JP2014147501A5 - - Google Patents

Description

本発明に係る光断層撮像装置の一つは、
測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記被検査物において前記測定光を走査する走査手段と、
前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段と、
前記被検査物における撮影部位を選択する選択手段と、
前記選択された撮影部位に応じて前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段と、
前記指示手段による指示に応じて、前記測定光光路長変更手段と前記走査手段とを制御する制御手段と、を有する。
また、本発明に係る光断層撮像装置の一つは、
測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段と、
前記被検査物における撮影部位を選択する選択手段と、
前記選択された撮影部位に応じて前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段と、
前記指示手段による指示に応じて、前記測定光光路長変更手段を制御する制御手段と、を有する。

Claims (21)

1. 測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
   前記被検査物において前記測定光を走査する走査手段と、
   前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段と、
   前記被検査物における撮影部位を選択する選択手段と、
   前記選択された撮影部位に応じて前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段と、
   前記指示手段による指示に応じて、前記測定光光路長変更手段と前記走査手段とを制御する制御手段と、
   を有することを特徴とする光断層撮像装置。
2. 前記測定光光路長変更手段は、前記測定光の光路を含む光学部を前記被検査物に対して移動する光学部移動機構を有し、
   前記制御手段が、前記指示手段による指示に応じて、前記光学部移動機構と前記走査手段とを制御することを特徴とする請求項１に記載の光断層撮像装置。
3. 前記参照光の光路長を変更する参照光光路長変更手段を更に有し、
   前記制御手段が、前記指示手段による指示に応じて、前記測定光光路長変更手段と前記参照光光路長変更手段とを連動させて制御することを特徴とする請求項１または２に記載の光断層撮像装置。
4. 前記被検査物に対して前記測定光を合焦する合焦レンズを光路に沿って移動する移動手段を更に有し、
   前記制御手段が、前記指示手段による指示に応じて、前記測定光光路長変更手段と前記移動手段とを連動させて制御することを特徴とする請求項１乃至３の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
5. 前記撮影部位の選択の指示を入力するための表示形態を表示手段に表示させる表示制御手段を更に有し、
   前記選択手段が、操作手段による操作に応じて前記選択を指示することを特徴とする請求項１乃至４の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
6. 前記被検査物は、被検眼の眼底であり、
   前記表示制御手段が、前記選択手段により前記眼底の一部の領域が前記撮影部位として選択された場合、前記被検眼の瞳孔の大きさに応じて、前記眼底の断層画像の撮像範囲の大きさの限界を示す表示形態を前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項５に記載の光断層撮像装置。
7. 前記被検査物は、被検眼であり、
   前記制御手段が、前記被検眼の眼底の断層画像を取得する場合には前記走査手段の走査角度を変更するように前記走査手段を制御し、前記被検眼の前眼部の断層画像を取得する場合には前記走査手段の走査角度を変更しないように前記走査手段を制御することを特徴とする請求項１乃至６の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
8. 前記被検査物は、被検眼であり、
   前記撮影部位は、前記被検眼の前眼部の部位と前記被検眼の眼底の部位とのうち少なくとも一方を含むことを特徴とする請求項１乃至６の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
9. 前記被検査物は、被検眼の前眼部であり、
   前記制御手段が、前記前眼部の角膜部が前記撮影部位として選択された場合には前記測定光の光路長を長くするように、前記前眼部の隅角部が前記撮影部位として選択された場合には前記測定光の光路長を短くするように、前記測定光光路長変更手段を制御することを特徴とする請求項１乃至６の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
10. 前記被検査物は、被検眼の眼底であり、
    前記制御手段が、前記眼底の黄斑部が前記撮影部位として選択された場合には前記測定光の光路長を長くするように、前記眼底の視神経乳頭部が前記撮影部位として選択された場合には前記測定光の光路長を短くするように、前記測定光光路長変更手段を制御することを特徴とする請求項１乃至６の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
11. 測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
    前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段と、
    前記被検査物における撮影部位を選択する選択手段と、
    前記選択された撮影部位に応じて前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段と、
    前記指示手段による指示に応じて、前記測定光光路長変更手段を制御する制御手段と、
    を有することを特徴とする光断層撮像装置。
12. 前記測定光の光路に設けられる対物レンズを更に有し、
    前記測定光光路長変更手段は、前記対物レンズと前記被検査物との距離を変更することにより、前記測定光の光路長を変更することを特徴とする請求項１乃至１１の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
13. 測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置の制御方法であって、
    前記被検査物における撮影部位を選択する工程と、
    前記選択された撮影部位に応じて前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段による指示に応じて、前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段と前記被検査物において前記測定光を走査する走査手段とを制御する工程と、
    を有することを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。
14. 前記測定光光路長変更手段は、前記測定光の光路を含む光学部を前記被検査物に対して移動する光学部移動機構を有し、
    前記制御する工程において、前記指示手段による指示に応じて、前記光学部移動機構と前記走査手段とを制御することを特徴とする請求項１３に記載の光断層撮像装置の制御方法。
15. 前記撮影部位の選択の指示を入力するための表示形態を表示手段に表示させる工程を更に有し、
    前記選択する工程において、操作手段による操作に応じて前記選択を指示することを特徴とする請求項１３または１４に記載の光断層撮像装置の制御方法。
16. 前記被検査物は、被検眼の眼底であり、
    前記表示手段に表示させる工程において、前記眼底の一部の領域が前記撮影部位として選択された場合、前記被検眼の瞳孔の大きさに応じて、前記眼底の断層画像の撮像範囲の大きさの限界を示す表示形態を前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項１５に記載の光断層撮像装置の制御方法。
17. 前記被検査物は、被検眼であり、
    前記撮影部位は、前記被検眼の前眼部の部位と前記被検眼の眼底の部位とのうち少なくとも一方を含むことを特徴とする請求項１３乃至１５の何れか一項に記載の光断層撮像装置の制御方法。
18. 前記被検査物は、被検眼の前眼部であり、
    前記制御する工程において、前記前眼部の角膜部が前記撮影部位として選択された場合には前記測定光の光路長を長くするように、前記前眼部の隅角部が前記撮影部位として選択された場合には前記測定光の光路長を短くするように、前記測定光光路長変更手段を制御することを特徴とする請求項１３乃至１５の何れか一項に記載の光断層撮像装置の制御方法。
19. 前記被検査物は、被検眼の眼底であり、
    前記制御する工程において、前記眼底の黄斑部が前記撮影部位として選択された場合には前記測定光の光路長を長くするように、前記眼底の視神経乳頭部が前記撮影部位として選択された場合には前記測定光の光路長を短くするように、前記測定光光路長変更手段を制御することを特徴とする請求項１３乃至１５の何れか一項に記載の光断層撮像装置の制御方法。
20. 測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置の制御方法であって、
    前記被検査物における撮影部位を選択する工程と、
    前記選択された撮影部位に応じて前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段による指示に応じて、前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段を制御する工程と、
    を有することを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。
21. 請求項１３乃至２０の何れか一項に記載の光断層撮像装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。