JP2009222922A - レーザ走査装置及び画像形成装置 - Google Patents

Abstract

【課題】分岐したレーザ光の被走査面の到達光量を任意に制御できるようにする。
【解決手段】レーザ光を発生するＬＤ１ａ，１ｂと、このＬＤ１ａ，１ｂの発光量可変制御を行う光源光量制御部１１０と、前記ＬＤ１ａ，１ｂからのレーザ光を偏向走査するポリゴンミラーと、前記レーザ光の透過経路を分岐するハーフミラープリズムと、この分岐したレーザ光を複数の感光体面に集光走査させる第１走査レンズ、ミラー、第２走査レンズと、を有するレーザ光走査装置において、前記光源光量制御部は、複数の感光体面の走査位置に応じて、ＬＤの発光量を記憶部１３０に記憶したレーザ光発光量補正データに基づいて可変制御する。
【選択図】図９

Description

本発明は、レーザによって光書き込みを行うレーザ走査装置、及びこのレーザ走査装置を備えたレーザプリンタ、デジタル複写機、普通紙ファックス、デジタル複合機等の画像形成装置に関する。

レーザプリンタ、デジタル複写機、ファックス装置等の画像形成装置は、レーザ光をポリゴンミラー等の走査手段により感光体等の被走査面上で主走査方向に走査するとともに、被走査面を副走査方向に移動させて感光体上に１画像を書き込むレーザ光走査装置を搭載している。一方、これらレーザ光走査装置を搭載した画像形成装置においては、カラー化、高速化が進み、感光体を複数有するタンデム対応の画像形成装置が普及してきている。カラーの電子写真画像形成装置としては、感光体を１つのみ有し、色の数だけ感光体を回転するという方式もあるが、この方式では、４色、１ドラムだと４回転する必要があり生産性に劣る。
一方、タンデム方式の場合、生産性は高いが、感光体数に応じて光源数が増え、それに伴って部品点数が増加し、当然、コストアップが生じてしまう。 また、書込ユニットが複数あることから故障も多くなる。故障の原因としては例えば半導体レーザの劣化が挙げられている。このように光源数が多くなると、故障の確率が増え、リサイクル性が劣化する。
これらの問題点に対処するため、例えば、特許文献１には、タンデム方式で光源の数を増やさないための構成が提案されている。提案されている構成とは、共通の光源からのレーザ光を異なる被走査面に走査させるため、位相をずらして２段に重ねたポリゴンミラーを用いるというものである。

レーザ光はポリゴンミラーにより等角速度で偏向され、被走査面上における走査速度を一定にするために、ｆθレンズあるいはｆθミラーが用いられている。ｆθレンズあるいはｆθミラーを介したレーザ光は、被走査面上での走査速度が一定になるが、感光体面上でのレーザ光強度は像高によって強弱が生じる。これは、レーザ光がレーザダイオードから出射されてから感光体面に到達するまでに通るガラス、レンズ、ミラーといった光学素子の反射率、透過率といった光利用効率がレーザ光の入射角によって異なること、ｆθレンズの厚みが像高で異なることなどによる。

また、特許文献２には、被走査面上でのレーザビームの強度は像高によって強弱が生じるという課題を解決するため、光束を発生する光源手段と、この光源手段からの光束を偏向走査する偏向手段と、この偏向手段からの光束を被走査面に光スポットとして集光して該光スポットで前記被走査面を走査させる走査結像光学手段とを有するビーム走査型画像形成装置において、前記光スポットの走査位置を検出する走査位置検出手段と、この走査位置検出手段で検出された前記光スポットの走査位置に対応してあらかじめ与えられた、前記光源手段の光量補正データを記憶する記憶手段と、この記憶手段で記憶された光量補正データに基づいて、前記光スポットの走査位置に対応して前記光源手段の光量を制御する制御手段とを備えた発明が開示されている。
特開２００６−２８４８２２号公報 特開２０００−０７１５１０号公報

前述のような像高によるビーム光強度の強弱をシェーディング特性と呼ぶが、形成画像の濃度に影響を与えるため、レーザ光走査型画像形成装置では、シェーディング特性を補正することが要求されている。

また、レーザ光の走査位置を検出するために、フォトセンサ等により構成された走査位置検出手段が、光ビーム走査光路上に配置されるレーザ光走査型画像形成装置では、検出に適する走査光量に補正することが要求されている。

本発明はこのような点に鑑みてなされたもので、本発明が解決しようとする課題は、分岐したレーザ光の被走査面の到達光量を任意に制御することを可能とすることにある。

前記課題を解決するため、第１の手段は、レーザ光を発生する光源手段と、この光源手段の発光量を可変制御する光量制御手段と、前記光源手段からのレーザ光を偏向走査する偏向手段と、前記レーザ光の透過経路を分岐するレーザ光分割手段と、このレーザ光分割手段によって分岐されたレーザ光を複数の被走査面に集光走査させる走査結像光学手段とを有するレーザ光走査装置において、前記光量制御手段は、複数の被走査面の走査位置に応じて前記光源手段の発光量を可変制御することを特徴とする。

第２の手段は、第１の手段において、分岐されたレーザ光の走査位置を検出するための走査位置検出手段と、前記走査位置検出手段によって検出した位置を基準とした走査位置によるレーザ光発光量補正データを記憶する記憶手段とを有し、前記光量制御手段は、前記記憶手段から走査位置に対応したレーザ光発光量補正データを読み出し、前記光源手段の発光量を可変制御することを特徴とする。

第３の手段は、第２の手段において、前記分岐されたレーザ光が別々の走査位置検出手段に入射することを特徴とする。

第４の手段は、第２の手段において、前記分岐されたレーザ光が同一の走査位置検出手段に入射することを特徴とする。

第５の手段は、第１ないし第４のいずれかの手段において、前記走査位置検出手段は、レーザ光の走査開始側および／または走査終了側に設けられていることを特徴とする。

第６の手段は、第２ないし第５のいずれかの手段において、前記光量制御手段が前記被走査面上のうち少なくとも前記走査位置検出手段の走査位置で前記光源手段の発光量を可変制御することを特徴とする。

第７の手段は、第２ないし第６のいずれかの手段において、前記走査位置検出手段に到達する光量が検出に適する光量になるように、前記光量制御手段が前記光源手段の発光量を制御することを特徴とする。

第８の手段は、第２ないし第５のいずれかの手段において、前記記憶手段が前記被走査面の走査位置によるレーザ光透過率特性の補正データを記憶し、前記光量制御手段は、前記記憶手段から補正データを読み出し、前記複数の被走査面に到達する光量が走査位置に因らず略一定となるように前記光源手段の発光量を制御することを特徴とする。

第９の手段は、第８の手段において、走査結像光学手段の温度を測定する手段を備え、前記記憶手段がレーザ光透過率温度特性の補正係数を記憶し、前記光量制御手段は、前記記憶手段からレーザ光透過率特性の補正データと温度特性補正係数とから前記走査結像光学手段の温度に応じた補正データを読み出し、前記複数の被走査面に到達する光量が走査位置および温度に因らず略一定となるように前記光源手段の発光量を制御することを特徴とする。

第１０の手段は、第１ないし第９のいずれかの手段において、前記光源手段が端面発光レーザであることを特徴とする。

第１１の手段は、第１０の手段において、前記光源手段が発光量を電流に変換し出力する手段を備えていることを特徴とする。

第１２の手段は、第１ないし第１１のいずれかの手段において、前記光源手段の発光量が光量制御信号の電圧値に比例することを特徴とする。

第１３の手段は、第１ないし第１２のいずれかの手段に係るレーザ光走査装置を画像形成装置が備えていることを特徴とする。

なお、後述の実施形態では、光源手段はＬＤ１ａ，１ｂに、光量制御手段は光源光量制御部１１０に、偏向手段はポリゴンミラー７に、レーザ光分割手段はハーフミラープリズム４に、被走査面は感光体１１ａ，１１ｂ面に、走査結像光学手段は第１走査レンズ８、ミラー９、第２走査レンズ１０に、走査位置検出手段は同期検知センサ１００に、記憶手段はシェーディング補正テーブル１３１、温度補正テーブル１３２を含む記憶部１３０に、温度を測定する手段は温度センサに、発光量を電流に変換し出力する手段はＬＤ１ａ，１ｂの機能に、それぞれ対応する。

本発明によれば、複数の被走査面の走査位置に応じて光源手段の発光量を可変制御するので、分岐したレーザ光の被走査面の到達光量を任意に制御することが可能となる。

以下、図面を参照し、本発明の実施形態について説明する。

図１は本発明の実施例形態に係るレーザ光走査装置の概略構成図である。
同図においてレーザ操作装置は、光源としての半導体レーザ１ａ，１ｂ、ＬＤ（半導体レーザ）ベース２、カップリングレンズ３ａ，３ｂ、光束分割手段としてのハーフミラープリズム４、シリンドリカルレンズ５ａ，５ｂ、防音ガラス６、偏向手段としてのポリゴンミラー７、第１走査レンズ８、ミラー９、第２走査レンズ１０、被走査面を有する感光体１１（１１ａ，１１ｂ）、開口絞り１２、及び同期検知センサ１００から基本的に構成されている。
半導体レーザ（以下、ＬＤと称す）１ａ，１ｂは、例えば端面発光レーザから構成され、出射した各２本の発散光束はカップリングレンズ３ａ，３ｂにより、弱い収束光束、または平行光束、または弱い発散光束に変換される。カップリングレンズ３ａ，３ｂを出たビームは被走査面上でのビーム径を安定させるための開口絞り１２を通過し、ハーフミラープリズム４に入射する。ハーフミラープリズム４に入射した共通の光源からのビームは上下段に分割され、ハーフミラーを出射するビームは全部で４本のビームとなる。 走査開始側に同期検知センサ１００を配置し、各ビームの走査開始タイミングを検出する。

図２は本発明の実施形態であるハーフミラープリズムの副走査断面図である。
ハーフミラープリズム４は光束分岐手段として機能し、断面が３角形の部分４１と、平行４辺形の部分４２とからなっている。部分４１と４２の接着面４ａがハーフミラーとなっており、透過光と反射光を１：１の割合で分離する。また、平行４辺形の部分４２の接着面４ａに対向する面４ｂは全反射面であり、方向を変換する機能を有する。ここでは、光束分岐手段としてハーフミラープリズムを用いているが、単体のハーフミラーと通常のミラーを用いて同様の系を構成しても良い。また、ハーフミラーの分離の割合は１：１である必要はなく、他の光学系の条件に合わせて設定してもよいことは言うまでもない。

ハーフミラープリズム４を出射したビームは上下段それぞれに配備されるシリンドリカルレンズ５ａ，５ｂにより、偏向反射面の近傍で主走査方向に長い線像に変換される。ここで、ポリゴンミラー７は上下段にそれぞれ単体のポリゴンミラー７ａ，７ｂが同心で配置され、互いに回転方向の角度がずらしてある。両ポリゴンミラーは同形で、原理的には任意の多角形からなる。一方の多角形の１辺の中心角をほぼ２等分する角度に他方の多角形の頂点が対応するように重ねてある。

図３は２段のポリゴンミラーと光路との関係を示す説明図である。同図において、それぞれの多角形の頂点から時計回りに隣接する相手側の多角形の頂点を見たとき、両頂点間のそれぞれに対する中心角をφ、φ'（ただし、０＜φ≦φ'）とすれば、両者が任意の頂点に対して対称配置であれば、
φ＝φ'
となる。実用的には４面のポリゴンミラーが最も使いやすいので、ここでは４面のポリゴンミラーを
φ＝φ'＝４５ｄｅｇ
としている。このφおよびφ'をずれ角と称する。なお、上下段のポリゴンミラー７ａ，７ｂは一体的に形成されても良いし、別体とし、組み付けても良い。
一般に、ずれ角φは、両ポリゴンミラーが均等にずらしてあるときは、ポリゴンミラーの面数をＭとするとき、
φ＝（２π／Ｍ）／２
となり、これは、
φ＝π／Ｍ
であることを示している。
しかし、ずらし方が均等でない場合は、小さい方のずれ角がφのとき、大きい方のずれ角φ'は、
φ'＝２π／Ｍ―φ
となる。
なお、図において
θ：被走査角度（ビームＢ〜ビームＡの成す角度）
α、α’：被走査面に対するビーム平均入射角（2×αで、被走査面の中心と入射ビームの成す角度）
α＝０°のとき、ポリゴン面に対して入射光が垂直に入るので、反射光が光源（レーザ）に返っていく。

この場合、ＡＰＣ（Ａｕｔｏ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御等で異常となってしまうので、わざと入射角をずらしている。

２αで、入射ビームと反射ビームの成す角度になり、反射ビームの延長上（ミラーを含む）に被走査面がある。

ビームＡ：ポリゴン上段反射ビーム （画角内 走査終了側）
ビームＡ’：ビームＡと同時刻で、同一光源から入射された、ポリゴン下段反射ビーム
ビームＢ：ポリゴン上段反射ビーム （画角内 走査開始側）
ビームＢ’：ビームＢと同時刻で、同一光源から入射された、ポリゴン下段反射ビーム
を意味する。

図４は２段のポリゴンミラーによる光走査を説明するための図である。
同図において符号１４は遮光部材を示す。同図に示すように共通の光源からの上段のビームが被走査面である感光体１１ａを走査しているときは、下段のビームは被走査面上にビームが到達しないようにし、望ましくは遮光部材１４により遮光するようにする。また、共通の光源からの下段のビームが上段とは異なる感光体１１ｂを走査しているときは上段のビームは被走査面に到達しないようにする。さらに、変調駆動のほうも上段と下段でタイミングをずらし、上段に対応する感光体１１ａを走査するときは、上段に対応する色（例えばブラック）の画像情報に基づき、光源の変調駆動を行い、下段に対応する感光体１１ｂを走査するときは下段に対応する色（例えばマゼンタ）の画像情報に基づき、光源の変調駆動を行う。
図５は複数色用の光源発光のタイミングを示すタイミングチャートである。同図において縦軸は光量、横軸は時間をそれぞれ表す。書き出しのタイミングは、図１の有効走査幅外に配備される同期検知センサ（同期受光手段）１００によって走査ビームを検知することにより決定される。なお、同期検知センサ１００は、通常はフォトダイオードが用いられる。
図５は、共通の光源によりブラックとマゼンタの同期検知センサ１００の走査タイミングでの受光のために点灯し、なおかつ、有効走査領域において、それぞれ全点灯する場合のタイミングを示している。同図において、実線がブラックに相当する部分、破線がマゼンタに相当する部分を示す。図５において光源は一定光量で点灯している。

図６は、図５に示したタイミングで光源が点灯しているときの被走査面の到達光量と時間との関係を示すタイミングチャートである。図６から光源が一定光量で点灯しても、被走査面に到達する光量は一様にならないことが分かる。これは、レーザ光がレーザダイオードから出射されてから感光体１１面に到達するまでに通るガラス、レンズ、ミラーなどの光学素子の反射率、透過率といった光利用効率がレーザ光の入射角によって異なること、ｆθレンズの厚みが像高で異なることなどによる。このような像高によるビーム光強度の強弱をシェーディング特性と呼ぶが、前述のように形成画像の濃度に影響を与えるため、レーザ光走査型画像形成装置では、シェーディング特性を補正する必要がある。

図７は画像領域中の光源の発光量を可変制御したときの光源光量との時間との関係を示すタイミングチャートである。図６のように到達光量が一様にならないので、図７のように画像領域中の光源の発光量を可変制御すると、図８の補正結果を示すタイミングチャートから分かるように、到達光量を一様にすることが可能となる。

また、画像領域中の光量だけでなく、同期検知受光用の光源発光量も制御できる構成に適用すると、走査位置検出手段（同期検知センサ１００）に到達する光量を、検出に適する光量に制御することにより、フォトセンサ感度等によるジッタを抑制することが可能となる。この場合、走査期間中、全期間の光量制御をする必要はなく、同期検知センサ１００を走査するタイミングのみ光量制御できる構成としても良い。

図９は走査位置に応じた光源の光量可変制御を行うための構成の一例を示すブロック図である。図９において、ＬＤ（光源）１ａ，１ｂは書き込み制御部１１０からの指示により光源駆動部（ＬＤドライバ）１２０によって駆動される。書き込み制御部１１０は光量設定信号発生部１１１とデータ信号発生回路１１２とを備え、光量設定信号発生部１１１は、さらに、光量設定信号発生回路１１１ａ及び分割エリア信号発生回路１１１ｂとを含む。書き込み制御部１１０には、同期信号、画像データ、各エリア光量設定データ及び分割エリア設定データが入力される。このうち、画像データはデータ信号発生回路１１２に、各エリア光量設定データは光量設定信号発生回路１１１ａに、分割エリア設定データは分割エリア信号発生回路１１１ｂにそれぞれ入力され、データ信号発生回路１１２からは点灯消灯制御信号がＬＤドライバ１２０のＤＡＴＡ端子に、光量設定信号発生部１１１からは光量基準電圧ＶｃがＬＤドライバ１２０の電圧制御端子Ｖｃｏｎｔに入力される。

一方、光源光量制御部１１０の前段には記憶部１３０が設けられ、その記憶部１３０には、前記光量設定信号発生回路１１１ａに入力される前記各エリア光量設定データが格納されている。この実施形態では１０２４段階で光量（発光エネルギ）が切り替え（調整）可能に設定されていることから、この１０２４段階の変化に対応した光量設定データが記憶部１３０に格納されている。この光量設定データの格納先として、例えば、シェーディング特性を補正するためのシェーディング補正データが格納されたシェーディング補正テーブル１３１が設定され、このシェーディング補正テーブル１３１に各エリア毎の補正データとして格納されている。

光源としてのＬＤ１ａ，１ｂは、発光量に比例したモニタ電流を出力する。このモニタ電流を外部抵抗１０１で電圧に変換し、光源駆動部であるＬＤドライバ１０２に入力する。一方、レーザ光走査時にはレーザビームの各走査位置に対応する光量設定データを設定する。走査位置は同期信号が入力されてからの時間をカウントし、あるいは書き込みクロックなどのクロックをカウントすることにより精度良く特定することができる。

その際、ＬＤ１ａ，１ｂの発光量は、この実施形態では１０２４段階で切り替え（調整）可能に設定されていることから、主走査方向に書き込み中に光量補正したい場合、前記発光量を切り替えることになる。書き込み制御部１１０の光量設定信号発生部１１１では、走査位置に応じて前記シェーディング補正テーブル１３１を参照し、各エリアに対する光量設定データを切り替え、この設定データに対応した光量基準電圧ＶｃをＬＤドライバ１２０に出力する。ＬＤドライバ１２０では、光量基準電圧Ｖｃと、ＬＤのモニタ電流を電圧に変換した値が一定となるようにＬＤを制御する。

この構成の場合、光源（ＬＤ１ａ，１ｂ）の発光量は、光量基準電圧Ｖｃに応じて比例制御されるため、制御が容易となる。

図１０は、図９の構成に温度変化等の影響の補正機能を付加した他の構成例を示すブロック図である。すなわち、書き込み制御部１１０に、図９の構成に加えて温度補正部１１１ｃを設け、記憶部１３０に温度補正テーブル１３２を設ける。この温度補正テーブル１３２は環境温度に応じて温度補正を行うときに参照するテーブルである。これにより、図１に示したレーザ光走査装置の雰囲気温度を温度センサなどの温度検出手段で検出し、温度補正部１１１ｃに環境測定値として入力すると、このデータに基づき温度補正テーブル１３２において参照するデータを切り替えて、温度補正値を光量設定信号発生回路１１１ａに出力する。光量設定信号発生回路１１１ａでは、図９の例に加えて温度補正を行い、図９の例に対してさらに温度補正された光量基準電圧ＶｃをＬＤドライバ１２０に出力する。ＬＤドライバ１２０は、光量基準電圧Ｖｃを受けて、光源（ＬＤ１ａ，１ｂ）の発光量を制御する。その他の各部は図９と同等に構成され、同等に機能する。なお、図１０では温度測定を入力しているが、湿度などのその他の環境データを含めた環境変化データとすることもできる。

このように構成すると、環境変化の影響を考慮した光源発光量制御が可能となるため、さらに理想的な補正が可能となる。

以上のように本実施形態によれば、
１）走査位置によるレーザ光発光量補正データを記憶し、その中から補正データを読み出し、半導体レーザの発光量を可変制御するので、分岐したレーザ光の被走査面の到達光量を任意に制御することが可能となる。
２）分岐されたレーザ光を同期検知センサに入射させ、同期検知センサへの走査光量を変更可能な構成としたので、同期検知センサに到達する光量を、検出に適する光量に制御することにより、フォトセンサ感度等によるジッタを抑制することが可能となる。
３）被走査面の走査位置によるレーザ光透過率特性（シェーディング特性）の補正データをシェーディング補正テーブルに記憶し、シェーディング補正テーブルから補正データを読み出し、半導体レーザの発光量を制御するので、複数の被走査面に到達する光量が、走査位置に因らず略一定となるように制御することが可能となる。
４）走査結像光学系の環境温度を測定する温度センサを設け、記憶部の温度補正テーブルにレーザ光透過率温度特性の補正係数を記憶し、シェーディング補正テーブルから読み出したレーザ光透過率特性の補正データと、前記温度センサからの測定値に基づいて温度補正部で読み出した温度特性補正係数とを掛け合わせ、光量設定信号発生回路で温度と走査位置とに基づいた補正データとして半導体レーザの発光量を制御するので、複数の被走査面に到達する光量が、走査位置および温度に因らず略一定となるように制御することが可能となる。
５）光源として端面発光レーザ（ＬＤ）を搭載し、ＬＤはパッケージ内に発光量を電流に変換し出力するモニタ電流出力機能を有するものを採用し、このモニタ電流を外部回路にて電圧値に変換し、この電圧値と、光量制御信号電圧値と比較制御する構成としたので、ＬＤの発光量が光量制御信号の電圧値に比例制御され、光量制御が容易となる。
等の効果を奏する。

本発明の構成を示す概要図である。 本発明の実施形態であるハーフミラープリズムの副走査断面図である。 ２段のポリゴンミラーによる光走査を説明するための図である。 複数色用の光源発光のタイミングチャートである。 図４の光源で点灯しているときの被走査面の到達光量を示す図である。 画像領域中の光源の発光量を可変制御する状態を示す図である。 可変制御した結果、到達光量が一様になったことを示す図である。 走査位置に応じた、光源の光量可変制御を行うための構成例を示す。 図８の構成に温度変化等の影響補正機能を付加した構成例を示す。 図９の構成に温度変化等の影響の補正機能を付加した他の構成例を示すブロック図である。

符号の説明

１、１' 半導体レーザ
２ ＬＤ（半導体レーザ）ベース
３、３' カップリングレンズ
４ ハーフミラープリズム
５、５' シリンドリカルレンズ
６ 防音ガラス
７ ポリゴンミラー
８ 第１走査レンズ
９ ミラー
１０ 第２走査レンズ
１１，１１ａ，１１ｂ 感光体
１２ 開口絞り
１００ 同期検知センサ

Claims (13)

1. レーザ光を発生する光源手段と、
   この光源手段の発光量を可変制御する光量制御手段と、
   前記光源手段からのレーザ光を偏向走査する偏向手段と、
   前記レーザ光の透過経路を分岐するレーザ光分割手段と、
   このレーザ光分割手段によって分岐されたレーザ光を複数の被走査面に集光走査させる走査結像光学手段と、
   を有するレーザ光走査装置において、
   前記光量制御手段は、複数の被走査面の走査位置に応じて前記光源手段の発光量を可変制御することを特徴とするレーザ光走査装置。
2. 請求項１記載のレーザ光走査装置において、
   分岐されたレーザ光の走査位置を検出するための走査位置検出手段と、
   前記走査位置検出手段によって検出した位置を基準とした走査位置によるレーザ光発光量補正データを記憶する記憶手段と、
   を有し、
   前記光量制御手段は、前記記憶手段から走査位置に対応したレーザ光発光量補正データを読み出し、前記光源手段の発光量を可変制御することを特徴とするレーザ光走査装置。
3. 請求項２記載のレーザ光走査装置において、
   前記分岐されたレーザ光が別々の走査位置検出手段に入射することを特徴とするレーザ光走査装置。
4. 請求項２記載のレーザ光走査装置において、
   前記分岐されたレーザ光が同一の走査位置検出手段に入射することを特徴とするレーザ光走査装置。
5. 請求項２ないし４のいずれか１項に記載のレーザ光走査装置において、
   前記走査位置検出手段は、レーザ光の走査開始側および／または走査終了側に設けられていることを特徴とするレーザ光走査装置。
6. 請求項２ないし５のいずれか１項に記載のレーザ光走査装置において、
   前記光量制御手段は、前記被走査面上のうち少なくとも前記走査位置検出手段の走査位置で前記光源手段の発光量を可変制御することを特徴とするレーザ光走査装置。
7. 請求項２ないし６のいずれか１項に記載のレーザ光走査装置において、
   前記光量制御手段は、前記走査位置検出手段に到達する光量が、検出に適する光量になるように前記光源手段の発光量を制御することを特徴とするレーザ光走査装置。
8. 請求項２ないし５のいずれか１項に記載のレーザ光走査装置において、
   前記記憶手段が前記被走査面の走査位置によるレーザ光透過率特性の補正データを記憶し、
   前記光量制御手段は、前記記憶手段から補正データを読み出し、前記複数の被走査面に到達する光量が走査位置に因らず略一定となるように前記光源手段の発光量を制御することを特徴とするレーザ光走査装置。
9. 請求項８のレーザ光走査装置において、
   走査結像光学手段の温度を測定する手段を備え、
   前記記憶手段がレーザ光透過率温度特性の補正係数を記憶し、
   前記光量制御手段は、前記記憶手段からレーザ光透過率特性の補正データと温度特性補正係数とから前記走査結像光学手段の温度に応じた補正データを読み出し、前記複数の被走査面に到達する光量が走査位置および温度に因らず略一定となるように前記光源手段の発光量を制御することを特徴とするレーザ光走査装置。
10. 請求項１ないし９のいずれか１項に記載のレーザ光走査装置において、
    前記光源手段は、端面発光レーザであることを特徴とするレーザ光走査装置。
11. 請求項１０のレーザ光走査装置において、
    前記光源手段は、発光量を電流に変換し出力する手段を備えていることを特徴とするレーザ光走査装置。
12. 請求項１ないし１１のいずれか１項に記載のレーザ光走査装置において、
    前記光源手段の発光量は、光量制御信号の電圧値に比例することを特徴とするレーザ光走査装置。
13. 請求項１ないし１２のいずれか１項に記載のレーザ光走査装置を備えていることを特徴とする画像形成装置。

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