JP2013112880A - 陽極化成装置及びそれを備えた陽極化成システム並びに半導体ウエハ - Google Patents
陽極化成装置及びそれを備えた陽極化成システム並びに半導体ウエハ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013112880A JP2013112880A JP2011262421A JP2011262421A JP2013112880A JP 2013112880 A JP2013112880 A JP 2013112880A JP 2011262421 A JP2011262421 A JP 2011262421A JP 2011262421 A JP2011262421 A JP 2011262421A JP 2013112880 A JP2013112880 A JP 2013112880A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- anodizing apparatus
- anodizing
- substrates
- holder
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 11
- 238000002048 anodisation reaction Methods 0.000 title abstract description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 357
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 62
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 56
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 claims abstract description 54
- 238000007743 anodising Methods 0.000 claims description 136
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 67
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 48
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 41
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 39
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims description 37
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 claims description 31
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 29
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 28
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 22
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 19
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 18
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 12
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 230000032258 transport Effects 0.000 claims description 10
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 8
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 claims description 6
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 239000000243 solution Substances 0.000 abstract description 2
- 238000010923 batch production Methods 0.000 abstract 2
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 18
- 208000012839 conversion disease Diseases 0.000 description 17
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 4
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 4
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004577 artificial photosynthesis Methods 0.000 description 1
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000000866 electrolytic etching Methods 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 239000006260 foam Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67155—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H01L21/67161—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers
- H01L21/67173—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers in-line arrangement
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D17/00—Constructional parts, or assemblies thereof, of cells for electrolytic coating
- C25D17/001—Apparatus specially adapted for electrolytic coating of wafers, e.g. semiconductors or solar cells
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D11/00—Electrolytic coating by surface reaction, i.e. forming conversion layers
- C25D11/005—Apparatus specially adapted for electrolytic conversion coating
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D17/00—Constructional parts, or assemblies thereof, of cells for electrolytic coating
- C25D17/06—Suspending or supporting devices for articles to be coated
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D17/00—Constructional parts, or assemblies thereof, of cells for electrolytic coating
- C25D17/06—Suspending or supporting devices for articles to be coated
- C25D17/08—Supporting racks, i.e. not for suspending
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D17/00—Constructional parts, or assemblies thereof, of cells for electrolytic coating
- C25D17/10—Electrodes, e.g. composition, counter electrode
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02002—Preparing wafers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67155—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H01L21/67207—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations comprising a chamber adapted to a particular process
- H01L21/6723—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations comprising a chamber adapted to a particular process comprising at least one plating chamber
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/67754—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber horizontal transfer of a batch of workpieces
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68707—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a robot blade, or gripped by a gripper for conveyance
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/02—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/06—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D11/00—Electrolytic coating by surface reaction, i.e. forming conversion layers
- C25D11/02—Anodisation
- C25D11/32—Anodisation of semiconducting materials
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Robotics (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Sustainable Development (AREA)
- Weting (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
【解決手段】左側ホルダ部67及び右側ホルダ部69で複数枚の基板Wを保持した状態で処理位置に移動させ、上側ホルダ部71及び下部ホルダ39と連結させ、貯留槽11の内部で複数枚の基板Wの全周面が電解質溶液に対して液密にされる。この状態で化成反応処理を行った後、基板Wが貯留槽11から搬出される。従って、左側ホルダ部67及び右側ホルダ部69が上側ホルダ部71及び下部ホルダ39と協働して基板Wを液密に保持可能な構成とし、複数枚の基板Wを搬送し、多孔質層を形成でき、自動化及びバッチ処理に好適な陽極化成装置1を実現でき又、表裏、両表面に効率良く、かつ均一に形成された多孔質層を具備する半導体基板を本装置により提供可能となる。
【選択図】図1
Description
すなわち、従来の第1の装置において、基板支持治具(4)に基板(1)を支持させるには、基板支持治具(4)の切り欠き部を拡げてから基板(1)を開口に挿入する必要がある。したがって、機械的な機構により基板(1)を基板支持治具(4)に自動で支持させることが困難であり、さらに、複数枚の基板(1)を同時に処理するバッチ処理に適用する場合、自動化して好適に処理することはより困難となる。
すなわち、請求項1に記載の発明は、電解質溶液に基板を浸漬させて陽極化成反応を行う陽極化成装置において、電解質溶液を貯留する貯留槽と、複数枚の基板を、基板の周面と液密な状態で接触して保持可能な保持手段と、前記貯留槽の外部にあたる受け渡し位置と、前記貯留槽の内部にあたる処理位置とにわたって前記保持手段を移動する移動機構と、前記貯留槽内において、前記保持手段と協働して前記保持手段が保持する前記複数枚の基板の周面の液密な閉止を完成する閉止手段とを備え、複数枚の基板を保持した前記保持手段を前記処理位置に移動させるとともに前記閉止手段を作動させて、複数枚の基板の周面を液密にした状態で化成反応処理を行わせ、化成反応処理が終了した後、前記閉止手段を非作動とするとともに前記保持手段を前記処理位置から離反させて、複数枚の基板を前記貯留槽から搬出することを特徴とするものである。
以下、図面を参照して本発明に係る陽極化成装置の一実施例について説明する。
図1は、実施例に係る陽極化成装置の概略構成を示し、正面からみた縦断面図であり、図2は、実施例に係る陽極化成装置の概略構成を示し、側面から見た縦断面図であり、図3は、実施例に係る陽極化成装置の概略構成を示す平面図である。
次に、図12を参照して、上述した陽極化成装置1を備えた陽極化成システムS1について説明する。なお、図12は、実施例に係る陽極化成システムの概略構成を示す平面図である。
次に、図13を参照して、上述した陽極化成装置1を備えた陽極化成システムS2について説明する。なお、図13は、他の実施例に係る陽極化成システムの概略構成を示す平面図である。
W … 基板
7,9 … 一対の電極槽
11 … 貯留槽
13 … 内槽
15 … 外槽
39 … 下部ホルダ
41 … 搬送ロボット
47 … 弾性部材
61 … 上部ホルダ
67 … 左側ホルダ部
69 … 右側ホルダ部
71 … 上側ホルダ部
131 … 整列台
S1,S2 … 陽極化成システム
Claims (23)
- 電解質溶液に基板を浸漬させて陽極化成反応を行う陽極化成装置において、
電解質溶液を貯留する貯留槽と、
複数枚の基板を、基板の周面と液密な状態で接触して保持可能な保持手段と、
前記貯留槽の外部にあたる受け渡し位置と、前記貯留槽の内部にあたる処理位置とにわたって前記保持手段を移動する移動機構と、
前記貯留槽内において、前記保持手段と協働して前記保持手段が保持する前記複数枚の基板の周面の液密な閉止を完成する閉止手段とを備え、
複数枚の基板を保持した前記保持手段を前記処理位置に移動させるとともに前記閉止手段を作動させて、複数枚の基板の周面を液密にした状態で化成反応処理を行わせ、化成反応処理が終了した後、前記閉止手段を非作動とするとともに前記保持手段を前記処理位置から離反させて、複数枚の基板を前記貯留槽から搬出することを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項1に記載の陽極化成装置において、
前記保持手段は、前記複数枚の基板を所定の間隔で整列させて保持することを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項2に記載の陽極化成装置において、
前記貯留槽は、前記保持手段に保持された前記複数枚の基板の整列方向における一方側と他方側に電極を備え、
前記各電極は、前記保持手段と前記閉止手段により周面が閉止された両端の基板の主面に対向して配置されていることを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項1から3のいずれかに記載の陽極化成装置において、
前記保持手段は、基板の一方側周面に当接する第1ホルダ部と、基板の他方側周面に当接する第2ホルダ部と、前記第1ホルダ部と前記第2ホルダ部とを互いに接近させて基板を保持させ、前記第1ホルダ部と前記第2ホルダ部とを互いに離反させて基板を開放させる開閉駆動部と、を備えていることを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項1から4のいずれかに記載の陽極化成装置において、
前記閉止手段は、基板の周面のうち前記保持手段と非接触である部位と液密な状態で接触する閉止部材を備えていることを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項5に記載の陽極化成装置において、
前記閉止手段は、前記貯留槽内に固定された第1閉止部材を含むことを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項5または6に記載の陽極化成装置において、
前記閉止手段は、前記保持手段に保持された基板の周面に対して加圧して接触し、液密を保持する第2閉止部材を含むことを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項1から7のいずれかに記載の陽極化成装置において、
前記保持手段と前記閉止手段のうち、基板の周面に当接する部分には、弾性部材が設けられていることを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項8に記載の陽極化成装置において、
前記弾性部材は、電気絶縁性を有し、基板と当接する部位が基板の全周面にわたって均一に形成されていることを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項8または9に記載の陽極化成装置において、
前記弾性部材は、基板の周面側に第1の部材を備え、前記第1の部材の外側に第2の部材を備えた二層構造であって、前記第1の部材は、前記第2の部材よりも弾性率が小さいことを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項7から10のいずれかに記載の陽極化成装置において、
前記第2閉止部材を前記処理位置にある前記第1ホルダ部および前記第2ホルダ部に対して押圧する押圧機構をさらに備えていることを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項11に記載の陽極化成装置において、
前記第1ホルダ部および/または前記第2ホルダ部には、外側が低くなる第1傾斜面が形成され、
前記第1傾斜面に対応する前記第2閉止部材の位置には、外側が低くなる第2傾斜面が形成され、
前記処理位置にある前記第1ホルダ部および/または前記第2ホルダ部に対して前記第2閉止部材を押圧したとき、前記第1傾斜面と前記第2傾斜面とが係合して、前記第1ホルダ部と前記第2ホルダ部とが互いに接近する方向に押圧されることを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項11または12に記載の陽極化成装置において、
前記第1ホルダ部および/または前記第2ホルダ部には、外側が高くなる第3傾斜面が形成され、
前記第3傾斜面に対応する前記第1閉止部材の位置には、外側が高くなる第4傾斜面が形成され、
前記処理位置にある前記第1ホルダ部および/または前記第2ホルダ部に対して前記第2閉止部材を押圧したとき、前記第1ホルダ部および/または前記第2ホルダ部が前記第1閉止部材に対して押圧され、前記第3傾斜面と前記第4傾斜面とが係合して、前記第1ホルダ部と前記第2ホルダ部とが互いに接近する方向に押圧されることを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項3に記載の陽極化成装置において、
前記各電極は、高稠密、高密度、高純度の炭素よりなることを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項7から14のいずれかに記載の陽極化成装置において、
前記第2閉止部材は、内側天井面から外側面に連通し、上部開口部が前記貯留槽の液面よりも上に位置するとともに、平面視で各基板の間に形成されている複数個の排気通路を備え、
前記弾性部材は、前記各排気通路に対応した位置に形成され、前記各排気通路に連通した複数個の弾性部材通路を形成されていることを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項15に記載の陽極化成装置において、
前記第2閉止部材の内側天井面と前記弾性部材の上面との間に排気通路ブロックを備え、
前記排気通路ブロックは、前記複数個の排気通路と前記複数個の弾性部材通路とに連通する複数個のブロック通路を形成された板状部材と、前記板状部材の各ブロック通路の間であって、前記板状部材の前記弾性部材側に突出して形成された隔壁部とを備え、前記隔壁部の下端部のみを前記弾性部材に挿入した状態で設けられていることを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項3から16のいずれかに記載の陽極化成装置において、
前記一方側電極と前記他方側電極とに印加する直流電圧の極性を交互に切り替える切り替え回路をさらに備えていることを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項1から17のいずれかに記載の陽極化成装置において、
複数枚の基板を互いに平行に整列させて支持する整列台と、
前記整列台を前記受け渡し位置と、前記受け渡し位置とは異なる外部受け渡し位置との間で移動させる整列台移動機構とを備え、
前記移動機構は、前記受け渡し位置にある整列台に支持された複数枚の基板を前記保持手段により保持させた後、前記貯留槽に搬送することを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項18に記載の陽極化成装置において、
前記整列台移動機構の移動経路近傍に、当該移動経路にある前記整列台の前記基板に対して洗浄液を供給する洗浄機構をさらに備えたことを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項1から19のいずれかに記載の陽極化成装置と、
前記陽極化成装置の上流側に隣接して配置され、前記整列台を備えた待機槽と、
前記待機槽の上流側に配置され、未処理の基板を載置するローダと、
前記陽極化成装置の下流側に配置され、化成反応処理を終えた基板に対して洗浄処理を行う洗浄槽と、
前記洗浄槽の下流側に配置され、洗浄処理を終えた基板に対して乾燥処理を行う乾燥槽と、
前記乾燥槽の下流側に配置され、処理済の基板を載置するアンローダと、
前記ローダと前記待機槽との間で基板を搬送する第1の搬送機構と、
前記待機槽と前記陽極化成装置との間、及び、前記陽極化成装置と前記洗浄槽との間で基板を搬送する前記保持手段および前記移動機構とを備えた第2の搬送機構と、
前記洗浄槽と前記乾燥槽との間で基板を搬送する第3の搬送機構と、
前記乾燥槽と前記アンローダとの間で基板を搬送する第4の搬送機構と、
を備えていることを特徴とする陽極化成システム。 - 請求項19に記載の陽極化成装置を複数台並設して備え、
前記複数台の陽極化成装置の最上流側に配置され、未処理の基板を載置するローダと、
前記複数台の陽極化成装置の最下流側に配置され、化成反応処理および洗浄処理を終えた基板に対して乾燥処理を行う乾燥槽と、
前記乾燥槽の下流側に配置され、処理済の基板を載置するアンローダと、
前記ローダと前記各外部受け渡し位置との間で基板を搬送する第1の搬送機構と、
前記各外部受け渡し位置と前記乾燥槽との間で基板を搬送する第2の搬送機構と、
前記乾燥槽と前記アンローダとの間で基板を搬送する第3の搬送機構と、
を備えていることを特徴とする陽極化成システム。 - 電解質溶液に基板を浸漬させて陽極化成反応を行う陽極化成装置において、
電解質溶液を貯留する貯留槽と、
前記基板と同形状の断面を有する中空部を内部に形成し、前記中空部の内部に複数枚の基板を、それぞれの基板の周面を液密な状態で保持可能な保持手段と、
保持手段が形成する前記中空部の両端に配置された一対の電極と、
前記一対の電極に直流電圧を印加する電気回路と、
前記貯留槽の外部にあたる受け渡し位置と、前記貯留槽の内部にあたる処理位置とにわたって前記保持手段を移動する移動機構とを備え、
複数枚の基板を保持した前記保持手段を前記処理位置に移動させて、前記中空部を前記電解質溶液で満たし、前記複数枚の基板の周面を液密、かつ、電気的に分離絶縁にした状態で化成反応処理を行わせ、化成反応処理が終了した後、前記保持手段を前記処理位置から移動させて、複数枚の基板を前記貯留槽から搬出することを特徴とする陽極化成装置。 - 請求項17に記載の陽極化成装置を用いて、陽極化成処理を行うことにより、半導体ウエハの表裏両面において、面内にわたり、均一な厚み、孔径、孔密度に形成した多孔質層を具備することを特徴とする半導体ウエハ。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011262421A JP5908266B2 (ja) | 2011-11-30 | 2011-11-30 | 陽極化成装置及びそれを備えた陽極化成システム並びに半導体ウエハ |
US13/688,645 US20130154061A1 (en) | 2011-11-30 | 2012-11-29 | Anodizing apparatus, an anodizing system having the same, and a semiconductor wafer |
CN201210505374.XA CN103132121B (zh) | 2011-11-30 | 2012-11-30 | 阳极氧化装置、具有该装置的阳极氧化系统及半导体晶片 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011262421A JP5908266B2 (ja) | 2011-11-30 | 2011-11-30 | 陽極化成装置及びそれを備えた陽極化成システム並びに半導体ウエハ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013112880A true JP2013112880A (ja) | 2013-06-10 |
JP5908266B2 JP5908266B2 (ja) | 2016-04-26 |
Family
ID=48492550
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011262421A Expired - Fee Related JP5908266B2 (ja) | 2011-11-30 | 2011-11-30 | 陽極化成装置及びそれを備えた陽極化成システム並びに半導体ウエハ |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20130154061A1 (ja) |
JP (1) | JP5908266B2 (ja) |
CN (1) | CN103132121B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017163849A1 (ja) * | 2016-03-22 | 2017-09-28 | 株式会社荏原製作所 | 基板ホルダ及びめっき装置 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102844883B (zh) | 2010-02-12 | 2016-01-20 | 速力斯公司 | 用于制造光电池和微电子器件的半导体衬底的双面可重复使用的模板 |
JP6841243B2 (ja) * | 2018-01-12 | 2021-03-10 | 株式会社ダイフク | 物品並べ替え装置 |
CN110416150B (zh) * | 2019-07-18 | 2021-10-22 | 西安奕斯伟硅片技术有限公司 | 一种硅片夹持装置 |
CN110820019A (zh) * | 2019-10-10 | 2020-02-21 | 湖南龙智新材料科技有限公司 | 一种电解铜箔的溶铜系统及溶铜工艺 |
CN112071790A (zh) * | 2020-08-24 | 2020-12-11 | 台州市老林装饰有限公司 | 一种晶圆储存盒放置夹紧机构 |
CN116759375B (zh) * | 2023-08-21 | 2023-10-20 | 江苏芯梦半导体设备有限公司 | 一种离心式方形晶圆夹持装置、夹持方法以及清洗方法 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5842795A (ja) * | 1981-09-08 | 1983-03-12 | Tateyama Alum Kogyo Kk | アルミニウム又はアルミニウム合金の縦吊り式表面処理方法 |
JPH05198557A (ja) * | 1992-01-23 | 1993-08-06 | Canon Inc | 陽極化成装置 |
JPH11195640A (ja) * | 1997-12-26 | 1999-07-21 | Canon Inc | 陽極化成装置及び陽極化成処理方法及び多孔質基板 |
JPH11195639A (ja) * | 1997-12-26 | 1999-07-21 | Canon Inc | 陽極化成装置 |
JP2002180294A (ja) * | 2000-12-08 | 2002-06-26 | Tokyo Electron Ltd | 液処理装置、液処理方法 |
JP2004076022A (ja) * | 2002-06-21 | 2004-03-11 | Ebara Corp | 基板ホルダ及びめっき装置 |
WO2008140058A1 (ja) * | 2007-05-09 | 2008-11-20 | Quantum 14 Kk | シリコン基材の加工方法とその加工品および加工装置 |
JP2011026638A (ja) * | 2009-07-22 | 2011-02-10 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 陽極酸化装置 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1241296A (en) * | 1967-11-24 | 1971-08-04 | Alcan Res & Dev | Process for colouring anodised aluminium by electrolytic deposition |
EP0597428B1 (en) * | 1992-11-09 | 1997-07-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Anodization apparatus with supporting device for substrate to be treated |
US5738574A (en) * | 1995-10-27 | 1998-04-14 | Applied Materials, Inc. | Continuous processing system for chemical mechanical polishing |
JP2000349264A (ja) * | 1998-12-04 | 2000-12-15 | Canon Inc | 半導体ウエハの製造方法、使用方法および利用方法 |
KR100804714B1 (ko) * | 2000-03-17 | 2008-02-18 | 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 | 도금장치 및 방법 |
JP4821067B2 (ja) * | 2001-08-01 | 2011-11-24 | ソニー株式会社 | 陽極化成装置およびこれを用いた多孔質層の形成方法、ならびに半導体薄膜の製造方法 |
JP3916924B2 (ja) * | 2001-11-08 | 2007-05-23 | 東京エレクトロン株式会社 | 陽極酸化装置、陽極酸化方法 |
JP2007297657A (ja) * | 2006-04-28 | 2007-11-15 | Canon Inc | 吸着パット及び基板処理装置 |
JP5092539B2 (ja) * | 2007-05-24 | 2012-12-05 | アイシン精機株式会社 | 陽極酸化処理装置 |
JP5100579B2 (ja) * | 2008-09-04 | 2012-12-19 | 信越ポリマー株式会社 | 基板用の吸着装置及び基板の取り扱い方法 |
JP5691135B2 (ja) * | 2009-03-31 | 2015-04-01 | スズキ株式会社 | 陽極酸化皮膜及び陽極酸化処理方法 |
KR101017575B1 (ko) * | 2010-11-22 | 2011-02-28 | 주식회사 삼원알텍 | 금속의 아노다이징 처리용 양극레일의 스파크 방지장치 |
WO2012167285A1 (en) * | 2011-06-03 | 2012-12-06 | Tel Nexx, Inc. | Parallel single substrate processing system |
-
2011
- 2011-11-30 JP JP2011262421A patent/JP5908266B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-11-29 US US13/688,645 patent/US20130154061A1/en not_active Abandoned
- 2012-11-30 CN CN201210505374.XA patent/CN103132121B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5842795A (ja) * | 1981-09-08 | 1983-03-12 | Tateyama Alum Kogyo Kk | アルミニウム又はアルミニウム合金の縦吊り式表面処理方法 |
JPH05198557A (ja) * | 1992-01-23 | 1993-08-06 | Canon Inc | 陽極化成装置 |
JPH11195640A (ja) * | 1997-12-26 | 1999-07-21 | Canon Inc | 陽極化成装置及び陽極化成処理方法及び多孔質基板 |
JPH11195639A (ja) * | 1997-12-26 | 1999-07-21 | Canon Inc | 陽極化成装置 |
JP2002180294A (ja) * | 2000-12-08 | 2002-06-26 | Tokyo Electron Ltd | 液処理装置、液処理方法 |
JP2004076022A (ja) * | 2002-06-21 | 2004-03-11 | Ebara Corp | 基板ホルダ及びめっき装置 |
JP2008156758A (ja) * | 2002-06-21 | 2008-07-10 | Ebara Corp | 基板ホルダ及びめっき装置 |
WO2008140058A1 (ja) * | 2007-05-09 | 2008-11-20 | Quantum 14 Kk | シリコン基材の加工方法とその加工品および加工装置 |
JP2011026638A (ja) * | 2009-07-22 | 2011-02-10 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 陽極酸化装置 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017163849A1 (ja) * | 2016-03-22 | 2017-09-28 | 株式会社荏原製作所 | 基板ホルダ及びめっき装置 |
KR20180124039A (ko) * | 2016-03-22 | 2018-11-20 | 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 | 기판 홀더 및 도금 장치 |
KR102074338B1 (ko) | 2016-03-22 | 2020-02-07 | 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 | 기판 홀더 및 도금 장치 |
TWI685056B (zh) * | 2016-03-22 | 2020-02-11 | 日商荏原製作所股份有限公司 | 基板固持器及鍍覆裝置 |
US11015261B2 (en) | 2016-03-22 | 2021-05-25 | Ebara Corporation | Substrate holder and plating apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20130154061A1 (en) | 2013-06-20 |
CN103132121B (zh) | 2016-01-20 |
CN103132121A (zh) | 2013-06-05 |
JP5908266B2 (ja) | 2016-04-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5908266B2 (ja) | 陽極化成装置及びそれを備えた陽極化成システム並びに半導体ウエハ | |
US10577713B2 (en) | Substrate holder, plating apparatus, and method for manufacturing substrate holder | |
KR101211079B1 (ko) | 반송 암의 세정 방법, 기판 처리 장치의 세정 방법 및 기판 처리 장치 | |
KR101651583B1 (ko) | 유체 프로세싱 시스템에서의 워크피스 표면의 웨팅 | |
KR20160058917A (ko) | 통합된 정전 척을 갖는 기판 캐리어 | |
JP2019520484A (ja) | 湿式処理システムおよび稼働方法 | |
US8992746B2 (en) | Anodizing apparatus | |
US20150090584A1 (en) | Plating apparatus and cleaning device used in the plating apparatus | |
KR101999838B1 (ko) | 기판 처리 시스템 | |
US8221608B2 (en) | Proximity processing using controlled batch volume with an integrated proximity head | |
US20090211900A1 (en) | Convenient Replacement of Anode in Semiconductor Electroplating Apparatus | |
TWI803011B (zh) | 基板處理裝置 | |
US11643744B2 (en) | Apparatus for electrochemically processing semiconductor substrates | |
US20230121666A1 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
JP5911682B2 (ja) | 槽キャリア及び基板処理装置 | |
JPH10335284A (ja) | 基板処理装置 | |
KR20150138921A (ko) | 글라스 단면 에칭용 카세트 | |
JP2013161811A (ja) | 基板洗浄方法及び基板洗浄装置 | |
TWI781496B (zh) | 基板處理裝置 | |
JP2012119571A (ja) | 陽極化成装置 | |
TW202208699A (zh) | 用於在基板之化學及/或電解表面處理中固持基板的電鍍框架單元 | |
JP2012119570A (ja) | 陽極化成装置 | |
KR20170058123A (ko) | 불소코팅물품, 불소코팅물품 제조 방법 및 기판 처리 장치 | |
JP2001316891A (ja) | 液処理装置及び電極の通電確認方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140709 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150416 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150602 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150902 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160223 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160323 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5908266 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |