JP2013230234A5 - - Google Patents

Description

（１） 本開示の第１態様に係る眼底撮影装置は、光源から出射された測定光を眼底上で走査するために、測定光を偏向させる光スキャナ、被検眼と該光スキャナとの間に配置される第１の対物レンズ系、を有し、該第１の対物レンズ系により該光スキャナと被検眼の瞳孔中心部とを光学的に共役位置に配置し、瞳孔中心部を介して測定光を被検眼眼底に導きその反射光を得るための測定光学系と、
光源から出射された参照光を測定光と干渉させるための参照光学系と、を有し、
被検物眼底で反射された前記測定光学系からの測定光と前記参照光学系からの参照光との干渉により生じた干渉信号光を光検出器により受光する干渉光学系と、
前記測定光学系又は前記参照光学系光路中に配置され、測定光と参照光との光路長差を調整するために駆動部により光軸方向に移動される光路長可変用光学部材と、を備え、
前記受光素子から出力される信号に基づいて眼底断層像を得る眼底撮影装置において、
前記測定光学系の光路中に配置され、前記光路長可変用光学部材の駆動による光路長可変範囲に対して測定光路の光路長を延長させる光路長延長ユニットを備えることを特徴とする。
（２） 本開示の第２態様に係る眼底撮影装置用アタッチメントは、光源から出射された測定光を眼底上で走査するために前記測定光を偏向させる光スキャナ、被検眼と光スキャナとの間に配置される対物レンズ系、を有し、該対物レンズ系により該光スキャナと被検眼の瞳孔中心部とを光学的に共役位置に配置し、瞳孔中心部を介して測定光を被検眼眼底に導きその反射光を得るための測定光学系と、
光源から出射された参照光を測定光と干渉させるための参照光学系と、を有し、
被検物眼底で反射された前記測定光学系からの測定光と前記参照光学系からの参照光との測定光と参照光との干渉により生じた干渉信号光を光検出器により受光する干渉光学系と、
前記測定光学系又は前記参照光学系光路中に配置され、測定光と参照光との光路長差を調整するために駆動部により光軸方向に移動される光路長可変用光学部材と、を備え、
前記受光素子から出力される信号に基づいて眼底断層像を得る眼底撮影装置用のアタッチメントであって、
前記測定光学系の光路中に配置され、光路長可変用光学部材の駆動による光路長可変範囲に対して測定光路の光路長を延長させることを特徴とする。

Claims (5)

1. 光源から出射された測定光を眼底上で走査するために、測定光を偏向させる光スキャナ、被検眼と該光スキャナとの間に配置される第１の対物レンズ系、を有し、該第１の対物レンズ系により該光スキャナと被検眼の瞳孔中心部とを光学的に共役位置に配置し、瞳孔中心部を介して測定光を被検眼眼底に導きその反射光を得るための測定光学系と、
   光源から出射された参照光を測定光と干渉させるための参照光学系と、を有し、
   被検物眼底で反射された前記測定光学系からの測定光と前記参照光学系からの参照光との干渉により生じた干渉信号光を光検出器により受光する干渉光学系と、
   前記測定光学系又は前記参照光学系光路中に配置され、測定光と参照光との光路長差を調整するために駆動部により光軸方向に移動される光路長可変用光学部材と、を備え、
   前記受光素子から出力される信号に基づいて眼底断層像を得る眼底撮影装置において、
   前記測定光学系の光路中に配置され、前記光路長可変用光学部材の駆動による光路長可変範囲に対して測定光路の光路長を延長させる光路長延長ユニットを備えることを特徴とする眼底撮影装置。
2. 請求項１の眼底撮影装置において、
   光路長延長ユニットは、測定光学系の光路中に挿脱可能に配置されている眼底撮影装置。
3. 請求項１又は２の眼底撮影装置において、
   前記光路長延長ユニットは、眼底撮影装置の検査窓近傍に装着可能なアタッチメントである眼底撮影装置。
4. 請求項１〜３のいずれかの眼底撮影装置において、
   光路長延長ユニットは、被検眼の眼前に配置される第２の対物レンズ系と、前記第１の対物レンズ系と前記第２の対物レンズ系との間に配置され、測定光路の光路長を遅延させるための光学部材と、備える眼底撮影装置。
5. 光源から出射された測定光を眼底上で走査するために前記測定光を偏向させる光スキャナ、被検眼と光スキャナとの間に配置される対物レンズ系、を有し、該対物レンズ系により該光スキャナと被検眼の瞳孔中心部とを光学的に共役位置に配置し、瞳孔中心部を介して測定光を被検眼眼底に導きその反射光を得るための測定光学系と、
   光源から出射された参照光を測定光と干渉させるための参照光学系と、を有し、
   被検物眼底で反射された前記測定光学系からの測定光と前記参照光学系からの参照光との測定光と参照光との干渉により生じた干渉信号光を光検出器により受光する干渉光学系と、
   前記測定光学系又は前記参照光学系光路中に配置され、測定光と参照光との光路長差を調整するために駆動部により光軸方向に移動される光路長可変用光学部材と、を備え、
   前記受光素子から出力される信号に基づいて眼底断層像を得る眼底撮影装置用のアタッチメントであって、
   前記測定光学系の光路中に配置され、光路長可変用光学部材の駆動による光路長可変範囲に対して測定光路の光路長を延長させることを特徴とする眼底撮影装置用アタッチメント。