JP6407588B2 - 自動分析装置 - Google Patents

Description

本発明の実施形態は、自動分析装置に関する。

自動分析装置は、血液や尿などの患者体液（検体）から、その成分濃度を化学反応や電気化学的に測定することにより、測定結果を定性、定量的に算出し、その値から各種疾病を判断するために使用される。自動分析装置には、試料や試薬を吸引、吐出するためのプローブ、反応容器内の試料と試薬を攪拌するための撹拌子、反応容器を洗浄するための洗浄ノズル等の機構を有している。これらの機構は、剛体性が弱いため、メンテナンス時、試薬の交換時、装置動作中の障害物への接触等の場面で、容易に変形してしまう可能性がある。一方で、これらの機構の変形は装置性能に与える影響が大きいにも関わらず、その変形の有無の判定は、ユーザの目視により行われている。

目的は、プローブや撹拌子等の変形の有無を自動的に判定可能な自動分析装置を提供すること。

本実施形態に係る自動分析装置は、予め決められた移動軌道に沿ってプローブまたは撹拌子を移動可能に支持する支持部と、前記移動軌道上の所定位置を、前記プローブまたは前記撹拌子が通過することを検出する検出部と、前記検出部の出力に基づいて、前記プローブまたは前記撹拌子が前記所定位置を通過するタイミングと通過時間とのうち、少なくとも一方を特定する特定部と、前記タイミングと前記通過時間とのうち、少なくとも一方に基づいて、前記プローブまたは前記撹拌子の変形の有無を判定する判定部と、を具備する。

図１は、本実施形態に係る自動分析装置の全体構成の概略を示す図である。 図２は、図１の第１検出部を構成する受発光式の光学センサの配置の一例を示す平面図である。 図３は、図１の第１検出部を構成する第１光学センサの配置の一例を示す断面図である。 図４は、図２のサンプル分注プローブの移動座標系における２系統の光学センサの配置の一例を示す図である。 図５は、図１の第４検出部を構成する受発光式の光学センサの配置の一例を示す平面図である。 図６は、図１の第４検出部を構成する受発光式の光学センサの配置の他の例を示す平面図である。 図７は、図１の特定部の通過時間と到達時間の特定方法を説明するための補足説明図である。 図８は、図７に対応し、サンプル分注プローブを疑似座標系で表した図である。 図９は、図８に対応し、第１の通過検出方向から見たときの検出プローブの変形を示す図である。 図１０は、図８に対応し、第２の通過検出方向から見たときの検出プローブの変形を示す図である。 図１１は、疑似座標系に、基準プローブと、検出プローブと、吐出対象及び吸引対象の容器の口を模した枠を重ねた図である。

以下、図面を参照しながら本実施形態に係る自動分析装置を説明する。なお、以下の説明において、略同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行う。

図１は、本実施形態に係る自動分析装置の全体構成の概略を示す図である。図１に示すように、本実施形態に係る自動分析装置１（以下、単に本自動分析装置１と呼ぶ。）は、反応機構２０及びデータ処理装置で構成される。

反応機構２０は、反応テーブル２２、サンプルテーブル２３、第１試薬庫２４、第２試薬庫２６、サンプルアーム２８、第１試薬アーム３０、第２試薬アーム３２、撹拌機構３４、洗浄機構３６、測光部３８、第１検出部４１、第２検出部４２、第３検出部４３及び第４検出部４４を備える。

反応テーブル２２は、環状に配列された複数の反応容器２２ａを保持する。例えば、反応テーブル２２は、円周上に等間隔で一列に配置された１６５個の反応容器２２ａを保持する。反応テーブル２２は、ある一定のサイクルで所定の角度だけ回転して停止する間欠的回転動作を行う。

サンプルテーブル２３は、反応テーブル２２の近傍に配置されている。サンプルテーブル２３は、検体が収容されたサンプル容器２３ａを保持する。サンプルテーブル２３は、分注対象の検体が収容されたサンプル容器２３ａが検体吸引位置に配置されるように回動する。

第１試薬庫２４は、反応テーブル２２の内側に配置される。第１試薬庫２４は、検体の検査項目に選択的に反応する第１試薬が収容された複数の第１試薬容器２４ａを保持する。第１試薬庫２４は、分注対象の第１試薬が収容された第１試薬容器２４ａが第１試薬吸引位置に配置されるように回動する。

第２試薬庫２６は、反応テーブル２２の近傍に配置される。第２試薬庫２６は、第２試薬が収容された複数の第２試薬容器２６ａを保持する。第２試薬庫２６は、分注対象の第２試薬が収容された第２試薬容器２６ａが第２試薬吸引位置に配置されるように回動する。

サンプルアーム２８は、反応テーブル２２とサンプルテーブル２３との間に配置される。サンプルアーム２８の先端には、サンプル分注プローブ２８ａが取り付けられている。サンプルアーム２８は、サンプル分注プローブ２８ａを上下動可能に支持する。また、サンプルアーム２８は、予め決められた円弧状の移動軌道に沿って移動可能にサンプル分注プローブ２８ａを支持する。サンプル分注プローブ２８ａの移動軌道は、検体吸引位置や反応テーブル２２上の検体吐出位置を通る。サンプル分注プローブ２８ａは、検体吸引位置に配置されている検体容器から検体を吸引し、反応テーブル２２上の検体吐出位置に配置されている反応容器２２ａに検体を吐出する。

第１試薬アーム３０は、反応テーブル２２と第１試薬庫２４との間に配置される。第１試薬アーム３０の先端には第１試薬分注プローブ３０ａが取り付けられている。第１試薬アーム３０は、第１試薬分注プローブ３０ａを上下動可能に支持する。また、第１試薬アーム３０は、予め決められた円弧状の移動軌道に沿って移動可能に第１試薬分注プローブ３０ａを支持する。第１試薬分注プローブ３０ａの移動軌道は、第１試薬庫２４上の第１試薬吸引位置と反応テーブル２２上の第１試薬吐出位置とを通る。第１試薬分注プローブ３０ａは、第１試薬庫２４上の第１試薬吸引位置に配置されている第１試薬容器２４ａから第１試薬を吸引し、反応テーブル２２上の第１試薬吐出位置に配置されている反応容器２２ａに第１試薬を吐出する。

第２試薬アーム３２は、反応テーブル２２の外周近傍に配置される。第１試薬アーム３０の先端には第２試薬分注プローブ３２ａが取り付けられている。第２試薬アーム３２は、第２試薬分注プローブ３２ａを上下動可能に支持する。また、第２試薬アーム３２は、予め決められた円弧状の移動軌道に沿って移動可能に第２試薬分注プローブ３２ａを支持する。第２試薬分注プローブ３２ａの移動軌道は、第２試薬庫２６上の第２試薬吸引位置と反応テーブル２２上の第２試薬吐出位置とを通る。第２試薬分注プローブ３２ａは、第２試薬庫２６上の第１試薬吸引位置に配置されている第２試薬容器２６ａから第２試薬を吸引し、反応テーブル２２上の第２試薬吐出位置に配置されている反応容器２２ａに第２試薬を吐出する。

撹拌機構３４は、反応テーブル２２の外周近傍に配置される。撹拌機構３４の先端には撹拌子３４ａが取り付けられている。撹拌機構３４は、撹拌子３４ａを上下動可能に支持する。また、撹拌機構３４は、予め決められた円弧状の移動軌道に沿って移動可能に撹拌子３４ａを支持する。撹拌子３４ａは、反応テーブル２２上の撹拌位置に配置された反応容器２２ａ内の検体と第１試薬との混合液、または、検体と第１試薬と第２試薬との混合液を攪拌する。

反応テーブル２２の外周近傍には、洗浄機構３６が設けられている。洗浄機構３６は、分析機構制御部による制御に従って作動する。具体的には、洗浄機構３６は、洗浄ノズルと乾燥ノズルとを有する。洗浄機構３６は、反応テーブル２２上の洗浄位置にある反応容器２２ａを洗浄ノズルで洗浄し、乾燥ノズルで乾燥させる。

測光部３８は、反応テーブル２２近傍に設けられている。測光部３８は、分析機構制御部による制御に従って作動する。具体的には、測光部３８は、光源と光検出器とを有する。光源は、反応テーブル２２内の測光位置にある反応容器２２ａ内の混合液に向けて光を照射する。なお、混合液は、標準試料等であってもよい。光検出器は、測光位置と反応容器２２ａを挟んで光源に対向する位置に配置される。光検出器は、光源から照射され反応容器２２ａ及び混合液を透過した光、反応容器２２ａ及び混合液により反射された光、あるいは、反応容器２２ａ及び混合液により散乱された光を検出する。光検出器は、検出された光の強度に応じた値を有するデータ（以下、測光データと呼ぶことにする。）を発生する。本実施形態では、被検試料と試薬の混合液に対応する測光データを、被検データと呼ぶ。一方、標準試料と試薬の混合液に対応する測光データを、標準データと呼ぶ。測光部３８は、測光データを解析部１１に出力する。

第１検出部４１は、サンプル分注プローブ２８ａの通過を検出する。第２検出部４２は、第１試薬分注プローブ３０ａの通過を検出する。第３検出部４３は、第２試薬分注プローブ３２ａの通過を検出する。第４検出部４４は、撹拌子３４ａの通過を検出する。サンプル分注プローブ２８ａ、第１試薬分注プローブ３０ａ、第２試薬分注プローブ３２ａ、及び撹拌子３４ａをまとめて検出対象物と呼ぶ。また、第１検出部４１、第２検出部４２、第３検出部４３及び第４検出部４４をまとめて検出部４０と呼ぶ。

検出部４０は、検出対象物の通過を検出する受発光式の光学センサである。受発光式の光学センサは、投光器と受光器で構成される。投光器は受光器に対向して配置される。受発光式の通過センサは、投光器から受光器に対して照射された光が遮光されることにより、検出対象物の通過を検出することができる。このとき、検出部４０は、投光器から照射された光が受光器に到達している間をＯＦＦ（０値）、到達していない（遮光されている）間をＯＮ（１値）としたデジタル信号（以下、通過信号と呼ぶ。）として、検出対象物の通過を検出する。検出部４０は、通過信号を判定部１８に対して出力する。

図２は、図１の第１検出部４１を構成する受発光式の光学センサの配置の一例を示す平面図である。図２は、サンプルアーム２８及びサンプルアーム２８の移動軌道２８−１を上から見た図である。図２に示すように、第１検出部４１は、２つの光学センサ（第１光学センサ４１−１及び第２光学センサ４１−２）で構成される。図２に示すように、サンプル分注プローブ２８ａは、サンプルアーム２８により、検体吸引位置Ｐ１から検体吐出位置Ｐ２まで、予め決められた移動軌道２８−１に沿って、移動可能に支持される（図中矢印方向）。第１光学センサ４１−１と第２光学センサ４１−２は、移動軌道２８−１に沿って配置される。移動軌道２８−１の接線方向Ｘと直交方向ＹからなるＸＹ平面は、サンプル分注プローブ２８ａの移動座標系である。以下、図３と図４を参照して、光学センサの配置を説明する。

図３は、図１の第１検出部４１を構成する第１光学センサ４１−１の配置の一例を示す断面図である。図３に示すように、第１検出部４１を構成する受発光式の光学センサは、投光器４１−１ｓと受光器４１−１ｒとから成る。投光器４１−１ｓと受光器４１−１ｒは、サンプル分注プローブ２８ａの移動軌道２８−１を挟んで対向するように配置される。投光器４１−１ｓと受光器４１−１ｒは、本自動分析装置１のカバー１−１０内に収容される。このとき、投光器４１−１ｓから照射された光が受光器４１−１ｒに届くように、投光器４１−１ｓの投光面と受光器４１−１ｒの受光面は、それぞれ光が透過する透過カバー１−１１で覆われる。投光器４１−１ｓと受光器４１−１ｒは、サンプル分注プローブ２８ａが変形しやすい部分の通過を検出可能に配置される。例えば、サンプル分注プローブ２８ａは、細長い形状を有する。したがって、変形しやすい部分は先端部分である。そのため、投光器４１−１ｓと受光器４１−１ｒは、例えば、図２に示すように、その投光ライン４１−１ｎをサンプル分注プローブ２８ａの先端部分が通過するように配置される。投光ライン４１−１ｎ（投光ライン４１−２ｎ）は、投光器４１−１ｓ（投光器４１−２ｓ）の投光面の中心位置と受光器４１−１ｒ（受光器４１−２ｒ）の受光面の中心位置とを結ぶ線である。投光器４１−１ｓ（投光器４１−２ｓ）の投光面の中心位置から受光器４１−１ｒ（受光器４１−２ｒ）の受光面の中心位置に向かう方向を通過検出方向４１−１ｈ（通過検出方向４１−２ｈ）と呼ぶ。

図４は、図２のサンプル分注プローブ２８ａの移動座標系における２系統の光学センサの配置の一例を示す図である。図４に示すように、第１光学センサ４１−１と第２光学センサ４１−２は、第１光学センサ４１−１の投光ライン４１−１ｎと第２光学センサ４１−２の投光ライン４１−２ｎが平行にならないように配置される。言い換えると、第１光学センサ４１−１と第２光学センサ４１−２は、投光ライン４１−１ｎと移動軌道２８−１の接線方向Ｘの交差角が、投光ライン４１−２ｎと移動軌道２８−１の接線方向Ｘの交差角と異なるように配置される。後述の判定部１８は、投光ラインにおけるサンプル分注プローブ２８ａの通過を検出する。具体的には、後述の判定部１８は、通過検出方向４１−１ｈから見たときのサンプル分注プローブ２８ａの変形を特定する。物体の形状を精度高く捉えるためには、少なくとも直交する２つの方向から、その物体を捉えることが必要である。すなわち、本実施形態の第１検出部４１のように、２系統の光学センサを用いる場合、第１光学センサ４１−１と第２光学センサ４１−２は、第１光学センサ４１−１の投光ライン４１−１ｎと第２光学センサ４１−２の投光ライン４１−２ｎの交差角が９０度になるように配置するのが好適である。これにより、２系統の光学センサを用いる場合において、後述の判定部１８は、サンプル分注プローブ２８ａの変形を最も精度高く特定することができる。

図２乃至図４で説明した第１検出部４１の配置は、第２検出部４２、第３検出部４３及び第４検出部４４に対しても適用できる。
また、図２乃至図４で説明した第１検出部４１の配置例は一例である。
例えば、サンプル分注プローブ２８ａの移動軌道２８−１に沿って配置される光学センサの数は２つではなく、３つ以上でもよい。サンプル分注プローブ２８ａの移動軌道２８−１に沿って配置される光学センサの数が多い程、判定部１８によるサンプル分注プローブ２８ａの変形の有無の判定精度を高くすることができる。例えば、図２に例示した２つの光学センサに加えて、第３光学センサを配置する場合を想定する。このとき、第３光学センサは、第３光学センサに対応する第３投光ラインが第１投光ライン４１−１ｎ及び第２投光ライン４１−２ｎに平行とならないように配置される。通過検出方向が多い程、判定部１８によるサンプル分注プローブ２８ａの変形の有無を判定する方向が多くなる。したがって、光学センサが多い程、判定部１８による判定結果の精度を高くすることができる。すなわち、３つ以上の光学センサを配置することにより、図２に例示した２つの光学センサを配置する場合に比べて、判定部１８によるサンプル分注プローブ２８ａの変形の有無の判定精度を高くすることができる。

また、サンプル分注プローブ２８ａの移動軌道２８−１に沿って配置される光学センサの数は１つでもよい。この場合、図２に例示した２つの光学センサを配置する場合に比べて、判定部１８によるサンプル分注プローブ２８ａの変形の有無の判定精度は低くなる。しかしながら、１つの光学センサを配置する場合でも、検出対象物の形状及び移動軌道の形状等に応じて当該１つの光学センサの配置を工夫することで、判定部１８による検出対象物の変形の有無の判定精度を向上させることができる。

図５は、図１の第４検出部４４を構成する受発光式の光学センサの配置の一例を示す平面図である。検出対象物は、撹拌子３４ａである。図５に示すように、第４検出部４４は、１つの光学センサ４４−１で構成される。図５に示すように、撹拌子３４ａは、撹拌機構３４により、予め決められた移動軌道３４−１に沿って移動可能に支持される。光学センサ４４−１は、撹拌子３４ａの形状に応じて配置される。具体的には、撹拌子３４ａは、移動座標系における断面が矩形であり、一方向の厚みに比べて他の方向の厚みが薄い場合を想定する。このような撹拌子３４ａは、撹拌子３４ａに加わる力によって、厚みの薄い方向に変形しやすい。したがって、光学センサ４４−１は、撹拌子３４ａの他の方向の変形を特定可能に配置される。例えば、図５に示す撹拌子３４ａは、方向３４ｒの厚みが薄い。したがって、光学センサ４４−１を構成する投光器４４−１ｓと受光器４４−１ｒは、その投光ライン４４−１ｎが、当該方向３４ｒに直交するように配置されるのが好適である。これにより、後述の判定部１８は、撹拌子３４ａの厚みが薄いことにより発生する変形を検出しやすくなる。

図６は、図１の第４検出部４４を構成する受発光式の光学センサの配置の他の例を示す平面図である。図６に示すように、第４検出部４４は、１つの光学センサ４４−２で構成される。図６に示すように、撹拌子３４ａは、撹拌機構３４により、予め決められた移動軌道３４−１に沿って移動可能に支持される。光学センサ４４−２は、撹拌子３４ａの移動軌道に応じて配置される。撹拌子３４ａ等は、その剛体性が弱い。そのため、撹拌子３４ａは、移動に伴って撹拌子３４ａに加わる力により、移動方向Ａに曲がり等の変形が発生しやすい。したがって、光学センサ４４−２は、撹拌子３４ａの移動方向に直交するように配置される。例えば、図６に示す撹拌子３４ａの移動軌道３４−１は、直線状である。そのため、光学センサ４４−２は、その投光ライン４４−２ｎが移動軌道３４−１に直交するように配置されるのが好適である。これにより、移動に伴って撹拌子３４ａに加わる力により発生する撹拌子３４ａの変形を検出しやすくなる。

なお、図５及び図６で説明した第４検出部４４の配置は、第１検出部４１、第２検出部４２、及び第３検出部４３に対しても適用できる。
また、検出対象物の通過を検出するセンサは他のセンサであってもよい。例えば、受発光式の光学センサは、図３で述べたような、投光器４１−１ｓと受光器４１−１ｒが別々であってもよいし、一体型であってもよい。また、光学センサは、図２で述べたような、透過光を利用したセンサであってもよいし、反射光を利用したセンサであってもよい。また、センサは、光を利用したものでなくてもよい。センサには、超音波センサ、誘導型センサ、及び静電容量型センサ等が適用可能である。

超音波センサを適用した場合、図２乃至図４で説明した投光器４１−１ｓを投波器に、受光器４１−１ｒを受波器に入れ替えて説明が可能である。投波器は、超音波を発信する装置であり、受波器は、投波器から発信された超音波を受信する装置である。超音波センサは、投波器と受波器との間を通過する検出対象物によって生じる超音波の減衰または遮断を検出することにより、検出対象物の通過を検出することができる。

誘導型センサは、外部磁界の影響により、導体表面に発生する渦電流による磁気損失を検出する。具体的には、誘導型センサは、検出コイルを有する。検出コイルに交流磁界を発生させ、検出対象物に発生した渦電流によるインピーダンスの変化を検出することにより、検出対象物の通過（有無）を検出することができる。静電容量型センサは、検出対象物と静電容量型センサの間に生じる静電容量の変化を検出することにより、検出対象物の通過（有無）を検出することができる。

データ処理装置は、解析部１１、出力部１２、入力部１３、記憶部１４、システム制御部１５、特定部１７及び判定部１８を有する。
解析部１１は、標準データに基づいて、検量線のデータを発生する。具体的には、例えば、解析部１１は、標準試料の濃度の異なる複数の標準データに基づいて、標準試料に対応する検量線のデータを発生する。検量線は、吸光度と特定成分の濃度（または、活性値等）の関係を表した関係線である。検量線のデータは、記憶部１４に記憶される。試料分析部は、検量線のデータと被検データとに基づいて、被検試料に含まれる特定成分の濃度（または活性値）等に関する分析データを発生する。発生された分析データは、記憶部１４に記憶されるとともに、出力部１２へ出力される。

出力部１２は、印刷部１２１と表示部１２２とを有する。出力部１２は、解析部１１で発生された検量線のデータと分析データとを、印刷または表示として出力する。印刷部１２１は、例えば、プリンタ等の出力デバイスを用いて、検量線のデータと分析データを、プリンタ用紙に所定のレイアウトで印刷する。表示部１２２は、例えばＣＲＴ（Ｃａｔｈｏｄｅ Ｒａｙ Ｔｕｂｅ）ディスプレイや液晶ディスプレイ等のモニタを備える。表示部１２２は、後述の疑似座標系を表示する。また、表示部１２２は、後述の変形検知機能を実行した結果を表示する。さらに、表示部１２２は、検量線のデータと分析データとを所定のレイアウトで表示する。また、表示部１２２は、各測定項目に関する被検試料の液量、試薬の液量、測光ビームの波長等の分析条件を設定するための分析条件設定画面、被検試料に関して被検体ＩＤや被検体名等を設定するための被検体情報設定画面、被検試料ごとの測定項目を選択するための測定項目選択画面等を表示する。

入力部１３は、キーボード、マウス、各種ボタン、タッチキーパネル等の入力デバイスを有する。入力部１３は、本自動分析装置１に対して、操作者が指示情報を入力するための、ユーザインターフェースとして機能する。指示情報は、例えば、各測定項目の分析条件、被検試料ごとに測定する測定項目、変形検知機能のＯＮ／ＯＦＦ、変形検知機能がＯＮのときの変形検知の頻度、及び、後述する各種閾値の設定等が該当する。入力部１３は、入力デバイスを介して操作者により入力された指示情報を、操作信号としてシステム制御部１５へ出力する。また、入力部１３を介して操作者により入力された情報は、記憶部１４に記憶されてもよい。

記憶部１４は、ハードディスク等の記憶媒体を有する。記憶部１４は、基準通過時間と基準到達時間に関するデータを記憶する。記憶部１４は、測光データを記憶する。また、記憶部１４は、検量線のデータを対応する標準試料と関連付けて記憶する。さらに、記憶部１４は、分析データを、対応する被検試料と関連付けて記憶する。

システム制御部１５は、本自動分析装置１を統括して制御する。システム制御部１５は、入力部１３を介して入力された分析項目、検体数等に基づいて、複数種類の動作プログラムを構成する。システム制御部１５は、動作プログラムに従って、反応機構２０を構成する各要素を制御する。これにより、一連の分析処理が実行される。

以下、本自動分析装置１が備える変形検知機能について説明する。変形検知機能は、動作中の本自動分析装置１において、検出対象物の変形を自動的に検出する機能である。変形検知機能に係る処理は、主に検出部４０、特定部１７、及び判定部１８各々の処理により行われる。

特定部１７は、検出部４０からの出力に基づいて、検出対象物の所定位置を通過するタイミングを特定する。具体的には、特定部１７は、前記検出部４０からの出力に基づいて、検出対象物が所定位置の通過に要する通過時間を特定する。また、特定部１７は、基準位置を通過する時刻と所定位置を通過する時刻に基づいて、移動軌道上の基準位置から所定位置までの移動に要する到達時間を特定する。

図７は、図１の特定部１７の通過時間と到達時間の特定方法を説明するための補足説明図である。ここでは、図２のように第１光学センサ４１−１と第２光学センサ４１−２が配置された場合を例に説明する。第１光学センサ４１−１にとっての基準位置は停止位置Ｐ１であり、所定位置は投光ライン４１−１ｎである。第２光学センサ４１−２にとっての基準位置は停止位置Ｐ１であり、所定位置は投光ライン４１−２ｎである。第１光学センサ４１−１から出力された通過信号を通過信号Ｓ１、第２光学センサ４１−２から出力された通過信号を通過信号Ｓ２とする。後述の基準通過時間と基準到達時間との特定時の通過信号Ｓ１に対応する信号を通過信号Ｓ１ｒ、通過信号Ｓ２に対応する信号を通過信号Ｓ２ｒとする。システム制御部１５からパルスモータに出力されたパルス信号をパルス信号Ｓ０とする。図７において、通過信号Ｓ１、通過信号Ｓ１ｒ、通過信号Ｓ２、通過信号Ｓ２ｒ及びパルス信号Ｓ０を、時間整合して示している。

パルスモータは、入力されたパルス数に応じて、サンプルアーム２８を回転させる。これにより、サンプル分注プローブ２８ａが、図２に示すように、移動軌道２８−１に沿って移動される。サンプル分注プローブ２８ａが停止位置Ｐ１から停止位置Ｐ２まで移動されるために必要なパルス数は予め決められている。パルス信号Ｓ０に含まれる複数のパルス各々は、停止位置Ｐ１から停止位置Ｐ２までの移動軌道２８−１の複数の位置にそれぞれ対応する。例えば、パルス信号Ｓ０の最初のパルスがパルスモータに出力されたタイミングは、停止位置Ｐ１に対応する。

特定部１７は、パルス信号Ｓ０に基づいて、パルスモータに対して基準パルスＰｕが出力された時刻ｔ０を特定する。特定部１７は、通過信号Ｓ１に基づいて、サンプル分注プローブ２８ａが投光ライン４１−１ｎの通過に要する通過時間Δｔｍ１と、サンプル分注プローブ２８ａが投光ライン４１−１ｎに差し掛かった時刻ｔ１ｍを特定する。特定部１７は、時刻ｔ０と時刻ｔ１ｍに基づいて、システム制御部１５により基準パルスＰｕが出力されてから、サンプル分注プローブ２８ａが投光ライン４１−１ｎに差し掛かるまでの到達時間ｄＴｍ１を特定する。

また、特定部１７は、通過信号Ｓ２に基づいて、サンプル分注プローブ２８ａが投光ライン４１−２ｎの通過に要する通過時間Δｔｍ２と、サンプル分注プローブ２８ａが投光ライン４１−２ｎに差し掛かった時刻ｔ２ｍを特定する。特定部１７は、時刻ｔ０と時刻ｔ２ｍに基づいて、システム制御部１５により基準パルスＰｕが出力されてから、サンプル分注プローブ２８ａが投光ライン４１−２ｎに差し掛かるまでの到達時間ｄＴｍ２を特定する。

基準パルスＰｕは、図７に示すように、パルス信号Ｓ０の最初のパルスである。したがって、基準パルスＰｕが出力された時刻ｔ０は、停止位置Ｐ１からサンプル分注プローブ２８ａが動き出した時刻である。すなわち、到達時間ｄＴｍ１は、移動軌道２８−１上の基準位置（停止位置Ｐ１）から所定位置（投光ライン４１−１ｎ）までの移動に要する到達時間に対応する。また、到達時間ｄＴｍ２は、移動軌道２８−１上の基準位置（停止位置Ｐ１）から所定位置（投光ライン４１−２ｎ）までの移動に要する到達時間に対応する。

なお、ここでは、基準パルスＰｕをパルス信号Ｓ０の最初のパルスとしているが、基準パルスＰｕは、パルス信号Ｓ０に含まれる複数のパルスのうち、いずれであってもよい。言い換えると、基準位置は、停止位置Ｐ１ではなく、移動軌道２８−１上のどこであってもよい。基準パルスＰｕは予め決められているが、ユーザ指示に従って適宜変更が可能である。また、特定部１７は、システム制御部１５からパルスモータに基準パルスＰｕが出力されてから、サンプル分注プローブ２８ａが投光ライン４１−１ｎ及び投光ライン４１−２ｎ各々に差し掛かるまでの経過時間に基づいて、到達時間ｄＴｍ１及び到達時間ｄＴｍ２を特定してもよい。

以上の処理により、特定部１７は、サンプル分注プローブ２８ａに対応する到達時間（以下、特定到達時間と呼ぶ。）と通過時間（以下、特定通過時間と呼ぶ。）を特定する。また、特定部１７は、基準のサンプル分注プローブ２８ａに対応する到達時間（以下、基準到達時間と呼ぶ。）と通過時間（以下、基準通過時間と呼ぶ。）を特定する。基準のサンプル分注プローブ２８ａは、変形がない状態のサンプル分注プローブ２８ａである。したがって、基準のサンプル分注プローブ２８ａは、サンプル分注プローブ２８ａと同一のものである。基準到達時間及び基準通過時間は、サンプル分注プローブ２８ａがサンプルアーム２８に取り付けられ、特定部１７により本自動分析装置１による分析処理の開始直後に特定されるのが好適である。しかしながら、基準到達時間及び基準通過時間は、過去にサンプル分注プローブ２８ａと同じものを使用したときに特定されたデータであってもよい。特定部１７により特定された基準到達時間及び基準通過時間は記憶部１４に対して出力される。

具体的には、特定部１７は、通過信号Ｓ１ｒに基づいて、基準のサンプル分注プローブ２８ａが投光ライン４１−１ｎの通過に要する通過時間Δｔｒ１と、基準のサンプル分注プローブ２８ａが投光ライン４１−１ｎに差し掛かった時刻ｔ１ｒを特定する。特定部１７は、時刻ｔ０と時刻ｔ１ｒに基づいて、システム制御部１５により基準パルスＰｕが出力されてから、基準のサンプル分注プローブ２８ａが投光ライン４１−１ｎに差し掛かるまでの到達時間ｄＴｒ１を特定する。

また、特定部１７は、通過信号Ｓ２ｒに基づいて、基準のサンプル分注プローブ２８ａが投光ライン４１−２ｎの通過に要する通過時間Δｔｒ２と、基準のサンプル分注プローブ２８ａが投光ライン４１−２ｎに差し掛かった時刻ｔ２ｒを特定する。特定部１７は、時刻ｔ０と時刻ｔ２ｒに基づいて、システム制御部１５により基準パルスＰｕが出力されてから、基準のサンプル分注プローブ２８ａが投光ライン４１−２ｎに差し掛かるまでの到達時間ｄＴｒ２を特定する。

判定部１８は、特定部１７により特定されたサンプル分注プローブ２８ａの所定位置を通過するタイミングに基づいて、サンプル分注プローブ２８ａの変形の有無を判定する。具体的には、判定部１８は、特定部１７により特定された特定到達時間と特定通過時間とのうち、少なくとも一方に基づいて、サンプル分注プローブ２８ａの変形の有無を判定する。以下、判定部１８は、特定部１７により特定された特定到達時間と特定通過時間との両方に基づいて、判定する場合を例に説明する。このとき、判定部１８は、特定到達時間及び特定通過時間を、それぞれ基準到達時間及び基準通過時間に対して比較することにより、サンプル分注プローブ２８ａの変形の有無を判定する。

判定部１８によるサンプル分注プローブ２８ａの変形の有無の判定結果として、判定部１８は、疑似座標系のデータを発生する。疑似座標系は、第１検出部４１の投光ラインを軸とした座標系である。したがって、光学センサが１つであれば、疑似座標系は１次元座標軸となり、光学センサが２つであれば、疑似座標系は２次元座標面となる。疑似座標系には、基準のサンプル分注プローブ２８ａを模した図形と、使用中のサンプル分注プローブ２８ａを模した図形とが配置される。図８に示すように、これらの図形の形状は矩形形状である。しかしながら、検出対象物に応じて形状が設定されていてもよい。例えば、検出対象物が、プローブ等であれば円（楕円）形状、撹拌子３４ａ等であれば矩形形状に設定されていてもよい。これらの設定は、入力部１３を介したユーザ指示に従って適宜変更が可能である。

判定部１８は、疑似座標系のデータを表示部１２２に対して出力し、表示部１２２は、疑似座標系を表示する。ユーザは、表示部１２２に表示された疑似座標系を見ることで、使用中のサンプル分注プローブ２８ａがどの方向にどれだけ変形しているかを目視でも確認することができる。

以下、図７乃至図１０を参照して、判定部１８によるサンプル分注プローブ２８ａの変形の有無の判定方法と、そのとき発生される疑似座標系とについて説明する。
図８は、図７に対応し、サンプル分注プローブ２８ａを疑似座標系で表した図である。これまで説明したように、第１検出部４１は第１光学センサ４１−１と第２光学センサ４１−２を有する。そのため、疑似座標系は、図８に示すように、２次元の疑似座標面として表せる。図８において、疑似座標面は、第１光学センサ４１−１の投光ライン４１−１ｎに対応する軸をｘ軸、第２光学センサ４１−２の投光ライン４１−２ｎに対応する軸をｙ軸とする。

第１光学センサ４１−１は、サンプル分注プローブ２８ａの投光ライン４１−１ｎの通過を検出する。これにより、判定部１８は、通過検出方向４１−１ｈからサンプル分注プローブ２８ａを見たときの見かけ上の幅を推定する。第２光学センサ４１−２は、サンプル分注プローブ２８ａの投光ライン４１−２ｎの通過を検出する。これにより、判定部１８は、通過検出方向４１−２ｈからサンプル分注プローブ２８ａを見たときの見かけ上の幅を推定する。

つまり、判定部１８は、２つの光学センサからの出力に基づいて、サンプル分注プローブ２８ａを２つの通過検出方向から見たときの見かけ上の幅を推定することができる。したがって、疑似座標面のｘ軸は、サンプル分注プローブ２８ａを通過検出方向４１−１ｈから見たときの見かけ上の幅の大きさと位置を表し、疑似座標面のｙ軸は、サンプル分注プローブ２８ａを通過検出方向４１−２ｈから見たときの見かけ上の幅の大きさと位置を表す。判定部１８は、サンプル分注プローブ２８ａの幅を、画像等から直接特定しているわけではない。疑似座標面は、サンプル分注プローブ２８ａの２つの方向に関する見かけ上の幅の大きさと位置を疑似的に表した座標面である。

判定部１８は、疑似座標面に基準のサンプル分注プローブ２８ａを模した図形及び使用中のサンプル分注プローブ２８ａを模した図形を配置することにより、基準のサンプル分注プローブ２８ａ（以下、基準プローブ２８ａｒと呼ぶ。）に対する使用中のサンプル分注プローブ２８ａ（以下、検出プローブ２８ａｓ）の変形の有無を判定する。以下、基準プローブ２８ａｒを模した図形を単に基準プローブ２８ａｒと呼び、検出プローブ２８ａｓを模した図形を単に検出プローブ２８ａｓと呼ぶ。

まず、疑似座標面に基準プローブ２８ａｒを配置する。判定部１８は、基準プローブ２８ａｒを、その中心位置Ｏｒが原点（０，０）となるように配置する。そして、判定部１８は、基準通過時間Δｔｒ１及び基準通過時間Δｔｒ２に基づいて、基準プローブ２８ａｒの基準幅Ｌｘｒ及び基準幅Ｌｙｒをそれぞれ特定する。具体的には、判定部１８は、基準通過時間Δｔｒ１に移動速度を乗算することによりＬｘｒを導出し、基準通過時間Δｔｒ２に移動速度を乗算することによりＬｙｒを導出する。基準幅Ｌｘｒは、投光ライン４１−１ｎを通過した基準プローブ２８ａｒの幅を表す。また、基準幅Ｌｙｒは、投光ライン４１−２ｎを通過した基準プローブ２８ａｒの幅を表す。
以上の説明により、判定部１８は、図８に示すように、基準プローブ２８ａｒを疑似座標面に配置することができる。

次に、疑似座標面に検出プローブ２８ａｓを配置する。判定部１８は、検出プローブ２８ａｓの検出幅Ｌｘｍ、検出幅Ｌｙｍおよび変形ベクトルｖ（ｘ１、ｙ１）を特定する。検出幅Ｌｘｍは、投光ライン４１−１ｎを通過した検出プローブ２８ａｓの幅を表す。また、検出幅Ｌｙｍは、投光ライン４１−２ｎを通過した検出プローブ２８ａｓの幅を表す。変形ベクトルｖ（ｘ１、ｙ１）は、基準プローブ２８ａｒに対する検出プローブ２８ａｓの変形方向と変形量を表す。言い換えると、変形ベクトルｖ（ｘ１、ｙ１）は、検出プローブ２８ａｓが基準プローブ２８ａｒに比べて、どの方向にどれだけ曲がっているかを表す。変形ベクトルｖ（ｘ１、ｙ１）は、基準プローブ２８ａｒの中心位置Ｏｒ（０，０）から検出プローブ２８ａｓの中心位置Ｏｍ（ｘ１、ｙ１）へのベクトルである。変形ベクトルｖ（ｘ１）は、通過検出方向４１−１ｈから見たときの検出プローブ２８ａｓの基準プローブ２８ａｒに対する変形方向と変形量を表す。変形ベクトルｖ（ｙ１）は、通過検出方向４１−１ｈから見たときの検出プローブ２８ａｓの基準プローブ２８ａｒに対する変形方向と変形量を表す。

判定部１８は、特定通過時間Δｔｍ１に移動速度を乗算することにより検出幅Ｌｘｍを導出し、特定通過時間Δｔｍ２に移動速度を乗算することによりＬｙｍを導出する。また、判定部１８は、シフト時間に基づいて、変形ベクトルｖ（ｘ１、ｙ１）を特定する。シフト時間は、基準到達時間からの時間的ずれを表す。シフト時間は、特定到達時間から基準到達時間を減算した値である。したがって、シフト時間には正負の符号が含まれる。判定部１８は、特定到達時間ｄＴｍ１から基準到達時間ｄＴｒ１を減算したシフト時間Ｓｈ１に移動速度を乗算することにより、変形ベクトルｖ（ｘ１）を導出する。また、判定部１８は、特定到達時間ｄＴｍ２から基準到達時間ｄＴｒ２を減算したシフト時間Ｓｈ２に移動速度を乗算することにより、変形ベクトルｖ（ｙ１）を導出する。以上の説明により、判定部１８は、図８に示すように、検出プローブ２８ａｓを疑似座標面に配置することができる。

以下、図９及び図１０を参照して、図８に示す疑似座標面に配置された検出プローブ２８ａｓについて、基準プローブ２８ａｒと比較して説明する。
図９は、図８に対応し、第１の通過検出方向４１−１ｈから見たときの検出プローブ２８ａｓの変形を示す図である。
図１０は、図８に対応し、第２の通過検出方向４１−２ｈから見たときの検出プローブ２８ａｓの変形を示す図である。

図９と図１０では、図８に示す疑似座標面に対応する検出プローブ２８ａｓを説明するために、検出プローブ２８ａｓとともに基準プローブ２８ａｒを示す。検出ライン２８Ｌ１及び検出ライン２８Ｌ２は、第１光学センサ４１−１及び第２光学センサ４１−２による通過を検出する位置を表す。

判定部１８は、基準幅と検出幅に基づいて、検出プローブ２８ａｓの変形の有無を判定する。具体的には、判定部１８は、基準幅に対する検出幅の変化幅を特定し、変化幅が予め設定された閾値以上のときに、検出プローブ２８ａｓに変形が有ると判定する。検出プローブ２８ａｓの検出幅は、検出プローブ２８ａｓに破損、ねじれ等の形状の変化が発生したときに変化する。例えば、基準幅に対して検出幅が小さいとき、検出対象物に破損等が生じたことが示唆される。基準幅に対して検出幅が大きいとき、検出プローブ２８ａｓに、検出プローブ２８ａｓの破損物が付着したこと、または検出プローブ２８ａｓに液体や薬剤等が付着したこと等が示唆される。例えば、図８に示すように、基準幅Ｌｘｒに対する検出幅Ｌｘｍの変化幅ｄＬｘは小さい。つまり、検出幅Ｌｘｍは基準幅Ｌｘｒに比べて大きな変化がないと言える。したがって、図９に示すように、通過検出方向４１−１ｈから見た場合に、検出プローブ２８ａｓに変形が無いことが示唆される。一方、基準幅Ｌｙｒは検出幅Ｌｙｍよりも狭く、基準幅Ｌｙｒに対する検出幅Ｌｙｍの変化幅ｄＬｙは大きい。したがって、図１０に示すように、通過検出方向４１−２ｈから見た場合に、検出プローブ２８ａｓが欠けていることが示唆される。

判定部１８は、変化幅ｄＬｘ及び変化幅ｄＬｙをそれぞれ変化幅の閾値に対して比較する。判定部１８は、変化幅ｄＬｘ及び変化幅ｄＬｙのうち、少なくとも一方が変化幅の閾値以上のときに、検出プローブ２８ａｓに変形が有ると判定する。一方、判定部１８は、変化幅ｄＬｘ及び変化幅ｄＬｙの両方が、変化幅の閾値未満のときに、検出プローブ２８ａｓに変化が無いと判定する。なお、ここでは、判定部１８は、変化幅ｄＬｘ及び変化幅ｄＬｙをそれぞれ同じ閾値に対して比較しているが、変化幅ｄＬｘ及び変化幅ｄＬｙをそれぞれ個別の閾値に対して比較してもよい。これにより、検出プローブ２８ａｓの少しの変形も許容できない向きと少しの変形であれば許容できる向きとを設定することができる。このように設定できることで、特定の方向に関する小さな変形を許容できる場合であっても、検出プローブ２８ａｓに変形が有るとする、不要な判定を少なくすることができる。

判定部１８は、変形ベクトルに基づいて、検出プローブ２８ａｓの変形方向と変形量を特定する。例えば、図８に示す変形ベクトルｖ（ｘ１、ｙ１）を用いて説明する。図８に示すように、変形ベクトルｖ（ｘ１）の向きは、正の方向である。この場合、図９に示すように、通過検出方向４１−１ｈから検出プローブ２８ａｓを見たときに、検出プローブ２８ａｓが移動方向に向かって変形していることが示唆される。このときの変形量は、ｖ（ｘ１）の絶対値ｘ１である。また、変形ベクトルｖ（ｙ１）の向きは、負の方向である。この場合、図１０に示すように、通過検出方向４１−２ｈから検出プローブ２８ａｓを見たときに、検出プローブ２８ａｓが移動方向とは逆方向に変形していることが示唆される。このときの変形量ｖ（ｙ１）の絶対値ｙ１である。

判定部１８は、変形量ｘ１及び変形量ｙ１を変形量の閾値に対して比較する。判定部１８は、変形量ｘ１及び変形量ｙ１のうち、少なくとも一方が変形量の閾値以上のときに、検出プローブ２８ａｓに変形が有ると判定する。一方、判定部１８は、変形量ｘ１及び変形量ｙ１の両方が、変形量の閾値未満のときに、検出プローブ２８ａｓに変形が無いと判定する。なお、ここでは、判定部１８は、変形量ｘ１及び変形量ｙ１をそれぞれ同じ閾値に対して比較しているが、変形量ｘ１及び変形量ｙ１をそれぞれ個別の閾値に対して比較してもよい。これにより、検出プローブ２８ａｓの少しの変形も許容できない向きと少しの変形であれば許容できる向きを設定することができる。このように設定できることで、特定の方向に関する小さな変形を許容できる場合であっても、検出プローブ２８ａｓに変形が有るとする、不要な判定を少なくすることができる。

判定部１８は、検出プローブ２８ａｓの変形の有無の結果を表示部１２２に対して出力する。表示部１２２は、検出プローブ２８ａｓの変形の有無の結果を表示する。このとき、表示部１２２は、検出プローブ２８ａｓの変形の有無の結果を、疑似座標系とともに表示してもよい。例えば、表示部１２２は、検出プローブ２８ａｓに変形がない場合に「変形がありません」等のテキスト情報を表示し、検出プローブ２８ａｓに変形がある場合に「変形があります」等のテキスト情報を表示する。このとき、変形した方向、変形量に関するテキスト情報が表示されてもよい。

なお、判定部１８は、判定結果を「変形が有る」及び「変形が無い」の２段階で判定しなくてもよい。例えば、判定結果は、検出プローブ２８ａｓの変形度合いに応じて３段階以上で判定されてもよい。例えば、３段階で判定する場合、変形量ｘ１及び変形量ｙ１を比較するために第１閾値と第２閾値が設けられる（第１閾値＜第２閾値）。このとき、判定部１８は、変形量が第１閾値未満であれば変形度合いを「０」、第１閾値以上第２閾値未満であれば変形度合いを「０．５」、第２閾値以上であれば変形度合いを「１」と判定する。判定部１８は、検出プローブ２８ａｓの変形の度合いを表示部１２２に対して出力する。表示部１２２は、検出プローブ２８ａｓの変形の度合いに応じたテキスト情報を表示する。例えば、表示部１２２は、変形度合いが「０」の場合に「変形がありません」等の検出プローブ２８ａｓに変形がない旨を通知するためのテキスト情報を表示する。また、表示部１２２は、変形度合いが「０．５」の場合に「変形はあるがそのまま分析可能」等の分析に支障となる変形がない旨を通知するためのテキスト情報を表示する。そして、表示部１２２は、変形度合いが「１」の場合に「すぐに停止すべき」等の分析に支障のある変形が検出プローブ２８ａｓに発生している旨を通知するテキスト情報を表示する。このように、判定部１８による判定結果に複数の段階が設けられることで、ユーザは、現在の検出プローブ２８ａｓの状態を把握することができる。これにより、例えば、ユーザは、検出プローブ２８ａｓに変形が出始めた段階で、交換用のプローブを用意し、その交換用のプローブを交換するタイミングを良いタイミング（例えば、複数のロットの間）で行うことができる。

判定部１８は、検出プローブ２８ａｓに変形が有ると判定した場合において、システム制御部１５に対して停止信号を出力する。システム制御部１５は、判定部１８により停止信号が出力されたのを契機に、本自動分析装置１の分析処理を停止する。つまり、サンプルアーム２８の回動も停止される。なお、判定部１８により検出プローブ２８ａｓの変形が検出されたのを契機に、自動的に本自動分析装置１を停止するかはユーザ指示に従って変更されてもよい。

なお、判定部１８は、疑似座標系に検出プローブ２８ａｓの吐出対象及び吸引対象の容器の口を模した枠を配置してもよい。

図１１は、疑似座標系に、基準プローブ２８ａｒと、検出プローブ２８ａｓと、吐出対象及び吸引対象の容器の口を模した枠Ｍｏを重ねた図である。基準プローブ２８ａｒに対応する図形を図形２８ａｒ、時刻ｔ６に特定された検出プローブ２８ａｓを図形２８ａｓ６、時刻ｔ７に特定された検出プローブ２８ａｓを図形２８ａｓ７とする。ただし、時刻ｔ６＜時刻ｔ７とする。また、検出プローブ２８ａｓの吐出対象及び吸引対象の容器の口を模した枠を枠Ｍｏとする。ここでは、吐出対象の容器の口と吸引対象の容器の口が同一とする。枠Ｍｏの大きさに対する図形２８ｒ、図形２８ａｓ６及び図形２８ａｓ７の大きさの比は、実際の比に対応する。つまり、ユーザは、疑似座標系に表示された枠Ｍｏ内に、検出プローブ２８ａｓを模した図形が入っているかで、検出プローブ２８ａｓの容器の口に対する変形度合いを確認することができる。例えば、図１１に示す疑似座標系において、図形２８ａｓ６のように、枠Ｍｏ内に配置されている状態であれば、時刻ｔ６の時点で、検出プローブ２８ａｓは容器の口に入ることが示唆される。一方、図形２８ａｓ７のように、枠Ｍｏ内からはみ出る位置に配置されている状態であれば、時刻ｔ７の時点で、検出プローブ２８ａｓは容器の口に入らないことが示唆される。このように、ユーザは、図１１に示す疑似座標面を見ることで、検出プローブ２８ａｓに変形が発生しているかを確認できるとともに、その検出プローブ２８ａｓの変形が、このまま分析処理を続行しても大丈夫な変形であるのかを判定部１８による判定結果と併せて判断することができる。これにより、検出プローブ２８ａｓに発生した変形が分析処理に支障があるものかを、ユーザは、判定部１８により自動的に判定された結果と、疑似座標系の目視との２つの結果により判断することができる。

また、図１１に示す疑似座標面のように、変形検知機能により特定された検出プローブ２８ａｓを模した図形を特定された時系列に従って配置して表示されることで、ユーザは、検出プローブ２８ａｓが、どの方向に変形し始めているか、その変形がどれぐらいの量で変形しているのかを時系列で確認することができる。これにより、ユーザは、現在の検出プローブ２８ａｓの状態を過去の検出プローブ２８ａｓと照らし合わせて把握することができる。

なお、第１検出部４１、特定部１７及び判定部１８によるサンプル分注プローブ２８ａに対する変形検知機能について説明した。しかしながら、この変形検知機能は、第１試薬分注プローブ３０ａ、第２試薬分注プローブ３２ａ、及び撹拌子３４ａに対しても適用が可能である。

以上説明した、本自動分析装置１の変形検知機能の効果をまとめる。
本自動分析装置１は、検出対象物が移動軌道上の所定位置を通過するタイミングを特定することにより、検出対象物の変形の有無を判定することができる。変形検知機能は、本自動分析装置１が稼働中に所定の頻度で繰り返し実行される。これにより、本自動分析装置１を止めることなく、検出対象物の変形の有無をリアルタイムに判定することができる。

本自動分析装置１は、検出対象物の変形の有無の判定結果をテキスト情報等で表示することができる。このとき表示されるテキスト情報等は、検出対象物の変形の度合いに対応していてもよい。また、テキスト情報には、例えば、変形の有無に関する情報と稼働を止める必要の有無に関する情報が含まれてもよい。これにより、ユーザは、検出対象物に変形が発生しているのか、変形が発生している場合にどれぐらいの変形であるのか、また、稼働を停止しなければならないのか等の判断をすることができる。

また、本自動分析装置１は、変形検知機能の一部として、検出対象物を模した図形と基準となる検出対象物を模した図形とを配置した疑似座標系を表示することができる。ユーザは、表示された疑似座標系を見ることで、基準となる検出対象物に対する検出対象物の位置の変化と形状の変化とをリアルタイムに確認することができる。現在の検出対象物の状態を確認することができることで、例えば、ユーザは、検出対象物に変形が出始めた段階で、交換用のプローブを用意し、その交換用のプローブを交換するタイミングを良いタイミングで行うことができる。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１…自動分析装置、１１…解析部、１２…出力部、１２１…印刷部、１２２…表示部、１３…入力部、１４…記憶部、１５…システム制御部、１７…特定部、１８…判定部、２０…反応機構、２２…反応テーブル、２２ａ…反応容器、２３…サンプルテーブル、２３ａ…サンプル容器、２４…第１試薬庫、２４ａ…第１試薬容器、２６…第２試薬庫、２６ａ…第２試薬容器、２８…サンプルアーム、２８ａ…サンプル分注プローブ、３０…第１試薬アーム、３０ａ…第１試薬分注プローブ、３２…第２試薬アーム、３２ａ…第２試薬分注プローブ、３４…撹拌機構、３４ａ…撹拌子、３６…洗浄機構、３８…測光部、４１…第１検出部、４２…第２検出部、４３…第３検出部、４４…第４検出部。

Claims (5)

1. 予め決められた移動軌道に沿ってプローブまたは撹拌子を移動可能に支持する支持部と、
   前記移動軌道上の所定位置を、前記プローブまたは前記撹拌子が通過することを検出する検出部と、
   前記検出部の出力に基づいて、前記プローブまたは前記撹拌子が前記所定位置を通過するタイミングと通過時間とのうち、少なくとも一方を特定する特定部と、
   前記タイミングと前記通過時間とのうち、少なくとも一方に基づいて、前記プローブまたは前記撹拌子の変形の有無を判定する判定部と、
   を具備することを特徴とする自動分析装置。
2. 前記判定部は、前記タイミングと前記通過時間との両方に基づいて、前記プローブまたは前記撹拌子の変形の有無を判定すること、
   を特徴とする請求項１記載の自動分析装置。
3. 前記判定部は、前記タイミングの基準タイミングに対する時間的ずれと、前記通過時間の基準通過時間に対するずれとに基づいて、前記プローブまたは前記撹拌子の変形の有無を判定すること、
   を特徴とする請求項２記載の自動分析装置。
4. 前記検出部は、前記移動軌道上の第１位置を前記プローブまたは前記撹拌子が通過することを検出する第１検出部と、前記移動軌道上の第２位置を前記プローブまたは前記撹拌子が通過することを検出する第２検出部と、を含み、
   前記移動軌道の接線方向に対する前記第１検出部の検出方向の第１交差角は、前記移動軌道の接線方向に対する前記第２検出部の検出方向の第２交差角と異なる、
   請求項１記載の自動分析装置。
5. 前記第１交差角は前記第２交差角に対して直交すること、
   を特徴とする請求項４記載の自動分析装置。

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