JP2014116604A - 発光素子 - Google Patents

発光素子 Download PDF

Info

Publication number
JP2014116604A
JP2014116604A JP2013251766A JP2013251766A JP2014116604A JP 2014116604 A JP2014116604 A JP 2014116604A JP 2013251766 A JP2013251766 A JP 2013251766A JP 2013251766 A JP2013251766 A JP 2013251766A JP 2014116604 A JP2014116604 A JP 2014116604A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
layer
electrode
disposed
current blocking
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2013251766A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014116604A5 (ja
Inventor
Byung Yeon Choi
チョイ,ビョンヨン
Myeung Su Kim
キム,ミョンス
Hai Yong Bom
ボム,ヒヨン
Yong Gyeong Lee
イ,ヨンギョン
Hyun Seoung Ju
チュ,ヒョンセオン
Gi Seok Hong
ホン,ジソク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
LG Innotek Co Ltd
Original Assignee
LG Innotek Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by LG Innotek Co Ltd filed Critical LG Innotek Co Ltd
Publication of JP2014116604A publication Critical patent/JP2014116604A/ja
Publication of JP2014116604A5 publication Critical patent/JP2014116604A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/15Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission
    • H01L27/153Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars
    • H01L27/156Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars two-dimensional arrays
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/15Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/10Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a light reflecting structure, e.g. semiconductor Bragg reflector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/14Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a carrier transport control structure, e.g. highly-doped semiconductor layer or current-blocking structure
    • H01L33/145Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a carrier transport control structure, e.g. highly-doped semiconductor layer or current-blocking structure with a current-blocking structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/40Materials therefor
    • H01L33/42Transparent materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • H01L33/385Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape the electrode extending at least partially onto a side surface of the semiconductor body

Abstract

【課題】作製時間及びコストが削減され、光抽出効率が向上した発光素子を提供する。
【解決手段】発光素子100Aは、基板110と基板上に互いに離隔して配列され、下部及び上部半導体層122a、126aと活性層124aを有する発光構造物120a、上部電極134a及び下部電極132aを含む複数の発光セルD1と隣接する複数の発光セルのうち一方の第1発光セルの下部電極と、他方の第2発光セルの上部電極とを電気的に接続する導電型相互連結層150と第2発光セルの上部電極と上部半導体層との間から、隣接する複数の発光セルと導電型相互連結層との間に延びて配置された電流遮断層140Aとを含み、複数の発光セルのそれぞれは、第2発光セルの上部電極と電流遮断層との間から、第2発光セルの上部半導体層の上に延びて配置されて、第2発光セルの上部電極と第2発光セルの上部半導体層とを電気的に接続する伝導層160aをさらに含む。
【選択図】図2

Description

実施形態は、発光素子に関する。
窒化ガリウム(GaN)の金属有機化学気相蒸着法及び分子線成長法などの発達に基づいて、高輝度及び白色光の具現が可能な赤色、緑色及び青色発光ダイオード(LED:Light Emitting Diode)が開発された。
このようなLEDは、白熱灯と蛍光灯などの既存の照明器具に使用される水銀(Hg)のような環境有害物質が含まれていないので環境性に優れ、長寿命、低電力消費特性などのような長所があるので、既存の光源を代替している。このようなLED素子の核心競争要素は、高効率及び高出力チップ、並びにパッケージング技術による高輝度の具現である。
高輝度を具現するために光抽出効率を高めることが重要である。光抽出効率を高めるために、フリップチップ(flip−chip)構造、表面凹凸の形成(surface texturing)、凹凸が形成されたサファイア基板(PSS:Patterned Sapphire Substrate)、光結晶(photonic crystal)技術、及び反射防止膜(anti−reflection layer)構造などを用いた様々な方法が研究されている。
図1は、一般的な発光素子の断面図を示す。
図1を参照すると、発光素子は、複数の発光セルD1,D2で構成され、各発光セルD1,D2は、基板10、発光構造物20,40、第1電極32,52、第2電極34,54、パッシベーション(passivation)層60及び金属連結層70で構成される。
発光構造物20,40は、基板10上に配置されたn型半導体層22,42、活性層24,44及びp型半導体層26,46で構成される。金属連結層70は、隣接する発光セルD1,D2のうち一方D1の第1電極32と他方D2の第2電極54とを電気的に接続する。このとき、パッシベーション層60は、金属連結層70と発光セルD2の発光構造物40とを互いに電気的に絶縁させ、隣接する発光セルD1,D2を互いに電気的に絶縁させ、発光セルD1のn型半導体層22と金属連結層70とを互いに電気的に絶縁させる。
図1に例示した一般的な発光素子の場合、パッシベーション層60を形成するための別途の工程がさらに必要であるため、発光素子の作製時間及びコストが増加するという問題点がある。
本発明に係る実施形態は、作製時間及びコストが節減され、光抽出効率が向上し、外部照明装置に用いることができる発光素子を提供する。
一つの実施形態による発光素子は、基板と;前記基板上に水平方向に互いに離隔して配列され、それぞれは、互いに異なる導電型の下部及び上部半導体層、前記下部及び上部半導体層の間に配置された活性層を有する発光構造物と、前記上部半導体層上に配置された上部電極と、前記下部半導体層上に配置された下部電極とを含む複数の発光セルと;隣接する複数の発光セルのうち一方の第1発光セルの下部電極と、前記隣接する複数の発光セルのうち他方の第2発光セルの上部電極とを電気的に接続する導電型相互連結層と;前記第2発光セルの上部電極と上部半導体層との間から前記隣接する複数の発光セルと前記導電型相互連結層との間に延びて配置された電流遮断層と;を含み、前記複数の発光セルのそれぞれは、前記第2発光セルの上部電極と前記電流遮断層との間から前記第2発光セルの上部半導体層の上に延びて配置されて、前記第2発光セルの上部電極と第2発光セルの上部半導体層とを電気的に接続する伝導層をさらに含むことができる。
前記電流遮断層は、前記第1発光セルの下部半導体層と前記導電型相互連結層との間、前記基板と前記導電型相互連結層との間、及び前記第2発光セルの発光構造物と前記導電型相互連結層との間に配置することができる。
前記第2発光セルの上部電極は、前記第2発光セルの前記上部半導体層と対向する下部面を有し、前記第2発光セルの上部電極と上部半導体層との間に配置される前記電流遮断層は、前記上部電極と対向する上部面を有し、前記電流遮断層の上部面の面積は、前記上部電極の下部面全体の面積以上とすることができる。
前記第2発光セルの上部電極と前記第1発光セルの下部電極と前記導電型相互連結層とは一体型層とすることができる。
前記一体型層は、前記第2発光セルの前記上部半導体層と対向する下部面を有し、前記一体型層と前記第2発光セルの上部半導体層との間に配置される前記電流遮断層は、前記一体型層と対向する上部面を有し、前記電流遮断層の上部面の面積は、前記一体型層の下部面全体の面積以上とすることができる。
前記上部半導体層の上部に配置された前記伝導層の面積は、前記上部半導体層の上部面の面積以下とすることができる。
前記伝導層は、ITO(Indium Tin Oxide)、TO(Tin Oxide)、IZO(Indium Zinc Oxide)、IZTO(Indium Zinc Tin Oxide)、IAZO(Indium Aluminium Zinc Oxide)、IGZO(Indium Gallium Zinc Oxide)、IGTO(Indium Gallium Tin Oxide)、AZO(Aluminium Zinc Oxide)、ATO(Aluminium Tin Oxide)、GZO(Gallium Zinc Oxide)、IrOx、RuOx、RuOx/ITO、Ni、Ag、Ni/IrOx/AuまたはNi/IrOx/Au/ITOのうち少なくとも一つを用いて単層または多層に配置することができる。
前記電流遮断層は、電気的絶縁性を有する物質を含むことができる。
前記電流遮断層は、分散ブラッグ反射層であってもよい。
前記分散ブラッグ反射層は、屈折率の互いに異なる第1及び第2層が交互に少なくとも1回以上積層された絶縁物質を含むことができる。
前記上部電極は、互いに重なる第1接着層及び第1ボンディング層を含み、前記第1接着層と前記第1ボンディング層との間に反射層が介在していなくてもよい。
前記上部電極は、前記第1接着層と前記第1ボンディング層との間に配置された第1バリア層をさらに含むことができる。
前記下部電極は、互いに重なる第2接着層及び第2ボンディング層を含み、前記第2接着層と前記第2ボンディング層との間に反射層が介在していなくてもよい。
前記下部電極は、前記第2接着層と前記第2ボンディング層との間に配置された第2バリア層をさらに含むことができる。
前記複数の発光セルは、前記導電型相互連結層によって互いに直列接続することができる。
前記導電型相互連結層は、互いに重なる第3接着層及び第3ボンディング層を含み、前記第3接着層と前記第3ボンディング層との間に反射層が介在していなくてもよい。
前記導電型相互連結層は、前記第3接着層と前記第3ボンディング層との間に配置された第3バリア層をさらに含むことができる。
前記導電型相互連結層と、前記上部電極、前記伝導層及び前記電流遮断層とは垂直方向にオーバーラップされて配置され得る。
他の実施形態による発光素子は、基板と;前記基板上に水平方向に互いに離隔して配列され、それぞれは、互いに異なる導電型の下部及び上部半導体層、前記下部及び上部半導体層の間に配置された活性層を有する発光構造物と、前記上部半導体層上に配置された上部電極と、前記下部半導体層上に配置された下部電極とを含む複数の発光セルと;隣接する複数の発光セルのうち一方の第1発光セルの下部電極と、前記隣接する複数の発光セルのうち他方の第2発光セルの上部電極とを電気的に接続する導電型相互連結層と;電流遮断層と;を含み、前記電流遮断層は、前記第2発光セルの上部電極と上部半導体層との間に配置される第1一部と;前記第1一部から前記隣接する複数の発光セルと前記導電型相互連結層との間に延びて配置された第1他部と;を含み、前記複数の発光セルのそれぞれは、前記第2発光セルの上部電極と前記第2発光セルの上部半導体層とを電気的に接続する伝導層をさらに含み、前記伝導層は、前記第2発光セルの上部電極と前記電流遮断層との間に配置された第2一部と;前記第2一部から前記第2発光セルの上部半導体層の上に延びて配置された第2他部と;を含むことができる。
前記第2一部は、前記第1一部の上部面を部分的に覆うことができる。
実施形態に係る発光素子は、パッシベーション層の役割を果たすように電流遮断層を配置することで、パッシベーション層を形成する工程をさらに別途に行う必要がないので、作製時間及びコストを節減させることができ、分散ブラッグ反射層によって電流遮断層を具現して反射効率を増加させることによって、光抽出効率を改善させることができ、上部及び下部電極と導電型相互連結層を反射層なしに具現して腐食に強いので、外部照明用に用いることもできる。
下記の図面を参照して実施形態について詳細に説明する。ただし、図面中、同一の構成要素には同一の参照符号を付する。
一般的な発光素子の断面図である。 一実施形態に係る発光素子の断面図である。 他の実施形態に係る発光素子の断面図である。 図2又は図3に例示した下部電極、上部電極、導電型相互連結層及び一体型層のうち少なくとも一つの実施形態の断面図である。 更に他の実施形態に係る発光素子の断面図である。 更に他の実施形態に係る発光素子の平面図である。 図6に例示した‘K’部分の拡大図である。 図6に例示した発光素子のA−A’線に沿って切断した断面図である。 図6に示した発光素子のB−B’線に沿って切断した断面図である。 図6に示した発光素子の回路図である。 更に他の実施形態に係る発光素子の断面図である。 実施形態に係る発光素子によって具現される発光素子パッケージを含む照明装置の分解斜視図である。 実施形態に係る発光素子によって具現される発光素子パッケージを含む表示装置を示す図である。
以下、本発明を具体的に説明するために実施形態を挙げて説明し、発明に対する理解を助けるために、添付の図面を参照して詳細に説明する。しかし、本発明に係る実施形態は、様々な形態に変形可能であり、本発明の範囲が、以下に詳述する実施形態に限定されると解釈されてはならない。本発明の実施形態は、当業界において平均的な知識を有する者に本発明をより完全に説明するために提供されるものである。
本発明の実施形態の説明において、各構成要素の「上/上部または下/下部(on or under)」に形成されると記載される場合において、「上/上部または下/下部(on or under)」は、二つの構成要素が互いに直接(directly)接触したり、一つ以上の他の構成要素が前記二つの構成要素の間に配置されて(indirectly)形成されることを全て含む。
また、「上/上部又は下/下部(on or under)」と表現される場合、一つの構成要素を基準にして上側方向のみならず、下側方向の意味も含むことができる。
図2は、一実施形態に係る発光素子100Aの断面図を示す。
図2に例示した発光素子100Aは、基板110、複数の発光セルD1,D2,D3、電流遮断層140A及び導電型相互連結層150を含む。
基板110は、半導体物質の成長に適した物質、キャリアウエハで形成することができる。また、基板110は、熱伝導性に優れた物質で形成することができ、伝導性基板または絶縁性基板であってもよい。また、基板110は、透光性を有する物質からなってもよく、発光セルD1〜D3の全体窒化物発光構造物120a,120bの反りを引き起こさないとともに、スクライビング(scribing)工程及びブレーキング(breading)工程を通じて別個のチップによく分離させるための程度の機械的強度を有することができる。例えば、基板110は、サファイア(Al)、GaN、SiC、ZnO、Si、GaP、InP、Ga、GaAs、Geのうち少なくとも一つを含む物質であってもよい。このような基板110の上面には凹凸パターン形状を有することができる。例えば、たとえ図示していないが、基板110は、PSS(Patterned Sapphire Substrate)であってもよい。
また、基板110と発光構造物120a,120bとの間にバッファ層(図示せず)が配置されてもよい。バッファ層は、III−V族元素の化合物半導体を用いて形成することができる。バッファ層は、基板110と発光構造物120a,120bとの間の格子定数の差を減少させる役割を果たす。例えば、バッファ層は、AlNを含むか、またはアンドープ(undoped)窒化物を含むことができるが、これに限定されない。バッファ層は、基板110の種類及び発光構造物120a,120bの種類によって省略してもよい。
複数の発光セルD1〜D3は、基板110上に水平方向に互いに離隔して配列される。ここで、説明の便宜上、発光セルD1〜D3の個数は3個である場合を示しているが、本実施形態はこれに限定されず、発光セルが2個であるか、または4個以上である場合にも同一に適用することができる。
第1発光セルD1は基板110の第1領域A1に配置され、第2発光セルD2は基板110の第2領域A2に配置され、第3発光セルD3は基板110の第3領域A3に配置される。隣接する第1及び第2発光セルD1,D2は一定の距離dだけ互いに離隔して配置され、第2及び第3発光セルD2,D3は一定の距離dだけ互いに離隔して配置される。例えば、離隔距離dは、2μm〜7μm、例えば、5μmであってもよい。
発光セルD1,D2のそれぞれは、基板110上に配置された発光構造物120a,120b、下部電極132a,132b、上部電極134a,134b及び伝導層160a,160bを含む。
発光構造物120a,120bは、基板110の上部に順次配置された下部半導体層122a,122b、活性層124a,124b及び上部半導体層126a,126bを含む。下部半導体層122a,122bと上部半導体層126a,126bとは互いに異なる導電型であってもよい。
下部半導体層122a,122bは、基板110と活性層124a,124bとの間に配置され、半導体化合物を含むことができ、III−V族、II−VI族などの化合物半導体で具現することができ、第1導電型ドーパントがドープされてもよい。例えば、下部半導体層122a,122bは、AlInGa(1−x−y)N(0≦x≦1、0≦y≦1、0≦x+y≦1)の組成式を有する半導体物質、InAlGaN、AlGaAs、GaP、GaAs、GaAsP、AlGaInPのいずれか一つ以上を含むことができる。下部半導体層122a,122bは、第1導電型の半導体層であってもよい。もし、下部半導体層122a,122bがn型半導体層である場合、第1導電型ドーパントは、Si、Ge、Sn、Se、Teなどのようなn型ドーパントを含むことができる。下部半導体層122a,122bは、単層または多層構造を有することができ、これに限定しない。
活性層124a,124bは、下部半導体層122a,122bと上部半導体層126a,126bとの間に配置され、単一井戸構造、ダブルへテロ構造(Double Hetero Structure)、多重井戸構造、単一量子井戸構造、多重量子井戸(MQW:Multi Quantum Well)構造、量子点構造または量子線構造のいずれか一つを含むことができる。活性層124a,124bは、III−V族元素の化合物半導体材料を用いて、井戸層と障壁層、例えば、InGaN/GaN、InGaN/InGaN、GaN/AlGaN、InAlGaN/GaN、GaAs(InGaAs)/AlGaAs、GaP(InGaP)/AlGaPのいずれか一つ以上のペア構造を有することができるが、これに限定されない。井戸層は、障壁層のエネルギーバンドギャップよりも小さいエネルギーバンドギャップを有する物質からなることができる。
上部半導体層126a,126bは、活性層124a,124bの上部に配置され、半導体化合物を含むことができる。上部半導体層126a,126bは、III−V族、II−VI族などの化合物半導体で具現することができ、例えば、InAlGa1−x−yN(0≦x≦1、0≦y≦1、0≦x+y≦1)の組成式を有する半導体物質またはAlInN、AlGaAs、GaP、GaAs、GaAsP、AlGaInPのいずれか一つ以上を含むことができる。
第1導電型半導体層である下部半導体層122a,122bとは異なり、上部半導体層126a,126bは、第2導電型半導体層であってもよく、第2導電型ドーパントがドープされてもよい。上部半導体層126a,126bがp型半導体層である場合、第2導電型ドーパントは、Mg、Zn、Ca、Sr、Baなどのようなp型ドーパントであってもよい。上部半導体層126a,126bは、単層または多層構造を有することができ、これに限定しない。
下部半導体層122a,122bはn型半導体層であり、上部半導体層126a,126bはp型半導体層で具現したり、または下部半導体層122a,122bはp型半導体層であり、上部半導体層126a,126bはn型半導体層で具現してもよい。これによって、発光構造物120a,120bは、n−p接合、p−n接合、n−p−n接合、及びp−n−p接合構造のうち少なくとも一つを含むことができる。
下部電極132a,132bは下部半導体層122a,122b上に配置され、上部電極134a,134bは上部半導体層126a,126b上に配置される。下部電極132a,132bを下部半導体層122a,122b上に配置するために、発光構造物120a,120bは、下部半導体層122a,122bの一部を露出することができる。すなわち、上部半導体層126a,126b、活性層124a,124b及び下部半導体層122a,122bの一部がメサエッチング(mesa etching)によってエッチングされて、下部半導体層122a,122bの一部を露出することができる。このとき、下部半導体層122a,122bの露出面は、活性層124a,124bの下面よりも低く位置することができる。上部電極134a,134b及び下部電極132a,132bについては、図4を参照してより詳細に後述する。
一方、電流遮断層140Aの一部は、複数の発光セルのそれぞれ(例えば、D2)の上部電極134bと上部半導体層126bとの間に配置される。このように配置された電流遮断層140Aは、上部電極134bから活性層124bに向かうキャリアがより良く拡散するようにして、活性層124bの光度の向上に寄与できるようにする。
第2発光セルD2の上部電極134bは、第2発光セルD2の上部半導体層126bと対向する下部面を有し、第2発光セルD2の上部電極134bと上部半導体層126bとの間に配置される電流遮断層140Aは、上部電極134bと対向する上部面を有すると仮定する。このとき、電流遮断層140Aが、前述したように、キャリアを拡散させる役割を果たすためには、上部半導体層126b上に配置される電流遮断層140Aの上部面の面積は、上部電極134bの下部面全体の面積以上とすることができる。すなわち、図2に例示した断面形状において、幅W1は、0以上とすることができる。そのために、電流遮断層140Aは、シリコンオキサイド(SiO)のような絶縁物質で形成することができる。
発光セル(例えば、D1,D2)のそれぞれにおいて、伝導層160a,160bは、上部電極134a,134bと電流遮断層140Aとの間から上部半導体層126a,126bの上に延びて配置されることで、上部電極134a,134bと上部半導体層126a,126bとを電気的に接続する。
伝導層160a,160bは、全反射を減少させるだけでなく、透光性が良いので、活性層124a,124bから放出されて上部半導体層126a,126bを経た光の抽出効率を増加させることができる。伝導層160a,160bは、発光波長に対して透過率の高い透明な酸化物系物質、例えば、ITO(Indium Tin Oxide)、TO(Tin Oxide)、IZO(Indium Zinc Oxide)、IZTO(Indium Zinc Tin Oxide)、IAZO(Indium Aluminium Zinc Oxide)、IGZO(Indium Gallium Zinc Oxide)、IGTO(Indium Gallium Tin Oxide)、AZO(Aluminium Zinc Oxide)、ATO(Aluminium Tin Oxide)、GZO(Gallium Zinc Oxide)、IrOx、RuOx、RuOx/ITO、Ni、Ag、Ni/IrOx/AuまたはNi/IrOx/Au/ITOのうち少なくとも一つ以上を用いて単層または多層で具現することができる。
上部半導体層126a,126bの上部に配置された伝導層160a,160bの面積は、上部半導体層126a,126bの上部面の面積以下とすることができる。したがって、図2に例示したように、幅W2は、0以上とすることができる。
一方、導電型相互連結層150は、複数の発光セルD1〜D3において隣接する二つの発光セル(例えば、D1,D2)を接続する役割を果たす。すなわち、導電型相互連結層150は、隣接する二つの発光セルD1,D2のうち一方である第1発光セルD1の下部電極132aと、隣接する発光セルD1,D2のうち他方である第2発光セルD2の上部電極134bとを電気的に接続する役割を果たす。図2に例示したように、二つの発光セルD1,D2は、導電型相互連結層150によって電気的に互いに直列接続されてもよいが、これに限定されない。すなわち、発光セルD1,D2は、導電型相互連結層150によって電気的に互いに並列に接続されてもよい。
導電型相互連結層150は、下部電極132a,132b及び/又は上部電極134a,134bと同一または互いに異なる構成、及び同一または互いに異なる物質からなることができる。また、導電型相互連結層150の厚さは、下部電極132a,132b及び/又は上部電極134a,134bの厚さと同一または互いに異なっていてもよい。導電型相互連結層150は、Cr、Rd、Au、Ni、TiまたはPtのうち少なくとも一つを含むことができるが、これに限定されない。
一方、本実施形態によれば、電流遮断層140Aは、発光セル(例えば、D2)の上部電極134bと上部半導体層126bとの間から隣接する発光セルD1,D2と導電型相互連結層150との間に延びて配置され得る。すなわち、電流遮断層140Aは、第1発光セルD1の下部半導体層122aと導電型相互連結層150との間、基板110と導電型相互連結層150との間、及び第2発光セルD2の発光構造物120bと導電型相互連結層150との間に配置することができる。したがって、図2に例示した電流遮断層140Aは、図1に示されたパッシベーション層60の役割をすることがわかる。そのために、前述したように、電流遮断層140Aは、絶縁物質からなることができる。
前述したように、図1に示された発光素子が別途のパッシベーション層60を設ける代わりに、本実施形態による発光素子100Aは、電流遮断層140Aがパッシベーション層60の役割を果たす。すなわち、電流遮断層140Aは、電流遮断層固有の役割を果たすことができるだけでなく、パッシベーション層60の役割も果たすことができる。したがって、作製コストを低減し、工程時間を短縮させることができる。
図3は、他の実施形態による発光素子100Bの断面図を示す。
図2に例示した発光素子100Aにおいて、電流遮断層140Aは単一層として具現されている。反面、他の実施形態によれば、図3に例示したように、電流遮断層140Bは、分散ブラッグ反射層(DBR:Distributed Bragg Reflector)として具現されてもよい。分散ブラッグ反射層とは、屈折率の互いに異なる二つ以上の絶縁層が交互に複数層に積層されて生成されることによって反射率を高める層を意味する。分散ブラッグ反射層140Bは、90%以下の反射率を有する反射層よりもさらに高い反射率、例えば、98%の反射率を有するので、より効率よく反射層の役割を果たすことができる。
図3の場合、屈折率の互いに異なる第1層142及び第2層144が交互に1回積層された姿を示しているが、1回よりさらに多くの回数積層されてもよい。
第1層142は、低屈折率層であって、例えば、1.4の屈折率を有するシリコン酸化物(SiO)または1.6の屈折率を有するアルミニウム酸化物(Al)からなることができる。また、第2層144は、高屈折率層であって、例えば、2.05〜2.25の屈折率を有するシリコン窒化物(Si)、2以上の屈折率を有するチタン窒化物(TiO)、または3以上の屈折率を有するSi−Hからなることができる。
また、分散ブラッグ反射層140Bにおいて、第1層142及び第2層144のそれぞれは、λ/(4n)の厚さを有することができる。ここで、λは、活性層124bから放出された光の波長を示し、nは、該当の層の屈折率を示す。
また、図2に例示した発光素子100Aにおいて、隣接する発光セル(例えば、D1及びD2)のいずれか一方である第1発光セルD1の下部電極132aと、隣接する発光セルのうち他方である第2発光セルD2の上部電極134b、及びこれら(D1,D2)を電気的に接続させる導電型相互連結層150は、それぞれ別個に形成されている。反面、他の実施形態によれば、図3に例示したように、導電型相互連結層150、第1発光セルD1の下部電極132a及び第2発光セルD2の上部電極134bは、互いに一体型層170Aとして具現されてもよい。
もし、一体型層170が、第2発光セルD2の上部で上部半導体層126bと対向する下部面を有し、一体型層170Aと上部半導体層126bとの間に配置される電流遮断層140Bが、一体型層170Aと対向する上部面を有するとする時、電流遮断層140Bの上部面の面積は、一体型層170Aの下部面全体の面積以上とすることができる。これは、図3に例示したように、第2発光セルD2の上部電極134bと導電型相互連結層150とが一体型層170Aとして具現される場合、一体型層170Aと上部半導体層126bとの間に介在して配置された電流遮断層140Bが、前述したように、一体型層170Aから活性層124bに供給されるキャリアをより良く拡散させて、電流を遮断させる役割を果たすようにするためである。
前述した図2と図3の差異点を除いては、図3に例示した発光素子100Bは、図2に例示した発光素子100Aと同一であるので、これについての詳細な説明を省略する。
図4は、図2又は図3に例示した下部電極132a,132b、上部電極134a,134b、導電型相互連結層150及び一体型層170Aのうち少なくとも一つの実施形態の断面図を示す。
もし、図4の層190が下部電極132a,132bに該当すると、ベース層180は下部半導体層122a,122bに該当し、層190が上部電極134a,134bに該当すると、ベース層180は伝導層160a,160bに該当し、層190が導電型相互連結層150または一体型層170Aに該当すると、ベース層180は電流遮断層140A,140Bに該当する。
図4を参照すると、層190は、互いに重なる接着層192及びボンディング層196を含むことができる。すなわち、接着層192はベース層180の上に配置し、ボンディング層196は接着層192の上に配置することができる。このとき、接着層192とボンディング層196との間に反射層(図示せず)が介在してもよく、介在しなくてもよい。
接着層192は、ベース層180とオーミック接触する物質を含むことができる。例えば、接着層192は、Cr、Rd及びTiのうち少なくとも一つの材料で、単層または多層構造で形成することができる。また、接着層192の厚さT1は、少なくとも5nm〜15nmであってもよい。例えば、接着層192は、2nm〜10nmの厚さT1を有することができる。
また、ボンディング層196は、接着層192に接して配置されてもよいが、図4に例示したように、バリア層194が介在する場合、バリア層194の上部に配置されてもよい。ボンディング層196は、Auを含むことができ、100nm〜180nmの厚さT2、例えば、140nmの厚さを有することができる。
層190は、接着層192とボンディング層196との間に配置されたバリア層194をさらに含むことができるが、バリア層194は省略してもよい。バリア層194は、接着層192及びボンディング層196にそれぞれ接して配置することができる。
バリア層194は、Ni、Cr、Ti及びPtのうち少なくとも一つを含む材料で、単層または多層に形成することができる。例えば、バリア層194は、CrとPtの合金からなることができる。また、バリア層194は、200nm〜300nm、例えば、250nmの厚さT3を有することができる。
もし、層190が上部電極134a,134bである場合において、接着層192とバリア層194との間に反射層が介在する場合、反射層は、活性層124a,124bから放出された光を反射させることで、層190の金属によって吸収される光量を減少させることができる。しかし、反射層が接着層192とバリア層194との間に介在する場合、Auからなるボンディング層196及びAlからなる反射層が、Niからなるバリア層194を挟んで互いに相互拡散(inter−diffusion)されることもある。
また、十分な反射度を得るために、反射層は、通常、50nm〜300nmの厚さに形成することができる。このような厚い反射層の存在のため、接着層192が、例えば、2nmよりも薄い厚さに形成されて、層190と発光構造物120a,120bとの接着力が低下することがある。
しかし、接着層192とボンディング層196との間に反射層が介在しない場合、反射層が介在しない厚さの分だけ接着層192を厚く形成することができるので、層190とベース層180との接着力を向上させることができ、反射層とボンディング層196間の相互拡散が発生するおそれもなくすことができる。このとき、接着層192は、2nm以上の厚い厚さT1を有することができる。
また、前述した発光素子100A,100Bが照明用に使用される場合、反射層であるアルミニウムが腐食し得る。したがって、本実施形態において、反射層を介在しない場合、このような腐食の問題を事前に予防できるので、発光素子100A,100Bを外部照明用に使用することができる。
図5は、更に他の実施形態による発光素子100Cの断面図を示す。
図3に示された発光素子100Bにおいて一体型層170Aは単一層である反面、図5に例示した発光素子100Cの一体型層170Bは、接着層172、バリア層174及びボンディング層176を含むことができる。それを除いては、図5に例示した発光素子100Cは、図3に例示した発光素子100Bと同一であるので、これについての詳細な説明を省略する。図5に例示した接着層172、バリア層174及びボンディング層176は、図4に示された接着層192、バリア層194及びボンディング層196にそれぞれ該当するので、これについての詳細な説明を省略する。図5の場合、一体型層170Bにおいてバリア層174は省略してもよい。
図6は、更に他の実施形態に係る発光素子100Dの平面図を示し、図7は、図6に示された‘K’部分の拡大図であり、図8は、図6に示された発光素子100DのA−A’線に沿って切断した断面図を示し、図9は、図6に示された発光素子100DのB−B’線に沿って切断した断面図を示す。
図6乃至図9を参照すると、発光素子100Dは、M個の発光領域P1〜PM(M>1である自然数)を含む。説明の便宜上、図6乃至図9に示したように、M=9であると仮定して説明するが、Mが9よりも小さいか、または大きい場合にも、実施形態は同一に適用することができる。
発光素子100Dは、基板110、複数の発光領域P1〜P9として区分される発光構造物120−1〜120−9、電流遮断層140A−1〜140A−9、一体型層170A−1〜170A−8、第1電極152、第2電極154及び伝導層160−1〜160−9を含む。
基板110及び発光構造物120−1〜120−9は、図2又は図3の基板110及び発光構造物120a,120bにそれぞれ該当するので、これらについての詳細な説明を省略する。各発光構造物120−1〜120−9は、図2及び図3に示された下部半導体層122a,122b、活性層124a,124b及び上部半導体層126a,126bにそれぞれ該当する下部半導体層122−1〜122−9、活性層124−1〜124−9及び上部半導体層126−1〜126−9を含む。
以下、下部半導体層122−1〜122−9のそれぞれはn型半導体層で、上部半導体層126−1〜126−9のそれぞれはp型半導体層であると仮定して実施形態を説明するが、実施形態はこれに限定されない。すなわち、下部半導体層122−1〜122−9のそれぞれはp型半導体層で、上部半導体層126−1〜126−9のそれぞれはn型半導体層である場合にも本実施形態は適用可能である。
一つのチップ(single chip)の発光構造物120−1〜120−9は、境界領域Sによって複数個の発光領域P1〜P9に区分することができる。境界領域Sは、発光領域P1〜P9のそれぞれの周りに位置する領域であってもよく、基板110であってもよい。複数の発光領域P1〜P9のそれぞれの面積は同一であってもよいが、これに限定されるものではない。
電流遮断層140A−1〜140A−9のそれぞれは、図2に示された電流遮断層140Aと同一であるので、これについての詳細な説明は省略する。ただし、電流遮断層140A−1〜140A−9のうち電流遮断層140A−1は、パッシベーション層60の役割を果たさずに、第1電極152から活性層124−1に向かうキャリアが拡散するようにして、活性層124−1の光度の向上に寄与できるようにする役割のみを果たす。
図6及び図8を参照すると、第1電極152は、複数の発光領域P1〜P9のいずれか一つの発光領域(例えば、P1)の上部半導体層126−1上に配置される。第1電極152は、伝導層160−1を経由して上部半導体層126−1と電気的に接触することができる。例えば、第1電極152は、直列接続される発光領域P1〜P9のうち1番目の発光領域(例えば、P1)の伝導層160−1と接触することができる。第1電極152は、第1電源を提供するためのワイヤ(図示せず)がボンディングされ得る。
図6及び図9を参照すると、第2電極154は、複数の発光領域P1〜P9のいずれか一つの発光領域(例えば、P9)の下部半導体層122−9上に配置され、下部半導体層122−9と接触することができる。第2電極154は、第2電源を提供するためのワイヤ(図示せず)がボンディングされ得る。
一体型層170A−1〜170A−8は、電流遮断層140A−2〜140A−9上にそれぞれ配置され、複数の発光領域P1〜P9を電気的に直列接続する。例えば、一体型層170A−1〜170A−8は、第1電極152が位置する第1発光領域P1を始点とし、第2電極154が位置する第9発光領域P9を終点として複数の発光領域P1〜P9を直列接続することができる。
一体型層170A−1〜170A−8のそれぞれは、図3に示された一体型層170Aと同一であるので、これについての詳細な説明は省略する。各一体型層(例えば、170A−1)は、隣接する発光領域(例えば、P1及びP2)のいずれか一方の発光領域P1の下部半導体層122−1と残りの他方の発光領域(例えば、P2)の伝導層160−2とを互いに電気的に接続することができる。
図6乃至図8を参照すると、一体型層(例えば、170A−2)と上部半導体層(例えば、126−3)の上部面との間に配置された電流遮断層(例えば、140A−3)は、一体型層170A−2と対向する上部面を有するとする。また、一体型層170A−2は、上部半導体層126−3と対向する下部面を有するとする。このとき、電流遮断層140A−3の上部面の面積は、一体型層170A−2の下部面全体の面積以上とすることができる。これは、一体型層170A−2と上部半導体層126−3との間に介在して配置された電流遮断層140A−3が、一体型層170A−2から活性層124−3に供給されるキャリアを拡散させて電流を遮断させるようにするためである。このとき、電流遮断層140A−3の上部面は、一体型層170A−2の下部面よりさらに大きくすることができる。この場合、図7に例示したように、電流遮断層140A−3の幅は、一体型層170A−2の幅よりも第1方向にd1+d2だけさらに広くし、図8に例示したように、第2方向にW1だけさらに広くすることができる。
発光素子100Dに含まれる互いに直列接続される複数の発光領域P1〜P9を順に第1発光領域〜第9発光領域という。すなわち、第1電極152が位置する発光領域を第1発光領域P1といい、第2電極154が位置する発光領域を第9発光領域という。ここで、“隣接する発光領域”は、第k発光領域と第k+1発光領域とすることができ、第k一体型層は、第k発光領域と第k+1発光領域とを電気的に直列接続することができ、1≦k≦(M−1)とすることができる。
すなわち、第k一体型層は、第k発光領域の下部半導体層122−kと第k+1発光領域の伝導層160−(k+1)とを電気的に接続することができる。例えば、図8を参照すると、第2一体型層170A−2は、第2発光領域P2、第3発光領域P3及びそれらの間の境界領域S上に位置することができる。そして、第2一体型層170A−2は、第2発光領域P2の下部半導体層122−2及び第3発光領域P3の伝導層160−3を経由して、上部半導体層126−3を電気的に接続する。
このとき、第k+1電流遮断層140A−(k+1)は、第k一体型層170A−kと第k下部半導体層122−kとの間、第k一体型層170A−kと基板110との間、第k一体型層170A−kと第k+1下部半導体層122−(k+1)との間、第k一体型層170A−kと第k+1活性層124−(k+1)との間、第k一体型層170−kと第k+1上部半導体層126−(k+1)との間に位置して互いを電気的に絶縁させることができる。
図8又は図9に例示したものとは異なり、電流遮断層140A−1〜140−9は、図3に例示したように、分散ブラッグ反射層140Bとして具現することができる。この場合、第1電極152及び一体型層170A−1〜170A−8に光が吸収されて損失が生じることを遮断することによって、発光効率を向上させることができる。
図10は、図6に示された発光素子100Dの回路図を示す。
図6及び図10を参照すると、発光素子100Dは、共通した一つの(+)端子152と共通した一つの(−)端子154とを有することができる。
図11は、更に他の実施形態に係る発光素子100Eの断面図を示す。
図11を参照すると、発光素子100Eは、サブマウント(submount)204、第1金属層232、第2金属層234、第1バンプ部210、第2バンプ部220及び発光素子240を含む。
図11の発光素子100Eは、フリップチップ形態で具現した一例であるが、実施形態はこれに限定されるものではなく、他の実施形態に係る発光素子100A〜100Cが、図11に示されたようなフリップチップ形態で具現されてもよい。
サブマウント204は、発光素子240を実装する。サブマウント204は、パッケージボディー(package body)または印刷回路基板(Printed Circuit Board)などとして具現することができ、発光素子240がフリップチップボンディング(flip chip bonding)可能な様々な形態を有することができる。
発光素子240は、サブマウント204上に配置され、第1バンプ部210及び第2バンプ部220によってサブマウント204と電気的に接続される。図11に示した発光素子240は、図6に示した発光素子100Dの第1及び第9発光領域P1,P9と同一の断面を有する。したがって、同一の部分については詳細な説明を省略する。
サブマウント204は、ポリフタルアミド(PolyPhthal Amide、PPA)、液晶高分子(Liquid Crystal Polymer、LCP)、ポリアミド9T(PolyAmide9T、PA9T)などのような樹脂、金属、感光性ガラス(photo sensitive glass)、サファイア、セラミック、印刷回路基板(Printed Circuit Board)などを含むことができる。しかし、実施形態に係るサブマウント204が、これらの物質に限定されるものではない。
第1金属層232及び第2金属層234は、サブマウント204の上面に水平方向に互いに離隔して配置される。ここで、サブマウント204の上面は、発光素子240に対向する面であり得る。第1金属層232及び第2金属層234は、伝導性金属、例えば、アルミニウム(Al)またはロジウム(Rh)であってもよい。
第1バンプ部210及び第2バンプ部220は、サブマウント204と発光素子240との間に配置される。第1バンプ部210は、第2電極154と第1金属層232とを電気的に接続することができる。第2バンプ部220は、第1電極152と第2金属層234とを電気的に接続することができる。
第1バンプ部210は、第1拡散防止接着層212、第1バンパー(bumper)214及び第2拡散防止接着層216を含む。第1バンパー214は、第2電極154と第1金属層232との間に位置する。第1拡散防止接着層212は、第2電極154と第1バンパー214との間に位置し、第1バンパー214と第2電極154を互いに接合させる。すなわち、第1拡散防止接着層212は、第1バンパー214と第2電極154との接着力を向上させ、第1バンパー214に含まれたイオンが第2電極154を通じて発光構造物120−9に浸透または拡散することを防止する役割を果たす。
第2拡散防止接着層216は、第1バンパー214と第1金属層232との間に配置され、第1バンパー214と第1金属層232を接合させる。第2拡散防止接着層216は、第1バンパー214と第1金属層232との接着力を向上させ、第1バンパー214に含まれたイオンが第1金属層232を通じてサブマウント204に浸透または拡散することを防止する役割を果たす。
第2バンプ部220は、第3拡散防止接着層222、第2バンパー224、及び第4拡散防止接着層226を含む。第2バンパー224は、第1電極152と第2金属層234との間に位置する。
第3拡散防止接着層222は、第1電極152と第2バンパー224との間に位置し、両者を互いに接合させる。すなわち、第3拡散防止接着層222は、接着力を向上させ、第2バンパー224に含まれたイオンが第1電極152を通じて発光構造物120−1に浸透または拡散することを防止する役割を果たす。
第4拡散防止接着層226は、第2バンパー224と第2金属層234との間に配置され、第2バンパー224と第2金属層234を接合させる。第4拡散防止接着層226は、第2バンパー224と第2金属層234との接着力を向上させ、第2バンパー224に含まれたイオンが第2金属層234を通じてサブマウント204に浸透または拡散することを防止する役割を果たす。
第1乃至第4拡散防止接着層212,216,222,226は、Pt、Ti、W/Ti、Auのうち少なくとも一つまたはこれらの合金であってもよい。また、第1バンプ214及び第2バンプ224は、チタン(Ti)、銅(Cu)、ニッケル(Ni)、金(Au)、クロム(Cr)、タンタル(Ta)、白金(Pt)、及び錫(Sn)のうち少なくとも一つを含むことができる。
前述した実施形態に係る発光素子の複数個を基板上に発光素子パッケージとして配列することができ、発光素子パッケージの光経路上に光学部材である導光板、プリズムシート、拡散シートなどを配置することができる。このような発光素子パッケージ、基板、光学部材は、バックライトユニットとして機能することができる。
更に他の実施形態は、上述した実施形態に記載された発光素子または発光素子パッケージを含む表示装置、指示装置、照明システムとして具現することができ、例えば、照明システムは、ランプ、街灯を含むことができる。
図12は、上述した実施形態に係る発光素子によって具現される発光素子パッケージを含む照明装置の分解斜視図である。図12を参照すると、照明装置は、光を投射する光源750と、光源750が内蔵されるハウジング700と、光源750の熱を放出する放熱部740と、光源750及び放熱部740をハウジング700に結合するホルダー760と、を含む。
ハウジング700は、電気ソケット(図示せず)に結合されるソケット結合部710と、ソケット結合部710と連結され、光源750が内蔵されるボディー部730とを含む。ボディー部730には、一つの空気流動口720が貫通して形成されてもよい。
ハウジング700のボディー部730上に複数個の空気流動口720が備えられ、空気流動口720は一つまたは複数個であってもよい。空気流動口720は、ボディー部730に放射状に配置したり、様々な形態で配置することができる。
光源750は、基板754上に備えられる複数個の発光素子パッケージ752を含む。基板754は、ハウジング700の開口部に挿入可能な形状とすることができ、後述するように、放熱部740に熱を伝達するために熱伝導率の高い物質からなることができる。複数個の発光素子パッケージは、前述した発光素子を含むことができる。
光源750の下部にはホルダー760が備えられ、ホルダー760は、フレーム及び他の空気流動口を含むことができる。また、図示していないが、光源750の下部には光学部材が備えられて、光源750の発光素子パッケージ752から投射される光を拡散、散乱または収斂させることができる。
図13は、上述した実施形態に係る発光素子によって具現される発光素子パッケージを含む表示装置を示す。
図13を参照すると、表示装置800は、ボトムカバー810と、ボトムカバー810上に配置される反射板820と、光を放出する発光モジュール830,835と、反射板820の前方に配置され、前記発光モジュール830,835から発散される光を表示装置の前方に案内する導光板840と、導光板840の前方に配置されるプリズムシート850,860を含む光学シートと、光学シートの前方に配置されるディスプレイパネル870と、ディスプレイパネル870と連結され、ディスプレイパネル870に画像信号を供給する画像信号出力回路872と、ディスプレイパネル870の前方に配置されるカラーフィルター880とを含むことができる。ここで、ボトムカバー810、反射板820、発光モジュール830,835、導光板840、及び光学シートはバックライトユニット(Backlight Unit)をなすことができる。
発光モジュールは、基板830上の発光素子パッケージ835を含んでなる。ここで、基板830としてはPCBなどを使用することができる。発光素子パッケージ835は、前述した実施形態に係る発光素子を含むことができる。
ボトムカバー810は、表示装置800内の構成要素を収納することができる。そして、反射板820は、同図のように別途の構成要素として設けてもよく、導光板840の後面やボトムカバー810の前面に反射度の高い物質でコーティングする形態で設けることも可能である。
ここで、反射板820は、反射率が高く、超薄型に形成可能な素材を使用することができ、ポリエチレンテレフタレート(PolyEthylene Terephtalate;PET)を使用することができる。
そして、導光板840は、ポリメチルメタクリレート(PolyMethylMethACrylate;PMMA)、ポリカーボネート(PolyCarbonate;PC)、またはポリエチレン(PolyEthylene;PE)などで形成することができる。
そして、第1プリズムシート850は、支持フィルムの一面に、透光性で且つ弾性を有する重合体材料で形成することができ、重合体は、複数個の立体構造が反復して形成されたプリズム層を有することができる。ここで、複数個のパターンは、図示のように、山と谷が反復的にストライプ状に備えられてもよい。
そして、第2プリズムシート860において支持フィルムの一面の山と谷の方向は、第1プリズムシート850内の支持フィルムの一面の山と谷の方向と垂直をなすことができる。これは、発光モジュールと反射シートから伝達された光をディスプレイパネル870の全面に均一に分散させるためである。
そして、図示していないが、導光板840と第1プリズムシート850との間に拡散シートが配置されてもよい。拡散シートは、ポリエステルとポリカーボネート系列の材料からなることができ、バックライトユニットから入射された光を、屈折及び散乱を通じて光投射角を最大に広げることができる。そして、拡散シートは、光拡散剤を含む支持層と、光出射面(第1プリズムシート方向)と光入射面(反射シート方向)に形成され、光拡散剤を含んでいない第1レイヤー及び第2レイヤーを含むことができる。
実施形態において、拡散シート、第1プリズムシート850、及び第2プリズムシート860が光学シートを構成するが、光学シートは、他の組み合わせ、例えば、マイクロレンズアレイからなってもよく、拡散シートとマイクロレンズアレイとの組み合わせ、または一つのプリズムシートとマイクロレンズアレイとの組み合わせなどからなってもよい。
ディスプレイパネル870としては液晶表示パネル(Liquid crystal display)を配置してもよいが、液晶表示パネル以外に、光源を必要とする他の種類の表示装置を備えてもよい。
以上、実施形態を中心に説明したが、これは単なる例示であり、本発明を限定するものではなく、本発明の属する分野における通常の知識を有する者であれば、本実施形態の本質的な特性を逸脱しない範囲で、以上で例示していない様々な変形及び応用が可能であるということが理解されるであろう。例えば、実施形態に具体的に示した各構成要素は変形実施が可能である。そして、このような変形及び応用に係る差異点は、添付の特許請求の範囲で規定する本発明の範囲に含まれるものと解釈しなければならない。

Claims (10)

  1. 基板と、
    前記基板上に水平方向に互いに離隔して配列され、それぞれは、互いに異なる導電型の下部及び上部半導体層、前記下部及び上部半導体層の間に配置された活性層を有する発光構造物と、前記上部半導体層上に配置された上部電極と、前記下部半導体層上に配置された下部電極とを含む複数の発光セルと、
    隣接する複数の発光セルのうち一方の第1発光セルの下部電極と、前記隣接する複数の発光セルのうち他方の第2発光セルの上部電極とを電気的に接続する導電型相互連結層と、
    前記第2発光セルの上部電極と上部半導体層との間から前記隣接する複数の発光セルと前記導電型相互連結層との間に延びて配置された電流遮断層とを含み、
    前記複数の発光セルのそれぞれは、
    前記第2発光セルの上部電極と前記電流遮断層との間から前記第2発光セルの上部半導体層の上に延びて配置されて、前記第2発光セルの上部電極と第2発光セルの上部半導体層とを電気的に接続する伝導層をさらに含む、発光素子。
  2. 前記電流遮断層は、
    前記第1発光セルの下部半導体層と前記導電型相互連結層との間、前記基板と前記導電型相互連結層との間、及び前記第2発光セルの発光構造物と前記導電型相互連結層との間に配置される、請求項1に記載の発光素子。
  3. 前記第2発光セルの上部電極は、前記第2発光セルの前記上部半導体層と対向する下部面を有し、
    前記第2発光セルの上部電極と上部半導体層との間に配置される前記電流遮断層は、前記上部電極と対向する上部面を有し、
    前記電流遮断層の上部面の面積は、前記上部電極の下部面全体の面積以上である、請求項1又は2に記載の発光素子。
  4. 前記第2発光セルの上部電極と前記第1発光セルの下部電極と前記導電型相互連結層とは一体型層である、請求項1ないし3のいずれかに記載の発光素子。
  5. 前記一体型層は、前記第2発光セルの前記上部半導体層と対向する下部面を有し、
    前記一体型層と前記第2発光セルの上部半導体層との間に配置される前記電流遮断層は、前記一体型層と対向する上部面を有し、
    前記電流遮断層の上部面の面積は、前記一体型層の下部面全体の面積以上である、請求項4に記載の発光素子。
  6. 前記上部半導体層の上部に配置された前記伝導層の面積は、前記上部半導体層の上部面の面積以下である、請求項1ないし5のいずれかに記載の発光素子。
  7. 前記電流遮断層は、分散ブラッグ反射層である、請求項1に記載の発光素子。
  8. 前記分散ブラッグ反射層は、屈折率の互いに異なる第1及び第2層が交互に少なくとも1回以上積層された絶縁物質を含む、請求項7に記載の発光素子。
  9. 前記上部電極は、
    互いに重なる第1接着層及び第1ボンディング層を含み、前記第1接着層と前記第1ボンディング層との間に反射層が介在していない、請求項1ないし8のいずれかに記載の発光素子。
  10. 前記下部電極は、
    互いに重なる第2接着層及び第2ボンディング層を含み、前記第2接着層と前記第2ボンディング層との間に反射層が介在していない、請求項1ないし9のいずれかに記載の発光素子。
JP2013251766A 2012-12-06 2013-12-05 発光素子 Pending JP2014116604A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120141503A KR20140073351A (ko) 2012-12-06 2012-12-06 발광 소자
KR10-2012-0141503 2012-12-06

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014116604A true JP2014116604A (ja) 2014-06-26
JP2014116604A5 JP2014116604A5 (ja) 2017-01-12

Family

ID=49683623

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013251766A Pending JP2014116604A (ja) 2012-12-06 2013-12-05 発光素子

Country Status (5)

Country Link
US (2) US9337236B2 (ja)
EP (1) EP2741338B1 (ja)
JP (1) JP2014116604A (ja)
KR (1) KR20140073351A (ja)
CN (1) CN103855180B (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016012707A (ja) * 2014-06-30 2016-01-21 晶元光電股▲ふん▼有限公司 光電部品及びその製造方法
JP2017059752A (ja) * 2015-09-18 2017-03-23 豊田合成株式会社 発光装置とその製造方法
JP2019145843A (ja) * 2019-05-14 2019-08-29 晶元光電股▲ふん▼有限公司Epistar Corporation 光電部品
US10903394B2 (en) 2018-02-19 2021-01-26 Nichia Corporation Light emitting element
JP2021082837A (ja) * 2021-02-24 2021-05-27 晶元光電股▲ふん▼有限公司Epistar Corporation 光電部品
US11355550B2 (en) 2014-05-19 2022-06-07 Epistar Corporation Optoelectronic device having conductor arrangement structures non-overlapped with heat dissipation pads
WO2023068264A1 (ja) * 2021-10-18 2023-04-27 浜松ホトニクス株式会社 光半導体素子

Families Citing this family (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103840054A (zh) * 2012-11-20 2014-06-04 展晶科技(深圳)有限公司 发光二极管芯片
KR20140073351A (ko) * 2012-12-06 2014-06-16 엘지이노텍 주식회사 발광 소자
US9356212B2 (en) 2012-12-21 2016-05-31 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting diode and method of fabricating the same
WO2014098510A1 (en) * 2012-12-21 2014-06-26 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting diode and method of fabricating the same
CN103915463B (zh) * 2013-01-09 2016-12-28 新世纪光电股份有限公司 发光装置
KR20150101783A (ko) * 2014-02-27 2015-09-04 서울바이오시스 주식회사 발광 다이오드 및 그 제조 방법
KR102197082B1 (ko) * 2014-06-16 2020-12-31 엘지이노텍 주식회사 발광 소자 및 이를 포함하는 발광소자 패키지
FR3023061B1 (fr) * 2014-06-27 2017-12-15 Commissariat Energie Atomique Diode de structure mesa a surface de contact sensiblement plane
KR102052040B1 (ko) * 2014-06-30 2019-12-04 에피스타 코포레이션 광전소자와 그 제조방법
CN104218133B (zh) * 2014-08-26 2017-04-26 华灿光电股份有限公司 一种发光二极管芯片及其制造方法
CN104362236B (zh) * 2014-11-11 2017-03-08 杭州士兰明芯科技有限公司 一种led结构及其制作方法
TWI620349B (zh) * 2015-01-05 2018-04-01 隆達電子股份有限公司 覆晶式發光二極體晶片
CN110690250A (zh) * 2015-02-13 2020-01-14 首尔伟傲世有限公司 发光元件和发光二极管
TWI723897B (zh) * 2015-04-22 2021-04-01 新世紀光電股份有限公司 發光元件之製造方法
US10147849B2 (en) * 2015-05-05 2018-12-04 Xiangneng Hualei Optoelectronic Co., Ltd Manufacturing method of flip-chip structure of group III semiconductor light emitting device
US9705035B1 (en) 2015-12-30 2017-07-11 Epistar Corporation Light emitting device
DE102017205639A1 (de) * 2016-04-18 2017-10-19 Seoul Viosys Co., Ltd Lumineszenzdiode mit hoher Effizienz
KR102641965B1 (ko) * 2016-11-10 2024-02-29 서울바이오시스 주식회사 고효율 발광 다이오드
CN105762246B (zh) * 2016-04-25 2017-11-28 厦门乾照光电股份有限公司 一种垂直结构发光二极管及其制作方法
KR102510006B1 (ko) * 2016-05-24 2023-03-14 엘지이노텍 주식회사 반도체 소자
KR20180007025A (ko) * 2016-07-11 2018-01-22 삼성디스플레이 주식회사 초소형 발광 소자를 포함하는 픽셀 구조체, 표시장치 및 그 제조방법
CN106711306A (zh) * 2016-12-20 2017-05-24 合肥彩虹蓝光科技有限公司 一种高压led芯片制备方法
WO2018137139A1 (en) * 2017-01-24 2018-08-02 Goertek. Inc Micro-led device, display apparatus and method for manufacturing a micro-led device
US10043941B1 (en) 2017-01-31 2018-08-07 International Business Machines Corporation Light emitting diode having improved quantum efficiency at low injection current
FR3062953A1 (fr) * 2017-02-15 2018-08-17 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Dispositif comportant une pluralite de diodes
DE102017104135A1 (de) 2017-02-28 2018-08-30 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements
KR20180106720A (ko) * 2017-03-21 2018-10-01 서울바이오시스 주식회사 분포 브래그 반사기 적층체를 구비하는 발광 다이오드
CN106941108B (zh) * 2017-05-23 2019-09-17 深圳市华星光电技术有限公司 微发光二极管显示面板及其制作方法
CN108110107A (zh) * 2017-12-18 2018-06-01 湘能华磊光电股份有限公司 一种led芯片的制作方法
KR20190094283A (ko) 2018-02-03 2019-08-13 김승훈 기억 상기 다기능 테이블
JP2019149480A (ja) * 2018-02-27 2019-09-05 豊田合成株式会社 半導体素子、発光装置、および発光装置の製造方法
CN108447955B (zh) 2018-03-16 2019-07-23 厦门市三安光电科技有限公司 发光二极管芯片结构及其制作方法
CN208385406U (zh) * 2018-05-25 2019-01-15 深圳市瑞丰光电子股份有限公司 一种led模组
US11282984B2 (en) * 2018-10-05 2022-03-22 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting device
CN109891610A (zh) * 2018-10-11 2019-06-14 厦门市三安光电科技有限公司 一种发光二极管元件及其制作方法
US11515456B2 (en) * 2019-02-21 2022-11-29 Innolux Corporation LED with light adjusting layer extending past the LED
KR102649029B1 (ko) * 2019-04-10 2024-03-20 삼성전자주식회사 Led 소자, led 소자의 제조 방법 및 led 소자를 포함하는 디스플레이 장치
CN110767670B (zh) * 2019-10-31 2022-11-15 成都辰显光电有限公司 显示面板、显示装置和显示面板的制作方法
CN113036014B (zh) * 2019-12-25 2022-07-05 深圳第三代半导体研究院 一种垂直集成单元发光二极管
US11901491B2 (en) * 2020-10-29 2024-02-13 Lumileds Llc Light emitting diode devices
WO2024053994A1 (ko) * 2022-09-06 2024-03-14 서울반도체 주식회사 발광장치

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000101136A (ja) * 1998-09-25 2000-04-07 Toshiba Corp 半導体発光装置及び半導体発光装置の駆動方法
JP2002026384A (ja) * 2000-07-05 2002-01-25 Nichia Chem Ind Ltd 集積型窒化物半導体発光素子
US20060169993A1 (en) * 2005-02-03 2006-08-03 Zhaoyang Fan Micro-LED based high voltage AC/DC indicator lamp
JP2009071220A (ja) * 2007-09-18 2009-04-02 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物系化合物半導体発光素子
JP2009302314A (ja) * 2008-06-13 2009-12-24 Rohm Co Ltd GaN系半導体装置
JP2010056195A (ja) * 2008-08-27 2010-03-11 Nichia Corp 半導体発光素子
US20100237371A1 (en) * 2007-10-04 2010-09-23 Bong Cheol Kang Light emitting device and method for fabricating the same
JP2012028749A (ja) * 2010-07-22 2012-02-09 Seoul Opto Devices Co Ltd 発光ダイオード
JP2012507134A (ja) * 2008-09-11 2012-03-22 ブリッジラックス・インク 直列接続されたセグメント化led
JP2012519377A (ja) * 2009-02-26 2012-08-23 ブリッジラックス インコーポレイテッド 個々のセグメントledの光出力における製造工程でのばらつきを補償するセグメントledを用いた光源

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE60043536D1 (de) * 1999-03-04 2010-01-28 Nichia Corp Nitridhalbleiterlaserelement
US6630689B2 (en) 2001-05-09 2003-10-07 Lumileds Lighting, U.S. Llc Semiconductor LED flip-chip with high reflectivity dielectric coating on the mesa
KR100640496B1 (ko) * 2005-11-23 2006-11-01 삼성전기주식회사 수직구조 질화갈륨계 발광다이오드 소자
CN101485000B (zh) 2006-06-23 2012-01-11 Lg电子株式会社 具有垂直拓扑的发光二极管及其制造方法
US8536584B2 (en) 2007-11-14 2013-09-17 Cree, Inc. High voltage wire bond free LEDS
JP5123269B2 (ja) 2008-09-30 2013-01-23 ソウル オプト デバイス カンパニー リミテッド 発光素子及びその製造方法
KR20100076083A (ko) * 2008-12-17 2010-07-06 서울반도체 주식회사 복수개의 발광셀들을 갖는 발광 다이오드 및 그것을 제조하는 방법
KR101533817B1 (ko) 2008-12-31 2015-07-09 서울바이오시스 주식회사 복수개의 비극성 발광셀들을 갖는 발광 소자 및 그것을 제조하는 방법
CN102201426B (zh) * 2010-03-23 2016-05-04 展晶科技(深圳)有限公司 发光二极管及其制作方法
KR20140073351A (ko) * 2012-12-06 2014-06-16 엘지이노텍 주식회사 발광 소자

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000101136A (ja) * 1998-09-25 2000-04-07 Toshiba Corp 半導体発光装置及び半導体発光装置の駆動方法
JP2002026384A (ja) * 2000-07-05 2002-01-25 Nichia Chem Ind Ltd 集積型窒化物半導体発光素子
US20060169993A1 (en) * 2005-02-03 2006-08-03 Zhaoyang Fan Micro-LED based high voltage AC/DC indicator lamp
JP2009071220A (ja) * 2007-09-18 2009-04-02 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物系化合物半導体発光素子
US20100237371A1 (en) * 2007-10-04 2010-09-23 Bong Cheol Kang Light emitting device and method for fabricating the same
JP2009302314A (ja) * 2008-06-13 2009-12-24 Rohm Co Ltd GaN系半導体装置
JP2010056195A (ja) * 2008-08-27 2010-03-11 Nichia Corp 半導体発光素子
JP2012507134A (ja) * 2008-09-11 2012-03-22 ブリッジラックス・インク 直列接続されたセグメント化led
JP2012519377A (ja) * 2009-02-26 2012-08-23 ブリッジラックス インコーポレイテッド 個々のセグメントledの光出力における製造工程でのばらつきを補償するセグメントledを用いた光源
JP2012028749A (ja) * 2010-07-22 2012-02-09 Seoul Opto Devices Co Ltd 発光ダイオード

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11355550B2 (en) 2014-05-19 2022-06-07 Epistar Corporation Optoelectronic device having conductor arrangement structures non-overlapped with heat dissipation pads
US11705480B2 (en) 2014-05-19 2023-07-18 Epistar Corporation Optoelectronic device with electrodes forming an outer boundary beyond an outer boundary of an epitaxial stack
JP2016012707A (ja) * 2014-06-30 2016-01-21 晶元光電股▲ふん▼有限公司 光電部品及びその製造方法
JP2017059752A (ja) * 2015-09-18 2017-03-23 豊田合成株式会社 発光装置とその製造方法
US10903394B2 (en) 2018-02-19 2021-01-26 Nichia Corporation Light emitting element
US11715814B2 (en) 2018-02-19 2023-08-01 Nichia Corporation Light emitting element including first and second semiconductor layered bodies having defined relative lateral surface angles
JP2019145843A (ja) * 2019-05-14 2019-08-29 晶元光電股▲ふん▼有限公司Epistar Corporation 光電部品
JP2021082837A (ja) * 2021-02-24 2021-05-27 晶元光電股▲ふん▼有限公司Epistar Corporation 光電部品
JP7223046B2 (ja) 2021-02-24 2023-02-15 晶元光電股▲ふん▼有限公司 光電部品
WO2023068264A1 (ja) * 2021-10-18 2023-04-27 浜松ホトニクス株式会社 光半導体素子

Also Published As

Publication number Publication date
US9337236B2 (en) 2016-05-10
KR20140073351A (ko) 2014-06-16
US20160225816A1 (en) 2016-08-04
CN103855180B (zh) 2019-11-05
US20140159071A1 (en) 2014-06-12
US9735199B2 (en) 2017-08-15
CN103855180A (zh) 2014-06-11
EP2741338A1 (en) 2014-06-11
EP2741338B1 (en) 2020-05-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2741338B1 (en) Electrode structure for light-emitting diode array
KR102087933B1 (ko) 발광 소자 및 이를 포함하는 발광 소자 어레이
KR101888604B1 (ko) 발광 소자 및 발광 소자 패키지
JP6053453B2 (ja) 発光素子
KR101871372B1 (ko) 발광 소자
US9812626B2 (en) Light emitting device
US9837577B2 (en) Light emitting device
KR101712050B1 (ko) 발광 소자 패키지
KR101830719B1 (ko) 발광 소자
KR20140092037A (ko) 발광 소자 패키지

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20161124

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20161124

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20171031

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20171121

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180220

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180717

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20181016

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20190402