JP2014111301A - 研磨装置及び研磨方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】研磨装置は、研磨面10aを有する研磨パッド10を支持するための研磨テーブル12と、トップリング14を有するトップリングヘッド16と、トップリングヘッド16を包囲するトップリングヘッドカバー24と、ドレッサ20を有するドレッサヘッド22と、ドレッサヘッド22を包囲するドレッサヘッドカバー30a,30b,30cと、トップリング14が基板受渡し位置に位置するときにトップリング14の上面及びトップリングヘッドカバー24の外面に洗浄液を噴霧する噴霧ノズル58,60,62と、ドレッサ20が退避位置に位置するときにドレッサヘッドカバー30a,30b,30cの外面に洗浄液を噴霧する噴霧ノズル62,64,66を有する。
【選択図】図2
Description
また、本発明は、研磨装置に係り、特に研磨テーブルの周囲に配置される各種カバー等が研磨液によって汚染されてしまうことを防止しつつ、ウェハなどの研磨対象物(基板)の表面を研磨して平坦化する研磨装置に関する。
アトマイザカバーを角部のない平滑な形状にすることで、樹脂による一体成形が可能となる。
この構成によれば、アトマイザカバーの半円筒頂板から側板上を流下して側板の下端面に達した液体が、該下端面上をアトマイザカバーの先端から基端に向けて流れるようにすることができる。
このように第2側板に突出部を一体に設けることで、アトマイザカバーを突出部で補強することができる。さらに、突出部によって液体の飛散を防止することができる。
この構成によれば、側部カバーと下部カバーとの連結部を、側部カバーと下部カバーの間の角部よりも上方に位置させることができ、これによって、両者の間の角部に研磨液が溜まってしまうことを防止することができる。
10 研磨パッド
10a 研磨面
12 研磨テーブル
14 トップリング
16 トップリングヘッド
20 ドレッサ
22 ドレッサヘッド
24 トップリングヘッドカバー
30a,30b,30c ドレッサヘッドカバー
40 アトマイザ
42 アトマイザカバー
46 研磨液供給ノズル
50 パイプ
52 チャンバ
54 天井壁噴霧ノズル
56 周壁噴霧ノズル
58 トップリング噴霧ノズル
60,64 上部噴霧ノズル
62,66 側部噴霧ノズル
72,76 噴霧ノズル
84 防水プレート
89 アトマイザヘッド
90 半円筒頂板
90a 第1頂板
90b 第2頂板
92,94 側板
96 空間
98 突出部
100 ノルシール
102 ボルト取付け具
110 側板
112 側部カバー
114 下部カバー
116 底板
118 側板
120 ノルシール
122 上部側板
124 下部側板
126 テープ
132 緩衝材
134 研磨液チューブ
Claims (14)
- 研磨面を有する研磨パッドを支持するための回転自在な研磨テーブルと、
前記研磨テーブルの上方の研磨位置と前記研磨テーブルの側方の基板受渡し位置との間を移動自在で基板を前記研磨面に押し付けるトップリングを有するトップリングヘッドと、
前記トップリングヘッドを包囲するトップリングヘッドカバーと、
前記研磨テーブルの上方のドレッシング位置と前記研磨テーブルの側方の退避位置との間を移動自在で前記研磨面をドレッシングするドレッサを有するドレッサヘッドと、
前記ドレッサヘッドを包囲するドレッサヘッドカバーと、
前記トップリングが前記基板受渡し位置にあるときに、前記トップリングの上面及び前記トップリングヘッドカバーの外面に洗浄液を噴霧する噴霧ノズルと、
前記ドレッサが前記退避位置にあるときに、前記ドレッサヘッドカバーの外面に洗浄液を噴霧する噴霧ノズルを有することを特徴とする研磨装置。 - 前記研磨面に洗浄流体を噴霧して該研磨面を洗浄するアトマイザと、
前記アトマイザの外面に洗浄液を噴霧する噴霧ノズルを更に有することを特徴とする請求項1に記載の研磨装置。 - 前記研磨面に研磨液を供給する研磨液供給ノズルと、
前記研磨液供給ノズルに洗浄液を噴霧する噴霧ノズルを更に有することを特徴とする請求項1に記載の研磨装置。 - 前記研磨装置を内部に収納するチャンバの内壁面に洗浄液を噴霧する噴霧ノズルを更に有することを特徴とする請求項1に記載の研磨装置。
- 基板を保持したトップリングを研磨テーブルの上方の研磨位置に移動させ、
前記研磨テーブルを回転させ、研磨液供給ノズルから前記研磨テーブル上の研磨パッドの研磨面に研磨液を供給しながら、前記トップリングで基板を前記研磨面に押し付けて該基板を研磨し、
研磨された基板を保持した前記トップリングを前記研磨位置から前記研磨テーブルの側方の基板受渡し位置に移動させ、
前記トップリングの上面、及び該トップリングを有するトップリングヘッドを包囲するトップリングヘッドカバーの外面に洗浄液を噴霧することを特徴とする研磨方法。 - 前記トップリングが前記基板受渡し位置にあるとき、ドレッサを該研磨テーブルの上方のドレッシング位置に移動させ、
前記ドレッサを前記研磨面に押し付けて該研磨面のドレッシングを行い、
前記ドレッサを前記ドレッシング位置から前記研磨テーブルの側方の退避位置に移動させ、
前記ドレッサを有するドレッサヘッドを包囲するドレッサヘッドカバーの外面に洗浄液を噴霧することを特徴とする請求項5に記載の研磨方法。 - 基板を研磨していない時に、アトマイザから前記研磨面に洗浄流体を噴霧して該研磨面を洗浄しつつ、前記アトマイザの外面に洗浄液を噴霧することを特徴とする請求項5に記載の研磨方法。
- 基板を研磨していない時に、前記研磨液供給ノズルに洗浄液を噴霧することを特徴とする請求項5に記載の研磨方法。
- 研磨面を有する研磨パッドを支持するための回転自在な研磨テーブルと、
前記研磨面に洗浄流体を噴霧して該研磨面を洗浄するアトマイザヘッドと、
前記アトマイザヘッドの上面を覆うアトマイザカバーと、
前記アトマイザカバーは、
半円筒形状を有する半円筒頂板と、
前記半円筒頂板の両下端から下方に延びる第1側板及び第2側板を有し、
前記半円筒頂板は、
前記アトマイザカバーの基端から先端まで半径が一定である円弧状の縦断面を有する第1頂板と、
前記アトマイザカバーの基端から先端に向けて半径が徐々に小さくなる円弧状の縦断面を有する第2頂板を有し、
前記第1頂板の頂部と前記第2頂板の頂部が互いに接続されて、前記半円筒頂板を形成することを特徴とする研磨装置。 - 前記半円筒頂板、前記第1側板、及び前記第2側板は、樹脂で一体成形されていることを特徴とする請求項9に記載の研磨装置。
- 前記第1側板及び前記第2側板の下端面は、前記アトマイザカバーの先端から基端に向けて下方に傾斜することを特徴とする請求項9に記載の研磨装置。
- 前記第2側板は前記第2頂板に接続されており、
前記第2側板には、水平方向に突出する突出部が設けられていることを特徴とする請求項9に記載の研磨装置。 - 基板を保持し回転させながら前記研磨面に押し付けるトップリングを有するトップリングヘッドと、
前記トップリングヘッドを包囲するトップリングヘッドカバーを更に有し、
前記トップリングヘッドカバーは、前記トップリングヘッドを囲む側部カバーと、前記側部カバーの下端開口部を閉塞する下部カバーを有し、
前記下部カバーは、前記トップリングが前記研磨テーブルの上方の研磨位置にある時に、前記研磨テーブルの半径方向の外方に向けて下方に傾斜する底板を有することを特徴とする請求項9に記載の研磨装置。 - 前記下部カバーは、前記底板の外周部から上方に延び、前記側部カバーの側板に接触または近接する側板を有することを特徴とする請求項13に記載の研磨装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013216656A JP6031426B2 (ja) | 2012-11-02 | 2013-10-17 | 研磨装置及び研磨方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012242951 | 2012-11-02 | ||
JP2012242951 | 2012-11-02 | ||
JP2013216656A JP6031426B2 (ja) | 2012-11-02 | 2013-10-17 | 研磨装置及び研磨方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014111301A true JP2014111301A (ja) | 2014-06-19 |
JP2014111301A5 JP2014111301A5 (ja) | 2016-07-28 |
JP6031426B2 JP6031426B2 (ja) | 2016-11-24 |
Family
ID=51168848
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013216656A Expired - Fee Related JP6031426B2 (ja) | 2012-11-02 | 2013-10-17 | 研磨装置及び研磨方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6031426B2 (ja) |
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JP6031426B2 (ja) | 2016-11-24 |
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