JP2021009747A - 磁気ディスク装置及びライトデータの調整方法 - Google Patents

Abstract

【課題】アクセス性能を向上可能な磁気ディスク装置及びライトデータの調整方法を提供する。【解決手段】磁気ディスク装置１は、ディスク１０と、ディスクに対してデータをライトし、ディスクからデータをリードするヘッド１５と、ディスクの第１トラックにおいて、第１オーバーライトの第１セクタでは第１セクタにライトするデータの第１記録密度を高め、第１オーバーライトと異なる第２オーバーライトの第２セクタにライトするデータの第２記録密度を低める、コントローラ１３０とを備える。【選択図】図１

Description

本発明の実施形態は、磁気ディスク装置及びライトデータの調整方法に関する。

磁気ディスク装置の磁気ディスク（以下、単に、ディスクと称する）の所定のトラックでは、成膜ムラ等に起因してビットエラーレート（ＢＥＲ）が変化し得る。この所定のトラックにおけるＢＥＲの変化は、ディスクの半径方向の各領域で相違している。ディスクの半径方向に配置された各トラックにおいて、ＢＥＲは、一定になることが望ましい。

米国特許第９０４７９２１号明細書 米国特許第８５４２４５４号明細書 米国特許第９１０５２７９号明細書 米国特許第９０３０７７２号明細書

本発明の実施形態が解決しようとする課題は、アクセス性能を向上可能な磁気ディスク装置及びライトデータの調整方法を提供することである。

本実施形態に係る磁気ディスク装置は、ディスクと、前記ディスクに対してデータをライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、前記ディスクの第１トラックにおいて、第１オーバーライトの第１セクタでは前記第１セクタにライトするデータの第１記録密度を高め、前記第１オーバーライトと異なる第２オーバーライトの第２セクタにライトするデータの第２記録密度を低める、コントローラと、を備える。

本実施形態に係る磁気ディスク装置は、ディスクと、前記ディスクに対してデータをライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、前記ディスクの第１トラックにおいて、基準値よりも低い第１オーバーライトの第１セクタでは前記第１セクタにライトするデータの第１記録能力を高め、前記基準値よりも高い第２オーバーライトの第２セクタにライトするデータの第２記録能力を低める、コントローラと、を備える。

本実施形態に係るライトデータの調整方法は、ディスクと、前記ディスクに対してデータをライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、を備える磁気ディスク装置に適用されるライトデータの調整方法であって、前記ディスクの第１トラックにおいて、第１オーバーライトの第１セクタでは前記第１セクタにライトするデータの第１記録密度を高め、前記ディスクの第１トラックにおいて、前記第１オーバーライトと異なる第２オーバーライトの第２セクタにライトするデータの第２記録密度を低める。

図１は、実施形態に係る磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。 図２は、第１実施形態に係るサーボ領域の配置の一例を示す模式図である。 図３は、第１実施形態に係るサーボセクタの構成の一例を示す模式図である。 図４は、ディスク及びヘッドの一例を示す拡大断面図である。 図５は、ディスクの各ゾーンの各トラックの１周内のＢＥＲの一例を示す図である。 図６は、第１実施形態に係るライトデータ特性値の変化の一例を示す図である。 図７は、第１実施形態に係るライトデータ特性値の調整処理の一例を示す図である。 図８は、隣接領域に対する現在のアクセス領域へのライト処理の影響の一例を示す図である。 図９は、ディスクの所定のトラックの１周内のOn-track BERの変化の一例を示す図である。 図１０は、図９に対応するＯＷ(Overwrite)の変化の一例を示す図である。 図１１は、図９に対応するAdjacent track write BERの変化の一例を示す図である。 図１２は、図９に対応するAdjacent track write BERの変化の一例を示す図である。 図１３は、図９のOn-track BERの変化に対応するトラックにおいて調整ＢＰＩの変化の一例を示す図である。 図１４は、図１３のＢＰＩの変化に基づいて図９のトラックにデータをライトした場合のOn-track BERの変化の一例を示す図である。 図１５は、図１３のＢＰＩの変化に基づいてライトした図９のトラックの隣接トラックにデータをライトした場合のAdjacent track write BERの変化の一例を示す図である。 図１６は、図９のOn-track BERの変化に対応するトラックにおいて調整したＢＰＩの変化の一例を示す図である。 図１７は、図１６のＢＰＩの変化に基づいて図９のトラックにデータをライトした場合のOn-track BERの変化の一例を示す図である。 図１８は、図１６のＢＰＩの変化に基づいてライトした図９のトラックの隣接トラックにデータをライトした場合のAdjacent track write BERの変化の一例を示す図である。 図１９は、第１実施形態に係るＢＰＩの調整方法の一例を示すフローチャートである。 図２０は、第１実施形態に係るＢＰＩの調整方法の一例を示すフローチャートである。 図２１は、記録能力の変更のタイミングの一例を示す図である。 図２２は、変形例１に係るOverwriteの変化の一例を示す図である。 図２３は、図２２のOverwriteの変化に対応するトラックにおいて調整した記録能力の変化の一例を示す図である。 図２４は、図２３のOverwriteの変化に基づいて図２２のトラックにデータをライトした場合のOn-track BERの変化の一例を示す図である。 図２５は、図２３のOverwriteの変化に基づいてライトした図２３のトラックの隣接トラックにデータをライトした場合のAdjacent track write BERの変化の一例を示す図である。 図２６は、図２３のOverwriteの変化に基づいてライトした図２３のトラックの隣接トラックにデータをライトした場合のAdjacent track write BERの変化の一例を示す図である。 図２７は、変形例１に係る記録能力の調整方法の一例を示すフローチャートである。 図２８は、突出していないヘッドの一例を示す図である。 図２９は、突出しているヘッドの一例を示す図である。 図３０は、第２実施形態に係るノーマルサーボ及びショートサーボの配置の一例を示す模式図である。 図３１は、第２実施形態に係るショートサーボセクタの構成の一例を示す模式図である。 図３２は、第２実施形態に係るライトデータ特性値の調整処理の一例を示す図である。 図３３は、第２実施形態に係るライトデータ特性値の調整方法の一例を示すフローチャートである。 図３４は、変形例３に係るライトデータ特性値の調整処理の一例を示す図である。 図３５は、時間間隔に対するライトデータ特性値の変動量の変化の一例を示す図である。 図３６は、変形例３に係るライトデータ特性値の調整方法の一例を示すフローチャートである。

以下、実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図面は、一例であって、発明の範囲を限定するものではない。
（第１実施形態）
図１は、第１実施形態に係る磁気ディスク装置１の構成を示すブロック図である。
磁気ディスク装置１は、後述するヘッドディスクアセンブリ（ＨＤＡ）と、ドライバＩＣ２０と、ヘッドアンプ集積回路（以下、ヘッドアンプＩＣ、又はプリアンプ）３０と、揮発性メモリ７０と、不揮発性メモリ８０と、バッファメモリ（バッファ）９０と、１チップの集積回路であるシステムコントローラ１３０とを備える。また、磁気ディスク装置１は、ホストシステム（以下、単に、ホストと称する）１００と接続される。

ＨＤＡは、磁気ディスク（以下、ディスクと称する）１０と、スピンドルモータ（以下、ＳＰＭと称する）１２と、ヘッド１５を搭載しているアーム１３と、ボイスコイルモータ（以下、ＶＣＭと称する）１４とを有する。ディスク１０は、ＳＰＭ１２に取り付けられ、ＳＰＭ１２の駆動により回転する。アーム１３及びＶＣＭ１４は、アクチュエータを構成している。アクチュエータは、ＶＣＭ１４の駆動により、アーム１３に搭載されているヘッド１５をディスク１０の所定の位置まで移動制御する。ディスク１０およびヘッド１５は、２つ以上の数が設けられてもよい。

ディスク１０は、そのデータをライト可能な領域に、ユーザから利用可能なユーザデータ領域１０ａと、システム管理に必要な情報をライトするシステムエリア１０ｂとが割り当てられている。以下、ディスク１０の半径方向に直交する方向を円周方向と称する。また、ディスク１０の半径方向の所定の位置を半径位置と称し、ディスク１０の円周方向の所定の位置を円周位置と称する場合もある。半径位置及び円周位置をまとめて単に位置と称する場合もある。
ヘッド１５は、スライダを本体として、当該スライダに実装されているライトヘッド１５Ｗとリードヘッド１５Ｒとを備える。ライトヘッド１５Ｗは、ディスク１０にデータをライトする。リードヘッド１５Ｒは、ディスク１０に記録されているデータをリードする。なお、ライトヘッド１５Ｗを単にヘッド１５と称する場合もあるし、リードヘッド１５Ｒを単にヘッド１５と称する場合もあるし、ライトヘッド１５Ｗ及びリードヘッド１５Ｒをまとめてヘッド１５と称する場合もある。ヘッド１５の中心部をヘッド１５と称し、ライトヘッド１５Ｗの中心部をライトヘッド１５Ｗと称し、リードヘッド１５Ｒの中心部をリードヘッド１５Ｒと称する場合もある。「トラック」は、ディスク１０の半径方向に区分した複数の領域の内の１つの領域、ディスク１０の円周方向に延長するデータ、トラックにライトされたデータや、その他の種々の意味で用いる。「セクタ」は、トラックを円周方向に区分した複数の領域の内の１つの領域、ディスク１０の所定の位置にライトされたデータ、セクタにライトされたデータや、その他の種々の意味で用いる。トラックの半径方向の幅をトラック幅と称し、トラック幅の中心位置をトラックセンタと称する。以下、ディスク１０にライトするデータをライトデータと称し、ディスク１０からリードしたデータをリードデータと称する。ライトデータを単にデータと称する場合もあるし、リードデータを単にデータと称する場合もあるし、ライトデータ及びリードデータをデータと称する場合もある。以下、“ディスク１０にデータをライトする“こと、及び”ディスク１０からデータをリードする“こと等を”アクセスする“と称する場合もある。

図２は、第１実施形態に係るサーボ領域ＳＶの配置の一例を示す模式図である。図２に示すように、半径方向において、ディスク１０の外周に向かう方向を外方向（外側）と称し、外方向と反対方向を内方向（内側）と称する。また、図２には、ディスク１０の回転方向を示している。なお、回転方向は逆向きであってもよい。図２において、ユーザデータ領域１０ａは、内方向に位置する内周領域ＩＲと、外方向に位置する外周領域ＯＲと、内周領域ＩＲと外周領域ＯＲとの間に位置する中周領域ＭＲとに区分されている。

ディスク１０は、半径方向に並んでいる複数のトラックを含む。複数のトラックは、それぞれ、円状の経路に相当する。例えば、複数のトラックは、それぞれ、ディスク１０と同心円状に配置されている。なお、複数のトラックは、それぞれ、円状でなくともよい、例えば、半径方向に変動する波状であってもよい。また、複数のトラックは、それぞれ、ディスク１０と同心円状でなくともよい。図２に示した例では、ディスク１０は、トラックＴＲｎを含む。トラックＴＲｎは、ディスク１０と同心円状に配置されている。図２に示した例では、トラックＴＲｎは、中周領域ＭＲに位置している。なお、トラックＴＲｎは、円状でなくともよい。トラックＴＲｎは、ディスク１０と同心円状でなくともよい。また、トラックＴＲｎは、内周領域ＩＲに位置していてもよいし、外周領域ＯＲに位置していてもよい。

ディスク１０は、複数のサーボ領域ＳＶを有している。複数のサーボ領域ＳＶは、複数のトラックに跨ってディスク１０の半径方向に放射状に延出し、円周方向に所定の間隔を空けて離散的に配置されている。サーボ領域ＳＶは、複数のサーボセクタを有している。円周方向で連続して並んでいる２つのサーボ領域ＳＶの間には、ユーザデータ等をライトする領域が配置されている。以下で、２つのサーボ領域ＳＶの間でユーザデータをライトする領域をデータ領域と称する場合もある。所定のトラックにおいて２つのサーボセクタの間でユーザデータをライトする領域をデータ部と称する場合もある。また、サーボセクタとサーボセクタに続くデータ部とをまとめてセクタと称する場合もある。

図３は、本実施形態に係るサーボセクタＳＳの構成の一例を示す模式図である。図３には、所定のトラックＴＲｎにライトされた所定のサーボセクタＳＳを示している。サーボセクタＳＳは、所定のトラックに対応するサーボ領域ＳＶの一部に相当する。図３に示すように、円周方向において、リード／ライトする方向をリード／ライト方向と称する。リード／ライト方向は、例えば、図２に示した回転方向と反対方向に相当する。リード／ライト方向は、前方から後方に向かっている。前方は、時間的に前の方向に相当し、後方は、時間的に後の方向に相当する。以下、前方を単に前又は先と称し、後方を単に後と称する場合もある。

サーボセクタＳＳは、サーボデータ、例えば、プリアンブル（Preamble）、サーボマーク（Servo Mark）、グレイコード（Gray Code）、ＰＡＤ、バーストデータ、及びポストコード（Post Code）を含んでいる。なお、サーボセクタＳＳは、ポストコードを含まなくてもよい。プリアンブル、サーボマーク、グレイコード、ＰＡＤ、バーストデータ、及びポストコードは、これらの順番で、リード／ライト方向の矢印の先端に向かって連続して配置されている。プリアンブルは、サーボマーク及びグレイコードなどで構成されるサーボパターンの再生信号に同期するためのプリアンブル情報を含む。サーボマークは、サーボパターンの開始を示すサーボマーク情報を含む。グレイコードは、所定のトラックのアドレス（シリンダアドレス）と、所定のトラックのサーボセクタのアドレスとから構成される。バーストデータは、所定のトラックのトラックセンタに対するヘッド１５の半径方向及び／又は円周方向の位置ずれ（位置誤差）を検出するために使用されるデータ（相対位置データ）であり、所定の周期の繰り返しパターンから構成される。ＰＡＤは、ギャップ及びサーボＡＧＣなどの同期信号のＰＡＤ情報を含む。バーストデータは、例えば、Ｎバースト(N Burst)及びＱバースト(Q Burst)を含む。ポストコードは、サーボデータをディスクにライトをしたときのディスク１０の回転に同期したブレ（繰り返しランナウト：ＲＲＯ）によって生じるディスク１０と同心円状のトラックセンタ（目標経路）に対するトラックの歪みに起因する誤差を補正するためのデータ（以下、ＲＲＯ補正データと称する）等を含む。

図４は、ディスク１０及びヘッド１５の一例を示す拡大断面図である。以下で、ヘッド１５からディスク１０へ向かう方向を下方向と称し、ディスク１０からヘッド１５へ向かう方向を上方向と称する。図３において、ディスク１０の回転方向Ｂと空気流Ｃの方向とは一致している。

図示した例では、ディスク１０は、基板１１１と、軟磁性層１１２と、磁気記録層１１３と、保護膜層１１４とが順に積層されている。基板１１１は、円板状の非磁性体で形成されている。軟磁性層１１２は、基板１１１の上方に軟磁気特性を示す材料で形成されている。磁気記録層１１３は、軟磁性層１１２の上方にディスク１０の表面に対して垂直方向に磁気異方性を有する。保護膜層１１４は、磁気記録層１１３の上方に形成されている。

図示した例では、ヘッド１５は、スライダ１５０を備えている。スライダ１５０は、例えば、アルミナとチタンカーバイドの焼結体（アルチック）とで形成されている。スライダ１５０は、ディスク１０の表面に対向するディスク対向面（エア・ベアリング・サーフェイス（ＡＢＳ））１５１と、空気流Ｃの流出側に位置するトレーリング端１５３とを有している。リードヘッド１５Ｒおよびライトヘッド１５Ｗの一部は、ディスク対向面１５１に露出している。

リードヘッド１５Ｒは、磁性膜１６１と、シールド膜１６２と、シールド膜１６３とで構成されている。磁性膜１６１は、シールド膜１６２とシールド膜１６３との間に位置し、磁気抵抗効果を生じる。シールド膜１６２は、磁性膜１６１に対してトレーリング端１５３側に位置する。シールド膜１６３は、シールド膜１６２と対向している。磁性膜１６１、シールド膜１６２、及びシールド膜１６３の下端は、ディスク対向面１５１に露出している。

ライトヘッド１５Ｗは、リードヘッド１５Ｒに対して、スライダ１５０のトレーリング端１５３側に設けられている。ライトヘッド１５Ｗは、主磁極１７１と、トレーリングシールド（ライトシールド）１７２と、主磁極１７１に磁束を流すために主磁極１７１およびライトシールド１７２を含む磁気回路に巻きつくように配置された記録コイル１８０を備えている。

主磁極１７１は、高飽和磁束密度を有する軟磁性体からなる。主磁極１７１は、ディスク１０の磁気記録層１１３を磁化させるために、ディスク１０の表面に対して垂直方向の記録磁界を発生させる。図示した例では、主磁極１７１は、ディスク対向面１５１に対してほぼ垂直に延出している。主磁極１７１のディスク対向面１５１側の先端部１７１aの下面は、ディスク対向面１５１に露出している。主磁極１７１の先端部１７１aは、ディスク対向面１５１に向かって先細に絞り込まれ、他の部分に対して幅の狭い柱状に形成されている。主磁極１７１の先端部１７１ａのクロストラック方向の幅は、トラックのトラック幅にほぼ対応している。クロストラック方向は、例えば、半径方向に沿った方向である。

ライトシールド１７２は、高飽和磁束密度を有する軟磁性体からなる。ライトシールド１７２は、主磁極１７１直下の軟磁性層１１２を介して効率的に磁路を閉じるために設けられている。ライトシールド１７２は、主磁極１７１に対してトレーリング端１５３側に位置している。ライトシールド１７２は、絶縁体１７３を介して主磁極１７１に連結している。主磁極１７１とライトシールド１７２とは、電気的に絶縁され、且つ磁気回路を形成している。ライトシールド１７２は、略Ｌ字形状に形成され、主磁極１７１の先端部１７１ａにライトギャップを置いて対向する先端部１７２ａを有している。先端部１７２ａの下面は、スライダ１５０のＡＢＳ１５１に露出している。

記録コイル１８０は、主磁極１７１に磁束を流すために主磁極１７１およびライトシールド１７２を含む磁気回路に巻きつくように設けられている。記録コイル１８０は、例えば、主磁極１７１とライトシールド１７２との間に設けられている。記録コイル１８０に所定の大きさの電流（記録電流、ライト電流、又は記録能力と称する場合もある）が供給されることで、主磁極１７１及びライトシールド１７２に記録磁界が励起される。そのため、主磁極１７１及びライトシールド１７２が磁化される。この磁化された主磁極１７１及びライトシールド１７２を流れる磁束によりディスク１０の磁気記録層１１３の記録ビットの磁化方向を変化させることで、記録能力に応じた磁化パターンをディスク１０に記録する。なお、記録能力は、記録電流（Ｉｗ）、Overshoot、Pattern Dependent Writeの1T Boost、高周波アシスト記録型式のバイアス電圧、及び熱アシスト記録型式のバイアス電圧等を含む。以下、一例として、記録能力を記録電流という意味で用いる場合もある。

ドライバＩＣ２０は、システムコントローラ１３０（詳細には、後述するＭＰＵ６０）の制御に従って、ＳＰＭ１２およびＶＣＭ１４の駆動を制御する。
ヘッドアンプＩＣ（プリアンプ）３０は、リードアンプ及びライトドライバ、例えば、記録能力制御部３１０を備えている。リードアンプは、ディスク１０からリードされたリード信号を増幅して、システムコントローラ１３０（詳細には、後述するリード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル４０）に出力する。記録能力制御部３１０は、ライトヘッド１５Ｗに電気的に接続され、Ｒ／Ｗチャネル４０から出力されるライトデータに対応する記録能力をライトヘッド１５Ｗに供給する。一例では、記録能力制御部３１０は、記録コイル１８０に電気的に接続され、Ｒ／Ｗチャネル４０から出力されるライトデータに対応する記録能力を記録コイル１８０に供給する。記録能力制御部３１０は、システムコントローラ１３０、例えば、ＭＰＵ６０の制御に応じて記録能力をライトヘッド１５Ｗに供給する。例えば、記録能力制御部３１０は、ＭＰＵ６０の制御に応じて記録能力を記録コイル１８０に供給する。

揮発性メモリ７０は、電力供給が断たれると保存しているデータが失われる半導体メモリである。揮発性メモリ７０は、磁気ディスク装置１の各部での処理に必要なデータ等を格納する。揮発性メモリ７０は、例えば、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）、又はＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Access Memory）である。

不揮発性メモリ８０は、電力供給が断たれても保存しているデータを記録する半導体メモリである。不揮発性メモリ８０は、例えば、ＮＯＲ型またはＮＡＮＤ型のフラッシュＲＯＭ（Flash Read Only Memory :ＦＲＯＭ）である。

バッファメモリ９０は、磁気ディスク装置１とホスト１００との間で送受信されるデータ等を一時的に記録する半導体メモリである。なお、バッファメモリ９０は、揮発性メモリ７０と一体に構成されていてもよい。バッファメモリ９０は、例えば、ＤＲＡＭ、ＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）、ＳＤＲＡＭ、ＦｅＲＡＭ（Ferroelectric Random Access memory）、又はＭＲＡＭ（Magnetoresistive Random Access Memory）等である。

システムコントローラ（コントローラ）１３０は、例えば、複数の素子が単一チップに集積されたSystem-on-a-Chip(ＳｏＣ)と称される大規模集積回路（ＬＳＩ）を用いて実現される。システムコントローラ１３０は、リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル４０と、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）５０と、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）６０と、を含む。システムコントローラ１３０は、例えば、ドライバＩＣ２０、ヘッドアンプＩＣ３０、揮発性メモリ７０、不揮発性メモリ８０、バッファメモリ９０、及びホスト１００に電気的に接続されている。

Ｒ／Ｗチャネル４０は、後述するＭＰＵ６０からの指示に応じて、ディスク１０からホスト１００に転送されるリードデータ及びホスト１００から転送されるライトデータの信号処理を実行する。Ｒ／Ｗチャネル４０は、リードデータの信号品質を測定する回路、又は機能を有している。Ｒ／Ｗチャネル４０は、例えば、ヘッドアンプＩＣ３０、ＨＤＣ５０、及びＭＰＵ６０等に電気的に接続されている。

ＨＤＣ５０は、後述するＭＰＵ６０からの指示に応じて、ホスト１００とＲ／Ｗチャネル４０との間のデータ転送を制御する。ＨＤＣ５０は、例えば、Ｒ／Ｗチャネル４０、ＭＰＵ６０、揮発性メモリ７０、不揮発性メモリ８０、及びバッファメモリ９０等に電気的に接続されている。
ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部を制御するメインコントローラである。ＭＰＵ６０は、ドライバＩＣ２０を介してＶＣＭ１４を制御し、ヘッド１５の位置決めを行なうサーボ制御を実行する。また、ＭＰＵ６０は、ドライバＩＣ２０を介してＳＰＭ１２を制御し、ディスク１０を回転させる。ＭＰＵ６０は、ディスク１０へのデータのライト動作を制御すると共に、ライトデータの保存先を選択する。また、ＭＰＵ６０は、ディスク１０からのデータのリード動作を制御すると共に、リードデータの処理を制御する。ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部に接続されている。ＭＰＵ６０は、例えば、ドライバＩＣ２０、Ｒ／Ｗチャネル４０、及びＨＤＣ５０等に電気的に接続されている。

ＭＰＵ６０は、リード／ライト制御部６１０、及びデータ制御部６２０を含む。ＭＰＵ６０は、これら各部、例えば、リード／ライト制御部６１０、及びデータ制御部６２０等の処理をファームウェア上で実行する。なお、ＭＰＵ６０は、これら各部、例えば、リード／ライト制御部６１０及びデータ制御部６２０を回路として備えていてもよい。

リード／ライト制御部６１０は、ホスト１００からのコマンドに従って、データのリード処理及びライト処理を制御する。リード／ライト制御部６１０は、ドライバＩＣ２０を介してＶＣＭ１４を制御し、ヘッド１５をディスク１０の所定の位置に位置決めし、データをリード又はライトする。

データ制御部６２０は、データ、例えば、ライトデータ及びリードデータを制御する。データ制御部６２０は、ディスク１０の所定の記録領域、例えば、ゾーン、トラック、又はセクタのライト特性に基づいて、この記録領域にライトするデータの特性値（以下、ライトデータ特性値と称する）を制御する。ゾーンは、ディスク１０を半径方向に幾つかに区分した領域に相当する。ゾーンは、複数のトラックを含む。なお、ライトデータ特性値を単にライトデータと称する場合もある。また、ライトデータ特性値は、ライトデータ特性値に対応する信号の周波数という意味を含んでいてもよい。

データ制御部６２０は、ディスク１０の所定の記録領域、例えば、ゾーン、トラック、又はセクタのライト特性、例えば、誤り率（ビットエラーレート：ＢＥＲ）に基づいて、この記録領域にライトするデータのライトデータ特性値、例えば、記録密度（Bits Per Inch：ＢＰＩ）を制御する。以下、説明の便宜上、“所定の記録領域にライトしたデータのＢＥＲ”を、単に、“所定の記録領域のＢＥＲ”と称し、“所定の記録領域にライトするデータのＢＰＩ”を、単に、“所定の記録領域のＢＰＩ”と称する場合もある。データ制御部６２０は、所定のトラックの各円周位置、例えば、各セクタのＢＥＲに基づいて、このトラックの各セクタのＢＰＩを制御する。なお、データ制御部６２０は、ディスク１０の所定の記録領域のＢＥＲに基づいて、この記録領域にライトするデータに対応するライトデータ特性値、例えば、記録能力を制御してもよい。以下、説明の便宜上、“所定の記録領域にライトするデータに対応する記録能力”を、単に、“所定の記録領域の記録能力”と称する場合もある。ＢＥＲは、ＢＥＲに対応する信号の周波数という意味を含んでいてもよい。ＢＰＩは、ＢＰＩに対応する信号の周波数という意味を含んでいてもよい。また、記録能力は、記録能力に対応する信号の周波数という意味を含んでいてもよい。

データ制御部６２０は、ディスク１０の所定のトラックの各セクタのＢＥＲをリアルタイムで算出してもよい。なお、データ制御部６２０は、ディスク１０の各トラックの各セクタのＢＥＲを算出し、算出した各トラックの各セクタのＢＥＲを所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。

データ制御部６２０は、ディスク１０の所定の記録領域、例えば、ゾーン、トラック、又はセクタのライト特性、例えば、オーバーライト（以下、Over Write（ＯＷ）と称する場合もある）に基づいて、この記録領域のＢＰＩを制御する。ＯＷは、所定の記録領域、例えば、ゾーン、トラック、又はセクタにライトしたデータ（以下、前データと称する）に他のデータ（以下、後データと称する）を上書きした場合の前データの減衰率に相当する。現在アクセスしている所定の記録領域、例えば、セクタ、トラック、又はゾーン等（以下、現在のアクセス領域と称する場合もある）のＯＷが高い、例えば、基準となるＯＷ（以下、基準ＯＷと称する場合もある）よりも高い場合、現在のアクセス領域にデータをライトした場合の現在のアクセス領域のＢＥＲ（以下、On-track BERと称する）が低く、例えば、基準となるＢＥＲ（以下、基準ＢＥＲと称する場合もある）よりも低くなり得る。言い換えると、現在のアクセス領域のＯＷが基準ＯＷよりも高い場合、On-track BERが改善され得る。以下、ＯＷが基準ＯＷよりも高い領域を高ＯＷ領域と称する場合もある。現在のアクセス領域が高ＯＷ領域である場合、現在のアクセス領域の半径方向に隣接する記録領域（以下、隣接領域と称する）に対する現在のアクセス領域へのライト処理の影響は、大きくなり得る。言い換えると、現在のアクセス領域が高ＯＷ領域である場合、現在のアクセス領域の隣接領域へのライト処理による現在のアクセス領域への影響（以下、隣接ライト処理の影響と称する場合もある）は、大きくなり得る。以下、現在のアクセス領域の隣接領域にデータをライトした場合の現在のアクセス領域のＢＥＲをAdjacent track write BERと称する場合もある。また、“隣接する”ことは、“半径方向において連続して配置されている“ことだけでなく、”実質的に隣り合っているとみなせる距離で離れて配置されている“ことも含む。現在のアクセス領域が高ＯＷ領域である場合、現在のアクセス領域の隣接領域にデータをライトすることにより現在のアクセス領域にライトされたデータを消去する可能性が高くなり得る。つまり、On-track BERが低い記録領域（以下、低On-track BER領域と称する場合もある）の隣接領域（以下、低ＢＥＲ隣接領域と称する場合もある）へのデータのライト回数（以下、隣接ライト回数と称する場合もある）が大きくなるに従って、低On-track BER領域のAdjacent track write BER（以下、低Adjacent track write BERと称する場合もある）は、高くなり得る。言い換えると、低ＢＥＲ隣接領域へのデータの隣接ライト回数が大きくなるに従って、低Adjacent track write BERは、劣化し得る。一方、現在のアクセス領域のＯＷが低い、例えば、基準ＯＷよりも低い場合、On-track BERが高く、例えば、基準ＢＥＲよりも高くなり得る。言い換えると、現在のアクセス領域のＯＷが基準ＯＷよりも低い場合、On-track BERが劣化し得る。以下、ＯＷが基準ＯＷよりも低い領域を低ＯＷ領域と称する場合もある。現在のアクセス領域が低ＯＷ領域である場合、現在のアクセス領域の隣接領域に対する現在のアクセス領域へのライト処理の影響は、低くなり得る。言い換えると、現在のアクセス領域が低ＯＷ領域である場合、隣接ライト処理の影響は、低くなり得る。そのため、現在のアクセス領域が低ＯＷ領域である場合、現在のアクセス領域の隣接領域にデータをライトすることにより現在のアクセス領域にライトされたデータを消去する可能性が低くなり得る。つまり、On-track BERが高い記録領域（以下、高On-track BER領域と称する場合もある）の隣接領域（以下、高ＢＥＲ隣接領域と称する場合もある）へのデータの隣接ライト回数が大きくなるに従って、高On-track BER領域のAdjacent track write BER（以下、高Adjacent track write BERと称する場合もある）は、低くなり得る。言い換えると、高ＢＥＲ隣接領域へのデータのライト回数が大きくなるに従って、高Adjacent track write BERは、低Adjacent track write BERと比較して改善、又は保持され得る。なお、ＯＷは、ＯＷに対応する信号の周波数という意味を含んでいてもよい。

データ制御部６２０は、所定のトラックの各円周位置、例えば、各セクタのＯＷに基づいて、このトラックの各セクタのＢＰＩを制御する。例えば、データ制御部６２０は、現在アクセスしているトラック（以下、アクセストラックと称する場合もある）の１周内においてOn-track BERを均一にする場合、高ＯＷ領域では、この領域のＯＷに基づいてこの領域のＢＰＩをこの領域の現在のＢＰＩよりも高くするように調整（補正又は設定）し、低ＯＷ領域では、この領域のＯＷに基づいてこの領域のＢＰＩをこの領域の現在のＢＰＩよりも低くするように調整（補正又は設定）する。言い換えると、データ制御部６２０は、例えば、アクセストラックの１周内においてOn-track BERを均一にする場合、低On-track BER領域では、この領域のＢＥＲに基づいてこの領域のＢＰＩをこの領域の現在のＢＰＩよりも高くするように調整し、高On-track BER領域では、この領域のＢＥＲに基づいてこの領域のＢＰＩをこの領域の現在のＢＰＩよりも低くするように調整する。 “均一”又は“均等”は、完全に同じであることはもちろんのこと、実質的に同じとみなせる程度にずれていることも含む。

例えば、データ制御部６２０は、アクセストラックの１周内においてAdjacent track write BERを均一にするため、高ＯＷ領域では、この領域のＯＷに基づいてこの領域のＢＰＩをこの領域の現在のＢＰＩよりも低くするように調整（補正又は設定）し、低ＯＷ領域では、この領域のＯＷに基づいてこの領域のＢＰＩをこの領域の現在のＢＰＩよりも高くするように調整（補正又は設定）する。言い換えると、データ制御部６２０は、アクセストラックの１周内においてAdjacent track write BERを均一にするために、低On-track BER領域では、この領域のＢＥＲに基づいてこの領域のＢＰＩをこの領域の現在のＢＰＩよりも低くするように調整し、高On-track BER領域では、この領域のＢＥＲに基づいてこの領域のＢＰＩをこの領域の現在のＢＰＩよりも高くするように調整する。

データ制御部６２０は、ディスク１０の所定のトラックの各セクタのＯＷをリアルタイムで算出してもよい。例えば、データ制御部６２０は、ディスク１０の所定のトラックの各セクタのＢＥＲに基づいてこのトラックの各セクタのＯＷをリアルタイムで算出してもよい。なお、データ制御部６２０は、ディスク１０の各トラックの各セクタのＯＷを算出し、算出した各トラックの各セクタのＯＷを所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に記録してもよい。例えば、データ制御部６２０は、所定のトラックの各セクタのＢＥＲに基づいてこのトラックの各セクタのＯＷを算出し、算出したこのトラックの各セクタのＯＷを所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ及び不揮発性メモリ８０等に記録してもよい。

データ制御部６２０は、アクセストラックにおいて、現在アクセスしている所定のセクタ（以下、現在のセクタと称する）のリード／ライト方向に連続して位置するセクタ（以下、次のセクタと称する）のＢＥＲ又はＯＷに基づいて、次のセクタのＢＰＩを調整（補正又は設定）する。データ制御部６２０は、例えば、所定のトラックから目的とするトラック（以下、ターゲットトラックと称する）の目的とするセクタ（以下、ターゲットセクタと称する）にシークしている際に、ターゲットセクタのＢＥＲ又はＯＷに基づいてターゲットセクタの調整するＢＰＩ（以下、調整ＢＰＩと称する場合もある）を設定（又は算出）し、ターゲットセクタのデータ部に到達する前にターゲットセクタの現在のＢＰＩを調整ＢＰＩに調整（補正又は設定）する。つまり、データ制御部６２０は、例えば、シーク中にアクセス処理（リード／ライト処理）を実行していない領域においてターゲットセクタのＢＥＲ又はＯＷに基づいてターゲットセクタの調整ＢＰＩを設定（又は算出）し、ターゲットセクタのデータ部に到達する前にターゲットセクタの現在のＢＰＩを調整ＢＰＩに調整（補正又は設定）する。所定のトラックからターゲットトラックにシークする場合、所定のトラックの所定のセクタのライトデータ特性値とターゲットトラックのターゲットセクタのライトデータ特性値との差が大きい可能性が高いために、所定のトラックの所定のセクタからターゲットセクタにアクセスするまでの時間内に、ライトデータ特性値の調整が完了しない可能性がある。そのため、データ制御部６２０は、シーク中にターゲットセクタの調整ＢＰＩを設定（又は算出）することで、Overheadを回避する。データ制御部６２０は、例えば、アクセストラックの現在のセクタにおいて、次のセクタのＢＥＲ又はＯＷに基づいて次のセクタの調整ＢＰＩを設定し、次のセクタのデータ部に到達する前に次のセクタの現在のＢＰＩを調整ＢＰＩに調整（補正又は設定）する。

図５は、ディスク１０の各ゾーンの各トラックの１周内のＢＥＲの一例を示す図である。図５は、ディスク１０の各ゾーンで実際に測定したＢＥＲの一例を示している。図５において、横軸は、円周方向を示し、縦軸は、ｌоｇ（ＢＥＲ）を示している。図５の縦軸において、ｌоｇ（ＢＥＲ）は、高の矢印の方向に進むに従って高くなり、低の矢印の方向に進むに従って低くなる。図５には、外周領域ＯＲに位置するＺоｎｅ０、及びＺｏｎｅ１と、中周領域ＭＲに位置するＺоｎｅ１６と、内周領域ＩＲに位置するＺｏｎｅ３１とを示している。図５において、トラックＴＲｋ、トラックＴＲｋ−１、及びトラックＴＲｋ−２は、Ｚｏｎｅ０に位置し、トラックＴＲｊは、Ｚｏｅｎ１に位置している。トラックＴＲｉは、Ｚоｎｅ１６に位置している。また、トラックＴＲｈは、Ｚｏｎｅ３１に位置している。図５には、トラックＴＲｋにおける１周内のｌоｇ（ＢＥＲ）の変化ＢＣ１と、トラックＴＲｋ−１における１周内のｌоｇ（ＢＥＲ）の変化ＢＣ２と、トラックＴＲｋ−２における１周内のｌоｇ（ＢＥＲ）の変化ＢＣ３と、トラックＴＲｊにおける１周内のｌоｇ（ＢＥＲ）の変化ＢＣ４と、トラックＴＲｉにおける１周内のｌоｇ（ＢＥＲ）の変化ＢＣ５と、トラックＴＲｈにおける１周内のｌоｇ（ＢＥＲ）の変化ＢＣ６とを示している。

ディスク１０では、成膜ムラ等により各記録領域のＢＥＲが変化し得る。例えば、所定のトラックの1周内のＢＥＲの変化は、正弦波で近似可能である。また、クランパによりディスク１０の内側が締め付けられているために、内周領域ＩＲと外周領域ＯＲとでは、所定のトラックの１周内のＢＥＲの変化が異なる。図５に示した例では、トラックＴＲｋ−２乃至ＴＲｋの１周内のｌоｇ（ＢＥＲ）の変化ＢＣ１、ＢＣ２、及びＢＣ３は、１周期の正弦波に相当するが、トラックＴＲｈのｌоｇ（ＢＥＲ）の１周内の変化ＢＣ６は、２周期の正弦波に相当する。図５に示すように、ディスク１０の所定のトラックの１周内のＢＥＲの変化は、正弦波で近似することが可能である。そのため、データ制御部６２０は、ディスク１０の所定のトラックの１周内のＢＥＲの変化を正弦波近似で算出してもよい。例えば、データ制御部６２０は、ディスク１０の所定のトラックの１周内のＢＥＲの変化をこの所定のトラックにアクセス時にリアルタイムで正弦波近似により算出してもよい。また、データ制御部６２０は、ディスク１０の各トラックの１周内のＢＥＲの変化を正弦波近似により算出し、算出した各トラックの１周内のＢＥＲの変化を所定の保存領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ、及び不揮発性メモリ８０等に記録していてもよい。

図６は、本実施形態に係るライトデータ特性値の変化の一例を示す図である。図６において、横軸は、円周方向を示し、縦軸は、ライトデータ特性値を示している。ライトデータ特性値は、例えば、ＢＰＩ及び記録能力等を含む。図６の横軸には、開始位置ＳＰと終了位置ＥＰとを示している。開始位置ＳＰは、所定のアクセストラックでアクセス処理を開始した位置に相当する。終了位置ＥＰは、所定のアクセストラックでアクセス処理を終了した位置に相当する。開始位置ＳＰと終了位置ＥＰとは、例えば、同じである。図６の縦軸において、ライトデータ特性値は、原点（＝０）よりも正の矢印の方向に進むに従って正の値の方向へ大きくなり、原点よりも負の値の矢印の方向に進むに従って負の値の方向へ小さくなる。図６には、外周領域ＯＲの所定のアクセストラックの１周内のライトデータ特性値の変化ＴＣ１と、内周領域ＩＲの所定のアクセストラックの１周内のライトデータ特性値の変化ＴＣ２とを示している。ライトデータ特性値の変化は、各円周位置、例えば、各セクタにおける各ライトデータ特性値に相当する。

データ制御部６２０は、所定のアクセストラックの１周内においてOn-track BER又はAdjacent track write BERを均一にするために、このアクセストラックの１周内のライト特性の変化に基づいて、このアクセストラックの１周内のライトデータ特性値を、例えば、正弦波近似して算出する。例えば、データ制御部６２０は、所定のアクセストラックの１周内においてOn-track BER又はAdjacent track write BERを均一にするために、このアクセストラックの各セクタの各ＢＥＲに基づいて、以下の式により各セクタにおける各ライトデータ特性値を算出し、各セクタにおいて算出した各ライトデータ特性値に調整する。
ΔＷＶ＝Ａ×ｓｉｎ（ＰＤ×２π×１／ＳＶＳ×（ＳＶＮ−（ＷＳ＋ＳＶＳ／４／ＰＤ））） 式（１）
ここで、ΔＷＶは、ライトデータ特性値（ライトデータ特性値の変化）であり、Ａは、ライトデータ特性値のゲイン（又は、振幅）であり、ＰＤは、ライトデータ特性値の変化の周期であり、ＷＳは、所定のライトトラックにおいて最もＳＮ比（signal to noise ratio）の低いセクタ番号であり、ＳＶＳは、所定のアクセストラックの１周内のセクタの数であり、ＳＶＮは、対象とするセクタ（以下、対象セクタと称する）のセクタ番号である。式（１）に示すように、データ制御部６２０は、正弦波近似を実行する際に、振幅、位相、及び周期をセクタ毎に調整できる。例えば、式（１）に示すように、データ制御部６２０は、正弦波近似を実行する際に、各セクタにおいて、ライトデータ特性値の変化の振幅、位相、及び周期を個別に調整できる。データ制御部６２０は、外周領域ＯＲの各セクタのライトデータ特性値の変化の周期、例えば、１周期よりも大きい内周領域ＩＲの各セクタのライトデータ特性値の変化の周期、例えば、２周期を調整できる。

データ制御部６２０は、例えば、外周領域ＯＲの所定のアクセストラックの各セクタのＢＥＲに基づいて、式（１）によりライトデータ特性値の変化ＴＣ１を算出し、算出したライトデータ特性値の変化ＴＣ１に基づいて、このアクセストラックの各セクタの各ライトデータ特性値を調整する。
データ制御部６２０は、例えば、内周領域ＩＲに位置するアクセストラックの各セクタのＢＥＲに基づいて、式（１）によりライトデータ特性値の変化ＴＣ２を算出し、算出したライトデータ特性値の変化ＴＣ２に基づいて、このアクセストラックの各セクタの各ライトデータ特性値を調整する。

図７は、本実施形態に係るライトデータ特性値の調整処理の一例を示す図である。図７において、横軸は、円周方向及び時間を示している。図７には、トラックＴＲｎと、サーボ制御の状態と、ライトデータ特性値と、リードゲート（ＲＧ）／ライトゲート（ＷＧ）とを示している。トラックＴＲｎは、複数のセクタＳＣ（ＳＣ１、ＳＣ２、ＳＣ３、ＳＣ４…）を含む。複数のセクタＳＣは、それぞれ、複数のサーボセクタＳＳ（ＳＳ１、ＳＳ２、ＳＳ３、ＳＳ４…）と、複数のデータ部ＤＳ（ＤＳ１、ＤＳ２、ＤＳ３、ＤＳ４…）とを含む。セクタＳＣ１乃至ＳＣ４は、リード／ライト方向に沿ってこれらの順番に配置されている。セクタＳＣ１は、サーボセクタＳＳ１と、データ部ＤＳ１とを含む。セクタＳＣ２は、サーボセクタＳＳ２と、データ部ＤＳ２とを含む。セクタＳＣ３は、サーボセクタＳＳ３と、データ部ＤＳ３とを含む。セクタＳＣ４は、サーボセクタＳＳ４と、データ部ＤＳ４とを含む。サーボセクタＳＳ１乃至ＳＳ４は、リード／ライト方向に沿ってこれらの順番に間隔を置いて配置されている。サーボセクタＳＳ１は、サーボ領域ＳＶ１に含まれ、サーボセクタＳＳ２は、サーボ領域ＳＶ２に含まれ、サーボセクタＳＳ３は、サーボ領域ＳＶ３に含まれ、サーボセクタＳＳ４は、サーボ領域ＳＶ４に含まれている。図７において、サーボセクタＳＳ１の円周方向の幅（以下、単に、サーボセクタの幅と称する）ＳＷ１と、サーボセクタＳＳ２の幅ＳＷ２と、サーボセクタＳＳ３の幅ＳＷ３と、サーボセクタＳＳ４の幅ＳＷ４とは、同じである。なお、幅ＳＷ１乃至ＳＷ４は、それぞれ、異なっていてもよい。データ部ＤＳ１乃至ＤＳ４は、リード／ライト方向に沿ってこれらの順番に間隔を置いて配置されている。データ部ＤＳ１は、サーボセクタＳＳ１及びＳＳ２の間に位置し、データ部ＤＳ２は、サーボセクタＳＳ２及びＳＳ３の間に位置し、データ部ＤＳ３は、サーボセクタＳＳ３及びＳＳ４の間に位置し、データ部ＤＳ４は、サーボセクタ４のリード／ライト方向の後方に位置している。図７の横軸には、タイミングＴ１、Ｔ２、Ｔ３、Ｔ４、Ｔ５、Ｔ６、Ｔ７、Ｔ８、Ｔ９、及びＴ１０と、タイミングＳＴ１、ＳＴ２、ＳＴ３、ＳＴ４、ＳＴ５、及びＳＴ６とを示している。タイミングＴ２は、タイミングＴ１よりも後のタイミングに相当し、タイミングＴ３は、タイミングＴ２よりも後のタイミングに相当し、タイミングＴ４は、タイミングＴ３よりも後のタイミングに相当し、タイミングＴ５は、タイミングＴ４よりも後のタイミングに相当し、タイミングＴ６は、タイミングＴ５よりも後のタイミングに相当し、タイミングＴ７は、タイミングＴ６よりも後のタイミングに相当し、タイミングＴ８は、タイミングＴ７よりも後のタイミングに相当し、タイミングＴ９は、タイミングＴ８よりも後のタイミングに相当し、タイミングＴ１０は、タイミングＴ９よりも後のタイミングに相当する。タイミングＳＴ１は、タイミングＴ１及びＴ２の間のタイミングであり、サーボセクタＳＳ２の円周方向の先端位置（以下、単に、先端位置と称する）に対応している。タイミングＳＴ２は、タイミングＴ２及びＴ３の間のタイミングであり、サーボセクタＳＳ２の円周方向の先端位置と反対側の後端位置（以下、単に、後端位置と称する）に対応している。タイミングＳＴ３は、タイミングＴ３及びＴ４の間のタイミングであり、サーボセクタＳＳ３の先端位置に対応している。タイミングＳＴ４は、タイミングＴ５及びＴ６の間のタイミングであり、サーボセクタＳＳ３の後端位置に対応している。タイミングＳＴ５は、タイミングＴ７及びＴ８の間のタイミングであり、サーボセクタＳＳ４の先端位置に対応している。タイミングＳＴ６は、タイミングＴ９及びＴ１０の間のタイミングであり、サーボセクタＳＳ４の後端位置に対応している。図７において、サーボ制御の状態は、シークとトラックＴＲｎへのオントラックとの切り替えのタイミングを示している。図７に示した例では、シークとオントラックとは、タイミングＴ３で切り替えられている。図７において、ライトデータ特性値は、ライトデータ特性値の変化を示している。図７において、ＲＧ／ＷＧは、アクセスのタイミングを示している。

データ制御部６２０は、トラックＴＲｎ以外の他のトラックからトラック（ターゲットトラック）ＴＲｎにシークを開始した際に、ライトデータ特性値、例えば、ＢＰＩ又は記録能力を調整する。図７に示した例では、データ制御部６２０は、ターゲットトラックＴＲｎ以外の他のトラックからターゲットトラックＴＲｎのセクタ（ターゲットセクタ）ＳＣ２にシークを開始した際に、ライトデータ特性値を０にする。データ制御部６２０は、ターゲットセクタＳＣ２のデータ部ＤＳ２のＢＥＲに基づいてデータ部ＤＳ２の調整するライトデータ特性値（以下、調整特性値と称する場合もある）を設定（又は算出し）、データ部ＤＳ２にデータをライトする前にデータ部ＤＳ２の現在のライトデータ特性値を調整特性値に調整する。図７に示した例では、データ制御部６２０は、シーク中にデータ部ＤＳ２のＢＥＲに基づいてデータ部ＤＳ２の調整特性値を設定し、タイミングＴ１にデータ部ＤＳ２の現在のライトデータ特性値から調整特性値への調整を開始し、サーボセクタＳＳ２に対応するタイミングＴ２にデータ部ＤＳ２の現在のライトデータ特性値から調整特性値への調整を完了する。データ制御部６２０は、ターゲットトラックＴＲｎにオントラックし、ターゲットトラックＴＲｎにアクセスし、次のセクタのデータ部のＢＥＲに基づいて次のセクタのデータ部の調整特性値を設定し、次のセクタのサーボセクタの幅に相当する時間間隔内で次のセクタのデータ部の現在のライトデータ特性値を調整特性値に調整する。図７に示した例では、データ制御部６２０は、タイミングＴ３でターゲットトラックＴＲｎのデータ部ＤＳ２にオントラックし、データ部ＤＳ３のＢＥＲに基づいてデータ部ＤＳ３の調整特性値を設定し、サーボセクタＳＳ３に対応するタイミングＴ４にデータ部ＤＳ３の現在のライトデータ特性値から調整特性値への調整を開始し、サーボセクタＳＳ３に対応するタイミングＴ５にデータ部ＤＳ３の現在のライトデータ特性値から調整特性値への調整を完了する。データ制御部６２０は、タイミングＴ６でターゲットトラックＴＲｎのデータ部ＤＳ３へのアクセスを開始し、データ部ＤＳ４のＢＥＲに基づいてデータ部ＤＳ４の調整特性値を設定し、タイミングＴ７でターゲットトラックＴＲｎのデータ部ＤＳ３へのアクセスを終了し、サーボセクタＳＳ４に対応するタイミングＴ８にデータ部ＤＳ４の現在のライトデータ特性値から調整特性値への調整を開始し、サーボセクタＳＳ４に対応するタイミングＴ９にデータ部ＤＳ４の現在のライトデータ特性値から調整特性値への調整を完了し、タイミングＴ１０でデータ部ＤＳ４へのアクセスを開始する。

図８は、隣接領域に対する現在のアクセス領域へのライト処理の影響の一例を示す図である。図８には、半径方向に間隔を置いて連続して並べられているトラックＴＲｎ−１、ＴＲｎ、及びＴＲｎ＋１を示している。

図８に示した例では、データ制御部６２０は、現在アクセスしているトラックＴＲｎの１周内においてOn-track BERを均一にするために、トラックＴＲｎの高ＯＷ領域ではＯＷに基づいてＢＰＩを高くするように調整し、トラックＴＲｎの低ＯＷ領域ではＯＷに基づいてＢＰＩを基準ＢＰＩよりも低くなるように調整する。言い換えると、データ制御部６２０は、現在アクセスしているトラックＴＲｎの１周内においてOn-track BERを均一にするために、低On-track BER領域では、ＢＥＲに基づいてＢＰＩを高くするように調整し、高On-track BER領域では、ＢＥＲに基づいてＢＰＩを低くするように調整する。

図８に示した例では、データ制御部６２０は、現在アクセスしているトラックＴＲｎの１周内においてAdjacent track write BER、つまり、トラックＴＲｎ−１及びＴＲｎ＋１にデータをライトした場合のトラックＴＲｎのＢＥＲを均一にするために、トラックＴＲｎの高ＯＷ領域ではＯＷに基づいてＢＰＩを低くするように調整し、低ＯＷ領域ではＯＷに基づいてＢＰＩを低くするように調整する。言い換えると、データ制御部６２０は、アクセストラックの１周内においてAdjacent track write BERを均一にするために、低On-track BER領域では、ＢＥＲに基づいてＢＰＩを低くするように調整し、高On-track BER領域では、ＢＥＲに基づいてＢＰＩを低くするように調整する。

図９は、ディスク１０の所定のトラックの１周内のOn-track BERの変化ＯＢＬ１の一例を示す図である。図９において、横軸は、円周方向を示し、縦軸は、On-track BERを示している。図９の縦軸において、On-track BERは、高の矢印の方向に従って高くなり、低の矢印の方向に進むに従って低くなる。図９に示したOn-track BERの変化ＯＢＬ１は、例えば、成膜ムラ等により生じ得る。図９に示したOn-track BERの変化ＯＢＬ１は、ＢＰＩの補正や調整が実行されていない所定のトラックのOn-track BERの変化に相当する。
図９に示した例では、On-track BERの変化ＯＢＬ１は、開始位置ＳＰから終了位置ＥＰまで正弦波状になっている。

図１０は、図９に対応するＯＷ(Overwrite)の変化ＯＷＬ１の一例を示す図である。図１０において、横軸は、円周方向を示し、縦軸は、ＯＷを示している。図１０の縦軸において、ＯＷは、高の矢印の方向に従って高くなり、低の矢印の方向に進むに従って低くなる。
図１０に示した例では、ＯＷの変化ＯＷＬ１は、開始位置ＳＰから終了位置ＥＰまで波状になっている。ＯＷの変化ＯＷＬ１は、On-track BERの変化ＯＢＬ１が反転した形状になっている。

図１１は、図９に対応するAdjacent track write BERの変化ＡＷＢ１の一例を示す図である。図１１において、横軸は、円周方向を示し、縦軸は、Adjacent track write BERを示している。図１１の縦軸において、Adjacent track write BERは、高の矢印の方向に従って高くなり、低の矢印の方向に進むに従って低くなる。図１１において、Adjacent track write BERの変化ＡＷＢ１は、図９のトラックの隣接トラックに数十回、例えば、１０回のライト処理が実行された場合の図９のトラックのＢＥＲの１周内の変化に相当する。
図１１に示した例では、Adjacent track write BERの変化ＡＷＢ１は、開始位置ＳＰから終了位置ＥＰまで波状になっている。Adjacent track write BERの変化ＡＷＢ１は、ＯＷの変化ＯＷＬ１と同じような形状である。

図１２は、図９に対応するAdjacent track write BERの変化ＡＷＢ２の一例を示す図である。図１２において、横軸は、円周方向を示し、縦軸は、Adjacent track write BERを示している。図１２の縦軸において、Adjacent track write BERは、高の矢印の方向に従って高くなり、低の矢印の方向に進むに従って低くなる。図１２において、Adjacent track write BERの変化ＡＷＢ２は、図９のトラックの隣接トラックに数千回、例えば、１０００回のライト処理が実行された場合の図９のトラックのＢＥＲの１周内の変化に相当する。
図１２に示した例では、Adjacent track write BERの変化ＡＷＢ２は、開始位置ＳＰから終了位置ＥＰまで波状になっている。Adjacent track write BERの変化ＡＷＢ２は、Adjacent track write BERの変化ＡＷＢ１よりも振幅が大きい。

図１３は、図９のOn-track BERの変化ＯＢＬ１に対応するトラックにおいて調整ＢＰＩの変化ＢＰＬ１の一例を示す図である。図１３において、横軸は、円周方向を示し、縦軸は、ＢＰＩを示している。図１３の縦軸において、ＢＰＩは、高の矢印の方向に従って高くなり、低の矢印の方向に進むに従って低くなる。
データ制御部６２０は、図９のOn-track BERの変化ＯＢＬ１の低い領域（低On-track BER領域）では、図１３に示すように、この領域のＢＥＲに基づいてこの領域のＢＰＩを高くし、図９のOn-track BERの変化ＯＢＬ１の高い領域（高On-track BER領域）では、図１３に示すように、この領域のＢＥＲに基づいてこの領域のＢＰＩを低くする。言い換えると、データ制御部６２０は、図１０のＯＷの変化ＯＷＬ１の高い領域（高ＯＷ領域）では、図１３に示すように、この領域のＯＷに基づいてこの領域のＢＰＩを高くし、図１０のＯＷの変化ＯＷＬ１の低い領域（低ＯＷ領域）では、図１３に示すように、この領域のＯＷに基づいてこの領域のＢＰＩを低くする。このように、図９のOn-track BERの変化ＯＢＬ１に対応するトラックの各セクタでＢＰＩを調整することにより、このトラックのＢＰＩの変化は、図１３に示したＢＰＩの変化ＢＰＬ１となる。

図１４は、図１３のＢＰＩの変化ＢＰＬ１に基づいて図９のトラックにデータをライトした場合のOn-track BERの変化ＯＢＬ２の一例を示す図である。図１４において、横軸は、円周方向を示し、縦軸は、On-track BERを示している。図１４の縦軸において、On-track BERは、高の矢印の方向に進む従って高くなり、低の矢印の方向に進むに従って低くなる。
図１４に示すように、図１３のＢＰＩの変化ＢＰＬ１に基づいて図９のトラックにデータをライトした場合、図９のトラックのOn-track BERの変化ＯＢＬ２は、１周内で均一となり得る。

図１５は、図１３のＢＰＩの変化ＢＰＬ１に基づいてライトした図９のトラックの隣接トラックにデータをライトした場合のAdjacent track write BERの変化ＡＷＢ３の一例を示す図である。図１５において、横軸は、円周方向を示し、縦軸は、Adjacent track write BERを示している。図１５の縦軸において、Adjacent track write BERは、高の矢印の方向に従って高くなり、低の矢印の方向に進むに従って低くなる。図１５において、Adjacent track write BERの変化ＡＷＢ３は、図１３及び図１４に対応するトラックの隣接トラックに数千回、例えば、１０００回のライト処理が実行された場合の図１３及び図１４に対応するトラックのＢＥＲの１周内の変化に相当する。

図９のOn-track BERの変化ＯＢＬ１の低い領域（低On-track BER領域）では、図１５に示すように、Adjacent track write BERの変化ＡＷＢ３は、高くなり、図９のOn-track BERの変化ＯＢＬ１の高い領域（高On-track BER領域）では、図１５に示すように、Adjacent track write BERの変化ＡＷＢ３は、低くなっている。言い換えると、図１０のＯＷの変化ＯＷＬ１の高い領域（高ＯＷ領域）では、図１５に示すように、Adjacent track write BERの変化ＡＷＢ３は、高くなり、図１０のＯＷの変化ＯＷＬ１の低い領域（低ＯＷ領域）では、図１５に示すように、Adjacent track write BERの変化ＡＷＢ３は、低くなっている。

図１６は、図９のOn-track BERの変化ＯＢＬ１に対応するトラックにおいて調整したＢＰＩの変化ＢＰＬ２の一例を示す図である。図１６において、横軸は、円周方向を示し、縦軸は、ＢＰＩを示している。図１６の縦軸において、ＢＰＩは、高の矢印の方向に従って高くなり、低の矢印の方向に進むに従って低くなる。
データ制御部６２０は、図９のOn-track BERの変化ＯＢＬ１の低い領域（低On-track BER領域）では、図１６に示すように、この領域のＢＥＲに基づいてこの領域のＢＰＩを低くし、図９のOn-track BERの変化ＯＢＬ１の高い領域（高On-track BER領域）では、図１６に示すように、この領域のＢＥＲに基づいてこの領域のＢＰＩを高くする。言い換えると、データ制御部６２０は、図１０のＯＷの変化ＯＷＬ１の高い領域（高ＯＷ領域）では、図１６に示すように、この領域のＯＷに基づいてこの領域のＢＰＩを低くし、図１０のＯＷの変化ＯＷＬ１の低い領域（低ＯＷ領域）では、図１６に示すように、この領域のＯＷに基づいてこの領域のＢＰＩを高くする。

図１７は、図１６のＢＰＩの変化ＢＰＬ２に基づいて図９のトラックにデータをライトした場合のOn-track BERの変化ＯＢＬ３の一例を示す図である。図１７において、横軸は、円周方向を示し、縦軸は、On-track BERを示している。図１７の縦軸において、On-track BERは、高の矢印の方向に進む従って高くなり、低の矢印の方向に進むに従って低くなる。
図９のOn-track BERの変化ＯＢＬ１の低い領域（低On-track BER領域）では、図１７に示すように、On-track BERの変化ＯＢＬ３は、低くなり、図９のOn-track BERの変化ＯＢＬ１の高い領域（高On-track BER領域）では、図１７に示すように、On-track BERの変化ＯＢＬ３は、高くなっている。言い換えると、図１０のＯＷの変化ＯＷＬ１の高い領域（高ＯＷ領域）では、図１７に示すように、On-track BERの変化ＯＢＬ３は、低くなり、図１０のＯＷの変化ＯＷＬ１の低い領域（低ＯＷ領域）では、図１７に示すように、On-track BERの変化ＯＢＬ３は、高くなっている。

図１８は、図１６のＢＰＩの変化ＢＰＬ２に基づいてライトした図９のトラックの隣接トラックにデータをライトした場合のAdjacent track write BERの変化ＡＷＢ４の一例を示す図である。図１８において、横軸は、円周方向を示し、縦軸は、Adjacent track write BERを示している。図１８の縦軸において、Adjacent track write BERは、高の矢印の方向に従って高くなり、低の矢印の方向に進むに従って低くなる。図１８において、Adjacent track write BERの変化ＡＷＢ４は、図１６及び図１７に対応するトラックの隣接トラックに数千回、例えば、１０００回のライト処理が実行された場合の図１６及び図１７に対応するトラックのＢＥＲの１周内の変化に相当する。
図１８に示すように、図１６のＢＰＩの変化ＢＰＬ２に基づいてライトした図９のトラックの隣接トラックにデータをライトした場合、図９のトラックのAdjacent track write BERの変化ＡＷＢ４は、１周内で均一となり得る。

図１９は、本実施形態に係るＢＰＩの調整方法の一例を示すフローチャートである。図１９は、所定のトラックの１周内でOn-track BERを均一化するためのこのトラックのＢＰＩの調整方法の一例を示している。
システムコントローラ１３０は、シーク中にＢＰＩを調整する（Ｂ１９０１）。例えば、システムコントローラ１３０は、シーク中にターゲットセクタのＢＥＲ又はＯＷに基づいてターゲットセクタの調整ＢＰＩを設定し、ターゲットセクタのデータ部に到達する前にターゲットセクタの現在のＢＰＩから調整ＢＰＩへの調整を開始し、ターゲットセクタのサーボセクタの幅に対応する時間間隔内でターゲットセクタの現在のＢＰＩから調整ＢＰＩへの調整を完了する。システムコントローラ１３０は、ターゲットセクタが高ＯＷ領域であるか低ＯＷ領域であるかを判定する（Ｂ１９０２）。言い換えると、システムコントローラ１３０は、ターゲットセクタが低On-track BER領域であるか高On-track BER領域であるかを判定する。ターゲットセクタが高ＯＷ領域であると判定した場合（Ｂ１９０２の高ＯＷ領域）、システムコントローラ１３０は、このターゲットセクタのＯＷに基づいてこのターゲットセクタのＢＰＩを高くするように調整する（Ｂ１９０３）。言い換えると、ターゲットセクタが低On-track BER領域であると判定した場合、システムコントローラ１３０は、このターゲットセクタのＢＥＲを算出し、算出したターゲットセクタのＢＥＲに基づいてこのターゲットセクタのＢＰＩを高くするように調整する。ターゲットセクタが低ＯＷ領域であると判定した場合（Ｂ１９０２の低ＯＷ領域）、システムコントローラ１３０は、このターゲットセクタのＯＷに基づいてこのターゲットセクタのＢＰＩを低くするように調整する（Ｂ１９０４）。言い換えると、ターゲットセクタが高On-track BER領域であると判定した場合、システムコントローラ１３０は、このターゲットセクタのＢＥＲを算出し、算出したターゲットセクタのＢＥＲに基づいてこのターゲットセクタのＢＰＩを低くするように調整する。

システムコントローラ１３０は、次のセクタのＢＰＩを調整する（Ｂ１９０５）。例えば、システムコントローラ１３０は、現在のセクタにおいて、次のセクタのＢＥＲ又はＯＷに基づいて次のセクタの調整ＢＰＩを設定し、次のセクタのデータ部に到達する前に次のセクタの現在のＢＰＩから調整ＢＰＩへの調整を開始し、サーボセクタの幅に対応する時間間隔内で次のセクタの現在のＢＰＩから調整ＢＰＩへの調整を完了する。システムコントローラ１３０は、次のセクタが高ＯＷ領域であるか低ＯＷ領域であるかを判定する（Ｂ１９０６）。次のセクタが高ＯＷ領域であると判定した場合（Ｂ１９０６の高ＯＷ領域）、システムコントローラ１３０は、この次のセクタのＯＷに基づいてこの次のセクタのＢＰＩを高くするように調整し（Ｂ１９０７）、処理を終了する。次のセクタが低ＯＷ領域であると判定した場合（Ｂ１９０６の低ＯＷ領域）、システムコントローラ１３０は、この次のセクタのＯＷに基づいてこの次のセクタのＢＰＩを低くするように調整し（Ｂ１９０８）、処理を終了する。

図２０は、本実施形態に係るＢＰＩの調整方法の一例を示すフローチャートである。図２０は、所定のトラックの１周内でAdjacent track write BERを均一化するためのこのトラックのＢＰＩの調整方法の一例を示している。

システムコントローラ１３０は、シーク中にＢＰＩを調整し（Ｂ１９０１）、ターゲットセクタが高ＯＷ領域であるか低ＯＷ領域であるかを判定する（Ｂ１９０２）。ターゲットセクタが高ＯＷ領域であると判定した場合（Ｂ１９０２の高ＯＷ領域）、システムコントローラ１３０は、このターゲットセクタのＯＷに基づいてこのターゲットセクタのＢＰＩを低くするように調整する（Ｂ２００１）。言い換えると、ターゲットセクタが低On-track BER領域であると判定した場合、システムコントローラ１３０は、このターゲットセクタのＢＥＲを算出し、算出したターゲットセクタのＢＥＲに基づいてこのターゲットセクタのＢＰＩを低くするように調整する。ターゲットセクタが低ＯＷ領域であると判定した場合（Ｂ１９０２の低ＯＷ領域）、システムコントローラ１３０は、このターゲットセクタのＯＷに基づいてこのターゲットセクタのＢＰＩを高くするように調整する（Ｂ２００２）。言い換えると、ターゲットセクタが高On-track BER領域であると判定した場合、システムコントローラ１３０は、このターゲットセクタのＢＥＲを算出し、算出したターゲットセクタのＢＥＲに基づいてこのターゲットセクタのＢＰＩを高くするように調整する。

システムコントローラ１３０は、次のセクタのＢＰＩを調整し（Ｂ１９０５）、次のセクタが高ＯＷ領域であるか低ＯＷ領域であるかを判定する（Ｂ１９０６）。次のセクタが高ＯＷ領域であると判定した場合（Ｂ１９０６の高ＯＷ領域）、システムコントローラ１３０は、この次のセクタのＯＷに基づいてこの次のセクタのＢＰＩを低くするように調整し（Ｂ２００３）、処理を終了する。次のセクタが低ＯＷ領域であると判定した場合（Ｂ１９０６の低ＯＷ領域）、システムコントローラ１３０は、この次のセクタのＯＷに基づいてこの次のセクタのＢＰＩを高くするように調整し（Ｂ２００４）、処理を終了する。

本実施形態によれば、磁気ディスク装置１は、シーク中にターゲットセクタのＢＥＲ又はＯＷに基づいてターゲットセクタの調整ＢＰＩを設定し、ターゲットセクタのデータ部に到達する前にターゲットセクタの現在のＢＰＩから調整ＢＰＩへの調整を開始し、ターゲットセクタのサーボセクタの幅に対応する時間間隔内でターゲットセクタの現在のＢＰＩから調整ＢＰＩへの調整を完了する。また、磁気ディスク装置１は、現在のセクタにおいて、次のセクタのＢＥＲ又はＯＷに基づいて次のセクタの調整ＢＰＩを設定し、次のセクタにデータ部に到達する前に次のセクタの現在のＢＰＩから調整ＢＰＩへの調整を開始し、次のセクタのサーボセクタの幅に対応する時間間隔内で次のセクタの現在のＢＰＩから調整ＢＰＩへの調整を完了する。磁気ディスク装置１は、所定のトラックの１周内においてOn-track BERを均一にする場合、高ＯＷ領域では、この領域のＯＷに基づいてこの領域のＢＰＩをこの領域の現在のＢＰＩよりも高くするように調整し、低ＯＷ領域では、この領域のＯＷに基づいてこの領域のＢＰＩをこの領域の現在のＢＰＩよりも低くするように調整する。言い換えると、磁気ディスク装置１は、所定のトラックの１周内においてOn-track BERを均一にする場合、低On-track BER領域では、この領域のＢＥＲを算出し、算出したＢＥＲに基づいてこの領域のＢＰＩをこの領域の現在のＢＰＩよりも高くするように調整し、高On-track BER領域では、この領域のＢＥＲを算出し、算出したＢＥＲに基づいてこの領域のＢＰＩをこの領域の現在のＢＰＩよりも低くするように調整する。磁気ディスク装置１は、所定のトラックの１周内においてAdjacent track write BERを均一にする場合、高ＯＷ領域では、この領域のＯＷに基づいてこの領域のＢＰＩをこの領域の現在のＢＰＩよりも低くするように調整し、低ＯＷ領域では、この領域のＯＷに基づいてこの領域のＢＰＩをこの領域の現在のＢＰＩよりも高くするように調整する。言い換えると、磁気ディスク装置１は、所定のトラックの１周内においてAdjacent track write BERを均一にする場合、低On-track BER領域では、この領域のＢＥＲを算出し、算出したＢＥＲに基づいてこの領域のＢＰＩをこの領域の現在のＢＰＩよりも低くするように調整し、低ＯＷ領域では、この領域のＢＥＲを算出し、算出したＢＥＲに基づいてこの領域のＢＰＩをこの領域の現在のＢＰＩよりも高くするように調整する。磁気ディスク装置１は、所定のトラックの１周内においてOn-track BER、又はAdjacent track write BERを均一にすることができる。そのため、磁気ディスク装置１は、アクセス性能を向上できる。

次に、変形例及び他の実施形態に係る磁気ディスク装置について説明する。変形例及び他の実施形態において、前述の実施形態と同一の部分には同一の参照符号を付してその詳細な説明を省略する。
（変形例１）
変形例１に係る磁気ディスク装置１は、記録能力を調整することが前述した第１実施形態の磁気ディスク装置１と異なる。
データ制御部６２０は、ディスク１０の所定の記録領域、例えば、ゾーン、トラック、又はセクタのライト特性、例えば、ＢＥＲに基づいて、この記録領域にライトするデータのライトデータ特性値、例えば、記録能力を制御する。データ制御部６２０は、所定のトラックの各円周位置、例えば、各セクタのＢＥＲに基づいて、このトラックの各セクタの記録能力を制御する。

データ制御部６２０は、ディスク１０の所定の記録領域、例えば、ゾーン、トラック、又はセクタのライト特性、例えば、ＯＷに基づいて、この記録領域の記録能力を制御する。データ制御部６２０は、所定のトラックの各円周位置、例えば、各セクタのＯＷに基づいて、このトラックの各セクタの記録能力を制御する。

例えば、データ制御部６２０は、アクセストラックの１周内においてＢＥＲ（On-track BER、及びAdjacent track write BER）を均一にするため、低ＯＷ領域では、この領域のＯＷに基づいてこの領域の記録能力をこの領域の現在の記録能力よりも高くするように調整（補正又は設定）し、高ＯＷ領域では、この領域のＯＷに基づいてこの領域の記録能力をこの領域の現在の記録能力よりも低くするように調整（補正又は設定）する。言い換えると、データ制御部６２０は、アクセストラックの１周内においてＢＥＲを均一にするために、高On-track BER領域では、この領域のＢＥＲに基づいてこの領域の記録能力をこの領域の現在の記録能力よりも高くするように調整（補正又は設定）し、低On-track BER領域では、この領域のＢＥＲに基づいてこの領域の記録能力をこの領域の現在の記録能力よりも低くするように調整（補正又は設定）する。

データ制御部６２０は、アクセストラックにおいて、次のセクタのＯＷ又はＢＥＲに基づいて、次のセクタの記録能力を調整する。データ制御部６２０は、例えば、所定のトラックからターゲットトラックのターゲットセクタにシークしている際に、ターゲットセクタのＢＥＲ又はＯＷに基づいてターゲットセクタの調整する記録能力（以下、調整能力又は調整電流と称する場合もある）を設定（又は算出）し、ターゲットセクタのデータ部に到達する前にターゲットセクタの現在の記録能力を調整能力に調整（補正又は設定）する。データ制御部６２０は、例えば、アクセストラックの現在のセクタにおいて、次のセクタのＢＥＲ又はＯＷに基づいて次のセクタの調整能力を設定し、次のセクタのデータ部に到達する前に次のセクタの現在の記録能力を調整能力に調整（補正又は設定）する。データ制御部６２０は、例えば、serial I/Fを介してＲ／Ｗチャネル４０からヘッドアンプＩＣ３０のレジスタへのライトデータの記録が完了するタイミングをServo Gate内に同期して、記録能力を調整する。

図２１は、記録能力の変更のタイミングの一例を示す図である。図２１において、横軸は、時間を示している。図２１には、Servo Gateと、Serial I/Fとを示している。図２１のSerial I/Fには、ライトデータをライトするセクタのアドレスを示すaddressと、ライトデータに対応する電流値に相当するdataとを示している。
図２１に示すように、記録能力を調整する場合、データ制御部６２０は、ヘッドアンプＩＣ３０の記録能力制御部３１０により記録能力を変更するタイミングをSerial I/Fを介してServo Gate内に同期する。

図２２は、変形例１に係るＯＷ(Overwrite)の変化ＯＷＬ２の一例を示す図である。図２２において、横軸は、円周方向を示し、縦軸は、ＯＷを示している。図２２の縦軸において、ＯＷは、高の矢印の方向に従って高くなり、低の矢印の方向に進むに従って低くなる。図１０に示したＯＷの変化ＯＷＬ２は、例えば、記録能力やＢＰＩの調整や補正が実行されていない所定のトラックのＯＷの変化に相当する。図２２のＯＷの変化ＯＷＬ２は、例えば、図１０のＯＷの変化ＯＷＬ１と同等である。
図２２に示した例では、ＯＷの変化ＯＷＬ２は、開始位置ＳＰから終了位置ＥＰまで波状、例えば、正弦波になっている。

図２３は、図２２のＯＷの変化ＯＷＬ２に対応するトラックにおいて調整した記録能力の変化ＲＣＬ１の一例を示す図である。図２３において、横軸は、円周方向を示し、縦軸は、記録能力を示している。図２３の縦軸において、記録能力は、高の矢印の方向に従って高くなり、低の矢印の方向に進むに従って低くなる。
データ制御部６２０は、図２２のＯＷの変化ＯＷＬ２の低い領域（低ＯＷ領域）では、図２３に示すように、この領域のＯＷに基づいてこの領域の記録能力を高くし、図２２のＯＷの変化ＯＷＬ２の高い領域（高ＯＷ領域）では、図２３に示すように、この領域のＯＷに基づいてこの領域の記録能力を低くする。言い換えると、データ制御部６２０は、図１０のＯＷの変化ＯＷＬ１の高い領域（高ＯＷ領域）では、図１３に示すように、ＯＷに基づいてＢＰＩを高くし、図１０のＯＷの変化ＯＷＬ１の低い領域（低ＯＷ領域）では、図１３に示すように、ＯＷに基づいてＢＰＩを低くする。このように、図２２のＯＷの変化ＯＷＬ２に対応するトラックの各セクタで記録能力を調整することにより、このトラックの記録能力の変化は、図２３に示した記録能力の変化ＲＣＬ１となる。

図２４は、図２３のＯＷの変化ＯＷＬ２に基づいて図２２のトラックにデータをライトした場合のOn-track BERの変化ＯＢＬ４の一例を示す図である。図２４において、横軸は、円周方向を示し、縦軸は、On-track BERを示している。図２４の縦軸において、On-track BERは、高の矢印の方向に進む従って高くなり、低の矢印の方向に進むに従って低くなる。
図２４に示すように、図２３のＯＷの変化ＯＷＬ２に基づいて図２２のトラックにデータをライトした場合、図２２のトラックのOn-track BERの変化ＯＢＬ４は、１周内で均一となり得る。

図２５は、図２３のＯＷの変化ＯＷＬ２に基づいてライトした図２３のトラックの隣接トラックにデータをライトした場合のAdjacent track write BERの変化ＡＷＢ５の一例を示す図である。図２５において、横軸は、円周方向を示し、縦軸は、Adjacent track write BERを示している。図２５の縦軸において、Adjacent track write BERは、高の矢印の方向に従って高くなり、低の矢印の方向に進むに従って低くなる。図２５において、Adjacent track write BERの変化ＡＷＢ５は、図２３に対応するトラックの隣接トラックに数十回、例えば、１０回のライト処理が実行された場合の図２３に対応するトラックのＢＥＲの１周内の変化に相当する。
図２５に示すように、図２３のＯＷの変化ＯＷＬ２に基づいてライトした図２３のトラックの隣接トラックにデータをライトした場合、図２３のトラックのAdjacent track write BERの変化ＡＷＢ５は、１周内で均一となり得る。

図２６は、図２３のＯＷの変化ＯＷＬ２に基づいてライトした図２３のトラックの隣接トラックにデータをライトした場合のAdjacent track write BERの変化ＡＷＢ６の一例を示す図である。図２６において、横軸は、円周方向を示し、縦軸は、Adjacent track write BERを示している。図２６の縦軸において、Adjacent track write BERは、高の矢印の方向に従って高くなり、低の矢印の方向に進むに従って低くなる。図２６において、Adjacent track write BERの変化ＡＷＢ６は、図２３に対応するトラックの隣接トラックに数千回、例えば、１０００回のライト処理が実行された場合の図２３に対応するトラックのＢＥＲの１周内の変化に相当する。
図２６に示すように、図２３のＯＷの変化ＯＷＬ２に基づいてライトした図２３のトラックの隣接トラックにデータをライトした場合、図２３のトラックのAdjacent track write BERの変化ＡＷＢ６は、１周内で均一となり得る。

図２７は、変形例１に係る記録能力の調整方法の一例を示すフローチャートである。図２７は、所定のトラックの１周内でＢＥＲ（On-track BER及びAdjacent track write BER）を均一化するためのこのトラックの記録能力の調整方法の一例を示している。
システムコントローラ１３０は、シーク中に記録能力を調整する（Ｂ２７０１）。例えば、システムコントローラ１３０は、シーク中にターゲットセクタのＢＥＲ又はＯＷに基づいてターゲットセクタの調整能力を設定し、ターゲットセクタのデータ部に到達する前にターゲットセクタの現在の記録能力から調整能力への調整を開始し、ターゲットセクタのサーボセクタの幅に対応する時間間隔内でターゲットセクタの現在の記録能力から調整能力への調整を完了する。システムコントローラ１３０は、ターゲットセクタが高ＯＷ領域であるか低ＯＷ領域であるかを判定する（Ｂ１９０２）。ターゲットセクタが高ＯＷ領域であると判定した場合（Ｂ１９０２の高ＯＷ領域）、システムコントローラ１３０は、このターゲットセクタのＯＷに基づいてこのターゲットセクタの記録能力を低くするように調整する（Ｂ２７０２）。ターゲットセクタが低ＯＷ領域であると判定した場合（Ｂ１９０２の低ＯＷ領域）、システムコントローラ１３０は、このターゲットセクタのＯＷに基づいてこのターゲットセクタの記録能力を高くするように調整する（Ｂ２７０３）。

システムコントローラ１３０は、次のセクタの記録能力を調整する（Ｂ２７０４）。例えば、システムコントローラ１３０は、現在のセクタにおいて、次のセクタのＢＥＲ又はＯＷに基づいて次のセクタの調整能力を設定し、次のセクタのデータ部に到達する前に次のセクタの現在の記録能力から調整能力への調整を開始し、次のセクタのサーボセクタの幅に対応する時間間隔内で次のセクタの現在の記録能力から調整能力への調整を完了する。システムコントローラ１３０は、次のセクタが高ＯＷ領域であるか低ＯＷ領域であるかを判定する（Ｂ１９０６）。次のセクタが高ＯＷ領域であると判定した場合（Ｂ１９０６の高ＯＷ領域）、システムコントローラ１３０は、この次のセクタのＯＷに基づいてこの次のセクタの記録能力を低くするように調整し（Ｂ２７０５）、処理を終了する。次のセクタが低ＯＷ領域であると判定した場合（Ｂ１９０６の低ＯＷ領域）、システムコントローラ１３０は、この次のセクタのＯＷに基づいてこの次のセクタの記録能力を高くするように調整し（Ｂ２７０６）、処理を終了する。

変形例１によれば、磁気ディスク装置１は、例えば、serial I/Fを介してＲ／Ｗチャネル４０からヘッドアンプＩＣ３０のレジスタへのライトデータの記録が完了するタイミングをServo Gate内に同期して、記録能力を調整する。磁気ディスク装置１は、所定のトラックの１周内においてＢＥＲ（On-track BER及びAdjacent track write BER）を均一にする場合、低ＯＷ領域では、この領域のＯＷに基づいてこの領域の記録能力をこの領域の現在の記録能力よりも高くするように調整し、高ＯＷ領域では、この領域のＯＷに基づいてこの領域の記録能力をこの領域の現在の記録能力よりも低くするように調整する。磁気ディスク装置１は、所定のトラックの１周内においてOn-track BER及びAdjacent track write BERを均一にすることができる。そのため、磁気ディスク装置１は、アクセス性能を向上できる。

（変形例２）
変形例２に係る磁気ディスク装置１は、ライトデータ特性値の調整方法が前述した実施形態及び前述した変形例の磁気ディスク装置１と異なる。
図２８は、突出していないヘッド１５の一例を示す図であり、図２９は、突出しているヘッド１５の一例を示す図である。
ヘッド１５は、スライダ１５０と、スライダ１５０内に設けられ、発熱素子として機能するヒータＨＴとを備えている。ヒータＨＴは、ヘッドアンプＩＣ３０に接続されている。ヒータＨＴは、ヘッドアンプＩＣ３０から電流（又は電圧）が印加されることで発熱し、周囲のスライダ１５０部分を加熱する。このようにヒータＨＴで加熱されることにより、スライダ１５０は、ディスク１０の表面側へ突出する。このように、ヒータＨＴによってヘッド１５の浮上量（ディスク対向面１５１とディスク１０の表面との距離）が調整される。なお、ヒータＨＴは、２つに以上設けられていてもよい。

図２８に示すように、ヘッドアンプＩＣ３０よりヒータＨＴに通電されていない（ＯＦＦの状態）又は、微小な電流（電圧）が印加されている場合、ヘッド１５は、ディスク１０側へ突出していない。そのため、ヘッド１５の浮上量は、大きくなる。
図２９に示すように、ヘッドアンプＩＣ３０よりヒータＨＴに通電されている (ＯＮの状態)、ヘッド１５は、ディスク１０側に突出する。そのため、ヘッド１５の浮上量は、小さくなる。
例えば、データ制御部６２０は、所定のトラックにおいてライトデータ特性値（例えば、ＢＰＩ及び記録能力）の最大値に相当するセクタでヘッド１５の浮上量を調整する。言い換えると、データ制御部６２０は、所定のトラックにおいてライトデータ特性値の最大値に相当するセクタでヘッド１５のディスク１０側の突出量を調整する。

変形例２によれば、磁気ディスク装置１は、所定のトラックにおいてライトデータ特性値（例えば、ＢＰＩ及び記録能力）の最大値に相当するセクタでヘッド１５の浮上量を調整する。そのため、磁気ディスク装置１は、ヘッド１５がディスク１０へ接触することを防止することができる。従って、磁気ディスク装置１は、信頼性を向上することができる。

（第２実施形態）
第２実施形態に係る磁気ディスク装置１は、サーボ領域ＳＶの構成が前述した実施形態及び前述した変形例の磁気ディスク装置１と異なる。
図３０は、第２実施形態に係るノーマルサーボＮＳＶ及びショートサーボＳＳＶの配置の一例を示す模式図である。
サーボ領域ＳＶは、例えば、サーボ領域（以下、ノーマルサーボ領域と称する）ＮＳＶと、サーボ領域ＮＳＶと異なるサーボ領域（以下、ショートサーボ領域と称する）ＳＳＶとを有している。ショートサーボ領域ＳＳＶの円周方向のデータパターンの長さ（以下、単に、長さと称する場合もある）は、ノーマルサーボ領域ＮＳＶの長さよりも短い。図２に示した例では、ノーマルサーボ領域ＮＳＶとショートサーボ領域ＳＳＶとは、円周方向に交互に配置されている。言い換えると、円周方向において、連続する２つのノーマルサーボ領域ＮＳＶの間に、１つのショートサーボ領域ＳＳＶが配置されている。なお、円周方向において、連続する２つのノーマルサーボ領域ＮＳＶの間に、２つ以上のショートサーボ領域ＳＳＶが配置されていてもよい。ノーマルサーボ領域は、複数のノーマルサーボセクタを有している。ノーマルサーボセクタは、図３に示したサーボセクタＳＳに相当する。以下、ノーマルサーボセクタＳＳと称する。ショートサーボ領域は、複数のショートサーボセクタを有している。以下で、ノーマルサーボセクタＳＳとノーマルサーボセクタＳＳに続くデータ部とをまとめてノーマルセクタと称する場合もある。また、ショートサーボセクタとショートサーボセクタに続くデータ部とをまとめてショートセクタと称する場合もある。

図３１は、第２実施形態に係るショートサーボセクタＳＴＳの構成の一例を示す模式図である。図３１には、所定のトラックＴＲｍにライトされた所定のショートサーボセクタＳＴＳを示している。ショートサーボセクタＳＴＳは、図３０に示したショートサーボ領域ＳＳＶに含まれている。ショートサーボセクタＳＴＳは、所定のトラックに対応するショートサーボ領域ＳＳＶの一部に相当する。

ショートサーボセクタＳＴＳは、サーボデータ、例えば、Ｎバースト及びＱバーストを含んでいる。Ｎバースト及びＱバーストは、これらの順番で、リード／ライト方向の矢印の先端に向かって連続して配置されている。ショートサーボセクタＳＴＳのＮバーストの長さは、例えば、ノーマルサーボセクタＳＳのＮバーストの長さと同等である。なお、ショートサーボセクタＳＴＳのＮバーストの長さは、ノーマルサーボセクタＳＳのＮバーストの長さと異なっていてもよい。ショートサーボセクタＳＴＳのＱバーストの長さは、例えば、ノーマルサーボセクタＳＳのＱバーストの長さと同等である。なお、ショートサーボセクタＳＴＳのＱバーストの長さは、ノーマルサーボセクタＳＳのＱバーストの長さと異なっていてもよい。

データ制御部６２０は、ノーマルセクタ及びショートセクタを含むトラックにおいて、ノーマルセクタのみで調整特性値（調整ＢＰＩ又は調整能力）を設定（又は算出）し、ノーマルセクタとこのノーマルセクタのリード／ライト方向に連続して位置するショートセクタとの現在のライトデータ特性値を調整特性値に調整する。

例えば、データ制御部６２０は、アクセストラックにおいて、現在アクセスしているノーマルセクタ（以下、現在のノーマルセクタと称する場合もある）でプリアンブル、サーボマーク、及びグレイコード等をリードすることでセクタ番号を取得した場合に、現在のノーマルセクタに続いてリード／ライト方向に位置するノーマルセクタ（以下、次のノーマルセクタと称する場合もある）のＢＥＲ又はＯＷに基づいて、次のノーマルセクタと現在のノーマルセクタのリード／ライト方向に連続して位置するショートセクタ（以下、現在のショートセクタと称する場合もある）に続いてリード／ライト方向に位置するショートセクタ（次のショートセクタと称する場合もある）との調整ＢＰＩ又は調整能力を設定（又は算出）する。また、データ制御部６２０は、次のノーマルセクタのデータ部に到達する前に次のノーマルセクタ及び次のショートセクタの現在のＢＰＩ又は記録能力を調整ＢＰＩ又は調整能力に調整（補正又は設定）する。

図３２は、第２実施形態に係るライトデータ特性値の調整処理の一例を示す図である。図３２において、横軸は、円周方向及び時間を示している。図３２には、トラックＴＲｍを示している。トラックＴＲｍは、複数のノーマルセクタＮＳＣ（ＮＳＣ１、ＮＳＣ２…）と、複数のショートセクタＳＳＣ（ＳＳＣ１、ＳＳＣ２…）と、複数のデータ部ＤＳ（ＤＳ５、ＤＳ６、ＤＳ７、ＤＳ８…）を含む。複数のノーマルセクタＮＳＣと複数のショートセクタＳＳＣとは、円周方向に沿って交互に配置されている。図３２では、ノーマルセクタＮＳＣ１、ショートセクタＳＳＣ１、及びノーマルセクタＮＳＣ２は、リード／ライト方向に沿ってこれらの順番で配置されている。ノーマルセクタＮＳＣ１は、ノーマルサーボセクタＳＳ５と、データ部ＤＳ５とを含む。ショートセクタＳＳＣ１は、ショートサーボセクタＳＴＳ１と、データ部ＤＳ６とを含む。ノーマルセクタＮＳＣ２は、ノーマルサーボセクタＳＳ６と、データ部ＤＳ７とを含む。ノーマルサーボセクタＳＳ５、ショートサーボセクタＳＴＳ１、ノーマルサーボセクタＳＳ６、及びショートサーボセクタＳＴＳ２は、リード／ライト方向に沿ってこれらの順番で間隔をおいて配置されている。ノーマルサーボセクタＳＳ５は、ノーマルサーボ領域ＮＳＶ１に含まれ、ショートサーボセクタＳＴＳ１は、ショートサーボ領域ＳＳＶ１に含まれ、ノーマルサーボセクタＳＳ６は、ノーマルサーボ領域ＮＳＶ２に含まれ、ショートサーボセクタＳＴＳ２は、ショートサーボ領域ＳＳＶ２に含まれている。図３２において、ノーマルサーボセクタＳＳ５の幅ＳＷ５とノーマルサーボセクタＳＳ６の幅ＳＷ７とは、同じである。なお、幅ＳＷ５及びＳＷ７は、異なっていてもよい。ショートサーボセクタＳＴＳ１の幅ＳＷ６とショートサーボセクタＳＴＳ２の幅ＳＷ８とは、同じである。なお、幅ＳＷ６及びＳＷ８は、異なっていてもよい。幅ＳＷ５及びＳＷ７は、幅ＳＷ６及びＳＷ８よりも大きい。データ部ＤＳ５乃至ＤＳ８は、リード／ライト方向に沿ってこれらの順番に間隔を置いて配置されている。データ部ＤＳ５は、ノーマルサーボセクタＳＳ５及びショートサーボセクタＳＴＳ１の間に位置し、データ部ＤＳ６は、ショートサーボセクタＳＴＳ１及びノーマルサーボセクタＳＳ６の間に位置し、データ部ＤＳ７は、ノーマルサーボセクタＳＳ６及びショートサーボセクタＳＴＳ２の間に位置し、データ部ＤＳ８は、ショートサーボセクタＳＴＳ２のリード／ライト方向の後方に位置している。図３２には、データ部ＤＳ５及びＤＳ６のライトデータ特性値、例えば、記録密度（ＢＰＩ）ＤＮ１と、データ部ＤＳ７及びＤＳ８のＢＰＩ ＤＮ２とを示している。ＢＰＩ ＤＮ２は、ＢＰＩ ＤＮ１と異なっている。例えば、ＢＰＩ ＤＮ２は、ＢＰＩ ＤＮ１よりも大きい。なお、ＢＰＩ ＤＮ１及びＢＰＩ ＤＮ２は、同じであってもよい。

図３２の横軸には、タイミングＳＴ１０、ＳＴ１１、ＳＴ１２、ＳＴ１３、ＳＴ１４、ＳＴ１５、ＳＴ１６、及びＳＴ１７を示している。タイミングＳＴ１０は、ノーマルサーボセクタＳＳ５の先端位置に対応し、タイミングＳＴ１１は、ノーマルサーボセクタＳＳ５の後端位置に対応している。タイミングＳＴ１２は、ショートサーボセクタＳＴＳ１の先端位置に対応し、タイミングＳＴ１３は、ショートサーボセクタＳＴＳ１の後端位置に対応している。タイミングＳＴ１４は、ノーマルサーボセクタＳＳ６の先端位置に対応し、タイミングＳＴ１５は、ノーマルサーボセクタＳＳ６の後端位置に対応している。タイミングＳＴ１６は、ショートサーボセクタＳＴＳ２の先端位置に対応し、タイミングＳＴ１７は、ショートサーボセクタＳＴＳ２の後端位置に対応している。図３２には、時間間隔ＤＴ１、ＤＴ２、ＤＴ３、及びＤＴ４を示している。時間間隔ＤＴ１は、タイミングＳＴ１０及びＳＴ１１の差分に相当し、ノーマルサーボセクタＳＳ５の幅ＳＷ５に対応している。時間間隔ＤＴ２は、タイミングＳＴ１２及びＳＴ１３の差分に相当し、ショートサーボセクタＳＴＳ１の幅ＳＷ６に対応している。時間間隔ＤＴ３は、タイミングＳＴ１４及びＳＴ１５の差分に相当し、ノーマルサーボセクタＳＳ６の幅ＳＷ７に対応している。時間間隔ＤＴ４は、タイミングＳＴ１６及びＳＴ１７の差分に相当し、ショートサーボセクタＳＴＳ２の幅ＳＷ８に対応している。

データ制御部６２０は、トラックＴＲｍのノーマルセクタ（現在のノーマルセクタ）ＮＳＣ１においてノーマルサーボセクタＳＳ５をリードしてセクタ番号を取得した際に、ノーマルセクタ（次のノーマルセクタ）ＮＳＣ２のデータ部ＤＳ７のＢＥＲ又はＯＷに基づいてデータ部ＤＳ７及び次のショートセクタＳＳＣ２のデータ部ＤＳ８の調整ＢＰＩ ＤＮ２を設定し、データ部ＤＳ７に到達する前にデータ部ＤＳ７及びＤＳ８の現在のＢＰＩを調整ＢＰＩ ＤＮ２に調整する。図３２に示した例では、データ制御部６２０は、タイミングＳＴ１０でノーマルサーボセクタＳＳ５をリードしてセクタ番号を取得した際に、タイミングＳＴ１４に到達する前にノーマルセクタＮＳＣ２のデータ部ＤＳ７のＢＥＲ又はＯＷに基づいてデータ部ＤＳ７及び次のショートセクタＳＳＣ２のデータ部ＤＳ８の調整ＢＰＩ ＤＮ２を設定し、タイミングＳＴ１４にデータ部ＤＳ７及びＤＳ８の現在のＢＰＩから調整ＢＰＩ ＤＮ２への調整を開始し、タイミングＳＴ１４から時間間隔ＤＴ３内にデータ部ＤＳ７及びＤＳ８の現在のＢＰＩから調整ＢＰＩ ＤＮ２への調整を完了する。このようにＢＰＩを調整することにより、ショートサーボセクタＳＴＳを介して隣り合う２つのデータ部、例えば、データ部ＤＳ５及びＤＳ６のＢＰＩ（調整ＢＰＩ）は、同である。なお、このようにＢＰＩを調整することにより、ショートサーボセクタＳＴＳを介して隣り合う２つのデータ部、例えば、データ部ＤＳ５及びＤＳ６のＢＰＩ（調整ＢＰＩ）は、異なっていてもよい。ノーマルサーボセクタＳＳを挟んで隣り合う２つのデータ部、例えば、データ部ＤＳ６及びＤＳ７のＢＰＩ（調整ＢＰＩ）は、異なる。なお、ノーマルサーボセクタＳＳを挟んで隣り合う２つのデータ部、例えば、データ部ＤＳ６及びＤＳ７のＢＰＩ（調整ＢＰＩ）は、同じであってもよい。

図３３は、第２実施形態に係るライトデータ特性値の調整方法の一例を示すフローチャートである。
システムコントローラ１３０は、ノーマルサーボセクタであるかショートサーボセクタであるかを判定する（Ｂ３３０１）。ショートサーボセクタであると判定した場合（Ｂ３３０１のＮＯ）、システムコントローラ１３０は、処理を終了する。ノーマルサーボセクタであると判定した場合（Ｂ３３０１のＹＥＳ）、システムコントローラ１３０は、ライトデータ特性値を調整し（Ｂ３３０２）、処理を終了する。例えば、システムコントローラ１３０は、所定のセクタにおいてプリアンブル、サーボマーク、及びグレイコード等をリードすることでセクタ番号を取得した場合、このセクタをノーマルセクタと判定する。セクタ番号を取得した場合、システムコントローラ１３０は、次のノーマルセクタのＢＥＲ又はＯＷに基づいて次のノーマルセクタ及び次のショートセクタの調整ＢＰＩ又は調整能力を設定し、次のノーマルセクタのデータ部に到達する前に次のノーマルセクタ及び次のショートセクタの現在のＢＰＩ又は現在の記録能力を調整ＢＰＩ又は調整能力に調整し、処理を終了する。

第２実施形態によれば、磁気ディスク装置１は、プリアンブル、サーボマーク、及びグレイコード等をリードすることでセクタ番号を取得した場合、次のノーマルセクタのＢＥＲ又はＯＷに基づいて次のノーマルセクタ及び次のショートセクタの調整ＢＰＩ又は調整能力を設定し、次のノーマルセクタのデータ部に到達する前に次のノーマルセクタ及び次のショートセクタの現在のＢＰＩ又は現在の記録能力を調整ＢＰＩ又は調整能力に調整する。そのため、磁気ディスク装置１は、アクセス性能を向上できる。

（変形例３）
変形例３に係る磁気ディスク装置１は、第２実施形態の磁気ディスク装置とほぼ同等の構成であるが、ライトデータ特性値の調整方法が第２実施形態の磁気ディスク装置１と異なる。
データ制御部６２０は、ノーマルセクタ及びショートセクタを含むトラックにおいて、ノーマルセクタ及びショートセクタでそれぞれ調整特性値（調整ＢＰＩ又は調整能力）を設定（又は算出）し、ノーマルセクタ及びショートセクタで現在のライトデータ特性値（ＢＰＩ又は記録能力）を調整特性値にそれぞれ調整する。

例えば、データ制御部６２０は、アクセストラックの現在のノーマルセクタにおいて、現在のショートセクタのＢＥＲ又はＯＷに基づいて、現在のショートセクタの調整ＢＰＩ又は調整能力を設定し、現在のショートセクタのデータ部に到達する前に現在のショートセクタの現在のＢＰＩ又は現在の記録能力を調整ＢＰＩ又は調整能力に調整（補正又は設定）する。データ制御部６２０は、アクセストラックの現在のショートセクタにおいて、次のノーマルセクタのＢＥＲ又はＯＷに基づいて、次のノーマルセクタの調整ＢＰＩ又は調整能力を設定し、次のノーマルセクタのデータ部に到達する前に次のノーマルセクタの現在のＢＰＩ又は記録能力を調整ＢＰＩ又は調整能力に調整（補正又は設定）する。

図３４は、変形例３に係るライトデータ特性値の調整処理の一例を示す図である。図３４は、図３２とほぼ同等であるが、データ部のＢＰＩが異なる。図３４には、データ部ＤＳ５のライトデータ特性値、例えば、記録密度（ＢＰＩ）ＤＮ３と、データ部ＤＳ６のＢＰＩ ＤＮ４と、データ部ＤＳ７のＢＰＩ ＤＮ５と、データ部ＤＳ８のＢＰＩ ＤＮ６と、を示している。ＢＰＩ ＤＮ４乃至ＤＮ６は、それぞれ、異なっている。例えば、ＢＰＩ ＤＮ５は、ＢＰＩ ＤＮ４よりも大きく、ＢＰＩ ＤＮ６は、ＢＰＩ ＤＮ５よりも大きく、ＢＰＩ ＤＮ７は、ＢＰＩ ＤＮ６よりも大きく、ＢＰＩ ＤＮ８は、ＢＰＩ ＤＮ７よりも大きい。なお、ＢＰＩ ＤＮ４乃至ＤＮ６は、同じであってもよい。

データ制御部６２０は、トラックＴＲｍのノーマルセクタ（現在のノーマルセクタ）ＮＳＣ１において、ショートセクタ（現在のショートセクタ）ＳＳＣ１のデータ部ＤＳ６のＢＥＲ又はＯＷに基づいてデータ部ＤＳ６の調整ＢＰＩ ＤＮ４を設定し、データ部ＤＳ６に到達する前にデータ部ＤＳ６の現在のＢＰＩを調整ＢＰＩ ＤＮ４に調整する。図３４に示した例では、データ制御部６２０は、ノーマルセクタＮＳＣ１において、タイミングＳＴ１２に到達する前にショートセクタＳＳＣ１のデータ部ＤＳ６のＢＥＲ又はＯＷに基づいてデータ部ＤＳ６の調整ＢＰＩ ＤＮ４を設定し、タイミングＳＴ１２にデータ部ＤＳ６の現在のＢＰＩから調整ＢＰＩ ＤＮ４への調整を開始し、タイミングＳＴ１２から時間間隔ＤＴ２内にデータ部ＤＳ６の現在のＢＰＩから調整ＢＰＩ ＤＮ４への調整を完了する。

データ制御部６２０は、ショートセクタＳＳＣ１において、ノーマルセクタＮＳＣ２のデータ部ＤＳ７のＢＥＲ又はＯＷに基づいてデータ部ＤＳ７の調整ＢＰＩ ＤＮ５を設定し、データ部ＤＳ７に到達する前にデータ部ＤＳ７の現在のＢＰＩを調整ＢＰＩ ＤＮ５に調整する。図３４に示した例では、データ制御部６２０は、ショートセクタＳＳＣ１において、タイミングＳＴ１４に到達する前にノーマルセクタＮＳＣ２のデータ部ＤＳ７のＢＥＲ又はＯＷに基づいてデータ部ＤＳ７の調整ＢＰＩ ＤＮ５を設定し、タイミングＳＴ１４にデータ部ＤＳ７の現在のＢＰＩから調整ＢＰＩ ＤＮ５への調整を開始し、タイミングＳＴ１４から時間間隔ＤＴ３内にデータ部ＤＳ７の現在のＢＰＩから調整ＢＰＩ ＤＮ５への調整を完了する。

データ制御部６２０は、ノーマルセクタＮＳＣ２において、ショートセクタＳＳＣ２のデータ部ＤＳ８のＢＥＲ又はＯＷに基づいてデータ部ＤＳ８の調整ＢＰＩ ＤＮ６を設定し、データ部ＤＳ８に到達する前にデータ部ＤＳ８の現在のＢＰＩを調整ＢＰＩ ＤＮ６に調整する。図３４に示した例では、データ制御部６２０は、ノーマルセクタＮＳＣ２において、タイミングＳＴ１６に到達する前にショートセクタＳＳＣ２のデータ部ＤＳ８のＢＥＲ又はＯＷに基づいてデータ部ＤＳ８の調整ＢＰＩ ＤＮ６を設定し、タイミングＳＴ１６にデータ部ＤＳ８の現在のＢＰＩから調整ＢＰＩ ＤＮ６への調整を開始し、タイミングＳＴ１６から時間間隔ＤＴ４内にデータ部ＤＳ８の現在のＢＰＩから調整ＢＰＩ ＤＮ６への調整を完了する。

このようにＢＰＩを調整することにより、ショートサーボセクタＳＴＳを介して隣り合う２つのデータ部、例えば、データ部ＤＳ５及びＤＳ６のＢＰＩ（調整ＢＰＩ）は、異なる。なお、ショートサーボセクタＳＴＳを介して隣り合う２つのデータ部、例えば、データ部ＤＳ５及びＤＳ６のＢＰＩ（調整ＢＰＩ）は、同じであってもよい。ノーマルサーボセクタＳＳを挟んで隣り合う２つのデータ部、例えば、データ部ＤＳ６及びＤＳ７のＢＰＩ（調整ＢＰＩ）は、異なる。なお、ノーマルサーボセクタＳＳを挟んで隣り合う２つのデータ部、例えば、データ部ＤＳ６及びＤＳ７のＢＰＩ（調整ＢＰＩ）は、同じであってもよい。

図３５は、時間間隔に対するライトデータ特性値の変動量の変化ＢＣＬの一例を示す図である。図３５において、横軸は、時間間隔を示し、縦軸は、ライトデータ特性値、例えば、ＢＰＩの変動量（以下、ＢＰＩ変動量と称する）を示している。図３５の横軸において、時間間隔は、原点から矢印の方向に進むに従って大きくなる。図３５の縦軸において、ＢＰＩ変動量は、原点から矢印の方向に進むに従って大きくなる。図３５の横軸において、時間間隔ＤＴｎは、ショートサーボセクタの幅に対応し、時間間隔ＤＴｋは、ノーマルサーボセクタの幅に対応している。時間間隔ＤＴｋは、時間間隔ＤＴｎよりも大きい。時間間隔ＤＴｎは、例えば、９０［ｎｓｅｃ（ナノ秒）］であり、時間間隔ＤＴｋは、例えば、３１０［ｎｓｅｃ（ナノ秒）］である。例えば、図３５の縦軸において、ＢＰＩ変動量ΔＤｎは、ショートサーボセクタの幅に対応し、ＢＰＩ変動量ΔＤｋは、ノーマルサーボセクタの幅に対応している。ＢＰＩ変動量ΔＤｋは、ＢＰＩ変動量ΔＤｎよりも大きい。ＢＰＩ変動量ΔＤｎは、例えば、１００［ｐｐｍ（parts per million）］であり、ＢＰＩ変動量ΔＤｋは、例えば、４００［ｐｐｍ（parts per million）］である。

図３５の時間間隔に対するＢＰＩ変動量の変化ＢＣＬで示すように、時間間隔が大きくなるに従って、ＢＰＩ変動量も大きくなる。ノーマルサーボセクタＳＳの幅に対応する時間間隔ＤＴｋと比較してショートサーボセクタＳＴＳに対応する時間間隔ＤＴｎが小さいために、ＢＰＩ変動量ΔＤｎは、ＢＰＩ変動量ΔＤｋよりも小さい。そのため、データ制御部６２０は、ノーマルセクタ及びショートセクタを含むトラックにおいて、ショートセクタよりもノーマルセクタでライトデータ特性値（ＢＰＩ又は記録能力）を大きく変化させることができる。

図３６は、変形例３に係るライトデータ特性値の調整方法の一例を示すフローチャートである。
システムコントローラ１３０は、ノーマルサーボセクタであるかショートサーボセクタであるかを判定する（Ｂ３６０１）。ノーマルサーボセクタであると判定した場合（Ｂ３６０１のノーマルサーボセクタ）、システムコントローラ１３０は、ノーマルサーボセクタの幅に対応する時間間隔でライトデータ特性値、例えば、ＢＰＩを調整し（Ｂ３６０２）、処理を終了する。ショートサーボセクタであると判定した場合（Ｂ３６０１のショートサーボセクタ）、システムコントローラ１３０は、ノーマルサーボセクタの幅よりも小さいショートサーボセクタの幅に対応する時間間隔でライトデータ特性値、例えば、ＢＰＩと調整し（Ｂ３６０３）、処理を終了する。

第２実施形態によれば、磁気ディスク装置１は、アクセストラックの現在のノーマルセクタにおいて、現在のショートセクタのＢＥＲ又はＯＷに基づいて、現在のショートセクタの調整ＢＰＩ又は調整能力を設定し、現在のショートセクタのデータ部に到達する前に現在のショートセクタの現在のＢＰＩ又は現在の記録能力を調整ＢＰＩ又は調整能力に調整（補正又は設定）する。磁気ディスク装置１は、現在のショートセクタにおいて、次のノーマルセクタのＢＥＲ又はＯＷに基づいて、次のノーマルセクタの調整ＢＰＩ又は調整能力を設定し、次のノーマルセクタのデータ部に到達する前に次のノーマルセクタの現在のＢＰＩ又は記録能力を調整ＢＰＩ又は調整能力に調整（補正又は設定）する。そのため、磁気ディスク装置１は、アクセス性能を向上できる。

いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１…磁気ディスク装置、１０…磁気ディスク、１０ａ…ユーザデータ領域、１０ｂ…システムエリア、１２…スピンドルモータ（ＳＰＭ）、１３…アーム、１４…ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）、１５…ヘッド、１５Ｗ…ライトヘッド、１５Ｒ…リードヘッド、２０…ドライバＩＣ、３０…ヘッドアンプＩＣ、４０…リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル、５０…ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）、６０…マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、７０…揮発性メモリ、８０…不揮発性メモリ、９０…バッファメモリ、１００…ホストシステム（ホスト）、１３０…システムコントローラ。

Claims (20)

1. ディスクと、
   前記ディスクに対してデータをライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、
   前記ディスクの第１トラックにおいて、第１オーバーライトの第１セクタでは前記第１セクタにライトするデータの第１記録密度を高め、前記第１オーバーライトと異なる第２オーバーライトの第２セクタにライトするデータの第２記録密度を低める、コントローラと、を備える磁気ディスク装置。
2. 前記第１オーバーライトは、基準値よりも高く、前記第２オーバーライトは、前記基準値よりも低い、請求項１に記載の磁気ディスク装置。
3. 前記第１オーバーライトは、基準値よりも低く、前記第２オーバーライトは、前記基準値よりも高い、請求項１に記載の磁気ディスク装置。
4. 前記第１記録密度と前記第１トラックにおいて前記第１セクタに隣接する第３セクタにライトするデータの第３記録密度とは、異なる、請求項１乃至３のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
5. 前記コントローラは、前記第３セクタに前記第３記録密度を前記第１セクタで設定する、請求項４に記載の磁気ディスク装置。
6. 前記コントローラは、前記第１トラックと異なる第２トラックから前記第１トラックの前記第１セクタにシーク中に前記第１セクタに前記第１記録密度を設定する、請求項４又は５に記載の磁気ディスク装置。
7. 前記コントローラは、前記第１トラックで前記第３セクタに隣接し、前記第３セクタの第１サーボセクタよりも短い第２サーボセクタを含む第４セクタに前記第３記録密度を設定する、請求項４乃至６のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
8. 前記コントローラは、前記第１トラックで前記第３セクタに隣接し、前記第３セクタの第１サーボセクタよりも短い第２サーボセクタを含む第４セクタに前記第３記録密度と異なる第４記録密度を前記第３セクタで設定する、請求項４乃至６のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
9. 前記コントローラは、前記第１トラック内の記録密度の変化を正弦波近似で算出して保持している、請求項１乃至８のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
10. 前記コントローラは、前記正弦波近似を実行する際に、前記記録密度の変化の位相、振幅、及び周期を個別に調整する、請求項９に記載の磁気ディスク装置。
11. 前記コントローラは、前記第１トラック内の記録密度の変化の第１周期より大きい前記第１トラックよりも内側に位置する第３トラック内の記録密度の変化の第２周期を調整する、請求項１乃至８のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
12. ディスクと、
    前記ディスクに対してデータをライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、
    前記ディスクの第１トラックにおいて、基準値よりも低い第１オーバーライトの第１セクタでは前記第１セクタにライトするデータの第１記録能力を高め、前記基準値よりも高い第２オーバーライトの第２セクタにライトするデータの第２記録能力を低める、コントローラと、を備える磁気ディスク装置。
13. 前記第１記録能力と前記第１トラックにおいて前記第１セクタに隣接する第３セクタにライトするデータの第３記録能力とは、異なる、請求項１２に記載の磁気ディスク装置。
14. 前記コントローラは、前記第１トラックで前記第３セクタに隣接し、前記第３セクタの第１サーボセクタよりも短い第２サーボセクタを含む第４セクタに前記第３記録能力を設定する、請求項１３に記載の磁気ディスク装置。
15. 前記コントローラは、前記第１トラックで前記第３セクタに隣接し、前記第３セクタの第１サーボセクタよりも短い第２サーボセクタを含む第４セクタに前記第３記録能力と異なる第４記録能力を前記第３セクタで設定する、請求項１３に記載の磁気ディスク装置。
16. 前記コントローラは、前記第１トラック内の記録能力の変化を正弦波近似で算出して保持している、請求項１２乃至１５のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
17. 前記コントローラは、前記第１記録能力及び前記第２記録能力を変更するタイミングをそれぞれServo Gate内に同期させる、請求項１２に記載の磁気ディスク装置。
18. 前記第１記録能力及び前記第２記録能力は、Overshoot、Pattern Dependent Writeの1T Boost、高周波アシスト記録型式のバイアス電圧、及び熱アシスト記録型式のバイアス電圧を含む、請求項１２乃至１７のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
19. 前記コントローラは、前記第１トラック内の記録能力の変化の第１周期より大きい前記第１トラックよりも内側に位置する第２トラック内の記録能力の変化の第２周期を調整する、請求項１２乃至１８のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
20. ディスクと、前記ディスクに対してデータをライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、を備える磁気ディスク装置に適用されるライトデータの調整方法であって、
    前記ディスクの第１トラックにおいて、第１オーバーライトの第１セクタでは前記第１セクタにライトするデータの第１記録密度を高め、
    前記ディスクの第１トラックにおいて、前記第１オーバーライトと異なる第２オーバーライトの第２セクタにライトするデータの第２記録密度を低める、ライトデータの調整方法。

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