JP2013005982A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013005982A5 JP2013005982A5 JP2011141958A JP2011141958A JP2013005982A5 JP 2013005982 A5 JP2013005982 A5 JP 2013005982A5 JP 2011141958 A JP2011141958 A JP 2011141958A JP 2011141958 A JP2011141958 A JP 2011141958A JP 2013005982 A5 JP2013005982 A5 JP 2013005982A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical system
- eye
- axial length
- fundus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Description
(1) 光源から出射された光を分割し、分割された光の一方から生成された測定ビームを眼底に向けて投光する投光光学系と、眼底で反射された一方の光と他方の光とが合成された干渉光を受光素子に導く受光光学系と、を備える測定光学系を有し、前記受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長を測定する眼軸長測定装置において、被検眼前眼部と略共役な位置に配置された撮像面を持つ撮像素子を有し、眼底反射光によって照明された被検眼瞳孔部における徹照像を撮像素子により撮像する撮像光学系と、撮像素子によって取得された徹照像を処理することにより、干渉信号のS/N比が許容値を満たすように設定された所定領域における混濁部の二次元分布を求め、求められた二次元分布に基づいて前記所定領域内における光透過領域を特定する光透過領域特定手段と、を備えることを特徴とする。
(2) (1)の眼軸長測定装置において、被検眼に対して測定光学系を駆動させる駆動手段を有し、前記光透過領域特定手段によって特定された光透過領域に前記測定光学系の光軸が位置されるように前記駆動手段を制御する駆動制御手段を備えることを特徴とする。
(3) 光源から出射された光を分割し、分割された光の一方から生成された測定ビームを眼底に向けて投光する投光光学系と、眼底で反射された一方の光と他方の光とが合成された干渉光を受光素子に導く受光光学系と、を備える測定光学系を有し、前記受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長を測定する眼軸長測定装置において、干渉信号のS/N比が所定値以下であるか否かを判定する判定手段と、前記判定手段による判定結果に基づいて、前記測定光学系のアライメント位置を切り換えるための切換信号を発するモード切換手段と、を備えることを特徴とする。
(2) (1)の眼軸長測定装置において、被検眼に対して測定光学系を駆動させる駆動手段を有し、前記光透過領域特定手段によって特定された光透過領域に前記測定光学系の光軸が位置されるように前記駆動手段を制御する駆動制御手段を備えることを特徴とする。
(3) 光源から出射された光を分割し、分割された光の一方から生成された測定ビームを眼底に向けて投光する投光光学系と、眼底で反射された一方の光と他方の光とが合成された干渉光を受光素子に導く受光光学系と、を備える測定光学系を有し、前記受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長を測定する眼軸長測定装置において、干渉信号のS/N比が所定値以下であるか否かを判定する判定手段と、前記判定手段による判定結果に基づいて、前記測定光学系のアライメント位置を切り換えるための切換信号を発するモード切換手段と、を備えることを特徴とする。
Claims (3)
- 光源から出射された光を分割し、分割された光の一方から生成された測定ビームを眼底に向けて投光する投光光学系と、
眼底で反射された一方の光と他方の光とが合成された干渉光を受光素子に導く受光光学系と、
を備える測定光学系を有し、前記受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長を測定する眼軸長測定装置において、
被検眼前眼部と略共役な位置に配置された撮像面を持つ撮像素子を有し、眼底反射光によって照明された被検眼瞳孔部における徹照像を撮像素子により撮像する撮像光学系と、
撮像素子によって取得された徹照像を処理することにより、干渉信号のS/N比が許容値を満たすように設定された所定領域における混濁部の二次元分布を求め、求められた二次元分布に基づいて前記所定領域内における光透過領域を特定する光透過領域特定手段と、を備えることを特徴とする眼軸長測定装置。 - 請求項1の眼軸長測定装置において、
被検眼に対して測定光学系を駆動させる駆動手段を有し、前記光透過領域特定手段によって特定された光透過領域に前記測定光学系の光軸が位置されるように前記駆動手段を制御する駆動制御手段を備えることを特徴とする眼軸長測定装置。 - 光源から出射された光を分割し、分割された光の一方から生成された測定ビームを眼底に向けて投光する投光光学系と、
眼底で反射された一方の光と他方の光とが合成された干渉光を受光素子に導く受光光学系と、
を備える測定光学系を有し、前記受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長を測定する眼軸長測定装置において、
干渉信号のS/N比が所定値以下であるか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段による判定結果に基づいて、前記測定光学系のアライメント位置を切り換えるための切換信号を発するモード切換手段と、
を備えることを特徴とする眼軸長測定装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011141958A JP5834537B2 (ja) | 2011-06-27 | 2011-06-27 | 眼軸長測定装置 |
EP11176582.2A EP2415393B1 (en) | 2010-08-05 | 2011-08-04 | Ophthalmic apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011141958A JP5834537B2 (ja) | 2011-06-27 | 2011-06-27 | 眼軸長測定装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013005982A JP2013005982A (ja) | 2013-01-10 |
JP2013005982A5 true JP2013005982A5 (ja) | 2014-08-07 |
JP5834537B2 JP5834537B2 (ja) | 2015-12-24 |
Family
ID=47673884
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011141958A Expired - Fee Related JP5834537B2 (ja) | 2010-08-05 | 2011-06-27 | 眼軸長測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5834537B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9380937B2 (en) | 2013-04-03 | 2016-07-05 | Kabushiki Kaisha Topcon | Ophthalmologic apparatus |
US9295387B2 (en) | 2013-04-03 | 2016-03-29 | Kabushiki Kaisha Topcon | Ophthalmologic apparatus |
US9295386B2 (en) | 2013-04-03 | 2016-03-29 | Kabushiki Kaisha Topcon | Ophthalmologic apparatus |
US9526415B2 (en) | 2013-04-03 | 2016-12-27 | Kabushiki Kaisha Topcon | Ophthalmologic apparatus |
US9370301B2 (en) | 2013-04-03 | 2016-06-21 | Kabushiki Kaisha Topcon | Ophthalmologic apparatus |
JP6357851B2 (ja) * | 2013-05-01 | 2018-07-18 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3504314B2 (ja) * | 1994-02-09 | 2004-03-08 | 株式会社トプコン | 眼科装置 |
JP4996918B2 (ja) * | 2006-12-26 | 2012-08-08 | 株式会社トプコン | 光画像計測装置及び光画像計測装置を制御するプログラム |
JP5172141B2 (ja) * | 2006-12-26 | 2013-03-27 | 株式会社ニデック | 眼軸長測定装置 |
JP5179063B2 (ja) * | 2007-01-06 | 2013-04-10 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
JP4896794B2 (ja) * | 2007-03-30 | 2012-03-14 | 株式会社トプコン | 光画像計測装置、それを制御するプログラム及び光画像計測方法 |
-
2011
- 2011-06-27 JP JP2011141958A patent/JP5834537B2/ja not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2012075641A5 (ja) | ||
JP2013188316A5 (ja) | ||
JP2013005982A5 (ja) | ||
JP2011147612A5 (ja) | ||
ATE447354T1 (de) | Ausrichtungsverfahren für ein ophthalmisches messgerät und ausrichtungsvorrichtung dafür | |
US20110199579A1 (en) | Image capture apparatus and method | |
JP2010167059A5 (ja) | 光断層撮像装置 | |
JP2010169502A5 (ja) | 光断層撮像装置 | |
JP2011172822A5 (ja) | ||
JP2015195876A5 (ja) | ||
JP2008161218A5 (ja) | ||
JP2009291253A5 (ja) | ||
US9844318B2 (en) | Devices, systems, and methods for calibrating an OCT imaging system in a laser surgical system | |
US9649028B2 (en) | Ophthalmological device | |
JP2010169496A5 (ja) | ||
JP2013048896A5 (ja) | ||
JP2014213157A5 (ja) | ||
JP2013230234A5 (ja) | ||
JP2010184049A5 (ja) | ||
JP2009112431A5 (ja) | ||
JP2005342204A (ja) | 眼科測定装置 | |
JP2020018715A5 (ja) | ||
JP2000157493A5 (ja) | ||
JP6586599B2 (ja) | 眼屈折力測定装置 | |
JP2014176442A5 (ja) |