JP2014134385A5 - - Google Patents

Description

また本発明に係るクロマトグラフ質量分析用データ処理装置において、クロマトグラム波形処理部により実行されるマスクロマトグラムに対する波形処理の具体的な内容は、クロマトグラム上のピークの面積値又は高さ値に影響を与える波形処理であれば特に限定されないが、典型的には、マスクロマトグラム上で目的とするピークの面積値又は高さ値を算出する際に用いられるベースライン補助線を設定する処理とすることができる。

Claims (3)

1. クロマトグラフ質量分析装置により収集されたデータに基づいて、所定質量電荷比を有する目的化合物由来の定量イオンとそれとは異なる質量電荷比を有する一又は複数の確認イオンとについてそれぞれマスクロマトグラムを作成し、それらマスクロマトグラム上のピークを利用して目的化合物を定量するクロマトグラフ質量分析用データ処理装置において、
   a)後記クロマトグラム波形処理部による所定の波形処理条件の下での波形処理の実行の設定時又はその実行時に、該波形処理の実行対象のマスクロマトグラムとして、少なくとも定量イオンのマスクロマトグラムのみ、１又は複数の確認イオンのマスクロマトグラムのみ、又は、定量イオン及び１又は複数の確認イオンのマスクロマトグラムの全て、のいずれかを選択するための表示を行い、該表示に対するオペレータの指示を受けて、前記波形処理の実行対象のマスクロマトグラムを決定するクロマトグラム選択決定部と、
   b)オペレータにより設定された波形処理条件に従って、マスクロマトグラム上の目的ピークの面積値又は高さ値を算出するために必要な波形処理を、前記クロマトグラム選択決定部により決定された１又は複数のマスクロマトグラムに対してそれぞれ実行するクロマトグラム波形処理部と、
   を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析用データ処理装置。
2. 請求項１に記載のクロマトグラフ質量分析用データ処理装置であって、
   前記クロマトグラム波形処理部による波形処理は、マスクロマトグラム上で目的とするピークの面積値又は高さ値を算出する際に用いられるベースライン補助線を設定する処理であることを特徴とするクロマトグラフ質量分析用データ処理装置。
3. 請求項２に記載のクロマトグラフ質量分析用データ処理装置であって、
   前記クロマトグラム波形処理部により波形処理された定量イオンのマスクロマトグラム及び確認イオンのマスクロマトグラムに基づき、定量イオン及び確認イオンの各ピークの面積値又は高さ値を算出し、その定量イオンのピークの面積値又は高さ値と確認イオンのピークの面積値又は高さ値との比を確認イオン比として算出する確認イオン比計算部、をさらに備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析用データ処理装置。