JP2013161976A5 - - Google Patents

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前記基板の表面は、鏡面仕上げであることが好ましい。
本発明に係る基板加工方法は、結晶基板を加工する基板加工方法であって、レーザ光源からのレーザ光を基板の表面に向けて照射し、前記基板内部にレーザ光を集光するレーザ集光手段を基板上に非接触に配置する位置決め工程と、前記レーザ集光手段と前記基板を相対的に移動させて、前記基板内部に改質層を形成する工程とを有し、前記レーザ集光手段は、レーザ光を光軸に軸対称に集光するとともに、前記基板内部において、前記レーザ集光手段の外周部に入射した光が、前記レーザ集光手段の内周部に入射した光より、前記レーザ集光手段側で集光するように構成されているものである。
〔照射例1〕
基板内部加工装置100において、x軸、y軸方向にそれぞれ最大速度200mm/sで移動可能なxyステージ110上に、大きさ50×50mm、厚み0.7mm、表面が鏡面仕上げ加工された単結晶シリコンからなる基板10を載置固定した。
この基板10を直線状の照射方向に直角に劈開を行い、断面を観察した。この結果、図15に示すように、基板10鏡面仕上げ側表面から0.3mmの深さにそれぞれ加工領域の長さが70μmのほぼ同じ加工痕を確認した。なお、図中の左側及び右側の加工痕は、それぞれ補正環210を0.0mm及び0.3mmを設定したときに対応している。なお、この加工跡は、前述した周期的構造に相当するものである。

Claims (3)

  1. 前記基板の表面は、鏡面仕上げであることを特徴とする請求項1記載の基板加工装置。
  2. 結晶基板を加工する基板加工方法であって、
    ーザ光源からのレーザ光を基板の表面に向けて照射し、前記基板内部にレーザ光を集光するレーザ集光手段を基板上に非接触に配置する位置決め工程と、
    前記レーザ集光手段と前記基板を相対的に移動させて、前記基板内部に改質層を形成する工程とを有し、
    前記レーザ集光手段は、レーザ光を光軸に軸対称に集光するとともに、前記基板内部において、前記レーザ集光手段の外周部に入射した光が、前記レーザ集光手段の内周部に入射した光より、前記レーザ集光手段側で集光するように構成されていることを特徴とする基板加工方法。
  3. 前記改質層は、前記基板の表面と平行に形成されることを特徴とする請求項10記載の基板加工方法。
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