどのような他の走査システムが
使用できることは当業者にとって明らかであろう。
プレートキャリヤ213上に保持されている。プレートキャリヤ213は、好ま
しくは、調節可能であるか種々の試料プレートアダプタと一緒に使用可能である
かの試料保持用取付具を使用しており、機器200で多種多様の異なる試料プレ
ート(例えば、6、12、24、48、96および384ウェルのマイクロプレ
ートなど)が使用可能となっている。プレートキャリヤ213は、どのような大
きさの試料プレートを収容可能に設計してもよいが、好ましくは少なくとも標準
の96ウェルの試料プレート(すなわち、130mm×95mm)を収容するよ
うに設計されている。
、送り機構215は、図示のようにベルト・プーリシステム217およびモータ
219を使用するか、または他のタイプの送り機構を使用する。システム215
は、プレートキャリヤ213を、したがって試料プレート109をアセンブリ1
01によって特性測定される位置に移動させるのに使用される。システム215
は、試料プレート109を他の準備および/または試験領域221に移動させる
のにも使用することができる。好ましい実施態様においては、領域221は、試
料プレートの温度および/または湿度を制御するのに使用できるインキュベータ
である。好ましくは、インキュベータは、周囲温度から42℃まで0.2℃刻み
でプログラム可能で、試料プレート全体にわたっての温度変化を0.5℃以下に
維持する。
器の種々の機能を制御するために、制御装置301が使用される。制御装置30
1は、一つまたは複数のプロセッサ303を利用してもよく、また命令およびデ
ータを記憶するためにメモリ305を有する。制御装置301は、好ましくはヘ
ッドアセンブリ101の光源103,検出器107並びにそれぞれX軸およびY
軸の走査システム201および203を含むあらゆる面を制御する。使用者は、
キーボード、タッチスクリーンなどのユーザ入力装置306を使って、如何なる
必要なシステム動作パラメータ(例えば、試料プレートのタイプ、ウェルの大き
さと数、ウェルの間隔、走査モード、一試料ウェル当たり行う測定の数、平均値
読取りをするかしないか、など)。制御装置301は、例えばプリンタ、プロッ
タまたはモニタのようなデータ出力装置307を用いてデータを出力する。
機器の他の面を制御するのに使用することもできる。例えば、もし読取りヘッド
アセンブリ101が基準検出器309を含んでいれば、制御装置301は、好ま
しくは検出器309から出力を受け、相対測定の実施を可能とする。加えて、ア
センブリ101は、試料上に当てる光源103からの光の波長および/または検
出器107により検出された波長を制御するために、一つまたは複数のフィルタ
ホイール311を含むことができる。制御装置301もまた、それぞれX軸およ
びY軸の位置モニタ313および315に結合されることが可能で、それらモニ
タは、試料プレートキャリヤ位置を制御システムにフィードバックする。最後に
、もし機器が、上記に簡単に説明したように、多数の試験および/または準備領
域を含んでいるならば、制御装置301は、それら追加の領域(例えば、インキ
ュベータチャンバの湿度および温度制御317)とともに試料プレート送り機構
215を制御するのに使用することができる。
この実施態様では、読取りヘッドアセンブリ101は、試料の吸収特性を分析す
るように設計されている。アセンブリ101は、光源103、好ましくはキセノ
ンフラッシュランプを含んでいる。他のタイプの光源(例えば、レーザ光源)も
この発明で使用することができ、好ましい実施態様におけるようにアセンブリ1
01内に実装してもいいし、またはアセンブリ101から離れて設けて光ファイ
バもしくは他の手段を使ってアセンブリに光学的に結合してもよい。光源103
からの光は、試料に当たる前に調整され、光束が確実に十分細いビーム径となる
ようにする。図解された実施態様では、光源103からの出力は、窓孔401お
よびレンズ403を通り抜け、次いで鏡405で反射されて光路105に沿って
進む。第二のレンズが光束を、それがヘッドアセンブリ101から出射する前に
、さらに調整する。好ましい実施態様では、レンズ403は直径20mmで焦点
距離20mmの両凸レンズであり、レンズ407は直径10mmで焦点距離20
mmのコリメータ平凸レンズである。この実施態様は、開口径がそれぞれ2、1
.5、1.5そして0.3mmの窓孔409〜412をも含んでいる。
パスフィルタ、カットオフフィルタなどのフィルタ413を使用して調整可能で
ある。フィルタ413は、好ましくはフィルタホイール415の中に設けられた
一連のフィルタから選択される。フィルタホイール415からのフィルタ413
の選択は、好ましくは、プロセッサ301に結合されたフィルタホイールモータ
417を使用して自動化されている。光源の波長選択は、ヘッドアセンブリ10
1内に実装されるかまたは、外部に設けた光源の場合、ヘッドアセンブリから離
れて取り付けられているかの回折格子を使って、達成することもできる。
1を基準検出器309の方へ反射するビームスプリッタ419を通り抜ける。好
ましくは、ビームスプリッタ419は、入射光のほぼ20%を反射して入射光の
ほぼ80%を通す水晶板である。検出器309は、好ましくはフォトダイオード
である。検出器309は、光源103の出力の変動をモニタするために使用され
る。
な試料ウェル123である。この発明のこの実施態様では、光ビーム105は、
ビームスプリッタ419を通った後で下側腕111を出て、特性を測定する試料
ウェル123を通り抜ける。ウェル内の試料またはウェルの底面で吸収されない
ビーム105は、窓孔423を通り抜け、レンズ425により検出器107上に
集束される。好ましくは、窓孔423は直径が4.5mmであり、レンズ425
は直径6mmのボールレンズ(ball lens)であり、検出器107はシリコンフ
ォトダイオードである。光源103からの出力変動をモニタするのに加えて、基
準検出器309の出力の測定検出器107の出力に対する比は、試料の相対的吸
収を決定するのに使うことができる。この発明の好ましい実施態様では、この機
器は0.000と4.000の間の光学濃度(すなわち、OD)の測定が可能で
あり、その情報をデータ出力装置307を介して出力する。
この発明により設計した機器は、蛍光および発光などの種々の試料特性を測定す
るのに使用することができる。加えて、この機器は、試料プレートを幾とおりか
のやり方で走査するように設計することができる。好ましい実施態様では、走査
ヘッド101は、図5に図解されたように試料プレート109を蛇状パターン5
01でラスタ走査する。これは、各試料の特性を急速にかつ能率的に測定できる
ので、好ましい走査モードである。この代わりに、図6に示すように、全ての行
(または列)を同じ向き601に走査することができる。第三の代替案としては
、ヘッドアセンブリ101を特定の複数の試料ウェル(例えば、全試料の内の部
分集合)へ動かすように、および/または試料ウェルを特定の順序で調べるよう
に、使用者が制御装置301をプログラムすることができる。
ェル701の断面図である。この発明によれば、試料ウェル701は、多種多様
のやり方で調べることができる。第一に、単一の場所703で単一の測定を行う
ことができる。この測定で調べるウェル701内の試料の分量は、試料を通り抜
ける光ビーム105の直径に依存する。場所703はウェル701の中央に示さ
れているが、中央から外れた他の場所(例えば、場所705)も使うことができ
る、と理解されるべきである。第二に、複数の場所707を調べることができる
。この発明でより少ない数またはより多い数の場所707を使うことができ、そ
して図示の場所は単に例解的な意味である、と理解されるべきである。好ましく
は、使用者は、場所の数や場所のパターン(例えば、円または正方形のパターン
)をプリセットすることができる。各場所についての測定値(例えば、OD)を
報告することができるし、または平均値を求めて報告することができる。好まし
くは、どちらの試料調査モードでも、制御装置301は、行われる各測定につい
て光源103を一回だけ光らせる。光源103を制御する他の方法がこの発明に
同等に適用可能であることを、当業者は理解するであろう。
精神または本質的な特徴から離れることなしに、他の特定の形態で実施されても
よい。したがって、この明細書における開示および説明は、前記の請求項に記載
したこの発明の範囲を、限定するのではなく、例解する意図である。
米国仮特許出願の優先権を主張し、当該出願の記載をあらゆる目的でここに援用
する。
ある。
図解である。
である。
法を図解する。
09…試料プレート、111…下側腕、113…上側腕、115…背部、123
…試料ウェル、201…X軸走査システム、203…Y軸走査システム、301
…制御装置。
Claims (21)
- 【請求項1】 第一の腕部分、第二の腕部分および前記第一と第二の腕部分
を剛結合する接続部分を有するヘッドアセンブリと、 前記ヘッドアセンブリを第一の軸に沿って走査させるために前記ヘッドアセン
ブリに結合された第一の送りシステムと、 前記ヘッドアセンブリを前記第一の軸と実質的に直行する第二の軸に沿って走
査させるために前記ヘッドアセンブリに結合された第二の送りシステムと、 試料プレートを、それが前記第一の腕部分と前記第二の腕部分の間に挿置され
た状態で、試料読取り位置に保持するための試料プレート保持具と、 前記第一の腕部分に結合され、前記第一の腕部分から前記第二の腕部分へと向
かう第一の光路に沿って向けられる光を放射する光源と、 前記第二の腕部分に結合され、前記第一の光路に沿った光を検出し、検出した
光に関連した大きさに対応する信号を出力する検出器と を備えてなる試料プレート走査システム。 - 【請求項2】 請求項1に記載の試料プレート走査システムであって、 前記光源がキセノンランプを備えてなる ことを特徴とするシステム。
- 【請求項3】 請求項2に記載の試料プレート走査システムであって、 前記キセノンランプが前記第一の腕部分の中に実装されている ことを特徴とするシステム。
- 【請求項4】 請求項1に記載の試料プレート走査システムであって、 前記光源が、さらに少なくとも一つのコリメータレンズおよび少なくとも一つ
の窓孔を備えてなり、前記光源からの前記光が、前記第一の光路に沿って前記第
二の腕部分に向かって前記第一の腕部分を出る前に、前記少なくとも一つのコリ
メータレンズおよび前記少なくとも一つの窓孔を通り抜ける ことを特徴とするシステム。 - 【請求項5】 請求項3に記載の試料プレート走査システムであって、 さらに、前記第一の腕部分の中に実装されて、前記光が第二の光路に沿って進
行して通り抜ける第一のレンズと、 前記第一の腕部分の中に実装されて、前記第二の光路に沿って前記第一のレン
ズを通り抜ける前記光を前記第一の光路に沿って向ける変向ミラーと、 前記第一の腕部分の中に実装されて、前記変向ミラーにより前記第一の光路に
沿って向けられた光が、前記第一の光路に沿って前記第二の腕部分に向かって前
記第一の腕部分を出る前に、通り抜ける第二のレンズと を備えてなるシステム。 - 【請求項6】 請求項5に記載の試料プレート走査システムであって、 前記第一のレンズが20ミリメートルの第一の焦点距離を有する両凸レンズで
あり、 前記第二のレンズが20ミリメートルの第二の焦点距離を有する平凸レンズで
ある ことを特徴とするシステム。 - 【請求項7】 請求項5に記載の試料プレート走査システムであって、 さらに、前記第一および第二のレンズの間に挿置した第一の窓孔と、 前記第二のレンズの後に置かれて、光が、前記第一の光軸に沿って前記第二の
腕部分に向かって前記第一の腕部分を出る前に、通り抜ける第二の窓孔と を備えてなるシステム。 - 【請求項8】 請求項1に記載の試料プレート走査システムであって、 さらに、光が、前記第一の光軸に沿って前記第二の腕部分に向かって前記第一
の腕部分を出る前に、通り抜ける光学フィルタを備えてなり、 前記光学フィルタは前記光を所定の波長帯に制限する ことを特徴とするシステム。 - 【請求項9】 請求項1に記載の試料プレート走査システムであって、 さらに、それぞれが各所定の波長帯を通す複数の光学フィルタと、 前記複数の光学フィルタに結合され前記第一の腕部分に実装されて、前記複数
の光学フィルタの内の選択された一つを前記光源と第一の腕部分の出口孔の間に
挿置する光学フィルタ送りシステムと を備えてなるシステム。 - 【請求項10】 請求項1に記載の試料プレート走査システムであって、 さらに、前記第一の光路中に取り付けられたビームスプリッタであって、そこ
を光の第一の部分が通って前記第一の光路に沿って進行を続けて前記第一の腕部
分から出るところのビームスプリッタと、 光の第二の部分が前記ビームスプリッタで第二の光路に沿って反射され、前記
第二の光路に沿った光を検出して前記第二の光路に沿って検出された前記光の基
準値に対応した基準信号を出力する基準検出器と を備えてなるシステム。 - 【請求項11】 請求項1に記載の試料プレート走査システムであって、 さらに、前記第一の腕部分の中に実装されたビームスプリッタであって、前記
光源からの前記光の第一の部分がそこで反射されて前記第一の光路に沿って向け
られるところのビームスプリッタと、 光の第二の部分が前記ビームスプリッタで第二の光路に沿って伝導され、前記
第二の光路に沿った光を検出して前記第二の光路に沿って検出された前記光の基
準値に対応した基準信号を出力する基準検出器と を備えてなるシステム。 - 【請求項12】 請求項1に記載の試料プレート走査システムであって、 前記検出器が前記第二の腕部分の中に実装されたフォトダイオードである ことを特徴とするシステム。
- 【請求項13】 請求項1に記載の試料プレート走査システムであって、 さらに、前記第二の腕部分の中に実装され、前記第一の光路に沿って進行する
前記光の少なくとも一部分を集め、前記集めた光を前記検出器の上に集束するレ
ンズ を備えてなるシステム。 - 【請求項14】 請求項1に記載の試料プレート走査システムであって、 さらに、前記第二の腕部分に実装され、前記第一の光路に沿って進行する前記
光の少なくとも一部分が前記検出器で検出される前に通り抜ける窓孔 を備えてなるシステム。 - 【請求項15】 請求項1に記載の試料プレート走査システムであって、 さらに、前記第一および第二の送りシステム結合され、前記ヘッドアセンブリ
に関連する走査パターンを制御する制御装置 を備えてなるシステム。 - 【請求項16】 請求項1に記載の試料プレート走査システムであって、 さらに、前記試料プレート保持具に結合され、前記試料プレート保持具を前記
試料読取り位置であるところの第一の位置から第二の位置へと移動する第三の送
りシステム を備えてなるシステム。 - 【請求項17】 請求項16に記載の試料プレート走査システムであって、 前記第二の位置が試料プレート装填位置である ことを特徴とするシステム。
- 【請求項18】 第一の腕部分、第二の腕部分および前記第一と第二の腕部
分を剛結合する接続部分を有するヘッドアセンブリと、 前記ヘッドアセンブリを第一の軸に沿って走査させるために前記ヘッドアセン
ブリに結合された第一の送りシステムと、 前記ヘッドアセンブリを前記第一の軸と実質的に直行する第二の軸に沿って走
査させるために前記ヘッドアセンブリに結合された第二の送りシステムと、 前記第一および第二の送りシステム結合され、前記ヘッドアセンブリに関連す
る走査パターンを制御する制御装置と、 試料プレートを、それが前記第一の腕部分と前記第二の腕部分の間に挿置され
た状態で、試料読取り位置に保持するための試料プレート保持具と、 前記第一の腕部分の中に実装されていて、前記光を放射するランプと、前記ラ
ンプからの前記光が通り抜ける第一のレンズと、前記第一のレンズを通り抜ける
光を前記第一の光路に沿って向ける変向ミラーと、前記変向ミラーにより前記第
一の光路に沿って向けられた前記光が前記第一の光路に沿って前記第二の腕部分
へ向かって前記第一の腕部分から出る前に通り抜ける第二のレンズとを含んでな
る光源と、 前記第二の腕部分の中に実装されていて、検出器と、前記第一の腕部分から前
記第一の光路に沿って通る前記光の少なくとも一部分を集め、前記集めた光を前
記検出器の上に集束し、前記検出器に前記検出された光に関連した大きさに対応
する信号を出力させる第三のレンズとを含んでなる検出システムと を備えてなる試料プレート走査システム。 - 【請求項19】 請求項18に記載の試料プレート走査システムであって、 さらに、それぞれが各所定の波長帯を通す複数の光学フィルタと、 前記複数の光学フィルタに結合され前記第一の腕部分に実装されて、前記複数
の光学フィルタの内の選択された一つを前記ランプと第一の腕部分の出口孔の間
に挿置する光学フィルタ送りシステムと を備えてなるシステム。 - 【請求項20】 請求項18に記載の試料プレート走査システムであって、 さらに、前記第一の光路中に取り付けられ前記第二のレンズと第一の腕部分の
出口孔との間に挿置されていて、そこを光の第一の部分が通って前記第一の光路
に沿って進行を続けて前記第一の腕部分の出口孔から出るところのビームスプリ
ッタと、 光の第二の部分が前記ビームスプリッタで第二の光路に沿って反射され、前記
第二の光路に沿った光を検出して前記第二の光路に沿って検出された前記光の基
準値に対応した基準信号を出力する基準検出器と を備えてなるシステム。 - 【請求項21】 請求項18に記載の試料プレート走査システムであって、 前記制御装置が前記検出器に結合されていて前記検出器出力信号を処理する ことを特徴とするシステム。
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Legal Events
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