JP2014211933A - ディスク記憶装置、書き込み制御装置及び書き込み制御方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】STOを備えた磁気ヘッドを用いて記録したデータのビットエラーレートを向上させることにある。
【解決手段】本実施形態のディスク記憶装置は、磁気ヘッドと、判定部と、コントローラとを具備する。前記磁気ヘッドは、入力される記録信号に応じて磁気ディスク上に垂直磁気記録を行なうための記録磁界を発生する主磁極の近傍に配置された高周波アシスト素子を有し、データ記録時に前記高周波アシスト素子から高周波磁界を磁気ディスク上に印加する。前記判定部は、一定間隔毎に前記記録信号の記録密度が基準密度に対して低密度領域又は高密度領域であるかを判定する。前記コントローラは、前記データ記録時に低密度領域又は高密度領域に応じて前記低密度領域のタイミングで前記高周波アシスト素子に通電させる電流レベルを相対的に前記高密度領域より低下させる。
【選択図】図1
【解決手段】本実施形態のディスク記憶装置は、磁気ヘッドと、判定部と、コントローラとを具備する。前記磁気ヘッドは、入力される記録信号に応じて磁気ディスク上に垂直磁気記録を行なうための記録磁界を発生する主磁極の近傍に配置された高周波アシスト素子を有し、データ記録時に前記高周波アシスト素子から高周波磁界を磁気ディスク上に印加する。前記判定部は、一定間隔毎に前記記録信号の記録密度が基準密度に対して低密度領域又は高密度領域であるかを判定する。前記コントローラは、前記データ記録時に低密度領域又は高密度領域に応じて前記低密度領域のタイミングで前記高周波アシスト素子に通電させる電流レベルを相対的に前記高密度領域より低下させる。
【選択図】図1
Description
本発明の実施形態は、高周波アシスト記録機能を有するディスク記憶装置、書き込み制御装置及び書き込み制御方法に関する。
近年、ハードディスクドライブを代表とする磁気ディスク記憶装置(以下、ディスクドライブと表記する場合がある)の分野では、垂直磁気記録方式及び高周波アシスト記録(high frequency assisted writing)方式の技術開発により、高記録密度と高記録容量の向上が推進されている。
高周波アシスト記録方式は、高周波アシスト素子を有する磁気ヘッドを使用し、磁気ディスク上に高周波磁界を印加する記録方式である。高周波アシスト素子としては、例えばスピントルク発振素子(spin-torque oscillator、以下STOと表記する場合がある)が注目されている。ディスクドライブは、電極を通じてSTOに直流電流を通電することにより、STOを発振源として駆動させて高周波磁界を発生させる。
STOを用いた磁気ディスク装置では、書き込み動作の実行時であるデータ記録時には、常にSTOに対して直流通電がされている。ところで、データ記録時に磁気ヘッドに入力される記録信号には、相対的に低密度領域と高密度領域が発生する。低密度領域の記録信号に応じた書き込み動作では、ディスク上に記録されたデータのビットエラーレート(BER)が低下することが確認されている。
これは、STO素子に通電が行われて記録された場合には、低密度領域では、STOのトレーリング側に配置されているトレーリングシールドに、STO素子の発振の影響が及び、主磁極と逆方向の磁界が発生することに起因すると推定される。即ち、トレーリングシールド直下で、主磁極直下の磁界とは逆方向の磁界が増大することで、記録後に記録パターンの磁化が乱れるためであると推定される。
そこで、本発明の目的は、STOを備えた磁気ヘッドを用いて記録したデータのビットエラーレートを向上できるディスク記憶装置、書き込み制御装置及び書き込み制御方法を提供することにある。
本実施形態のディスク記憶装置は、磁気ヘッドと、判定手段と、制御手段とを具備する。前記磁気ヘッドは、入力される記録信号に応じて磁気ディスク上に垂直磁気記録を行なうための記録磁界を発生する主磁極の近傍に配置された高周波アシスト素子を有し、データ記録時に前記高周波アシスト素子から高周波磁界を磁気ディスク上に印加する。前記判定手段は、一定間隔毎に前記記録信号の記録密度が基準密度に対して低密度領域又は高密度領域であるかを判定する。前記制御手段は、前記データ記録時に低密度領域又は高密度領域に応じて前記低密度領域のタイミングで前記高周波アシスト素子に通電させる電流レベルを相対的に前記高密度領域より低下させる。
以下図面を参照して、実施形態を説明する。
[第1の実施形態]
まず、図1を参照して、本実施形態に関するディスクドライブの構成を説明する。なお、図1に示すディスクドライブの構成は、後述する第2から第3の各実施形態にも適用される。
まず、図1を参照して、本実施形態に関するディスクドライブの構成を説明する。なお、図1に示すディスクドライブの構成は、後述する第2から第3の各実施形態にも適用される。
図1に示すように、ディスクドライブは、垂直磁気記録媒体である磁気ディスク(以下単にディスクと表記する)1、及び後述する高周波アシスト素子(STO)を有する磁気ヘッド(以下単にヘッドと表記する)10が組み込まれた垂直磁気記録方式の磁気ディスク装置である。
ディスク1は、スピンドルモータ(SPM)2に固定されて、回転運動するように取り付けられている。ヘッド10は、アクチュエータ3に搭載されており、ディスク1上の半径方向に移動するように構成されている。アクチュエータ3は、ボイスコイルモータ(VCM)4により回転駆動する。ヘッド10はライトヘッド10W及びリードヘッド10Rを有する。
さらに、ディスクドライブは、ヘッドアンプ集積回路(以下、ヘッドアンプICと表記する)11と、リード/ライトチャネル(R/Wチャネル)12と、ハードディスクコントローラ(HDC)13と、マイクロプロセッサ(MPU)14と、ドライバIC16と、メモリ17とを有する。R/Wチャネル12、HDC13及びMPU14は、1チップの集積回路からなるコントローラ15に組み込まれている。
ヘッドアンプIC11は、後述するように、高周波アシスト素子であるスピントルク発振子(spin-torque oscillator : STO)を駆動するための回路群を含む。以下、高周波アシスト素子をSTOと表記する。さらに、ヘッドアンプIC11は、R/Wチャネル12から供給されるライトデータに応じた記録信号(ライト電流)をライトヘッド10Wに供給するドライバを含む。また、ヘッドアンプIC11は、リードヘッド10Rから出力されたリード信号を増幅して、R/Wチャネル12に伝送するリードアンプを含む。
R/Wチャネル12は、リード/ライトデータの信号処理回路である。HDC13は、ディスクドライブとホスト18とのインターフェースを構成し、リード/ライトデータの転送制御を実行する。MPU14は、リード/ライト動作の制御および磁気ヘッド10の位置決めに必要なサーボ制御を実行する。さらに、MPU14は、本実施形態に関するSTOの通電制御を実行する。メモリ17は、DRAMからなるバッファメモリ及びフラッシュメモリなどを含む。
図2はヘッド10の構造を説明するための図である。また、図3は、ライトヘッド10Wに実装されているSTO22の位置関係を示す図である。
まず、図2に示すように、ヘッド10は、ライトヘッド10Wとリードヘッド10Rとが分離して同一のスライダ内に埋め込まれている。スライダは、ディスク1の記録面と対向して浮上するためのABS(air bearing surface)面を有する。ライトヘッド10Wは、主磁極20とリターン磁極(トレーリングシールド)21からなる磁気コアを有する。主磁極20は軟磁性材料からなる。磁気コアは、主磁極20とリターン磁極21とからなる磁路を形成し、ディスク1の記録面と対向するABS面において、主磁極20とリターン磁極21との間に磁気的ギャップを有する。
さらに、ライトヘッド10Wでは、主磁極20、STO22、リターン磁極21に対して直列に直流電流を流すための端子25,26が接続されている。また、磁気コアに巻きつくように配置された第1の記録コイル23と、第2の記録コイル24が配置されている。第2の記録コイル24は、主磁極20のリーディング側に配置されている。また、リードヘッド10Rは、ライトヘッド10Wのリーディング側に配置されている。リードヘッド10Rは、磁気抵抗効果素子30と、1対のシールド31,32を有する。シールド31,32は、ヘッド10の走行方向の前後で磁気抵抗効果素子30を挟むように配置されている。
さらに、図3に示すように、ライトヘッド10Wの磁気コアのギャップ内には、STO22が実装されている。STO22は、ディスク1の記録面と対向するようにABS面側に配置されている。ライトヘッド10Wでは、主磁極20、STO22、リターン磁極21の方向に直流電流が流れる。なお、ディスク1は、基板1Dの上層部に下地層1C、記録層1B、及びその上層部に保護膜1Aを有する。記録層1Bは、垂直磁化方向(perpendicular magnetization)の磁気異方性(magnetic anisotropy)を有する磁気記録層である。
[書き込み制御]
図4は、本実施形態に関するディスクドライブにおいて、書き込み制御機能を実現する構成を示すブロック図である。具体的には、書き込み制御機能は、ヘッドアンプIC11、コントローラ15及びメモリ17により実現される。以下、図4に示す構成は、便宜的に書き込みコントローラと表記する。
図4は、本実施形態に関するディスクドライブにおいて、書き込み制御機能を実現する構成を示すブロック図である。具体的には、書き込み制御機能は、ヘッドアンプIC11、コントローラ15及びメモリ17により実現される。以下、図4に示す構成は、便宜的に書き込みコントローラと表記する。
図4に示すように、書き込みコントローラは、記録信号入力部100と、メモリ101と、入力信号周波数判定部102と、タイミング演算部103とを有する。記録信号入力部100は、R/Wチャネル12により実現される機能であり、HDC13から転送されてディスク1上に記録されるライトデータである。
メモリ101はメモリ17に含まれる例えばDRAMであり、記録信号(ライトデータ)を一時的に保存する。入力信号周波数判定部102及びタイミング演算部103は、コントローラ15に含まれるMPU14により実現される。入力信号周波数判定部102は、後述するように、STO電流制御部104によるSTO22に対する通電電流値(通電レベル)を切り替える根拠となる記録信号の周波数を判定する。タイミング演算部103は、記録コイル電流制御部106による記録電流波形と、STO電流制御部104による通電電流波形との位相差を合わせて同期を取るようにタイミングを設定する。
さらに、書き込みコントローラは、STO電流制御部104と記録コイル電流制御部106以外に、第1のアンプ105、第2のアンプ107及び再生信号検出部108を有する。STO電流制御部104、記録コイル電流制御部106、第1及び第2のアンプ105、107はそれぞれ、ヘッドアンプIC11により実現される機能である。再生信号検出部108は、ヘッドアンプIC11及びR/Wチャネル12により実現される機能である。
STO電流制御部104は、STO22に対する通電電流波形を生成する。第1のアンプ105は、当該通電電流を増幅してSTO22に供給する。記録コイル電流制御部106は、第1の記録コイル23と第2の記録コイル24に交流通電を行う記録電流波形を生成する。第2のアンプ107は、当該交流通電を増幅して第1及び第2の記録コイル23、24に供給する。再生信号検出部108は、ヘッド10によりディスク1上から読み出されたリード信号から再生信号(リードデータ)を検出する。
以下、図5のフローチャート、図6(A)〜(C)、及び図7を参照して、本実施形態の書き込み制御を説明する。
先ず、図5に示すように、書き込み動作が開始されると、記録信号入力部100は、HDC13からのライトデータに対応する記録信号を入力する(ブロック50)。書き込みコントローラは、入力された記録信号をメモリ101に一時的に格納し、後述するように、記録電流制御及びSTO電流制御に関する処理を実行する(ブロック51〜55)。
即ち、書き込みコントローラは、格納された記録信号に応じた記録電流時間軸パターンを生成する(ブロック54)。記録電流時間軸パターンは、例えば、図6(A)に示すような記録電流波形である。書き込みコントローラは、生成した記録電流波形を、後述するように、タイミング演算部103によりSTO記録電流波形とのタイミング調整後に記録コイル電流制御部106に供給する(ブロック55)。記録コイル電流制御部106は、第2のアンプ107を介して第1及び第2の記録コイル23、24に記録電流波形に応じた電流を供給する(ブロック57)。
一方、書き込みコントローラでは、入力信号周波数判定部102は更に、格納された記録信号の周波数に基づいて、記録電流時間軸パターン(記録電流波形)において記録密度が相対的に低密度の低密度領域と高密度の高密度領域を判定する。即ち、入力信号周波数判定部102は、後述する一定時間間隔TT内(例えばセクタ単位)の平均周波数に基づいて低密度領域と高密度領域を判定する。具体的には、図6(B)に示すように、記録電流波形の一定時間間隔TT(window)内での磁化反転数(磁化転移数)NCを算出する(ブロック51)。さらに、入力信号周波数判定部102は、算出した磁化転移数NCを基準値(例えば2個)と比較して、基準値以下の場合は記録密度が低密度領域であり、基準値を超える場合は高密度領域であると判定する(ブロック52)。即ち、入力信号周波数判定部102は、低密度領域ではSTO22に対する直流通電がオフ(OFF)になり、高密度領域ではオン(ON)になるSTO電流波形を算出する。書き込みコントローラは、算出したSTO電流波形に応じたSTO電流時間軸パターンを生成する(ブロック53)。このSTO電流時間軸パターンは、例えば、図6(C)に示すような記録電流波形である。
書き込みコントローラは、STO電流時間軸パターンに対応するSTO電流波形を、前述したように、タイミング演算部103により記録電流波形とのタイミング調整後にSTO電流制御部104に供給する。STO電流制御部104は、第1のアンプ105を介してSTO22に対してSTO電流波形に応じた直流通電を行なう(ブロック56)。これにより、ライトヘッド10Wは、STO22から高周波磁界が印加されるタイミングで、ディスク1上に記録電流波形に応じた垂直磁気記録を実行する(ブロック58)。
以上のようにして本実施形態の書き込みコントローラであれば、STO22から高周波磁界が印加されるタイミングで、記録信号に応じたライトデータをディスク1上に垂直磁気記録することができる。この場合、本実施形態であれば、記録信号である記録電流波形の周波数に基づいて記録密度が低密度領域または高密度領域であるかを判定し、この判定結果に基づいてSTO22に対する通電電流値(通電レベル)を切り替える。即ち、記録密度が低密度領域では、STO22に対する通電をオフにする。また、記録密度が高密度領域では、STO22に対する通電をオンのまま維持する。
なお、本実施形態の書き込み制御では、STO22に対する通電電流値(通電レベル)を低密度領域の場合にオフとしたが、オン状態でのSTO電流値に対して低レベルにする制御でもよい。
図7は、本実施形態の効果を示す図である。即ち、図7に示すように、STO22に対する通電を変化させてディスク1上に記録したデータを再生した場合のビットエラーレート(BER)の測定結果である。具体的には、図7は、記録電流波形の一定時間間隔TT内での記録密度に応じた周波数判定値FCを変化させたときのBERを示したものである。FC値が、低密度領域ではSTO電流値をオンしてSTO22に対して直流通電を維持している場合にはBERの特性71は劣化することを示している。一方、STO電流値がオフまたは低レベルの場合にはBERの特性70は相対的に劣化しないことを示している。
要するに本実施形態は、低密度領域での磁気記録では、STO22に対して直流通電をオフまたは低レベルに制御することにより、当該磁気記録に対する再生エラー率(BER)を低減させることが可能となる。従って、記録密度領域に制限されることなく、確実な垂直磁気記録を実現できる。
[第2の実施形態]
図8は、第2の本実施形態に関する書き込み制御機能を実現する書き込みコントローラの構成を示すブロック図である。なお、ディスクドライブの構成は、前述の図1から図3に示すものと同様のため説明を省略する。
図8は、第2の本実施形態に関する書き込み制御機能を実現する書き込みコントローラの構成を示すブロック図である。なお、ディスクドライブの構成は、前述の図1から図3に示すものと同様のため説明を省略する。
本実施形態は、図4に示す構成において、歪み検出部109と、再生信号保存部110と、位相補正演算部111とを有する書き込みコントローラである。なお、図4に示す構成要素と同一要素については、同一符号を付して説明を省略する。
歪み検出部109は、再生信号検出部108によりディスク1上から検出された再生信号波形の歪みを検出する。再生信号保存部110は、当該歪みを含む再生信号を保存するメモリである。位相補正演算部111は、再生信号保存部110に保存された歪みを含む再生信号に基づいて、タイミング演算部103により記録電流波形と位相差を合わせてタイミング調整されたSTO電流波形の位相を補正する。
以下、図9(A)〜(F)及び図10(A)〜(F)を参照して、本実施形態の書き込み制御を説明する。
本実施形態においても、入力信号周波数判定部102は、低密度領域ではSTO22に対する直流通電がオフ(OFF)になり、高密度領域ではオン(ON)になるSTO電流波形を算出する。書き込みコントローラは、STO電流時間軸パターンに対応するSTO電流波形を、前述したように、記録電流波形とのタイミング調整後にSTO電流制御部104に供給する。STO電流制御部104は、第1のアンプ105を介してSTO22に対してSTO電流波形に応じた直流通電を行なう。これにより、ライトヘッド10Wは、STO22から高周波磁界が印加されるタイミングで、ディスク1上に記録電流波形に応じた垂直磁気記録を実行する(図6を参照)。
ここで、通常のディスクドライブは、リード動作時にリードエラーが発生すると、再度のリード動作であるリードリトライ動作を実行する。本実施形態では、当該リードリトライ動作の前に、歪み検出部109は再生信号検出部108によりディスク1上から再生された再生信号波形の歪みを検出する。即ち、歪み検出部109は、リードエラーが発生した再生信号波形の歪みを検出する。再生信号保存部110は、検出された歪みを含む再生信号を保存する。
次に、書き込み動作が開始されると、前述したように、書き込みコントローラは、STO電流時間軸パターンに対応するSTO電流波形を、前述したように、記録電流波形とのタイミング調整後にSTO電流制御部104に供給する動作を実行する。即ち、図9(A)に示すライトゲートに同期して、書き込みコントローラは、記録信号に応じた記録電流時間軸パターンである記録電流波形を生成する。図9(B)は、記録密度が低密度領域の記録電流波形を示す。ここで、書き込みコントローラは、記録信号の周波数に基づいて、STO電流時間軸パターンであるSTO電流波形を生成する。図9(C)は、低密度領域の記録電流波形に対応するSTO電流値が低レベルのSTO電流波形を示す。
ここで、図9(B)に示す記録電流波形の記録電流立ち上がりに対して、図9(C)に示すように、STO電流波形の電流立ち上がりで時間L1の遅延が発生している。このような記録電流波形とSTO電流波形との位相差が発生している状態で、STO22から高周波磁界に伴う記録電流波形に応じた垂直磁気記録が実行されると、その再生信号波形には歪みが発生することがある。具体的には、図9(D)に示すように、再生信号検出部108により再生された再生信号波形(出力波形)には、位相差(時間L1の遅延)に基づいた歪みが発生する。
そこで、位相補正演算部111は、再生信号保存部110に保存された歪みを含む再生信号に基づいて、タイミング演算部103により記録電流波形と位相差を合わせてタイミング調整されたSTO電流波形の位相を補正する。即ち、図9(E)に示すように、位相補正演算部111は、記録電流波形の記録電流立ち上がりに対してSTO電流波形の電流立ち上がりが一致するように補正する。この場合、位相補正演算部111は、歪み検出部109による再生信号の歪みとの相関に基づいて、STO電流波形の位相差を変化させることにより遅延時間L1が0となるSTO電流波形のタイミングを算出できる。この結果として、図9(F)に示すように、再生信号検出部108により再生された再生信号波形(出力波形)には、位相差に基づいた歪みを解消することが可能となる。
一方、図10(A)に示すライトゲートに同期して、書き込みコントローラは、図10(B)に示すように、記録密度が高密度領域の記録電流波形を生成する。ここで、書き込みコントローラは、記録信号の周波数に基づいて、高密度領域の記録電流波形に対応するSTO電流波形を生成する。図10(C)に示すように、STO電流波形には、記録電流波形の記録電流立ち上がりに対して電流立ち上がりで時間L2の遅延が発生している。このような記録電流波形とSTO電流波形との位相差が発生している状態で、STO22から高周波磁界に伴う記録電流波形に応じた垂直磁気記録が実行されると、その再生信号波形には歪みが発生することがある。具体的には、図10(D)に示すように、再生信号検出部108により再生された再生信号波形(出力波形)には、位相差(時間L2の遅延)に基づいた歪みが発生する。
そこで、位相補正演算部111は、再生信号保存部110に保存された歪みを含む再生信号に基づいて、タイミング演算部103により記録電流波形と位相差を合わせてタイミング調整されたSTO電流波形の位相を補正する。即ち、図10(E)に示すように、位相補正演算部111は、記録電流波形の記録電流立ち上がりに対してSTO電流波形の電流立ち上がりが一致するように補正する。この結果として、図10(F)に示すように、再生信号検出部108により再生された再生信号波形(出力波形)には、位相差に基づいた歪みを解消することが可能となる。
以上のようにして本実施形態によれば、例えば、リードエラーの発生に伴うリードリトライ動作の前に、歪み検出部109により再生信号波形の歪みを検出する。この再生信号波形の歪みは、記録電流波形とSTO電流波形との位相差が要因の場合には、書き込み動作時に、再生信号の歪みとの相関に基づいて記録電流波形とSTO電流波形との位相差を解消することができる。従って、本実施形態は、低密度領域でのSTO動作を要因とする再生エラー率(BER)を低減させると共に、記録電流波形とSTO電流波形との位相差を要因とする再生信号波形の歪みを解消できる。これにより、確実な垂直磁気記録を実現できる。
[第3の実施形態]
図11は、第3の本実施形態に関する書き込み制御機能を実現する書き込みコントローラの構成を示すブロック図である。なお、ディスクドライブの構成は、前述の図1から図3に示すものと同様のため説明を省略する。
図11は、第3の本実施形態に関する書き込み制御機能を実現する書き込みコントローラの構成を示すブロック図である。なお、ディスクドライブの構成は、前述の図1から図3に示すものと同様のため説明を省略する。
本実施形態は、図8に示す構成において、エラーレート保存部112と,周波数特性保存演算部113とを有する書き込みコントローラである。なお、図8に示す構成要素と同一要素については、同一符号を付して説明を省略する。
本実施形態では、周波数特性保存演算部113は、入力信号周波数判定部102においてSTO電流通電のオン/オフ判定の根拠となる記録密度に応じた周波数判定値(境界周波数)FCを調整できる機能を有する。周波数特性保存演算部113は、当該境界周波数FCと再生エラーレートとの関係を示すデータを保存する。エラーレート保存部112は、再生信号検出部108により再生された再生信号波形のエラーに基づいて算出された再生エラーレートを示すデータを保存する。
周波数特性保存演算部113は、当該境界周波数FCを変化させた際に、エラーレート保存部112に保存された当該境界周波数FCと再生エラーレートとの関係を示す関係データを保存する。さらに、周波数特性保存演算部113は、保存した関係データに基づいて、再生エラーレートが最も優れた最適境界周波数FCを入力信号周波数判定部102に設定する。これにより、入力信号周波数判定部102は、再生エラーレートが最も優れた境界周波数FCに基づいて、STO電流通電のオン/オフを制御したSTO電流波形を決定できることになる。
なお、記録電流波形とSTO電流波形との位相差が要因の場合には、書き込み動作時に、前述した第2の実施形態と同様に、位相補正演算部111により記録電流波形とSTO電流波形との位相差を解消することができる。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
1…磁気ディスク、2…スピンドルモータ(SPM)、3…アクチュエータ、
4…ボイスコイルモータ(VCM)、10…磁気ヘッド、10W…ライトヘッド、
10R…リードヘッド、11…ヘッドアンプ集積回路(ヘッドアンプIC)、
12…リード/ライトチャネル(R/Wチャネル)、
13…ハードディスクコントローラ(HDC)、14…マイクロプロセッサ(MPU)、
15…コントローラ、16…ドライバIC、17…メモリ、20…主磁極、
21…リターン磁極、22…スピントルク発振素子(STO)、
23,24…記録コイル、25,26…端子、
100…記録信号入力部、101…メモリ、102…入力信号周波数判定部、
103…タイミング演算部、104…STO電流制御部、
105、107…アンプ、106…記録コイル電流制御部、
108…再生信号検出部、109…歪み検出部、110…再生信号保存部、
111…位相補正演算部、112…エラーレート保存部、
113…周波数特性保存演算部。
4…ボイスコイルモータ(VCM)、10…磁気ヘッド、10W…ライトヘッド、
10R…リードヘッド、11…ヘッドアンプ集積回路(ヘッドアンプIC)、
12…リード/ライトチャネル(R/Wチャネル)、
13…ハードディスクコントローラ(HDC)、14…マイクロプロセッサ(MPU)、
15…コントローラ、16…ドライバIC、17…メモリ、20…主磁極、
21…リターン磁極、22…スピントルク発振素子(STO)、
23,24…記録コイル、25,26…端子、
100…記録信号入力部、101…メモリ、102…入力信号周波数判定部、
103…タイミング演算部、104…STO電流制御部、
105、107…アンプ、106…記録コイル電流制御部、
108…再生信号検出部、109…歪み検出部、110…再生信号保存部、
111…位相補正演算部、112…エラーレート保存部、
113…周波数特性保存演算部。
Claims (10)
- 入力される記録信号に応じて磁気ディスク上に垂直磁気記録を行なうための記録磁界を発生する主磁極の近傍に配置された高周波アシスト素子を有し、データ記録時に前記高周波アシスト素子から高周波磁界を磁気ディスク上に印加する磁気ヘッドと、
一定間隔毎に前記記録信号の記録密度が基準密度に対して低密度領域又は高密度領域であるかを判定する判定手段と、
前記データ記録時に低密度領域又は高密度領域に応じて前記低密度領域のタイミングで前記高周波アシスト素子に通電させる電流レベルを相対的に前記高密度領域より低下させる制御手段と
を具備するディスク記憶装置。 - 前記判定手段は、
前記一定間隔毎の前記記録信号の平均周波数に基づいて前記低密度領域又は高密度領域であるかを判定する請求項1に記載のディスク記憶装置。 - 前記制御手段は、
前記記録信号に応じた記録電流波形と、前記高周波アシスト素子に通電させる通電電流波形とのタイミングを調整して、前記磁気ヘッドへの電流を供給する手段を含む請求項1または請求項2に記載のディスク記憶装置。 - 前記制御手段は、
前記低密度領域のタイミングで前記高周波アシスト素子への通電をオフし、
前記高密度領域のタイミングで前記高周波アシスト素子への通電をオンする請求項3に記載のディスク記憶装置。 - 前記磁気ヘッドを使用してディスク上から再生信号を検出する手段と、
前記再生信号の歪みを検出する手段と、
前記再生信号の歪みに基づいて、前記記録電流波形と前記通電電流波形との位相差を調整する手段と
を有する請求項3または請求項4に記載のディスク記憶装置。 - 前記判定手段により前記低密度領域又は高密度領域を判定するための境界周波数を調整する手段と、
前記磁気ヘッドを使用してディスク上から再生信号を検出する手段と、
前記再生信号のエラーレートを算出する手段と、
前記エラーレートと前記境界周波数との関係に基づいて最適境界周波数を算出し、前記判定手段に設定する手段と
を有する請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のディスク記憶装置。 - 磁気ディスク上へのデータ記録時に高周波アシスト素子から高周波磁界を前記磁気ディスク上に印加する磁気ヘッドを備えたディスク記憶装置の書き込み制御装置であって、
記録信号に応じた電流を前記磁気ヘッドの記録コイルに流す手段と、
前記高周波アシスト素子に電流を流す手段と、
前記記録信号の低密度領域又は高密度領域に応じて、前記低密度領域での前記高周波アシスト素子に通電させる電流レベルを相対的に前記高密度領域より低下させる制御手段と
を具備する書き込み制御装置。 - 前記判定手段は、
前記一定間隔毎の前記記録信号の平均周波数に基づいて前記低密度領域又は高密度領域であるかを判定する請求項7に記載の書き込み制御装置。 - 前記制御手段は、
前記記録信号に応じた記録電流波形と、前記高周波アシスト素子に通電させる通電電流波形とのタイミングを調整して、前記磁気ヘッドへの電流を供給する手段を含む請求項7または請求項8に記載の書き込み制御装置。 - 入力される記録信号に応じて磁気ディスク上に垂直磁気記録を行なうための記録磁界を発生する主磁極の近傍に配置された高周波アシスト素子を有し、データ記録時に前記高周波アシスト素子から高周波磁界を磁気ディスク上に印加する磁気ヘッドを備えたディスク記憶装置に適用する書き込み制御方法であって、
一定間隔毎に前記記録信号の記録密度が基準密度に対して低密度領域又は高密度領域であるかを判定し、
前記データ記録時に低密度領域又は高密度領域に応じて前記低密度領域のタイミングで前記高周波アシスト素子に通電させる電流レベルを相対的に前記高密度領域より低下させる書き込み制御方法。
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