JP5783681B2 - 撮像装置及び撮像方法 - Google Patents

Description

本発明は、撮像装置及び撮像方法に関し、特に、複数の測定光を用いて被検査物を撮像する撮像装置及び撮像方法に関する。

近年、低コヒーレンス光による干渉を利用した光干渉断層計（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）を用いて被検査物の断層画像（以下、光干渉断層画像とも呼ぶ。）を撮る撮像装置（以下、ＯＣＴ装置とも呼ぶ。）が、医療分野、特に眼科領域で用いられている。ＯＣＴ装置は、光の性質を利用するため、光の波長のオーダーであるマイクロメートル程度の高分解能で断層画像を取得することができる。

眼底などの被検眼を測定する場合、測定中に被験者の動きや瞬き、あるいはランダムに微動（固視微動）することがある。このため、ＯＣＴ装置で取得した被検眼の断層画像が歪んでしまうという課題がある。

ここで、瞳の３次元構造を高速に取得するために、複数の測定光を瞳（前眼部）に照射するＯＣＴが、特許文献１に開示されている。測定光１つあたりの照射領域を狭くすることができるため、３次元構造を高速に撮像することができる。

特表２００８−５０８０６８号公報

複数の測定光を用いて被検査物の光干渉断層画像を撮る撮像装置に関して、使用者の利便性の観点から、測定光ごと（あるいは光干渉断層画像ごと）に制御性を良くすることが望まれる。上記先行文献には、使用者の利便性を良くすることに関して、また、測定光ごとに制御性を良くすることに関して、開示がない。

本発明に係る撮像装置は、
複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と該複数の測定光にそれぞれ対応する複数の参照光とをそれぞれ合波した複数の光に基づいて、該被検査物の複数の光干渉断層画像を取得する撮像装置であって、
前記複数の測定光を前記被検査物に照射する方向に対して交差する方向の該被検査物の１つの交差画像を取得する交差画像取得手段と、
前記取得された１つの交差画像を表示手段に表示させる交差画像表示制御手段と、
前記複数の測定光の走査範囲それぞれを前記表示された１つの交差画像に対応付けて前記表示手段に表示させる走査範囲表示制御手段と、
前記複数の光干渉断層画像それぞれの位置を前記取得された１つの交差画像に対応付けて前記表示手段に表示させる位置表示制御手段と、
前記複数の光干渉断層画像をリアルタイムで前記表示手段に表示させる断層画像表示制御手段と、
前記複数の参照光の光路に独立に配置された複数のミラーと、
前記複数の光干渉断層画像がリアルタイムで前記表示手段に表示される際に、前記参照光の光路の光軸方向において前記複数のミラーの位置を調整する調整手段と、を有する。

また、別の本発明に係る撮像装置は、
測定光を照射した被検査物からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、該被検査物の複数の光干渉断層画像を取得する撮像装置であって、
前記複数の光干渉断層画像を取得するための領域の大きさを決定する決定手段と、
前記決定された大きさの領域において前記複数の光干渉断層画像を取得するための時間を計算する計算手段と、
複数の測定光を用いて前記複数の光干渉断層画像を取得するためのモードと前記複数の測定光のうち１つの測定光を用いて前記複数の光干渉断層画像を取得するためのモードとを少なくとも含む複数の撮像モードのうち少なくとも１つを選択する選択手段と、
前記計算された時間が閾値を超える撮像モードが選択されないように、選択を制限する制限手段と、
前記制限された撮像モードを除く前記複数の撮像モードから選択された撮像モードに応じて前記複数の光干渉断層画像を取得する取得手段と、を有する。

また、本発明に係る撮像方法は、
複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と該複数の測定光にそれぞれ対応する複数の参照光とをそれぞれ合波した複数の光に基づいて、該被検査物の複数の光干渉断層画像を取得する撮像方法であって、
前記複数の測定光を前記被検査物に照射する方向に対して交差する方向の該被検査物の１つの交差画像を表示手段に表示する工程と、
前記複数の測定光の走査範囲それぞれを前記表示された１つの交差画像に対応付けて前記表示手段に表示する工程と、
前記複数の光干渉断層画像それぞれの位置を前記取得された１つの交差画像に対応付けて前記表示手段に表示する工程と、
前記複数の光干渉断層画像をリアルタイムで前記表示手段に表示する工程と、
前記複数の光干渉断層画像がリアルタイムで前記表示手段に表示される際に、前記参照光の光路の光軸方向において前記複数の参照光の光路に独立に配置された複数のミラーの位置を調整する工程と、を含む。

また、別の本発明に係る撮像方法は、
測定光を照射した被検査物からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、該被検査物の複数の光干渉断層画像を取得する撮像方法であって、
前記複数の光干渉断層画像を取得するための領域の大きさを決定する決定手段と、
前記決定された大きさの領域において前記複数の光干渉断層画像を取得するための時間を計算する計算手段と、
複数の測定光を用いて前記複数の光干渉断層画像を取得するためのモードと前記複数の測定光のうち１つの測定光を用いて前記複数の光干渉断層画像を取得するためのモードとを少なくとも含む複数の撮像モードのうち少なくとも１つを選択する工程と、
前記計算された時間が閾値を超える撮像モードが選択されないように、選択を制限する工程と、
前記制限された撮像モードを除く前記複数の撮像モードから選択された撮像モードに応じて前記複数の光干渉断層画像を取得する工程と、を含む。

本発明に係る撮像装置は、複数の測定光の走査範囲を被検査物の交差画像に対応付けて表示手段に表示させることができる。これにより、測定光ごと（あるいは光干渉断層画像ごと）に制御性を良くすることができるので、使用者の利便性の良い撮像装置を提供することができる。

第１の実施形態の撮像装置について説明するための図。 第１の実施形態の画面表示について説明するための図。 第１及び第２の実施形態の撮像モードについて説明するための図。 第１の実施形態の光源の周波数特性とセンサの出力信号について説明するための図。 第１の実施形態の撮像方法について説明するためのフロー図。 第１の実施形態の測定光の数に応じた光干渉断層画像の表示について説明するための図。 第１及び第２の実施形態の画面表示について説明するための図。 第２の実施形態の撮像方法について説明するためのフロー図。

本発明に係る撮像装置は、被検査物の交差画像（複数の測定光を被検査物に照射する方向に対して交差する方向の画像のこと。）における複数の測定光の走査範囲をそれぞれ示すように表示手段に表示させることができる。これにより、測定光ごと（あるいは光干渉断層画像ごと）に制御性を良くすることができるので、使用者の利便性の良い撮像装置を提供することができる。

ここで、交差画像とは、眼底の表面の２次元画像（眼底画像とも呼ぶ。）、少なくとも１部の光干渉断層画像を眼底の深さ方向に積算した積算画像、眼底の深さ方向に対して略垂直方向の光干渉断層画像（Ｃスキャン画像とも呼ぶ。）のうち少なくとも１つのことである。なお、本発明に係る撮像装置は、上記交差画像を取得する交差画像取得手段や、上記交差画像を表示手段に表示させる交差画像表示制御手段を有する。

また、本発明に係る装置は、複数の測定光の走査範囲を上記交差画像に対応付けて表示手段に表示させる走査範囲表示制御手段を有する。これは、複数の測定光の走査範囲をそれぞれ異なる色あるいは形状で表示手段に表示させることが好ましい。これにより、複数の測定光それぞれとの対応が分かるように走査範囲をそれぞれ示すことができる。なお、上記走査範囲は、走査位置、走査領域、照射位置、撮像領域などと換言することができる。

また、本発明に係る撮像装置は、光干渉断層画像それぞれを表示手段に表示させる断層画像表示制御手段を有することが好ましい。また、本発明に係る撮像装置は、光干渉断層画像それぞれの位置を上記交差画像に対応付けて表示手段に表示させる位置表示制御手段を有することが好ましい。

また、本発明に係る撮像装置は、撮像条件の異なる複数の撮像モードのうち少なくとも１つを選択する選択手段を有することが好ましい。これにより、上記選択手段により選択された撮像モードに応じて光干渉断層画像を取得することができる。また、上記複数の撮像モードの一覧と上記選択手段の機能を有する画像（アイコンや図２などの表示部に表示される領域２０２など。表示部に表示されているカーソルによりクリックやドラッグされると、予め設定されている機能を動作させることが可能な形態であれば何でも良い。）とを表示手段に表示させる撮像条件表示制御手段を有することが、使用者の利便性の観点から好ましい。なお、表示手段は、装置と一体型の形態でも良いし、装置と着脱可能な形態でも良いし、装置と有線や無線で通信可能な形態でも良い。

ここで、上記複数の撮像モードのうち少なくとも１つの撮像モードは、被検査物に照射する測定光の数を、他の撮像モードに対して異なる数になるように設定されていることが好ましい。また、上記複数の撮像モードのうち少なくとも１つの撮像モードは、走査範囲の大きさ、撮像回数、撮像時間のうち少なくとも１つの値を、他の撮像モードに対して異なる値になるように設定されていることが好ましい。

以下、本発明を実施するための形態について、図面を用いて説明する。

（第１の実施形態）
本実施形態の撮像装置について図１（ａ）を用いて説明する。図１（ａ）は、本実施形態のＯＣＴ装置について説明するためのブロック図である。ここでは、被検眼などの被検査物に照射する複数の測定光として、３つの測定光を用いるＯＣＴ装置について説明する。なお、図を簡略化するため、３つの測定光はまとめて１本の光線として描いている。また、本実施形態は、複数の測定光を伝送する際に、光ファイバを用いているが、本発明はこれに限らない。また、本実施形態は、ＳＤ−ＯＣＴであるが、本発明は他の種類のＯＣＴ（ＴＤ−ＯＣＴやＳＳ−ＯＣＴ）やＳＬＯなども適用することができる。

まず、光源１０１から出射した３本の光は、ビームスプリッタ１０２によって参照光１１２と測定光１１１とにそれぞれ分割される。３本の測定光１１１は、ファイバ端の位置調整器１１５で３本の光線を伝送する光ファイバ端の位置を調整された後、レンズ１１６を介してＸＹミラー１０３に入射される。ＸＹミラー１０３は、本装置全体の制御を司る不図示のコントローラからの命令に応じて測定光１１１を観察対象である眼の眼底をラスタースキャンするように往復回動する。ＸＹミラー１０３で反射された３本の測定光１１１は、観察対象である眼１０５にそれぞれ照射される。眼１０５に照射された測定光１１１は、眼底での反射や散乱により戻り光１１３となって戻された後、レンズ１１６を介してビームスプリッタ１０２に照射され、ビームスプリッタ１０２によって、参照光１１２と合波され３本の干渉光１１４（合成光とも呼ぶ。）となる。３本の干渉光１１４は、レンズ１１８を介して回折格子１０７に入射され、回折格子１０７によりそれぞれ分光され、レンズ１０８によりラインセンサ１０９上にそれぞれ結像される。ここでは、３本の光電変換素子列を有する３ラインセンサを用いるが、エリアセンサを用いても良い。ラインセンサ１０９で光電変換された３本の干渉光に対する３つの画像情報は、画像情報処理部１１０において、それぞれＡ／Ｄ変換された後、フーリエ変換される。更には、３つの画像情報を合成することにより、眼１０５の眼底の断層画像（光干渉断層画像とも呼ぶ。）を取得する。

次に、光源１０１の周辺について説明する。光源１０１は代表的な低コヒーレント光源であるＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ Ｄｉｏｄｅ）である。波長は８４０ｎｍ、バンド幅５０ｎｍである。ここで、バンド幅は、得られる断層画像の光軸方向の分解能に影響するため、重要なパラメータである。また、光源の種類は、ここではＳＬＤを選択したが、低コヒーレント光が出射できればよく、ＡＳＥ（Ａｍｐｌｉｆｉｅｄ Ｓｐｏｎｔａｎｅｏｕｓ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）等も用いることができる。また、光源の波長は眼を測定することを鑑みると、近赤外光が適している。更には、得られる断層画像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長であることが望ましい。そこで、ここでは、８４０ｎｍの波長を有する光源を使用する。観察対象の測定部位によっては、他の波長を選んでももちろん構わない。

また、ビームスプリッタ１０２によって分割された参照光１１２は、ミラー１０６により反射され、ビームスプリッタ１０２に戻る。この光路長を測定光１１１と同じ長さにすることにより、参照光と測定光を干渉させることができる。ミラー１０６は、３本の参照光１１２にそれぞれ対応して３個用意され、それぞれが独立してミラー位置を調整できる構成になっているが、ここでは図を簡略化するために１つのミラーとして図示している。

また、ビームスプリッタ１０２によって分割された測定光１１１は、ＸＹミラー１０３に入射される。ここでは、図を簡略化するため、ＸＹミラー１０３は一つのミラーとして記したが、実際にはＸスキャン用ミラーとＹスキャン用ミラーとの２枚のミラーが近接して配置されている。測定光１１１は、レンズ１０４を介して眼１０５の網膜上を光軸に垂直な方向にラスタースキャンされる。レンズ１０４は網膜上に測定光１１１を集光するものである。レンズ１０４には、焦点距離を調整できるズームレンズを用いても良い。これらの光学系により、測定光１１１は眼１０５に入射すると、眼１０５の網膜からの反射や散乱により戻り光１１３となる。

また、干渉光１１４は、回折格子１０７により分光されるが、この分光は光源の中心波長、バンド幅と同じ波長条件で分光を行う。即ち、図４（ａ）に示したような周波数特性の光を、回折格子１０７、レンズ１０８を介してラインセンサ１０９の光電変換素子列１０９−１〜３（後述）に照射することになる。すると、図４（ｂ）に示すように、図４（ａ）の横軸である光波長がそのままラインセンサ１０９の光電変換素子列１０９−１〜３の０〜１０２３の画素位置（図４（ｂ）の横軸）となる。なお、１１７は３本の干渉光１１４を回折格子１０７に入射する位置を固定するためのファイバ端固定部である。

図１（ｂ）は、ラインセンサ１０９に結像される３本の干渉光１１４の様子を説明する図である。ファイバ端固定部１１７には、３本の干渉光１１４をそれぞれ伝送するための３本の光ファイバが固定されている。ラインセンサ１０９は３本の光電変換素子列１０９−１〜３を有している。ファイバ端固定部１１７に固定された光ファイバ１１７−１〜３から照射される干渉光１１４は、レンズ１１８、回折格子１０７、レンズ１０８を介し、それぞれ光電変換素子列１０９−１〜３上に結像される。

また、１１９は、レンズとラインセンサとＡ／Ｄ変換器等で構成されたラインカメラである。図示しない赤外光源から照射される光線で照射された網膜の反射光は、ミラー１２０で反射されラインカメラ１１９に導かれ、ライン毎に読み取られる。ミラー１２０を、ラインカメラ１１９のライン方向に対して平行な軸を中心として回転させることにより、網膜の２次元画像を読み取ることが可能となる。不図示のコントローラでは、ライン毎の画像をつなぎ合わせ、一枚の２次元画像を生成する。２次元画像が生成されるたびに、ミラー１２０を繰り返し走査し続けることにより、連続した網膜の２次元画像を取得することが可能となる。

上記各ユニット等の動作はコントローラ（不図示）で制御されている。また、上記コントローラは、ＰＣに接続されており、測定者はＰＣに接続されたモニタ、マウス、キーボード等の入出力機器を用いてＯＣＴ装置を操作する。

次に、本実施形態のＯＣＴ装置の撮像モードの選択方法について、図２（ａ）を用いて説明する。図２（ａ）は、ＯＣＴ装置に付随するモニタ（表示手段とも呼ぶ。）に表示された撮像モードの選択画面である。２０１は、ラインカメラ１１９で撮像された眼底の２次元画像である。図中２１５は黄斑、２１４は視神経乳頭である。２０３〜２０６は、眼底の断層像を撮像する前に、ピント調整、参照光１１２を反射するミラー１０６の位置調整、いわゆるコヒーレントゲート調整等を行うために、それぞれのビームで眼底を走査したＢスキャン画像をリアルタイムに表示したものである。ここでは、２０３〜２０６の画像をライブＢスキャン画像と呼ぶことにする。眼底の２次元画像２０１上には、３本のレーザビームがそれぞれ走査する走査領域、ライブＢスキャン画像を得るために各レーザビームが走査しているＢスキャンラインを示した四角や線が３本のレーザビーム毎に表示されている（詳細は後述する）。

２０２は、撮像モードのパラメータを設定・表示する領域である。ここでは、８種類の撮像モードを表示している。表示する撮像モードは、予め測定者が設定したものでも良いし、過去の撮像履歴から、撮像頻度の高いモードを順番に表示しても良い。また、撮像モードのパラメータはマウスなどの入力手段によりモニタ画面上で選択し、随時変更することができる。撮像モードのパラメータとして、ここではＡスキャン本数、Ｂスキャン枚数、ｘ範囲、ｙ範囲、ビーム本数、撮像回数の設定が可能となっている。ｘ範囲とは眼底のｘ方向、即ち被測定者の頭に対して水平方向の撮像領域幅、ｙ範囲とは眼底のｙ方向、即ち被測定者の頭に対して垂直方向の撮像領域幅をそれぞれ表わしている。Ａスキャン本数は眼底のｘ方向の解像度、Ｂスキャン枚数はｙ方向の解像度を表している。例えば、ｘ範囲＝１０ｍｍ、ｙ範囲＝５ｍｍ、Ａスキャン本数＝５００、Ｂスキャン枚数＝１００と設定した場合、ｘ方向に２０μｍピッチで５００個のＡスキャンデータを組み合わせて１枚のＢスキャン画像を生成し、前記Ｂスキャン画像をｙ方向に５０μｍピッチで１００枚撮像することになる。

ビーム本数は、眼底を撮像するレーザビームの本数で、本装置では１本と３本が選択できる。撮像回数は、眼底の同じ位置のＢスキャンラインを何回撮像するかの繰り返しスキャン回数を表わしている。ＳＤ−ＯＣＴ装置では、微小な画像信号（干渉信号）を用いて眼底の断層像を作成することになるため、撮像回数を増やし、微小な画像信号を平均化等の処理を施すことによりノイズの影響を削減する方法を採用することが多い。但し、撮像回数を増加させることにより、撮像時間が長くなってしまうというデメリットもある。この他に、領域２０２には設定されたパラメータで眼底画像の断層像を撮像するのに要する時間を表示するようになっている。

以上のような構成のＳＤ−ＯＣＴ装置において本実施形態の動作を図５のフローチャートを用いて説明する。被測定者が測定可能になった状態で、最初に、測定者の操作に基づいて、撮像モードを設定する（ステップ８０１、以下Ｓ８０１）。ここでは、例としてＡスキャン本数３００、Ｂスキャン枚数３００、ｘ範囲１０ｍｍ、ｙ範囲１０ｍｍ、レーザビーム本数３、撮像回数１である撮像モード２を選択する。この撮像モードに要する撮像時間は、０．７５秒である。すると、操作画面には、図２（ａ）に示されるような画像が表示される。ここでは、測定光１１１の３本のレーザビームが、それぞれ眼底をどのように分割して走査するかを説明に不要な情報を削除した図２（ｂ）と図６（ａ）を用いて説明する。図２（ｂ）に示すように、３本のレーザビームの走査領域は、それぞれ上から２０７、２０８、２０９で表示される。眼底の上部の走査領域２０７と中部の走査領域２０８、更には眼底の下部の走査領域２０９と中部の走査領域２０８はそれぞれがｙ方向に対して１０％づつ重なるようになっている。

また、図６（ａ）は、Ｓ８０１で選択されたモードにおけるライブＢスキャン画像を示した図である。図中、２１０はライブＢスキャン画像２０３の撮像位置を示すＢスキャンラインを示している。同様に、２１１はライブＢスキャン画像２０４、２１２はライブＢスキャン画像２０５、２１２はライブＢスキャン画像２０６の撮像位置を示すＢスキャンラインをそれぞれ示している。

図２（ｂ）と図６（ａ）に示すように上部の領域２０７の枠と、上部の領域２０７を走査するレーザビームを用いて撮像したライブＢスキャン画像２０３の枠、及びそのＢスキャンライン２１０はそれぞれ同じ点線で示されている。また、中部の領域２０８の枠と、中部の領域２０８を走査するレーザビームを用いて撮像したライブＢスキャン画像２０４の枠、及びそのＢスキャンライン２１１は実線で示されている。同様に、下部の領域２０９の枠と、下部の領域２０９を走査するレーザビームを用いて撮像したライブＢスキャン画像２０５の枠、及びそのＢスキャンライン２１２は一点鎖線で示されている。更に、眼底のｙ方向のライブＢスキャン画像２０６の枠と、そのＢスキャンライン２１３は細かい点線で表わされている。これらの方法により、どのレーザビームがどの領域を走査し、現在の表示されているライブＢスキャン画像がどのＢスキャンラインを撮像したものかが簡単に判別できるようになっている。ここでは、実線や点線を用いて区別をしたが、赤枠、赤線のようにレーザビーム毎に色等で区別しても構わない。

撮像モードを選択した後、最初に表示されるライブＢスキャン画像２０３〜２０６は、ｘ方向に関しては各レーザビームの走査領域の中央部、ｙ方向に関しては、全体の撮像領域の中央部の断層像となる。ここで、図７（ａ）に示すように、不図示のマウスでＢスキャンライン２１０をクリックし、図中の矢印で示すように上下に動かすと、移動後のＢスキャンライン２１０の位置に応じたライブＢスキャン画像２０３が表示される。同様に、Ｂスキャンライン２１３をクリックし、図中の矢印で示すように左右下に動かすと、移動後のＢスキャンライン２１３の位置に応じたライブＢスキャン画像２０６が表示される。

ここで、使用者は、図２（ｂ）に示された眼底上の撮像領域を確認し、被測定者である患者の撮像領域が現在選択されている撮像モードのまま断層像を撮像しても良いか否かを判断する（Ｓ８０３）。例えば、３本のレーザビームで眼底画像を撮像し、３つのＢスキャン画像を合成すると、分割された領域の境目に不連続性が発生してしまう。そのため、分割された領域の境目が黄斑周辺や患部等の注目領域と重なってしまう場合には、１本のレーザビームでの撮像を選択したほうが良い。更には、ライブＢスキャンラインを撮像領域の周辺端部に移動させ、眼底端部の撮像は不要なことが確認できた場合には、１本のレーザビームで注目領域周辺のみを撮像するモードに切り替えても良い。ここでは、患者の眼底端部の撮像が必要ないと判断されたため、撮像領域の小さい撮像モード４を選択する場合について説明する（Ｓ８０４）。

図３（ａ）は、撮像モード４、即ち、Ａスキャン本数３００、Ｂスキャン枚数３００、ｘ範囲６ｍｍ、ｙ範囲６ｍｍ、レーザビーム本数１、撮像回数１の設定時における、走査領域２０８を示している。

撮像モード４のようにレーザビーム数を１と設定した場合には、３本あるレーザビームの内、中央部の領域２０８を走査する２番目のレーザビームが選択される。これは、中央部の領域２０８を走査する３つのうちの２番目のレーザビームはレンズ１０８、１１８の中心部を透過することになり、レンズにおける光学的な歪等の影響を一番受けないからである。また、図６（ｂ）は、Ｓ８０４で選択された撮像モード４におけるライブＢスキャン画像を示した図である。図中、２１１はライブＢスキャン画像２０４の撮像位置を示すＢスキャンラインを示している。

また、マウス（不図示）で走査領域２０８をクリックし、図中の矢印で示すように上下に動かすと、走査領域２０８の位置を眼底上で移動させることができる。なお、実際の移動は、ＸＹスキャナ１０３より被測定側の光学系の位置をコントローラの制御の下に調整することにより走査領域が変更されている。ここでは、黄斑２１５を中心とした領域が撮像するように、走査領域２０８の位置を設定する。更に、移動後のＢスキャンライン２１０の位置に応じたライブＢスキャン画像２０３が表示される。ここで、図７（ｂ）に示すように、不図示のマウスでＢスキャンライン２１１をクリックし、図中の矢印で示すように上下に動かすと、移動後のＢスキャンライン２１１の位置に応じたライブＢスキャン画像２０４が表示される。同様に、Ｂスキャンライン２１３をクリックし、図中の矢印で示すように左右下に動かすと、移動後のＢスキャンライン２１３の位置に応じたライブＢスキャン画像２０６が表示される。

上記のように、撮像モードを選択し、その度、撮像領域、ライブＢスキャン画像を確認し、被測定者である患者の症状や測定の目的に応じた撮像モードか否かを判断し、目的に適合した撮像モードであると確認できたならば、実際に被測定物である眼底の断層像を測定する（Ｓ８０５）。

以上説明のように本実施形態によれば、被測定物の２次元画像に、撮像に使用するビームん本数に対応した撮像領域を識別可能に表示することができる。それにより、撮像の目的に合った撮像モードであるかを容易に確認することができる。また、撮像の目的に合った撮像モードの変更が容易にできる。

被測定者の眼底画像を撮像する場合には、被測定者の眼軸長、水晶体の屈折率等の個人差、更にはレンズ１０４における焦点距離調整等により、図２（ｂ）に示した操作画面上のレーザビームの走査領域２０７、２０８、２０９と、実際に眼底上に走査させるレーザビームの走査領域が異なる場合がある。このような差異を解消するために、レーザビームの走査領域を校正するステップを上記実施形態の中に取り入れてもよい。具体的には、上記実施形態のＳ８０１とＳ８０２の動作の間で、Ｓ８０１で設定されたｘ範囲、ｙ範囲に応じたレーザビームを眼底上に走査し、ラインカメラ１１９において眼底上に走査されたレーザビームの走査範囲を測定する。実際に測定したレーザビームの走査範囲と操作画面上のレーザビームの走査領域２０７、２０８、２０９が異なる場合には、操作画面上に表示するレーザビームの走査領域を、測定したレーザビームの走査領域に合わせればよい。また、逆に、操作画面上に表示されたレーザビームの走査領域２０７、２０８、２０９に、実際に眼底上に走査されるレーザビームの走査範囲が合うように、ＸＹミラー１０３の回動量を制御しても良い。

（第２の実施形態）
次に、撮像モードを自動的に選択する方法について、図８のフローチャートを用いて説明する。最初に、測定者は眼底の２次元画像２０１上の注目点を図７（ｃ）に示すようにマウスカーソル２１６で指定する（Ｓ１３０１）。次に、撮像モードのパラメータを、設定・表示部で撮像領域サイズを指定することにより設定する（Ｓ１３０２）。このとき、ｘ範囲、ｙ範囲とも１ｍｍ当たり１００、即ちｘ方向、ｙ方向における解像度は１００（１／ｍｍ）ととなるように予め設定しておくと、ｘ範囲、ｙ範囲を指定するとＡスキャン本数、Ｂスキャン枚数は連動して設定されることになる。ここでは、解像度をｘ方向、ｙ方向とも１００と設定した場合について説明するが、この値は、任意に設定しても構わない。更には、撮像回数は１回が設定されているが、この値も任意に変更することも可能である。

次に、ＰＣでは設定されたパラメータから、レーザビームの本数が１本の場合、３本の場合の撮像時間を計算する（Ｓ１３０３）。被測定者である患者の目を一箇所に停止しておくことは困難であるため、ここでは撮像時間が３秒を超える撮像モードは選択しないように制限を設けることとする。また、レーザビームの本数を複数本にすると、分割した撮像領域の境目の不連続性が発生する場合があるため、短時間での撮像と不連続部の無い画像の撮像のいずれを優先するかに応じて、最適な撮像モードを選択できる。このため本実施形態では不連続部の無い画像の撮像を優先し、レーザビーム１本での撮像時間が制限時間である３秒以内となる場合は、１本のレーザビームを選択するものとする。次に、図３（ｂ）に示すように、モード１に設定された条件を示すとともに、撮像領域及びライブＢスキャン画像を表示する（Ｓ１３０４）。ここでは、設定された条件から、１本のレーザビームで撮像するモードが選択されたため、中央部の領域を走査する３つのうちの２番目のレーザビームで走査する撮像領域２０８、及び中央部の領域を走査する３つのうちの２番目のレーザビームにおけるライブＢスキャン画像２０４、ｙ方向のライブＢスキャン画像２０６が表示される。次に、測定者はＳ１３０４で表示された撮像モードでの撮像が目的に合っているか否かをライブＢスキャンライン２１１、２１３等を移動することにより判断する（Ｓ１３０５）。選択された撮像モードが目的に合っていない場合には、第１の実施形態と同様に撮像モードの再設定を行い（Ｓ１３０６）、撮像の目的に合ったモードを見つけるまでＳ１３０４〜１３０６を繰り返す。最後に、撮像の目的と合った撮像モードが設定できたら、眼底の断層像を撮像する（Ｓ１３０７）。

本実施形態では、撮像領域の設定を所望の撮像領域の中心点をマウスカーソルで指定し、更にｘ範囲、ｙ範囲を数値で設定する方法を説明したが、図７（ｄ）に示すように、マウスカーソルを始点２１８からクリックしたまま斜め方向移動し、撮像領域２１７を指定する方法等でも良い。

以上説明にように本実施形態によれば、更に、領域を設定することにより撮像モードを選択できるので、操作者が種々の撮像モードを理解していなくても適切な撮像モードを選択することができ、操作が容易となる。

（第３の実施形態）
第２の実施形態では、撮像モードを選択する条件を、撮像領域、撮像時間、ビーム本数の順で優先したが、撮像領域、撮像時間、ビーム本数、撮像回数、解像度等の撮像モードを決定する全パラメータの優先順位は、測定者が任意に決められる。

（その他の実施形態）
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。

１０１ 光源
１０２ ビームスプリッタ
１０３ ＸＹミラー
１０５ 眼
１０６ ミラー
１０７ 回折格子
１０９ ラインセンサ
１１０ 画像情報処理部
１１１ 測定光
１１２ 参照光
１１３ 戻り光
１１４ 干渉光
１１５ ファイバ端の位置調整器
１１７ ファイバ端固定部
１１９ ラインカメラ
１２０ ミラー

Claims (21)

1. 複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と該複数の測定光にそれぞれ対応する複数の参照光とをそれぞれ合波した複数の光に基づいて、該被検査物の複数の光干渉断層画像を取得する撮像装置であって、
   前記複数の測定光を前記被検査物に照射する方向に対して交差する方向の該被検査物の１つの交差画像を取得する交差画像取得手段と、
   前記取得された１つの交差画像を表示手段に表示させる交差画像表示制御手段と、
   前記複数の測定光の走査範囲それぞれを前記表示された１つの交差画像に対応付けて前記表示手段に表示させる走査範囲表示制御手段と、
   前記複数の光干渉断層画像それぞれの位置を前記取得された１つの交差画像に対応付けて前記表示手段に表示させる位置表示制御手段と、
   前記複数の光干渉断層画像をリアルタイムで前記表示手段に表示させる断層画像表示制御手段と、
   前記複数の参照光の光路に独立に配置された複数のミラーと、
   前記複数の光干渉断層画像がリアルタイムで前記表示手段に表示される際に、前記参照光の光路の光軸方向において前記複数のミラーの位置を調整する調整手段と、
   を有することを特徴とする撮像装置。
2. 前記走査範囲表示制御手段が、前記走査範囲をそれぞれ異なる色あるいは形状で前記表示された１つの交差画像に重ねて前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
3. 前記被検査物が被検眼の眼底であり、
   前記取得された１つの交差画像が、前記眼底の表面の２次元画像、少なくとも１部の前記光干渉断層画像を前記眼底の深さ方向に積算した積算画像、前記眼底の深さ方向に対して略垂直方向の前記光干渉断層画像のうち少なくとも１つであることを特徴とする請求項１または２に記載の撮像装置。
4. 複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と前記複数の測定光に対応する複数の参照光とを合波した複数の合波光に基づいて、前記被検査物の複数の光干渉断層画像を取得する撮像装置であって、
   前記複数の光干渉断層画像をリアルタイムで表示手段に表示させる表示制御手段と、
   前記複数の参照光の光路に独立に配置された複数のミラーと、
   前記複数の光干渉断層画像がリアルタイムで前記表示手段に表示される際に、前記複数の参照光の光路の光軸方向において前記複数のミラーの位置を調整する調整手段と、
   を有することを特徴とする撮像装置。
5. 複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と前記複数の測定光に対応する複数の参照光とを合波した複数の合波光に基づいて、前記被検査物の複数の光干渉断層画像を取得する撮像装置であって、
   前記複数の参照光の光路に独立に配置された複数のミラーと、
   前記複数の参照光の光路の光軸方向において前記複数のミラーの位置を調整する調整手段と、
   前記調整手段により調整された前記複数のミラーの位置に対応する前記複数の光干渉断層画像をリアルタイムで表示手段に表示させる表示制御手段と、
   を有することを特徴とする撮像装置。
6. 前記複数の測定光を前記被検査物に照射する方向に対して交差する方向の該被検査物の交差画像を取得する交差画像取得手段を更に有し、
   前記表示制御手段は、前記複数の光干渉断層画像の取得位置を前記交差画像に重ねて前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項４または５に記載の撮像装置。
7. 前記表示制御手段は、前記複数の光干渉断層画像の取得位置を異なる色と異なる形状との少なくとも一方で前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項６に記載の撮像装置。
8. 前記複数の光干渉断層画像の取得位置は、独立して移動可能であり、
   前記表示制御手段は、前記移動された取得位置に対応する前記複数の光干渉断層画像を前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項６または７に記載の撮像装置。
9. 撮像条件の異なる複数の撮像モードの一覧と前記複数の撮像モードのうち少なくとも１つを選択する機能を有する画像とを前記表示手段に表示させる撮像条件表示制御手段と、
   前記複数の撮像モードから選択された撮像モードに応じて前記複数の光干渉断層画像を取得する取得手段と、
   を更に有することを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の撮像装置。
10. 前記複数の撮像モードのうち少なくとも１つの撮像モードは、前記被検査物に照射する測定光の数を、他の撮像モードに対して異なる数になるように設定されていることを特徴とする請求項９に記載の撮像装置。
11. 測定光を照射した被検査物からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、該被検査物の複数の光干渉断層画像を取得する撮像装置であって、
    前記複数の光干渉断層画像を取得するための領域の大きさを決定する決定手段と、
    前記決定された大きさの領域において前記複数の光干渉断層画像を取得するための時間を計算する計算手段と、
    複数の測定光を用いて前記複数の光干渉断層画像を取得するためのモードと前記複数の測定光のうち１つの測定光を用いて前記複数の光干渉断層画像を取得するためのモードとを少なくとも含む複数の撮像モードのうち少なくとも１つを選択する選択手段と、
    前記計算された時間が閾値を超える撮像モードが選択されないように、選択を制限する制限手段と、
    前記制限された撮像モードを除く前記複数の撮像モードから選択された撮像モードに応じて前記複数の光干渉断層画像を取得する取得手段と、
    を有することを特徴とする撮像装置。
12. 測定光を照射した被検査物からの戻り光と該測定光に対応する参照光とを合波した合波光に基づいて、前記被検査物の光干渉断層画像を取得する撮像装置であって、
    前記測定光を前記被検査物に照射する方向に対して交差する方向の前記被検査物の画像を取得する取得手段と、
    前記参照光の光路に配置されたミラーと、
    前記参照光の光路の光軸方向において前記ミラーの位置を調整する調整手段と、
    前記測定光が異なる時間に照射された前記被検査物の表面における互いに交差する複数の位置を前記画像に対応付けて表示手段に表示させ、前記互いに交差する複数の位置と前記調整手段により調整された前記ミラーの位置とに対応する前記被検査物の複数の光干渉断層画像をリアルタイムで前記表示手段に表示させる表示制御手段と、
    を有することを特徴とする撮像装置。
13. 前記互いに交差する複数の位置は、独立して移動可能であり、
    前記表示制御手段は、前記移動された複数の位置と前記調整手段により調整された前記ミラーの位置とに対応する前記複数の光干渉断層画像を前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項１２に記載の撮像装置。
14. 請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の撮像装置を用いて前記被検査物の光干渉断層画像を撮る撮像方法であって、
    前記表示手段に表示させる信号を入力する入力工程と、
    前記入力工程で入力された信号に基づく情報を前記表示手段に表示する表示工程と、
    を含むことを特徴とする撮像方法。
15. 複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と該複数の測定光にそれぞれ対応する複数の参照光とをそれぞれ合波した複数の光に基づいて、該被検査物の複数の光干渉断層画像を取得する撮像方法であって、
    前記複数の測定光を前記被検査物に照射する方向に対して交差する方向の該被検査物の１つの交差画像を表示手段に表示する工程と、
    前記複数の測定光の走査範囲それぞれを前記表示された１つの交差画像に対応付けて前記表示手段に表示する工程と、
    前記複数の光干渉断層画像それぞれの位置を前記取得された１つの交差画像に対応付けて前記表示手段に表示する工程と、
    前記複数の光干渉断層画像をリアルタイムで前記表示手段に表示する工程と、前記複数の光干渉断層画像がリアルタイムで前記表示手段に表示される際に、前記参照光の光路の光軸方向において前記複数の参照光の光路に独立に配置された複数のミラーの位置を調整する工程と、
    を含むことを特徴とする撮像方法。
16. 複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と前記複数の測定光に対応する複数の参照光とを合波した複数の合波光に基づいて、前記被検査物の複数の光干渉断層画像を取得する撮像方法であって、
    前記複数の光干渉断層画像をリアルタイムで表示手段に表示させる工程と、
    前記複数の光干渉断層画像がリアルタイムで前記表示手段に表示される際に、前記複数の参照光の光路の光軸方向において前記複数の参照光の光路に独立に配置された複数のミラーの位置を調整する工程と、
    を有することを特徴とする撮像方法。
17. 複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と前記複数の測定光に対応する複数の参照光とを合波した複数の合波光に基づいて、前記被検査物の複数の光干渉断層画像を取得する撮像方法であって、
    前記複数の参照光の光路の光軸方向において前記複数の参照光の光路に独立に配置された複数のミラーの位置を調整する工程と、
    前記調整された前記複数のミラーの位置に対応する前記複数の光干渉断層画像をリアルタイムで表示手段に表示させる工程と、
    を有することを特徴とする撮像方法。
18. 測定光を照射した被検査物からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、該被検査物の複数の光干渉断層画像を取得する撮像方法であって、前記複数の光干渉断層画像を取得するための領域の大きさを決定する決定手段と、前記決定された大きさの領域において前記複数の光干渉断層画像を取得するための時間を計算する計算手段と、
    複数の測定光を用いて前記複数の光干渉断層画像を取得するためのモードと前記複数の測定光のうち１つの測定光を用いて前記複数の光干渉断層画像を取得するためのモードとを少なくとも含む複数の撮像モードのうち少なくとも１つを選択する工程と、
    前記計算された時間が閾値を超える撮像モードが選択されないように、選択を制限する工程と、
    前記制限された撮像モードを除く前記複数の撮像モードから選択された撮像モードに応じて前記複数の光干渉断層画像を取得する工程と、
    を含むことを特徴とする撮像方法。
19. 測定光を照射した被検査物からの戻り光と該測定光に対応する参照光とを合波した合波光に基づいて、該被検査物の光干渉断層画像を取得する撮像方法であって、
    前記測定光を前記被検査物に照射する方向に対して交差する方向の前記被検査物の画像を取得する工程と、
    前記参照光の光路の光軸方向において前記参照光の光路に配置されたミラーの位置を調整する工程と、
    前記測定光が異なる時間に照射された前記被検査物の表面における互いに交差する複数の位置を前記画像に対応付けて表示手段に表示させ、前記互いに交差する複数の位置と前記調整された前記ミラーの位置とに対応する前記被検査物の複数の光干渉断層画像をリアルタイムで前記表示手段に表示させる工程と、
    を有することを特徴とする撮像方法。
20. 前記互いに交差する複数の位置は、独立して移動可能であり、
    前記表示させる工程において、前記移動された複数の位置と前記調整された前記ミラーの位置とに対応する前記複数の光干渉断層画像を前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項１９に記載の撮像方法。
21. 請求項１４乃至２０のいずれか１項に記載の撮像方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。

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