JP2006189279A - クロマトグラフ質量分析装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 ＳＩＭ測定を行う際に、定量計算の基礎とするターゲットイオンを複数設定すると１種のイオン当たりのモニタ時間が短くなって検出感度が低下する。
【解決手段】 ＧＣ分析開始時点ではＳＩＭ測定でターゲットイオンＴ１、Ｔ２、Ｔ３のみを検出し（ａ）、その結果によりマスクロマトグラムをリアルタイムで作成する。ターゲットイオンＴ１のピークが出現し始めたならば、そのターゲットイオンＴ１を同定するための同定イオンＤ１１、Ｄ１２、Ｄ１３の検出を開始し（ｂ）、その同定イオンの検出結果を利用してターゲットイオンＴ１が目的化合物に由来するものか否かを確認する。ピークが現れているターゲットイオンに対する同定イオンのみを検出するので、１ＭＳ周期内で検出するイオン種の数を減らすことができ、ターゲットイオンのモニタ時間ｔｄを長く確保できる。
【選択図】 図３

Description

本発明は、ガスクロマトグラフ質量分析装置（ＧＣ／ＭＳ）や液体クロマトグラフ質量分析装置（ＬＣ／ＭＳ）などのクロマトグラフ質量分析装置に関し、更に詳しくは、ＳＩＭ（Selected Ion Monitering：選択イオンモニタリング）測定を行うクロマトグラフ質量分析装置に関する。

近年、ガスクロマトグラフ（ＧＣ）と質量分析計（ＭＳ）とを組み合わせたガスクロマトグラフ質量分析装置（ＧＣ／ＭＳ）は、環境測定、有機化合物分析、各種プロセスのモニタリングなど様々な分野で幅広く使用されている。ＧＣ／ＭＳを用いた測定方法としては、いわゆるスキャン測定法と、ＳＩＭ測定法とが知られている。

スキャン測定法では、質量分析装置において所定の質量数範囲内で分析対象のイオンの質量数を走査し、その質量数範囲に含まれる全てのイオンを検出する。したがって、未知試料の定性分析等、分析対象成分の質量数が不明である場合に特に有用である。一方、ＳＩＭ測定法では、予め指定された１乃至複数の特定の質量数を有するイオンのみを選択的に時分割で検出する。したがって、分析対象の物質が既知で、その物質の定量分析を高感度で以て行う場合に有用である（例えば特許文献１など参照）。

試料に含まれる或る化合物の定量分析を行う場合、一般的には、定量の基礎とするピーク（ターゲットイオンのピーク）としてはできるだけ信号強度の大きなピークを選定することが望ましい。但し、そのターゲットイオンのピークだけではそのピークが確かに目的化合物のものであるか否かの確認が難しい場合がある。そうした場合には、ターゲットイオンのピークの他に、その化合物を特徴付ける他のイオンのピーク（参照イオン又は同定イオンのピーク）を選定し、その同定イオンのピークのピーク強度とターゲットイオンのピークのピーク強度との相対比率により、ターゲットイオンのピークが目的化合物のものであることの確認、つまり同定が行われる。さらに、或る１つのターゲットイオンのピークの同定を正確に行うには、同定イオンが１種類では不十分な場合が多く、１つのターゲットイオンに対し２種乃至３種程度（或いはそれ以上）の同定イオンが用いられることもある。

このような場合には、ＳＩＭ測定ではあっても、分析開始時点からターゲットイオンの選択的検出のみを連続的に行っているわけではなく、ターゲットイオンの検出と、１乃至複数の同定イオンの検出とを時分割で実行することになる。一例として、ターゲットイオンＴ１の質量数がｍ１、このターゲットイオンＴ１を同定するための３種の同定イオンＤ１１、Ｄ１２、Ｄ１３の質量数がｍ２、ｍ３、ｍ４である場合について、測定のタイミング（ａ）と質量数選択のための質量走査パターン（ｂ）との概略を図６に示す。

この例では、ターゲットイオンＴ１の検出に引き続いて同定イオンＤ１１、Ｄ１２、Ｄ１３を順番に検出し、この合計４種のイオンを１つの組として、それぞれのイオンに対応する質量数ｍ１、ｍ２、ｍ３、ｍ４を順次選択的に且つ繰り返し検出する。各イオンに対するモニタ時間（デュエルタイム）ｔｄは同一であり、４種のイオンを全てモニタする期間を１ＭＳ周期として、分析の開始時点から終了時点まで上記ＭＳ周期を繰り返す。質量分析装置が四重極質量フィルタによりイオン選択を行うものである場合には、図６（ｂ）に示すような質量走査パターンに応じて四重極質量フィルタに印加する電圧を走査する。

図６はターゲットイオンが１種類のみの場合の例であるが、多くの場合、試料に含まれる複数の化合物を同時に分析するために複数のターゲットイオンが設定され、各ターゲットイオン毎にそれぞれ同定イオンが設定される。図７はターゲットイオンが３種であり、各ターゲットイオンＴ１、Ｔ２、Ｔ３に対してそれぞれ３種ずつの同定イオンが設定される場合の、１ＭＳ周期内の測定タイミングを示す図である。この場合には、１ＭＳ周期の期間ｔｃ内に１２種のイオンを検出する必要があるため、１種のイオンに対するモニタ時間ｔｄは１ＭＳ周期の期間ｔｃの略１／１２になる。

各イオンの検出感度を高くするには、各イオンのモニタ時間ｔｄをできるだけ長く設定することが望ましい。しかしながら、クロマトグラムのピークトップを逃すことなく質量分析を行うためにはＭＳ周期の期間ｔｃを余り長くすることはできない。そのため、特に上述したようにターゲットイオンを複数設定しようとすると、各イオンのモニタ時間ｔｄを短くせざえるを得ず、イオンの検出感度が低下してしまうという問題がある。

なお、ＧＣ／ ＭＳのみならず、液体クロマトグラフ（ＬＣ）と質量分析計（ＭＳ）とを組み合わせた液体クロマトグラフ質量分析装置でも同様の問題が生じる。

特開平８−１２９００２号公報

本発明は上記課題を解決するために成されたものであり、その目的とするところは、ＳＩＭ測定によりターゲットイオンと同定イオンの選択的検出を行う場合に、ターゲットイオンの検出感度を改善することができるクロマトグラフ質量分析装置を提供することにある。

上記課題を解決するために成された本発明は、試料中の目的化合物について定量計算の基礎とするターゲットイオンとそれを同定するための同定イオンとを定めておき、クロマトグラフにより成分分離された試料に対し質量分析装置により前記ターゲットイオン及び同定イオンをそれぞれ選択的に検出する、ＳＩＭ測定を実行するクロマトグラフ質量分析装置において、
a)ＳＩＭ測定により前記ターゲットイオンを選択的に検出した検出結果に基づいてクロマトグラムを作成するクロマトグラム作成手段と、
b)該クロマトグラムにおいて前記ターゲットイオンのピークが出現しているか否かを判定するピーク検出手段と、
c)前記ターゲットイオンのピークが出現していると判定されたときに、前記ターゲットイオンの選択的検出と時分割で該ターゲットイオンを同定するための同定イオンの選択的検出を実行するようにし、前記ターゲットイオンのピークが出現していないと判定されたときには前記同定イオンの選択的検出を実行しないように、ＳＩＭ測定による各イオンの測定タイミングを制御する分析制御手段と、
を備えることを特徴としている。

クロマトグラフ質量分析装置の場合、試料に含まれる複数の成分はクロマトグラフ（例えばガスクロマトグラフ、液体クロマトグラフなど）により時間的に分離されるので、検出対象として複数のターゲットイオンが設定された場合でも、或る１つのターゲットイオンが出現しているときには他のターゲットイオンは出現していないのが一般的である。本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置では、或るターゲットイオンが出現しているときに、分析制御手段は、そのターゲットイオンの選択的検出と時分割でそのターゲットイオンを同定するための同定イオンの選択的検出を実行するべくＳＩＭ測定による各イオンの測定タイミングを決定するが、ピークが現れていない他のターゲットイオンを同定するための同定イオンの選択的検出は実行しない。即ち、従来は、ターゲットイオンの出現の有無に拘わらず全ての同定イオンを常に検出していたのに対し、本発明では、同定対象であるターゲットイオンが出現していないときにはその同定イオンの検出自体を実行しない。

したがって、複数のターゲットイオンが同時に出現しないという前提の下では、ＳＩＭ測定による１回のＭＳ周期の中で不要である同定イオンの検出に要する時間を減らした分をターゲットイオンの検出や必要な同定イオンの検出の時間に割り当てることができる。それによって、ターゲットイオンや必要な同定イオンのモニタ時間を従来よりも長く確保することができ、検出感度を向上させることができる。また、検出感度の向上を図る代わりに１回のＭＳ周期の期間を短縮して単位時間当たりのＭＳ周期の繰り返し回数を増加させることにより、クロマトグラムの時間分解能が向上し、短時間だけ出現するような成分も確実に捉えることができる。

なお、同定イオンの検出はターゲットイオンの同定のみを目的としているから、同定対象のターゲットイオンが出現している期間中に、最低限１回だけ同定イオンの検出を実行すればよい。その際には、ターゲットイオンの信号強度はできるだけ大きいほうが好ましいから、本発明の一態様として、前記ピーク検出手段は前記クロマトグラムにおいてターゲットイオンのピークのピークトップ付近であることを検出し、前記分析制御手段はその検出結果に応じて１回のみ前記同定イオンの選択的検出を実行する構成としてもよい。

この構成によれば、ターゲットイオンのピークが出現している期間中の大部分においてターゲットイオンの検出のみを実行すればよいため、ターゲットイオンのモニタ時間をさらに一層長くすることができる。

また、上記理由により、同定イオンの検出の精度はターゲットイオンの検出精度よりも低くてもよい場合が多い。そこで、本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置では、前記分析制御手段は、前記ターゲットイオンの選択的検出と時分割で前記同定イオンの選択的検出を実行する際に、同定イオンのモニタ時間をターゲットイオンのモニタ時間よりも短く設定する構成としてもよい。

この構成によれば、同定イオンのモニタ時間を短くした分をターゲットイオンのモニタ時間に割り当てることができるため、ターゲットイオンのモニタ時間をさらに一層長くすることができる。

本発明の一実施例であるＧＣ／ＭＳについて図面を参照しながら説明する。図１は本実施例によるＧＣ／ＭＳの要部のブロック構成図である。

ＧＣ部１０では、カラムオーブン１４により適度の温度に加熱されるカラム１５の入口に試料気化室１１が設けられ、その試料気化室１１にはキャリアガス流路１３を通して所定流量でキャリアガス（典型的にはＨｅガス）が供給されカラム１５へと流れ込む。その状態でマイクロシリンジ１２により試料気化室１１内に少量の液体試料が注入されると、液体試料は即座に気化しキャリアガス流に乗ってカラム１５内に送られる。カラム１５を通過する間に試料ガス中の各成分は時間的に分離されてその出口に到達し、インターフェイス部２０においてヒータ２２により加熱される試料導入管２１を通ってＭＳ部３０のイオン化室３１に導入される。

ＭＳ部３０において、イオン化室３１に導入された試料分子又は原子は例えば熱電子との接触によってイオン化される。発生したイオンはイオン化室３１の外側に引き出され、イオンレンズ３２により収束されて４本のロッド電極から構成される四重極質量フィルタ３３の長軸方向の空間に導入される。四重極質量フィルタ３３には四重極電源部４６から直流電圧と高周波電圧とを重畳した電圧が印加され、その印加電圧に応じた質量数（質量ｍ／電荷ｚ）を有するイオンのみがその長軸方向の空間を通過し、イオン検出器３４に到達して検出される。イオン化室３１、イオンレンズ３２、四重極質量フィルタ３３、及びイオン検出器３４は、図示しない真空ポンプにより真空吸引される真空容器３５内に配設されている。

イオン検出器３４による検出信号はＡ／Ｄ変換器４５によりデジタルデータに変換されてデータ処理部４２に送られる。データ処理部４２は所定の演算処理を行うことによりマススペクトル、マスクロマトグラム、或いはトータルイオンクロマトグラムを作成し、さらに定量分析や定性分析などを実行する。四重極電源部４６を含め、ＧＣ部１０、インターフェイス部２０及びＭＳ部３０を構成する各ブロックの動作は、制御部４１により統括的に制御される。制御部４１やデータ処理部４２は、操作部４３や表示部４４が付設されたパーソナルコンピュータ４０上で所定の制御・処理プログラムを実行することによりそれぞれの機能が達成される。

本実施例のＧＣ／ＭＳでは、制御部４１の制御の下にＭＳ部３０でスキャン測定を行うことも可能であるが、特にＭＳ部３０でＳＩＭ測定を実行する際の制御及びデータ処理動作に特徴を有している。その点について図２、図３を参照して説明する。図２及び図３は、本実施例のＧＣ／ＭＳにおけるＳＩＭ測定の制御動作を説明するための波形図及びタイミング図である。

ここでは一例として、ＳＩＭ測定を利用して試料に含まれる３種の化合物に対応した質量数が既知であるターゲットイオンＴ１、Ｔ２、Ｔ３を分析するものとし、ターゲットイオンＴ１を同定するために３種の同定イオンＤ１１、Ｄ１２、Ｄ１３、ターゲットイオンＴ２を同定するために３種の同定イオンＤ２１、Ｄ２２、Ｄ２３、ターゲットイオンＴ３を同定するために３種の同定イオンＤ３１、Ｄ３２、Ｄ３３を用いるものとする。したがって、ＭＳ部３０で検出対象とするイオンの種類は全部で１２種類である。ターゲットイオンや同定イオンの質量数は、分析開始前にユーザーにより操作部４３から入力される。

ＧＣ分析の開始時点では、制御部４１は３種のターゲットイオンＴ１、Ｔ２、Ｔ３のみのＳＩＭ測定を行うように四重極電源部４６を制御する。即ち、図３（ａ）に示すように、１ＭＳ周期の期間ｔｃを略３等分してそれぞれを各ターゲットイオンＴ１、Ｔ２、Ｔ３のモニタ時間ｔｄに割り当てる。そして、ＧＣ部１０のカラム１５から流出して来てイオン化室３１でイオン化された試料イオンに対し、上記ＭＳ周期を繰り返すことでターゲットイオンＴ１、Ｔ２、Ｔ３を選択的に且つ時分割で検出する。したがって、データ処理部４２には、ＧＣ分析開始時点からの時間経過に伴って、ターゲットイオンＴ１の質量数に対する検出データ、ターゲットイオンＴ２の質量数に対する検出データ、及びターゲットイオンＴ３の質量数に対する検出データが次々と送られて来る。

こうした検出データに基づいてデータ処理部４２は、各ターゲットイオンＴ１、Ｔ２、Ｔ３毎にそれぞれマスクロマトグラムをリアルタイムで作成する。カラム１５から流出する試料ガス中にターゲットイオンの元となる成分が存在しない場合にはマスクロマトグラムの信号強度はほぼゼロ（又はベースライン）を維持するが、図２（ａ）に示すように或る時点でターゲットイオンＴ１の元となる成分が流出し始めると、それに対応するマスクロマトグラムの信号強度は上昇し始める。データ処理部４２はマスクロマトグラムの信号強度を常に閾値ｔｈと比較し、信号強度が閾値ｔｈを超えたときにターゲットイオンＴ１に対するピークの開始点であると判断してＴ１切替え信号を“Ｌ”→“Ｈ”に反転させる。さらに時間が経過してターゲットイオンＴ１に対するピークのピークトップを過ぎて信号強度が下降し始め、信号強度が閾値ｔｈを下回るとピークが終了したと判断してＴ１切替え信号を再び“Ｈ”→“Ｌ”に反転させる。これにより、Ｔ１切替え信号は図２（ｂ）に示すような波形となる。

また、他のターゲットイオンＴ２、Ｔ３についても上記と同様のデータ処理をそれぞれ独立に行い、これによって、図２（ｃ）及び（ｄ）に示すように、マスクロマトグラム上でそれぞれのピークが出現している期間でＴ２切替え信号及びＴ３切替え信号が“Ｈ”となる。これらＴ１、Ｔ２、Ｔ３切替え信号はリアルタイムで制御部４１に入力され、制御部４１はこれら切替え信号のレベルに応じてＳＩＭ測定の制御、つまり四重極電源部４６及びデータ処理部４２に与える制御信号を変更する。

即ち、いずれの切替え信号も“Ｌ”である場合、具体的にはＧＣ分析開始時点から暫くの間は、図３（ａ）に示したように、１ＭＳ周期の期間ｔｃを略３等分してその各期間を３つのターゲットイオンＴ１、Ｔ２、Ｔ３のモニタ時間ｔｄに割り当てる。その後、Ｔ１切替え信号が“Ｌ”→“Ｈ”になると、図３（ｂ）に示したように、１ＭＳ周期の期間ｔｃを略６等分してその各期間を、ターゲットイオンＴ１とそれを同定するための３つの同定イオンＤ１１、Ｄ１２、Ｄ１３、ターゲットイオンＴ２、Ｔ３のモニタ時間ｔｄにそれぞれ割り当てる。つまり、ターゲットイオンＴ１のピークが出現している期間には、そのターゲットイオンＴ１を同定するための同定イオンＤ１１、Ｄ１２、Ｄ１３の検出を実行する。この同定イオンＤ１１、Ｄ１２、Ｄ１３の検出結果を利用してターゲットイオンＴ１が目的化合物に由来するものであるか否かを確認する。

そして時間が経過してターゲットイオンＴ１のピークが無くなると、再び１ＭＳ周期の期間ｔｃ内で３種のターゲットイオンＴ１、Ｔ２、Ｔ３の検出のみを実行し、同定イオンの検出を中止する。次にターゲットイオンＴ２の元となる成分がカラム１５から流出し始め、Ｔ２切替え信号が“Ｌ”→“Ｈ”になると、図３（ｃ）に示したように、１ＭＳ周期の期間ｔｃを略６等分してその各期間を、ターゲットイオンＴ１、ターゲットイオンＴ２とそれを同定するための３つの同定イオンＤ２１、Ｄ２２、Ｄ２３、ターゲットイオンＴ３のモニタ時間ｔｄにそれぞれ割り当てる。つまり、ターゲットイオンＴ２のピークが出現している期間には、そのターゲットイオンＴ２を同定するための同定イオンＤ２１、Ｄ２２、Ｄ２３の検出を実行する。この同定イオンＤ２１、Ｄ２２、Ｄ２３の検出結果を利用してターゲットイオンＴ２が目的化合物に由来するものであるか否かを確認する。

さらに時間が経過してターゲットイオンＴ２のピークが無くなると、再び１ＭＳ周期の期間ｔｃ内でターゲットイオンＴ１、Ｔ２、Ｔ３の検出のみを実行し、同定イオンの検出を中止する。次にターゲットイオンＴ３の元となる成分がカラム１５から流出し始め、Ｔ３切替え信号が“Ｌ”→“Ｈ”になると、図３（ｄ）に示したように、１ＭＳ周期の期間ｔｃを略６等分してその各期間を、ターゲットイオンＴ１、ターゲットイオンＴ２、ターゲットイオンＴ３とそれを同定するための３つの同定イオンＤ３１、Ｄ３２、Ｄ３３のモニタ時間ｔｄにそれぞれ割り当てる。つまり、ターゲットイオンＴ３のピークが出現している期間には、そのターゲットイオンＴ３を同定するための同定イオンＤ３１、Ｄ３２、Ｄ３３の検出を実行する。この同定イオンＤ３１、Ｄ３２、Ｄ３３の検出結果を利用してターゲットイオンＴ３が目的化合物に由来するものであるか否かを確認する。

従来、図７に示したように１種のイオン当たりモニタ時間ｔｄは１ＭＳ周期の期間ｔｃを略１２等分した期間しかなかったのに対し、本実施例のＧＣ／ＭＳでは、或るターゲットイオンが現れているときの１種のイオン当たりのモニタ時間ｔｄは１ＭＳ周期の期間ｔｃを略６等分した期間となる。したがって、１ＭＳ周期の期間ｔｃが同一であるとすると、従来よりも１種のイオン当たりのモニタ時間ｔｃを２倍に長くすることができ、その分だけイオン検出器３４に到達するイオン量を増加させて検出感度を上げることができる。

また、１種のイオン当たりのモニタ時間ｔｄを２倍にする代わりに、モニタ時間ｔｄ自体は従来と同じにしてＭＳ周期ｔｃの期間を従来の１／２に短縮し、単位時間当たりのＭＳ周期の繰り返し回数を２倍にするようにしてもよい。このようにすることによって、検出感度は従来と同一であるものの、マスクロマトグラムの時間分解能が向上し、鋭いピークであってもそのピークトップを確実に捉えることができるようになる。

なお、ターゲットイオンのピークの有無に応じてイオンのモニタ時間ｔｄを変えた場合には、それに応じて検出データによる信号強度を調整することにより、その切替え点でマスクロマトグラムの曲線の連続性が維持されるようにする。

次に上記実施例のＧＣ／ＭＳの変形例について、図４、図５を参照して説明する。図４は第１の変形例であるＧＣ／ＭＳにおけるＳＩＭ測定の制御動作を説明するための波形図、図５は第２の変形例であるＧＣ／ＭＳにおけるＳＩＭ測定の制御動作を説明するためのタイミング図である。これらの変形例は、図１に示した上記実施例の構成において、制御部４１及びデータ処理部４２の動作（実際には制御・処理プログラム）が異なるだけであり、基本的な構成は同じである。

上述の如く同定イオンの測定はターゲットイオンの同定を目的としているため、ターゲットイオンがマスクロマトグラムのピークとして検出されている時間範囲の全てにおいて同定イオンを何度も繰り返し測定する必要があるわけではない。実用的にはターゲットイオンのピークが出現している期間中に１回だけ同定イオンの測定を行っても十分である。そこで、上記実施例においてマスクロマトグラムでターゲットイオンのピークが出現している期間に切替え信号を“Ｈ”としていた代わりに、この第１の変形例では、データ処理部４２は図４に示すようにターゲットイオンのピークトップ付近を検出し同定イオン測定指示信号を生成する。この指示信号を受けた制御部４１は、その直後の１ＭＳ周期内においてのみ同定イオンのモニタ時間を設定する。これにより、或るターゲットイオンのピークが出現している期間の大部分において、ターゲットイオンのモニタ時間を上記実施例よりも一層長く確保することが可能となり、検出感度をさらに改善することができる。

また、上記実施例では、同定イオンの測定を実行するＭＳ周期内においてターゲットイオンのモニタ時間と同定イオンのモニタ時間とをほぼ等しく設定しているが、ターゲットイオンの同定のためにはターゲットイオンのピークの信号強度と同定イオンのピークの信号強度との相対比率さえ分かればよい。したがって、同定イオンのピークの信号強度の精度はそれほど高くなくてもよい。そこで、第２の変形例では、図５に示すように、同定イオンの測定を実行するＭＳ周期内において、同定イオンのモニタ時間ｔｄ’をターゲットイオンのモニタ時間ｔｄよりも短く設定する。同定イオンのモニタ時間ｔｄ’は、上記のようにターゲットイオンの同定を行う上で精度上支障のない範囲でできるだけ短く決めればよい。これにより、同定イオンの検出を行うＭＳ周期においても上記実施例に比べてターゲットイオンのモニタ時間ｔｄを長くすることができるので、ターゲットイオンの検出感度を改善することができる。

なお、上記実施例や変形例は本発明の一例であって、本願発明の主旨の範囲で適宜の変更や修正、追加を行っても本願特許請求の範囲に包含されることは明らかである。

本発明の一実施例であるＧＣ／ＭＳの要部のブロック構成図。 本実施例のＧＣ／ＭＳにおけるＳＩＭ測定の制御動作を説明するための波形図。 本実施例のＧＣ／ＭＳにおけるＳＩＭ測定の制御動作を説明するためのタイミング図。 第１の変形例であるＧＣ／ＭＳにおけるＳＩＭ測定の制御動作を説明するための波形図。 第２の変形例であるＧＣ／ＭＳにおけるＳＩＭ測定の制御動作を説明するためのタイミング図。 従来のＧＣ／ＭＳでのＳＩＭ測定例における測定のタイミング（ａ）と質量走査パターン（ｂ）を示す図。 従来のＧＣ／ＭＳでのＳＩＭ測定例においてターゲットイオンが複数である場合の測定タイミングを示す図。

符号の説明

１０…ＧＣ部
１１…試料気化室
１２…マイクロシリンジ
１３…キャリアガス流路
１４…カラムオーブン
１５…カラム
２０…インターフェイス部
２１…試料導入管
２２…ヒータ
３０…ＭＳ部
３１…イオン化室
３２…イオンレンズ
３３…四重極質量フィルタ
３４…イオン検出器
３５…真空容器
４０…パーソナルコンピュータ
４１…制御部
４２…データ処理部
４３…操作部
４４…表示部
４５…Ａ／Ｄ変換器
４６…四重極電源部

Claims (3)

1. 試料中の目的化合物について定量計算の基礎とするターゲットイオンとそれを同定するための同定イオンとを定めておき、クロマトグラフにより成分分離された試料に対し質量分析装置により前記ターゲットイオン及び同定イオンをそれぞれ選択的に検出する、ＳＩＭ測定を実行するクロマトグラフ質量分析装置において、
   a)ＳＩＭ測定により前記ターゲットイオンを選択的に検出した検出結果に基づいてクロマトグラムを作成するクロマトグラム作成手段と、
   b)該クロマトグラムにおいて前記ターゲットイオンのピークが出現しているか否かを判定するピーク検出手段と、
   c)前記ターゲットイオンのピークが出現していると判定されたときに、前記ターゲットイオンの選択的検出と時分割で該ターゲットイオンを同定するための同定イオンの選択的検出を実行するようにし、前記ターゲットイオンのピークが出現していないと判定されたときには前記同定イオンの選択的検出を実行しないように、ＳＩＭ測定による各イオンの測定タイミングを制御する分析制御手段と、
   備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析装置。
2. 前記ピーク検出手段は前記クロマトグラムにおいてターゲットイオンのピークのピークトップ付近であることを検出し、前記分析制御手段はその検出結果に応じて１回のみ前記同定イオンの選択的検出を実行することを特徴とする請求項１に記載のクロマトグラフ質量分析装置。
3. 前記分析制御手段は、前記ターゲットイオンの選択的検出と時分割で前記同定イオンの選択的検出を実行する際に、同定イオンのモニタ時間をターゲットイオンのモニタ時間よりも短く設定することを特徴とする請求項１に記載のクロマトグラフ質量分析装置。
   

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