JP2013225054A - 光走査装置および画像形成装置並びにシェーディング補正制御方法およびプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被走査面の異なる像高位置に対する設計上のもしくは予め検出された光量比の分布をシェーディング特性テーブルとして記憶し、被走査面の少なくとも3つの像高位置に対する被走査面からの反射光量もしくは被走査面への入射光量を検出して関数近似により光量比の分布を算出し、記憶された光量比の分布と算出された光量比の分布とに基づいて、光源手段を制御してシェーディング補正を行う。
【選択図】図1
Description
(カラー画像形成装置)
図10は、本発明の実施形態に係る光走査装置を搭載したカラー画像形成装置60の要部概略図である。カラー画像形成装置60は、光走査装置11により4ビーム(41、42、43、44)を走査して、各々並行した像担持体である感光ドラム21、22、23、24上に画像情報を記録するタンデムタイプのカラー画像形成装置である。図10において、31、32、33、34は各々現像器、51は搬送ベルトである。
図2は本発明の実施形態に係る光走査装置の主走査方向の要部断面図(主走査断面図)であり、光路を展開して図示している。尚、以下の説明において、副走査方向(Z方向)とは、偏向手段の回転軸と平行な方向である。主走査断面とは、副走査方向(偏向手段の回転軸と平行な方向)を法線とする断面である。主走査方向(Y方向)とは、偏向手段で偏向走査される光束を主走査断面に投射した方向である。副走査断面とは、主走査方向を法線とする断面である。
また、副走査方向(光軸を含み主走査方向に対して直交する方向)と対応する子線方向は、以下の式で表される。
(但し、r0は光軸上の子線曲率半径、D2、D4、D6、D8、D10は係数)
なお、光軸外の子線曲率半径r’は、各々の位置における母線の法線を含み主走査面と垂直な面内に定義されている。また、形状表現式における多項式は10次までの関数で表現しているが、次数はこれ以上でも以下でも差し支えない。また、面形状表現式自体も同等の面表現自由度を有した表現式であれば、問題無く本発明の効果を得ることが可能である。
Y:主走査方向の像高
Z:反射光光量
A、B、C:係数
このような2次関数で曲線近似を行うためには、主走査方向に少なくとも3点で検出した値が必要となる。そのため、本実施形態では上述したように搬送ベルト上に3つの濃度センサ10a、10b、10cを備えている。濃度センサの個数を更に増やせば曲線近似の精度が向上するが、装置全体の複雑化にもつながる。このため、実際にはカラー画像形成装置に要求されるシェーディング補正の精度等に基づき、濃度センサの個数、曲線近似する多項式の次数が決定される。よって、本実施形態のように濃度センサの個数は3つに限られるものではなく、4つ以上有していても良い。
条件式(1)を満足することで、シェーディング特性がうねりを持つような複雑なプロファイルである場合、且つ、シェーディング特性自体がばらつきを持つ場合であっても高精度、且つ、簡易にシェーディング補正を行うことが出来る。本実施形態においては、シェーディング特性テーブルの主走査方向データ点数N1、前記濃度センサ数N2を以下の如く設定している。
N2=3
これら値を条件式(1)に当てはめると、62>3となり、これは条件式(1)を満足している。本実施形態ではシェーディング特性テーブルの主走査方向変曲点数をP1、前記検知手段で検知したデータの主走査方向変曲点数をP2とする時、以下の条件を満足するようにしている。
条件式(2)を満足することで、条件式(1)と同様に、シェーディング特性がうねりを持つような複雑なプロファイルである場合、且つ、シェーディング特性自体がばらつきを持つ場合であっても高精度、且つ、簡易にシェーディング補正を行うことが出来る。本実施形態においては、シェーディング特性テーブルの主走査方向変曲点数P1、前記検知手段で検知したデータの主走査方向変曲点数P2を以下の如く設定している。
P2=1
これら値を条件式(2)に当てはめると、3>1となり、これは条件式(2)を満足している。
次に本発明の実施形態2について説明する。本実施形態において前述の実施形態と異なる点は、シェーディング特性テーブルを予め光走査装置の被走査面上における主走査方向の複数の位置で測定した光量に基づいて作成した点である。その他の構成及び光学的作用は実施形態1と同様であり、これにより同様の効果を得ている。
N2=3
これら値を条件式(1)に当てはめると、310>3となり、これは条件式(1)を満足している。なお、この測定は光走査装置の量産において量産開始時に1度測ればよく、測定頻度は1台/1日等ばらつきが発生しそうな状況に応じて変更しても良い。このステップS2のシェーディング特性作成のための光量測定頻度は、ステップS5の3つの濃度センサでの光量測定より低いため、カラー画像形成装置の組立て工程時間、及び、シェーディングメンテナンス時間に影響しない。
P2=1
これら値を条件式(2)に当てはめると、3>1となり、これは条件式(2)を満足している。
本実施形態において、第1の実施形態と異なる点は、算出されたシェーディング特性をレーザ発光量を制御して補正するのではなく、レーザの発光パルス幅を制御して補正する点である。その他の構成及び光学的作用は第1の実施形態と同様であり、これにより同様の効果を得ている。
また、本発明は、上述した光走査装置におけるシェーディング補正制御方法として、以下を有する。即ち、被走査面の異なる像高位置における設計上の光量比もしくは予め検出された光量比をシェーディング特性テーブルとして記憶する記憶ステップを先ず備える。そして、被走査面の主走査方向における少なくとも3つの像高位置で光束を検出する光検出手段の出力から被走査面の主走査方向の異なる像高位置における光量比を関数近似により算出する算出ステップを備える。更に、記憶手段に記憶された光量比と算出手段で算出された光量比との差分に基づいて、光源手段の発光量又はパルス幅を制御してシェーディング補正を行う制御ステップを備える。
上述した実施形態では、被走査面の主走査方向における少なくとも3つの像高位置でトナーが形成された被走査面からの反射光量を検出する濃度センサとして光検出手段を設けたが、被走査面への入射光量を検出する光検出手段としても良い。
上述した実施形態では、記憶手段に記憶された光量比の分布と算出手段で算出された光量比の分布との差の分布に基づいて、シェーディング補正を行うことを説明した。即ち、
両者の差(減算)の分布を記憶手段に記憶された光量比の分布の補正分布として、この補正分布の逆分布を用いてシェーディング補正を行うものであった。しかしながら、本発明はこれに限定されない。即ち、両者の比(割算)の分布を記憶手段に記憶された光量比の分布の補正分布として、この補正分布の逆分布を用いてシェーディング補正を行うものであっても良い。
上述した実施形態では、光源手段の発光量又はパルス幅を制御してシェーディング補正を行うことを説明したが、本発明はこれに限らず、光源手段のパルス数を制御してシェーディング補正を行うものであっても良い。
上述した実施形態では、被走査面の主走査方向における少なくとも3つの像高位置で光束を検出する光検出手段の出力から被走査面の主走査方向の異なる像高位置における光量比を関数近似により算出する算出手段を画像形成装置内に有していた。しかしながら本発明はこれに限らず、光検出手段及び算出手段を光走査装置の量産工程内に設けてもよい。その際は算出された光量比データは光走査装置の半導体レーザ基板に実装された情報記憶手段に書き込めば良い。
Claims (17)
- 光源手段と、
偏向面を含み、回転可能な偏向手段と、
前記光源手段からの光束を前記偏向面に導く入射光学系と、
前記偏向面からの前記光束を被走査面に導く結像光学系と、
を備え、前記偏向手段を回転させることによって、前記結像光学系からの前記光束で前記被走査面を主走査方向に走査する光走査装置であって、
前記被走査面の前記主走査方向における異なる像高位置に対する設計上の光量比の分布もしくは予め検出された光量比の分布をシェーディング特性テーブルとして記憶する記憶手段と、
前記被走査面の前記主走査方向における少なくとも3つの像高位置に対する前記被走査面からの反射光量もしくは前記被走査面への入射光量を検出する光検出手段と、
前記光検出手段の出力から前記被走査面の前記主走査方向における異なる像高位置に対する光量比の分布を関数近似により算出する算出手段と、
前記記憶手段に記憶された光量比の分布と前記算出手段で算出された光量比の分布とに基づいて、前記光源手段を制御してシェーディング補正を行う制御手段と、
を有することを特徴とする光走査装置。 - 前記制御手段は、前記記憶手段に記憶された光量比の分布と前記算出手段で算出された光量比の分布との差の分布に基づいて、シェーディング補正を行うことを特徴とする請求項1に記載の光走査装置。
- 前記記憶手段で記憶される光量比および前記算出手段で算出される光量比は、前記主走査方向における中央像高位置で1であることを特徴とする請求項1に記載の光走査装置。
- 前記少なくとも3つの像高位置は、前記主走査方向における中央像高位置と、両端側像高位置を含むことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光走査装置。
- 前記制御手段は、前記光源手段の発光量又はパルス幅もしくはパルス数を制御してシェーディング補正を行うことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の光走査装置。
- 前記算出手段は、2次関数近似により算出することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の光走査装置。
- 前記光検出手段は、前記被走査面に形成される基準トナー像パターンからの反射光量を検出する濃度センサとして機能することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の光走査装置。
- 前記主走査方向における前記シェーディング特性テーブルのデータ点数をN1、前記光検出手段で検出される個数をN2とする時、N1>N2なる条件を満足することを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の光走査装置。
- 前記主走査方向における前記シェーディング特性テーブルの変曲点数をP1、前記主走査方向における前記算出手段で関数近似されたデータの変曲点数をP2とする時、P1>P2なる条件を満足することを特徴とする請求項8に記載の光走査装置。
- 前記結像光学系を構成する結像レンズが、樹脂製であることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の光走査装置。
- 前記結像レンズの副走査断面内の中央部付近以外を前記光束が通過することを特徴とする請求項10に記載の光走査装置。
- 前記偏向面に対して、副走査断面内において斜め方向から前記光束が入射していることを特徴とする請求項11に記載の光走査装置。
- 前記結像光学系の射出側の光路に光路を折り曲げる反射部材を配置することを特徴とする請求項1乃至12のいずれか1項に記載の光走査装置。
- 請求項1乃至13のいずれか1項に記載の光走査装置と、前記被走査面に配置された感光体と、前記光走査装置で走査された光ビームによって前記感光体に形成された静電潜像をトナー像として現像する現像器と、現像されたトナー像を被転写材に転写する転写器と、転写されたトナー像を被転写材に定着させる定着器とを有することを特徴とする画像形成装置。
- 請求項1乃至13のいずれか1項に記載の光走査装置と、外部機器から入力したコードデータを画像信号に変換して前記光走査装置に入力せしめるプリンタコントローラとを有していることを特徴とする画像形成装置。
- 光源手段と、
偏向面を含み、回転可能な偏向手段と、
前記光源手段からの光束を前記偏向面に導く入射光学系と、
前記偏向面からの前記光束を被走査面に導く結像光学系と、
を備え、前記偏向手段を回転させることによって、前記結像光学系からの前記光束で前記被走査面を主走査方向に走査する光走査装置におけるシェーディング補正制御方法であって、
前記被走査面の前記主走査方向における異なる像高位置に対する設計上の光量比の分布もしくは予め検出された光量比の分布をシェーディング特性テーブルとして記憶手段に記憶する記憶ステップと、
前記被走査面の前記主走査方向における少なくとも3つの像高位置に対する前記被走査面からの反射光量もしくは前記被走査面への入射光量を光検出手段で検出する光検出ステップと、
前記光検出手段の出力から前記被走査面の前記主走査方向における異なる像高位置に対する光量比の分布を関数近似により算出手段で算出する算出ステップと、
前記記憶手段に記憶された光量比の分布と前記算出手段で算出された光量比の分布とに基づいて、前記光源手段を制御してシェーディング補正を行う制御ステップと、
を有することを特徴とするシェーディング補正制御方法。 - 請求項16に記載の全ての前記ステップをコンピュータに実行させることを特徴とするシェーディング補正制御プログラム。
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